JPH11194275A - プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 - Google Patents
プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法Info
- Publication number
- JPH11194275A JPH11194275A JP10301003A JP30100398A JPH11194275A JP H11194275 A JPH11194275 A JP H11194275A JP 10301003 A JP10301003 A JP 10301003A JP 30100398 A JP30100398 A JP 30100398A JP H11194275 A JPH11194275 A JP H11194275A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- confocal
- light
- detector
- imaging system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 30
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 14
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 claims description 13
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 238000006552 photochemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 claims description 4
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 claims description 3
- 238000012252 genetic analysis Methods 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 108091081062 Repeated sequence (DNA) Proteins 0.000 claims description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 2
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 claims 2
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims 1
- 238000011138 biotechnological process Methods 0.000 claims 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims 1
- 238000003703 image analysis method Methods 0.000 claims 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 claims 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 6
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 5
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000010226 confocal imaging Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 108091026890 Coding region Proteins 0.000 description 1
- 108091028043 Nucleic acid sequence Proteins 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003416 augmentation Effects 0.000 description 1
- 230000003190 augmentative effect Effects 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 238000004061 bleaching Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000001218 confocal laser scanning microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004624 confocal microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000002073 fluorescence micrograph Methods 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 238000009396 hybridization Methods 0.000 description 1
- 238000001727 in vivo Methods 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008832 photodamage Effects 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 238000001243 protein synthesis Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000014616 translation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
- G02B21/0084—Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/004—Scanning details, e.g. scanning stages fixed arrays, e.g. switchable aperture arrays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/0048—Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
- G02B26/0841—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting element being moved or deformed by electrostatic means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
迅速にデータを得ることのできる共焦点光イメージシス
テムおよび方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 光源310 と、2次元検出器カメラを有す
る検出手段350, 360と、第1および第2のグループの変
調器素子321a, 321bを有する空間的光変調器手段320 と
を具備し、変調器素子の第1のグループ321aは、物体の
共役位置341 に焦点を結ばれた照射スポットの予め定め
られたパターンシーケンスにしたがって被検物体を照射
するように構成され、共役位置341 のc からの検出光は
検出器351において第1の画像Ic を形成し、変調器素
子の第2のグループ321bは物体の非共役位置ncで光を集
めるように構成され、非共役位置ncからの検出光は検出
器361 において第2の画像Incを形成することを特徴と
する。
Description
特にプログラム可能であり空間的に光変調されたまたは
プログラム可能なアレイ顕微鏡と、照射および/または
検出のために自由にプログラム可能なパターンを使用す
る顕微鏡方法に関する。
よび検出開口の共役対を有する共焦点点顕微鏡は、直接
光区分により極微物体を調査するように極微物体をイメ
ージする有用な器具である。ディスクリートな開口スポ
ットは顕微鏡の対物平面で照射され、そこから反射され
た光または蛍光性の光が画像平面の共役検出開口を通じ
て観察される。機械的に変形された開口ディスク(いわ
ゆる複数の開口を有するニコウの円板)を有する走査シ
ステム、またはレーザビームで物体を走査するように構
成された回転ミラーを有する走査システムに基づいた共
焦点顕微鏡(共焦点レーザ走査顕微鏡、CSLM)が通
常使用されている。
ディスクは特に照射フィールドに関する制限、劣化した
コントラストおよび高い強度損失を有する。ピンホール
間の間隔が共焦点効果を維持するだけの大きさでなけれ
ばならないので、典型的にディスクの3%に満たない程
度が透過性である。一方、CSLMの走査ミラーは逐次
的な1つの点のデータ獲得により低いデューティサイク
ルを生じる。
より発生し、このことはR. JuskaitisとT. Wilson によ
る“Nature”(383 巻、1996年、 804〜806 頁)と、T.
Wilson とR. Juskaitisによる“Optics Letters”(21
巻、1996年、1879〜1881頁)に記載されている。図9で
概略して示されているようなこのような顕微鏡は、試験
体照射のために光源とプログラム可能な開口マスクとの
組合わせにより形成される多点光源を使用している。試
験体により反射される光の検出は、同一の開口マスクを
通じてカメラにより行われる。開口マスクは、アドレス
可能な画素のアレイにより形成される高速度の空間的光
変調器または固定して変調コードが付けられている回転
ディスクである。
ターンを有し、ディスクの透過性を約50%まで増加す
る。 Juskaitis等により使用されるコード化シーケンス
を防止する相関のため、検出された画像は共焦点画像と
一般的な画像との重畳されたものである。最終的な共焦
点画像を獲得するため、前記重畳から削除するように分
離する一般的な画像を(例えば回転ディスクのブランク
セクタにより)独立して検出することが必要である。
浪費し、それによって限定されたデータ獲得速度しか得
られない。開口補正技術の適用性は透過性の制限により
さらに制限される。それ故、蛍光測定は高い蛍光が生じ
る例外的な場合でのみ可能である。照射強度の対応する
増加により、受入れがたい光損傷または漂白反応が起こ
る。
に光変調された顕微鏡がM. Liangによる“Optics Lette
rs”(22巻、1997年、 751〜753 頁)と、対応する米国
特許第5 587 832 号明細書に記載されている。この従来
技術の顕微鏡が図10で概略して示されている。2次元
の空間光変調器はデジタルマイクロミラー装置(以下
“DMD”と言う)により形成され、これは光源(レー
ザまたは白色光源)から照射光をプローブへ反射し、検
出光をプローブから2次元検出器へ反射する。DMDの
各マイクロミラーは照射と検出スポットを形成するかし
ないかを個々に制御可能である。
を使用することによって共焦点画像の直接検出を可能に
する。さらに共焦点性に妥協せずに最小の共焦点パター
ン周期(照射スポットを形成するマイクロミラーの距
離)を決定することが可能である。それにもかかわら
ず、米国特許第5 587 832 号明細書の顕微鏡は、物体の
