JP2019144219A - 電磁波検出装置および情報取得システム - Google Patents
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Abstract
Description
入射する電磁波を結像する第1の結像部と、
基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記画素毎に第1の方向に進行させる進行部と、
前記第1の方向に進行した電磁波を結像する第2の結像部と、
前記第2の結像部から入射する電磁波を検出する第1の検出部と、を備え、
前記第1の結像部を通過した電磁波の各画角における進行軸と前記第1の結像部の主軸とのなす角度が所定値以内である。
入射する電磁波を結像する第1の結像部と、基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記画素毎に第1の方向に進行させる進行部と、前記第1の方向に進行した電磁波を結像する第2の結像部と、前記第2の結像部から入射する電磁波を検出する第1の検出部と、を有し、前記第1の結像部を通過した電磁波の各画角における進行軸と前記第1の結像部の主軸とのなす角度が所定値以内である、電磁波検出装置と、
前記第1の検出部により検出された電磁波に基づいて前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御装置と、を備える。
入射する電磁波を結像する第1の結像部と、基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記画素毎に第1の方向に進行させる進行部と、前記第1の方向に進行した電磁波を結像する第2の結像部と、前記第2の結像部から入射する電磁波を検出する第1の検出部と、前記第2の方向に進行した電磁波を結像する第3の結像部と、前記第3の結像部から入射する電磁波を検出する第2の検出部と、を有し、前記第1の結像部を通過した電磁波の各画角における進行軸と前記第1の結像部の主軸とのなす角度が所定値以内である、電磁波検出装置と、
前記第2の検出部により検出された電磁波に基づいて前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御装置と、を備える。
入射する電磁波を結像する第1の結像部と、基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記画素毎に第1の方向に進行させる進行部と、前記第1の方向に進行した電磁波を結像する第2の結像部と、前記第2の結像部から入射する電磁波を検出する第1の検出部と、前記第3の方向に進行した電磁波を検出する第3の検出部と、を有し、前記第1の結像部を通過した電磁波の各画角における進行軸と前記第1の結像部の主軸とのなす角度が所定値以内である、電磁波検出装置と、
前記第3の検出部により検出された電磁波に基づいて前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御装置と、を備える。
11 情報取得システム
12 照射部
13 反射部
14 制御部
15 第1の結像部
15’、15’’、15’’’ 一次結像光学系
16 分離部
17 第3の検出部
18、180、18’、18’’’ 進行部
19 第2の結像部
19’、19’’、19’’’ 二次結像光学系
20 第1の検出部
20’’’ 検出部
21 第3の結像部
22 第2の検出部
23 第1の開口部
ap 開口
da 進行部方向
d1、d2、d3 第1の方向、第2の方向、第3の方向
ob 対象
px 画素
ss 作用面
vp 仮想の平面
Claims (42)
- 入射する電磁波を結像する第1の結像部と、
基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記画素毎に第1の方向に進行させる進行部と、
前記第1の方向に進行した電磁波を結像する第2の結像部と、
前記第2の結像部から入射する電磁波を検出する第1の検出部と、を備え、
前記第1の結像部を通過した電磁波の各画角における進行軸と前記第1の結像部の主軸とのなす角度が所定値以内である
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部による前側焦点の位置近傍に配置され、入射する電磁波の一部が通過する第1の開口部を、さらに備え、
前記第1の結像部は、前記第1の開口部から入射する電磁波を結像する
電磁波検出装置。 - 請求項2に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の開口部および前記第1の結像部は、像側テレセントリック光学系を構成する
電磁波検出装置。 - 請求項1から3のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記所定値は、15°である
電磁波検出装置。 - 請求項1から4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記進行軸と前記主軸とは、平行である
電磁波検出装置。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面および前記第1の検出部の検出面それぞれの延長面が交差し、前記第2の結像部の主軸が前記基準面および前記第1の検出部の検出面を通る配置と、
前記進行部に対する間隔が定められ且つ前記基準面を像面とする前記第1の結像部の物体面と前記基準面とそれぞれの延長面が交差し、前記第1の結像部の主軸が前記基準面を通る配置と、
の少なくとも一方が満たされている
電磁波検出装置。 - 請求項6に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の結像部の主軸が前記基準面の中心と前記第1の検出部の検出面の中心を通る配置と、
前記第1の結像部の主軸が前記基準面の中心を通る配置と、
の少なくとも一方が満たされている、
電磁波検出装置。 - 請求項6または7に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第2の結像部の主面、および前記第1の検出部の検出面それぞれの延長面が同一の直線上ですべて交差する配置と、
前記基準面および前記第1の結像部の主面それぞれの延長面が交差する配置と、
の少なくとも一方が満たされている、
電磁波検出装置。 - 請求項6から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第2の結像部の主面、および、前記第1の検出部の検出面がシャインプルーフの原理の条件を満たす配置と、
前記第1の結像部の主面、および、前記基準面がシャインプルーフの原理の条件を満たす配置と、
の少なくとも一方が満たされている、
電磁波検出装置。 - 請求項1から9のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記画素毎に、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記第1の方向に進行させる第1の状態および第2の方向に進行させる第2の状態に切替え可能である
