JPH1140693A - 電子部品 - Google Patents

電子部品

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JPH1140693A
JPH1140693A JP9194629A JP19462997A JPH1140693A JP H1140693 A JPH1140693 A JP H1140693A JP 9194629 A JP9194629 A JP 9194629A JP 19462997 A JP19462997 A JP 19462997A JP H1140693 A JPH1140693 A JP H1140693A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路基板に直付けされる電子部品において、
使用時の環境変化によってパッケージ内のチップ部品と
回路基板との接続不良が発生するのを防止する。 【解決手段】 フォトダイオード1は、チップ部品10
と、これを収納するセラミックパッケージ20とから構
成される。そして、パッケージ20の外壁には、チップ
部品10のアノード及びカソードに夫々接続された一対
のアノード電極20a及びカソード電極20kと、複数
の固定用電極20xが形成されている。そして、電極
は、セラミックパッケージ20の長手方向に沿った各側
面から裏面にかけて、セラミックパッケージ20の中心
に対して上下・左右対称になるように等間隔で配置され
ている。この結果、フォトダイオード1を、各電極を介
して回路基板5上に半田付けした際、セラミックパッケ
ージ20と回路基板5との熱膨張係数の違いから使用時
の温度変化によって半田付け部HDに加わる応力を、各
電極で分散させ、特定の電極部分で導通不良が発生する
のを防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板に回路
素子を形成したチップ部品をパッケージ内に収納し、パ
ッケージの外壁にチップ部品の信号入出力用端子に接続
された信号用電極を形成することにより、信号用電極を
介して回路基板上に直付けできるように構成された電子
部品に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、自動車には、各種制御用の電
子装置が搭載されており、この電子装置を構成する電子
回路は、回路基板に電子部品を組み付けることにより作
製されている。また、こうした回路基板に組み付けられ
る電子部品には、回路基板に形成された回路パターンに
リードを介して接続及び固定できるようにされたリード
付きのものと、パッケージの外壁に電極を形成すること
により、回路基板に形成された回路パターンに直付けで
きるように構成されたものがある。
【0003】そして、これらの電子部品の内、回路基板
に直付けできるようにパッケージの外壁に電極を形成し
たものは、リードがない分、電子装置を小型化できるこ
とから、例えば、電子部品自体の体格が大きい場合や、
信号入出力用の端子が多い場合等に、多く利用される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、直付け
タイプの電子部品は、回路基板上の回路パターンに、半
田付け等によって直接接続されることから、電極が形成
された電子部品のパッケージの材質とその電極が直付け
される回路基板の材質とが異なる場合に、半田付け等に
よる接続部分に応力が発生し、その接続部に導通不良が
発生することがあった。
【0005】つまり、例えば、直付けタイプの電子部品
は、通常、樹脂やセラミックス等からなるパッケージ内
に収納されるが、自動車のように、周囲の温度変化が大
きいような場合には、電子部品のパッケージの熱膨張係
数と、回路基板(一般に、ガラスエポキシ基板が使用さ
れる)の熱膨張係数との差により、接続部に大きな応力
が繰り返し発生して、電子部品と回路基板とを接続して
いる半田付け部にクラックが入り、導通不良が生じるこ
とになるのである。
【0006】そして、このように電子部品と回路基板と
の接続部に導通不良が発生すると、回路基板上に形成さ
れた電子回路が正常動作しなくなってしまう。本発明
は、こうした問題に鑑みなされたものであり、回路基板
に直付けされる電子部品において、使用時の環境変化等
によって、パッケージ内のチップ部品と回路基板との接
続不良が生じ、回路基板上に形成された電子回路が正常
動作しなくなるのを防止することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めになされた請求項1に記載の電子部品においては、パ
ッケージの外壁に形成される信号用電極が、パッケージ
の中心に対して上下・左右対称になるよう配置される。
【0008】このため、本発明の電子部品を回路基板に
直付けした際、パッケージと回路基板との熱膨張係数の
違い等によって、使用時の環境変化により信号用電極と