反射光の一部のみしかイメージ形成に使用されることが
できないので、照射強度が制限される。さらに、イメー
ジ形成に使用されるこの光は“焦点が合っていない”オ
フセットを有し、不都合な方法で共焦点画像のSNRに
影響する。したがって従来技術の顕微鏡は一般的な画像
を獲得する可能性なしに共焦点イメージに特定化され
る。
メージする分野における実時間共焦点顕微鏡またはイメ
ージでは、感度、検出速度に関する改良と、さらに測定
原理の実行により応用性を拡張することが要求されてい
る。
分、高い空間的解像度および/または高い光効率で急速
なデータ獲得を可能にする共焦点イメージ形成のための
改良された装置および方法を提供することである。本発
明の特別な目的は、生物または化学材料(例えば生きた
細胞、反応生成物等)の2次元または3次元イメージ、
およびしたがって分子構造および機能についての情報を
迅速に与えることである。固有の感度および選択性によ
り、分子蛍光は新しいイメージ装置および方法で実行す
るのに好ましい分光現象である。
請求項1または請求項14の特徴をもつ共焦点画像装置
または方法により解決される。本発明の有用な実施形態
は従属請求項に記載されている。
段(以下SLMとする)を有するプログラム可能な空間
的に光変調された共焦点顕微鏡(以下PAMとする)と
して共焦点光イメージシステムの動作であり、それによ
って試験体または物体から出力された光出力全体は同時
または順次的に集められる2つの画像に分解される。通
常、空間光変調器手段は変調器素子のアレイを具備し、
その透過または反射特性は個々に制御可能である。SL
M変調器素子の第1のグループ(“オン”−素子)によ
り、物体は照射され、焦点共役画像が集められ、一方、
SLM変調器素子の第2のグループ(“オフ”−素子)
により、非共役画像が集められる。非共役画像は焦点が
合っていない光を含んでいる。SLM変調器素子により
形成される焦点スポットは物体の焦点平面に焦点を結ば
れる。
の焦点平面の異なった点に対してそれぞれ共役されたS
LM素子は照射および/または検出に使用されるプログ
ラム可能なアレイを限定する。
可能であり、それによって照射スポットのパターンシー
ケンスは時間依存性の体系的にシフトしたグリッドパタ
ーン、または有限の長さの疑似ランダムシーケンスに基
づくパターンにより表される。第1のケースでは、第1
の画像は共焦点画像に対応する画像であり、第2の画像
は非共焦点画像と第1の画像との差画像である。第2の
ケースでは、第1の画像は共焦点画像と非共焦点画像の
重畳であり、第2の画像は非共焦点画像と共焦点画像と
の差画像である。どんなケースでも、第1の画像は図2
で示されているように共役画像の一部を含むことができ
る。
ることができる。検出手段の検出器システム数に応じ
て、PAMはいわゆる単一通路または二重通路のPAM
として構築されることができる。好ましい配列にしたが
って、共焦点光イメージシステムの光源手段は白色光ラ
ンプと、波長選択手段とを含んでいる。
は、細胞および組織の生物学的調査、解析/生物工学処
理、遺伝解析におけるもとの位置の交配、位置選択光化
学反応のための光マスクの形成、チップ上における生化
学アレイの生成および読出し、半導体産業および/また
は光記録および読出しにおける大規模の表面検査であ
る。
存の顕微鏡のモジュール拡張として構成されることがで
きる。一般的なCLSMで通常拒否される焦点が合って
いない光が集められ、焦点の合った画像を強調するため
に使用される。変調器素子の第1のグループの各素子は
個々に制御可能であるかプログラム可能であり、それに
よって照射スポットのパターンシーケンスは、物体に関
する少なくとも1つの予め定められた問題領域を照射す
る。(任意選択的にレーザにより)全(フル)フィール
ドおよび/または共焦点イメージができる高度のフレキ
シブルな白色光顕微鏡の構成が利用可能である。高い光
スループットにより、白色光照射は顕微鏡の拡張された
応用能力が得られることを可能にする。
伝送される両画像の同時の使用は、本発明の特有の特徴
であり、特定の改良されたデコンボリューションアルゴ
リズムで可能である。
点を添付図面を参照して以下説明する。本発明にしたが
ったプログラム可能なアレイ顕微鏡(PAM)は、透過
のときに動作する(例えば液晶に基づいたプログラム可
能な開口マスクまたはマイクロメカニカルスイッチ)空
間光変調器(以下SLMとする)、または反射のときに
動作する空間光変調器(例えばDMD)に基づいて、構
成されることができる。以下の説明では、(1例とし
て)DMDを有する反射SLMとを限定ではない方法で
参照する。本発明を類似の方法で透過SLMで実行する
ことができる。
の概略図を表している。PAM100は基本的に、白色光
ランプまたはレーザ源である光源110 と、SLMとして
動作するDMD120 と、イメージ光学系130 と、プロー
ブ部分140 と、検出システム150 、160 とを含んでい
る。
からなり(1つの素子だけがそれぞれ示されている)、
それぞれ垂線に対して予め定められた傾斜角度±αにわ
たって2つの安定な固定状態に別々に傾斜されることが
できる。傾斜角度αの値は実際に使用されるDMDに依
存する。各ミラー素子はDMDに依存する予め定められ
た面積を有する。好ましいパラメータは例えば20μm
以下の方形ミラーでα=±10°である。各ミラー素子
は予め定められた変調パターンにしたがって、KHz範
囲の特徴周波数により固定状態間で切換えられることが
できる。固定状態は、検出システム150 、160 へ偏向さ
れる検出された光のそれぞれの共役貢献と非共役貢献に
したがって“オン”と“オフ”位置と呼ばれる。以下概
略するように得られる所望の共焦点画像に基づいて両者
の貢献は焦点共役画像Ic と非共役画像Incをそれぞれ
生じる。
射システムである。この命名法を以下の理由で使用す
る。“共通通路”は照射および検出が照射開口と検出開
口との間の基本的に共通の光路に従うことを意味する。
“二重反射”はSLM素子が光を2つの縦続的な光路に
沿って導くことができることを意味する。したがって画
像IncとIc (以下参照)は同時に集められることがで
きる。二重通路単一反射システムとして別のシステムを
後述する(図4)。
メラ151 、161 と検出光学系111 、112 、162 をそれぞ
れ含んでいる。カメラ151 は“オン位置”でミラーによ
り反射された光を検出し、カメラ161 は“オフ位置”で
反射された光を受けるように構成されている。
151 による焦点共役画像Ic の検出と、カメラ161 によ
る焦点共役画像Incの検出を説明する。検出後、画像処
理、記憶、表示等のさらに別のステップが付加される。
これらのステップは走査システムからよく知られている
ので、詳細には説明しない。
)の変調パターンは共焦点画像(走査)を発生するた
めにN回変更される。SLMのi番目の変調は以下のよ
うに示される。 Si (xd ,yd )=(xd ,yd )が“オン”素子ならば、1 =(xd ,yd )が“オフ”素子ならば、0 (1) ここで、xd ,yd はSLMの連続座標であり、素子
(ミラー)の形状および定型サイズはSi に含まれてい
る。 (焦点共役画像の検出)焦点共役画像Ic を得るため、
変調Si は以下説明するグリッドパターン方法または疑
似ランダムシーケンス方法にしたがって選択されること
が好ましい。グリッドパターン方法は簡単な構成であ
り、後処理せずに共焦点画像を生成する利点を有する。
疑似ランダムシーケンス方法では幾らかの後処理が必要
とされるが、所定の信号レベルに対するフレーム積分時
間は基本的に短い。 (i)グリッドパターン方法 グリッドパターン方法では、SLMの素子(例えばマイ
クロミラーまたは液晶素子)はグリッドパターンおよび
シフトされた体系にしたがってオンに切換えられる。変
調パターンは次式にしたがって選択される Sa,b (xd ,yd )=G(xd −aη,yd −bη) (2) ここで、ηは素子のサイズであり(方形素子は100%
の充填率であると仮定する)、式(1)の指数iは2次
元整数指数a、bにより置換され、0≦a<nx、0≦
b<ny である。グリッドは以下の特性により限定され
る。
ttice )距離である。関数Gに含まれている真の格子パ
ラメータは異なった適切な形状を生じる。これらの形状
は例えば正方形の形状を有するが、疑似六角形状のグリ
ッドまたは線パターンまたはより複雑な形状も可能であ
る。
される場合の、物体空間での座標システム(x0 ,
y0 ,z0 )中の物体O(x0 ,y0 ,z0 )の焦点共
役画像は次式により得られる。
り、Hem(x0 ,y0 ,z 0 )は対物レンズの放射PS
F(ポイントスプレッド関数)である。IG は次式にし
たがった総照射である。
PSFである。総照射は式(4)を入力し、横方向の空
間的に可変のシフトは次式により得られる。 Φx =xd modη Φy =yd modη (6) 式(4)にしたがった画像はΦx 、Φy 、xd 、yd の
依存性により空間的に可変のPSFを有する3次元のコ
ンボリューションとして観察されることができる。SL
Mは連続的に走査できず、G(xd ,yd )は(いわゆ
るタンデム走査顕微鏡のような既知の顕微鏡における連
続動作とは対照的に)ηの整数倍にわたってシフトする
だけである。η/Mが画像のサンプリング密度と比較し
て小さいならば、差は無視できる程度である。ηが非常
に大きい場合、画像の画素化が生じる。PSFはηにわ
たってSLMを走査することにより空間的に不変にされ
ることができる(いわゆるデイザリング)。
の応答における数字のシミュレーションが、焦点平面に
関する平面位置の関数として図2に示されている。シミ
ュレーションは例えばパラメータδx =δy ={2,
3,5,10,20}、η,素子サイズη=17μm、
NA=1.4、M=100、励起波長λex=633n
m、放射波長λex=665nm、屈折率1.515の可
変格子距離の正方形グリッドに基づいている。これらの
パラメータは本発明の実際的構造にのみ適合する例であ
る。通常の顕微鏡および理想的な共焦点顕微鏡の画像と
比較して結果が標準化(正規化)される。通常の応答
(以下説明する図2または図5の測定されたデータの最
上部線)は有限サイズの画像における無限に大きい物体
をシミュレートする結果として予測された直線から偏位
している。比較的小さい格子距離においてさえも、背景
が増加していることによるが区分効果は明白である。格
子距離間隔が増加している場合、応答はより急峻にな
り、背景抑圧はより効率的である。図2で示されている
ようなオフセット上昇の類似の動作が、有限長の疑似ラ
ンダムシーケンスにおける傾斜間隔が変化されるときに
得られる。 (ii)疑似ランダムシーケンス方法 疑似ランダムシーケンス方法では、SLMの素子も有限
長の疑似ランダムシーケンスにしたがって切換えられ
る。SLMが所定の積分フレーム内でそのパターンを変
化することができる回数が限定されているので、完全に
相関されていない変調の理想的な状況を実際に実現する
ことは困難である。それ故、完全な平面はN個の2次元
パターンRi (a,b)の反復されたシーケンスで変調
される。数Nと1パターンの周期は、シーケンスが1フ
レームの積分時間と比較して短いように選択されること
ができる。しかしながら別の選択も可能である。パター
ンシーケンスRi (a,b)は以下の特性を有する。
性(7)を有する2次元パターンの疑似ランダムシーケ
ンスは周期的なアダーマールマトリックスの1次元行ま
たは列の適切なマッピングから得られ、これはHarwit等
の“Hadamard Transform Optics ”(Academic Press、
1979年、ニューヨーク)に記載されている。S