電磁波検出装置。 - 請求項10に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の方向に進行した電磁波を結像する第3の結像部と、
前記第3の結像部から入射する電磁波を検出する第2の検出部と、をさらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項11に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第3の結像部の主面、および、前記第2の検出部の検出面は、それぞれの延長面が同一の直線上ですべて交差する配置である
電磁波検出装置。 - 請求項11または12に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第3の結像部の主面、および、前記第2の検出部の検出面は、シャインプルーフの原理の条件を満たす配置である
電磁波検出装置。 - 請求項10から13のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記画素毎に反射面を含み、前記反射面の向きを前記画素毎に変更可能である
電磁波検出装置。 - 請求項14に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記反射面の向きを前記画素毎に変更することで、前記画素毎に前記第1の状態および前記第2の状態を切替える
電磁波検出装置。 - 請求項15に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、複数のミラーが平面に配列されたデジタルマイクロミラーデバイスを含み、前記デジタルマイクロミラーデバイスの各ミラーの向きを前記画素毎に変更することで、前記画素毎に前記第1の状態および前記第2の状態を切替える
電磁波検出装置。 - 請求項10から13のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記画素毎に反射面を含み、前記反射面を前記画素毎に開閉可能である
電磁波検出装置。 - 請求項17に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記反射面を前記画素毎に開閉することで、前記画素毎に前記第1の状態および前記第2の状態を切替える
電磁波検出装置。 - 請求項18に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記反射面を前記画素毎に開閉可能である複数のシャッタが平面に配列されたMEMSシャッタを含み、前記MEMSシャッタの各シャッタを開閉することで、前記画素毎に前記第1の状態および前記第2の状態を切替える
電磁波検出装置。 - 請求項10から13のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記画素毎に電磁波を反射する反射状態と透過する透過状態とを液晶配向に応じて切替え可能である
電磁波検出装置。 - 請求項20に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記液晶配向に応じて前記反射状態と前記透過状態とを前記画素毎に切替えることで、前記画素毎に前記第1の状態と前記第2の状態とを切替える
電磁波検出装置。 - 請求項21に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記反射状態と前記透過状態とを前記液晶配向に応じて切替え可能である液晶シャッタを含み、前記液晶シャッタの液晶配向を切替えることで、前記画素毎に前記第1の状態および前記第2の状態を切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1から22のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部は、PD、APD、SPAD、MPPC、イメージセンサ、赤外線センサ、ミリ波センサ、サブミリ波センサ、測距イメージセンサ、測距センサ、またはサーモセンサの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から22のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部は、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかを検出する
電磁波検出装置。 - 請求項11に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部は、前記第1の検出部と同種、又は、異種のセンサを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から25のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部から入射した電磁波を前記進行部および第3の方向に進行するように分離する分離部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項26に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、前記第1の結像部から入射した電磁波のうち第1の周波数の電磁波を前記進行部に、第2の周波数の電磁波を前記第3の方向に進行するように分離する、
電磁波検出装置。 - 請求項26または27に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、反射、透過および屈折の少なくともいずれかにより、入射する電磁波を前記進行部および第3の方向に進行するように分離する
電磁波検出装置。 - 請求項26から28のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を前記進行部に透過し、該電磁波の別の一部を前記第3の方向に反射する
電磁波検出装置。 - 請求項26から28のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を前記進行部に反射し、該電磁波の別の一部を前記第3の方向に透過する
電磁波検出装置。 - 請求項26から28のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を前記進行部に透過し、該電磁波の別の一部を前記第3の方向に屈折させる
電磁波検出装置。 - 請求項26から28のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を前記進行部に屈折させ、該電磁波の別の一部を前記第3の方向に透過する
電磁波検出装置。 - 請求項26から28のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を前記進行部に屈折させ、該電磁波の別の一部を前記第3の方向に屈折させる
