JPH1069326A - クロック制御回路 - Google Patents

クロック制御回路

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JPH1069326A
JPH1069326A JP9100490A JP10049097A JPH1069326A JP H1069326 A JPH1069326 A JP H1069326A JP 9100490 A JP9100490 A JP 9100490A JP 10049097 A JP10049097 A JP 10049097A JP H1069326 A JPH1069326 A JP H1069326A
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internal clock
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Shift Register Type Memory (AREA)
  • Information Transfer Systems (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 内部クロックに同期させてデ−タ転送を行う
システムにおいて当該内部クロックを外部クロックに正
確に同期させる。 【解決手段】 外部クロックCKは、バッファ13を経
由し、スキュ−D1を有する内部クロックCLKとな
る。この内部クロックCLKは、遅延量Aを有する遅延
回路32、遅延量2×Δを形成する遅延ユニットアレイ
33−1〜33−n及び遅延量D2を有する遅延回路3
4を経由することにより、補正内部クロックCK´とな
り、外部クロックCKに同期する。各遅延ユニットは、
状態保持部を有し、前進パルスが経由した遅延ユニット
については、状態保持部が所定の状態に固定される。こ
れにより、正確に遅延量2×Δが形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、遅延アレイを用い
て、CPUが発生する外部クロックのタイミングとメモ
リ(IC)の内部で使用される内部クロックのタイミン
グを制御する制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】最近のメモリは、クロックに同期させて
デ−タを転送することによって高速なデ−タ転送を達成
するものが増えている。例えば、シンクロナスDRAM
などのクロック同期型のDRAMでは、それぞれ100
MHzと250MHzのクロックに同期させ、CPUな
どのブロックとの間でデ−タのやりとりを行っている。
【0003】このようなクロックに同期させてブロック
間でデ−タのやりとりを行うシステムでは、CPUなど
のブロックからメモリに与えられる外部クロックと、当
該メモリ内部で生成される内部クロックとの間に僅かな
タイミングのズレ、即ちスキュ−が発生することが問題
となる。
【0004】例えば、100MHzの外部クロックを用
いた場合、1サイクルは10nsec(ナノ秒)である
ため、外部クロックと内部クロックの間に1nsecの
ズレが発生すると、このズレは、1サイクルタイムの1
0%に相当し、高速同期制御の妨げとなる。
【0005】特に、メモリから他のブロックへデ−タを
転送する場合には、外部クロックと内部クロックのスキ
ュ−は、直接、メモリのデ−タ出力時間に影響し、デ−
タ転送時間を遅くする。
【0006】図48は、高速クロックを用いて同期制御
するシステムの一例を示すものである。また、図49
は、図48のシステムにおける外部クロックと内部クロ
ックの関係を示すものである。
【0007】メモリ(シンクロナスDRAMなどのクロ
ック同期型DRAM)11には、例えばCPU12によ
り生成される外部クロックCKが入力されている。外部
クロックCKは、バッファ13により内部クロックCL
Kに変換され、内部クロックCLKは、入力回路14、
出力回路15や、書き込み・読み出し回路16などに供
給され、デ−タの入出力動作を制御する。
【0008】内部クロックCLKは、外部クロックCK
をトリガとしてバッファ13により生成されるため、必
然的に外部クロックCKと内部クロックCLKの間には
スキュ−が存在する。
【0009】メモリ11内部の動作を制御するのは、内
部クロックCLKであるため、メモリ11と他のブロッ
ク(CPU12など)との間でデ−タのやりとりを行う
場合には、外部クロックCKと内部クロックCLKの間
のスキュ−を見込んだタイミングの設定が必要となる。
【0010】しかし、スキュ−を見込んだタイミング設
定は、デ−タの転送速度を遅らせることは上述のとおり
である。
【0011】そこで、最近では、このスキュ−をなくす
ための技術の開発が進められている。以下、現時点にお
ける当該技術の二つの例を説明する。
【0012】一つめは、PLL(フェ−ズ・ロック・ル
−プ)を用いる技術である。この技術は、PLLによ
り、スキュ−の幅を検出し、このスキュ−をゼロとする
ものである。また、この技術は、内部クロックにフィ−
ドバックをかけるため、メモリに与えられる外部クロッ
クが常に一定の周波数で、かつ、途切れることがない場
合に有効である。
【0013】二つめは、所定の原理に基づいて、外部ク
ロックと一致する補正内部クロックを生成する回路を構
成する技術である。この技術は、外部クロックの周波数
が変化しても、また、外部クロックが途切れても、これ
らに即座に対応して外部クロックと内部クロックを一致
させることができるもので、非常に有望視されている。
【0014】そこで、後者の技術について以下に詳細に
説明する。
【0015】まず、図50を参照しながら、この技術の
原理について説明する。
【0016】外部クロックCKと内部クロックCLKの
スキュ−の幅(遅延量)をD1とし、外部クロックCK
及び内部クロックCLKの周期をTとする。
【0017】ここで、内部クロックCLKの1つめのパ
ルスが発生した時点(立ち上がった時点)から時間Aが
経過した時点で遅延模倣パルスFCLを発生させる。こ
の場合、遅延模倣パルスFCLが発生した時点から、内
部クロックCLKの2つめのパルスが発生する時点まで
の時間は、Δとなる。
【0018】また、この時間Δをコピ−し、遅延模倣パ
ルスFCLを発生させた時点から時間(2×Δ)が経過
した時点で遅延模倣パルスRCLが発生するようにす
る。すると、遅延模倣パルスRCLが発生した時点から
時間Aが経過した時点は、内部クロックCLKの3つめ
のパルスが発生する時点と一致することになる。
【0019】但し、(A+W)<Tとする。Wは、遅延
模倣パルスFCL,RCLの幅である。
【0020】ここで、遅延模倣パルスRCLが発生した
時点から外部クロックCKの3つめのパルスが発生する
時点までの時間をD2とすると、遅延模倣パルスRCL
を時間D2だけ遅延させてやれば、外部クロックCKの
タイミングに一致した補正内部クロックCK´が得られ
る。
【0021】つまり、遅延量A,(2×Δ),D2を生
成する遅延回路を形成し、内部クロックCLKを時間
A+(2×Δ)+D2 だけ遅らせれば、外部クロック
CKのタイミングに一致した補正内部クロックCK´が
得られることになる。
【0022】なお、図50から明らかなように、A=D
1+D2という関係が存在するため、遅延量D2は、A
及びD1から求めることができる。
【0023】また、外部クロックCK及び内部クロック
CLKの周期Tは、一定でないことを前提としているた
め、時間Δも、一定の値を有しない。従って、時間(2
×Δ)を生成する遅延回路は、外部クロックCK及び内
部クロックCLKの周期Tに応じて時間(2×Δ)を正
確に生成することができるように構成されていなければ
ならない。
【0024】このような原理によれば、外部クロックC
K及び内部クロックCLKの周期Tによらず、常に、補
正内部クロックの1つめのパルスを、外部クロックCK
の3つめのパルスに一致させることができる。また、外
部クロックCKの3つめのパルス以降は、外部クロック
CKのタイミングと補正内部クロックCLKのタイミン
グは一致していることになるため、外部クロックCKが
途切れるような場合においても、これに即座に対応して
外部クロックと内部クロックを一致させることが可能に
なる。
【0025】次に、上記原理に基づいて外部クロックと
内部クロックのタイミングを一致させるための回路構成
について検討する。
【0026】図51は、当該回路構成の一例を示すもの
である。
【0027】外部クロックCKは、入力端子21を経由
して入力バッファ22に入力される。内部クロックCL
Kは、入力バッファ22から出力される。ここで、入力
バッファ22は、遅延量D1を有しているため、外部ク
ロックCKと内部クロックCLKの間には、遅延量D1
分のスキュ−が発生する。
【0028】内部クロックCLKは、遅延量Aを有する
遅延回路23を経由して前進遅延アレイ24に入力され
る。前進遅延アレイ24は、遅延量dを有する複数の遅
延回路25−1,25−2,〜25−nから構成されて
いる。
【0029】ミラ−制御回路26は、遅延回路25−
1,25−2,〜25−nの数に相当する数の制御素子
27−1,27−2,〜27−nを有しいている。ミラ
−制御回路26は、前進遅延アレイ24における遅延量
Δfを決定すると共に、後進遅延アレイ28における遅
延量Δbを遅延量Δfに等しくする機能を有する。
【0030】後進遅延アレイ28は、前進遅延アレイ2
4と同様に、遅延量dを有する複数の遅延回路29−
1,29−2,〜29−nから構成されている。
【0031】後進遅延アレイ28から出力されるクロッ
クは、遅延量D2を有する遅延回路30を経由すること
により、外部クロックCKのタイミングと一致したタイ
ミングを有する補正内部クロックCK´となる。
【0032】上記構成の回路では、前進遅延アレイ24
の構成と後進遅延アレイ28の構成を同じにし、前進パ
ルスの遅延量Δfをそのままコピ−して後進パルスの遅
延量Δbとし、2Δ(Δf=Δb=Δ)を得るようにし
ている。
【0033】しかし、上記構成の回路では、前進パルス
が一定のパルス幅を有していることに起因して、前進パ
ルスの遅延量Δfと後進パルスの遅延量Δbを完全に一
致させることが難しい欠点がある。
【0034】この欠点について説明する。
【0035】図52は、図50のtの時点(即ち、遅延
量Δf,Δbを決定する時点)における図51の回路状
態を示したものである。
【0036】ここで、前進パルスが前進遅延アレイの遅
延回路に入力されている状態を活性状態(斜線で示す)
とし、当該前進パルスが前進遅延アレイの遅延回路に入
力されていない状態を非活性状態とする。この場合にお
いて、例えば、前進パルスが遅延回路25−kに入力さ
れると、遅延回路25−kが活性状態になり、他の遅延
回路は、非活性状態となる。
【0037】前進パルスが遅延回路25−kに入力され
た後に、内部クロックCLKのパルスが発生すると、後
進遅延アレイの遅延回路29−kが活性状態となり、遅
延回路29−kは、後進パルスを発生する。
【0038】即ち、遅延アレイの先頭からk番目の制御