i (xd ,yd )は値0および1のみと想定されること
ができるので、シーケンス(1+Ri (a,b))/2
が使用される。Juskaitis 等の前述の文献にしたがった
別の開口相関シーケンス方法が使用されることができ
る。
(3)にしたがったグリッドを基礎として、完全な変調
パターンSi (xd ,yd )が形成される。G(xd −
aη,yd −bη)=1の全てのSLM素子がシーケン
ス(1+Ri (a,b))/2を使用して同一方法で切
換えられる。i番目の変調は、全ての素子が同時に切換
えられるとき全てのaおよびbにわたる合計により与え
られる。
の部分からなり、ここで第1の部分は一般的なフルライ
ト画像を生成する“一定”変調である。
O(x0 ,y0 ,z0 )の焦点共役画像は次式により得
られる。
“オン”であるとき、非常に少ない効率を有する。これ
は式(9)により支持され、式(9)は第2項のT/n
x ny の代わりに係数T/4が使用されている点を除い
て式(4)に等しい。両者の方法は同一のグリッドG
(xd ,yd )で同一の共焦点画像を生成するが、疑似
ランダムシーケンスは非常に大きい信号を発生し、その
強度はシーケンス長とは独立している。
の応答における数値シミュレーションは、一定のオフセ
ットを除いて図2の数値シミュレーションと同一であ
る。
るため、補償項が減算されなければならない。これはJu
skaitis 等により記載された前述の技術にしたがった一
般的画像であるか、好ましくは非共役画像である。後者
の場合、前者に関して2倍の共焦点信号が得られる。 (非共役画像の検出)非共役画像Incは第2のカメラ16
1 でイメージされることができる。代わりに、共役画像
Ic と同様のカメラで非共役画像Incをイメージするこ
とが可能である。共通の通路タイプのこのような単一カ
メラシステムの1例を図7のA、Bを参照して以下説明
する。本発明にしたがって、全ての蛍光、またはSLM
上に落ちる物体から反射された光はカメラにより収集さ
れる。それ故、検出された画像の合計は通常の画像でな
ければならず、それによって非共役画像Incは式(4)
または(9)で得られる通常の画像と共焦点画像との差
である。疑似ランダムシーケンスに対して、Ic とInc
の差は所望の共焦点画像に等しい。 (デコンボリューション)画像が前述の方法にしたがっ
て得られたならば、さらに改良された物体の再構成また
は回復のためにデコンボリューションアルゴリズムが条
件的に実行されることができる。これはデコンボリュー
ションアルゴリズムの性能が入力画像の特性およびSN
Rにより強く限定されるので基本的な利点である。共焦
点顕微鏡の検出された信号が劣化した回復結果により非
常に騒音が大きく、(劣化した分解能を有し区分能力が
ない)一般的な顕微鏡の検出された信号が非常に強く、
改良されたデコンボリューションを可能にする。本発明
はデコンボリューションにより共焦点イメージおよび一
般的なイメージとの両者の利点を組合わせることを可能
にする。前述の限定はデコンボリューションアルゴリズ
ムにしたがって減少され、1以上の光セクションの両画
像は適切な増強アルゴリズムで結合される。
が単一の増強された画像を発生するために使用される最
隣接方法、または画像の3Dスタックが全(フル)3D
再構成に対して使用されるアルゴリズムであり、これは
P. J. Verveer とT. M. Jovin の“Journal of the Opt
ical Society of America A ”(14巻、1997年、1696〜
1706)に記載されている。後者のモデルは以下のマトリ
ックス表記で説明される。
重ねによりベクトルで表示される。多次元線形ぼけ(bl
urring)動作は1つのマトリックスにより表される。こ
れは次のようなイメージ式を導く。 i=N[Hf+b] (10) ここでi、f、bは検出された画像、物体、既知の背景
をそれぞれ表している。顕微鏡光学系により誘発された
ぼけは線形であると仮定され、マトリックスHによる乗
算で与えられる。関数N[.]はベクトルアーギュメン
トの各素子、通常は蛍光イメージにおけるポアッソン分
布へ雑音プロセスを適用することを表している。
非共役画像inc=N[Hncf+bnc]の対応する式は、
ic とincを1つのベクトルにスタックし、Hc とHnc
を複素演算子へスタックすることによって、本発明にし
たがって次のような1つの式に結合されることができ
る。
能なアルゴリズムは式(11)で簡単に変形されること
ができる。
無関係である。Hの構成は次元に依存するが、アルゴリ
ズム自体はそれに依存しない。通常、次元は3(空間的
次元)に等しい。しかしながら、スペクトルまたは時次
元等のさらに別の次元が、ただ1つだけのHの変化に付
加されることができる。例えば、時間依存が各画像画素
または画像画素のグループで測定されるならば、次元は
4に等しい。ぼけが時次元中に存在するならば、これは
時次元でHを拡張することによりデータからデコンボリ
ューションされることができる。以前は空間次元に限定
されていたこれらのデコンボリューションアルゴリズム
をスペクトルおよび時次元にも適用する能力は本発明の
基本的な利点を表している。 (さらに別のPAM配列)図3は本発明にしたがった共
通通路二重反射PAM300 の概略図を示している。図1
で示されているのと同様に、PAM300 は基本的に、光
源310 、SLM320 、イメージ光学系330 、プローブ部
分340 、検出システム350 、360 を含んでいる。PAM
300 は側面照射ポート(例えばZeiss Axioplan)を有す
る顕微鏡とCCDカメラ(例えば、光度測定計のCH220
カメラ、Tucson、米国、コダックKAF1400 CCD センサ
付)と組合わせた光源として(例えばテキサスインスト
ルメント社、ダラス、米国)のデジタル光処理キットが
使用されることができる。プローブ部分340 は、例えば
Ludl Electronics Products 社、ホーソン、米国のコン
ピュータ化された焦点制御装置のようなz変位(焦点平
面に対して垂直)のための駆動装置を含んでいる。PA
M300 は変調器素子を制御するための駆動装置、制御装
置、計算およびデコンボリューション回路、表示装置
(図示せず)を付加的に含んでいる。照射通路はハッチ
で示されている。
0 は濾光された白色ランプ光源310により照射される。
フィルタは問題の予め定められた波長範囲用の帯域通過
フィルタである。“オン素子” 320a(1つの素子のみ
を図示する)からの反射は対物レンズ342 によって対物
平面341 に焦点を結ばれる。対物平面341 で励起された
蛍光光は同一の光路を経てSLM320 へ戻り、ここで、
光は半透明ミラー311上で反射されてIc 路に沿ってフ
ィルタ353 とレンズ352 を経てカメラ351 へ反射され
る。焦点が外れた位置(例えば図3の挿入図中の平面n
c)から発生した光は“オフ”素子 321b(1つの素子
のみが図示されている)によりミラー364上で反射され
てInc路に沿ってフィルタ363 とレンズ362 を経てカメ
ラ361 へ入射される。共焦点配列は対応するSLM素子
がオフに切換えられたとき焦点平面から光を拒否するこ
とを可能にする。フィルタ353 と363 は蛍光測定に適合
された長波長の通過フィルタであることが好ましい(λ
em>λ0 )。
Ic はカメラ351 により収集され、非焦点共役画像Inc
はカメラ361 により収集される。
路単一反射PAM400 の概略図を示している。“二重通
路”は照射および検出が2つの異なった光路に従うこと
を意味する。さらに、SLMは光を2方向で誘導するこ
とができるが、単一の反射方向だけが使用される。図3
の実施形態では、共焦点は同一のSLM素子により限定
され、図4にしたがって共焦点は照射側のSLM素子
と、検出側のCCD画素により限定される。
な顕微鏡に簡単な方法で適合され、その光軸上にプロー
ブ部分440 と、画像光学系430 と検出システム450 が配
置されている。顕微鏡は前述した構成要素と同じ基本構
成要素を具備することができる。光源410 からの照射光
は顕微鏡のSLM420 と側面ポートを経て光軸上でビー
ムスプリッタ(例えば半鍍銀ミラー)へ反射される。
有しないとき、Ic とInc画像の分離はカメラ画像の解
析を基礎として行われる。解析再構成と組合わせた二重
通路PAMは、簡単な構成能力と高い効率と光学的処理
能力とを有する利点がある。
“オン”素子の画像画素は最大のグレー値を選択するこ
とにより記録されたセットで発見される。DMDの各S
LM素子は1つのシリーズで丁度1回だけ“オン”に切
換えられ、“オン”状態の画素は最大の強度を有する。
Ic 画像はこれらの選択された画素から再構成され、一
方、Inc画像は残りの画素の合計から生じる。
半分を占める最も輝度の高い画像はIc 画像であり、残
りの半分はInc画像である。Ic 画像とInc画像は一般
的な画像と共焦点画像の和と差をそれぞれ表しているの
で、共焦点画像は差Ic −I ncにより計算されることが
できる。
応する)32×32の正方形格子と、100×1.3N
A(開口の数)のオイル充填対物レンズと、λ=450
〜490nmであるDMDを使用してPAMの軸応答特
性を示している。反射表面の軸方向zの走査は、図2の
シミュレーションにしたがって強力な光区分能力を示す
強度をもつ共焦点画像を生成する。
証が図6で示されている。反射表面(ミラー)は焦点平
面を通ってz軸に沿って走査される。パラメータは距離
δx=δy ={3,5,10,20}η,η=17μm
(16μmサイズ+ミラー間のギャップ1μmに対応す
る)、100×1.3NAのオイル充填対物レンズと、
λ=450〜490nmである正方形格子である。
ラを使用している2つの照射軸を有する共通通路二重反
射PAM700 の別の例を示している。この概念は1つの
カメラだけを使用して価格を節約し、画像Ic 、Incに
対する光路を形成する素子の光学的整列が簡単であると
いう利点を有する。
0 と基本的に類似の構成要素、特に光源 710a 、 710
b、SLM720 、画像光学系730 、対物レンズ743 、プ
ローブ部分740 、検出システム750 を具備している。1
つの全(フル)画像の収集は2つのステップで行われ
る。画像シーケンスの収集では、画像Ic 、Incは交互
に集められる。
SLM720 、画像光学系730 を経て、光源 710aにより
第1の側面から物体を照射し、逆方向の光路に沿ってS
LM720 、半透明ミラー711 、フィルタ753 、レンズ75
2 を経てカメラ751 により焦点平面画像を検出すること
により収集される。この状況は図7のAに示されてい
る。SLM720 の制御に使用されるパターンはSLMで
表示される疑似ランダムシーケンスまたはその他のシー
ケンスに対応して“正”表示と呼ばれる。
像Incは、第2の側面(光源 710b)から物体を照射
し、前述の第1のステップでオン素子を制御するために
使用したシーケンスにしたがって全てのオフ素子が制御
されるいわゆる“負”表示でSLM720 を制御すること
により収集される。照射光が第1のステップ照射と対称
的に配置された第2の軸に沿って誘導されるとき、画像
Ic 、Incの位置は逆にされる。
射軸に沿ってミラーにより誘導される単一の光源によ
り、または2つの同一の光源により2面の照射が実行さ
れることができる。 (その他の利点および方法)一般的な共焦点レーザ走査
顕微鏡(CLSM)と比較して本発明によるPAMの改
良された性能は以下のような相対的なパラメータ(PA
M/CLSM)、即ちα 焦点平面における相対的放
射、β 相対的な検出器の量子効率、γ 1画素当りの
