JPH11111901A - 半導体装置及びリード成形方法 - Google Patents

半導体装置及びリード成形方法

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JPH11111901A
JPH11111901A JP27466397A JP27466397A JPH11111901A JP H11111901 A JPH11111901 A JP H11111901A JP 27466397 A JP27466397 A JP 27466397A JP 27466397 A JP27466397 A JP 27466397A JP H11111901 A JPH11111901 A JP H11111901A
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lead
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Tatsuo Masuike
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components
    • H05K3/3426Leaded components characterised by the leads

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Wire Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小パッケージ且つピン数大という要求に対応
可能な半導体装置を提供する。 【解決手段】 半導体素子を樹脂封止した樹脂封止部2
から突出した長短異なるリード3、4のうち、長リード
3を跳ね上げた後に、短リード4をガルウィング状に成
形し、その後、長リード3を元の位置に復元し、その長
リード3をガルウィング状に成形する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置及びリ
ード成形方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置には図5に示すように、半導
体素子が樹脂封止され、その樹脂封止部2から4方向に
突出した外部リード24がガルウィング状の形状をして
いる半導体パッケージであるQFP(Quad Fla
d Package)パッケージが存在している。
【0003】従来のQFPパッケージは図5に示すよう
に、樹脂封止部2から4方向に突出した外部リード24
がガルウィング状の形状をしているQFPパッケージ1
7であって、QFPパッケージ17の最大ピン数は、樹
脂封入部2の大きさとリード間のピッチ18で決定され
る。
【0004】基盤に半導体パッケージを実装する実装装
置が対応できる外部リードピッチの大きさは、現状では
0.4mmが限界であり、昨今の小パッケージで且つピ
ン数大という要求に対して外部リードピッチの限界があ
るため、対応が難しくなってきている。
【0005】また、QFPパッケージ17のつかみ曲げ
による外部リード成形方法を図6に示す。図6(a)に
示すように、QFPパッケージ17の樹脂封止部2をパ
ッケージ受け台19上に載せ、パッケージ押さえ20と
の間に挾み込むことにより、QFPパッケージ17を固
定し、リード成形ユニット22のクランプ部21で外部
リード24の先端部をつかむ。
【0006】続いて図6(b)に示すように、QFPパ
ッケージ17の外部リード24の先端をクランプ部21
でつかんだままリード成形ユニット22を成形軌跡上に
移動して外部リード24をガルウィング形状に成形す
る。上記2工程を経て、つかみ曲げの方法により、図5
(a)、(b)に示されるQFPパッケージ17は成形
される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
のQFPパッケージ17では、各辺に突出てる外部リー
ド24の本数に限界があり、小パッケージ且つピン数大
という要求に対応できなっているという問題があった。
【0008】本発明の目的は、小パッケージ且つピン数
大という要求に対応可能な半導体装置及び成形方法を提
供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体装置は、半導体素子を樹脂封止
した樹脂封止部に長リードと短リードとを有する半導体
装置であって、長リードと短リードとは、樹脂封止部か
ら横方向に突き出し、ガルウィング状に形成されたもの
であり、樹脂封止部の辺に沿って交互に設けられてお
り、長リードと短リードとは、樹脂封止部の端面に対す
る折曲部の位置を内外に異ならせて配置したものであ
る。
【0010】また前記長リードと前記短リードとは、千
鳥状に配列したものである。
【0011】また長リード間ピッチと短リード間ピッチ
は、同じピッチ幅である。
【0012】また隣接する長リードと短リードとの間の
ピッチは、長リード間ピッチ及び短リード間ピッチの半
分のピッチ幅である。
【0013】また、本発明に係る半導体装置のリード成
形方法は、第1工程と、第2工程と、第3工程と、第4
工程とを有する半導体装置のリード成形方法であって、
第1工程は、樹脂封止部から突出したリードを長さを長
短異ならせて千鳥状に切断し、長リードを跳ね上げる処
理を行うものであり、第2工程は、短リードをクランプ
部で掴み、ガルウィング形状に成形する処理を行うもの
であり、第3工程は、跳ね上げられた長リードを元の位
置に復帰する処理を行うものであり、第4工程は、長リ
ードをクランプ部で掴み、ガルウィング形状に成形する
処理を行うものである。
【0014】また前記クランプ部の先端に前傾する傾斜
面を設け、クランプ部の傾斜面に長リードの先端を押し
あてて、長リードを跳ね上げるものである。
【0015】またガルウィング形状に成形した短リード
を受け台の凹部に受け入れ、長リードのみを露出させて
該長リードの成形を行うものである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
より説明する。
【0017】図1(a)は、本発明の一実施形態に係る
半導体装置を示す縦断面図、(b)は同平面図である。
図において、本発明の一実施形態に係る半導体装置1
は、半導体素子を樹脂封止した樹脂封止部2の各辺から
前記半導体素子の外部リード3、4を横方向に突き出
し、各外部リード3、4の折曲部3a、4aを内外に異
ならせ、突出量の異なる長リード3と短リード4とを交
互に千鳥状に配列して設けたものである。
【0018】樹脂封止部2の端面からの突出量が長短異
なる外部リード3、4は、ガルウィング形状に成形され