素子27−kには、前進パルスと内部クロックCLKの
パルスが入力されるため、制御素子27−kは、後進遅
延アレイの遅延回路29−kを活性状態にして、遅延回
路29−kから後進パルスを発生させる。
【0039】しかし、この場合、前進パルスが入力され
ている遅延回路29−kの先頭からの位置と、後進パル
スを発生する遅延回路29−kの先頭からの位置は、同
じである。
【0040】従って、遅延量Δfを決定する前進パルス
のフロントF1と、遅延量Δbを決定する後進パルスの
フロントF2は、必然的に、遅延回路1段分の遅延量
(例えば、前進パルスのパルス幅W分)だけ相違するこ
とになる。つまり、図51の構成を有する回路では、遅
延量Δbは、最大で、遅延回路1段分の遅延量だけ遅延
量Δfよりも短くなる欠点がある。
【0041】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来は、
所定の原理に基づいて、外部クロックに一致する補正内
部クロックを生成する回路を構成する技術において、所
定の遅延量を正確にコピ−する回路を構成することがで
きなかったため、補正内部クロックを外部クロックに完
全に一致させることが難しかった。
【0042】本発明は、上記欠点を解決すべくなされた
もので、その目的は、所定の原理に基づいて、外部クロ
ックに一致する補正内部クロックを生成する回路を構成
する技術において、所定の遅延量を正確にコピ−するこ
とができる回路を構成し、補正内部クロックを外部クロ
ックに完全に一致させることである。
【0043】また、本発明の目的は、所定の原理に基づ
いて、外部クロックに対して一定の位相関係を有する、
即ち、外部クロックに対して位相が所定量だけ遅れた補
正内部クロックを生成する回路を提供することである。
【0044】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の遅延アレイは、直列に接続された複数の遅
延ユニットから構成され、各々の遅延ユニットは、前進
パルスを一定の遅延量だけ遅らせて後段の遅延ユニット
に伝達する前進パルス遅延回路と、後進パルスを前記一
定の遅延量だけ遅らせて前段の遅延ユニットに伝達する
後進パルス遅延回路と、内部クロックのパルスが前記複
数の遅延ユニットに入力されていない場合に前記前進パ
ルスが入力されるとセット状態に設定され、前記内部ク
ロックのパルスが前記複数の遅延ユニットに入力されて
いる場合に前記後進パルスが入力されるとリセット状態
に設定される状態保持部とから構成され、前記前進パル
スは、初段の遅延ユニットに入力され、前記後進パルス
のフロントエッジは、前記内部クロックのパルスが前記
複数の遅延ユニットに入力された時に状態保持部がリセ
ット状態の遅延ユニットのうち最も前記初段の遅延ユニ
ットに近い遅延ユニットで形成され、前記後進パルス
は、前記初段の遅延ユニットから出力される。
【0045】また、前記後進パルスのフロントエッジ以
外のエッジは、前記内部クロックのパルスが前記複数の
遅延ユニットに入力されなくなった時に状態保持部がリ
セット状態の遅延ユニットのうち最も前記初段の遅延ユ
ニットに近い遅延ユニットで形成される。
【0046】本発明のクロック制御回路は、前記遅延ア
レイと、遅延量D1を有し、外部クロックに基づいて内
部クロックを発生するバッファと、前記内部クロックの
パルスを遅延量Aだけ遅らせて前進パルスとして前記遅
延アレイの初段の遅延ユニットに供給する第1遅延回路
と、前記初段の遅延ユニットから出力される後進パルス
を遅延量D2だけ遅らせて補正内部クロックとして出力
する第2遅延回路とから構成され、前記遅延量D1、前
記遅延量D2及び前記遅延量Aは、A=D1+D2の関
係を有している。
【0047】また、本発明のクロック制御回路は、前記
内部クロックのパルスが前記遅延アレイの複数の遅延ユ
ニットに入力されてから前記前進パルスが前記初段の遅
延ユニットに供給されるまでの期間内に、前記複数の遅
延ユニットの前進パルス遅延回路を初期化するための制
御パルスを発生する制御パルス発生回路を備えている。
【0048】また、本発明のクロック制御回路は、前記
前進パルスが前記遅延アレイの最終段の遅延ユニットか
ら出力される場合に、前記初段の遅延ユニットから出力
される後進パルスを遮断し、前記後進パルスに代えて前
記内部クロックのパルスが前記第2遅延回路から出力さ
れるように制御する手段を備えている。
【0049】前記手段は、前記内部クロックのパルスが
前記第2遅延回路から出力された後に、前記初段の遅延
ユニットから出力される後進パルスに基づいて前記第2
遅延回路を初期化する。
【0050】前記遅延アレイは、前記バッファが配置さ
れる位置と前記第2遅延回路が配置される位置の中間に
配置される。前記第1遅延回路のパタ−ンは、前記バッ
ファ及び前記バッファから前記遅延アレイまでの配線の
パタ−ンに同様のパタ−ンと、前記第2遅延回路及び前
記遅延アレイから前記第2遅延回路までの配線のパタ−
ンに同様のパタ−ンとの組み合わせにより構成されるよ
うにレイアウトされる。
【0051】本発明のメモリ回路は、メモリセルアレイ
と、前記メモリセルアレイに対してデ−タの書き込み又
は読み出しを行うための書き込み・読み出し回路と、前
記デ−タをバスから入力するための入力回路と、前記デ
−タを前記バスへ出力するための出力回路と、前記クロ
ック制御回路とから構成され、前記書き込み・読み出し
回路の動作は、前記クロック制御回路のバッファから出
力される内部クロックにより制御され、前記入力回路又
は前記出力回路の動作は、少なくとも前記クロック制御
回路の第2遅延回路から出力される補正内部クロックに
より制御される。
【0052】本発明のクロック制御システムは、バス
と、前記バスに対してデ−タの授受を行うと共に外部ク
ロックを発生する制御ブロックと、前記メモリ回路を有
し、前記バスに対してデ−タの授受を行うと共に前記外
部クロックを受け取るメモリブロックとを備えている。
【0053】本発明の遅延アレイは、直列に接続された
複数の第1及び第2遅延ユニットから構成される。各々
の第1遅延ユニットは、前進パルスを一定の遅延量だけ
遅らせて後段の遅延ユニットに伝達する前進パルス遅延
回路と、第1後進パルスを前記一定の遅延量だけ遅らせ
て前段の遅延ユニットに伝達する第1後進パルス遅延回
路と、内部クロックのパルスが前記複数の第1遅延ユニ
ットに入力されていない場合に前記前進パルスが入力さ
れると第1状態に設定され、前記内部クロックのパルス
が前記複数の第1遅延ユニットに入力されている場合に
前記第1後進パルスが入力されると第2状態に設定され
る状態保持部とから構成される。各々の第2遅延ユニッ
トは、第2後進パルスを前記一定の遅延量だけ遅らせて
前段の遅延ユニットに伝達する第2後進パルス遅延回路
から構成される。前記前進パルスは、初段の第1遅延ユ
ニットに入力され、前記第1後進パルスのフロントエッ
ジは、前記内部クロックのパルスが前記複数の第1遅延
ユニットに入力された時に状態保持部が第2状態の第1
遅延ユニットのうち最も前記初段の第1遅延ユニットに
近い第1遅延ユニットで形成され、前記第1後進パルス
は、前記初段の第1遅延ユニットから出力される。前記
第2後進パルスのフロントエッジは、前記第1後進パル
スのフロントエッジを形成する第1遅延ユニットに対応
する第2遅延ユニットで形成され、前記第2後進パルス
は、初段の第2遅延ユニットから出力される。前記第1
後進パルス遅延回路の遅延量と前記第2後進パルス遅延
回路の遅延量は、同じである。
【0054】前記第1後進パルスのフロントエッジ以外
のエッジは、前記内部クロックのパルスが前記複数の第
1遅延ユニットに入力されなくなった時に状態保持部が
第2状態の第1遅延ユニットのうち最も前記初段の第1
遅延ユニットに近い第1遅延ユニットで形成される。
【0055】前記第1遅延ユニットの数と前記第2遅延
ユニットの数は、互いに異なる。前記第2遅延ユニット
の数は、前記第1遅延ユニットの数よりも少ない方が効
果的である。
【0056】前記複数の第1遅延ユニットのうち連続す
るj個の第1遅延ユニットにより1つの第1ブロックを
構成し、前記複数の第2遅延ユニットのうち連続するk
個の第2遅延ユニットにより前記第1ブロックに対応す
る1つの第2ブロックを構成し、前記第1ブロックの前
記j個の第1遅延ユニットのうちのk個の動作を制御す
る制御パルスに基づいて、前記第2ブロックのk個の第
2遅延ユニットの動作を制御する。但し、j,kは、互
いに素な自然数で、かつ、j>kである。
【0057】前記第1遅延ユニットは、r(rは自然
数)個のブロックを構成し、前記第1遅延ユニットの総
数は、n(=r×j)個であり、前記第2遅延ユニット
も、r個のブロックを構成し、前記第2遅延ユニットの
総数は、m(=r×j)個であり、前記第1後進パルス
の遅延量をΔとした場合に、前記第2後進パルスの遅延
量は、(m/n)×Δである。
【0058】本発明のクロック制御回路は、上述の遅延
アレイと、遅延量D1を有し、外部クロックに基づいて
前記内部クロックを発生するバッファと、前記内部クロ
ックのパルスを遅延量Aだけ遅らせて前記前進パルスと
して前記初段の第1遅延ユニットに供給する第1遅延回
路と、前記初段の第1遅延ユニットから出力される前記
第1後進パルスを遅延量(j−1)×D1+j×D2だ
け遅らせて第1補正内部クロックとして出力する第2遅
延回路と、前記初段の第2遅延ユニットから出力される
前記第2後進パルスを遅延量(k−1)×D1+k×D
2だけ遅らせて第2補正内部クロックとして出力する第
3遅延回路とを備える。但し、j,kは、互いに素な自
然数で、かつ、j>kである。
【0059】前記遅延量D1、前記遅延量D2及び前記
遅延量Aは、A=j×(D1+D2)の関係を有してい
る。
【0060】本発明のクロック制御回路は、上述の遅延
アレイと、遅延量k×D1を有し、外部クロックに基づ
いて前記内部クロックを発生するバッファと、前記内部
クロックのパルスを遅延量Aだけ遅らせて前記前進パル
スとして前記初段の第1遅延ユニットに供給する第1遅
延回路と、前記初段の第1遅延ユニットから出力される
前記第1後進パルスを遅延量(j−k)×D1+j×D
2だけ遅らせて第1補正内部クロックとして出力する第
2遅延回路と、前記初段の第2遅延ユニットから出力さ
れる前記第2後進パルスを遅延量k×D2だけ遅らせて
第2補正内部クロックとして出力する第3遅延回路とを
備える。但し、j,kは、互いに素な自然数で、かつ、
j>kである。
【0061】前記遅延量D1、前記遅延量D2及び前記
遅延量Aは、A=j×(D1+D2)の関係を有してい
る。
【0062】本発明のクロック制御回路は、前記内部ク
ロックのパルスが前記複数の第1遅延ユニットに入力さ
れてから前記前進パルスが前記初段の第1遅延ユニット
に供給されるまでの期間内に、前記複数の第1遅延ユニ
ットの前記前進パルス遅延回路を初期化するための制御
パルスを発生する制御パルス発生回路をさらに備える。
【0063】前記第1遅延ユニットの数と前記第2遅延
ユニットの数は、互いに異なる。前記第2遅延ユニット
の数は、前記第1遅延ユニットの数よりも少ない方が効
果的である。