電磁波検出装置。 - 請求項26から33のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、メタサーフェス、偏向素子、およびプリズムの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。 - 請求項26から34のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第3の方向に進行した電磁波を検出する第3の検出部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項1から35のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部は、レトロフォーカスタイプのレンズ系である
電磁波検出装置。 - 請求項1から36のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部により検出された電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項11に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部により検出された電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項35に記載の電磁波検出装置において、
前記第3の検出部により検出された電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項1から36のいずれか1項に記載の電磁波検出装置と、
前記第1の検出部により検出された電磁波に基づいて前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御装置と、を備える
情報取得システム。 - 請求項11に記載の電磁波検出装置と、
前記第2の検出部により検出された電磁波に基づいて前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御装置と、を備える
情報取得システム。 - 請求項35に記載の電磁波検出装置と、
前記第3の検出部により検出された電磁波に基づいて前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御装置と、を備える
情報取得システム。
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Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10164413A (ja) * | 1996-12-02 | 1998-06-19 | Nikon Corp | 撮像装置 |
JPH11194275A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-07-21 | Max Planck Ges Foerderung Wissenschaft Ev | プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 |
JP2001358989A (ja) * | 2000-04-13 | 2001-12-26 | Sony Corp | 撮像装置および撮像方法、プログラムおよびプログラム記録媒体、データ構造およびデータ記録媒体、並びに撮像制御装置 |
US20030010930A1 (en) * | 2001-06-07 | 2003-01-16 | Jena-Optronik Gmbh | Arrangement for the optical excitation of fluorescent radiation of individual specimens on a multispecimen carrier |
WO2003025656A1 (fr) * | 2001-09-03 | 2003-03-27 | Kabushiki Kaisha Hayashi Soken | Procede et dispositif de balayage a commande numerique |
JP2003149544A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | フォーカス合わせ方法、投影露光方法、フォーカス合わせ装置及び投影露光装置 |
WO2004017069A1 (ja) * | 2002-08-16 | 2004-02-26 | Kabushiki Kaisha Hayashi Soken | バイオチップ分析装置およびオンライン分析システム |
CN1702452A (zh) * | 2004-05-24 | 2005-11-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 数字微镜多目标成像光谱仪装置 |
DE102005049471A1 (de) * | 2005-10-13 | 2007-05-31 | Ingenieurbüro Spies GbR (vertretungsberechtigte Gesellschafter: Hans Spies, Martin Spies, 86558 Hohenwart) | Entfernungssensor mit Einzelflächenabtastung |
US20070216769A1 (en) * | 2006-03-17 | 2007-09-20 | Jerneja Zganec Gros | Active 3D triangulation-based imaging method and device |
US20110211077A1 (en) * | 2001-08-09 | 2011-09-01 | Nayar Shree K | Adaptive imaging using digital light processing |
CN103809287A (zh) * | 2012-11-06 | 2014-05-21 | 中国科学院光电研究院 | 基于孔径分割技术的宽窄视场协同跟踪系统 |
JP2015501417A (ja) * | 2011-09-30 | 2015-01-15 | ロスアラモス・ナショナル・セキュリティ,エルエルシー | フルフレームのプログラム可能なハイパースペクトルイメージャ |
US20150378023A1 (en) * | 2013-02-13 | 2015-12-31 | Universitat Politecnica De Catalunya | System and method for scanning a surface and computer program implementing the method |
WO2016062785A2 (en) * | 2014-10-21 | 2016-04-28 | University College Cork - National University Of Ireland, Cork | Smart photonic imaging method and apparatus |
