JPH1137994A - 分析装置 - Google Patents

分析装置

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JPH1137994A
JPH1137994A JP9205318A JP20531897A JPH1137994A JP H1137994 A JPH1137994 A JP H1137994A JP 9205318 A JP9205318 A JP 9205318A JP 20531897 A JP20531897 A JP 20531897A JP H1137994 A JPH1137994 A JP H1137994A
Authority
JP
Japan
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layout
analysis
analyzer
items
area
Prior art date
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Pending
Application number
JP9205318A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Kurisu
宏史 栗栖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP9205318A priority Critical patent/JPH1137994A/ja
Publication of JPH1137994A publication Critical patent/JPH1137994A/ja
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  • Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 金属分析計などの分析装置において、アプリ
ケーションプログラムを設計変更することなく、プリン
トアウトされる分析結果などの印字データのレイアウト
を、ユーザ側で自在に変更可能とする。 【解決手段】 分析装置に、印字対象項目9A〜9Fを
列挙した項目列挙領域A1と、操作部を操作することに
よって印字対象項目9A〜9Fから選択された項目を配
置するレイアウト領域A2とを有する表示装置を設け
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は金属分析計などの分
析装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、従来の金属分析計では、分析結
果や分析グラフなどが、アプリケーションプログラムに
より、予め決められたフォーマットに従ってプリントア
ウトされていた。ここで分析計は、工場等では大まかな
結果のみを知るために用いられることが多く、一方、研
究所では詳細な中間結果等を知りたい場合が多い。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の金属分
析計では、プリントアウトされる分析結果や分析グラフ
などのレイアウトを変更しようとすると、アプリケーシ
ョンプログラムを設計変更しなければならないので、ユ
ーザは希望に応じて簡単に変更することができなかっ
た。
【0004】したがって、本発明の目的は、金属分析計
などの分析装置において、アプリケーションプログラム
を設計変更することなく、プリントアウトされる分析結
果や分析グラフなどの印字データのレイアウトを、ユー
ザ側で自在に変更できるようにすることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するめ
に、本発明の分析装置は、印字対象項目を列挙した項目
列挙領域と、操作部を操作することによって前記印字対
象項目から選択された項目を配置するレイアウト領域と
を有する表示装置を備えたことを特徴とする。
【0006】本発明によれば、表示装置の表示画面に項
目列挙領域とレイアウト領域を表示し、操作部を操作し
て、項目列挙領域に列挙された印字対象項目から所望の
項目を選択しレイアウト領域の所望の位置に配置するこ
とにより、プリントアウトする印字データのレイアウト
を作成できるから、分析結果や分析グラフなどの印字対
象項目のレイアウトを、アプリケーションプログラムを
設計変更することなく、ユーザ側で自在に変更できる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
にしたがって説明する。本実施形態の分析装置は、電気
炉で燃焼させた試料金属から発生する燃焼ガスを赤外線
ガス濃度検出器に導入して、燃焼ガス中のCO2 やSO
2 の濃度分析を行う金属分析装置であって、図1に示す
ように、測定部1と、マイクロコンピュータ(以下、
「マイコン」という。)2と、該マイコン2に接続され
た表示装置3と、キーボード4,マウス5などの操作部
と、プリンタ6とを備えている。
【0008】前記マイコン2は、CPU7、メモリ8お
よび図示しないI/Oを備えている。CPU7は、前記
測定部1からの検出出力に基づいて演算を行って分析す
る演算部70と、キーボード4,マウス5などの操作部
の操作に従って表示装置3の制御などを担う表示制御部
71と、前記プリンタ6の印字制御を行う印字制御部7
2とを有する。
【0009】前記表示制御部71は、レイアウト作成の
モードに設定されたとき、例えば図6(A)のように、
表示装置3の画面Aに印字データの各印字対象項目9A
〜9Fを並べて表示させると共に、印字対象項目9A〜
9Fをレイアウトする白紙状態の印刷用紙に模したレイ
アウト枠10を表示させる。ここで、「印字対象項目」
とは、分析結果、サンプル名などの項目をいい、文字ま
たはアイコンで表示されており、マウス5をドラッグし
てドロップできるようにプログラムされている。また、
前記画面Aの印字対象項目9A〜9Fが並ぶ項目列挙領
域A1から、ユーザがキーボード4,マウス5などの操
作部により所望のボタンをドラッグし、レイアウト枠1
0で囲まれたレイアウト領域A2の所望の位置にドロッ
