JPH1084274A - 半導体論理回路および回路レイアウト構造 - Google Patents

半導体論理回路および回路レイアウト構造

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JPH1084274A
JPH1084274A JP8237760A JP23776096A JPH1084274A JP H1084274 A JPH1084274 A JP H1084274A JP 8237760 A JP8237760 A JP 8237760A JP 23776096 A JP23776096 A JP 23776096A JP H1084274 A JPH1084274 A JP H1084274A
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JP
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channel mos
mos transistor
power supply
voltage
drain
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JP8237760A
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Inventor
Hiroo Yamamoto
裕雄 山本
Hironori Akamatsu
寛範 赤松
Shiro Sakiyama
史朗 崎山
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レベルシフタ回路の入力が不定となった場合
に生じるレベルシフタ回路の貫通電流と、回路出力不定
の状態が生じないようにする。 【解決手段】 ソース電位を接地した第2のNチャネル
MOSトランジスタTN2のドレインに第3のNチャネ
ルMOSトランジスタTN3を設け、この第3のNチャ
ネルMOSトランジスタTN3のドレインに、第1のP
チャネルMOSトランジスタTP1のゲート,第2のP
チャネルMOSトランジスタTP2のドレイン,第3の
PチャネルMOSトランジスタTP3のドレインを接続
し、第1のNチャネルMOSトランジスタTN1のドレ
インに、第1のPチャネルMOSトランジスタTP1の
ドレイン,第2のPチャネルMOSトランジスタTP2
のゲートを接続した構成であり、第3のNチャネルMO
SトランジスタTN3をオフし、第3のPチャネルMO
SトランジスタTP3をオンすることにより、レベルシ
フタ回路への入力が不定となった場合であっても、高電
源電位V1が出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、少なくとも2つの
電源電圧を持つ半導体集積回路の小さな電源電圧の振幅
信号を大きな電源電圧の振幅信号に変換するレベルシフ
タ回路もしくはレベルシフト回路として適用される半導
体論理回路と、その回路を良好に配線,配置するための
回路レイアウト構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般的に、レベルシフタ回路は、低電位
レベル信号振幅を高電位レベル信号振幅の信号に変え、
低電位レベル信号振幅の論理回路において消費電力の削
減を行い、半導体装置からの信号出力を半導体装置外部
の信号振幅規格に合わせるために高電位レベル信号振幅
に変換する場合に使われ、半導体装置の低消費電力化に
寄与している。
【0003】図12は従来のレベルシフタ回路の一般的な
構成例を示す回路図である。1はレベルシフタ回路であ
り、高電圧V1にソースを接続した第1のPチャネルM
OSトランジスタTP1および第2のPチャネルMOS
トランジスタTP2と、第1のPチャネルMOSトラン
ジスタTP1のドレインと第2のPチャネルMOSトラ
ンジスタTP2のゲートをドレインに接続し、かつソー
スを接地した第1のNチャネルMOSトランジスタTN
1と、第2のPチャネルMOSトランジスタTP2のド
レインと第1のPチャネルMOSトランジスタTP1の
ゲートをドレインに接続し、かつソースを接地した第2
のNチャネルMOSトランジスタTN2とから構成され
ている。
【0004】入力端子Aより前記第1のNチャネルMO
SトランジスタTN1のゲートに第1の低電圧振幅イン
バータI1と第2の低電圧振幅インバータI2とを介し
て信号が入力し、前記第2のNチャネルMOSトランジ
スタTN2のゲートには前記第1の低電圧振幅インバー
タI1のみを介してNチャネルMOSトランジスタTN
1のゲート入力信号とは逆位相の信号が入力し、第2の
PチャネルMOSトランジスタTP2と第2のNチャネ
ルMOSトランジスタTN2のドレインに接続される出
力端子Bから高電圧振幅インバータI3を介して信号が
出力するようになっている。
【0005】以下にレベルシフタ回路1において、入力
端子Aより0V(ボルト)から2Vの振幅電圧が入力し、
それを0Vから3Vの振幅電圧の信号に変換する場合に
ついて説明する。
【0006】すなわち、入力端子Aが2Vから0Vに変
化した場合、第1の低電圧振幅インバータI1の出力は
0Vから2Vへ変化し、第2のNチャネルMOSトラン
ジスタTN2に入力する。また第2の低電圧振幅インバ
ータI2により2Vから0Vの信号が出力し、第1のN
チャネルMOSトランジスタTN1に入力する。第1の
NチャネルMOSトランジスタTN1はオン状態からオ
フ状態へと変化し、同時に第2のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN2はオフ状態からオン状態へと変化する。
【0007】そのとき、第2のノードN2の電位は、電
荷が第2のNチャネルMOSトランジスタTN2を介し
て放電することにより電位が低下する。このことにより
第1のPチャネルMOSトランジスタTP1のゲート電
位が低下し、第1のPチャネルMOSトランジスタTP
1がオンする。同時に第1のノードN1は第2のNチャ
ネルMOSトランジスタTN2がオフすることで電位が
上昇し、第2のPチャネルMOSトランジスタTP2が
オン状態からオフ状態へと以降する。
【0008】そして、第1のNチャネルMOSトランジ
スタTN1と第1のPチャネルMOSトランジスタTP
1の作用により第1のノードN1の電位が上昇し、第2
のNチャネルMOSトランジスタTN2と第2のPチャ
ネルMOSトランジスタTP2の作用により第2のノー
ドN2の電位が下降して、最終的に第1のノードN1は
3Vとなり、第2のノードN2が0Vとなる。第2のノ
ードN2の電位により3V動作の高電圧振幅インバータ
I3の出力は3Vとなる。入力端子Aが0Vから2Vへ
変化した場合は同様の作用により出力端子Bに0Vが出
力される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
レベルシフタ回路では以下のような問題があり、本発明
は下記の項目の課題を解決するものである。
【0010】 低電圧動作回路もしくは低電圧動作半
導体装置から、高電圧動作回路もしくは高電圧動作半導
体装置への信号の転送を実現するレベルシフタ回路にお
いて、超低消費電力半導体装置を実現するために低電圧
動作回路が非動作時、低電圧動作回路もしくは低電圧動
作半導体装置の電源供給を切るシステム構成とすること
が考えられる。
【0011】しかし、低電圧動作回路の電源供給を切る
構成とした場合に、低電圧振幅の出力信号電圧は不定と
なり、レベルシフタ回路の高電位電源から貫通電流が流
れてしまうことが考えられる。また、このとき、レベル
シフタ回路からの出力も不定となってしまう。
【0012】 低電圧動作回路のMOSトランジスタ
をさらに低電圧で動作させることを考えた場合、動作速
度の確保のために電圧に対して低耐圧であるが高速で動
作するデバイスパラメータを備えたMOSトランジスタ
を使用することが考えられる。
【0013】図12に示したレベルシフタ回路における入
力端子Aの入力振幅が変換される電位振幅に対して非常
に小さい場合、図12の回路構成ではインバータI1およ
びI2として高速であるが低耐圧のMOSトランジスタ
を使い、回路動作速度を上げることが考えられるが、第
1のNチャネルMOSトランジスタTN1と第2のNチ
ャネルMOSトランジスタTN2のゲート入力電圧が小
さいことにより、所望の動作速度を実現するためには第
1のNチャネルMOSトランジスタTN1と第2のNチ
ャネルMOSトランジスタTN2のゲート幅を大きくす
る必要がある。
【0014】ゲート幅を小さくするために高速であるが
低耐圧のMOSトランジスタを第1のNチャネルMOS
トランジスタTN1と第2のNチャネルMOSトランジ
スタTN2に使用すると、第1のノードN1または第2
のノードN2の電圧のためにMOSトランジスタが破壊
されてしまうことも考えられる。
【0015】また、MOSトランジスタの構造上、高速
で動作する高電流駆動能力のトランジスタはオフ電流が
非常に大きいため、トランジスタの耐圧上問題がない場
合でも、回路非動作時に大きな電源リーク電流が生じる
ことになり、低消費電流の半導体装置にあっては好まし
くない。
【0016】 低電圧動作の論理回路が非動作時に電
源供給を切るシステム構成であり、半導体装置内部の低
電圧振幅信号をレベルシフタ回路を介して高電圧の信号
出力にするセルベースレイアウトもしくはゲートアレイ
レイアウトの半導体装置を実現するためには、例えば、
レベルシフタ回路をレイアウトセル内に内蔵することが
考えられる。
【0017】しかし、この場合には低電圧動作の論理回
路が非動作時で電源供給を切られた場合に、所定の出力
をレベルシフタ回路から出力するコントロール配線を各
レイアウトセルに入力させる必要があり、配線数が非常
に増加する。
【0018】 半導体装置内部の半導体論理回路ブロ
ックにおいて、少なくとも2つの異なる電源電圧で動作
しているブロックを備えている場合に、低電圧動作回路
から高電圧動作回路へと信号を送る必要があり、低電圧
動作回路内に半導体論理回路を内蔵させる場合には、低
電圧動作回路のレイアウトブロックに高電圧の電源を入
力する必要があり、レイアウト面積が増大する。また高
電圧動作回路内に半導体論理回路を内蔵させた場合も同
様に、高電圧動作回路のレイアウトブロックに低電圧の
電源を入力する必要があり、レイアウト面積の増大が考
えられる。
【0019】また、図12の第1のインバータI1および
第2のインバータI2を低電圧動作回路に内蔵し、その
他の回路を高電圧動作回路に内蔵した場合には第1のイ
ンバータI1の出力信号配線と第2のインバータI2の
出力信号配線が必要であり、このこともレイアウト面積
の増加がある。
【0020】そこで、本発明は、前記従来の問題を解決
し、高速でレイアウト面積の小さな低消費電力LSI回
路向けの半導体論理および回路レイアウト構造を提供す
ることを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、前記〜の課題項目に対して、以下の
構成を備えるものである。すなわち、 項の課題である電圧変換回路の低電圧動作回路からの
入力が不定になることについては、予め電圧変換回路の
高電圧へ信号を変換する差動回路部にスイッチトランジ
スタを設けておき、低電圧電源のコントロールと同期し
てスイッチトランジスタをオンもしくはオフにすること
により、差動回路部の信号を固定し、かつ併せて出力端
子に設けたプルアップトランジスタもしくはプルダウン
トランジスタにより出力状態を所望の信号レベルに固定
する構成とする。
【0022】項の課題であるオフリーク電流に関して
は、前記の課題を解決する手段と同様に電圧変換回路
内にスイッチトランジスタを設け、低電圧動作回路が非
動作時に所望の回路出力をする電圧変換回路のうち、オ
フとなるトランジスタにオフリーク電流の小さいトラン
ジスタを用いることにより解決でき、次に、電圧変換回
路内の差動動作部のNチャネルMOSトランジスタに低
耐圧トランジスタを用いた場合には、低耐圧トランジス
タのドレインに耐圧上問題のないNチャネルMOSトラ
ンジスタスイッチのソースを接続し、ドレインをPチャ
ネルMOSトランジスタのドレインに接続する構成とす
る。
【0023】耐圧上問題のないNチャネルMOSトラン
ジスタのゲートには、低耐圧NチャネルMOSトランジ
スタの耐圧上問題のない電位を入力することにより、低
耐圧トランジスタに高電圧がかからず課題を解決するこ
とが可能となる。この解決手段で新たに追加したトラン
ジスタを前記の課題を解決する手段と同様に動作させ
ることも可能である。
【0024】項の課題に関しては、セルベースレイア
ウトもしくはゲートアレイレイアウトの入力,出力セル
の半導体装置の中心に向かって、横方向に電源変換回路
のコントロール信号配線を設け、その配線がセル配置時
に自動的に接続される構成とし、同時にコントロールす
るレベルシフタ回路のコントロール信号を半導体装置内
部の制御回路もしくは半導体装置外部の制御回路に1箇
所から取り出す構成とする。
【0025】の課題に関しては、高電圧動作回路ブロ
ックにレベルシフタ回路の低電圧振幅信号と逆位相の信
号を作るインバータと、高電圧を必要とする差動動作回
路部以降をレイアウトする構成とし、低電圧動作回路部
から入力する低電圧振幅信号の逆位相信号は高電圧動作
回路内にて高電源電圧をダウンコンバータを介して発生
した低電圧入力信号と同じ電圧を電源とするインバータ
により実現する。
【0026】これにより低電圧動作からの信号配線を1
つのみとし、低電圧動作回路に高電圧電源もしくは高電
圧動作回路に低電圧電源を入力することなく、レイアウ
トを実現することができる。
【0027】ダウンコンバータをNチャネルMOSトラ
ンジスタとした場合は、ゲート電圧を低電圧回路の電源
のオン,オフに併せてコントロールすることにより、低
電圧回路からの入力が不定となったときにも、Nチャネ