ている。外部リード3、4のうち、底面側の実装部5が
基盤に実装される。6は長リード3、3間のピッチを、
7は短リード4、4間のピッチを、8は隣接する長リー
ド3と短リード4との間のピッチを、9は樹脂封止部2
の端面から短リード4の先端までの長さを、10は樹脂
封止部2から長リード4の実装部5までの長さを示して
いる。
【0019】本発明の一実施形態に係る半導体装置1に
おいては、長リード間ピッチ6と短リード間ピッチ7は
同じピッチ幅であり、隣接リード間ピッチ8は長リード
間ピッチ6及び短リード間リードピッチ7の半分のピッ
チ幅になっている。実装部5、5の隣接ピッチを隣接リ
ード間ピッチ8より大きい長リード間ピッチ6(もしく
は短リード間ピッチ7)にするためには、樹脂封止部2
の端面から短リード4の先端までの長さ9は、樹脂封止
部2の端面から長リード3の実装部5までの長さ10よ
り短くなくてはならない。
【0020】次に、本発明の一実施形態に係る半導体装
置1のリード成形方法について詳細に説明する。図2〜
図4は、本発明の実施形態に係るリード成形方法を工程
順に示す断面図である。図2(a)において、半導体素
子を内蔵する樹脂封止部2から横方向に突出したリード
を内外に長さを異ならせて千鳥状に切断して外部リード
(長リード3、短リード4)とし、半導体装置1の樹脂
封止部2を受け台11の凹部11aに支持する。次に押
さえ部材12により半導体装置1を押さえて、受け台1
1との間に半導体装置1を固定する。
【0021】図2(b)に示すように、成形ユニット1
3のクランプ部14の上部には、前傾姿勢の傾斜面14
aを設けている。そして、短リード4に干渉しない位置
でクランプ部14の傾斜面14aを長リード3にのみ接
触させ、その状態で成形ユニット13に矢印で示すよう
に弧状の軌跡を描かせることにより、長リード3のみを
上方に跳ね上げる。以上が第1工程の詳細である。
【0022】次に、第2工程の詳細を図3(c)により
説明する。図3(c)に示すように、第1工程が終了し
図2(b)に示すように長リード3のみが跳ね上がった
状態において、短リード4をクランプ部14で掴み、成
形ユニット13に矢印で示すような成形軌跡を描かせる
ことにより、短リード4をガルウィング状に成形する。
なお、成形ユニット13に矢印で示すような成形軌跡を
描かせることにより、短リード4をガルウィング状に成
形する構成は従来と同じであるが、長リード3のみを跳
ね上げた状態にて短リード4を成形する点は、従来と異
っている。
【0023】次に、第3工程の詳細を図3(d)により
説明する。図3(d)に示すように、第2工程が終了し
長リード3が跳ね上がり、短リード4がガルウィング形
状に成形された状態で、クランプ部14の底面部14b
を長リード3の上面に接触させ、リード成形ユニット1
3を下方向に軌跡を描かせることにより、長リード3を
元の水平位置に戻す。このときには、長リード4のスプ
リングバックを計算して元の位置より若干下がった位置
まで押し下げるため、長リード3とクランプ部14との
接触位置は、ガルウィング形状に成形された短リード4
にクランプ部14に干渉しない位置にする。
【0024】次に、第4工程の詳細を図4(e)により
説明する。図4(e)に示すように、成形済の短リード
4を変形させないように受け台15に設けた溝15a内
に成形済の短リード4を受け入れて、半導体装置1の樹
脂封止部2を受け台15及び受け台15にあわせた形状
の押さえ部材16とにより固定し、元の位置に戻った状
態の半導体装置1の長リード3の先端部をクランプ部1
4で掴み、成形ユニット13に矢印で示すような成形軌
跡を描かせることにより、長リード3をガルウィング形
状に成形する。以上の4工程を経ることにより、図1
(a)、(b)に示す本発明の一実施形態に係る千鳥状
リードをもつQFPパッケージ1を成形させる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、外
部リードを千鳥状に成形することにより、外部リードの
隣接リードピッチが小でも基盤上での隣接リードピッチ
が長リード及び短リード間の距離となって隣接リードピ
ッチの2倍になるため、現状では実装不可能な外部リー
ドの隣接リードピッチのQFPパッケージでも千鳥状に
することにより、実装することができる。
【0026】具体的に説明すると、外部リードの数が2
40pinの場合、現状のQFPパッケージでは、外部
リードピッチが0.5mm、全長・全幅が34.6mm
になり、基盤に実装する時に必要な面積は1197.1
6mm2である。
【0027】一方、本発明に係る千鳥状リードをもつQ
FPパッケージでは、隣接外部リードピッチが0.3m
m、実装部のピッチは0.6mm、全長・全幅が26.
0mmになり、基盤に実装する時に必要な面積は67
6.00mm2になる。
【0028】従来例のものと本発明のものとを比較する
と、本発明に係る千鳥状リードをもつQFPパッケージ
の方が基盤に実装するときに必要とする面積を43.5
%削減することができる。
【0029】さらに、本発明に係るリード成形方法によ
れば、長リードを跳ね上げた後に短リードを成形し、成
形後の短リードを変形させないで長リードを成形するた
め、現状のつかみ曲げでの外部リード成形方法では不可
能であった千鳥状に外部リードを成形することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、本発明の一実施形態に係る半導体装
置を示す縦断面図、(b)は同平面図である。
【図2】本発明の一実施形態に係る成形方法を工程順に
示す断面図である。
【図3】本発明の一実施形態に係る成形方法を工程順に
示す断面図である。
【図4】本発明の一実施形態に係る成形方法を工程順に
示す断面図である。
【図5】(a)は従来例を示す縦断面図、(b)は同平
面図である。
【図6】従来例に係る成形方法を示す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体装置 2 樹脂封止部 3 外部リードの長リード 4 外部リードの短リード 5 外部リードの実装基盤との実装部 6 長リード間ピッチ 7 短リード間ピッチ 8 隣接リードピッチ 9 樹脂封止部の端面から短リード先端までの長さ 10 樹脂封止部の端面から長リードの実装部までの長
さ 11 半導体装置の樹脂封止部を支持する凹状の構造を
有する受け台 12 半導体装置を押さえて半導体装置を固定する押さ
え部材 13 成形ユニット 14 クランプ部 15 成形済みの短リードを変形させないように溝を持
つ半導体装置の樹脂封止部を支持する凹状の構造を有す
る受け台 16 受け台にあわせた形状の半導体装置を押さえる押
さえ部材

