JPH11354993A - ワーク搬送装置 - Google Patents
ワーク搬送装置Info
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- JPH11354993A JPH11354993A JP10163141A JP16314198A JPH11354993A JP H11354993 A JPH11354993 A JP H11354993A JP 10163141 A JP10163141 A JP 10163141A JP 16314198 A JP16314198 A JP 16314198A JP H11354993 A JPH11354993 A JP H11354993A
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Abstract
せることができるワーク搬送装置を提供することを目的
とする。 【解決手段】 基板5の検査を行う基板検査装置1にお
いて、基板5を搬送する搬送経路に、搬送経路上の基板
5を持ち上げる持ち上げ手段を有する複数の検査ステー
ジA,Bを設け、作業ステージA,Bへの基板5の搬入
・搬出を制御する制御手段とを備える。この制御手段は
上流側からの基板5の接近を検出するセンサSFと、基
板5が搬送される検査ステージを決定する搬送先決定手
段と、検査ステージA,Bでの基板5の有無を記憶する
搬入状態記憶手段と、各検査ステージでの基板5の搬入
・搬出制御処理を行う搬入・搬出制御手段とを有する。
これにより、1つの検査ステージにて検査が行われてい
る間にも他検査ステージでの基板の搬入、搬出を行うこ
とができる。
Description
ークを搬送するワーク搬送装置に関するものである。
などのワークはコンベアなどの搬送手段によって所定の
搬送経路を搬送され、この搬送経路に設けられた作業ス
テージにて各種の作業がワークに対して行われる。これ
らの作業を行う装置のタクトタイムは、各作業ステージ
での実際に作業が行われる作業時間と、ワーク搬送時
間、すなわちワークを作業ステージに搬入し、また搬出
するのに要する時間との和によって構成される。したが
って、装置全体のタクトタイムを短縮するためには、作
業時間を短縮するとともに、ワーク搬送時間を短縮する
ことが求められる。
ワーク搬送装置では、ワーク搬送中には作業ステージは
空いたままであり、ワークに対して何ら作業は行われな
い場合が多かった。すなわち、ワーク搬送中は、ワーク
搬送装置が組み込まれた装置の本来的作業機能は発揮さ
れておらず、単に手待ち時間として機能休止状態となっ
ていた。そして、正味の作業時間が比較的短い作業内容
の装置、例えば画像認識による検査装置などのようにカ
メラによる撮像が作業内容であるような場合には、全タ
クトタイム中に占める搬送時間の割合が相対的に大きい
ものとなっていた。
ムを短縮するためにはワーク搬送時間の短縮が求められ
ていたが、ワーク搬送時間の短縮にはワークの大きさや
種類によって一定の限度があり、搬送の高速化などによ
るタクトタイムの大幅な短縮は実際上困難な場合が多か
った。このため結果的に、全タクトタイム中に占める搬
送時間の割合が相対的に大きい装置では、装置の稼働効
率が非常に低いという問題点があった。
の稼働効率を向上させることができるワーク搬送装置を
提供することを目的とする。
置は、ワークを所定の搬送経路に沿って搬送する搬送手
段と、前記搬送経路に設けられた複数の作業ステージ
と、前記作業ステージに設けられ前記搬送経路上のワー
クを持ち上げる持ち上げ手段と、前記複数の作業ステー
ジへのワークの搬入・搬出を制御する制御手段とを備
え、この制御手段が、前記搬送経路の上流側からのワー
クの接近を検出する検知手段と、このワークが搬送され
る作業ステージを決定する搬送先決定手段と、前記各作
業ステージでのワークの有無を記憶する搬入状態記憶手
段と、各作業ステージでのワークの搬入・搬出制御処理
を行う搬入・搬出制御手段とを有する。
テージを設け、これらの作業ステージに搬送経路上のワ
ークを持ち上げる持ち上げ手段と、ワークの作業ステー
ジへの搬入・搬出を制御する制御手段を設けることによ
り、1つの作業ステージにて作業が行われている時間中
にも他の作業ステージでのワークの搬入、搬出を行うこ
とができ、したがってワーク搬送による作業の待ち時間
を解消して装置の稼働効率を向上させることができる。
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の基板
検査装置の正断面図、図2(a),(b)は同基板検査
装置の側断面図、図3は同基板検査装置のシステム構成
を示すブロック図、図4は同基板検査装置の機能ブロッ
ク図、図5は同基板検査装置の基板搬送先決定処理のフ
ロー図、図6、図7は同基板検査装置の検査ステージへ
の基板搬入処理のフロー図、図8、図9は同基板検査装
置の検査ステージからの基板搬出処理のフロー図であ
る。
構造を説明する。図1において、1はワークである基板
を搬送する基板搬送装置であり、基板搬送装置1と撮像
部2および後述の検査部とで基板検査装置を構成してい
る。基板搬送装置1は、2枚のサイドフレーム3を搬送
方向に縦通させた構造となっており(図2)、サイドフ
レーム3に配設された搬送手段によって、半田ボール4
