JPH11233484A - 凹凸基板の製造方法 - Google Patents
凹凸基板の製造方法Info
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- JPH11233484A JPH11233484A JP10030139A JP3013998A JPH11233484A JP H11233484 A JPH11233484 A JP H11233484A JP 10030139 A JP10030139 A JP 10030139A JP 3013998 A JP3013998 A JP 3013998A JP H11233484 A JPH11233484 A JP H11233484A
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Abstract
適な凹凸構造を有する結晶系半導体基板を、再現性良く
製造する。 【構成】 結晶系半導体基板表面を清浄化する第一工程
と、該結晶系半導体基板をアルカリ性溶液で表面処理
し、表面に凹凸構造を備えた凹凸基板を製造する第二工
程と、を備えている。
Description
される、表面に光閉じ込め用の凹凸構造を有する単結晶
或いは多結晶シリコン等の結晶系半導体基板を製造する
技術に属する。
は、クリーンで無尽蔵のエネルギー源である太陽からの
光を直接電気に変換できることから新しいエネルギー変
換装置として期待され、近年においては一般家庭用の電
源としての利用が盛んに進められている。
した従来の太陽電池の構造を示す素子構造断面図であ
る。
の単結晶シリコンからなる基板である。そして、この基
板1は、本来のp型の導電性を示すp型領域1pと、受
光面側の約0.5μmの深さにまでP(リン)を熱拡散
させることで形成されたn型領域1nとを有している。
l等の金属からなり櫛型状の形状をした集電用の集電極
2が設けられ、そして上記基板1の背面にはAlからな
る裏面電極3が形成されている。また、基板1の背面側
にはAlが高濃度にドープされてなるp型のBSF領域
4が設けてある。
2側から入射した光は基板1中においてp型領域1pと
n型領域1nとの界面近傍に形成される空乏層で吸収さ
れると共に電子・正孔対が生成され、そしてこの電子・
正孔対が夫々裏面電極3及び集電極2から外部に取り出
されることとなる。
おいては、入射した光を太陽電池内に閉じ込め光の有効
活用を図るために、基板1の表面にピラミッド状の凹凸
構造を備えている。
特開昭64−42824号に記載の如く、単結晶シリコ
ン基板に、水酸化カリウム(KOH)を30重量%以上
含む水溶液とアニオン系界面活性剤との混合物を用いて
湿式エッチングを施すことにより、基板上の加工歪を除
去すると同時に基板表面に凹凸構造を形成する方法が知
られている。尚、ここで加工歪とは、単結晶シリコンイ
ンゴットから基板をスライスして切り出すときに、基板
表面の深さ数十μmの領域にまで生成される、結晶構造
の歪を指している。
と単結晶シリコン基板との反応で生じるシリコン小片或
いは反応生成物が基板に再付着し、基板表面に微細な荒
れが生じることを防止する効果を有する。
チングによる凹凸構造の形成は基本的に異方性エッチン
グを利用している。
ングでは(111)面のエッチング速度が他の結晶方位
のエッチング速度に比べて極めて遅い。このため、(1
00)面にスライスされた単結晶シリコン基板に対して
KOHの異方性エッチングを行うと、基板は(111)
面に沿って異方性エッチングされ、(111)面に配向
した4個の壁により形成された断面がV字型のピラミッ
ド状の凹凸構造が得られる。
のエッチング速度が遅いことから、この面における加工
歪を十分に除去することができず、このためこの基板を
用いて製造した太陽電池の光電変換特性が低下してしま
う、という課題があった。
ライスされて切り出された基板の表面にはスライス時に
生じる微粉末、或いは重金属やアルカリ成分等の不純物
が付着している。このため、切り出された状態の結晶系
半導体基板に対して直接異方性エッチングを行う上記従
来の方法では、エッチングの溶液中に基板表面に付着し
た微粉末、或いは重金属やアルカリ成分等の不純物が溶
け込み、この影響によりエッチング状態が経時的に変化
するため所望の凹凸構造を有する凹凸基板を再現性良く
製造できない、という課題もあった。
めに、本発明は、 結晶系半導体基板表面を清浄化する
第一工程と、該結晶系半導体基板をアルカリ性溶液で表
面処理し、表面に凹凸構造を備えた凹凸基板を製造する
第二工程と、を備えたこと特徴とし、該第二工程が上記