ルMOSトランジスタをオフし、リーク電流をカットす
ることが可能となる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態について
図面に基づいて説明する。なお、図12に基づいて説明し
た部材に対応する部材には同一符号を付して詳しい説明
は省略する。
【0029】(実施の形態1)図1は本発明の第1実施
形態を説明するための回路図であり、第1の電源の電圧
から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力端子Aか
ら第1の低電圧振幅インバータI1と第2の低電圧振幅
インバータI2とを介して第1の信号の入力を、第2の
電源をソースとする第1のNチャネルMOSトランジス
タTN1のゲートで受け、第1の低電圧振幅インバータ
I1のみを介して第1の信号入力の逆位相となる信号を
第2の電源をソースとする第2のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN2のゲートで受け、第2のNチャネルMO
SトランジスタTN2のドレインを第3のNチャネルM
OSトランジスタTN3のソースと接続している。
【0030】前記第1のNチャネルMOSトランジスタ
TN1のドレインを、第1のPチャネルMOSトランジ
スタTP1のドレインと第2のPチャネルMOSトラン
ジスタTP2のゲートと接続し、第3のNチャネルMO
SトランジスタTN3のドレインを、第1のPチャネル
MOSトランジスタTP1のゲートと第2のPチャネル
MOSトランジスタTP2のドレインと接続している。
第1のPチャネルMOSトランジスタTP1と第2のP
チャネルMOSトランジスタTP2とのソースを、第1
の電源電圧より大きい第3の電源V1に接続している。
【0031】第2のPチャネルMOSトランジスタTP
2のドレインを高電圧振幅インバータI3を介して出力
端子Bに接続し、第3のPチャネルMOSトランジスタ
TP3のドレインを出力端子Bに接続し、かつ第3のP
チャネルMOSトランジスタTP3のソースを第3の電
源に接続しており、第3のNチャネルMOSトランジス
タTN3と第3のPチャネルMOSトランジスタTP3
のゲートに第2の入力端子Cを接続している。
【0032】次に、第1実施形態の回路の動作例とし
て、低電圧振幅が0Vから2Vの信号を0Vから3Vの
振幅電圧で動作する論理回路ブロックに入力する場合を
説明する。
【0033】低電圧振幅動作回路に低電圧電源が入力さ
れているとき(以降、アクティブという)、まず低電圧振
幅信号Aの電圧が2Vのとき、2V電圧で動作する第1
のインバータI1の出力は0Vであり、2V電圧で動作
する第2のインバータI2の出力は2Vである。また、
そのとき、第1のNチャネルMOSトランジスタTN1
は第2のインバータI2の出力によりオンしており、第
2のNチャネルMOSトランジスタTN2は第1のイン
バータI1の出力によりオフしている。
【0034】アクティブ時に第2の入力端子Cには3V
が入力されており、そのために第3のNチャネルトラン
ジスタTN3はオンしており、第3のPチャネルMOS
トランジスタTP3がオフしている。このとき第2のノ
ードN2は3Vの電源V1の電位と同電位の3Vであ
り、第1のPチャネルMOSトランジスタTP1はオフ
しており、第1のノードN1は0Vであり、第2のPチ
ャネルMOSトランジスタTP2はオンしている。
【0035】このとき、出力端子Bからの高電圧振幅動
作回路への入力信号は、高電圧動作の第3のインバータ
I3を介して0Vが出力される。第1の入力端子Aの低
電圧振幅信号の電圧が2Vから0Vに変化すると第1の
インバータI1の出力は0Vから2Vへ変化し、第2の
インバータI2の出力は2Vから0Vへ変換する。これ
により、第1のNチャネルMOSトランジスタTN1は
オンからオフ状態へ移行する。また、第2のNチャネル
MOSトランジスタTN2はオフからオン状態へ移行す
る。両NチャネルMOSトランジスタTN1,TN2が
オン状態へ移行することにより、第2のノードN2の電
位が降下し、第1のPチャネルMOSトランジスタTP
1がオンする。
【0036】そのとき、第1のNチャネルMOSトラン
ジスタTN1がオフ状態へ移行していることにより、第
1のノードN1の電位は上昇する。これらの動作は、第
1のノードN1が完全に電源V1と同電位の3Vとな
り、第2のノードN2が0Vとなり、出力端子Bの電位
が第3のインバータI3によって3Vとなることにより
終了する。第1の入力端子Aの低電圧振幅信号の電圧
が、0Vから2Vへ移行したときは、上記とは逆の動作
を行い出力端子Bに0Vが出力される。
【0037】アクティブから低電圧振幅動作回路に低電
圧電源の入力がされていないとき(以降、スリープとい
う)に移行するときには、レベルシフタ回路のコントロ
ール端子である第2の入力端子Cの電位を0Vにする。
これにより第3のNチャネルMOSトランジスタTN3
はオフし、第3のPチャネルMOSトランジスタTP3
はオンする。第1の入力端子Aにおける低電圧動作回路
からの電圧が不定であった場合においても、第3のNチ
ャネルMOSトランジスタTN3がオフし、第3のPチ
ャネルMOSトランジスタTP3がオンすることによ
り、第2のノードN2が3Vに固定され、第1のPチャ
ネルMOSトランジスタTP1はオフすることにより、
第1のPチャネルMOSトランジスタTP1によるリー
ク電流がカットされ、出力端子Bの電圧は0Vに固定さ
れて不定となることはない。スリープからアクティブに
戻るときには、第2の入力端子Cに3Vを入力すること
によって前記通常動作に戻る。
【0038】以上の動作により、入力が不定であること
による大きな貫通電流を生じさせずに、安定した高電源
電圧を出力するレベルシフタ回路を、少ない回路構成素
子数で実現できることになる。
【0039】(実施の形態2)また、本発明の第2実施
形態として、図1に示した第1のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN1,第2のNチャネルMOSトランジスタ
TN2,第2のPチャネルMOSトランジスタTP2の
すべて、もしくはそのいずれか1つを低閾値で高電流駆
動が可能なトランジスタとすることによって、高速化と
スリープ時の低リーク電流を実現することができる。回
路非動作時にはオフ電流の小さな第1のPチャネルMO
SトランジスタTP1と第2のNチャネルMOSトラン
ジスタTN2がオフすることで低オフ電流とすることが
できる。
【0040】(実施の形態3)図2は本発明の第3実施
形態を説明するための回路図であり、第1の電源の電圧
から第2の電源の電圧を振幅とする第1の信号の入力を
第1の入力端子Aから、第2の電源をソースとする第1
のNチャネルMOSトランジスタTN1のゲートで受
け、第1の信号入力の逆位相の信号を第2の電源をソー
スとする第2のNチャネルMOSトランジスタTN2の
ゲートで受け、第1のNチャネルMOSトランジスタT
N1のドレインを第3のNチャネルMOSトランジスタ
TN3のソースと接続している。
【0041】第2のNチャネルMOSトランジスタTN
2のドレインを、第2のPチャネルMOSトランジスタ
TP2のドレインと第1のPチャネルMOSトランジス
タTP1のゲートと接続し、第3のNチャネルMOSト
ランジスタTN3のドレインを、第2のPチャネルMO
SトランジスタTP2のゲートと第1のPチャネルMO
SトランジスタTP1のドレインと接続している。
【0042】第1のPチャネルMOSトランジスタTP
1と第2のPチャネルMOSトランジスタTP2のソー
スを、第1の電源電圧より大きい第3の電源に接続し、
第2のPチャネルMOSトランジスタPN2のドレイン
を出力端子Bに接続し、第4のNチャネルMOSトラン
ジスタTN4のドレインを出力端子Bに接続し、かつ第
4のNチャネルMOSトランジスタTN4のソースを第
3の電源に接続している。
【0043】第3のNチャネルMOSトランジスタTN
3のゲートに第2の入力端子Cを接続し、この第2の入
力端子Cに回路動作時には第3の電源電圧を入力する。
第4のNチャネルMOSトランジスタTN4のゲートに
第3の入力端子Dを接続し、この第3の入力端子Dに第
2の電源電圧を入力するようにしている。
【0044】次に、第3実施形態の回路の動作例とし
て、低電圧振幅が0Vから2Vの信号を0Vから3Vの
振幅電圧で動作する論理回路ブロックに入力する場合を
説明する。
【0045】アクティブ時、まず低電圧振幅信号Aの電
圧が2Vのとき、2V電圧で動作する第1のインバータ
I1の出力は0Vであり、2V電圧で動作する第2のイ
ンバータI2の出力は2Vである。また、そのとき、第
1のNチャネルMOSトランジスタTN1は第2のイン
バータI2の出力によりオンしており、第2のNチャネ
ルMOSトランジスタTN2は第1のインバータI1の
出力によりオフしている。アクティブ時、第2の入力端
子Cに3V(2Vでも可)入力されており、第3の入力端
子Dに0Vが入力されている。そのために第3のNチャ
ネルMOSトランジスタTN3はオンしており、第4の
NチャネルMOSトランジスタTN4はオフしている。
【0046】このとき、第2のノードN2は3Vの電源
V1の電位と同電位の3Vであり、第1のPチャネルM
OSトランジスタTP1がオフしており、第1のノード
N1は0Vであり、第2のPチャネルMOSトランジス
タTP2はオンしている。
【0047】このとき、出力端子Bからの高電圧振幅動
作回路への入力信号は高電圧動作の第3のインバータI
3を介して0Vが出力される。入力端子Aにおける低電
圧振幅信号の電圧が2Vから0Vに変化すると、第1の
インバータI1の出力は0Vから2Vへ変化し、第2の
インバータI2の出力は2Vから0Vへ変換する。これ
により、第1のNチャネルMOSトランジスタTN1は
オンからオフ状態へ移行する。また、第2のNチャネル
MOSトランジスタTN2はオフからオン状態へ移行す
る。両NチャネルMOSトランジスタTN1,TN2が
オン状態へ移行することにより、第2のノードN2の電
位が降下し、第1のPチャネルMOSトランジスタTP
1がオンする。
【0048】そのとき、第1のNチャネルMOSトラン
ジスタTN1がオフ状態へ移行していることにより、第
1のノードN1の電位は上昇する。これらの動作は、第
1のノードN1が完全に電源V1と同電位の3Vとな
り、第2のノードN2が0Vとなって、出力端子Bの電
位がインバータI3によって3Vとなることで終了す
る。第1の入力端子Aからの低電圧振幅信号の電圧が0
Vから2Vへ移行したときは、上記とは逆の動作を行い
出力に0Vが出力する。
【0049】アクティブからスリープに移行するときに
は、レベルシフタ回路のコントロール端子である第2の
入力端子Cの電位を0Vにして、第3の入力端子Dの電
位を3Vにする。これにより第3のNチャネルMOSト
ランジスタTN3はオフし、第4のNチャネルMOSト
ランジスタTN4はオンする。低電圧動作回路からの第
1の入力端子Aの電圧が不定であった場合においても、
第4のNチャネルMOSトランジスタTN4がオンし、
第1のPチャネルMOSトランジスタTP1がオンする
ことで、第1ノードN1が3Vに固定され、第2のPチ
ャネルMOSトランジスタTP2はオフすることによ
り、第2のPチャネルMOSトランジスタTP2による
リーク電流はカットされ、出力端子Bの電圧は3Vに固
定されて不定となることはない。スリープからアクティ
ブに戻るときには、第2の入力端子Cに3Vを入力し第
3の入力端子Dに0Vを入力することで前記通常動作に
戻る。
【0050】以上の動作により入力が不定であることに
よる大きな貫通電流を生じずに安定した接地電圧を出力
するレベルシフタ回路を少ない回路構成素子数で実現で
きる。
【0051】(実施の形態4)また、本発明の第4実施
形態として、図2の第1のNチャネルMOSトランジス
タTN1,第2のNチャネルMOSトランジスタTN
2,第1のPチャネルMOSトランジスタTP1のすべ
て、もしくはそのいずれか1つを低閾値で高電流駆動が
可能なトランジスタとすることにより、高速化とスリー
プ時の低リーク電流を実現するものである。回路非動作
時にはオフ電流の小さな第2のPチャネルMOSトラン
ジスタTP2と第3のNチャネルMOSトランジスタT
N3がオフすることで低オフ電流とすることができる。
【0052】(実施の形態5)図3は本発明の第5実施
形態を説明するための回路図であり、端子の動作は第1
実施形態の回路と全く同様であり、発明の効果も同様で
あるが、加えて差動動作回路部1の動作が対象であり、
各トランジスタのデバイスパラメータの決定が容易であ
る効果を有する。
【0053】すなわち、図3において、第1の電源の電
圧から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力端子A
からの信号を、第2の電源をソースとする第1のNチャ
ネルMOSトランジスタTN1のゲートで受け、第1の
入力端子Aからの信号と逆位相の信号を第2の電源をソ
ースとする第2のNチャネルMOSトランジスタTN2
のゲートで受け、第1のNチャネルMOSトランジスタ
TN1のドレインは第3のNチャネルMOSトランジス
タTN3のソースと接続し、第2のNチャネルMOSト
ランジスタTN2のドレインを第4のNチャネルMOS
トランジスタTN4のソースと接続している。
【0054】第3のNチャネルMOSトランジスタTN
3のドレインを、第1のPチャネルMOSトランジスタ
TP1のドレインと第2のPチャネルMOSトランジス
タTP2のゲートと接続し、第4のNチャネルMOSト
ランジスタTN4のドレインを第1のPチャネルMOS
トランジスタTP1のゲートと第2のPチャネルMOS
トランジスタTP2のドレインと接続しており、第1の
PチャネルMOSトランジスタTP1と第2のPチャネ
ルMOSトランジスタTP2のソースを第1の電源電圧