プすると、当該指定位置に、選択した印字対象項目9A
〜9Fに対応する文字またはアイコンを表示させる。
【0010】図1のメモリ8は、ユーザによって表示装
置3の表示画面に作成された印字対象項目のレイアウト
を記憶するフリーレイアウト記憶部80と、予め決めら
れたフォーマットによる印字対象項目のレイアウトを記
憶する定型レイアウト記憶部81とを有する。また、メ
モリ8は、両レイアウト記憶部80,81の項目(分析
条件、分析結果等)に対応する内容を記憶する項目記憶
部82を備えている。
【0011】図2は前記フリーレイアウト記憶部80に
おける印字データのレイアウト構造体80Aを示す。該
レイアウト構造体80Aは、レイアウト番号、標題、標
題の前記レイアウト枠10内における表示位置(x,y
座標)などを記憶するもので、複数設けられている。図
3ないし図5は項目対象記憶部82内の構造体82B〜
82Dを示す。図3の分析結果構造体82Bは、前記レ
イアウト構造体80Aの分析結果番号に対応する分析結
果,分析時間,分析回数など、分析に関する具体的なデ
ータを記憶するもので、複数設けられている。また、図
4の分析条件構造体82Cは、前記レイアウト構造体8
0Aの分析条件番号に対応する分析条件に関する具体的
なデータを記憶するもので、複数設けられている。ま
た、図5の分析グラフ構造体82Dは、前記レイアウト
構造体80Aの分析グラフ番号に対応する分析グラフに
関する具体的なデータを記憶するもので、複数設けられ
ている。
【0012】図1の前記定型レイアウト記憶部81にお
ける標題その他の印字項目の配列構造は図示しないが、
定型レイアウトの種類に応じた個数だけ、前記フリーレ
イアウト記憶部80の場合とほぼ同様のレイアウト構造
体が設けられている。
【0013】図6は、表示制御部71の前記機能を利用
して、ユーザがレイアウト枠10内に印字データを所望
の配置にレイアウトする手順の一例を示す。キーボード
4の操作部によってレイアウト作成のモードに設定する
と、図6(A)のように、表示装置3の画面Aに印字対
象項目9A〜9Fが表示されると共に、レイアウト枠1
0が表示される。
【0014】次に、図6(B)のように、前記画面Aの
印字対象項目9A〜9Fが並ぶ項目列挙領域A1から、
キーボード4,マウス5などの操作部によりたとえば標
題のボタン9Fをドラッグし、レイアウト領域A2の所
望の位置にドロップすると、当該指定位置に、選択した
印字対象項目9Fに対応する標題の印字対象項目9Fが
表示される。
【0015】次に、図6(C)のように、項目列挙領域
A1から、ユーザが前記操作部により分析日時のボタン
9Cをドラッグし、レイアウト領域A2の所望の位置に
ドロップすると、当該指定位置に、選択したボタン9C
に対応する印字データ、すなわち分析日時の項目が表示
される。その後、同様な操作をサンプル名、分析グラ
フ、分析条件および分析結果についても行うことで、図
6(D)のように印字対象項目が表示された画面が得ら
れる。
【0016】前記レイアウト作成後、前記フリーレイア
ウト記憶部80におけるレイアウト構造体80Aに、当
該レイアウトを記憶させる。分析モードでは、これらの
フリーレイアウトまたは定型レイアウトのうちのいずれ
か1つを選択して、表示ないし印字を行う。
【0017】すなわち、レイアウトNO. を入力した上で
分析を行うと、当該レイアウトNO.のレイアウト構造体
80Aに記憶されたレイアウトと、印字項目記憶部82
に記憶された印字データに基づき、プリンタ6が印字制
御部72により制御されて、図6(D)に示すレイアウ
ト枠10内にレイアウトされた印字データがプリンタ6
から出力される。
【0018】ここで、図6のように、印字項目の全てを
選択してレイアウトした分析結果の印刷用紙は、データ
が豊富に盛り込まれているので、研究所などにおける研
究資料としては大変有効である。一方、工場などにおい
て報告書として使用する場合には、たとえば分析結果程
度のデータが印字されておればよいので、表示画面Aの
項目列挙領域A1の全ての印字対象項目9A〜9Fを選
択する必要はなく、例えば図7のように、分析日時、サ
ンプル名、分析結果だけを所望の配置にレイアウトして
もよい。また、この図に示すように、各項目の内容が大
きく表示されるようにしてもよい。
【0019】また、図8のように、表示画面Aのレイア
ウト枠10で囲まれたレイアウト領域A2を破線で示す
ように複数に区画し、1つの区画に1つの分析に関する
印字データを対応させてレイアウトできるようにしても
よい。これにより、1枚の印刷用紙に複数の分析結果を
印字できる。
【0020】なお、前記フリーレイアウトによる印字デ
ータのプリントアウトを希望しないユーザは、定型レイ
アウトモードを選択しておけば、定型レイアウト記憶部
81に記憶されたレイアウトデータに基づき、分析結果
を定型レイアウトに基づいてプリントアウトできる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
印字対象項目を列挙した項目列挙領域と、操作部を操作
することによって前記印字対象項目から選択された項目
を配置するレイアウト領域とを有する表示装置を設けた
から、プリントアウトする分析結果や分析グラフなどの
印字データのレイアウトを、アプリケーションプログラ
ムを設計変更することなく、ユーザ側で自在に設定する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す分析装置の概略構成
図である。
【図2】同分析装置のフリーレイアウト記憶部における
レイアウト構成体の説明図である。
【図3】分析結果構造体の説明図である。
【図4】分析条件構造体の説明図である。
【図5】分析グラフ構造体の説明図である。
【図6】フリーレイアウトの手順の一例を示す説明図で
ある。
【図7】フリーレイアウト画面の一例を示す説明図であ
る。
【図8】フリーレイアウト画面の他の例を示す説明図で
ある。
【符号の説明】
1:測定部 3:表示装置 6:プリンタ 9A〜9F:印字対象項目 70:演算部 80:フリーレイアウト記憶部 A1:項目列挙領域 A2:レイアウト領域

