JP2019144219A5 - 電磁波検出装置 - Google Patents
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- 入射する電磁波を結像する第1の結像部と、
基準面に沿って複数の画素が配置され、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記画素毎に第1の方向に進行させる進行部と、
前記第1の方向に進行した電磁波を結像する第2の結像部と、
前記第2の結像部から入射する電磁波を検出する第1の検出部と、を備え、
前記第1の結像部を通過した電磁波の各画角における進行軸と前記第1の結像部の主軸とのなす角度が所定値以内である
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部による前側焦点の位置近傍に配置され、入射する電磁波の一部が通過する第1の開口部を、さらに備え、
前記第1の結像部は、前記第1の開口部から入射する電磁波を結像する
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
電磁波を対象に照射する照射部と、
入射してくる電磁波の一部を通過させる、絞りとして機能する第1の開口部と、をさらに備え、
前記第1の結像部は、前記第1の開口部を通過した、前記電磁波が前記対象に反射した反射波を前記進行部へ導き、
前記第1の開口部および前記第1の結像部は、像側テレセントリック光学系を構成し、
前記進行部は前記像側テレセントリック光学系に含まれる
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
電磁波を対象に照射する照射部と、
入射してくる電磁波の一部を通過させる、絞りとして機能する第1の開口部と、をさらに備え、
前記第1の結像部は、前記第1の開口部を通過した、前記電磁波が前記対象に反射した反射波を前記進行部へ導き、
前記第1の結像部から出力される前記電磁波と前記第1の結像部の主軸とがなす角度は、前記進行部へ入射する前記電磁波と前記第1の結像部の主軸とがなす角度と同じである
電磁波検出装置。 - 請求項1または2に記載の電磁波検出装置において、
前記所定値は、15°である
電磁波検出装置。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面および前記第1の検出部の検出面それぞれの延長面が交差し、前記第2の結像部の主軸が前記基準面および前記第1の検出部の検出面を通る配置と、
前記進行部に対する間隔が定められ且つ前記基準面を像面とする前記第1の結像部の物体面と前記基準面とそれぞれの延長面が交差し、前記第1の結像部の主軸が前記基準面を通る配置と、
の少なくとも一方が満たされている
電磁波検出装置。 - 請求項6に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第2の結像部の主面、および前記第1の検出部の検出面それぞれの延長面が同一の直線上ですべて交差する配置と、
前記基準面および前記第1の結像部の主面それぞれの延長面が交差する配置と、
の少なくとも一方が満たされている、
電磁波検出装置。 - 請求項6または7に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第2の結像部の主面、および、前記第1の検出部の検出面がシャインプルーフの原理の条件を満たす配置と、
前記第1の結像部の主面、および、前記基準面がシャインプルーフの原理の条件を満たす配置と、
の少なくとも一方が満たされている、
電磁波検出装置。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記進行部は、前記画素毎に、前記第1の結像部から前記基準面に入射する電磁波を前記第1の方向に進行させる第1の状態および第2の方向に進行させる第2の状態に切替え可能である
電磁波検出装置。 - 請求項9に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の方向に進行した電磁波を結像する第3の結像部と、
前記第3の結像部から入射する電磁波を検出する第2の検出部と、をさらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項10に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第3の結像部の主面、および、前記第2の検出部の検出面は、それぞれの延長面が同一の直線上ですべて交差する配置である
電磁波検出装置。 - 請求項10または11に記載の電磁波検出装置において、
前記基準面、前記第3の結像部の主面、および、前記第2の検出部の検出面は、シャインプルーフの原理の条件を満たす配置である
電磁波検出装置。 - 請求項1から12のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の結像部から入射した電磁波を前記進行部および第3の方向に進行するように分離する分離部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項13に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、前記第1の結像部から入射した電磁波のうち第1の周波数の電磁波を前
記進行部に、第2の周波数の電磁波を前記第3の方向に進行するように分離する、
電磁波検出装置。 - 請求項13または14に記載の電磁波検出装置において、
前記第3の方向に進行した電磁波を検出する第3の検出部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項1から15のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部により検出された電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項10に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部により検出された電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項15に記載の電磁波検出装置において、
前記第3の検出部により検出された電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。
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KR20100110321A (ko) * | 2007-12-06 | 2010-10-12 | 가부시키가이샤 니콘 | 검사 장치 및 검사 방법 |
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DE112012004100T5 (de) * | 2011-09-30 | 2014-07-10 | Los Alamos National Security, Llc | Programmierbare Voll-Frame-Hyperspektral-Abbildungsvorrichtung |
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