【0064】前記複数の第1遅延ユニットのうち連続す
るj個の第1遅延ユニットにより1つの第1ブロックを
構成し、前記複数の第2遅延ユニットのうち連続するk
個の第2遅延ユニットにより前記第1ブロックに対応す
る1つの第2ブロックを構成し、前記第1ブロックの前
記j個の第1遅延ユニットのうちのk個の動作を制御す
る制御パルスに基づいて、前記第2ブロックのk個の第
2遅延ユニットの動作を制御する。
【0065】前記第1遅延ユニットは、r(rは自然
数)個のブロックを構成し、前記第1遅延ユニットの総
数は、n(=r×j)個であり、前記第2遅延ユニット
も、r個のブロックを構成し、前記第2遅延ユニットの
総数は、m(=r×j)個である。
【0066】前記第2後進パルス遅延回路は、前記第1
後進パルス遅延回路が生成する遅延量のm/n(=k/
j)の遅延量を生成する。
【0067】前記jは、2、前記kは、1であり、前記
第2遅延ユニットの前記第2後進パルス遅延回路は、前
記第1遅延ユニットの前記第1後進パルス遅延回路が生
成する遅延量の半分の遅延量を生成する。
【0068】前記kは、1であり、前記第2遅延ユニッ
トの前記第2後進パルス遅延回路は、前記第1遅延ユニ
ットの前記第1後進パルス遅延回路が生成する遅延量の
1/jの遅延量を生成する。
【0069】本発明のメモリシステムは、複数のメモリ
と、前記複数のメモリをコントロ−ルするコントロ−ラ
と、前記コントロ−ラから出力される外部クロックに関
して、前記複数のメモリの入力容量と同じ入力容量を有
するダミ−メモリと、前記コントロ−ラから前記複数の
メモリまでの前記外部クロックの遅延時間と前記コント
ロ−ラから前記ダミ−メモリまでの前記外部クロックの
遅延時間が等しくなるように配置される第1配線と、前
記外部クロックに対して一定の位相関係を有する内部ク
ロックに基づいて前記複数のメモリのうちの1つから前
記コントロ−ラにデ−タを導くデ−タバスと、前記ダミ
−メモリに与えられる前記外部クロックをリタ−ンクロ
ックとして再び前記コントロ−ラに戻す第2配線とを備
える。
【0070】また、前記複数のメモリのうちの1つから
前記コントロ−ラまでの前記デ−タの遅延時間と前記ダ
ミ−メモリから前記コントロ−ラまでの前記リタ−ンク
ロックの遅延時間が等しく、かつ、前記コントロ−ラ
は、前記リタ−ンクロックに基づいて前記デ−タを取り
込む。
【0071】本発明のクロック制御回路は、外部クロッ
クに対しD1だけ遅れた内部クロックが入力され、前記
内部クロックが入力されてから遅延時間Aが経過した
後、前進パルスを出力する第1遅延回路と、前記前進パ
ルスを2×Δだけ遅延させた後、後進パルスを出力する
第2遅延回路と、前記後進パルスが入力され、前記後進
パルスが入力されてから遅延時間(j−1)×D1+j
×D2が経過した後、前記外部クロックに対して位相が
一致している補正内部クロックを出力する第3遅延回路
とを備える。但し、jは、自然数、Δは、前記前進パル
スが発生した後、最初に前記内部クロックのパルスが発
生するまでの時間、Aは、j×(D1+D2)である。
【0072】本発明のクロック制御回路は、外部クロッ
クに対しm×D1だけ遅れた内部クロックが入力され、
前記内部クロックが入力されてから遅延時間Aが経過し
た後、前進パルスを出力する第1遅延回路と、前記前進
パルスを2×Δだけ遅延させた後、後進パルスを出力す
る第2遅延回路と、前記後進パルスが入力され、前記後
進パルスが入力されてから遅延時間(j−k)×D1+
j×D2が経過した後、前記外部クロックに対して位相
が一致している補正内部クロックを出力する第3遅延回
路とを備える。但し、j,kは、互いに素な自然数、j
≧k、Δは、前記前進パルスが発生した後、最初に前記
内部クロックのパルスが発生するまでの時間、Aは、j
×(D1+D2)である。
【0073】本発明のクロック制御回路は、外部クロッ
クに対しD1だけ遅れた内部クロックが入力され、前記
内部クロックが入力されてから遅延時間Aが経過した
後、前進パルスを出力する第1遅延回路と、前記前進パ
ルスをΔ+(k/j)×Δだけ遅延させた後、後進パル
スを出力する第2遅延回路と、前記後進パルスが入力さ
れ、前記後進パルスが入力されてから遅延時間(k−
1)×D1+k×D2が経過した後、前記外部クロック
に対して位相が(k/j)×Tだけ遅れている補正内部
クロックを出力する第3遅延回路とを備える。但し、
j,kは、互いに素な自然数、j≧k、Δは、前記前進
パルスが発生した後、最初に前記内部クロックのパルス
が発生するまでの時間、Aは、j×(D1+D2)、T
は、外部クロックの周期である。
【0074】本発明のクロック制御回路は、外部クロッ
クに対しk×D1だけ遅れた内部クロックが入力され、
前記内部クロックが入力されてから遅延時間Aが経過し
た後、前進パルスを出力する第1遅延回路と、前記前進
パルスをΔ+(k/j)×Δだけ遅延させた後、後進パ
ルスを出力する第2遅延回路と、前記後進パルスが入力
され、前記後進パルスが入力されてから遅延時間k×D
2が経過した後、前記外部クロックに対して位相が(k
/j)×Tだけ遅れている補正内部クロックを出力する
第3遅延回路とを備える。但し、j,kは、互いに素な
自然数、j≧k、Δは、前記前進パルスが発生した後、
最初に前記内部クロックのパルスが発生するまでの時
間、Aは、j×(D1+D2)、Tは、外部クロックの
周期である。
【0075】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明のクロック制御回路について詳細に説明する。
【0076】図1は、本発明のクロック制御回路を有す
るメモリブロックを備える同期制御システムの一例を示
すものである。
【0077】メモリ(シンクロナスDRAMなどのクロ
ック同期型DRAM)11には、例えばCPU12によ
り生成される外部クロックCKが入力されている。外部
クロックCKは、バッファ13により内部クロックCL
Kに変換される。内部クロックCLKは、書き込み・読
み出し回路16に供給され、デ−タの書き込み・読み出
し動作を制御する。
【0078】内部クロックCLKは、外部クロックCK
をトリガとしてバッファ13により生成されるため、必
然的に外部クロックCKと内部クロックCLKの間には
スキュ−が存在する。
【0079】クロック制御回路31は、内部クロックC
LKに基づいて、外部クロックのタイミングに一致した
補正内部クロックCK´を生成する。補正内部クロック
CK´は、入力回路14及び出力回路15に供給され、
デ−タの入出力動作を制御する。
【0080】図2は、図1のメモリ11内のクロック制
御回路31の構成を示すものである。
【0081】外部クロックCKは、メモリの入力端子3
0に与えられる。外部クロックCKは、遅延量D1を有
する入力バッファ13に入力される。入力バッファ13
は、外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する
内部クロックCLKを出力する。内部クロックCLK
は、遅延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回
路32は、前進パルスFCL1(遅延模倣パルスCL)
を出力する。
【0082】内部クロックCLK、及び内部クロックC
LKをインバ−タ35により反転した反転内部クロック
/CLKは、それぞれn個の遅延ユニット33−1,3
3−2,…33−nに入力される。
【0083】n個の遅延ユニット33−1,33−2,
…33−nは、互いに直列に接続されている。初段の遅
延ユニット33−1には、前進パルスFCL1が入力さ
れ、また、初段の遅延ユニット33−1からは、後進パ
ルスRCL1が出力される。
【0084】後進パルスRCL1は、遅延量D2を有す
る遅延回路34を経由することにより、補正内部クロッ
クCK´となる。
【0085】図3は、図2の遅延ユニットの構成を詳細
に示すものである。
【0086】遅延ユニット33−iは、前進パルス遅延
回路、状態保持回路及び後進パルス遅延回路の3つの部
分から構成される。
【0087】前進パルス遅延回路は、3つのインバ−タ
41〜43から構成されている。インバ−タ41,42
は、直列接続され、インバ−タ41には、前段の遅延ユ
ニットの出力信号FCLiが入力され、インバ−タ42
は、後段の遅延ユニットに出力信号FCLi+1を出力
する。インバ−タ(クロックドインバ−タ)41の動作
は、制御パルス/Pにより制御され、例えば、制御パル
ス/Pが“1”のとき、インバ−タ41は、活性状態と
なる。
【0088】また、インバ−タ43の出力端は、インバ
−タ42の入力端に接続され、インバ−タ43の入力端
には、常に“0”の電位(例えば、接地電位)が印加さ
れている。インバ−タ(クロックドインバ−タ)43の
動作は、制御パルスPにより制御され、例えば、制御パ
ルスPが“1”のとき、インバ−タ43は、活性状態と
なる。
【0089】後進パルス遅延回路は、3つのインバ−タ
44〜46から構成されている。インバ−タ44,45
は、直列接続され、インバ−タ44には、後段の遅延ユ
ニットの出力信号RCLi+1又は内部クロックCLK
が入力され、インバ−タ45は、前段の遅延ユニットに
出力信号RCLiを出力する。インバ−タ(クロックド
インバ−タ)44の動作は、制御パルスQにより制御さ
れ、例えば、制御パルスQが“1”のときのみ、インバ
−タ44は、活性状態となる。
【0090】また、インバ−タ46の出力端は、インバ
−タ45の入力端に接続され、インバ−タ46の入力端
には、常に、内部クロックCLKが入力されている。イ
ンバ−タ(クロックドインバ−タ)46の動作は、制御
パルス/Qにより制御され、例えば、制御パルス/Qが
“1”のとき、インバ−タ46は、活性状態となる。
【0091】状態保持回路は、状態保持部47及びNA
ND回路48,49から構成されている。NAND回路
48には、前段の遅延ユニットの出力信号FCLi及び
反転内部クロック/CLKが入力され、NAND回路4
9には、インバ−タ45の出力信号及び内部クロックC
LKが入力される。
【0092】NAND回路48の出力信号は、状態保持
部47のセット入力/Sとなり、NAND回路49の出
力信号は、状態保持部47のリセット入力/Rとなって
いる。従って、NAND回路48の出力信号(セット入
力)/Sが“0”となったとき、状態保持部47はセッ
ト状態となり、NAND回路49の出力信号(リセット
入力)/Rが“0”となったとき、状態保持部47はリ
セット状態となる。
【0093】状態保持部47は、制御パルスQ,/Qを
出力するようにも構成されている。制御パルスQは、状
態保持部47がセット状態のときに“1”となり、制御
パルス/Qは、状態保持部47がリセット状態のときに
“1”となる。
【0094】図4は、図3の状態保持部の構成の一例を
示すものである。
【0095】Pチャネル型MOSトランジスタ51及び
Nチャネル型MOSトランジスタ53,54は、互いに
直列に接続され、その両端には、高電位VDD及び低電
位VSSがそれぞれ印加されている。
【0096】同様に、Pチャネル型MOSトランジスタ
52及びNチャネル型MOSトランジスタ55,56