相対的な滞留時間、δ 走査開口の相対数から得られる
ことができる。以下の例では、画像フィールドが103
×103 素子(総画素数:N=106 )、グリッド周期
がn=10と仮定される。したがって、δはN/n2 =
104 に等しい。αとβの典型的な値は、10-2(回折
が制限されているレーザ光源と比較した全(フル)フィ
ールドランプ照射)と、10(光増倍器の陰極と比較し
たCCDセンサ)である。1ms(PAM)と10μs
(CLSM)の滞留時間では、γは100であり、速度
(δ/γ)の比例的増加を表している。α・β・γによ
って表される相対的な信号強度はPAMでは10倍高く
なる。疑似ランダムシーケンス方法は、各SLM素子の
50%の活性状態のために信号レベルのさらなる増加
(この例ではn2 /2)を生じる。したがって、疑似ラ
ンダムシーケンス方法は生体内の生物サンプルの顕微鏡
調査に好ましい。
を有する。PAMのランプ光源はCLSMのレーザより
も焦点平面で非常に低い放射を生じるが、これは並列に
走査されるより多数の点(より長い滞留時間を可能にす
る)と、検出器におけるより高い量子効率により補償さ
れる。
物学、実時間の医療診断処理における中間情報としての
画像データの導出、(例えば遺伝解析におけるもとの位
置の交配等の)分析/生物工学処理、チップ上の生化学
アレイの読出し、例えば半導体産業および/または光記
録および読出し等における大規模表面検査等の好ましい
応用が期待される。
ロテイン合成のような光化学反応を開始し同時に監視す
ることを可能にする。適切な波長で予め定められた物質
を放射することにより開始が実現され、監視はこれらの
物質または反応生成物を顕微鏡測定することによって行
われる。特定の応用は(例えばDNAシーケンスの合成
等の)位置選択性の光化学反応のための光マスクを基体
上に形成することである。
メージングのシミュレーションのグラフ。
概略図。
概略図。
反射PAMの概略図。
微鏡画像の図。
補正されていない開口を生成するための既存のシステム
の概略図。
術)の概略図。
Claims (24)
- 【請求項1】 光源手段と、少なくとも1つの2次元検
出器カメラを有する検出器手段と、変調器素子の第1お
よび第2のグループを有する空間的光変調器手段とを具
備し、変調器素子の第1のグループは、物体の位置を共
役するように焦点を結ばれた照射スポットの予め定めら
れたパターンシーケンスにしたがって、検査されるべき
物体を照射するように構成され、共役位置からの検出光
は検出器手段において第1の画像Ic を形成する共焦点
光イメージシステムにおいて、 素子の第2のグループは物体の非共役位置で光を集める
ように構成され、非共役位置からの検出光は検出器手段
において第2の画像Incを形成することを特徴とする共
焦点光イメージシステム。 - 【請求項2】 変調器素子の第1のグループの各素子
は、照射スポットのパターンシーケンスが時間依存性の
体系的シフトグリッドパターンにより表され、第1の画
像Ic が共焦点画像であり、第2の画像Incが非共焦点
画像と第1の画像Ic との差画像であるように個々に制
御可能である請求項1記載の共焦点光イメージシステ
ム。 - 【請求項3】 変調器素子の第1のグループの各素子
は、照射スポットのパターンシーケンスが有限長の疑似
ランダムシーケンスに基づく時間依存性のパターンによ
り表され、第1の画像Ic が共焦点画像と非共焦点画像
の重畳されたものであり、第2の画像Incが共焦点画像
と非共焦点画像との差画像であるように個々に制御可能
である請求項1記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項4】 前記パターンシーケンスは、 有限長の疑似ランダムシーケンスにしたがって、またS
マトリックスタイプのアダマールシーケンスにしたがっ
て規則的な間隔またはランダムな間隔の体系的にシフト
された単数または複数のラインであり、 三角形、正方形、長方形、六角形等の規則的なドット格
子と、 いわゆるウォルシュ、シルヴェスター、アダマール、ま
たはゴレイシーケンスに基づいて有限長のランダムパタ
ーンまたは疑似ランダムパターンと、 交差するラインパターンから形成される正方形または長
方形グリッドと、 全(フル)フィールド“オン”パターンと、 SLMで逐次的に生成されるとき整数の回数だけSLM
素子をオン切換えするように構成された平面充填パター
ンと、 循環アダマールマトリックスの行または列から得られた
2次元パターンの反復シーケンスと、または上記パター
ンシーケンスの組合わせとから選択される請求項2また
は3記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項5】 検出器手段は両画像Ic 、Incの結合さ
れた検出によってシステムの画像平面で得られる光を収
集するように構成されている請求項1乃至4のいずれか
1項記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項6】 空間的光変調器手段は透過マスクまたは
反射マスクを具備している請求項1乃至5のいずれか1
項記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項7】 反射マスクは複数のマイクロミラーを有
するデジタルマイクロミラー装置であり、複数のマイク
ロミラーはそれぞれ垂線に対して予め定められた傾斜角
度±αで2つの安定した静止状態に別々に傾斜されるこ
とができ、第1、第2の静止状態はそれぞれ変調器素子
の第1、第2のグループに影響する請求項6記載の共焦
点光イメージシステム。 - 【請求項8】 検出器手段は2つの検出器システムを具
備し、それらの検出器システムはそれぞれ第1の画像I
c または第2の画像Incを集めるための2次元カメラを
備えている請求項1乃至7のいずれか1項記載の共焦点
光イメージシステム。 - 【請求項9】 検出器手段は1つの検出器システムを具
備し、その検出器システムは第1の画像Ic と第2の画
像Incを同時または逐次的に集めるための2次元カメラ
を有する請求項1乃至7のいずれか1項記載の共焦点光
イメージシステム。 - 【請求項10】 カメラは第1および第2の画像を同時
に集めるように構成され、前記イメージシステムはさら
に第1の画像Ic と第2の画像Incを分離するように構
成されている画像解析用の回路を具備している請求項9
記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項11】 カメラは第1および第2の画像を逐次
的に集めるように構成され、それにおいて第1に、変調
器素子の第1のグループの各素子が、第1の画像Ic を
集めるための前記パターンシーケンスにしたがって個々
に制御され、それに続いて、変調器素子の第2のグルー
プの各素子が、第2の画像Incを集めるための前記パタ
ーンシーケンスにしたがって個々に制御され、光源手段
は2つの軸に沿って物体を照射する第1、第2の光源を
具備している請求項9記載の共焦点光イメージシステ
ム。 - 【請求項12】 検出光は、物体から放射された蛍光ま
たは燐光またはラマン散乱光である請求項1乃至10の
いずれか1項記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項13】 プログラム可能な空間的に光変調され
た共焦点顕微鏡の一部である請求項1乃至11のいずれ
か1項記載の共焦点光イメージシステム。 - 【請求項14】 光源手段から、変調器素子の第1、第
2のグループを有する空間的光変調器手段へ光を導き、 物体の共役位置に焦点を結ばれた照射スポットの予め定
められたパターンシーケンスにしたがって検査されるべ
き物体に変調器素子の第1のグループから光を導き、 共役位置から検出器手段へ検出光を導くことによって検
出器手段により第1の画像Ic を収集するステップを有
する共焦点光イメージ形成方法において、 物体の非共役位置から検出器手段へ前記検出光を導くこ
とによって、変調器素子の第2のグループにより物体の
非共役位置から検出光を収集し、第2の画像I ncを形成
することを特徴とする共焦点光イメージ方法。 - 【請求項15】 変調器素子の第1のグループの各素子
は個々に制御され、それにおいて照射スポットのパター
ンシーケンスは物体に関する少なくとも1つの予め定め
られた問題領域を照射する時間依存性の体系的シフトグ
リッドパターンであり、第1の画像Ic は共焦点画像で
あり、第2の画像Incは非共焦点画像と第1の画像Ic
との差画像である請求項14記載の共焦点光イメージ方
法。 - 【請求項16】 変調器素子の第1のグループの各素子
は個々に制御可能であり、それにおいて照射スポットの
パターンシーケンスは有限長の疑似ランダムシーケンス
に基づき、物体の問題となる少なくとも1つの予め定め
られた領域を照射する時間依存性のパターンであり、第
1の画像Ic は共焦点画像と非共焦点画像の重畳された
ものであり、第2の画像Incは共焦点画像と非共焦点画
像との差画像である請求項15記載の共焦点光イメージ
形成方法。 - 【請求項17】 変調器素子の第のグループの各素子
は、照射スポットのパターンシーケンスが2次元パター
ンの反復されたシーケンスにより表されるように個々に
制御される請求項16記載の共焦点光イメージ形成方
法。 - 【請求項18】 検出器手段は2次元カメラをそれぞれ
含んでいる2つの検出器システムを具備し、第1および
第2の画像はそれぞれ2つのカメラにより収集される請
求項14乃至17のいずれか1項記載の共焦点光イメー
ジ形成方法。 - 【請求項19】 検出器手段は2次元カメラを有する1
つの検出器システムを具備し、第1および第2の画像は
共にカメラにより収集される請求項14乃至17のいず
れか1項記載の共焦点光イメージ形成方法。 - 【請求項20】 第1および第2の画像を分離する画像
解析をさらに含み、第1の画像の画像画素が最大のグレ
ー値を選択することによって、または最高の半分の輝度
の画素を選択することによって収集された画像中で発見
される請求項19記載の共焦点光イメージ形成方法。 - 【請求項21】 光源手段から空間的光変調手段へ光を
導くステップが波長選択を含んでいる請求項14乃至2
0のいずれか1項記載の共焦点光イメージ形成方法。 - 【請求項22】 デコンボリューション処理をさらに含
み、物体は1以上の収集された光セクションの第1およ
び第2の両画像を結合するデコンボリューションアルゴ
リズムによって再構成される請求項14乃至21のいず
れか1項記載の共焦点光イメージ形成方法。 - 【請求項23】 デコンボリューションアルゴリズムは
最隣接方法を有する増強アルゴリズムを含んでおり、単
一の増強画像を生成するために3以上のセクションが使
用される請求項22記載の共焦点光イメージ形成方法。 - 【請求項24】 細胞および組織の生物学的調査と、 予め定められた物質を適切な波長で放射することを含む
基体上の光化学反応の位置選択開始および物質または反
応生成物による蛍光測定を含む同時の監視と、 分析/生物工学処理過程と、 遺伝解析におけるもとの位置の交配と、 位相変調技術および/または偏極測定等による位置選択
蛍光測定および寿命時間測定と、 チップ上での生化学アレイの生成および読出しと、 半導体産業における大規模な表面検査と、 光学的な記録および読出しと、 2以上のマルチ光子顕微鏡検査と、 立体顕微鏡検査との応用に対する請求項1乃至23のい
ずれか1項記載の共焦点光イメージシステムまたはイメ
ージ形成方法の使用方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE97118354.6 | 1997-10-22 | ||