より大きい第3の電源に接続している。
【0055】第2のPチャネルMOSトランジスタTP
2のドレインを出力端子Bに接続し、第3のPチャネル
MOSトランジスタTP3のドレインを出力端子Bに接
続し、かつ第3のPチャネルMOSトランジスタTN3
のソースを第3の電源に接続している。第3のNチャネ
ルMOSトランジスタTP3と第4のNチャネルMOS
トランジスタTN4と第3のPチャネルMOSトランジ
スタTP3のゲートに第2の入力端子Cを接続し、この
第2の入力端子Cに回路動作時には第3の電源電圧を入
力することによって、第3の電源の電圧から第2の電源
の電圧を振幅とし、かつ第1の入力端子Aからの信号と
同相の信号を出力端子Bより出力し、回路非動作時には
第2の入力端子Cに第2の電源電圧を入力することによ
り、第1の電源の供給を切った場合にも出力端子Bの信
号を第3の電源電圧レベルに固定するように構成してい
る。
【0056】(実施の形態6)図4は本発明の第6実施
形態を説明するための回路図であり、端子の動作は第2
実施形態の回路と全く同様であり、その効果も同様であ
るが、加えて差動動作回路部1の動作が対象であり、各
トランジスタのデバイスパラメータの決定が容易である
効果を有する。
【0057】すなわち、図4において、第1の電源の電
圧から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力端子A
からの信号を、第2の電源をソースとする第1のNチャ
ネルMOSトランジスタTN1のゲートで受け、第1の
入力端子Aからの信号と逆位相の信号を第2の電源をソ
ースとする第2のNチャネルMOSトランジスタTN2
のゲートで受け、第1のNチャネルMOSトランジスタ
TN1のドレインは第3のNチャネルMOSトランジス
タTN3のソースと接続し、第2のNチャネルMOSト
ランジスタTN2のドレインを第4のNチャネルMOS
トランジスタTN4のソースと接続し、第3のNチャネ
ルMOSトランジスタTN3のドレインを第1のPチャ
ネルMOSトランジスタTP1のドレインと第2のPチ
ャネルMOSトランジスタTP2のゲートと接続し、第
4のNチャネルMOSトランジスタTN4のドレインを
第1のPチャネルMOSトランジスタTP1のゲートと
第2のPチャネルMOSトランジスタTP2のドレイン
と接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタTP1
と第2のPチャネルMOSトランジスタTP2のソース
を第1の電源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2
のPチャネルMOSトランジスタTP2のドレインを出
力端子Bに接続し、出力端子Bにドレインを接続しソー
スを第3の電源に接続した第5のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN5を備え、前記第3のNチャネルMOSト
ランジスタTN3と第4のNチャネルMOSトランジス
タTN4のゲートに第2の入力端子Cを接続し、この第
2の入力端子Cに回路動作時には第3の電源電圧を入力
し、第5のNチャネルMOSトランジスタTN5のゲー
トに第3の入力端子Dを接続し、この第3の入力端子D
に第2の電源電圧を入力することによって、第3の電源
の電圧から第2の電源の電圧を振幅とし、かつ前記第1
の入力端子Aからの信号と同相の信号を出力端子Bより
出力し、回路非動作時には第2の入力端子Cに第2の電
源電圧を入力し、第3の入力端子Dに第3の電源電圧を
入力することにより第1の電源の供給を切った場合にも
出力端子Bの信号を第1の電源電圧レベルに固定するよ
うに構成している。
【0058】(実施の形態7)また、本発明の第7実施
形態として、図3,図4の第3のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN3,第4のNチャネルMOSトランジスタ
TN4,第1のPチャネルMOSトランジスタTP1,
第2のPチャネルMOSトランジスタTP2の全て、も
しくはそのいずれか1つを低閾値トランジスタで構成す
ることによって、スリープ時に低リーク電流であって、
安定した接地電圧を出力し、なおかつより高速化が図れ
るようにすることができる。回路非動作時にはオフ電流
の小さな第3のNチャネルMOSトランジスタTN3と
第4のNチャネルMOSトランジスタTN4がオフする
ことで低オフ電流とすることができる。
【0059】(実施の形態8)図5は本発明の第8実施
形態を説明するための回路図であり、第1の電源の電圧
から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力端子Aか
らの信号を、第2の電源をソースとする低閾値で高電流
駆動が可能であって、ゲート電位とドレイン電位間電
圧、またはソース電位とドレイン電位間電圧に対して低
耐圧の第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1の
ゲートで受け、第1の入力端子Aからの信号と逆位相の
信号を第2の電源をソースとする低閾値で高電流駆動が
可能であって、かつゲート電位とドレイン電位間電圧、
またはソース電位とドレイン電位間電圧に対して低耐圧
の第2のNチャネルMOSトランジスタLTN2のゲー
トで受け、第1のNチャネルMOSトランジスタLTN
1のドレインはゲート電位とドレイン電位間電圧、また
はソース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧の第
3のNチャネルMOSトランジスタTN3のソースと接
続し、第2のNチャネルMOSトランジスタLTN2の
ドレインをゲート電位とドレイン電位間電圧、またはソ
ース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧の第4の
NチャネルMOSトランジスタTN4のソースと接続し
ている。
【0060】第3のNチャネルMOSトランジスタTN
3のドレインを、第1のPチャネルMOSトランジスタ
TP1のドレインと第2のPチャネルMOSトランジス
タTP2のゲートと接続し、第4のNチャネルMOSト
ランジスタTN4のドレインを第1のPチャネルMOS
トランジスタTP1のゲートと第2のPチャネルMOS
トランジスタTP2のドレインと接続しており、第1の
PチャネルMOSトランジスタTP1と第2のPチャネ
ルMOSトランジスタTP2のソースを第1の電源電圧
より大きい第3の電源に接続し、第2のPチャネルMO
SトランジスタTP2のドレインを出力端子Bに接続し
て、第5のNチャネルMOSトランジスタTN5のドレ
インを出力端子Bに接続し、かつ第5のNチャネルMO
SトランジスタTN5のソースを第2の電源に接続して
いる。
【0061】第3のNチャネルMOSトランジスタTN
3と第4のNチャネルMOSトランジスタTN4のゲー
トに第2の入力端子Cを接続し、この第2の入力端子C
に回路動作時には前記第1のNチャネルMOSトランジ
スタLTN1および第2のNチャネルMOSトランジス
タLTN2のゲート耐圧範囲内の第4の電源電圧を入力
し、第5のNチャネルMOSトランジスタTN5のゲー
トに第3の入力端子Dを接続し、この第3の入力端子D
には第2の電源電圧を入力することによって、出力端子
Bより第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を振幅と
し、かつ第1の入力端子Aからの信号と同相の信号を出
力し、回路非動作時には第2の入力端子Cに第2の電源
電圧を入力し、第3の入力端子Dに第3の電源電圧もし
くは第4の電源電圧を入力することによって、出力端子
Bの信号が第2の電源電圧に固定され、第1の電源の供
給を切った場合にも出力端子Bの信号を第2の電源電圧
レベルに固定するように構成している。
【0062】次に、第8実施形態の回路において、例と
して、低電圧振幅が0Vから2Vの信号を0Vから3V
の振幅電圧で動作する論理回路ブロックに入力する場合
を説明する。ここで、高電流駆動に関しては低耐圧トラ
ンジスタのゲートとドレイン間の耐圧電圧を2Vとす
る。
【0063】アクティブ時に、レベルシフタ回路の動作
コントロール端子である第2の入力端子C及び第3の入
力端子Dには、それぞれ第2の入力端子Cに2V、第3
の入力端子Dに0Vが入力されて、第3のNチャネルM
OSトランジスタTN3と第4のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN4はオンし、第5のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN5はオフしている。まず第1の入力端子A
における低電圧振幅信号の電圧が2Vのとき、2V電圧
動作の第1のインバータI1の出力は0Vであり、2V
電圧動作の第2のインバータI2の出力は2Vである。
第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1は第2の
インバータI2の出力によりオンしており、第2のNチ
ャネルMOSトランジスタLTN2は第1のインバータ
I1の出力によりオフしている。
【0064】第2のノードN2は3Vの電源V1の電位
と同電位の3Vであり、第1のPチャネルMOSトラン
ジスタTP1はオフしており、第1のノードN1は0V
であり、第2のPチャネルMOSトランジスタTP2は
オンしている。第2のノードN2に3Vの電位があり、
第1のインバータI1の出力が0Vのために、第3のN
チャネルMOSトランジスタTN3が存在していない場
合には、ゲートとドレイン間に3Vの電圧がかかり、低
耐圧のトランジスタのゲートは破壊されてしまうが、図
5に示す回路ではゲート電圧が2Vの第3のNチャネル
MOSトランジスタTN3があるために、高電流駆動す
る第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1のゲー
トとドレイン間には、2Vから第1のNチャネルMOS
トランジスタLTN1の閾値電圧の電位しかかからな
い。
【0065】そして、出力端子Bからの高電圧振幅動作
回路への入力信号は高電圧動作の第3のインバータI3
を介して0Vが出力される。第1入力端子Aにおける低
電圧振幅信号の電圧が2Vから0Vに変化すると、第1
のインバータI1の出力は0Vから2Vへ変化し、第2
のインバータI2の出力は2Vから0Vへ変換する。こ
れにより、第3のNチャネルMOSトランジスタTN3
はオンからオフ状態へ移行する。また、第4のNチャネ
ルMOSトランジスタTN4はオフからオン状態へ移行
する。両NチャネルMOSトランジスタTN3,TN4
がオン状態へ移行することにより第2のノードN2の電
位が降下し、第1のPチャネルMOSトランジスタTP
1がオンする。そのとき、第3のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN3がオフ状態へ移行していることにより、
第1のノードN1の電位は上昇する。
【0066】これらの動作は、第1のノードN1が完全
に電源V1と同電位の3Vとなり、第2のノードN2が
0Vとなり、出力端子Bの電位が第3のインバータI3
によって3Vとなることによって終了する。第1の入力
端子Aにおける低電圧振幅信号の電圧が0Vから2Vへ
移行したときは、上記とは逆の動作を行い出力端子Bに
0Vが出力される。このときには、高電流駆動する低耐
圧の第2のNチャネルMOSトランジスタLTN2には
第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1と同様
に、第4のNチャネルMOSトランジスタTN4によ
り、耐圧上許容される電圧しかかからない。
【0067】スリープに移行するときには、レベルシフ
タ回路のコントロール端子である第2の入力端子Cの電
位を0Vにし、第3の入力端子Dの電位を3Vにする。
これにより第3のNチャネルMOSトランジスタTN3
と第4のNチャネルMOSトランジスタTN4はオフ
し、第5のNチャネルMOSトランジスタTN5はオン
する。第1の入力端子Aにおける低電圧動作回路からの
入力の電圧が不定であった場合においても、第5のNチ
ャネルMOSトランジスタTN5がオンし、第1のPチ
ャネルMOSトランジスタTP1がオンすることによ
り、第1のノードN1が3Vに固定され、第2のPチャ
ネルMOSトランジスタTP2がオフすることにより、
第4のNチャネルMOSトランジスタTN4によってリ
ーク電流がカットされ、出力端子Bの電圧は3Vに固定
され、不定となることはない。
【0068】スリープからアクティブに戻るときには、
第2の入力端子Cに2Vを入力し、第3の入力端子Dに
0Vを入力することにより前記通常動作に戻る。
【0069】以上の動作により入力が不定であることに
よる大きな貫通電流を生じずに安定した接地電圧を出力
することができ、高駆動電流能力ではあるが低耐圧のト
ランジスタを使用することを可能にした高速なレベルシ
フタ回路を実現できる。
【0070】(実施の形態9)図6は本発明の第9実施
形態を説明するための回路図であり、第8実施形態の回
路とはレベルシフタ回路のコントロール端子である第3
の入力端子Dのコントロール方法とスリープ時の出力端
子Bへの出力電圧が3Vを出力可能である点で異なる。
【0071】その回路における入力,出力端子の関連構
造を具体的に説明する。図6において、第1の電源の電
圧から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力端子A
からの信号を、図5の回路と同様に、第2の電源をソー
スとする低閾値で高電流駆動が可能であり、かつゲート
電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位とドレイ
ン電位間電圧に対して低耐圧の第1のNチャネルMOS
トランジスタLTN1のゲートで受け、第1の入力端子