は、互いに直列に接続され、その両端には、高電位VD
D及び低電位VSSがそれぞれ印加されている。
【0097】セット入力/Sは、MOSトランジスタ5
1,54のゲ−トに入力され、リセット入力/Rは、M
OSトランジスタ52,56のゲ−トに入力されてい
る。
【0098】MOSトランジスタ53のゲ−トは、MO
Sトランジスタ52のドレインに接続され、MOSトラ
ンジスタ55のゲ−トは、MOSトランジスタ51のド
レインに接続されている。
【0099】制御パルスQは、MOSトランジスタ51
のドレインから出力され、制御パルス/Qは、MOSト
ランジスタ52のドレインから出力される。
【0100】図5は、制御パルスP,/Pの発生回路の
構成の一例を示すものである。
【0101】内部クロックCLKは、遅延量A´を有す
る遅延回路57を経由してNOR回路58の一方の入力
端に入力され、反転内部クロック/CLKは、NOR回
路58の他方の入力端に入力される。NOR回路58
は、制御パルスPを出力する。また、制御パルスPは、
インバ−タ59を経由することにより制御パルス/Pと
なる。
【0102】制御パルスP,/Pのパルス幅は、遅延回
路57の遅延量A´により決定される。但し、この遅延
量A´は、遅延模倣パルスを出力する遅延回路32の遅
延量Aよりも小さく設定される。これは、前進パルスが
初段の遅延ユニットに入力される前に、全ての遅延ユニ
ットの前進遅延回路を初期化しておく必要があるからで
ある。
【0103】次に、図6を参照しながら、本発明の原理
について確認しておく。
【0104】外部クロックCKと内部クロックCLKの
スキュ−の幅(遅延量)をD1とし、外部クロックCK
及び内部クロックCLKの周期をTとする。
【0105】内部クロックCLKの1つめのパルスが発
生した時点(立ち上がった時点)から時間Aが経過した
時点で遅延模倣パルスFCL1を発生させる。この場
合、遅延模倣パルスFCL1が発生した時点から、内部
クロックCLKの2つめのパルスが発生する時点までの
時間は、Δfとなる。
【0106】また、この時間Δfをコピ−してΔbを作
り、遅延模倣パルスFCL1を発生させた時点から時間
2×Δ(但し、Δf=Δb=Δ)が経過した時点で遅延
模倣パルスRCL1が発生するようにする。すると、遅
延模倣パルスRCL1が発生した時点から時間Aが経過
した時点は、内部クロックCLKの3つめのパルスが発
生する時点と一致することになる。但し、(A+W)<
Tとする。Wは、遅延模倣パルスFCL,RCLの幅で
ある。
【0107】遅延模倣パルスRCL1が発生した時点か
ら外部クロックCKの3つめのパルスが発生する時点ま
での時間をD2とすると、遅延模倣パルスRCL1を時
間D2だけ遅延させてやれば、外部クロックCKのタイ
ミングに一致した補正内部クロックCK´が得られる。
【0108】つまり、遅延量A,(2×Δ),D2を生
成する遅延回路を形成し、内部クロックCLKを時間
A+(2×Δ)+D2 だけ遅らせれば、外部クロック
CKのタイミングに一致した補正内部クロックCK´が
得られることになる。
【0109】なお、A=D1+D2という関係が存在す
るため、遅延量D2は、A及びD1から求めることがで
きる。また、制御パルスPは、前進パルスが初段の遅延
ユニットに入力される前に、全ての遅延ユニットの前進
遅延回路を初期化しておくためのものである。
【0110】次に、図2乃至図5のクロック制御回路の
動作について説明する。
【0111】1. 図7のタイミングチャ−トのa時点
の状態 図8に示すように、内部クロックCLKが“1”となる
(立ち上がる)。従って、制御パルス発生回路60の出
力信号は、P=“1”、/P=“0”となり、遅延量A
´により決定されるパルス幅を有する制御パルスP、/
Pが生成され、各遅延ユニット33−1,33−2,〜
33−nに入力される。
【0112】各遅延ユニット33−1,33−2,〜3
3−nにおいては、P=“1”、/P=“0”となるた
め、インバ−タ43が活性状態となり、インバ−タ41
が非活性状態となる。従って、全ての遅延ユニット33
−1,33−2,〜33−nの前進パルス遅延回路の入
出力信号FCL1〜FCLnは、全て“0”となり、前
進パルスの伝達するラインが初期化される。
【0113】この後、各遅延ユニット33−1,33−
2,〜33−nでは、P=“0”、/P=“1”になる
と、インバ−タ41が活性状態となり、インバ−タ43
が非活性状態となる。即ち、各遅延ユニット33−1,
33−2,〜33−nの前進パルス遅延回路が互いに電
気的に接続されると共に、遅延ユニット33−1の前進
パルス遅延回路の入力端が遅延回路32に電気的に接続
され、前進パルスの伝達の準備が完了する。
【0114】なお、制御パルスP、/Pのパルス幅(P
が“1”、/Pが“0”の期間)は、遅延回路32の遅
延量Aにより決定される期間よりも短いことが必須の条
件である。前進パルス(遅延模倣パルス)FCL1が遅
延ユニット33−1に入力される前に、全ての遅延ユニ
ット33−1,33−2,〜33−nの前進パルスの伝
達ラインを初期化しておく必要があるからである。
【0115】2. 図7のタイミングチャ−トのb時点
の状態 図9に示すように、内部クロックCLKが“0”とな
り、反転内部クロック/CLKが“1”となる。内部ク
ロックCLK及び反転内部クロック/CLKは、全ての
遅延ユニット33−1,33−2,〜33−nに共通と
なっているため、全ての遅延ユニット33−1,33−
2,〜33−nのNAND回路48の一方の入力が
“1”となる。
【0116】一方、各遅延ユニット33−1,33−
2,〜33−nの状態保持部47は、リセット状態Rに
なっており、状態保持部47から出力される制御パルス
は、Q=“0”,/Q=“1”になっている。
【0117】従って、各遅延ユニット33−1,33−
2,〜33−nのインバ−タ46が活性状態となり、イ
ンバ−タ44が非活性状態となり、全ての遅延ユニット
33−1,33−2,〜33−nの後進パルス遅延回路
の入出力信号RCL1〜RCLnは、全て“0”とな
る。
【0118】3. 図7のタイミングチャ−トのc時点
の状態 図10に示すように、遅延回路(遅延量A)32から前
進パルス(遅延模倣パルス)FCL1が出力され、遅延
ユニット33−1に入力される。なお、前進パルスのパ
ルス幅(“1”の期間)と遅延量Aにより決定される期
間を足したものは、内部クロックCLKの周期Tよりも
短くなるように設定することが必要である。
【0119】前進パルスFCL1(=“1”)が遅延ユ
ニット33−1に入力されると、遅延ユニット33−1
のNAND回路48の他方の入力が“1”となり、NA
ND回路48の出力(セット入力/S)は、“0”とな
る。従って、状態保持部47の状態は、セット状態Sに
変化する。
【0120】状態保持部47がセット状態Sになった遅
延ユニット33−1では、状態保持部47から出力され
る制御パルスは、Q=“1”,/Q=“0”になるた
め、インバ−タ44が活性状態になり、インバ−タ46
が非活性状態になる。
【0121】4. 図7のタイミングチャ−トのd,e
時点の状態 図11に示すように、前進パルスは、遅延ユニット33
−1,33−2,〜33−nを順次経由しながら進んで
いく。
【0122】前進パルスが通り過ぎた遅延ユニット33
−1では、NAND回路48の他方の入力は再び“0”
となり、NAND回路48の出力(セット入力/S)は
“1”となるが、状態保持部47の状態は、セット状態
Sに維持される。
【0123】同様に、前進パルスが遅延ユニット33−
2に入力されると、遅延ユニット33−2の状態保持部
47は、セット状態Sに変わる。前進パルスが遅延ユニ
ット33−2を通り過ぎても、遅延ユニット33−2の
状態保持部47は、セット状態Sを維持する。
【0124】内部クロックCLKが再び“1”になり、
反転内部クロック/CLKが“0”になると、各遅延ユ
ニット33−1,33−2,〜33−nには、この内部
クロックCLKと反転内部クロック/CLKが入力され
る。
【0125】従って、全ての遅延ユニット33−1,3
3−2,〜33−nのNAND回路48の一方の入力は
“0”になると共に、NAND回路49の一方の入力は
“1”になる。
【0126】また、状態保持部47がセット状態Sの遅
延ユニット33−1,33−2では、Q=“1”であ
り、インバ−タ44が活性状態であるため、後進パルス
遅延回路の出力信号RCL1,RCL2は、“0”の状
態を維持するが、状態保持部47がリセット状態Rの遅
延ユニット33−3〜33−nでは、/Q=“1”であ
り、インバ−タ46が活性状態であるため、後進パルス
遅延回路の出力信号RCL3〜RCLnは、“1”とな
る。
【0127】これにより、後進パルスのフロントエッジ
F2が形成される。
【0128】ここで、後進パルスのフロントエッジF2
は、内部クロックCLKが“1”となったときに、状態
保持部がリセット状態Rの遅延ユニット33−3〜33
−nのうち最も初段の遅延ユニット33−1側に位置す
る遅延ユニット33−3で形成される。
【0129】この時、前進パルスのフロントエッジF1
は、遅延ユニット33−3の直前に位置していると考え
られるため、前進パルスのフロントエッジF1と後進パ
ルスのフロントエッジF2は一致する。
【0130】従って、前進パルス(遅延模倣パルス)F
CL1が発生した時点から内部クロックCLKのパルス
が発生するまでの時間Δfと、当該内部クロックCLK
のパルスが発生してから(後進パルスが発生してから)
後進パルスRCL1が出力され、遅延回路34に入力さ
れるまでの時間Δbは、等しくなる。
【0131】この後、図12に示すように、制御パルス
発生回路60の出力信号は、P=“1”、/P=“0”
となり、遅延量A´により決定されるパルス幅を有する
制御パルスP、/Pが生成され、各遅延ユニット33−
1,33−2,〜33−nに入力される。
【0132】各遅延ユニット33−1,33−2,〜3
3−nにおいては、P=“1”、/P=“0”となるた
め、インバ−タ43が活性状態となり、インバ−タ41
が非活性状態となる。従って、全ての遅延ユニット33
−1,33−2,〜33−nの前進パルス遅延回路の入
出力信号FCL1〜FCLnは、全て“0”となり、前
進パルスが消滅し、前進パルスの伝達するラインが初期
化される。
【0133】一方、後進パルス(=“1”)のフロント
が遅延ユニット33−1に入力されると、遅延ユニット
33−2では、NAND回路49の2つの入力が共に
“1”になるため、NAND回路49の出力(リセット
入力/R)が“0”となり、状態保持部47は、リセッ
ト状態Rに変化する(初期化される)。
【0134】各遅延ユニットの状態保持部47の初期化
(リセット状態Rにすること)は、内部クロックCLK
が“1”の期間のみで行われる。即ち、内部クロックC
LKが“1”のとき、後進パルス(=“1”)が入力さ
れると、NAND回路49の2つの入力が共に“1”と
なるからである。
【0135】なお、各遅延ユニットの状態保持部47の
初期化は内部クロックCLKが“1”の期間のみで行わ
れるため、全ての遅延ユニットの状態保持部47を初期
化、即ちリセット状態Rにすることができない場合もあ