EP97118354A EP0911667B1 (en) | 1997-10-22 | 1997-10-22 | Programmable spatially light modulated microscope and microscopy method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11194275A true JPH11194275A (ja) | 1999-07-21 |
JP4064550B2 JP4064550B2 (ja) | 2008-03-19 |
Family
ID=8227511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30100398A Expired - Lifetime JP4064550B2 (ja) | 1997-10-22 | 1998-10-22 | プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6399935B1 (ja) |
EP (1) | EP0911667B1 (ja) |
JP (1) | JP4064550B2 (ja) |
AT (1) | ATE236412T1 (ja) |
DE (1) | DE69720458T2 (ja) |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002310958A (ja) * | 2001-04-10 | 2002-10-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 材料寿命の評価システム、及び、その評価方法 |
WO2004017069A1 (ja) * | 2002-08-16 | 2004-02-26 | Kabushiki Kaisha Hayashi Soken | バイオチップ分析装置およびオンライン分析システム |
JP2004199063A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-07-15 | Olympus America Inc | 共焦点顕微鏡 |
JP2004236843A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Konan Medical Inc | 眼科用撮影装置 |
JP2006017706A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-01-19 | Hayashi Soken:Kk | バイオチップオンライン分析システム |
JP2006133499A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Shimadzu Corp | 共焦点スキャナ及び共焦点顕微鏡 |
JP2006154290A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Hamamatsu Univ School Of Medicine | 蛍光顕微鏡システム |
JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
JP2007065661A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-15 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | 顕微鏡 |
JP2007171598A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡 |
JP2011100012A (ja) * | 2009-11-06 | 2011-05-19 | Olympus Corp | パターン投影装置、走査型共焦点顕微鏡、及びパターン照射方法 |
JP2013522684A (ja) * | 2010-03-23 | 2013-06-13 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウ | 光変調装置、および時空間光変調結像システム |
KR101495096B1 (ko) * | 2008-10-31 | 2015-02-25 | 삼성전자주식회사 | 협대역 엑스레이 필터링 장치 및 방법 |
JP2016114924A (ja) * | 2014-12-15 | 2016-06-23 | テスト リサーチ, インク. | 光学系 |
JP2019509522A (ja) * | 2016-03-24 | 2019-04-04 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウMAX−PLANCK−GESELLSCHAFT ZUR FOeRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. | 時空間光変調結像システム、物体を共焦点結像させるための方法、およびキャリア・ホイール装置 |
WO2019069509A1 (ja) | 2017-10-02 | 2019-04-11 | ソニー株式会社 | 蛍光顕微鏡装置及び蛍光顕微鏡システム |
WO2019159933A1 (ja) * | 2018-02-19 | 2019-08-22 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
JP2019144219A (ja) * | 2018-02-19 | 2019-08-29 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
WO2020149139A1 (ja) * | 2019-01-16 | 2020-07-23 | 株式会社小糸製作所 | イメージング装置、その演算処理装置、車両用灯具、車両、センシング方法 |
JP2021509181A (ja) * | 2017-12-20 | 2021-03-18 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウMAX−PLANCK−GESELLSCHAFT ZUR FOeRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. | プログラマブル・アレイ顕微鏡を用いた光学共焦点結像のための方法および装置 |
JP2022514666A (ja) * | 2018-12-21 | 2022-02-14 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 顕微鏡 |
US11487095B2 (en) | 2018-08-09 | 2022-11-01 | Sony Corporation | Optical microscope and system including illumination to change function of biomaterial |
Families Citing this family (78)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6388809B1 (en) | 1997-10-29 | 2002-05-14 | Digital Optical Imaging Corporation | Methods and apparatus for improved depth resolution use of out-of-focus information in microscopy |
EP1207414B1 (en) | 1997-10-29 | 2016-05-04 | Motic China Group Co., Ltd. | Apparatus and methods relating to spatially light modulated microscopy |
GB9901365D0 (en) * | 1999-01-22 | 1999-03-10 | Isis Innovations Ltd | Confocal microscopy apparatus and method |
JP3544892B2 (ja) * | 1999-05-12 | 2004-07-21 | 株式会社東京精密 | 外観検査方法及び装置 |
US6700606B1 (en) * | 1999-06-09 | 2004-03-02 | Activcard Ireland Limited | Micromirror optical imager |
DE19932487A1 (de) * | 1999-07-09 | 2001-02-08 | Epigenomics Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur photolithographischen Belichtung von biologischen Stoffen |
DE19960583A1 (de) * | 1999-12-15 | 2001-07-05 | Evotec Biosystems Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Mikroskopie |
US6663560B2 (en) * | 1999-12-17 | 2003-12-16 | Digital Optical Imaging Corporation | Methods and apparatus for imaging using a light guide bundle and a spatial light modulator |
US6530882B1 (en) * | 2000-06-30 | 2003-03-11 | Inner Vision Imaging, L.L.C. | Endoscope having microscopic and macroscopic magnification |
JP4610713B2 (ja) * | 2000-10-13 | 2011-01-12 | オリンパス株式会社 | 内視鏡装置 |
JP4932076B2 (ja) * | 2000-10-30 | 2012-05-16 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
US6794658B2 (en) * | 2001-06-06 | 2004-09-21 | Digital Optical Imaging Corporation | Light modulated microarray reader and methods relating thereto |
JP3634343B2 (ja) * | 2001-09-03 | 2005-03-30 | 株式会社林創研 | デジタル制御走査方法および装置 |
US6885492B2 (en) | 2001-11-08 | 2005-04-26 | Imaginative Optics, Inc. | Spatial light modulator apparatus |
US7180660B2 (en) * | 2002-02-04 | 2007-02-20 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | Stereo-examination systems and stereo-image generation apparatus as well as a method for operating the same |