Aからの信号と逆位相の信号を第2の電源をソースとす
る低閾値で高電流駆動が可能であり、かつゲート電位と
ドレイン電位間電圧、またはソース電位とドレイン電位
間電圧に対して低耐圧の第2のNチャネルMOSトラン
ジスタLTN2のゲートで受けるようになっており、第
2のPチャネルMOSトランジスタTP2のドレインを
出力端子Bに接続し、第3のPチャネルMOSトランジ
スタTP3のドレインを出力端子Bに接続し、かつ第3
のPチャネルMOSトランジスタTP3のソースを第2
の電源に接続している。
【0072】そして、第3のNチャネルMOSトランジ
スタTN3および第4のNチャネルMOSトランジスタ
TN4のゲートに第2の入力端子Cを接続し、この第2
の入力端子Cに回路動作時には第1のNチャネルMOS
トランジスタLTN1および第2のNチャネルMOSト
ランジスタLTN2のゲート耐圧範囲内の第4の電源電
圧を入力し、第3のPチャネルMOSトランジスタTP
3のゲートに第3の入力端子Dを接続し、この第3の入
力端子Dには第3の電源電圧を入力することによって、
第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を振幅とし、か
つ第1の入力端子Aからの信号と同相の信号を出力端子
Bより出力し、回路非動作時には第2の入力端子Cに第
2の電源電圧を入力し、第3の入力端子Dに第2の電源
電圧を入力することによって出力端子Bの信号が第3の
電源電圧に固定され、第1の電源の供給を切った場合に
も出力端子Bの信号を第3の電源電圧レベルに固定する
ように構成している。
【0073】前記構成の回路において、レベルシフタ回
路のコントロール端子である第3の入力端子Dはアクテ
ィブ時には3Vが入力され、スリープ時には0Vが入力
される。第3のPチャネルMOSトランジスタTP3が
第3の入力端子Dの入力によりアクティブ時にオフし、
スリープ時にオンすることにより、アクティブ時には第
1の入力端子Aの電位変化に伴った動作を出力端子Bが
行うことになるが、スリープ時には3Vに固定される。
【0074】(実施の形態10)図7は本発明の第10実施
形態を説明するための回路図であり、基本的には第1実
施形態の回路と同様であるが、アクティブ時とスリープ
時をコントロールするトランジスタの構成が異なる。
【0075】特に、その回路における入力,出力端子の
関連構造を具体的に説明する。図7において、第1の電
源の電圧から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力
端子Aからの信号を、第2の電源をソースとする第1の
NチャネルMOSトランジスタTN1のゲートで受け、
第1の入力端子Aからの信号と逆位相の信号を第2の電
源をソースとする第2のNチャネルMOSトランジスタ
TN2のゲートで受けており、第2のNチャネルMOS
トランジスタTN2のドレインを出力端子Bに接続し、
第3のNチャネルMOSトランジスタTN3のドレイン
を出力端子Bに接続し、かつ第3のNチャネルMOSト
ランジスタTN3のソースを第2の電源に接続してい
る。
【0076】第3のNチャネルMOSトランジスタTN
3と第3のPチャネルMOSトランジスタTP3のゲー
トに第2の入力端子Cを接続し、この第2の入力端子C
に回路動作時には第2の電源電圧を入力することによっ
て、第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を振幅と
し、かつ第1の入力端子Aからの信号と同相の信号を出
力端子Bより出力し、回路非動作時には第3の電源電圧
を入力することによって第1の電源の供給を切った場合
にも出力端子Bの信号を第2の電源電圧レベルに固定す
るように構成している。
【0077】前記構成の回路において、第3のPチャネ
ルMOSトランジスタTP3を3Vの電源V1と第1の
PチャネルMOSトランジスタTP1と第2のPチャネ
ルMOSトランジスタTP2のソースとの間に接続し、
アクティブ時には第2の入力端子Cに0V、スリープ時
には第2の入力端子Cに3Vを入力する。出力端子Bの
動作は動作時には第1の入力端子Aの変化に伴って変化
し、スリープ時には0Vを出力する。本例の回路の特徴
は、素子数が少なく、また差動動作回路部1の回路構成
が対称であるために、設計が容易になる点とスリープ時
に0Vを出力可能となる点である。
【0078】(実施の形態11)また、本発明の第11実施
形態として、図7のトランジスタのなかで、第1のNチ
ャネルMOSトランジスタTN1と第2のNチャネルM
OSトランジスタTN2と第1のPチャネルMOSトラ
ンジスタTP1と第2のPチャネルMOSトランジスタ
TP2の少なくとも1つに、高電流駆動が可能であるが
オフ電流リークが大きいデバイスパラメータを有するト
ランジスタを用い、電圧変換回路の高速化を可能にし、
回路非動作時にはオフ電流の小さな第3のPチャネルM
OSトランジスタTP3がオフすることで低オフ電流と
なるように構成することが考えられる。
【0079】(実施の形態12)図8は本発明の第12実施
形態を説明するための回路図であり、この回路は基本動
作は第1実施形態の回路と同様であるが、アクティブ時
とスリープ時をコントロールするトランジスタの構成が
異なる。
【0080】特に、その回路における入力,出力端子の
関連構造を具体的に説明する。図8において、第1の電
源の電圧から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力
端子Aからの信号を、第1のNチャネルMOSトランジ
スタTN1のゲートで受け、第1の入力端子Aからの信
号と逆位相の信号を第2のNチャネルMOSトランジス
タTN2のゲートで受けており、第2のPチャネルMO
SトランジスタTP2のドレインを出力端子Bに接続
し、第3のPチャネルMOSトランジスタTP3ドレイ
ンを出力端子Bに接続し、第3のPチャネルMOSトラ
ンジスタTP3のソースを第3の電源に接続している。
【0081】第3のPチャネルMOSトランジスタTP
3と第3のNチャネルMOSトランジスタTN3のゲー
トに第2の入力端子Cを接続し、この第2の入力端子C
に回路動作時には第3の電源電圧を入力することによっ
て、第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を振幅と
し、かつ第1の入力端子Aからの信号と同相の信号を出
力端子Bより出力し、回路非動作時には第2の入力端子
Cに第2の電源電圧を入力することにより第1の電源の
供給を切った場合にも出力端子Bの信号を第3の電源電
圧レベルに固定するように構成している。
【0082】前記構成の回路において、第3のNチャネ
ルMOSトランジスタTN3を、接地電源0Vと第1の
NチャネルMOSトランジスタTN1と第2のNチャネ
ルMOSトランジスタTN2のソースとの間に接続し、
アクティブ時には第2の入力端子Cに3V、スリープ時
には第2の入力端子Cに0Vを入力する。出力端子Bの
動作は、動作時には入力端子Aの変化に伴って変化し、
スリープ時には3Vを出力する。この回路の特徴として
は、素子数が少なく、また差動動作回路部1の回路構成
が対称であるために設計が容易になる点と、スリープ時
に3Vを出力することが可能となる点である。
【0083】(実施の形態13)また、本発明の第13実施
形態として、図8のトランジスタのなかで、第1のPチ
ャネルMOSトランジスタTP1と、第2のPチャネル
MOSトランジスタTP2と、第1のNチャネルMOS
トランジスタTN1と、第2のNチャネルMOSトラン
ジスタTN2のトランジスタのすべて、あるいはいずれ
か1つを高駆動能力トランジスタとすることで電圧変換
回路の高速化を可能にし、回路非動作時にはオフ電流の
小さな第3のNチャネルMOSトランジスタTN3がオ
フすることで低オフ電流となるように構成することが考
えられる。
【0084】(実施の形態14)図9は本発明の第14実施
形態を説明するための回路図であり、第1の電源の電圧
から第2の電源の電圧を振幅とする第1の入力端子Aか
らの信号を、第2の電源をソースとする低閾値で高電流
駆動が可能であり、かつゲート電位とドレイン電位間電
圧、またはソース電位とドレイン電位間電圧に対して低
耐圧の第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1の
ゲートで受け、第1の入力端子Aからの信号と逆位相の
信号を第2の電源をソースとする低閾値で高電流駆動が
可能であり、かつゲート電位とドレイン電位間電圧、ま
たはソース電位とドレイン電位間電圧に対して低耐圧の
第2のNチャネルMOSトランジスタLTN2のゲート
で受けている。
【0085】第1のNチャネルMOSトランジスタLT
N1のドレインはゲート電位とドレイン電位間電圧、ま
たはソース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧の
第3のNチャネルMOSトランジスタTN3のソースと
接続し、第2のNチャネルMOSトランジスタLTN2
のドレインをゲート電位とドレイン電位間電圧、または
ソース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧の第4
のNチャネルMOSトランジスタTN4のソースと接続
し、第3のNチャネルMOSトランジスタTN3のドレ
インを第1のPチャネルMOSトランジスタTP1のド
レインと第2のPチャネルMOSトランジスタTP2の
ドレインと第4のNチャネルMOSトランジスタTN4
のゲートおよび第1の入力端子Aからの信号の逆位相の
信号をゲートに入力した第5のNチャネルMOSトラン
ジスタTN5のソースと接続している。
【0086】さらに、第4のNチャネルMOSトランジ
スタTN4のドレインを第1のPチャネルMOSトラン
ジスタTP1のゲートと第2のPチャネルMOSトラン
ジスタTP2のドレインと第3のNチャネルMOSトラ
ンジスタTN3のゲートおよび第1の入力端子Aからの
信号をゲートに入力した第6のNチャネルMOSトラン
ジスタTN6のソースと接続し、第1のPチャネルMO
SトランジスタTP1と第2のPチャネルMOSトラン
ジスタTP2のソースと第5のNチャネルMOSトラン
ジスタTN5と第6のNチャネルMOSトランジスタT
N6のドレインを第1の電源電圧より大きい第3の電源
に接続し、第2のPチャネルMOSトランジスタTP2
のドレインを出力端子Bに接続している。
【0087】そして、入力信号が固定されている場合
に、第5のNチャネルMOSトランジスタTN5もしく
は第6のNチャネルMOSトランジスタTN6によっ
て、第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1もし
くは第2のNチャネルMOSトランジスタLTN2のオ
フトランジスタのオフ電流が小さくなるように構成にし
ている。
【0088】前記構成の回路において、例として低電圧
振幅が0Vから2Vの信号を0Vから3Vの振幅電圧で
動作する論理回路ブロックに入力する場合を説明する。
【0089】まず、第1の入力端子Aにおける低電圧振
幅信号の電圧が2Vのとき、2V電圧動作の第1のイン
バータI1の出力は0Vであり、2V電圧動作の第2の
インバータI2の出力は2Vである。また、そのとき、
第1のNチャネルMOSトランジスタLTN1と第6の
NチャネルMOSトランジスタTN6は、第2のインバ
ータI2の出力によりオンしており、第2のNチャネル
MOSトランジスタLTN2と第5のNチャネルMOS
トランジスタTN5は、第1のインバータI1の出力に
よりオフする。
【0090】このとき、第2のノードN2は3Vの電源
V1の電位と同電位の3Vであり、第1のPチャネルM
OSトランジスタTP1はオフしており、第3のNチャ
ネルMOSトランジスタTN3はオンしている。第1の
ノードN1は0Vであり、第2のPチャネルMOSトラ
ンジスタTP2はオンしており、第4のNチャネルMO
SトランジスタTN4はオフしている。このとき、出力
端子Bからの高電圧振幅動作回路への入力信号は、高電
圧動作の第3のインバータI3を介して0Vが出力され
る。
【0091】第1の入力端子Aにおける低電圧振幅信号
の電圧が2Vから0Vに変化すると、第1のインバータ
I1の出力は0Vから2Vへ変化し、第2のインバータ
I2の出力は2Vから0Vへ変換する。これにより、第
3のNチャネルMOSトランジスタTN3と第6のNチ
ャネルMOSトランジスタTN6はオンからオフ状態へ
移行する。また、第4のNチャネルMOSトランジスタ
TN4と第5のNチャネルMOSトランジスタTN5は
オフからオン状態へ移行する。第1のNチャネルMOS
トランジスタLTN1がオフとなり、第5のNチャネル
MOSトランジスタTN5がオンすることにより、第1
のノードN1の電位が上昇し、第2のPチャネルMOS
トランジスタTP2がオン状態からオフの状態へと移行
し、第4のNチャネルMOSトランジスタTN4がオフ
からオンへと移行する。これにより第2のノードN2の
電位が下降する。
【0092】これらの動作は第1のノードN1が完全に
電源V1と同電位の3Vとなり、第2のノードN2が0
Vとなり、出力端子Bの電位が第3のインバータI3に
よって3Vとなることで動作が終了する。第1の入力端
子Aにおける低電圧振幅信号の電圧が0Vから2Vへ移
行したときは、上記とは逆の動作を行い出力端子Bに0
Vが出力する。
【0093】なお、前記動作において第1のNチャネル
MOSトランジスタLTN1と第2のNチャネルMOS
トランジスタLTN2は、高電流駆動するトランジスタ
である。高電流駆動するトランジスタを実現するために
はトランジスタの閾値電圧を下げることが考えられる
が、これによりトランジスタのオフ電流が桁違いに大き
くなる問題がある。
【0094】前記問題をゲート電圧が0Vから3V変化
する第3のNチャネルMOSトランジスタTN3と第4