るが、特に問題はない。これは、初期化されない遅延ユ
ニット33−1には、次の前進パルスが通り過ぎること
が明らかだからである。
【0136】5. 図7のタイミングチャ−トのf時点
の状態 図13に示すように、内部クロックCLKが“0”とな
り、反転内部クロック/CLKが“1”となる。この内
部クロックCLKと反転内部クロック/CLKは、全て
の遅延ユニット33−1,33−2,〜33−nに入力
される。
【0137】また、各遅延ユニット33−1,33−
2,〜33−nでは、P=“0”、/P=“1”になる
ため、インバ−タ41が活性状態となり、インバ−タ4
3が非活性状態となる。即ち、各遅延ユニット33−
1,33−2,〜33−nの前進パルス遅延回路が互い
に電気的に接続されると共に、遅延ユニット33−1の
前進パルス遅延回路の入力端が遅延回路32に電気的に
接続され、前進パルスの伝達の準備が完了する。
【0138】一方、状態保持部47がリセット状態Rの
遅延ユニット33−2〜33−nでは、/Q=“1”で
あり、インバ−タ46が活性状態である。このため、内
部クロックCLKが“0”になると、状態保持部47が
リセット状態Rの遅延ユニット33−2〜33−nの出
力信号RCL2〜RCLnが“0”となり、後進パルス
のバックエッジが形成される。
【0139】従って、後進パルスのパルス幅は、遅延ユ
ニット1段分の遅延量(インバ−タ2段分の遅延量)に
相当する期間と同じか、又はそれよりも短くなる。
【0140】もし、後進パルスのパルス幅を遅延ユニッ
ト1段分の遅延量よりも長くしたい場合には、図17に
示すように、遅延回路33−nのNAND回路49の他
方の入力を、前段の遅延回路33−(n−1)の出力R
CLn−1とすればよい。この場合、後進パルスの最大
のパルス幅は、遅延ユニット2段分の遅延量(インバ−
タ4段分の遅延量)に相当する期間となる。
【0141】なお、状態保持部47がセット状態Sの遅
延ユニット33−1では、Q=“1”であり、インバ−
タ44が活性状態である。従って、後進パルスを遅延ユ
ニット33−1経由で遅延回路34に導くための準備が
完了する。
【0142】6. 図7のタイミングチャ−トのg時点
の状態 図14に示すように、遅延回路(遅延量A)32から前
進パルス(遅延模倣パルス)FCL1が出力され、遅延
ユニット33−1に入力される。前進パルスFCL1
(=“1”)が遅延ユニット33−1に入力されると、
遅延ユニット33−1のNAND回路48の他方の入力
が“1”となり、NAND回路48の出力(セット入力
/S)は、“0”となる。
【0143】従って、遅延ユニット33−1の状態保持
部47がセット状態のときは、状態保持部47は、セッ
ト状態Sを維持し、当該状態保持部47がリセット状態
Rのときは、状態保持部47は、セット状態Sに変化す
る。
【0144】状態保持部47がセット状態Sになった遅
延ユニット33−1では、状態保持部47から出力され
る制御パルスは、Q=“1”,/Q=“0”になるた
め、インバ−タ44が活性状態になり、インバ−タ46
が非活性状態になる。
【0145】一方で、後進パルスは、初段の遅延ユニッ
ト33−1に入力され、インバ−タ2段分の遅延を受け
て、初段の遅延ユニット33−1から出力される。
【0146】7. 図7のタイミングチャ−トのh時点
の状態 図15に示すように、前進パルスは、遅延ユニット33
−1,33−2,〜33−nを順次経由しながら進んで
いく。
【0147】前進パルスが通り過ぎた遅延ユニット33
−1では、NAND回路48の他方の入力は再び“0”
となり、NAND回路48の出力(セット入力/S)は
“1”となるが、状態保持部47の状態は、セット状態
Sに維持される。
【0148】同様に、前進パルスが遅延ユニット33−
2に入力されると、遅延ユニット33−2の状態保持部
47は、セット状態Sに変わる。前進パルスが遅延ユニ
ット33−2を通り過ぎても、遅延ユニット33−2の
状態保持部47は、セット状態Sを維持する。
【0149】一方、後進パルスは、遅延回路34入力さ
れる。遅延回路34は、後進パルスを遅延量D2だけ遅
らせ、補正内部クロックCK´のパルスを発生する。こ
の補正内部クロックCK´のパルスのタイミングは、外
部クロックCKのパルスのタイミングと一致している。
【0150】8. 図7のタイミングチャ−トのi時点
の状態 図16に示すように、内部クロックCLKが再び“1”
になり、反転内部クロック/CLKが“0”になると、
各遅延ユニット33−1,33−2,〜33−nには、
この内部クロックCLKと反転内部クロック/CLKが
入力される。
【0151】従って、全ての遅延ユニット33−1,3
3−2,〜33−nのNAND回路48の一方の入力は
“0”になると共に、NAND回路49の一方の入力は
“1”になる。
【0152】また、状態保持部47がセット状態Sの遅
延ユニット33−1,33−2では、Q=“1”であ
り、インバ−タ44が活性状態であるため、後進パルス
遅延回路の出力信号RCL1,RCL2は、“0”の状
態を維持するが、状態保持部47がリセット状態Rの遅
延ユニット33−3〜33−nでは、/Q=“1”であ
り、インバ−タ46が活性状態であるため、後進パルス
遅延回路の出力信号RCL3〜RCLnは、“1”とな
る。
【0153】これにより、後進パルスのフロントF1が
形成される。
【0154】この後は、図12〜図16の動作が繰り返
して行われることになる。
【0155】上記構成のクロック制御回路によれば、各
遅延ユニットが状態保持部を持つことにより、遅延模倣
パルス(前進パルス)FCL1が発生してから内部クロ
ックCLKのパルスが発生するまでの時間Δfを正確に
コピ−してΔbを形成し、当該内部クロックCLKのパ
ルスが発生してから時間Δb(=Δf)後に後進パルス
RCL1を遅延量D2を有する遅延回路34に入力させ
ることができる。
【0156】従って、外部クロックにCKに正確に同期
した補正内部クロックCK´を発生することが可能とな
り、高速クロックを用いたデ−タ転送を達成できる。ま
た、本発明は、シンクロナスDRAMのように、内部ク
ロックが一時中断されることがあると共に、周波数が変
化する高速クロックに同期させてデ−タの授受を行うよ
うなメモリに有効である。
【0157】図18は、図2のクロック制御回路の変形
例を示すものである。
【0158】このクロック制御回路は、図2の回路と比
べると、遅延回路34に所定の機能を付加した点が異な
り、その他の構成は、図2の回路と同じである。
【0159】即ち、本実施の形態では、外部クロックC
K又は内部クロックCLKの周期Tが所定値以上に長い
場合には、内部クロックCLKのタイミングを外部クロ
ックCKのタイミングに合わせるという処理を行わず、
メモリの入出力回路の制御は、一定のスキュ−を有する
内部クロックCLKにより行うようにしている。
【0160】これは、外部クロックCKの周波数が比較
的に低い(周期が長い)場合には、スキュ−自体があま
り問題とならないためである。また、クロック制御回路
を構成する遅延ユニットの数も、メモリチップ上の占有
面積との関係からあまり大きくでいないためである。
【0161】以下、本実施の形態の回路の構成を簡単に
説明しておく。
【0162】外部クロックCKは、メモリの入力端子3
0に与えられる。外部クロックCKは、遅延量D1を有
する入力バッファ13に入力される。入力バッファ13
は、外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する
内部クロックCLKを出力する。内部クロックCLK
は、遅延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回
路32は、前進パルスFCL1(遅延模倣パルスCL)
を出力する。
【0163】内部クロックCLK、及び内部クロックC
LKをインバ−タ35により反転した反転内部クロック
/CLKは、それぞれn個の遅延ユニット33−1,3
3−2,…33−nに入力される。
【0164】n個の遅延ユニット33−1,33−2,
…33−nは、互いに直列に接続されている。初段の遅
延ユニット33−1には、前進パルスFCL1が入力さ
れ、また、初段の遅延ユニット33−1からは、後進パ
ルスRCL1が出力される。
【0165】外部クロックCKの周期Tが所定値未満
(高速クロック)の場合には、後進パルスRCL1は、
遅延量D2を有する遅延回路34を経由することによ
り、補正内部クロックCK´となる。この補正内部クロ
ックCK´のタイミングは、外部クロックCKのタイミ
ングと一致しているものである。
【0166】外部クロックCKの周期Tが所定値以上の
場合には、後進パルスRCL1は、遅延量D2を有する
遅延回路34に入力されるが、遅延回路34から出力さ
れることはない。その代わりに、内部クロックCLKが
遅延回路34から出力される。この場合、当然に内部ク
ロックCLKは、外部クロックCKに対して一定のスキ
ュ−を有しているが、このスキュ−は、外部クロックC
Kの周期に対してあまり問題とならない程度の量となっ
ている。
【0167】制御パルス発生回路61は、最終段の遅延
ユニット33−nの前進パルス遅延回路の出力LST
と、初段の遅延ユニット33−1の後進パルス遅延回路
の出力RCL1に基づいて、制御パルスL,/Lを出力
する。制御パルスL,/Lは、補正内部クロックCK´
を出力するか、又は内部クロックCLKを出力するかを
決定する。
【0168】図19は、図18の遅延回路34の構成を
詳細に示すものである。
【0169】遅延ユニット33−1の出力RCL1は、
遅延回路62及びインバ−タ63を経由してNAND回
路64の一方の入力端に入力されると共に、直接、NA
ND回路64の他方の入力端に入力されている。NAN
D回路64の出力信号は、3つのインバ−タ65〜67
を経由することにより、補正内部クロックCK´とな
る。
【0170】インバ−タ66は、制御クロック/Lが
“1”のときに活性状態となるようなクロックドインバ
−タである。即ち、制御クロック/Lが“1”のとき、
後進パルスを一定時間だけ遅らせて補正内部クロックC
K´を生成し、制御クロック/Lが“0”のとき、後進
パルスを遮断する。
【0171】内部クロックCLKは、インバ−タ68を
経由して遅延回路34のインバ−タ67に入力されてい
る。インバ−タ68は、制御クロックLが“1”のとき
に活性状態となるようなクロックドインバ−タである。
即ち、制御クロックLが“1”のとき、内部クロックC
LKをインバ−タ67に導き、制御クロックLが“0”
のとき、内部クロックCLKを遮断する。
【0172】図20は、図18の制御パルス発生回路6
1の構成を示すものである。
【0173】NOR回路69の一方の入力端には、最終
段の遅延ユニット33−nの前進パルス遅延回路の出力
LSTが入力され、他方の入力端には、NOR回路72
の出力が入力されている。NOR回路72の一方の入力
端には、NOR回路69の出力が入力され、他方の入力
端には、NOR回路71の出力が入力されている。
【0174】NOR回路71には、最終段の遅延ユニッ
ト33−nの前進パルス遅延回路の出力LSTと、初段