US6996292B1 (en) * | 2002-04-18 | 2006-02-07 | Sandia Corporation | Staring 2-D hadamard transform spectral imager |
US7193775B2 (en) | 2002-05-30 | 2007-03-20 | Dmetrix, Inc. | EPI-illumination system for an array microscope |
US7872804B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-01-18 | Illumina, Inc. | Encoded particle having a grating with variations in the refractive index |
US7164533B2 (en) | 2003-01-22 | 2007-01-16 | Cyvera Corporation | Hybrid random bead/chip based microarray |
US7923260B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-04-12 | Illumina, Inc. | Method of reading encoded particles |
US7508608B2 (en) | 2004-11-17 | 2009-03-24 | Illumina, Inc. | Lithographically fabricated holographic optical identification element |
US7901630B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Diffraction grating-based encoded microparticle assay stick |
US7900836B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Optical reader system for substrates having an optically readable code |
US20100255603A9 (en) | 2002-09-12 | 2010-10-07 | Putnam Martin A | Method and apparatus for aligning microbeads in order to interrogate the same |
US7092160B2 (en) | 2002-09-12 | 2006-08-15 | Illumina, Inc. | Method of manufacturing of diffraction grating-based optical identification element |
EP1570411A4 (en) * | 2002-10-22 | 2007-05-30 | Univ Rice William M | CONFOCAL HIGH SPEED MICROSCOPE WITH RANDOM ACCESS |
FR2848682B1 (fr) | 2002-12-13 | 2005-02-18 | Commissariat Energie Atomique | Microscope optique a eclairage structure modifiable |
US7002164B2 (en) * | 2003-01-08 | 2006-02-21 | Intel Corporation | Source multiplexing in lithography |
US8081792B2 (en) | 2003-08-20 | 2011-12-20 | Illumina, Inc. | Fourier scattering methods for encoding microbeads and methods and apparatus for reading the same |
DE10327987A1 (de) * | 2003-06-21 | 2005-01-20 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Konfokales optisches System |
US7881502B2 (en) * | 2003-06-30 | 2011-02-01 | Weyerhaeuser Nr Company | Method and system for three-dimensionally imaging an apical dome of a plant embryo |
DE602004012274T2 (de) * | 2003-07-04 | 2009-03-12 | Vincent Lauer | Rasterabbildungseinrichtung für die konfokale mikroskopie mit bildsubstraktion |
US8269174B2 (en) * | 2003-07-18 | 2012-09-18 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for compact spectrometer for multipoint sampling of an object |
US7433123B2 (en) | 2004-02-19 | 2008-10-07 | Illumina, Inc. | Optical identification element having non-waveguide photosensitive substrate with diffraction grating therein |
WO2006020363A2 (en) | 2004-07-21 | 2006-02-23 | Illumina, Inc. | Method and apparatus for drug product tracking using encoded optical identification elements |
EP1622200A1 (en) | 2004-07-26 | 2006-02-01 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA | Solid-state photodetector pixel and photodetecting method |
US20060066842A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Saunders Winston A | Wafer inspection with a customized reflective optical channel component |
US7602952B2 (en) * | 2004-11-16 | 2009-10-13 | Illumina, Inc. | Scanner having spatial light modulator |
GB0514656D0 (en) | 2005-07-16 | 2005-08-24 | Cairn Res Ltd | Control of illumination in microscopy |
EP1746410B1 (en) | 2005-07-21 | 2018-08-22 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Apparatus and method for fluorescence lifetime imaging |
US7593156B2 (en) * | 2005-08-26 | 2009-09-22 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope with micro-mirrors for optional deflection and/or beam splitting |
EP1762877B1 (de) * | 2005-09-13 | 2010-11-17 | Albert-Ludwigs-Universität Freiburg | Mikroskopieverfahren mit räumlich modulierbarer Beleuchtung |
US8081378B2 (en) * | 2005-10-13 | 2011-12-20 | Nikon Corporation | Microscope |
DE102005058185A1 (de) * | 2005-12-01 | 2007-06-14 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren und Anordnung zur Detektion von Fluoreszenz- oder Reflexionsspektren beliebig wählbarer Bereiche und Strukturen eines vom Fremdlicht überlagerten Objekts unter geringer Strahlenbelastung |
GB0606788D0 (en) * | 2006-04-03 | 2006-05-10 | Ind Co Ltd | Confocal microscopy |
US7830575B2 (en) | 2006-04-10 | 2010-11-09 | Illumina, Inc. | Optical scanner with improved scan time |
US8254020B2 (en) * | 2006-04-20 | 2012-08-28 | Washington University | Objective-coupled selective plane illumination microscopy |
DE102006022592B4 (de) * | 2006-05-15 | 2008-02-07 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Mikroskop mit Beleuchtungseinheit |
DE102006040636B3 (de) * | 2006-05-15 | 2007-12-20 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Autofokus-System und Verfahren zum Autofokussieren |
US7460248B2 (en) * | 2006-05-15 | 2008-12-02 | Carestream Health, Inc. | Tissue imaging system |
DE102006025149A1 (de) * | 2006-05-30 | 2007-12-06 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Optisches Gerät mit erhöhter Tiefenschärfe |
DE102006027836B4 (de) * | 2006-06-16 | 2020-02-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop mit Autofokuseinrichtung |
US7990524B2 (en) * | 2006-06-30 | 2011-08-02 | The University Of Chicago | Stochastic scanning apparatus using multiphoton multifocal source |