が搭載された基板5を、所定の搬送経路に沿って搬送す
る。この搬送経路には、基板5の上面を撮像して検査を
行う2つの作業ステージとしての検査ステージA,Bが
設けられており、検査ステージA,Bは基板5を搬送経
路から持ち上げる持ち上げ手段(後述)を備えている。
いて、サイドプレート3の基板搬送ラインPL以下の範
囲には、サイドプレート3の外縁に沿って多数のガイド
プーリ10が配設されている。サイドプレート3の下部
にはモータM1が配設されており、モータM1の回転軸
には駆動プーリ11が結合されている。また、サイドプ
レート3には、検査ステージA,Bのそれぞれの位置に
対応して、図2に示すように上下方向の切欠部3aが設
けられている。切欠部3aの周囲には同様にガイドプー
リ13が配設されており、プーリ10、駆動プーリ11
およびガイドプーリ13には、これら全体を周回してベ
ルト12が調帯されている。したがって、ベルト12は
切欠部3aを横切ることなく配置されており、切欠部3
a内での他部材の昇降動作を妨げない。
12は所定の搬送経路である基板搬送ラインPLの位置
を矢印方向に送行し、ベルト12上に載置された基板5
を所定の搬送経路に沿って搬送する。基板搬送ラインP
Lに沿って3つのストッパf,a,bが配設されてい
る。ストッパf,a,bはそれぞれシリンダCF,C
A,CBに駆動されて上下動し、それぞれのシリンダが
突出したときに基板搬送ラインPL上に突出してベルト
12上を搬送される基板5を停止させる。
置には、検知手段であるセンサSF,SA,SBがそれ
ぞれ配設されている。センサSF,SA,SBは光セン
サや近接センサなどであり、基板5が各ストッパf,
a,bの位置に存在しているか否かを検出する。すなわ
ち、センサSFは他装置より上流側から基板搬送装置1
に接近してくる基板5を検出し、センサSA,SBは検
査ステージA,Bに位置する基板5を検出する。
る。図2(a),(b)は図1の断面イおよび断面ロ、
すなわちサイドフレーム3の切欠部3a位置での断面を
示している。図2(a),(b)において、サイドフレ
ーム3の両側方の検査ステージA,Bに対応する位置に
は、シリンダDA,DBがそれぞれ1対づつ配設されて
いる。シリンダDA,DBの各対のロッド17は、それ
ぞれ連結部材18に結合されており、連結部材18の上
面には、下受け部材19が装着されている。基板5がベ
ルト12上の検査ステージA,Bに対応する位置にある
状態で、シリンダDA,DBのロッド17が突出するこ
とにより、下受け部材19は基板5の下面に当接して上
昇する。
立設されたガイドプレート16に基板5の端面をガイド
されて持ち上げられ、マスクプレート20の下面に押し
当てられる。この状態で、撮像部2に設けられた可動テ
ーブル23によってカメラ22を基板5の上方に位置さ
せ、カメラ22によって基板5上の半田ボール4を撮像
することにより、基板5の検査が行われる。
ある検査ステージでは、ベルト12上には何ら障害物が
なく、他の基板5を自由に下流側へ搬送することができ
る。すなわち、上流側の検査ステージAに基板5が存在
する場合においても、下流側の検査ステージBにて新た
な基板5を搬入し、また搬出することができる。
ム構成を説明する。図3において、入力部30には、セ
ンサSF,SA,SBが接続されており、搬送経路上の
各位置での基板5、すなわち上流側から接近する基板
5,および検査ステージA,Bに位置する基板5の検出
信号が入力される。CPU31は、基板検査装置全体の
制御や、後述する基板5の搬送先決定処理、各検査ステ
ージでの基板5の搬入・搬出制御のための演算を行う。
り、検査ステージA,Bにおける基板搬入状態がリアル
タイムで記憶される。プログラム記憶部33には、基板
搬送動作や検査処理動作などのプログラムが記憶され
る。シリンダ駆動部34は、ストッパ駆動シリンダC
F,CA,CBおよび下受け部材昇降シリンダDA,D
Bを駆動する。モータ駆動部35は、搬送路6の駆動モ
ータM1、カメラ22の移動用のモータM2を駆動す
る。検査部36はカメラ22によって撮像した基板5の
画像データに基づき、画像処理を行って検査結果を出力
する。検査結果記憶部37は出力された検査結果を記憶
する。
処理を説明する。まずセンサSFによって、上流側から
送られる基板5の接近が検出されたならば、搬送先決定
手段としての基板搬送先決定処理部40によって、複数
の検査ステージA,Bのいずれに基板5を搬送すべきか
を決定する処理が行われる。ここでは、基板搬入状態記
憶部41であるRAM32にリアルタイムで記憶された
検査ステージA,Bでの基板5の有無を示すデータ(情
報)に基づいて決定がなされる。
ステージが決定されると、それぞれの検査ステージでの
具体的な搬入・搬出動作の制御処理が行われる。すなわ
ち、検査ステージA基板搬入処理部43、検査ステージ
B基板搬入処理部45は、排他制御処理部42に搬入の
可否の問合せを行い、予め設定された所与の条件がすべ
て満たされており基板5の搬入に何ら支障がないと排他
制御処理部42にて判断された場合にのみ、搬入可の許
可信号を受け取る。そしてこの信号に基づいて実際の搬
入動作の制御指令信号が出され、搬入が完了したことを
確認した後に、検査処理部47に対して検査実行指令信
号が出される。
れると、基板5をそれぞれの検査ステージA,Bから搬