の遅延ユニット33−1の後進パルス遅延回路の出力R
CL1をインバ−タ70で反転したものがそれぞれ入力
されている。
【0175】さらに、NAND回路73には、NOR回
路69の出力と、この出力を遅延回路74により遅延量
D3だけ遅延させたものとがそれぞれ入力されている。
NAND回路73の出力は、制御クロックLとなり、こ
の制御クロックLをインバ−タ75で反転したものが制
御クロック/Lとなる。
【0176】NAND回路73及び遅延回路74は、N
OR回路69の出力に対して、制御クロックLの立ち上
げは遅らせず、制御クロックLの立ち下げのみ遅延量D
3だけ遅らせて、遅延回路34内の後進パルスを確実に
消滅させ、初期化するためのものである。
【0177】次に、図21を参照しながら、図18〜図
20のクロック制御回路の原理について簡単に説明して
おく。
【0178】図21は、外部クロックCKの1周期(サ
イクルタイム)が比較的長くなり、全遅延ユニットによ
る最大遅延量maxΔが、遅延模倣パルスが発生した時
点から内部クロックCLKのパルスが発生する時点まで
の時間Δfよりも短くなった場合におけるタイミングチ
ャ−トを示している。
【0179】外部クロックCKと内部クロックCLKの
スキュ−の幅(遅延量)をD1とし、外部クロックCK
の周期をTとする。
【0180】内部クロックCLKの1つめのパルスが発
生した時点(立ち上がった時点)から時間Aが経過した
時点で遅延模倣パルスFCL1を発生させる。この場
合、遅延模倣パルスFCL1が発生した時点から、内部
クロックCLKの2つめのパルスが発生する時点までの
時間は、Δfとなる。
【0181】しかし、全遅延ユニットで形成できる最大
遅延量は、maxΔ(<Δf)である。つまり、本発明
のクロック制御回路によりコピ−できる遅延量の最大値
は、maxΔであるため、内部クロックCLKの2つめ
のパルスが発生する時点から時間maxΔが経過した時
点で遅延模倣パルスRCL1が発生することになり、遅
延量Δfを正確にコピ−できなくなる。
【0182】従って、遅延模倣パルスRCL1が発生し
た時点から時間D2が経過した時点で補正内部クロック
CK´を発生させても、この補正内部クロックCK´の
タイミングは、外部クロックCKのタイミングとずれて
いる。しかも、このずれは、もともと存在したスキュ−
よりも大きくなることもあり、かえって、メモリの性能
を劣化させる。
【0183】本実施の形態は、このような現象を回避す
るために考えられたものである。なお、図2の実施の形
態では、内部クロックCLKのパルスが発生してから遅
延模倣パルスが発生するまでの時間をAとし、全遅延ユ
ニットによる最大遅延量をmaxΔとした場合に、A+
maxΔ≦Tを満すことが必要であるが、本実施の形態
では、このような条件は必要とされなくなる。
【0184】次に、図22のタイミングチャ−トを参照
しながら、図18乃至図20のクロック制御回路の動作
について説明する。
【0185】なお、A+maxΔ≦Tを満たすときの動
作は、図7に示すタイミングチャ−トと同じであるの
で、以下では、A+maxΔ>Tの場合の動作について
のみ説明する。
【0186】内部クロックCLKが“1”となると、P
=“1”、/P=“0”となり、全ての遅延ユニット3
3−1,33−2,〜33−nの前進パルス遅延回路の
入出力信号FCL1〜FCLnが全て“0”となり、前
進パルスの伝達するラインが初期化される。
【0187】この後、P=“0”、/P=“1”になる
と、各遅延ユニット33−1,33−2,〜33−nの
前進パルス遅延回路が互いに電気的に接続されると共
に、遅延ユニット33−1の前進パルス遅延回路の入力
端が遅延回路32に電気的に接続され、前進パルスの伝
達の準備が完了する。
【0188】内部クロックCLKが“0”となり、反転
内部クロック/CLKが“1”となった後、遅延回路
(遅延量A)32から前進パルス(遅延模倣パルス)F
CL1が出力され、遅延ユニット33−1に入力され
る。
【0189】前進パルスFCL1(=“1”)が遅延ユ
ニット33−1に入力されると、遅延ユニット33−1
の状態保持部47の状態は、セット状態Sとなる。ま
た、前進パルスは、遅延ユニット33−1,33−2,
〜33−nを順次経由しながら進んでいく。前進パルス
が通り過ぎた遅延ユニットでは、状態保持部47の状態
がセット状態Sに維持される。
【0190】この後、前進パルスは、全ての遅延ユニッ
ト33−1,33−2,〜33−nを経由し、遅延ユニ
ット33−nから出力パルスLST(=“1”)として
出力される。
【0191】この出力パルスLSTは、制御パルス発生
回路61に入力される。その結果、制御パルス発生回路
61は、L=“1”,/L=“0”のパス切替信号を発
生する。つまり、出力パルスLSTが出力された時点で
L=“1”,/L=“0”となり、遅延回路34が非活
性化され、遅延回路34からは、内部クロックCLKの
タイミングと一致した補正内部クロックCK´が出力さ
れる。
【0192】また、内部クロックCLKが再び“1”に
なった後、時間maxΔが経過したときに、遅延ユニッ
ト33−1からは後進パルスRCL1が出力される。こ
の後進パルスRCL1が制御パルス発生回路61に入力
されると、制御パルス発生回路61は、後進パルスRC
L1が遅延回路34から出力されるタイミングの後、即
ち後進パルスRCL1が消滅した後に、L=“0”,/
L=“1”のパス切替信号を発生する。
【0193】つまり、遅延回路34が初期化(活性化)
され、遅延回路34は、遅延ユニット33−1の出力信
号RCL1を出力し得る状態に変化する。
【0194】なお、遅延回路62、インバ−タ63及び
NAND回路64は、遅延ユニット33−1から出力さ
れる後進パルスのパルス幅を決定する。即ち、内部クロ
ックCLKをメモリの入出力制御に用いる場合、後進パ
ルスが遅延回路34内で消滅した後に、L=“0”,/
L=“1”となり、遅延回路34が初期化(活性化)さ
れるように構成する。
【0195】但し、遅延回路34,62,74の各遅延
量は、D3>D2+D2´の関係を有するように設定さ
れる。
【0196】上記構成のクロック制御回路によれば、外
部クロックにCKに正確に同期した補正内部クロックC
K´を発生することが可能となり、高速クロックを用い
たデ−タ転送を達成できる。
【0197】また、本実施の形態では、外部クロックC
Kの周波数に応じて、内部クロックCKをそのまま用い
るか、又は外部クロックCKに同期した補正内部クロッ
クCK´を用いるかを決定することができる。
【0198】つまり、外部クロックCKと内部クロック
CLKのスキュ−が問題となるような高速クロックに同
期させてデ−タの授受を行う場合には、外部クロックC
Kに同期した補正内部クロックCK´を用い、当該スキ
ュ−が問題とならないようなクロックに同期させてデ−
タの授受を行う場合には、通常どうり、内部クロックC
Kを用いるように構成している。
【0199】なお、内部クロックを用いるか又は補正内
部クロックを用いるかは、遅延ユニットの数により決定
される。
【0200】従って、外部クロックCKの周期(サイク
ルタイム)が長い場合に、かえって外部クロックCKと
補正内部クロックCK´のずれが大きくなるという事態
が生じることもない。
【0201】図23は、本発明のクロック制御回路をチ
ップ上に配置する際のレイアウトを示すものである。
【0202】本発明のクロック制御回路を実際にICと
してシスレムに組み込む場合には、配線容量に起因する
遅延(配線遅延)を考慮する必要がある。
【0203】そこで、まず、遅延ユニットのアレイ(以
下、STBD、Synchronous Traced
Backwards Delayという)80は、入
力バッファ13からの距離(又は配線遅延量)と出力バ
ッファ(遅延回路)34までの距離(又は配線遅延量)
が同じになるような位置に配置する。
【0204】次に、入力バッファ13とSTBD80を
配線長Lの配線により接続する。ここで、実際のスキュ
−D1は、入力バッファ13による遅延量と配線長Lの
配線による遅延量の合計となる。
【0205】次に、遅延量Aを有する遅延回路32につ
いて検討する。遅延量Aは、上述したようにD1+D2
で表される(例えば、図6参照)。また、遅延回路(出
力バッファ)34の実際の遅延量D2は、出力バッファ
34による遅延量と配線長Lの配線による遅延量の合計
となる。
【0206】そこで、遅延量Aを有する遅延回路は、ス
キュ−D1を形成するパタ−ン81に対して左右を逆に
したパタ−ン82と、遅延量D2を形成するパタ−ン8
3と同一のパタ−ン84により構成する。
【0207】このようなレイアウトにすることで、配線
遅延も考慮した上で、遅延量A,D1,D2を決定する
ことができるため、より正確に、補正内部クロックCK
´を外部クロックCKに同期させることが可能になる。
【0208】以上、説明したように、本発明のクロック
制御回路によれば、次のような効果を奏する。
【0209】各遅延ユニットが状態保持部を持つことに
より、遅延模倣パルス(前進パルス)FCL1が発生し
てから内部クロックCLKのパルスが発生するまでの時
間Δfを正確にコピ−してΔbを形成し、当該内部クロ
ックCLKのパルスが発生してから時間Δb(=Δf)
後に後進パルスRCL1を遅延量D2を有する遅延回路
に入力させることができる。
【0210】この様子を図24〜図27に概略的に示
す。
【0211】即ち、初期状態では、図24に示すよう
に、遅延ユニット33−1〜33−nの前進パルス遅延
回路及び後進パルス遅延回路は、全て“0”を出力して
いる状態となっている。
【0212】また、図25に示すように、前進パルスが
遅延ユニット33−4に入力され、遅延ユニット33−
4の状態保持部がセット状態Sになった後、内部クロッ
クCLKのパルスが発生すると、状態保持部がリセット
状態Rの遅延ユニット33−5〜33−nは、“1”を
出力する。
【0213】つまり、前進パルスのフロントF1と後進
パルスのフロントF2は、一致することになるため、遅
延量Δfと遅延量Δbは、同じになる。
【0214】この後、図26及び図27に示すように、
遅延ユニット33−4がリセット状態Rに初期化され、
さらに後進パルスが形成され、後進パルスは、遅延ユニ
ット33−3,33−2を経由して、遅延ユニット33
−1から出力される。
【0215】このような動作により、外部クロックにC
Kに正確に同期した補正内部クロックCK´を発生する
ことが可能となり、高速クロックを用いたデ−タ転送を
達成できる。
【0216】また、遅延ユニットの最終段から出力され
る信号をモニタすることにより、外部クロックCKの周
波数に応じて、内部クロックCKをそのまま用いるか、
又は外部クロックCKに同期した補正内部クロックCK
´を用いるかを決定することができる。
【0217】つまり、外部クロックCKと内部クロック
CLKのスキュ−が問題となるような高速クロックに同
期させてデ−タの授受を行う場合には、外部クロックC
Kに同期した補正内部クロックCK´を用い、当該スキ
ュ−が問題とならないようなクロックに同期させてデ−
タの授受を行う場合には、通常どうり、内部クロックC
Kを用いるように構成している。