のNチャネルMOSトランジスタTN4を用い、第1の
NチャネルMOSトランジスタLTN1がオフのとき
は、第3のNチャネルMOSトランジスタTN3をオフ
にしてリーク電流を小さくし、第2のNチャネルMOS
トランジスタLTN2がオフのときは、第4のNチャネ
ルMOSトランジスタTN4をオフにしてリーク電流を
小さくしている。
【0095】第5のNチャネルMOSトランジスタTN
5と第6のNチャネルMOSトランジスタTN6は、例
えば第1のノードN1の電圧が0Vで、第2のノードN
2の電圧が3Vであり、第1のNチャネルMOSトラン
ジスタLTN1がオンからオフに移行したときに、第5
のNチャネルMOSトランジスタTN5により第1のノ
ードN1の電位をより早く持ち上げる働きをする。第6
のNチャネルMOSトランジスタTN6も同様の作用を
する。ゲート電圧が0Vから3Vの振幅を持つ第3のN
チャネルMOSトランジスタTN3と第5のNチャネル
MOSトランジスタTN5と、高電流駆動する第1のN
チャネルMOSトランジスタLTN1と第2のNチャネ
ルMOSトランジスタLTN2により、高速で低オフ電
流のレベルシフタ回路となる。
【0096】(実施の形態15)図10は本発明の第15実施
形態を説明するための回路図であり、2Vの低電圧電源
2はPチャネルMOSトランジスタ(スイッチングトラ
ンジスタ)6を介して低電圧振幅動作の論理ブロック4
に電源を供給しており、低電圧動作の第1のインバータ
I1による出力から高電圧電源V1により電源を供給
し、高電圧振幅動作する論理ブロック10へブロック間配
線7を介して入力する場合の回路例である。
【0097】配線3は本例では仮に共通の接地電源とす
る。図中の8はNチャネルMOSトランジスタ(ダウン
コンバータ)であり、9は本例では第5実施形態に示し
た回路構成のレベルシフタ回路の差動回路と出力プルア
ップトランジスタ部分である。さらに、5は低電圧電源
供給用のスイッチトランジスタ6をコントロールする端
子であり、同時にレベルシフタ回路の出力を固定する端
子でもある。
【0098】アクティブ時、端子5は0Vであり、この
ため高電圧電源動作の第4のインバータI4を介してN
チャネルMOSトランジスタ8とレベルシフタ回路9に
は3V入力する。NチャネルMOSトランジスタ8の閾
値電圧を1Vとすると、第2のインバータI2のPチャ
ネルMOSトランジスタのソース電圧は2Vとなる。第
1のインバータI1から出力された低電圧振幅信号は、
高電圧振幅動作する論理ブロック10内の第2のインバー
タI2により逆位相の信号となり、第1のインバータI
1の出力とその逆位相の信号により電圧変換回路が動作
し、高電圧電源動作の第3のインバータI3より第1の
インバータI1の出力と同位相の信号が出力される。
【0099】スリープ時は、端子5に3Vを入力する
と、低電圧電源から低電圧振幅動作する論理ブロック4
への電力供給が切られ、NチャネルMOSトランジスタ
8がオフし、レベルシフタ回路の入力は不定となるが、
レベルシフタ回路の出力は第5実施形態の回路にて説明
したように第3のインバータI3の出力は0Vとなる。
これによって、低電圧振幅の正位相信号と逆位相を必要
とする電源変換回路が、入力をブロック間で1つの配線
とし、また2V電源動作の論理ブロックに3V電源を入
力することも、3V電源動作の論理ブロックに2V電源
を入力することなく実現できることになる。
【0100】次に、本発明に係る回路レイアウト構造の
一実施形態を説明するための構成図であり、図11の(a)
は半導体装置の全体の概略図、(b)は(a)における出力
セル部の構成を説明するための拡大図、(c)は(b)の具
体的構成のブロック図であり、半導体装置内部の論理回
路部11を低電圧動作とし、半導体装置外部への出力波
形、および入力波形が高電圧の電位振幅で行う場合の構
成例を示してある。図11において、14は出力セル部12内
の低電圧電源配線、15は出力セル部12の出力バッファ部
21の接地電源配線、16は出力セル部12の出力バッファ部
21の高電圧電源配線、17はワイヤボンディングパットで
ある。
【0101】本例では、セルベースレイアウト設計(も
しくはゲートアレイレイアウト設計)の半導体装置内部
の論理回路部11の電源電圧は2Vであり、チップからの
出力電圧振幅を3Vとし、制御回路18によって論理回路
11部のスリープ時には半導体装置外部からの内部電源の
供給を切る制御信号を出力して消費電力の削減を行い、
論理回路部11のアクティブ時には、内部電源の供給を行
う制御信号が出力されていると仮定する。
【0102】アクティブ時、出力セル部12へ入力する2
V振幅の信号20をレベルシフタ回路19にて3Vへ変換
し、出力バッファ部21から信号を出力するように構成し
てある。ところで、スリープ時には、論理回路部11から
の信号電圧が不定となり、出力セル部12内のレベルシフ
タ回路部19,出力バッファ部21が不定となる。しかし、
前記第1実施形態〜第13実施形態の回路により、スリー
プ時にレベルシフタ回路部19の状態と出力を固定するこ
とによって、出力セル部12からの出力を固定することが
できる。
【0103】しかしながら、レベルシフタ回路19として
第1実施形態〜第14実施形態の回路を採用する際には、
レベルシフタ回路19をアクティブ時の状態にするか、ス
リープ時の状態にするかを制御するための制御端子13が
必要であり、さらに信号配線の引き回しも必要となる。
【0104】そこで、第1実施形態〜第14実施形態の回
路の中から採用された回路においては、全ての入力,出
力セルおよびその他の電源セル等に、予め電源変換回路
の制御配線(制御端子)13および低電圧電源配線14を具備
しておき、セルを配置するだけで配線が接続される構成
とする。これにより、レイアウト面積の削減と開発期間
の削減を実現できる。
【0105】第1実施形態〜第14実施形態の回路にて説
明すれば、同回路の全ての入力セルと出力セルに、所定
の方向に延びる前記第1の電源電圧V1の配線と、前記
第2の入力端子Cもしくは第3の入力端子Dのいずれか
一方の配線または両方の配線とを設置し、前記入力セル
と出力セルを自動配置もしくは手動にて配置するだけで
レベルシフタ回路の電源と制御信号端子および/もしく
はウエルとが接続されるように構成する。また、第2実
施形態,第4実施形態,第7実施形態,第8実施形態,
第9実施形態,第11実施形態,第13実施形態の回路にお
いては、高電流駆動が可能なトランジスタ共通ウエルを
備えるようにする。
【0106】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入力信号電圧が不定となった際のレベルシフタ回路の貫
通電流を無くすことができ、入力電圧が不定であっても
レベルシフタ回路からの出力電圧を固定することが可能
となり、高電流駆動であるがオフ電流が大きいトランジ
スタを使用した場合でも、スリープ時にオフ電流を削減
するため、低消費電力で高速動作することができる。高
電流駆動であるが低耐圧のトランジスタを使用すること
が可能であって回路が高速に動作する。
【0107】しかも、異電位のブロック間の配線を削減
することができるため、レイアウト面積を小さくするこ
とができる。
【0108】また、レベルシフタ回路をセルベースレイ
アウトの出力セルに内蔵する場合に回路の制御信号配線
を全ての入力,出力及び電源セル等に備え、セルを配置
するだけで配線が接続することが可能になり、レイアウ
ト作業の省力化を可能にすると共に、レイアウト面積も
削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体論理回路の第1実施形態を
説明するための回路図である。
【図2】本発明に係る半導体論理回路の第3実施形態を
説明するための回路図である。
【図3】本発明に係る半導体論理回路の第5実施形態を
説明するための回路図である。
【図4】本発明に係る半導体論理回路の第6実施形態を
説明するための回路図である。
【図5】本発明に係る半導体論理回路の第8実施形態を
説明するための回路図である。
【図6】本発明に係る半導体論理回路の第9実施形態を
説明するための回路図である。
【図7】本発明に係る半導体論理回路の第10実施形態を
説明するための回路図である。
【図8】本発明に係る半導体論理回路の第12実施形態を
説明するための回路図である。
【図9】本発明に係る半導体論理回路の第14実施形態を
説明するための回路図である。
【図10】本発明に係る半導体論理回路の第15実施形態
を説明するための回路図である。
【図11】本発明に係る回路レイアウト構造の一実施形
態を説明するための構成図であり、(a)は半導体装置の
全体の概略図、(b)は(a)における出力セル部の構成を
説明するための拡大図、(c)は(b)の具体的構成のブロ
ック図である。
【図12】従来のレベルシフタ回路の一例を示す回路図
である。
【符号の説明】
1…レベルシフタ回路の差動動作回路部およびプルアッ
プトランジスタもしくはプルダウントランジスタ、 2
…低電圧電源、 3…接地電源、 4…低電圧振幅動作
の論理ブロック、 5…低電圧電源供給スイッチトラン
ジスタのコントロール端子、 6…低電圧電源供給スイ
ッチトランジスタ、 7…低電圧電源動作回路の出力か
ら高電圧電源動作回路へ入力するブロック間配線、 8
…ダウンコンバータ(NチャネルMOSトランジス
タ)、 9…レベルシフタ回路の差動回路と出力プルア
ップトランジスタ、 10…高電圧振幅動作する論理ブロ
ック、11…半導体装置内部の論理回路部、 12…出力セ
ル部、 13…レベルシフタ回路の制御端子、 14…出力
セル内の低電圧電源配線、 15…出力セルの出力バッフ
ァ回路の接地電源配線、 16…出力セルの出力バッファ
回路高電圧電源配線、17…ワイヤーボンディングパッ
ド、 18…スリープ−アクティブ制御回路、 19…レベ
ルシフタ回路、 20…出力セルの入力端子、 21…出力
バッファ部、 V1…高電圧電源(実施の形態では3V
電源)、 A…レベルシフタ回路の入力端子(低電圧振
幅信号)、 B…レベルシフタ回路の出力端子(高電圧
振幅信号)、 C…レベルシフタ回路の入力端子(制御
端子)、 D…レベルシフタ回路の入力端子(制御端
子)、 I1…低電圧振幅インバータ、 I2…低電圧
振幅インバータ、 I3…高電圧振幅インバータ、 N
1,N2…レベルシフタ回路のノード、 TP1,TP
2,TP3…PチャネルMOSトランジスタ、 TN
1,TN2,TN3,TN4,TN5…NチャネルMO
Sトランジスタ、 LTN1,LTN2…高駆動電流
(高オフリーク電流,低耐圧)NチャネルMOSトランジ
スタ。

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の電源の電圧から第2の電源の電圧
    を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする第1のNチャネルMOSトランジスタの
    ゲートで受け、第1の入力端子からの信号と逆位相の信
    号を第2の電源をソースとする第2のNチャネルMOS
    トランジスタのゲートで受け、第2のNチャネルMOS
    トランジスタのドレインを第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのソースと接続し、第1のNチャネルMOSト
    ランジスタのドレインを第1のPチャネルMOSトラン
    ジスタのドレインと第2のPチャネルMOSトランジス
    タのゲートと接続し、第3のNチャネルMOSトランジ
    スタのドレインを第1のPチャネルMOSトランジスタ
    のゲートと第2のPチャネルMOSトランジスタのドレ
    インと接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタと
    第2のPチャネルMOSトランジスタのソースを第1の
    電源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2のPチャ
    ネルMOSトランジスタのドレインを出力端子に接続
    し、出力端子にドレインを接続しソースを第3の電源に
    接続した第3のPチャネルMOSトランジスタを備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタと第3のPチ
    ャネルMOSトランジスタのゲートに第2の入力端子を
    接続し、この第2の入力端子に回路動作時には前記第3
    の電源電圧を入力することによって、前記出力端子より
    第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を振幅とし、か
    つ前記第1の入力端子からの信号と同相の信号を出力
    し、回路非動作時には前記第2の入力端子に第2の電源
    電圧を入力することにより、第1の電源の供給を切った
    場合にも出力端子信号を第3の電源電圧レベルに固定す
    るように構成したことを特徴とする半導体論理回路。
  2. 【請求項2】 前記第1のNチャネルMOSトランジス
    タと第2のNチャネルMOSトランジスタと第2のPチ
    ャネルMOSトランジスタの少なくとも1つに、高電流
    駆動が可能であるがオフ電流の大きいデバイスパラメー
    タを有するトランジスタを用い、回路非動作時にはオフ
    電流の小さな第1のPチャネルMOSトランジスタと第
    2のNチャネルMOSトランジスタあるいはそれに相当
    するトランジスタがオフするように構成したことを特徴
    とする請求項1記載の半導体論理回路。
  3. 【請求項3】 第1の電源の電圧から第2の電源の電圧
    を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする第1のNチャネルMOSトランジスタの