出する処理が行われる。すなわち、排他制御処理部42
に基板搬出の可否の問合せを行う。そして排他制御処理
部42が基板搬出に何ら支障がないと判断して搬出可の
許可信号を出し、検査ステージA基板搬出処理部44、
検査ステージB基板搬出処理部46がこの許可信号を受
け取ったならば、搬出動作の実行指令信号を出力すると
ともに、基板搬入状態記憶部41の記憶内容を更新す
る。上記説明のように、検査ステージA基板搬入処理部
43、検査ステージB基板搬入処理部45、検査ステー
ジA基板搬出処理部44、検査ステージB基板搬出処理
部46は、搬入・搬出制御手段となっている。
ローに沿って説明する。まず図5を参照して、基板搬送
先決定処理について説明する。基板5が上流側の他装置
から送られ、基板検査装置1の搬送経路に到達したこと
がセンサSFによって検出されたか否かが判断される
(ST1)。検出されなければ常に同様の検出監視を継
続し、検出されたならば、基板搬入状態記憶部47の記
憶内容に基づいて、検査ステージAに基板5が無いか否
かが判断される(ST2)。ここで、基板無しと判断さ
れたならば、検査ステージAの基板搬入状態を“有”に
更新する(ST3)とともに、検査ステージAへの基板
搬入処理実行指令信号を出力する(ST4)。そして、
新たな基板の検出監視のためST1に戻る。
らば、検査ステージBに基板が無いか否かが判断される
(ST5)。ここで基板“無し”と判断されたならば、
検査ステージBの基板搬入状態を“有”に更新する(S
T6)とともに、検査ステージB基板搬入処理実行信号
を出力する(ST7)。ST5にて基板“有”と判断さ
れたならば、ST2に戻って同様に検査ステージAにつ
いての前述の判断を繰り返す。
について図6、図7のフローに沿って説明する。図6は
検査ステージAを、図7は検査ステージBを対象とした
フローを示すものである。基板搬送先決定処理部40か
ら基板搬入実行指令が送信されると、まず基板搬入動作
の実行可否の判断を行う(ST11A,11B)。この
判断は、排他制御処理部42からの許可信号の有無によ
り行われ、許可信号を受けた時点にのみ以下の搬入動作
に移行する。許可信号を受けた後、ストッパfを解除し
(ST12A,12B)、次いでモータM1を駆動する
(ST13A,13B)。これにより、ストッパfの位
置で停止していた基板5は下流側へ搬送され、ストッパ
aに当接して停止する。
Aで検出したか否かを判断し(ST14A,14B)、
検出されたならば、モータM1を停止させて(ST15
A,15B)、搬送を停止する。この後、次の基板が検
査ステージAに誤って搬入されるのを防止するために直
ちにストッパfを上昇させ(ST16A,16B)、次
いでシリンダDA,DBを駆動して、基板の下受け部材
19を上昇させる(ST17A,17B)。これによ
り、基板5はマスクプレート20の下面に押し当てら
れ、検査ステージA,Bでの検査実行準備が完了する。
この後、検査部36に対して検査実行指令が出力される
(ST18A,18B)。
態がカメラ22により撮像され、撮像結果は検査部36
によって検査処理される。検査結果は検査結果記憶部3
7に記憶され、所定の形で出力される。
A,Bからの基板搬出処理について説明する。図8は検
査ステージAを、図9は検査ステージBを対象としたフ
ローを示すものである。まず、検査処理部47から検査
完了信号が送信されると、基板搬出動作の実行可否の判
断を行う(ST21A,21B)。この判断も搬入動作
と同様に、排他制御処理部42からの許可信号に基づく
ものである。許可信号を受けたならば、シリンダDA,
DBを駆動して下受け部材19を下降させる(ST22
A,22B)。これにより検査後の基板5は搬送経路の
ベルト12上に載置される。次いでモータM1を駆動し
(ST23A,23B)、ストッパa,bを解除する
(ST24A,24B)。これにより、基板5はベルト
12によって下流側へ搬送される。そして、基板5がス
トッパa,bを通過するのに必要な所定時間の経過を待
って(ST25A,25B)、再びストッパa,bを上
昇させる(ST26A,26B)。そして、基板搬入状
態記憶部41に記憶された基板ステージA,Bの基板搬
入状態を“無し”に更新する(ST27A,27B)。
に正味の作業時間が短く、全体のタクトタイムに占める
基板の搬送時間が長いような場合において、搬送経路に
沿って複数の検査ステージを設け、これらの検査ステー
ジに搬送経路上の基板を持ち上げる持ち上げ手段を設け
ることにより、1つの検査ステージにて検査が行われて
いる間に、他の検査ステージでの基板の搬入・搬出を行
わせることができる。これにより、基板の搬送動作中に
おいても、いずれかの検査ステージでは検査作業が行わ
れることとなり、検査装置としての本来の機能を休止す
ることなく、搬送待ちによる休止時間を排除して稼働効
率を大幅に向上させることができる。
もに、各検査ステージでの基板の有無のデータを常に記
憶させ、そのデータに基づいて基板が搬送される搬送先
を決定し、さらに各検査ステージでの基板の搬入・搬出
をリアルタイムに更新される前記データに基づいて制御
することにより、手待ちによるタイムロスを省いて効率
的な基板の搬送を行うことができ、したがって装置全体
のタクトタイムを短縮することができる。