回路パターンとの接続部に応力が繰り返し加わるような
ことがあっても、その応力を、各信号用電極に対して分
散させ、一つの接続部に加わる応力を低減することがで
きる。よって本発明によれば、使用時の環境変化等によ
って、各信号用電極と回路パターンとの接続部を構成す
る半田等にクラックが入り、電極と回路パターンとの導
通不良が生じるのを防止し、本発明の電子部品を使用し
た電子装置の信頼性を高めることができる。
【0009】ところで、請求項1に記載のように、パッ
ケージに形成される信号用電極をパッケージの中心に対
して上下・左右対称に配置した場合、回路基板から加わ
る応力を各信号用電極に分散させることはできるが、そ
の応力が大きければ、接続部に導通不良が発生してしま
う。
【0010】そこで、より好ましくは、請求項2に記載
のように、パッケージには、各信号用電極を、チップ部
品の端子毎に夫々複数形成し、一つの信号用電極と回路
パターンとの接続部に導通不良が発生しても、他の信号
用電極にて、チップ部品の信号入出力用端子と回路基板
の回路パターンとの接続を確保できるようにするとよ
い。
【0011】また、請求項3に記載のように、電子部品
のパッケージには、信号用電極に加えて、回路基板上に
電子部品を固定するための固定用電極を形成し、この固
定用電極と信号用電極とがパッケージの中心に対して上
下・左右対称になるように配置するようにしてもよい。
つまり、このようにすれば、回路基板から加わる応力を
信号用電極だけでなく、固定用電極にも分散させること
ができ、信号用電極に加わる応力をより低減して、その
接続部に導通不良が発生するのをより確実に防止できる
ことになる。
【0012】また、このように電子部品のパッケージに
信号用電極と固定用電極とを形成する場合には、請求項
4に記載のように、電子部品を回路基板上に固定した
際、回路基板から信号用電極に加わる応力が固定用電極
に加わる応力よりも小さくなるよう、信号用電極をパッ
ケージの中心付近に形成し、その周囲に固定用電極を形
成することが好ましい。
【0013】また、上記のように信号用電極、或いは信
号用電極と固定用電極をパッケージの中心に対して上下
・左右対称になるように形成する場合には、請求項5に
記載のように、パッケージに形成される全ての電極の大
きさを揃えることが好ましい。つまり、このように各電
極の大きさを揃えれば、回路基板からパッケージの対称
位置にある各電極に加わる応力を夫々、均等にすること
ができ、特定の電極に大きな応力が加わるのをより確実
に防止でき、延いては、信号用電極の接続部に導通不良
が発生する確率をより低減できることになる。
【0014】ここで、上記請求項1〜請求項5に記載の
電子部品では、パッケージに形成する電極の配置を、パ
ッケージの中心に対して上下・左右対称にすることによ
り、信号用電極と回路パターンとの接続部に発生する導
通不良を低減するようにしているが、その接続部に導通
不良が発生しても、パッケージ内のチップ部品と回路パ
ターンとの接続を確保できれば、回路基板に形成された
電子回路を正常動作させることができる。
【0015】従って、本発明の目的を達成するには、必
ずしも電極をパッケージの中心に対して上下・左右対称
に配置する必要はなく、例えば、請求項6に記載のよう
に、パッケージに対して、各信号用電極を、チップ部品
の端子毎に夫々複数形成するだけでもよく、或いは、請
求項7に記載のように、パッケージに、信号用電極に加
えて、回路基板上に電子部品を固定するための固定用電
極を形成するだけでもよい。つまり、電子部品を請求項
6或いは請求項7に記載のように構成しても、装置の信
頼性を向上できる。
【0016】また、請求項6或いは請求項7に記載のよ
うにパッケージに電極を形成した場合、各電極は、パッ
ケージの右側或いは上側というように、パッケージの一
方に片寄って形成されることも考えられるが、このよう
な場合には、パッケージの電極とは反対側の部分を接着
剤等で回路基板上に固定するようにしてもよい。
【0017】但し、このように、電子部品を、パッケー
ジに形成した電極と、電極とは別の固定手段(接着剤
等)とで固定するようにした場合であっても、信号用電
極については、請求項8に記載のように、電子部品を回
路基板上に直付けした際、回路基板から加わる応力が小
さくなる位置に形成することが望ましい。
【0018】また、上記請求項1〜請求項8に記載の電
子部品は、回路基板上に電子部品を直付けすることによ
り構成される電子装置であれば、どのような装置であっ
ても適用できるが、特に、請求項9に記載のように、車
両に搭載される電子装置の一部を構成する車載用電子部
品として使用すれば、より効果を発揮できる。
【0019】つまり、車載用の電子装置は、温度や湿度
等が大きく変化する厳しい環境下で使用されることか
ら、電子部品と回路基板との熱膨張係数が違うと、その
接続部に加わる応力が大きく変化し、導通不良が発生し
易い。また、車載用の電子装置は、車両の振動等の影響