アルカリ性溶液よりも高い濃度を有するアルカリ性溶液
で上記結晶系半導体基板の表面処理を行う工程であるこ
とを特徴とする。
るアルカリ性溶液で行うことを特徴とする。
リ性溶液が0.2〜8重量%のNaOH水溶液であるこ
と、或いは3〜6重量%のKOH水溶液であることを特
徴とする。
yn/cm以下であることを特徴とする。
えた状態で前記第二工程を行うことを特徴とする。
して結晶系半導体基板表面の加工歪及び表面の付着物の
除去のために基板表面を清浄化し、次いで第二工程とし
て凹凸構造を形成するための異方性エッチングを行う。
十μmの領域にまで生成された加工歪、及び表面の付着
物を除去することが目的であるので、基板表面の深さ数
十μmの領域までエッチング除去する工程であることが
望ましい。
だけ短くすることが要求されるので、結晶系半導体のエ
ッチング速度を早めるために濃度の高いエッチング溶液
を用いることが望ましい。
るエッチング溶液に基板表面の付着物が混入し、エッチ
ング特性に影響を及ぼすこととなるので、エッチング溶
液の繰り返し使用回数を増大させるためにも、濃度の高
いエッチング溶液を使用することが好ましい。
凸構造を形成することが目的なので、太陽電池用として
最適な凹凸構造、即ち凹凸の山から山の長さが好ましく
は10〜50μmの範囲で、且つ山の頂角を90度以下
とした凹凸構造を精度良く形成する必要がある。従っ
て、異方性エッチングの速度が速すぎると最適な凹凸構
造を精度良く且つ再現性良く得ることが困難になるの
で、用いるエッチング溶液の濃度を比較的小さくする必
要がある。
液は結晶系半導体基板の異方性エッチングを行う必要が
あるので、NaOH或いはKOHといったアルカリ性溶
液が用いられる。これらの薬品を用いるに当たっては薬
品の保守管理、或いはエッチングに使用する器材の耐薬
品性に留意する必要があり、使用薬品の数が増えると保
守管理或いは器材の耐薬品性の対策に要する時間及びコ
ストが増大する。
溶液としても第二工程と同じ種類のアルカリ性溶液を用
いることが好ましく、且つエッチング速度を速めるため
に第二工程で用いるエッチング溶液よりも濃度の高いエ
ッチング溶液を用いることが好ましい。
は、前述の通り異方性エッチング中に生じるシリコン小
片或いは反応生成物が基板に再付着し、基板表面に微細
な荒れが生じることを防止する効果を果たしている。
半導体基板のエッチング工程中においては基板表面に多
数の気泡が生じる。そして、界面活性剤は、この気泡の
大きさを小さくし、或いは気泡の基板表面からの脱離を
促進させるため、気泡中に存在するシリコン小片または
反応生成物が基板に再付着することを防止できるものと
考えられる。
効果は、表面張力を所定値以下とすることにより一層増
大する。
に揺動させる、基板に超音波振動を与える、或いはエッ
チング溶液に超音波振動を与える、或いはエッチング溶
液をN2、Ar等の不活性ガスでバブリングする等の方
法により、直接又は間接的に基板を振動させることで、
界面活性剤による上記気泡の脱離の効果を一層促進する
ことが可能となる。
に沿ってスライスした比抵抗0.1〜10Ωcm、厚さ
200〜400μmのp型の単結晶シリコン基板を用意
する。そして、この基板を温度約85℃、約5重量%の
NaOH水溶液に約10分間浸する第一工程により、基
板表面の付着物及び加工歪をエッチング除去する。この
工程により、基板表面の約10μmの深さにまで生成さ
れた加工歪を除去し、結晶性の良好な単結晶シリコン基
板を得ることができる。尚、本実施例では第一工程のエ
ッチング溶液としてNaOH水溶液を用いているが、前
述したように濃度を比較的高くしてエッチング速度を速
めているために過エッチング状態となり、基板表面には
比較的なだらかな凹凸構造が形成されることとなる。
コン基板を、約1.5重量%のNaOH水溶液に約1重
量%の割合で界面活性剤を添加すると共に温度を約85
℃としたエッチング溶液に約30分間浸し、第二工程を
行う。
脂株式会社製 シントレッキスを用いたが、これに限る
ものでなく他の界面活性剤を用いても良い。
から山の長さが約20μmで、且つ山の頂角が約70度
となった、太陽電池用として最適な構造を有する凹凸構
造を得ることができた。
0枚を製造したところ、本発明においては第一工程及び
第二工程に使用するエッチング溶液をいずれも交換する
必要がなかった。一方従来の方法を用いた場合には、基
板表面の付着物がエッチング溶液中に混入することによ
り凹凸構造の再現性が低下するために、約10枚製造す
る毎にエッチング溶液の交換が必要であった。
いて太陽電池を製造し、その光電変換特性を測定した。