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対象物について測定を行う測定部と、該
    測定部からの出力に基づいて演算を行って分析する演算
    部とを備えた分析装置において、 印字対象項目を列挙した項目列挙領域と、操作部を操作
    することによって前記印字対象項目から選択された項目
    を配置するレイアウト領域とを有する表示装置を備えた
    ことを特徴とする分析装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記分析装置は、前記表示装置のレイアウト領域に表示
    される項目および配置を記憶するレイアウト記憶部と、
    該レイアウト記憶部の項目の内容を記憶する項目記憶部
    とを備えている分析装置。
  3. 【請求項3】 請求項2において、 前記分析装置は、前記レイアウト記憶部および項目記憶
    部の記憶内容に従って印字するプリンタとを備えている
    分析装置。
JP9205318A 1997-07-14 1997-07-14 分析装置 Pending JPH1137994A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9205318A JPH1137994A (ja) 1997-07-14 1997-07-14 分析装置

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JP9205318A JPH1137994A (ja) 1997-07-14 1997-07-14 分析装置

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JPH1137994A true JPH1137994A (ja) 1999-02-12

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ID=16504970

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JP9205318A Pending JPH1137994A (ja) 1997-07-14 1997-07-14 分析装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101152438B1 (ko) 2007-06-29 2012-07-03 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 금속재료의 분석방법

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