【0218】なお、内部クロックを用いるか又は補正内
部クロックを用いるかは、遅延ユニットの数により決定
される。
【0219】従って、外部クロックCKの周期(サイク
ルタイム)が長い場合に、かえって外部クロックCKと
補正内部クロックCK´のずれが大きくなるという事態
が生じることもない。
【0220】さらに、遅延量Aが(D1+D2)で表さ
れる点に着目し、配線遅延も考慮した上で、遅延量Aの
パタ−ンを、遅延量D1,D2を形成するパタ−ンと同
一のパタ−ンにより形成している。
【0221】従って、簡略化されたレイアウトによっ
て、メモリチップ内に、正確に補正内部クロックCK´
を外部クロックCKに同期させるシステムを構成するこ
とができる。
【0222】なお、本発明は、シンクロナスDRAMの
ように、内部クロックが一時中断されることがあると共
に、周波数が変化する高速クロックに同期させてデ−タ
の授受を行うようなメモリに有効である。
【0223】図28は、図2のクロック制御回路を簡略
化して示している。
【0224】D1は、遅延量D1を有する遅延回路、D
2は、遅延量D2を有する遅延回路、Aは、遅延量D1
+D2を有する遅延回路、STBD(Synchronous Trac
ed Backward Delay )は、遅延ユニットのアレイであ
る。STBDは、FD(Forward Delay )とBD(Back
ward Delay )から構成される。
【0225】このような構成のクロック制御回路によれ
ば、上述のように、外部クロックCKの位相と内部クロ
ックCK´の位相は、完全に一致する(スキュ−がなく
なる)。よって、上記構成のクロック制御回路は、外部
クロックCKの立ち上がり時(“L”から“H”への移
行時)にデ−タを出力するような場合に有効である。
【0226】一方、近年では、外部クロックCKの周期
をTとしたとき、スキュ−のない内部クロックCK´に
加えて、外部クロックCKに対して(k/j)×Tだけ
位相が遅れた内部クロックCKDを正確に発生させるこ
とが要求されている(k,jは、互いに素な自然数、か
つ、j>kである)。
【0227】例えば、外部クロックCKの立ち上がり時
と立ち下がり時にそれぞれデ−タを出力するような場合
は、外部クロックCKに対して位相が一致した内部クロ
ックCK´と共に、外部クロックCKに対して位相がT
/2(=π)だけ遅れた内部クロックCKDを生成する
必要がある。
【0228】また、このような場合、内部クロックCK
Dの位相が外部クロックの位相に対して正確にT/2
(=π)だけ遅れていないと、デ−タ出力時のデ−タウ
インドウ(デ−タが確定している期間)が短くなり、誤
デ−タを出力する可能性がある。
【0229】よって、以下では、外部クロックCKに対
して(k/j)×Tだけ位相が遅れた内部クロックCK
Dを正確に発生させることができるクロック制御回路に
ついて説明する。
【0230】図29は、本発明のクロック制御回路の構
成の第1例を示すものである。
【0231】このクロック制御回路は、外部クロックC
Kに対して位相が一致した内部クロックCK´と共に、
外部クロックCKに対して位相がT/2(=π)だけ遅
れた内部クロックCKDを生成する(Tは、外部クロッ
クの周期)。
【0232】外部クロックCKは、遅延量D1を有する
入力バッファ13に入力される。入力バッファ13は、
外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する内部
クロックCLKを出力する。内部クロックCLKは、遅
延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回路32
は、遅延模倣パルスCL(前進パルスFCL1)を出力
する。
【0233】遅延模倣パルスCLは、STBD(Synchr
onous Traced Backward Delay )のFD(Forward Dela
y )に入力される。FDにおいて遅延模倣パルスCLが
遅延量Δ分だけ前進した後、BD(Backward Delay )
及びHBD(Half BackwardDelay )においてそれぞれ
後進パルスが生成される。
【0234】BD中の後進パルスRCLは、正確に遅延
量Δ分だけ後進した後、BDから出力される。また、H
BD中の後進パルスHCLは、正確に遅延量Δ/2分だ
け後進した後、HBDから出力される。
【0235】内部クロックCLKは、BD及びHBDに
入力され、後進パルスの生成のタイミングを決定する。
内部クロックCLKをインバ−タ35により反転した反
転内部クロック/CLKは、FDに入力され、前進パル
スが前進する期間(遅延量)を制御する。
【0236】後進パルスRCLは、遅延量D1+(D2
×2)を有する遅延回路34を経由すると、外部クロッ
クCKの位相と一致した補正内部クロックCK´とな
る。また、後進パルスHCLは、遅延量D2を有する遅
延回路36を経由すると、外部クロックCKに対して位
相がT/2(=180°)だけ遅れた内部クロックCK
Dとなる。
【0237】ここで、遅延回路32の遅延量Aは、2×
(D1+D2)に設定されている。
【0238】図30は、本発明のクロック制御回路の構
成の第2例を示すものである。
【0239】このクロック制御回路は、外部クロックC
Kに対して位相が一致した内部クロックCK´と共に、
外部クロックCKに対して位相がT/j(=2π/j)
だけ遅れた内部クロックCKDを生成するものである
(Tは、外部クロックの周期,jは自然数)。
【0240】外部クロックCKは、遅延量D1を有する
入力バッファ13に入力される。入力バッファ13は、
外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する内部
クロックCLKを出力する。内部クロックCLKは、遅
延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回路32
は、遅延模倣パルスCL(前進パルスFCL1)を出力
する。
【0241】遅延模倣パルスCLは、STBD(Synchr
onous Traced Backward Delay )のFD(Forward Dela
y )に入力される。FDにおいて遅延模倣パルスCLが
遅延量Δ分だけ前進した後、BD(Backward Delay )
及び1/jBD( BackwardDelay )においてそれぞれ
後進パルスが生成される。
【0242】BD中の後進パルスRCLは、正確に遅延
量Δ分だけ後進した後、BDから出力される。また、1
/jBD中の後進パルス1/jCLは、正確に遅延量Δ
/j分だけ後進した後、1/jBDから出力される。
【0243】内部クロックCLKは、BD及び1/jB
Dに入力され、後進パルスの生成のタイミングを決定す
る。内部クロックCLKをインバ−タ35により反転し
た反転内部クロック/CLKは、FDに入力され、前進
パルスが前進する期間(遅延量)を制御する。
【0244】後進パルスRCLは、遅延量(j−1)×
D1+j×D2を有する遅延回路34を経由すると、外
部クロックCKの位相と一致した補正内部クロックCK
´となる。また、後進パルス1/jCLは、遅延量D2
を有する遅延回路36を経由すると、外部クロックCK
に対して位相がT/j(=360°/n)だけ遅れた内
部クロックCKDとなる。
【0245】ここで、遅延回路32の遅延量Aは、j×
(D1+D2)に設定されている。
【0246】図31は、本発明のクロック制御回路の構
成の第3例を示すものである。
【0247】このクロック制御回路は、外部クロックC
Kに対して位相が一致した内部クロックCK´と共に、
外部クロックCKに対して位相が(k/j)×T(=2
π×k/j)だけ遅れた内部クロックCKDを生成する
ものである(Tは、外部クロックの周期、k,jは、互
いに素な自然数、j>kである)。
【0248】外部クロックCKは、遅延量k×D1を有
する入力バッファ13に入力される。入力バッファ13
は、外部クロックCKに対してk×D1のスキュ−を有
する内部クロックCLKを出力する。内部クロックCL
Kは、遅延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延
回路32は、遅延模倣パルスCL(前進パルスFCL
1)を出力する。
【0249】遅延模倣パルスCLは、STBD(Synchr
onous Traced Backward Delay )のFD(Forward Dela
y )に入力される。FDにおいて遅延模倣パルスCLが
遅延量Δ分だけ前進した後、BD(Backward Delay )
及びk/jBD( BackwardDelay )においてそれぞれ
後進パルスが生成される。
【0250】BD中の後進パルスRCLは、正確に遅延
量Δ分だけ後進した後、BDから出力される。また、k
/jBD中の後進パルスk/jCLは、正確に遅延量Δ
×(k/j)分だけ後進した後、k/jBDから出力さ
れる。
【0251】内部クロックCLKは、BD及びk/jB
Dに入力され、後進パルスの生成のタイミングを決定す
る。内部クロックCLKをインバ−タ35により反転し
た反転内部クロック/CLKは、FDに入力され、前進
パルスが前進する期間(遅延量)を制御する。
【0252】後進パルスRCLは、遅延量(j−k)×
D1+j×D2を有する遅延回路34を経由すると、外
部クロックCKの位相と一致した補正内部クロックCK
´となる。また、後進パルスk/jCLは、遅延量k×
D2を有する遅延回路36を経由すると、外部クロック
CKに対して位相がT×(k/j)(=360°×k/
j)だけ遅れた内部クロックCKDとなる。
【0253】ここで、遅延回路32の遅延量Aは、j×
(D1+D2)に設定されている。
【0254】図32は、本発明のクロック制御回路の構
成の第4例を示すものである。
【0255】このクロック制御回路は、外部クロックC
Kに対して位相が一致した内部クロックCK´と共に、
外部クロックCKに対して位相がT×(k/j)(=2
π×k/j)だけ遅れた内部クロックCKDを生成する
ものである(Tは、外部クロックの周期、k,jは、互
いに素な自然数、j>kである)。
【0256】外部クロックCKは、遅延量D1を有する
入力バッファ13に入力される。入力バッファ13は、
外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する内部
クロックCLKを出力する。内部クロックCLKは、遅
延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回路32
は、遅延模倣パルスCL(前進パルスFCL1)を出力
する。
【0257】遅延模倣パルスCLは、STBD(Synchr
onous Traced Backward Delay )のFD(Forward Dela
y )に入力される。FDにおいて遅延模倣パルスCLが
遅延量Δ分だけ前進した後、BD(Backward Delay )
及びk/jBD( BackwardDelay )においてそれぞれ
後進パルスが生成される。
【0258】BD中の後進パルスRCLは、正確に遅延
量Δ分だけ後進した後、BDから出力される。また、k