ステージを設け、これらの作業ステージに搬送経路上の
ワークを持ち上げる持ち上げ手段を設けたので、1つの
作業ステージにて作業が行われている時間中にも他の作
業ステージでのワークの搬入、搬出を行うことができ、
またワークの作業ステージへの搬入・搬出を制御する制
御手段を設けたので、ワークの搬送を効率よく行うこと
ができる。したがってワーク搬送による作業の待ち時間
を解消して装置の稼働効率を向上させることができる。
図
側断面図 (b)本発明の一実施の形態の基板検査装置の側断面図
ム構成を示すブロック図
ロック図
送先決定処理のフロー図
テージへの基板搬入処理のフロー図
テージへの基板搬入処理のフロー図
テージからの基板搬出処理のフロー図
テージからの基板搬出処理のフロー図
Claims (1)
- 【請求項1】ワークを所定の搬送経路に沿って搬送する
搬送手段と、前記搬送経路に設けられた複数の作業ステ
ージと、前記作業ステージに設けられ前記搬送経路上の
ワークを持ち上げる持ち上げ手段と、前記複数の作業ス
テージへのワークの搬入・搬出を制御する制御手段とを
備え、この制御手段が、前記搬送経路の上流側からのワ
ークの接近を検出する検知手段と、前記各作業ステージ
でのワークの有無を記憶する搬入状態記憶手段と、前記
検知手段で検出したワークが搬送される作業ステージを
前記搬入状態記憶手段に記憶されている情報に基づいて
決定する搬送先決定手段と、各作業ステージでのワーク
の搬入・搬出制御処理を行う搬入・搬出制御手段とを有
することを特徴とするワーク搬送装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16314198A JP3617311B2 (ja) | 1998-06-11 | 1998-06-11 | 基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16314198A JP3617311B2 (ja) | 1998-06-11 | 1998-06-11 | 基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11354993A true JPH11354993A (ja) | 1999-12-24 |
JP3617311B2 JP3617311B2 (ja) | 2005-02-02 |
Family
ID=15768001
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16314198A Expired - Fee Related JP3617311B2 (ja) | 1998-06-11 | 1998-06-11 | 基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3617311B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006303409A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-11-02 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | プリント基板組立装置及びプリント基板組立方法 |
DE102007026914A1 (de) * | 2007-06-12 | 2008-06-05 | Siemens Ag | Leiterplatten-Transportsystem mit Hubeinrichtung zum Anheben von Leiterplatten in eine Bestückebene |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101789144B1 (ko) | 2011-06-30 | 2017-11-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치용 자동 검사시스템 |
-
1998
- 1998-06-11 JP JP16314198A patent/JP3617311B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006303409A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-11-02 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | プリント基板組立装置及びプリント基板組立方法 |
DE102007026914A1 (de) * | 2007-06-12 | 2008-06-05 | Siemens Ag | Leiterplatten-Transportsystem mit Hubeinrichtung zum Anheben von Leiterplatten in eine Bestückebene |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3617311B2 (ja) | 2005-02-02 |
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