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子を樹脂封止した樹脂封止部に
    長リードと短リードとを有する半導体装置であって、 長リードと短リードとは、樹脂封止部から横方向に突き
    出し、ガルウィング状に形成されたものであり、樹脂封
    止部の辺に沿って交互に設けられており、 長リードと短リードとは、樹脂封止部の端面に対する折
    曲部の位置を内外に異ならせて配置したものであること
    を特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記長リードと前記短リードとは、千鳥
    状に配列したものであることを特徴とする請求項1に記
    載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 長リード間ピッチと短リード間ピッチ
    は、同じピッチ幅であることを特徴とする請求項1に記
    載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 隣接する長リードと短リードとの間のピ
    ッチは、長リード間ピッチ及び短リード間ピッチの半分
    のピッチ幅であることを特徴とする請求項1に記載の半
    導体装置。
  5. 【請求項5】 第1工程と、第2工程と、第3工程と、
    第4工程とを有する半導体装置のリード成形方法であっ
    て、 第1工程は、樹脂封止部から突出したリードを長さを長
    短異ならせて千鳥状に切断し、長リードを跳ね上げる処
    理を行うものであり、 第2工程は、短リードをクランプ部で掴み、ガルウィン
    グ形状に成形する処理を行うものであり、 第3工程は、跳ね上げられた長リードを元の位置に復帰
    する処理を行うものであり、 第4工程は、長リードをクランプ部で掴み、ガルウィン
    グ形状に成形する処理を行うものであることを特徴とす
    る半導体装置のリード成形方法。
  6. 【請求項6】 前記クランプ部の先端に前傾する傾斜面
    を設け、 クランプ部の傾斜面に長リードの先端を押しあてて、長
    リードを跳ね上げることを特徴とする請求項5に記載の
    半導体装置のリード成形方法。
  7. 【請求項7】 ガルウィング形状に成形した短リードを
    受け台の凹部に受け入れ、長リードのみを露出させて該
    長リードの成形を行うものであることを特徴とする請求
    項5に記載の半導体装置のリード成形方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009176789A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Hitachi Ltd ディスクリート部品リードフォーミング治具
CN108555182A (zh) * 2018-04-11 2018-09-21 晶科能源有限公司 半片组件引出线折弯设备
CN110449535A (zh) * 2019-08-29 2019-11-15 上海威克鲍尔通信科技有限公司 一种散料电阻校直折弯机构

Cited By (4)

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CN110449535A (zh) * 2019-08-29 2019-11-15 上海威克鲍尔通信科技有限公司 一种散料电阻校直折弯机构

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