    ゲートで受け、第1の入力端子からの信号と逆位相の信
    号を第2の電源をソースとする第2のNチャネルMOS
    トランジスタのゲートで受け、第1のNチャネルMOS
    トランジスタのドレインを第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのソースと接続し、第2のNチャネルMOSト
    ランジスタのドレインを第2のPチャネルMOSトラン
    ジスタのドレインと第1のPチャネルMOSトランジス
    タのゲートと接続し、第3のNチャネルMOSトランジ
    スタのドレインを第2のPチャネルMOSトランジスタ
    のゲートと第1のPチャネルMOSトランジスタのドレ
    インと接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタと
    第2のPチャネルMOSトランジスタのソースを第1の
    電源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2のPチャ
    ネルMOSトランジスタのドレインを出力端子に接続
    し、出力端子にドレインを接続しソースを第3の電源に
    接続した第4のNチャネルMOSトランジスタを備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタのゲートに第
    2の入力端子を接続し、この第2の入力端子に回路動作
    時には第3の電源電圧を入力し、前記第4のNチャネル
    MOSトランジスタのゲートに第3の入力端子を接続
    し、この第3の入力端子に第2の電源電圧を入力するこ
    とによって、前記出力端子より第3の電源の電圧から第
    2の電源の電圧を振幅とし、かつ前記第1の入力端子か
    らの信号と同相の信号を出力し、回路非動作時には前記
    第2の入力端子に第2の電源電圧を入力し、前記第3の
    入力端子に第3の電源電圧を入力することにより第1の
    電源の供給を切った場合にも出力端子信号を第2の電源
    電圧レベルに固定するように構成したことを特徴とする
    半導体論理回路。
  4. 【請求項4】 前記第1のNチャネルMOSトランジス
    タと第2のNチャネルMOSトランジスタと第1のPチ
    ャネルMOSトランジスタの少なくとも1つに、高電流
    駆動が可能であるがオフ電流の大きいデバイスパラメー
    タを有するトランジスタを用い、回路非動作時にはオフ
    電流の小さな第2のPチャネルMOSトランジスタと第
    3のNチャネルMOSトランジスタがオフするように構
    成したことを特徴とする請求項1記載の半導体論理回
    路。
  5. 【請求項5】 第1の電源の電圧から第2の電源の電圧
    を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする第1のNチャネルMOSトランジスタの
    ゲートで受け、第1の入力端子からの信号と逆位相の信
    号を第2の電源をソースとする第2のNチャネルMOS
    トランジスタのゲートで受け、第1のNチャネルMOS
    トランジスタのドレインは第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのソースと接続し、第2のNチャネルMOSト
    ランジスタのドレインを第4のNチャネルMOSトラン
    ジスタのソースと接続し、第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのドレインを第1のPチャネルMOSトランジ
    スタのドレインと第2のPチャネルMOSトランジスタ
    のゲートと接続し、第4のNチャネルMOSトランジス
    タのドレインを第1のPチャネルMOSトランジスタの
    ゲートと第2のPチャネルMOSトランジスタのドレイ
    ンと接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタと第
    2のPチャネルMOSトランジスタのソースを第1の電
    源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2のPチャネ
    ルMOSトランジスタのドレインを出力端子に接続し、
    出力端子にドレインを接続しソースを第3の電源に接続
    した第3のPチャネルMOSトランジスタを備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタと前記第4の
    NチャネルMOSトランジスタと前記第3のPチャネル
    MOSトランジスタのゲートに第2の入力端子を接続
    し、この第2の入力端子に回路動作時には第3の電源電
    圧を入力することによって、出力端子より第3の電源の
    電圧から第2の電源の電圧を振幅とし、かつ前記第1の
    入力端子からの信号と同相の信号を出力し、回路非動作
    時には前記第2の入力端子に第2の電源電圧を入力する
    ことにより第1の電源の供給を切った場合にも出力端子
    信号を第3の電源電圧レベルに固定するように構成した
    ことを特徴とする半導体論理回路。
  6. 【請求項6】 第1の電源の電圧から第2の電源の電圧
    を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする第1のNチャネルMOSトランジスタの
    ゲートで受け、第1の入力端子からの信号と逆位相の信
    号を第2の電源をソースとする第2のNチャネルMOS
    トランジスタのゲートで受け、第1のNチャネルMOS
    トランジスタのドレインは第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのソースと接続し、第2のNチャネルMOSト
    ランジスタのドレインを第4のNチャネルMOSトラン
    ジスタのソースと接続し、第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのドレインを第1のPチャネルMOSトランジ
    スタのドレインと第2のPチャネルMOSトランジスタ
    のゲートと接続し、第4のNチャネルMOSトランジス
    タのドレインを第1のPチャネルMOSトランジスタの
    ゲートと第2のPチャネルMOSトランジスタのドレイ
    ンと接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタと第
    2のPチャネルMOSトランジスタのソースを第1の電
    源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2のPチャネ
    ルMOSトランジスタのドレインを出力端子に接続し、
    出力端子にドレインを接続しソースを第3の電源に接続
    した第5のNチャネルMOSトランジスタを備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタと前記第4の
    NチャネルMOSトランジスタのゲートに第2の入力端
    子を接続し、この第2の入力端子に回路動作時には第3
    の電源電圧を入力し、前記第5のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのゲートに第3の入力端子を接続し、この第3
    の入力端子に第2の電源電圧を入力することによって、
    出力端子より第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を
    振幅とし、かつ前記第1の入力端子からの信号と同相の
    信号を出力し、回路非動作時には前記第2の入力端子に
    第2の電源電圧を入力し、前記第3の入力端子に第3の
    電源電圧を入力することにより第1の電源の供給を切っ
    た場合にも出力端子信号を第1の電源電圧レベルに固定
    するように構成したことを特徴とする半導体論理回路。
  7. 【請求項7】 前記第1のNチャネルMOSトランジス
    タと第2のNチャネルMOSトランジスタと第1のPチ
    ャネルMOSトランジスタと第2のPチャネルMOSト
    ランジスタの少なくとも1つに、高電流駆動が可能であ
    るがオフ電流の大きいデバイスパラメータを有するトラ
    ンジスタを用い、回路非動作時にはオフ電流の小さな第
    3のNチャネルMOSトランジスタと第4のNチャネル
    MOSトランジスタがオフするように構成したことを特
    徴とする請求項5または6記載の半導体論理回路。
  8. 【請求項8】 第1の電源の電圧から第2の電源の電圧
    を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする低閾値で高電流駆動が可能であって、ゲ
    ート電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位とド
    レイン電位間電圧に対して低耐圧の第1のNチャネルM
    OSトランジスタのゲートで受け、前記第1の入力端子
    からの信号と逆位相の信号を第2の電源をソースとする
    低閾値で高電流駆動が可能であって、かつゲート電位と
    ドレイン電位間電圧、またはソース電位とドレイン電位
    間電圧に対して低耐圧の第2のNチャネルMOSトラン
    ジスタのゲートで受け、第1のNチャネルMOSトラン
    ジスタのドレインはゲート電位とドレイン電位間電圧、
    またはソース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧
    の第3のNチャネルMOSトランジスタのソースと接続
    し、第2のNチャネルMOSトランジスタのドレインを
    ゲート電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位と
    ドレイン電位間電圧に対して高耐圧の第4のNチャネル
    MOSトランジスタのソースと接続し、第3のNチャネ
    ルMOSトランジスタのドレインを第1のPチャネルM
    OSトランジスタのドレインと第2のPチャネルMOS
    トランジスタのゲートと接続し、第4のNチャネルMO
    Sトランジスタのドレインを第1のPチャネルMOSト
    ランジスタのゲートと第2のPチャネルMOSトランジ
    スタのドレインと接続し、第1のPチャネルMOSトラ
    ンジスタと第2のPチャネルMOSトランジスタのソー
    スを第1の電源電圧より大きい第3の電源に接続し、第
    2のPチャネルMOSトランジスタのドレインを出力端
    子に接続し、出力端子にドレインを接続してソースを第
    2の電源電圧に接続した第5のNチャネルMOSトラン
    ジスタを備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタと第4のNチ
    ャネルMOSトランジスタのゲートに第2の入力端子を
    接続し、この第2の入力端子に回路動作時には前記第1
    のNチャネルMOSトランジスタおよび第2のNチャネ
    ルMOSトランジスタのゲート耐圧範囲内の第4の電源
    電圧を入力し、前記第5のNチャネルMOSトランジス
    タのゲートに第3の入力端子を接続し、この第3の入力
    端子には第2の電源電圧を入力することによって、出力
    端子より第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を振幅
    とし、かつ前記第1の入力端子からの信号と同相の信号
    を出力し、回路非動作時には第2の入力端子に第2の電
    源電圧を入力し、第3の入力端子に第3の電源電圧もし
    くは第4の電源電圧を入力することによって、出力端子
    信号が第2の電圧に固定され、第1の電源の供給を切っ
    た場合にも出力端子信号を第2の電源電圧レベルに固定
    するように構成したことを特徴とする半導体論理回路。
  9. 【請求項9】 第1の電源の電圧から第2の電源の電圧
    を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする低閾値で高電流駆動が可能であり、かつ
    ゲート電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位と
    ドレイン電位間電圧に対して低耐圧の第1のNチャネル
    MOSトランジスタのゲートで受け、第1の入力端子か
    らの信号と逆位相の信号を第2の電源をソースとする低
    閾値で高電流駆動が可能であり、かつゲート電位とドレ
    イン電位間電圧、またはソース電位とドレイン電位間電
    圧に対して低耐圧の第2のNチャネルMOSトランジス
    タのゲートで受け、第1のNチャネルMOSトランジス
    タのドレインはゲート電位とドレイン電位間電圧、また
    はソース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧の第
    3のNチャネルMOSトランジスタのソースと接続し、
    第2のNチャネルMOSトランジスタのドレインをゲー
    ト電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位とドレ
    イン電位間電圧に対して高耐圧の第4のNチャネルMO
    Sトランジスタのソースと接続し、第3のNチャネルM
    OSトランジスタのドレインを第1のPチャネルMOS
    トランジスタのドレインと第2のPチャネルMOSトラ
    ンジスタのゲートと接続し、第4のNチャネルMOSト