JP4891057B2 (ja) * | 2006-12-27 | 2012-03-07 | オリンパス株式会社 | 共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
DE102008011993A1 (de) | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Synchronisierte Bildgebung mittels optischer Verfahren und Rasterkraftmikroskopie |
CN102066908A (zh) * | 2008-06-17 | 2011-05-18 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于光学检查混浊介质的内部的方法和装置 |
CN101655601B (zh) * | 2008-08-22 | 2012-09-26 | 麦克奥迪实业集团有限公司 | 一种基于dmd的结构光显微镜成像方法及系统 |
WO2010036972A1 (en) | 2008-09-25 | 2010-04-01 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Devices, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures |
EP3667391A1 (de) * | 2009-10-28 | 2020-06-17 | Carl Zeiss Microscopy GmbH | Mikroskopisches verfahren und mikroskop mit gesteigerter auflösung |
CN102883658B (zh) * | 2009-11-19 | 2016-06-22 | 调节成像公司 | 用于使用结构化照明经由单元件检测来分析浑浊介质的方法和设备 |
DE102009047198A1 (de) | 2009-11-26 | 2011-06-01 | Universität Rostock | Mikroarraybasiertes Ortsfilter |
US8237835B1 (en) * | 2011-05-19 | 2012-08-07 | Aeon Imaging, LLC | Confocal imaging device using spatially modulated illumination with electronic rolling shutter detection |
DE102012009836A1 (de) | 2012-05-16 | 2013-11-21 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop |
DE102012217329B4 (de) | 2012-09-25 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Projektionsvorrichtung |
CN102928970B (zh) * | 2012-10-19 | 2014-10-29 | 华中科技大学 | 一种大样本快速三维显微成像的方法和系统 |
DE102013001238B4 (de) * | 2013-01-25 | 2020-06-10 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren |
CN103364345B (zh) * | 2013-06-25 | 2015-11-11 | 浙江大学 | 基于数字微镜元件的全反射显微镜环形扫描方法和装置 |
US9535242B1 (en) * | 2014-06-26 | 2017-01-03 | Verily Life Sciences Llc | Parallel programmable array microscope |
KR20160115682A (ko) * | 2015-03-25 | 2016-10-06 | 삼성전자주식회사 | 대상에 대하여 공간적으로 가변하는 오토 포커싱을 가능하게 하는 방법 및 이를 이용하는 촬상 시스템 |
DE102015210016A1 (de) * | 2015-06-01 | 2016-12-01 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Ermitteln einer ortsaufgelösten Höheninformation einer Probe mit einem Weitfeldmikroskop und Weitfeldmikroskop |
CN105092603B (zh) * | 2015-09-07 | 2017-09-05 | 哈尔滨理工大学 | 碗型工件内壁的在线视觉检测装置和方法 |
US10386300B2 (en) | 2015-12-21 | 2019-08-20 | Verily Life Sciences Llc | Spectrally and spatially multiplexed fluorescent probes for in situ cell labeling |
US10989904B2 (en) | 2016-03-24 | 2021-04-27 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | Spatio-temporally light modulated imaging system including vertical cameras, and method for confocal imaging an object |
US10551604B2 (en) | 2016-05-27 | 2020-02-04 | Verily Life Sciences Llc | Spatial light modulator based hyperspectral confocal microscopes and methods of use |
DE102016119727A1 (de) * | 2016-10-17 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop |
KR101907782B1 (ko) | 2017-04-12 | 2018-10-12 | 한국과학기술원 | 광학 현미경 장치 및 시편의 영상 측정 방법 |
DE102018127281A1 (de) * | 2018-10-31 | 2020-04-30 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie |
US20230049486A1 (en) * | 2020-01-13 | 2023-02-16 | Haag-Streit Ag | Ophthalmologic microscope with micro-mirror balancing |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE59107758D1 (de) * | 1990-11-10 | 1996-06-05 | Groskopf Rudolf Dr Ing | Optische Abtastvorrichtung mit konfokalem Strahlengang, in der Lichtquellen- und Detektormatrix verwendet werden |
US5532873A (en) * | 1993-09-08 | 1996-07-02 | Dixon; Arthur E. | Scanning beam laser microscope with wide range of magnification |
US5587832A (en) * | 1993-10-20 | 1996-12-24 | Biophysica Technologies, Inc. | Spatially light modulated confocal microscope and method |
GB9603788D0 (en) * | 1996-02-22 | 1996-04-24 | Isis Innovation | Confocal microscope |
EP0991959B1 (en) * | 1996-02-28 | 2004-06-23 | Kenneth C. Johnson | Microlens scanner for microlithography and wide-field confocal microscopy |
US6038067A (en) * | 1996-05-23 | 2000-03-14 | The Regents Of The University Of California | Scanning computed confocal imager |
-
1997
- 1997-10-22 EP EP97118354A patent/EP0911667B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-10-22 DE DE69720458T patent/DE69720458T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-10-22 AT AT97118354T patent/ATE236412T1/de not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-10-21 US US09/176,240 patent/US6399935B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-10-22 JP JP30100398A patent/JP4064550B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002310958A (ja) * | 2001-04-10 | 2002-10-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 材料寿命の評価システム、及び、その評価方法 |
WO2004017069A1 (ja) * | 2002-08-16 | 2004-02-26 | Kabushiki Kaisha Hayashi Soken | バイオチップ分析装置およびオンライン分析システム |
JPWO2004017069A1 (ja) * | 2002-08-16 | 2005-12-08 | 株式会社林創研 | バイオチップ分析装置 |
JP2004199063A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-07-15 | Olympus America Inc | 共焦点顕微鏡 |
JP2004236843A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Konan Medical Inc | 眼科用撮影装置 |
JP2006133499A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Shimadzu Corp | 共焦点スキャナ及び共焦点顕微鏡 |