も受けるため、より導通不良が発生しやすい。
【0020】しかし、本発明(請求項1〜8)によれ
ば、こうした導通不良が発生するのを防止し、また導通
不良が発生したとしても、パッケージ内のチップ部品と
回路パターンとの接続を確保することができるため、こ
うした車載用の電子装置に本発明(請求項1〜8)を適
用すれば、その効果を有効に発揮して、電子装置の信頼
性を向上することができるようになるのである。
【0021】
【発明の実施の形態】以下に本発明の一実施例を図面と
共に説明する。図1は本発明が適用された車載用のフォ
トダイオード1の構成を表し、(a)はフォトダイオー
ド1を受光部側より見た平面図、(b)は(a)に示す
A−A線に沿った断面図、(c)はフォトダイオード1
を受光部の反対側より見た背面図、(d)は(a)に示
すフォトダイオード1を下方から見た側面図、(e)は
フォトダイオード1を回路パターンが形成された回路基
板5上に直付けした状態を表す説明図である。
【0022】本実施例のフォトダイオード1は、車両の
前方を走行する他車両に対してレーザ光を照射すると共
に、その反射光を受光し、レーザ光の照射から受光迄の
時間を計測することにより、前方車両と自車両との間の
距離を測定する自動車用距離測定装置(レーザレーダ)
の受光素子として用いられるものである。
【0023】そして、本実施例では、距離測定装置の検
知視野角を広くするために、一般のフォトダイオードに
比べて、受光面積を広くした扁平な長方形状のフォトダ
イオードチップ(以下、チップ部品という)10を備え
る。尚、このチップ部品10は、例えばn型シリコン基
板の上部にp型シリコン層を形成することにより作製さ
れる周知の半導体チップである。
【0024】また、このように受光部の面積を広くした
チップ部品10は、一般のフォトダイオードのように、
接続用のリードを備えた筒状の金属パッケージに収納す
ることは困難であることから、収容面積を大きくできる
セラミックパッケージ20に収納される。
【0025】セラミックパッケージ20は、チップ部品
10を、その受光部の裏面側が接するように載置するた
めの長方形状の基板部22と、基板部22に対してチッ
プ部品10の周囲を囲うように積層される第1枠部24
と、更に、第1枠部24の周縁部に積層される第2枠部
26とから構成されている。
【0026】そして、基板部22には、チップ部品10
を載置した際、その裏面側のカソード端子に電気的に接
続される電極パターン22kが形成され、第1枠部24
には、基板部22にチップ部品10を載置した際に、チ
ップ部品10の受光部側に形成された2個のアノード端
子にワイヤボンディングWBにより接続される2つの電
極パターン24aが形成されている。
【0027】また、基板部22及び第1枠部24の外壁
には、フォトダイオード1を回路基板5に組み付ける際
に、電極パターン22k及び24aの各々を回路基板5
に形成された回路パターンに半田付けすることにより、
フォトダイオード1を回路基板5上に固定できるように
するために、電極パターン22kに夫々接続された一対
のカソード電極20k、及び、2つの電極パターン24
aに夫々接続された一対のアノード電極20aが形成さ
れている。そして、これら各信号用電極(つまり、一対
のアノード電極20a及びカソード電極20k)は、夫
々、セラミックパッケージ20の長手方向の中心位置に
て、相反する側面から裏面にかけて形成されている。
【0028】また、基板部22及び第1枠部24の外壁
には、アノード電極20a及びカソード電極20kとは
別に、フォトダイオード1を回路基板5に組み付けた際
に、回路基板5に形成された回路パターンに半田付けさ
れて、フォトダイオード1を回路基板5上に固定するた
めの固定用電極20xが形成されている。
【0029】固定用電極20xは、上記一対のアノード
電極20a及びカソード電極20kと同一の形状をして
おり、これら各電極20a,20kを中心とするセラミ
ックパッケージ20の長手方向外側に、夫々、3個配置
されている。つまり、セラミックパッケージ20の長手
方向に沿った側面には、その中心から外側に向かって、
信号用電極(アノード電極20a又はカソード電極20
k)及び3つの固定用電極20xが等間隔に順に(換言
すれば、セラミックパッケージ20の中心に対して上下
・左右対称となるように)形成されており、セラミック
パッケージ20の裏面にも、これら側面の電極から延び
る電極が等間隔で形成されている。
【0030】上記のように構成された本実施例のフォト
ダイオード1は、距離測定用のCPU等と一緒に回路基
板5に組み付けられ、距離測定装置の受光部として機能
するが、回路基板5への組み付け時には、図1(e)に
示すように、外壁に形成した各電極20a,20k,2
0xを、夫々、回路基板5に形成された回路パターンに
半田付けすることにより、回路基板5への固定と電気的
接続を同時に行うことができる。