    ランジスタのドレインを第1のPチャネルMOSトラン
    ジスタのゲートと第2のPチャネルMOSトランジスタ
    のドレインと接続し、第1のPチャネルMOSトランジ
    スタと第2のPチャネルMOSトランジスタのソースを
    第1の電源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2の
    PチャネルMOSトランジスタのドレインを出力端子に
    接続し、出力端子にドレインを接続してソースを第2の
    電源に接続した第3のPチャネルMOSトランジスタを
    備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタおよび第4の
    NチャネルMOSトランジスタのゲートに第2の入力端
    子を接続し、この第2の入力端子に回路動作時には前記
    第1のNチャネルMOSトランジスタおよび第2のNチ
    ャネルMOSトランジスタのゲート耐圧範囲内の第4の
    電源電圧を入力し、前記第3のPチャネルMOSトラン
    ジスタのゲートに第3の入力端子を接続し、この第3の
    入力端子には第3の電源電圧を入力することによって、
    出力端子より第3の電源の電圧から第2の電源の電圧を
    振幅とし、かつ前記第1の入力端子からの信号と同相の
    信号を出力し、回路非動作時には第2の入力端子に第2
    の電源電圧を入力し、第3の入力端子に第2の電源電圧
    を入力することによって出力端子の信号が第3の電源電
    圧に固定され、第1の電源の供給を切った場合にも出力
    端子信号を第3の電源電圧レベルに固定するように構成
    したことを特徴とする半導体論理回路。
  10. 【請求項10】 第1の電源の電圧から第2の電源の電
    圧を振幅とする第1入力端子からの信号を、第2の電源
    をソースとする第1のNチャネルMOSトランジスタの
    ゲートで受け、第1の入力端子からの信号と逆位相の信
    号を第2の電源をソースとする第2のNチャネルMOS
    トランジスタのゲートで受け、第1のNチャネルMOS
    トランジスタのドレインを第1のPチャネルMOSトラ
    ンジスタのドレインと第2のPチャネルMOSトランジ
    スタのゲートと接続し、第2のNチャネルMOSトラン
    ジスタのドレインを第1のPチャネルMOSトランジス
    タのゲートと第2のPチャネルMOSトランジスタのド
    レインと接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタ
    と第2のPチャネルMOSトランジスタのソースを第3
    のPチャネルMOSトランジスタのドレインと接続し、
    第3のPチャネルMOSトランジスタのソースを第1の
    電源電圧より大きい第3の電源に接続し、第2のPチャ
    ネルMOSトランジスタのドレインを出力端子に接続
    し、出力端子にドレインを接続しソースを第2の電源に
    接続した第3のNチャネルMOSトランジスタを備え、 前記第3のNチャネルMOSトランジスタと第3のPチ
    ャネルMOSトランジスタのゲートに第2の入力端子を
    接続し、この第2の入力端子に回路動作時には第2の電
    源電圧を入力することによって、出力端子より第3の電
    源の電圧から第2の電源の電圧を振幅とし、かつ前記第
    1の入力端子からの信号と同相の信号を出力し、回路非
    動作時には第3の電源電圧を入力することによって第1
    の電源の供給を切った場合にも出力端子信号を第2の電
    源電圧レベルに固定するように構成したことを特徴とす
    る半導体論理回路。
  11. 【請求項11】 前記第1のNチャネルMOSトランジ
    スタと第2のNチャネルMOSトランジスタと第1のP
    チャネルMOSトランジスタと第2のPチャネルMOS
    トランジスタの少なくとも1つに、高電流駆動が可能で
    あるがオフ電流リークが大きいデバイスパラメータを有
    するトランジスタを用い、回路非動作時にはオフ電流の
    小さな第3のPチャネルMOSトランジスタがオフする
    ように構成したことを特徴とする請求項10記載の半導体
    論理回路。
  12. 【請求項12】 第1の電源の電圧から第2の電源の電
    圧を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第1のN
    チャネルMOSトランジスタのゲートで受け、第1の入
    力端子からの信号と逆位相の信号を第2のNチャネルM
    OSトランジスタのゲートで受け、第1のNチャネルM
    OSトランジスタのソースと第2のNチャネルMOSト
    ランジスタのソースを第3のNチャネルMOSトランジ
    スタのドレインと接続し、第3のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのソースを第2の電源に接続し、第1のNチャ
    ネルMOSトランジスタのドレインを第1のPチャネル
    MOSトランジスタのドレインと第2のPチャネルMO
    Sトランジスタのゲートと接続し、第2のNチャネルM
    OSトランジスタのドレインを第1のPチャネルMOS
    トランジスタのゲートと第2のPチャネルMOSトラン
    ジスタのドレインと接続し、第1のPチャネルMOSト
    ランジスタと第2のPチャネルMOSトランジスタのソ
    ースを第1の電源電圧より大きい第3の電源に接続し、
    第2のPチャネルMOSトランジスタのドレインを出力
    端子に接続し、出力端子にドレインを接続しソースを第
    3の電源に接続した第3のPチャネルMOSトランジス
    タを備え、 前記第3のPチャネルMOSトランジスタと第3のNチ
    ャネルMOSトランジスタのゲートに第2の入力端子を
    接続し、この第2の入力端子に回路動作時には第3の電
    源電圧を入力することによって、出力端子より第3の電
    源の電圧から第2の電源の電圧を振幅とし、かつ前記第
    1の入力端子からの信号と同相の信号を出力し、回路非
    動作時には第2の入力端子に第2の電源電圧を入力する
    ことにより第1の電源の供給を切った場合にも出力端子
    信号を第3の電源電圧レベルに固定するように構成した
    ことを特徴とする半導体論理回路。
  13. 【請求項13】 第1のNチャネルMOSトランジスタ
    と第2のNチャネルMOSトランジスタと第1のPチャ
    ネルMOSトランジスタと第2のPチャネルMOSトラ
    ンジスタの少なくとも1つに、高電流駆動が可能である
    がオフ電流リークが大きいデバイスパラメータを有する
    トランジスタを用い、回路非動作時にはオフ電流の小さ
    な第3のNチャネルMOSトランジスタがオフするよう
    に構成したことを特徴とする請求項12記載の半導体論理
    回路。
  14. 【請求項14】 第1の電源の電圧から第2の電源の電
    圧を振幅とする第1の入力端子からの信号を、第2の電
    源をソースとする低閾値で高電流駆動が可能であり、か
    つゲート電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位
    とドレイン電位間電圧に対して低耐圧の第1のNチャネ
    ルMOSトランジスタのゲートで受け、第1の入力端子
    からの信号と逆位相の信号を第2の電源をソースとする
    低閾値で高電流駆動が可能であり、かつゲート電位とド
    レイン電位間電圧、またはソース電位とドレイン電位間
    電圧に対して低耐圧の第2のNチャネルMOSトランジ
    スタのゲートで受け、第1のNチャネルMOSトランジ
    スタのドレインはゲート電位とドレイン電位間電圧、ま
    たはソース電位とドレイン電位間電圧に対して高耐圧の
    第3のNチャネルMOSトランジスタのソースと接続
    し、第2のNチャネルMOSトランジスタのドレインを
    ゲート電位とドレイン電位間電圧、またはソース電位と
    ドレイン電位間電圧に対して高耐圧の第4のNチャネル
    MOSトランジスタのソースと接続し、第3のNチャネ
    ルMOSトランジスタのドレインを第1のPチャネルM
    OSトランジスタのドレインと第2のPチャネルMOS
    トランジスタのドレインと第4のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのゲートおよび第1の入力端子からの信号の逆
    位相の信号をゲートに入力した第5のNチャネルMOS
    トランジスタのソースと接続し、第4のNチャネルMO
    Sトランジスタのドレインを第1のPチャネルMOSト
    ランジスタのゲートと第2のPチャネルMOSトランジ
    スタのドレインと第3のNチャネルMOSトランジスタ
    のゲートおよび第1の入力端子からの信号をゲートに入
    力した第6のNチャネルMOSトランジスタのソースと
    接続し、第1のPチャネルMOSトランジスタと第2の
    PチャネルMOSトランジスタのソースと第5のNチャ
    ネルMOSトランジスタと第6のNチャネルMOSトラ
    ンジスタのドレインを第1の電源電圧より大きい第3の
    電源に接続し、第2のPチャネルMOSトランジスタの
    ドレインを出力端子に接続した回路構成であって、 入力信号が固定されている場合に前記第5のNチャネル
    MOSトランジスタもしくは第6のNチャネルMOSト
    ランジスタによって、前記第1のNチャネルMOSトラ
    ンジスタもしくは第2のNチャネルMOSトランジスタ
    のオフトランジスタのオフ電流が小さくなるように構成
    したことを特徴とする半導体論理回路。
  15. 【請求項15】 前記第1の入力端子からの信号をゲー
    トに入力し、ソースを第2の電源に接続し、ドレインを
    前記第1のPチャネルMOSトランジスタのドレインに
    接続した前記第1のNチャネルMOSトランジスタと前
    記第1のPチャネルMOSトランジスタのソースを、前
    記第1の電源の電位とするデバイスパラメータを有する
    前記第2のNチャネルMOSトランジスタのソースに接
    続し、この第2のNチャネルMOSトランジスタのドレ
    インを前記第3の電位と接続し、第1のPチャネルMO
    Sトランジスタのドレインを前記第1の入力端子からの
    信号と逆位相の信号と接続し、第2のNチャネルMOS
    トランジスタのゲートを論理回路非動作時には前記第2
    の電源と接続し、論理回路動作時には前記第1の電源も
    しくは前記第2の電源と接続する回路動作を行う構成に
    したことを特徴とする請求項1〜14のいずれか1項に記
    載の半導体論理回路。
  16. 【請求項16】 セルベースレイアウト設計もしくはゲ
    ートアレイレイアウト設計手法において、レベルシフタ
    回路を半導体装置から出力する出力バッファ回路もしく
    は出力バッファコントロール回路に入力する信号に適応
    するようにした回路レイアウト構造であって、 装置のすべての入力セルと出力セルとに設けられた請求
    項1〜14のいずれか1項に記載の半導体論理回路と、所
    定の方向に延びる第1の電源電圧の配線と、請求項1〜
    14に記載の第2の入力端子もしくは第3の入力端子のい
    ずれか一方の配線または両方の配線とを備え、前記入力
    セルおよび出力セルとを配置することによって、回路の
    電源と制御信号端子および/もしくはウエルとが接続さ
    れるように構成したことを特徴とする回路レイアウト構
    造。
  17. 【請求項17】 請求項2,4,7,8,9,11,13に
    記載の半導体論理回路においては高電流駆動が可能なト
    ランジスタ共通ウエルを備えるようにしたことを特徴と
    する請求項16記載の回路レイアウト構造。
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Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002176351A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Kawasaki Microelectronics Kk レベルシフタ回路
KR100400626B1 (ko) * 2000-06-14 2003-10-08 산요덴키가부시키가이샤 레벨 시프터 및 그를 이용한 액티브 매트릭스형 표시 장치
JP2004048377A (ja) * 2002-07-11 2004-02-12 Renesas Technology Corp レベルシフタ回路
WO2004040765A1 (ja) * 2002-10-31 2004-05-13 Nec Corporation レベル変換回路
WO2004042923A1 (ja) * 2002-11-06 2004-05-21 Nec Corporation レベル変換回路
US6882175B2 (en) 2002-07-11 2005-04-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Inter-block interface circuit and system LSI
JP2005229409A (ja) * 2004-02-13 2005-08-25 Kawasaki Microelectronics Kk レベルシフト回路
US6985022B2 (en) 2001-08-31 2006-01-10 Renesas Technology Corp. Semiconductor device
JP2006073098A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Sony Corp レベルシフト回路とこれを用いた半導体記憶装置
US7053656B2 (en) 2003-12-17 2006-05-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Level shifter utilizing input controlled zero threshold blocking transistors
JP2007053680A (ja) * 2005-08-19 2007-03-01 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2007202161A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Agere Systems Inc 広い電源電圧範囲を持つ電圧レベル・トランスレータ回路
JP2007335980A (ja) * 2006-06-12 2007-12-27 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2008067411A (ja) * 2007-11-12 2008-03-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置
JP2008099203A (ja) * 2006-10-16 2008-04-24 Freescale Semiconductor Inc レベルシフタ回路
JP2008113137A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Oki Electric Ind Co Ltd レベルシフタ回路
WO2008056559A1 (en) * 2006-11-07 2008-05-15 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Semiconductor integrated circuit
JP2009027632A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Oki Electric Ind Co Ltd レベルシフト回路
US7495269B2 (en) 2004-08-17 2009-02-24 Nec Electronics Corporation Semiconductor device and electronic apparatus using the same
US7545171B2 (en) 2006-08-28 2009-06-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Input/output device with fixed value during sleep mode or at a time of supplying initial voltage to system
JP2009171084A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Seiko Instruments Inc レベルシフタ回路
JP2009260817A (ja) * 2008-04-18 2009-11-05 Nec Electronics Corp レベルシフト回路
US7746147B2 (en) 2007-06-29 2010-06-29 Renesas Technology Corp. Semiconductor device
JP2012169810A (ja) * 2011-02-14 2012-09-06 Renesas Electronics Corp レベルシフト回路
EP2630714A1 (en) * 2010-12-09 2013-08-28 CSMC Technologies Fab1 Co., Ltd. Lithium battery protection circuitry
US8743045B2 (en) 2009-06-01 2014-06-03 Sharp Kabushiki Kaisha Level shifter circuit, scanning line driver and display device
CN108886355A (zh) * 2016-03-31 2018-11-23 高通股份有限公司 高效功率电压电平转换器电路
WO2020031537A1 (ja) * 2018-08-10 2020-02-13 日本電産株式会社 駆動回路、駆動システム

Cited By (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100400626B1 (ko) * 2000-06-14 2003-10-08 산요덴키가부시키가이샤 레벨 시프터 및 그를 이용한 액티브 매트릭스형 표시 장치
JP2002176351A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Kawasaki Microelectronics Kk レベルシフタ回路
US6985022B2 (en) 2001-08-31 2006-01-10 Renesas Technology Corp. Semiconductor device
US7375574B2 (en) 2001-08-31 2008-05-20 Renesas Technology Corporation Semiconductor device
JP2004048377A (ja) * 2002-07-11 2004-02-12 Renesas Technology Corp レベルシフタ回路
US6882175B2 (en) 2002-07-11 2005-04-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Inter-block interface circuit and system LSI
US7671656B2 (en) 2002-10-31 2010-03-02 Nec Corporation Level converting circuit
JP4552652B2 (ja) * 2002-10-31 2010-09-29 日本電気株式会社 レベル変換回路
JPWO2004040765A1 (ja) * 2002-10-31 2006-03-02 日本電気株式会社 レベル変換回路
US7425860B2 (en) 2002-10-31 2008-09-16 Nec Corporation Level converting circuit
WO2004040765A1 (ja) * 2002-10-31 2004-05-13 Nec Corporation レベル変換回路
WO2004042923A1 (ja) * 2002-11-06 2004-05-21 Nec Corporation レベル変換回路
US7282981B2 (en) 2002-11-06 2007-10-16 Nec Corporation Level conversion circuit with improved margin of level shift operation and level shifting delays
US7053656B2 (en) 2003-12-17 2006-05-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Level shifter utilizing input controlled zero threshold blocking transistors
JP2005229409A (ja) * 2004-02-13 2005-08-25 Kawasaki Microelectronics Kk レベルシフト回路
US7495269B2 (en) 2004-08-17 2009-02-24 Nec Electronics Corporation Semiconductor device and electronic apparatus using the same
JP2006073098A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Sony Corp レベルシフト回路とこれを用いた半導体記憶装置
JP2007053680A (ja) * 2005-08-19 2007-03-01 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2007202161A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Agere Systems Inc 広い電源電圧範囲を持つ電圧レベル・トランスレータ回路
JP2007335980A (ja) * 2006-06-12 2007-12-27 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
US7545171B2 (en) 2006-08-28 2009-06-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Input/output device with fixed value during sleep mode or at a time of supplying initial voltage to system
JP2008099203A (ja) * 2006-10-16 2008-04-24 Freescale Semiconductor Inc レベルシフタ回路
JP4680865B2 (ja) * 2006-10-30 2011-05-11 Okiセミコンダクタ株式会社 レベルシフタ回路
JP2008113137A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Oki Electric Ind Co Ltd レベルシフタ回路
JP2008118047A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 半導体集積回路
US8159873B2 (en) 2006-11-07 2012-04-17 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Semiconductor integrated circuit
WO2008056559A1 (en) * 2006-11-07 2008-05-15 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Semiconductor integrated circuit
US7920012B2 (en) 2007-06-29 2011-04-05 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
US7746147B2 (en) 2007-06-29 2010-06-29 Renesas Technology Corp. Semiconductor device
JP2009027632A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Oki Electric Ind Co Ltd レベルシフト回路
JP2008067411A (ja) * 2007-11-12 2008-03-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置
JP2009171084A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Seiko Instruments Inc レベルシフタ回路
JP2009260817A (ja) * 2008-04-18 2009-11-05 Nec Electronics Corp レベルシフト回路
US8743045B2 (en) 2009-06-01 2014-06-03 Sharp Kabushiki Kaisha Level shifter circuit, scanning line driver and display device
EP2630714A1 (en) * 2010-12-09 2013-08-28 CSMC Technologies Fab1 Co., Ltd. Lithium battery protection circuitry
EP2630714A4 (en) * 2010-12-09 2013-12-04 Csmc Technologies Fab1 Co Ltd LITHIUM BATTERY PROTECTION CIRCUITS
JP2012169810A (ja) * 2011-02-14 2012-09-06 Renesas Electronics Corp レベルシフト回路
CN108886355A (zh) * 2016-03-31 2018-11-23 高通股份有限公司 高效功率电压电平转换器电路
JP2019516280A (ja) * 2016-03-31 2019-06-13 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 電力効率のよい電圧レベルトランスレータ回路
WO2020031537A1 (ja) * 2018-08-10 2020-02-13 日本電産株式会社 駆動回路、駆動システム

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