JP2006154290A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Hamamatsu Univ School Of Medicine | 蛍光顕微鏡システム |
JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
JP2006017706A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-01-19 | Hayashi Soken:Kk | バイオチップオンライン分析システム |
JP2007065661A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-15 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | 顕微鏡 |
JP2007171598A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡 |
KR101495096B1 (ko) * | 2008-10-31 | 2015-02-25 | 삼성전자주식회사 | 협대역 엑스레이 필터링 장치 및 방법 |
JP2011100012A (ja) * | 2009-11-06 | 2011-05-19 | Olympus Corp | パターン投影装置、走査型共焦点顕微鏡、及びパターン照射方法 |
JP2013522684A (ja) * | 2010-03-23 | 2013-06-13 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウ | 光変調装置、および時空間光変調結像システム |
JP2016114924A (ja) * | 2014-12-15 | 2016-06-23 | テスト リサーチ, インク. | 光学系 |
CN105892043A (zh) * | 2014-12-15 | 2016-08-24 | 德律科技股份有限公司 | 光学系统 |
US9485491B2 (en) | 2014-12-15 | 2016-11-01 | Test Research, Inc. | Optical system |
CN105892043B (zh) * | 2014-12-15 | 2018-06-12 | 德律科技股份有限公司 | 光学系统 |
JP2019509522A (ja) * | 2016-03-24 | 2019-04-04 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウMAX−PLANCK−GESELLSCHAFT ZUR FOeRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. | 時空間光変調結像システム、物体を共焦点結像させるための方法、およびキャリア・ホイール装置 |
WO2019069509A1 (ja) | 2017-10-02 | 2019-04-11 | ソニー株式会社 | 蛍光顕微鏡装置及び蛍光顕微鏡システム |
US11513330B2 (en) | 2017-10-02 | 2022-11-29 | Sony Corporation | Fluorescence microscope apparatus and fluorescence microscope system |
JP2021509181A (ja) * | 2017-12-20 | 2021-03-18 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト ツール フエルデルング デル ヴイツセンシヤフテン エー フアウMAX−PLANCK−GESELLSCHAFT ZUR FOeRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. | プログラマブル・アレイ顕微鏡を用いた光学共焦点結像のための方法および装置 |
JP2019144219A (ja) * | 2018-02-19 | 2019-08-29 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
WO2019159933A1 (ja) * | 2018-02-19 | 2019-08-22 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
US11487095B2 (en) | 2018-08-09 | 2022-11-01 | Sony Corporation | Optical microscope and system including illumination to change function of biomaterial |
JP2022514666A (ja) * | 2018-12-21 | 2022-02-14 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 顕微鏡 |
US12124019B2 (en) | 2018-12-21 | 2024-10-22 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Microscope with a wide-field illuminator and a common detection objective for a camera detector and a point detector |
WO2020149139A1 (ja) * | 2019-01-16 | 2020-07-23 | 株式会社小糸製作所 | イメージング装置、その演算処理装置、車両用灯具、車両、センシング方法 |
CN113302520A (zh) * | 2019-01-16 | 2021-08-24 | 株式会社小糸制作所 | 成像装置、其运算处理装置、车辆用灯具、车辆、感测方法 |
JPWO2020149139A1 (ja) * | 2019-01-16 | 2021-11-25 | 株式会社小糸製作所 | イメージング装置、その演算処理装置、車両用灯具、車両、センシング方法 |
CN113302520B (zh) * | 2019-01-16 | 2024-07-02 | 株式会社小糸制作所 | 成像装置、其运算处理装置、车辆用灯具、车辆、感测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6399935B1 (en) | 2002-06-04 |
JP4064550B2 (ja) | 2008-03-19 |
DE69720458T2 (de) | 2004-02-26 |
EP0911667B1 (en) | 2003-04-02 |
EP0911667A1 (en) | 1999-04-28 |
ATE236412T1 (de) | 2003-04-15 |
DE69720458D1 (de) | 2003-05-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4064550B2 (ja) | プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 | |
US8504140B2 (en) | Apparatus and method for fluorescence imaging and tomography using spatially structured illumination | |
JP5087178B2 (ja) | 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 | |
Verveer et al. | Theory of confocal fluorescence imaging in the programmable array microscope (PAM) | |
JP7233129B2 (ja) | 時間的多重化ライトシートを利用する高速体積蛍光顕微鏡法のための装置及び方法 | |
Neil et al. | Real time 3D fluorescence microscopy by two beam interference illumination | |
JPH11249023A (ja) | 共焦点分光システムおよび分光方法 | |
US20220205919A1 (en) | Widefield, high-speed optical sectioning | |
Murray | Methods for imaging thick specimens: confocal microscopy, deconvolution, and structured illumination | |
JP2012515930A (ja) | 広視野の超解像顕微鏡を提供するためのシステム、方法及びコンピューターがアクセス可能な媒体 | |
US20130250088A1 (en) | Multi-color confocal microscope and imaging methods | |
WO2013008033A1 (en) | Improvements relating to fluorescence microscopy | |
NL2008873C2 (en) | Method and apparatus for multiple points of view three-dimensional microscopy. | |
KR20220074886A (ko) | 초고해상도 이미징을 위한 고속 스캐닝 시스템 | |
JP4615941B2 (ja) | 光信号解析方法 | |
US20240255428A1 (en) | Enhanced resolution imaging | |
JP2002005834A (ja) | 蛍光標識物の分布計測装置 | |
Bansal et al. | High-speed addressable confocal microscopy<? xpp qa?> for functional imaging of cellular activity | |
JP2004361087A (ja) | 生体分子解析装置 | |
US20240045188A1 (en) | Confocal microscope with photon re-allocation | |
JP7268144B2 (ja) | 試料を走査する方法および装置 | |
EP3627205A1 (en) | Confocal laser scanning microscope configured for generating line foci | |
CN111580260A (zh) | 一种高速光学三维光切片显微系统及方法 | |
US11156818B2 (en) | Flexible light sheet generation by field synthesis | |
JP5892410B2 (ja) | 走査型顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051014 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071227 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120111 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130111 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |