JPH11337618A - タイミング・デスキュー装置及びタイミング・デスキュー方法 - Google Patents

タイミング・デスキュー装置及びタイミング・デスキュー方法

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JPH11337618A
JPH11337618A JP10143552A JP14355298A JPH11337618A JP H11337618 A JPH11337618 A JP H11337618A JP 10143552 A JP10143552 A JP 10143552A JP 14355298 A JP14355298 A JP 14355298A JP H11337618 A JPH11337618 A JP H11337618A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 校正精度を向上させるタイミング・デスキュ
ー装置を実現することを目的にする。 【解決手段】 本発明は、ドライバ側の第1のプログラ
マブルディレイラインと、コンパレータ側の第2のプロ
グラマブルディレイラインとを、基準ドライバの基準波
形によりタイミング調整を行うタイミング・デスキュー
装置に改良を加えたものである。本装置は、所定のリフ
ァレンス電圧で、コンパレータにより基準波形に基づい
て、第2のプログラマブルディレイラインを調整し、デ
ィレイ値を決定するディレイ決定手段と、このディレイ
決定手段で決定した第2のプログラマブルディレイライ
ンのディレイ値で、基準波形に基づいて、コンパレータ
のリファレンス電圧を調整し、リファレンス電圧を決定
するリファレンス電圧決定手段とを有し、ディレイ決定
手段で決定したディレイ値と、リファレンス電圧決定手
段で決定したリファレンス電圧で、ドライバ側の第1の
プログラマブルディレイラインを調整することを特徴と
する装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、IC試験装置に用
いられるタイミング・デスキュー装置に関し、校正精度
を向上させるタイミング・デスキュー装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】IC試験装置においては被試験対象(以
下DUTと略す)のICに例えば10ps(picosecond)
の時間的分解能でデジタル信号を加えたり、同様な時間
的分解能でDUTの各ピンから出力されるデジタル信号
の測定を行いDUTの機能試験を行う。このような高速
領域になると通過する電子素子、および伝送路長などに
より、デジタル信号の遅延する量が問題となる。すなわ
ち、信号発生器から同一時刻にデジタル信号を発生さ
せ、DUTの例えば1番ピン,2番ピン,3番ピンにデ
ジタル信号を加えたつもりであっても、それぞれのピン
に至るまでの伝送路長や通過する電子素子により遅延量
が異なるので、実際に3つのピンに到達するデジタル信
号の時刻は異なってしまう。
【0003】同様に、DUTの複数のピンから同一時刻
にデジタル信号が出力されたとしても、このデジタル信
号を検出する検出回路までに、それぞれ異なった遅延量
が存在すると、DUTから異なった時刻にデジタル信号
の出力があったと誤って判断されてしまう。
【0004】従って、信号発生器からDUTに至るまで
の伝送回路により発生する遅延量の校正、および、DU
Tから検出回路へ至るまでの伝送回路により発生する遅
延量の校正が必要となる。これをタイミング校正とい
う。
【0005】そこで、従来のIC試験装置は、ドライバ
がDUTに出力するデジタル信号を遅延させるプログラ
マブルディレイラインと、DUTからコンパレータに入
力されるデジタル信号の取り込みのタイミング信号を遅
延させるプログラマブルディレイラインとを調整するこ
とで、デジタル信号のタイミング校正を行っていた。こ
のような装置は、例えば、特開平6−281704号公
報や特開平7−55882号公報等に記載されている。
【0006】また、ピン間、あるいは、同一ピンでも複
数のエッジ間のスキューを最小に調整する場合、システ
ム基準をリファレンスとして用いることも一般に行われ
ている。
【0007】各コンパレータ及びドライバのエッジタイ
ミングをデスキューする方法として、基準ドライバだけ
を持つような装置を図3に示し説明する。
【0008】図において、ピンエレクトロニクスPE
1,PE2は、それぞれポゴピンP1,P2を介して、
校正用のパフォーマンスボードPBに接続する。なお、
ピンエレクトロニクスは、実際には、数多くあるが、こ
こでは、省略してある。
【0009】ピンエレクトロニクスPE1,PE2は、
プログラマブルディレイラインD1〜D3,RSフリッ
プフロップF,ドライバDRV,コンパレータCMP,
Dフリップフロップ(ラッチ回路)R,スイッチSWを
有している。
【0010】プログラマブルディレイラインD1は、ス
キュー調整用に設けられ、立ち上がりエッジ信号を入力
し、このエッジ信号を遅延する。プログラマブルディレ
イラインD2は、スキュー調整用に設けられ、立ち下が
りエッジ信号を入力し、立ち下がりエッジ信号を遅延す
る。RSフリップフロップFは、セット端子にプログラ
マブルディレイラインD1からの信号を入力し、リセッ
ト端子にプログラマブルディレイラインD2からの信号
を入力する。ドライバDRVは、RSフリップフロップ
Fからの出力を入力する。スイッチSWは、一端にドラ
イバDRVの出力端を接続し、他端にポゴピンP1,P
2を接続する。
【0011】コンパレータCMPは、スイッチSWの一
端を入力端と接続し、リファレンス電圧と比較する。プ
ログラマブルディレイラインD3は、ストローブエッジ
信号を入力し、遅延する。DフリップフロップRは、コ
ンパレータCMPの出力をD端子に入力し、プログラマ
ブルディレイラインD3からの信号をクロック端子に入
力し、H(ハイレベル)/L(ロウレベル)情報を出力
する。
【0012】パフォーマンスボードPBは、基準ドライ
バDRV0,分配マトリクスSを有する。
【0013】基準ドライバDRV0は、基準波形を出力
する。分配マトリクスSは、基準ドライバDRV0から
の基準波形を、ポゴピンP1,P2を介して、ピンエレ
クトロニクスPE1,PE2に切り替えて与える。
【0014】このような装置の動作を以下に説明する。
まず、コンパレータ側のデスキューについて説明を行
う。分配マトリクスSは、基準ドライバDRV0の出力
する基準波形を切り替えて、ポゴピンP1を介して、ピ
ンエレクトロニクスPE1に入力する。コンパレータC
MPに与えられたリファレンス電圧に対するH/L情報
を基に、プログラマブルディレイラインD3を変化さ
せ、H/Lの切り替わり点を求める。このような調整を
すべてのピンエレクトロニクスのコンパレータCMPに
対して行う。
【0015】次に、ドライバ側のデスキューについて説
明を行う。分配マトリクスSは、基準ドライバDRV0
の出力する基準波形を切り替えて、ポゴピンP2を介し
て、ピンエレクトロニクスPE2に入力する。コンパレ
ータCMPに与えられたリファレンス電圧に対するH/
L情報を基に、プログラマブルディレイラインD3を変
化させ、H/Lの切り替わり点を求める。つまり、基準
ドライバDRV0の基準波形をコンパレータCMPで値
付する。
【0016】次に、ピンエレクトロニクスPE1のドラ
イバDRVから信号を出力し、スイッチSWとポゴピン
P1,P2とを介して、ピンエレクトロニクスPE2に
入力する。ピンエレクトロニクスPE1のプログラマブ
ルディレイラインD1,D2を調整し、ピンエレクトロ
ニクスPE2のコンパレータCMPによるH/Lの切り
替わり点を求める。つまり、ピンエレクトロニクスPE
2のコンパレータCMPを2次基準として、ピンエレク
トロニクスPE1のドライバDRV側のデスキューを行
う。
【0017】このような動作を繰り返して、すべてのピ
ンエレクトロニクスのドライバDRVのデスキューを行
う。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】このような装置では、
2次基準となるピンエレクトロニクスPE2のコンパレ
ータCMPのストローブ・タイミングの分解能が粗い場
合、基準ドライバDRV0の基準波形を覚え込ませるこ
とが不可能である。つまり、ストローブ・タイミングの
分解能をΔtcmp[s]とすると、最悪、基準ドライ
バの波形を値づけする際に、この分だけ誤差が生じる。
さらに、被校正のドライバDRVのスキュー分解能をΔ
tdrv[s]とすると、最大(Δtcmp+Δtdr
v)[s]だけの誤差が生じてしまうという問題点があ
った。
【0019】そこで、本発明の目的は、校正精度を向上
させるタイミング・デスキュー装置を実現することにあ
る。
【0020】
【課題を解決するための手段】本発明は、ドライバ側の
第1のプログラマブルディレイラインと、コンパレータ
側の第2のプログラマブルディレイラインとを、基準ド
ライバの基準波形によりタイミング調整を行うタイミン
グ・デスキュー装置において、所定のリファレンス電圧
で、前記コンパレータにより前記基準波形に基づいて、
前記第2のプログラマブルディレイラインを調整し、デ
ィレイ値を決定するディレイ決定手段と、このディレイ
決定手段で決定した第2のプログラマブルディレイライ
ンのディレイ値で、前記基準波形に基づいて、前記コン
パレータのリファレンス電圧を調整し、リファレンス電
圧を決定するリファレンス電圧決定手段とを有し、前記
ディレイ決定手段で決定したディレイ値と、前記リファ
レンス電圧決定手段で決定したリファレンス電圧で、ド
ライバ側の第1のプログラマブルディレイラインを調整
することを特徴とするものである。
【0021】このような本発明では、ディレイ決定手段
が、コンパレータを所定のリファレンス電圧で、基準波
形により、第2のプログラマブルディレイラインのディ
レイ値を求める。そして、リファレンス電圧決定手段
が、リファレンス電圧を変化させて、基準波形により、
リファレンス電圧を求める。この決定したディレイ値と
リファレンス電圧で、ドライバ側の第1のプログラマブ
ルディレイラインを調整する。
【0022】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を説明す
る。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。図
3と同一のものは同一符号を付して説明を省略する。
【0023】図において、コントローラ1は、パフォー
マンスボードPB(基準ドライバDRV0,分配マトリ
クスS)を制御すると共に、ピンエレクトロニクスPE
1,PE2を制御する。そして、コントローラ1は、デ
ィレイ決定手段11,リファレンス電圧決定手段12,
ディレイサーチ手段13,第1の電圧サーチ手段14,
第2の電圧サーチ手段15,判定手段16を有する。
【0024】ディレイ決定手段11は、所定のリファレ
ンス電圧で、コンパレータCMPにより基準波形に基づ
いて、第2のプログラマブルディレイラインD3を調整
し、ディレイ値を決定する。
【0025】リファレンス電圧決定手段12は、ディレ
イ決定手段11で決定した第2のプログラマブルディレ
イラインD3のディレイ値で、基準波形に基づいて、コ
ンパレータCMPのリファレンス電圧を調整し、リファ
レンス電圧を決定する。
【0026】ディレイサーチ手段13は、ディレイ決定
手段11で決定したディレイ値と、リファレンス電圧決
定手段12で決定したリファレンス電圧で、ドライバD
RV側の第1のプログラマブルディレイラインD1,D
2を調整し、ディレイ値をサーチする。
【0027】第1の電圧サーチ手段14は、ディレイサ
ーチ手段13でサーチしたディレイ値で、コンパレータ
CMPのリファレンス電圧をサーチする。
【0028】第2の電圧サーチ手段15は、ディレイサ
ーチ手段13でサーチしたディレイ値を最小変化分だけ
変化させ、コンパレータCMPのリファレンス電圧をサ
ーチする。
【0029】判定手段16は、第1,第2の電圧サーチ
手段14,15でサーチしたリファレンス電圧を比較
し、リファレンス電圧決定手段12で決定したリファレ
ンス電圧より差が小さい方のリファレンス電圧のディレ
イ値を第1のプログラマブルディレイラインD1,D2
のディレイ値とする。
【0030】このような装置の動作を以下で説明する。
図2は図1の装置の動作を説明する図である。まず、コ
ンパレータ側のデスキューについて説明を行う。分配マ
トリクスSは、コントローラ1により制御された基準ド
ライバDRV0の出力する基準波形を、コントローラ1
の指示により切り替えて、ポゴピンP1を介して、ピン
エレクトロニクスPE1に入力する。コンパレータCM
Pに与えられたリファレンス電圧に対するH/L情報を
基に、プログラマブルディレイラインD3を変化させ、
H/Lの切り替わり点を求め、ディレイ値を決める。こ
のような調整をすべてのコンパレータCMPに対して行
う。
【0031】次に、ドライバ側のデスキューについて説
明を行う。分配マトリクスSは、コントローラ1により
制御された基準ドライバDRV0の出力する基準波形a
を、コントローラ1の指示により切り替えて、ポゴピン
P2を介して、ピンエレクトロニクスPE2に入力す
る。ディレイ決定手段11は、コンパレータCMPに与
えられたリファレンス電圧に対するH/L情報を基に、
プログラマブルディレイラインD3のディレイ値を変化
させ、H/Lの切り替わり点を求め、ディレイ値を決め
る。つまり、基準ドライバDRV0の基準波形aをコン
パレータCMPで値付する。
【0032】ここでは、エッジサーチにバイナリーサー
チを使用している。バイナリーサーチは、サーチ対象が
単調性を持つ時に使用可能な方法であり、サーチ回数を
構成するビット数に減らすことができる。つまり、プロ
グラマブルディレイラインのディレイ値との関係に単調
性がある場合に有効である。
【0033】そして、リファレンス電圧手段12が、リ
ファレンス電圧を元々の設定の近傍でサーチし、H/L
の切り替わり点を求め、このリファレンス電圧を”V
H”とする。
【0034】次に、コントローラ1により、ピンエレク
トロニクスPE1のドライバDRVから信号を出力し、
スイッチSWとポゴピンP1,P2とを介して、ピンエ
レクトロニクスPE2に入力する。ディレイサーチ手段
13が、ピンエレクトロニクスPE1のプログラマブル
ディレイラインD1,D2を調整し、ピンエレクトロニ
クスPE2のコンパレータCMPによるH/Lの切り替
わり点を求め、プログラマブルディレイラインD1,D
2のディレイ値を決める。これにより、ドライバDRV
が出力する信号が波形bとなる。
【0035】第1の電圧サーチ手段14が、リファンレ
ンス電圧を”VH”の近傍で変化させ、H/Lの切り替
わり点をさらに詳細に捕まえる。このときのリファレン
ス電圧の”VH”からの変化量を”ΔVH1”とする。
【0036】そして、第2の電圧サーチ手段15が、第
1のプログラマブルディレイラインD1,D2のディレ
イ値を最小変化分だけ(±1)だけ変化させ、ドライバ
DRVが出力する信号を波形cとする。H/Lの切り替
わり点を、リファレンス電圧を変化させて求める。この
ときのリファレンス電圧の”VH”からの変化量を”Δ
VH2”とする。ここで、ディレイ値を+1変化させる
か、−1変化させるかは、バイナリーサーチの判定方法
に依存する。つまり、プログラマブルディレイラインD
3のディレイ値がH/L判定のH側寄りか、L側寄りか
は、バイナリーサーチのアルゴリズムに依存するもので
ある。
【0037】判定手段16は、”|ΔVH1|”と”|
ΔVH2|”とを比較し、小さい方のディレイ値を、第
1のプログラマブルディレイラインD1,D2のディレ
イ値とする。
【0038】このような動作を繰り返して、すべてのピ
ンのドライバのデスキューを行う。
【0039】このように、コンパレータCMPを所定の
リファレンス電圧で、基準波形に基づいて、第2のプロ
グラマブルディレイラインD3のディレイ値を求めた後
に、リファレンス電圧を変化させて、基準波形に基づい
て、リファレンス電圧を設定するので、コンパレータC
MP側の第2のプログラマブルディレイラインD3によ
るディレイ値による誤差をなくすことができる。これに
より、ドライバDRV側の第1のプログラマブルディレ
イラインD1,D2のディレイ値の設定を精度よく行う
ことができる。
【0040】特に、電圧方向のサーチは、時間軸分解
能、すなわち、プログラマブルディレイラインの分解能
が粗い場合に有効となる。一般に、時間軸分解能につい
ては、高速レートを発生できるテスタと、低速レートし
か発生できないテスタとの間では隔たりがあるものの、
リファレンス電圧の分解能は、両者間の差はあまり見ら
れない。従って、特に本装置は、低速レートのテスタに
有効である。
【0041】また、コンパレータCMPにより、ドライ
バDRV側の第1のプログラマブルディレイラインD
1,D2のディレイ値を求めた後、リファレンス電圧を
サーチし、ディレイ値を最小変化分だけ変化させ、リフ
ァレンス電圧をサーチし、設定したリファレンス電圧と
比較し、差が小さい方のリファレンス電圧のディレイ値
を、第1のプログラマブルディレイラインD1,D2の
ディレイ値とするので、基準波形に最も近くなるよう
に、ディレイ値を求めることができる。つまり、精度よ
くタイミング校正を行うことができる。
【0042】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく、以下のような構成でもよい。第1のプログラマブ
ルディレイラインD1,D2は、2つ設ける構成を示し
たが、ドライバDRVとRSフリップフロップFとの間
に1つ設ける構成でもよい。
【0043】また、パフォーマンスボードPBで、基準
ドライバDRV0と分配マトリクスSとを設けた構成を
示したが、基準ドライバDRV0をポゴピンP1,P2
よりシステム側に実装してもよい。また、通常、DUT
の試験に用いるドライバDRVの1つを基準ドライバと
してもよい。
【0044】そして、H/L情報を用いた例を示した
が、パス/フェイル情報等を用いる構成でもよい。
【0045】さらに、サーチ方法として、バイナリーサ
ーチの例を示したが、これに限定されるものではない。
【0046】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項1,3によれば、コンパレータを所定のリフ
ァレンス電圧で、基準波形に基づいて、第2のプログラ
マブルディレイラインのディレイ値を求めた後に、リフ
ァレンス電圧を変化させて、基準波形に基づいて、リフ
ァレンス電圧を設定するので、コンパレータ側の第2の
プログラマブルディレイラインによるディレイ値による
誤差をなくすことができる。これにより、ドライバ側の
第1のプログラマブルディレイラインのディレイ値の設
定を精度よく行うことができる。
【0047】請求項2,4によれば、コンパレータによ
り、ドライバ側の第1のプログラマブルディレイライン
のディレイ値を求めた後、リファレンス電圧をサーチ
し、ディレイ値を最小変化分だけ変化させ、リファレン
ス電圧をサーチし、設定したリファレンス電圧と比較
し、差が小さい方のリファレンス電圧のディレイ値を、
第1のプログラマブルディレイラインのディレイ値とす
るので、基準波形に最も近くなるように、ディレイ値を
求めることができる。つまり、精度よくタイミング校正
を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】図1の装置の動作を説明する図である。
【図3】従来のタイミング・デスキュー装置を示した構
成図である。
【符号の説明】
CMP コンパレータ D1,D2 第1のプログラマブルディレイライン D3 第2のプログラマブルディレイライン DRV ドライバ DRV0 基準ドライバ 11 ディレイ決定手段 12 リファレンス電圧決定手段 13 ディレイサーチ手段 14 第1の電圧サーチ手段 15 第2の電圧サーチ手段 16 判定手段

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ドライバ側の第1のプログラマブルディ
    レイラインと、コンパレータ側の第2のプログラマブル
    ディレイラインとを、基準ドライバの基準波形によりタ
    イミング調整を行うタイミング・デスキュー装置におい
    て、 所定のリファレンス電圧で、前記コンパレータにより前
    記基準波形に基づいて、前記第2のプログラマブルディ
    レイラインを調整し、ディレイ値を決定するディレイ決
    定手段と、 このディレイ決定手段で決定した第2のプログラマブル
    ディレイラインのディレイ値で、前記基準波形に基づい
    て、前記コンパレータのリファレンス電圧を調整し、リ
    ファレンス電圧を決定するリファレンス電圧決定手段と
    を有し、前記ディレイ決定手段で決定したディレイ値
    と、前記リファレンス電圧決定手段で決定したリファレ
    ンス電圧で、ドライバ側の第1のプログラマブルディレ
    イラインを調整することを特徴とするタイミング・デス
    キュー装置。
  2. 【請求項2】 ディレイ決定手段で決定したディレイ値
    と、リファレンス電圧決定手段で決定したリファレンス
    電圧で、ドライバ側の第1のプログラマブルディレイラ
    インを調整し、ディレイ値をサーチするディレイサーチ
    手段と、このディレイサーチ手段でサーチしたディレイ
    値で、コンパレータのリファレンス電圧をサーチする第
    1の電圧サーチ手段と、 ディレイサーチ手段でサーチしたディレイ値を最小変化
    分だけ変化させ、コンパレータのリファレンス電圧をサ
    ーチする第2の電圧サーチ手段と、 前記第1,第2の電圧サーチ手段でサーチしたリファレ
    ンス電圧を比較し、リファレンス電圧決定手段で決定し
    たリファレンス電圧より差が小さい方のリファレンス電
    圧のディレイ値を第1のプログラマブルディレイライン
    のディレイ値とする判定手段とを有することを特徴とす
    る請求項1記載のタイミング・デスキュー装置。
  3. 【請求項3】 ドライバ側の第1のプログラマブルディ
    レイラインと、コンパレータ側の第2のプログラマブル
    ディレイラインとを、基準ドライバの基準波形によりタ
    イミング調整を行うタイミング・デスキュー方法におい
    て、 所定のリファレンス電圧で、前記コンパレータにより前
    記基準波形に基づいて、前記第2のプログラマブルディ
    レイラインを調整し、ディレイ値を決定し、 決定した第2のプログラマブルディレイラインのディレ
    イ値で、前記基準波形に基づいて、前記コンパレータの
    リファレンス電圧を調整し、リファレンス電圧を決定
    し、 決定したディレイ値とリファレンス電圧とで、ドライバ
    側の第1のプログラマブルディレイラインを調整するこ
    とを特徴とするタイミング・デスキュー方法。
  4. 【請求項4】 決定したディレイ値とリファレンス電圧
    とで、ドライバ側の第1のプログラマブルディレイライ
    ンを調整し、ディレイ値をサーチし、 サーチしたディレイ値で、コンパレータのリファレンス
    電圧をサーチし、 サーチしたディレイ値を最小変化分だけ変化させ、コン
    パレータのリファレンス電圧をサーチし、 サーチしたリファレンス電圧を比較し、決定したリファ
    レンス電圧より差が小さい方のリファレンス電圧のディ
    レイ値を第1のプログラマブルディレイラインのディレ
    イ値とすることを特徴とする請求項3記載のタイミング
    ・デスキュー方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001183432A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Advantest Corp タイミング調整方法、半導体試験装置におけるタイミングキャリブレーション方法
JP2009236516A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Yokogawa Electric Corp タイミング校正機能を具備した半導体試験装置

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