US20170357000A1 (en) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | Texas Instruments Incorporated | Processing techniques for lidar receiver using spatial light modulators |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003025656A (ja) * | 2001-07-11 | 2003-01-29 | Hitachi Ltd | 印刷位置補正方法 |
JP2006337719A (ja) * | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 画像記録装置 |
JP4974689B2 (ja) * | 2007-01-24 | 2012-07-11 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
JP5016340B2 (ja) * | 2007-03-27 | 2012-09-05 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 蛍光顕微鏡 |
CN101889197A (zh) * | 2007-12-06 | 2010-11-17 | 株式会社尼康 | 检查装置和检查方法 |
JP5339098B2 (ja) * | 2011-04-26 | 2013-11-13 | 横河電機株式会社 | 光強度分布補正光学系およびそれを用いた光学顕微鏡 |
US8783874B1 (en) * | 2012-01-18 | 2014-07-22 | Nusensors, Inc. | Compressive optical display and imager |
-
2018
- 2018-06-07 JP JP2018109593A patent/JP7260966B2/ja active Active
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Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10164413A (ja) * | 1996-12-02 | 1998-06-19 | Nikon Corp | 撮像装置 |
JPH11194275A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-07-21 | Max Planck Ges Foerderung Wissenschaft Ev | プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 |
JP2001358989A (ja) * | 2000-04-13 | 2001-12-26 | Sony Corp | 撮像装置および撮像方法、プログラムおよびプログラム記録媒体、データ構造およびデータ記録媒体、並びに撮像制御装置 |
US20030010930A1 (en) * | 2001-06-07 | 2003-01-16 | Jena-Optronik Gmbh | Arrangement for the optical excitation of fluorescent radiation of individual specimens on a multispecimen carrier |
US20110211077A1 (en) * | 2001-08-09 | 2011-09-01 | Nayar Shree K | Adaptive imaging using digital light processing |
WO2003025656A1 (fr) * | 2001-09-03 | 2003-03-27 | Kabushiki Kaisha Hayashi Soken | Procede et dispositif de balayage a commande numerique |
JP2003149544A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | フォーカス合わせ方法、投影露光方法、フォーカス合わせ装置及び投影露光装置 |
WO2004017069A1 (ja) * | 2002-08-16 | 2004-02-26 | Kabushiki Kaisha Hayashi Soken | バイオチップ分析装置およびオンライン分析システム |
CN1702452A (zh) * | 2004-05-24 | 2005-11-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 数字微镜多目标成像光谱仪装置 |
DE102005049471A1 (de) * | 2005-10-13 | 2007-05-31 | Ingenieurbüro Spies GbR (vertretungsberechtigte Gesellschafter: Hans Spies, Martin Spies, 86558 Hohenwart) | Entfernungssensor mit Einzelflächenabtastung |
US20070216769A1 (en) * | 2006-03-17 | 2007-09-20 | Jerneja Zganec Gros | Active 3D triangulation-based imaging method and device |
JP2015501417A (ja) * | 2011-09-30 | 2015-01-15 | ロスアラモス・ナショナル・セキュリティ,エルエルシー | フルフレームのプログラム可能なハイパースペクトルイメージャ |
CN103809287A (zh) * | 2012-11-06 | 2014-05-21 | 中国科学院光电研究院 | 基于孔径分割技术的宽窄视场协同跟踪系统 |
US20150378023A1 (en) * | 2013-02-13 | 2015-12-31 | Universitat Politecnica De Catalunya | System and method for scanning a surface and computer program implementing the method |
WO2016062785A2 (en) * | 2014-10-21 | 2016-04-28 | University College Cork - National University Of Ireland, Cork | Smart photonic imaging method and apparatus |
US20170357000A1 (en) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | Texas Instruments Incorporated | Processing techniques for lidar receiver using spatial light modulators |
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