【0031】そして、本実施例のフォトダイオード1の
外壁には、フォトダイオードとして動作させるのに必要
な信号用電極(アノード電極20a,カソード電極20
k)だけでなく、多数の固定用電極20xが形成され、
しかもこれら各電極20a,20k,20xは、同一形
状で、セラミックパッケージ20の中心に対して、上下
・左右対称となるように配置されているため、フォトダ
イオード1を回路基板5に固定した際、セラミックパッ
ケージ20と回路基板5(通常、ガラスエポキシ基板が
使用される)との熱膨張係数の違いによって、周囲の温
度変化により半田付け部HDに応力が繰り返し加わるよ
うなことがあっても、その応力を、各電極側に分散させ
て、特定の半田付け部HDに応力が集中するのを防止で
きる。
【0032】従って、本実施例によれば、車両への組み
付け後の温度変化や、車両から受ける振動等によって、
半田付け部HDにクラックが入り、信号用電極20a,
20kと回路パターンとの導通不良が生じるのを防止
し、車間距離測定装置の信頼性を高めることができる。
【0033】また本実施例では、セラミックパッケージ
20に、アノード電極20a及びカソード電極20kを
夫々2個形成していので、これら各信号用電極20a,
20kにおいて、一方の電極側で半田付け部HDに導通
不良が発生したとしても、もう一方の電極側でアノード
或いはカソードと回路パターンとの電気的接続を保持で
きる。従って、装置の信頼性をより高めることができ
る。
【0034】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、
種々の態様を採ることができる。例えば、上記実施例で
は、フォトダイオードを構成するチップ部品10をセラ
ミックパッケージ20に収納したフォトダイオード1に
ついて説明したが、本発明は、例えば、フォトダイオー
ド以外の半導体素子(例えばフォトトランジスタ)や半
導体集積回路を構成するチップ部品をセラミックパッケ
ージ20に収納した電子部品であっても、またパッケー
ジとして、耐熱性樹脂からなる樹脂パッケージを使用し
た電子部品であっても適用できる。
【0035】また、上記実施例では、チップ部品10の
端子に接続される信号用電極(アノード電極20a及び
カソード電極20k)を、セラミックパッケージ20の
外壁に夫々2つ形成するものとして説明したが、この信
号用電極の数を更に増やせば、装置の信頼性をより向上
することができる。
【0036】また、上記実施例では、セラミックパッケ
ージ20には、信号用電極20a,20k及び固定用電
極20xが、セラミックパッケージ20の中心に対して
上下・左右対称に配置され、フォトダイオード1は、こ
れら各電極への半田付けにより、回路基板5に固定され
るものとして説明したが、例えば、各電極20a,20
k,20xをセラミックパッケージ20の長手方向の一
方に偏って形成し、電極が形成されない他方の側は、接
着剤等で回路基板5に固定するようにしてもよい。そし
て、この場合には、回路基板5からセラミックパッケー
ジ20に加わる応力が小さくなるのは、セラミックパッ
ケージ20の接着剤による固定部であるので、この固定
部近傍に信号用電極20a,20kを形成することが望
ましい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例のフォトダイオードの構成及びフォト
ダイオードの回路基板への組み付け状態を表す説明図で
ある。
【符号の説明】
1…フォトダイオード 5…回路基板 10…チップ部品(フォトダイオードチップ) 20…セラミックパッケージ 20a…アノード電極 20b…カソード電極 20x…固定用電極

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板に回路素子を形成したチップ
    部品を、絶縁材料からなるパッケージ内に収納すると共
    に、該パッケージの外壁に、該チップ部品の信号入出力
    用端子に夫々接続された複数の信号用電極を形成するこ
    とにより、該各信号用電極を介して、回路パターンが形
    成された回路基板上に直付けできるように構成された電
    子部品において、 前記信号用電極を、夫々、前記パッケージの中心に対し
    て上下・左右対称になるよう配置してなることを特徴と
    する電子部品。
  2. 【請求項2】 前記各信号用電極を、前記チップ部品の
    端子毎に夫々複数形成してなることを特徴とする請求項
    1に記載の電子部品。
  3. 【請求項3】 前記パッケージには、前記信号用電極に
    加えて、前記回路基板上に前記電子部品を固定するため
    の固定用電極が形成され、該固定用電極と前記信号用電
    極とが前記パッケージの中心に対して上下・左右対称に
    なるよう配置されていることを特徴とする請求項1又は
    請求項2に記載の電子部品。
  4. 【請求項4】 前記電子部品を前記回路基板上に固定し