により製造した基板に対して次の後工程を行う。
で洗浄した後、フッ酸と純水を1:100の割合で混合
したフッ酸水溶液中に浸して基板表面の酸化膜を除去し
た後に、再度純水で洗浄する。
水を1:1:5で混合した溶液に基板を浸して基板表面
に付着した粒子や有機物を取り込んで基板表面を酸化さ
せ、さらに純水で洗浄する。そして、フッ酸と純水を
1:100の割合で混合したフッ酸水溶液に基板を浸し
て基板表面の酸化膜を除去し、純水で洗浄する。この酸
化膜の除去により、基板表面の粒子、有機物が除去され
る。
び純水を1:1:6の割合で混合した水溶液に基板を浸
すことにより、基板表面に付着しているアルミニウム、
鉄、マグネシウム等の太陽電池の光電変換特性に悪影響
を及ぼす重金属、及びナトリウム等のアルカリ成分を取
り込んで基板表面を酸化させる。そして、フッ酸と純水
を1:100の割合で混合したフッ酸水溶液に基板を浸
し、基板表面の酸化膜を除去した後に純水で洗浄する。
この酸化膜の除去により、基板表面の重金属やアルカリ
成分が除去される。
混合した水溶液に約30秒間基板を浸すことにより、基
板表面の深さ約2μmまでの領域を等方性エッチングで
除去する。そして、純水で洗浄し、フッ酸と純水を1:
100の割合で混合したフッ酸水溶液に基板を浸して基
板表面の酸化膜を除去した後、再度純水で洗浄し、最後
に基板を乾燥させる。
型の単結晶シリコン基板を用いて図4に示した構造の太
陽電池を形成する。
るための工程別素子構造断面図である。
型の単結晶シリコン基板1の表面に、POCl3ガスを
用いて約900℃の温度でP(リン)を熱拡散し、次い
で基板1の受光面以外の領域におけるPの拡散領域をエ
ッチング除去して基板1の受光面に、約0.5μmの深
さにまで至るn型領域1nを形成する。尚、このとき基
板1の内部には本来のp型の導電性を示すp型領域1p
が残存することとなる。
上記n型領域1n上にAgペーストを用いて櫛型状の集
電極2をスクリーン印刷法により形成すると共に、基板
1の裏面全面にAlペーストを用いて裏面電極3をスク
リーン印刷法により形成する。
及び裏面電極3を焼成する。この工程中に裏面電極4を
構成するAlが基板1中に熱拡散し、基板1の裏面側に
Alが高濃度にドープされたBSF効果用のBSF領域
4が同時に形成され、図4に示す構造の太陽電池が完成
する。
変換特性を表1に示す。また、比較のため、本発明にお
ける第一工程を省略した以外は上記の実施例と同様にし
て形成した比較用の太陽電池の特性もあわせて示す。
た基板を用いた太陽電池によれば短絡電流、開放電圧及
び曲線因子の各パラメータが比較例に比べて大幅に向上
しており、本願発明を用いることにより高効率の太陽電
池用に適した凹凸基板を製造できることがわかる。 (第2実施例)次に、第二工程に使用するエッチング溶
液中におけるアルカリ性溶液の濃度を変化させた第2実
施例について説明する。
において、第二工程に使用するNaOHの濃度を0.1
重量%〜10重量%の範囲で変化させて凹凸基板を製造
し、そしてこの基板を用いて実施例1と同様の工程で太
陽電池を測定し、その光電変換特性を比較した。
と太陽電池の光電変換特性との関係を示す図であり、同
図から、NaOHの濃度が0.1〜8重量%の時に高い
光電変換特性が得られ、1.5〜3重量%のときに特に
高い光電変換特性が得られることが明らかである。
様の検討を行った結果、KOH濃度が3〜6重量%のと
きに高い光電変換特性が得られた。 (実施例3)次に、本発明の第二工程に用いる界面活性
剤の表面張力を変化させた第3実施例について説明す
る。
の光電変換特性との関係を示す特性図である。同図から
明らかに、表面張力が47dyn/cm以下の界面活性
剤を使用することにより、高い光電変換特性を有する太
陽電池が得られ、特に40dyn/cm以下のときに特
に高い光電変換特性を得られることがわかる。
くすることにより光電変換特性が向上する理由は、次の
ように考えられる。
に含まれるアルカリとシリコン基板とが反応して水素が
発生し、この水素が気泡として基板表面に付着すること
となる。ここで、界面活性剤の表面張力を小さくすると
エッチング溶液の基板に対する濡れ性が大きくなるため
に、気泡が小さいうちに基板表面から脱離する。
とエッチング溶液の基板に対する濡れ性が小さくなるた
めに、気泡が大きくなるまで脱離させることができな
い。そして、気泡が大きくなるまで基板表面に付着して
いると、気泡が付着している部分がアルカリと反応でき
ず、均一なテクスチャを得ることができない。
n/cm以下とすることで、気泡の基板からの脱離を促
進させることができ、基板全面に均一なテクスチャ構造
を形成できるため、高い光電変換特性を得ることができ
たものと考えられる。
面活性剤の濃度を変化させることで行った。表2は界面
活性剤の濃度と表面張力との対応表であり、この表から
界面活性剤の濃度を1重量%以上とすることで、47d
yn/cm以下の表面張力を得られることがわかる。
尚、今回の検討においては20dyn/cm以下の表面
張力を得ることができなかった。
って、基板表面の清浄化のための第一工程を行うので、
インゴットからスライスされた基板表面に生成された加
工歪を確実に除去することができ、同時に基板表面の付
着物も除去できるため、結晶性が良く且つ最適な凹凸構
造を有する凹凸基板を再現性良く製造することができ
る。従って、本発明により製造した基板を用いること
で、光電変換特性の高い太陽電池を再現性良く得ること
ができる。
が、第二工程中に、例えば基板を上下に揺動させる、基
板に超音波振動を与える、或いはエッチング溶液に超音
波振動を与える、或いはエッチング溶液をN2、Ar等
の不活性ガスでバブリングする等の方法により、直接又
は間接的に基板を振動させることで、界面活性剤による
上記気泡の脱離の効果を一層促進することが可能とな
る。
ン基板について説明したが、本発明はこれに限らず、多
結晶シリコン基板、単結晶或いは多結晶のゲルマニウム
基板等結晶系半導体基板全般にわたって適用することが
できる。
る太陽電池についても、実施例で説明した構造に限ら
ず、例えば特開平5−102504号に開示された結晶
系半導体と非晶質半導体とを組み合わせた構造の太陽電
池についても適用することが可能である。
の形成のための第二工程に先立って、基板表面の清浄化
のための第一工程を行うので、インゴットからスライス
された基板表面に生成された加工歪を確実に除去するこ
とができ、同時に基板表面の付着物も除去できるため、
結晶性が良く且つ最適な凹凸構造を有する凹凸基板を再
現性良く製造することができる。従って、本発明により
製造した基板を用いることで、光電変換特性の高い太陽
電池を再現性良く得ることができる。
子構造断面図である。
太陽電池の光電変換特性との関係を示す特性図である。
力と、太陽電池の光電変換特性との関係を示す特性図で
ある。
域、2…集電極、3…裏面電極、4…p型層
Claims (7)
- 【請求項1】 結晶系半導体基板表面を清浄化する第一
工程と、 該結晶系半導体基板をアルカリ性溶液で表面処理し、表
面に凹凸構造を備えた凹凸基板を製造する第二工程と、 を備えたこと特徴とする凹凸基板の製造方法。 - 【請求項2】 上記第一工程は、上記アルカリ性溶液よ
りも高濃度のアルカリ性溶液で上記結晶系半導体基板の
表面処理を行う工程であることを特徴とする請求項1記
載の凹凸基板の製造方法。 - 【請求項3】 上記第二工程を、界面活性剤を含有する
アルカリ性溶液で行うとことを特徴とする請求項1又は
2記載の凹凸基板の製造方法。 - 【請求項4】 前記第二工程で使用するアルカリ性溶液
が0.2〜8重量%のNaOH水溶液であることを特徴
とする請求項1乃至3記載の凹凸基板の製造方法。 - 【請求項5】 前記第二工程で使用するアルカリ性溶液
が3〜6重量%のKOH水溶液であることを特徴とする
請求項1乃至3記載の凹凸基板の製造方法。 - 【請求項6】 前記界面活性剤の表面張力が47dyn
/cm以下であることを特徴とする請求項3乃至5記載
の凹凸基板の製造方法。 - 【請求項7】 前記結晶系半導体基板に振動を与えた状
態で前記第二工程を行うことを特徴とする請求項1乃至
6記載の凹凸基板の製造方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03013998A JP3695932B2 (ja) | 1998-02-12 | 1998-02-12 | 凹凸基板の製造方法 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11233484A true JPH11233484A (ja) | 1999-08-27 |
JP3695932B2 JP3695932B2 (ja) | 2005-09-14 |
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ID=12295443
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP (1) | JP3695932B2 (ja) |
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