    た際、前記回路基板から前記信号用電極に加わる応力が
    前記固定用電極に加わる応力よりも小さくなるよう、前
    記信号用電極を前記パッケージの中心付近に形成し、そ
    の周囲に前記固定用電極を形成したことを特徴とする請
    求項3に記載の電子部品。
  5. 【請求項5】 前記パッケージに形成される全ての電極
    の大きさを揃えたことを特徴とする請求項1〜請求項4
    いずれか記載の電子部品。
  6. 【請求項6】 半導体基板に回路素子を形成したチップ
    部品を、絶縁材料からなるパッケージ内に収納すると共
    に、該パッケージの外壁に、該チップ部品の信号入出力
    用端子に夫々接続された複数の信号用電極を形成するこ
    とにより、該各信号用電極を介して、回路パターンが形
    成された回路基板上に直付けできるように構成された電
    子部品において、 前記各信号用電極を、前記チップ部品の端子毎に夫々複
    数形成してなることを特徴とする電子部品。
  7. 【請求項7】 半導体基板に回路素子を形成したチップ
    部品を、絶縁材料からなるパッケージ内に収納すると共
    に、該パッケージの外壁に、該チップ部品の信号入出力
    用端子に夫々接続された複数の信号用電極を形成するこ
    とにより、該各信号用電極を介して、回路パターンが形
    成された回路基板上に直付けできるように構成された電
    子部品において、 前記パッケージに、前記信号用電極に加えて、前記回路
    基板上に前記電子部品を固定するための固定用電極を形
    成してなることを特徴とする電子部品。
  8. 【請求項8】 前記電子部品を前記回路基板上に直付け
    した際、前記回路基板から加わる応力が小さくなる位置
    に、前記信号用電極を形成してなることを特徴とする請
    求項6又は請求項7に記載の電子部品。
  9. 【請求項9】 前記電子部品は、車両に搭載される電子
    装置の一部を構成する車載用電子部品であることを特徴
    とする請求項1〜請求項8いずれか記載の電子部品。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003534662A (ja) * 2000-05-26 2003-11-18 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 表面金属被覆を備える半導体構成エレメント

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5764159U (ja) * 1980-10-01 1982-04-16
JPH01179446U (ja) * 1988-06-07 1989-12-22
JPH03124652U (ja) * 1990-03-28 1991-12-17
JPH04352458A (ja) * 1991-05-30 1992-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd リードレス混成集積回路
JPH06151977A (ja) * 1992-11-11 1994-05-31 Sharp Corp 光半導体装置
JPH09129780A (ja) * 1995-09-01 1997-05-16 Canon Inc Icパッケージ、光センサicパッケージおよびこれらの組立方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5764159U (ja) * 1980-10-01 1982-04-16
JPH01179446U (ja) * 1988-06-07 1989-12-22
JPH03124652U (ja) * 1990-03-28 1991-12-17
JPH04352458A (ja) * 1991-05-30 1992-12-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd リードレス混成集積回路
JPH06151977A (ja) * 1992-11-11 1994-05-31 Sharp Corp 光半導体装置
JPH09129780A (ja) * 1995-09-01 1997-05-16 Canon Inc Icパッケージ、光センサicパッケージおよびこれらの組立方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003534662A (ja) * 2000-05-26 2003-11-18 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 表面金属被覆を備える半導体構成エレメント

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