/jBD中の後進パルスk/jCLは、正確に遅延量Δ
×(k/j)分だけ後進した後、k/jBDから出力さ
れる。
【0259】内部クロックCLKは、BD及びk/jB
Dに入力され、後進パルスの生成のタイミングを決定す
る。内部クロックCLKをインバ−タ35により反転し
た反転内部クロック/CLKは、FDに入力され、前進
パルスが前進する期間(遅延量)を制御する。
【0260】後進パルスRCLは、遅延量(j−1)×
D1+j×D2を有する遅延回路34を経由すると、外
部クロックCKの位相と一致した補正内部クロックCK
´となる。また、後進パルスk/jCLは、遅延量(k
−1)×D1+k×D2を有する遅延回路36を経由す
ると、外部クロックCKに対して位相がT×(k/j)
(=360°×k/j)だけ遅れた内部クロックCKD
となる。
【0261】ここで、遅延回路32の遅延量Aは、j×
(D1+D2)に設定されている。
【0262】図33は、本発明のクロック制御回路の構
成の第5例を示すものである。
【0263】このクロック制御回路は、外部クロックC
Kに対して位相が一致した内部クロックCK´と共に、
外部クロックCKに対して位相がT/4(=90°)、
T/2(=180°)、3T/4(=270°)だけ遅
れた内部クロックCKQ,CKH,CK3Qをそれぞれ
生成する。
【0264】外部クロックCKは、遅延量D1を有する
入力バッファ13に入力される。入力バッファ13は、
外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する内部
クロックCLKを出力する。内部クロックCLKは、遅
延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回路32
は、遅延模倣パルスCL(前進パルスFCL1)を出力
する。
【0265】遅延模倣パルスCLは、SAD(Synchron
ous Adjustable Delay)のFD(Forward Delay )に入
力される。SADには、STBD(Synchronous Traced
Backward Delay )などが含まれる。
【0266】FDにおいて遅延模倣パルスCLが遅延量
Δ分だけ前進した後、BD(Backward Delay )、QB
D(Quarter Backward Delay )、HBD(Half Backw
ardDelay )及び3QBD(3 Quarters Backward Delay
)においてそれぞれ後進パルスが生成される。
【0267】BD中の後進パルスRCLは、遅延量Δ分
(遅延素子X個分)だけ後進した後、BDから出力され
る。また、QBD中の後進パルスQCLは、遅延量Δ/
4分(遅延素子X/4個分)だけ後進した後、QBDか
ら出力され、HBD中の後進パルスHCLは、遅延量Δ
/2分(遅延素子X/2個分)だけ後進した後、HBD
から出力され、3QBD中の後進パルス3QCLは、遅
延量3Δ/4分(遅延素子3X/4個分)だけ後進した
後、3QBDから出力される。
【0268】内部クロックCLKは、BD、QBD、H
BD、3QBDにそれぞれ入力され、後進パルスの生成
のタイミングを決定する。内部クロックCLKをインバ
−タ35により反転した反転内部クロック/CLKは、
FDに入力され、前進パルスが前進する期間(遅延量)
を制御する。
【0269】後進パルスRCLは、遅延量(D1×3+
D2×4)を有する遅延回路34を経由すると、外部ク
ロックCKの位相と一致した補正内部クロックCK´と
なる。
【0270】また、後進パルスQCLは、遅延量D2を
有する遅延回路36aを経由すると、外部クロックCK
に対して位相がT/4(=90°)だけ遅れた内部クロ
ックCKQとなる。
【0271】また、後進パルスHCLは、遅延量(D1
+D2×2)を有する遅延回路36bを経由すると、外
部クロックCKに対して位相がT/2(=180°)だ
け遅れた内部クロックCKHとなる。
【0272】さらに、後進パルス3QCLは、遅延量
(D1×2+D2×3)を有する遅延回路36cを経由
すると、外部クロックCKに対して位相が3T/4(=
270°)だけ遅れた内部クロックCKDとなる。
【0273】ここで、遅延回路32の遅延量Aは、4×
(D1+D2)に設定されている。
【0274】図34は、図32のクロック制御回路の構
成を詳細に示すものである。
【0275】外部クロックCKは、メモリの入力端子3
0に与えられる。外部クロックCKは、遅延量D1を有
する入力バッファ13に入力される。入力バッファ13
は、外部クロックCKに対してD1のスキュ−を有する
内部クロックCLKを出力する。内部クロックCLK
は、遅延量Aを有する遅延回路32に入力され、遅延回
路32は、前進パルスFCL1(遅延模倣パルスCL)
を出力する。
【0276】内部クロックCLK、及び内部クロックC
LKをインバ−タ35により反転した反転内部クロック
/CLKは、それぞれn(nは自然数)個の遅延ユニッ
ト33−1,33−2,…33−nに入力される。
【0277】n個の遅延ユニット33−1,33−2,
…33−nは、互いに直列に接続されている。初段の遅
延ユニット33−1には、前進パルスFCL1が入力さ
れ、また、初段の遅延ユニット33−1からは、後進パ
ルスRCL1が出力される。
【0278】n個の遅延ユニット33−1,33−2,
…33−nには、制御パルス発生回路60が出力する制
御パルスP,/Pが入力される。また、遅延ユニット3
3−i(iは、1〜n)は、制御パルスQi,/Qiを
出力する。制御パルスQi,/Qiは、k/jBD37
に入力される。
【0279】後進パルスRCL1は、遅延量(j−1)
×D1+j×D2を有する遅延回路34を経由すること
により、補正内部クロックCK´となる。
【0280】後進パルスk/jCLは、遅延量(k−
1)×D1+k×D2を有する遅延回路36を経由する
ことにより、外部クロックCKに対して位相がT×(k
/j)(=360°×k/j)だけ遅れた内部クロック
CKDとなる。
【0281】図35は、図34の遅延ユニットの構成の
第1例を詳細に示すものである。
【0282】遅延ユニットUi(i=1〜n)は、前進
パルス遅延回路、状態保持回路及び後進パルス遅延回路
の3つの部分から構成される。
【0283】前進パルス遅延回路は、3つのインバ−タ
41〜43から構成されている。インバ−タ41,42
は、直列接続され、インバ−タ41には、前段の遅延ユ
ニットの出力信号FCLiが入力され、インバ−タ42
は、後段の遅延ユニットに出力信号FCLi+1を出力
する。インバ−タ(クロックドインバ−タ)41の動作
は、制御パルス/Pにより制御され、例えば、制御パル
ス/Pが“1”のとき、インバ−タ41は、活性状態と
なる。
【0284】また、インバ−タ43の出力端は、インバ
−タ42の入力端に接続され、インバ−タ43の入力端
には、常に“0”の電位(例えば、接地電位)が印加さ
れている。インバ−タ(クロックドインバ−タ)43の
動作は、制御パルスPにより制御され、例えば、制御パ
ルスPが“1”のとき、インバ−タ43は、活性状態と
なる。
【0285】後進パルス遅延回路は、3つのインバ−タ
44〜46から構成されている。インバ−タ44,45
は、直列接続され、インバ−タ44には、後段の遅延ユ
ニットの出力信号RCLi+1又は内部クロックCLK
が入力され、インバ−タ45は、前段の遅延ユニットに
出力信号RCLiを出力する。インバ−タ(クロックド
インバ−タ)44の動作は、制御パルスQiにより制御
され、例えば、制御パルスQiが“1”のときのみ、イ
ンバ−タ44は、活性状態となる。
【0286】また、インバ−タ46の出力端は、インバ
−タ45の入力端に接続され、インバ−タ46の入力端
には、常に、内部クロックCLKが入力されている。イ
ンバ−タ(クロックドインバ−タ)46の動作は、制御
パルス/Qiにより制御され、例えば、制御パルス/Q
iが“1”のとき、インバ−タ46は、活性状態とな
る。
【0287】状態保持回路は、状態保持部47及びNA
ND回路48,49から構成されている。NAND回路
48には、前段の遅延ユニットの出力信号FCLi及び
反転内部クロック/CLKが入力され、NAND回路4
9には、インバ−タ45の出力信号及び内部クロックC
LKが入力される。
【0288】NAND回路48の出力信号は、状態保持
部47のセット入力/Sとなり、NAND回路49の出
力信号は、状態保持部47のリセット入力/Rとなって
いる。従って、NAND回路48の出力信号(セット入
力)/Sが“0”となったとき、状態保持部47はセッ
ト状態となり、NAND回路49の出力信号(リセット
入力)/Rが“0”となったとき、状態保持部47はリ
セット状態となる。
【0289】状態保持部47は、制御パルスQ,/Qを
出力するようにも構成されている。制御パルスQは、状
態保持部47がセット状態のときに“1”となり、制御
パルス/Qは、状態保持部47がリセット状態のときに
“1”となる。
【0290】状態保持部47は、例えば、図4のような
構成のものを使用することができる。
【0291】前進パルスが通過した遅延ユニットUiで
は、制御パルスQiが“H”となり、/Qiが“L”と
なる。一方、後進パルスが通過した遅延ユニットUiで
は、制御パルスQiが“L”となり、/Qiが“H”と
なる。
【0292】図36は、図34の遅延ユニットの構成の
第2例を詳細に示すものである。
【0293】遅延ユニットUi(i=1〜n)は、前進
パルス遅延回路fdi、状態保持回路sri及び後進パ
ルス遅延回路bdiの3つの部分から構成される。
【0294】前進パルス遅延回路fdiは、5つのイン
バ−タ91〜95から構成されている。インバ−タ91
〜93は、直列接続され、インバ−タ91には、前段の
遅延ユニットの出力信号FCLiが入力され、インバ−
タ92は、後段の遅延ユニットに出力信号FCLi+1
を出力する。インバ−タ(クロックドインバ−タ)91
の動作は、制御パルス/Pにより制御され、例えば、制
御パルス/Pが“1”のとき、インバ−タ91は、活性
状態となる。
【0295】また、インバ−タ94の出力端は、インバ
−タ91の出力端に接続されると共にインバ−タ92,
95の入力端に接続され、インバ−タ94の入力端に
は、常に“0”の電位(例えば、接地電位)が印加され
ている。インバ−タ(クロックドインバ−タ)94の動
作は、制御パルスPにより制御され、例えば、制御パル
スPが“1”のとき、インバ−タ94は、活性状態とな
る。
【0296】後進パルス遅延回路bdiは、5つのイン
バ−タ96〜100から構成されている。インバ−タ9
6〜98は、直列接続され、インバ−タ96には、後段
の遅延ユニットの出力信号RCLi+1又は内部クロッ
クCLKが入力され、インバ−タ97は、前段の遅延ユ
ニットに出力信号RCLiを出力する。インバ−タ(ク
ロックドインバ−タ)96の動作は、制御パルスQiに
より制御され、例えば、制御パルスQiが“1”のとき
のみ、インバ−タ96は、活性状態となる。
【0297】また、インバ−タ99の出力端は、インバ
−タ96の出力端に接続されると共にインバ−タ97,
100の入力端に接続され、インバ−タ99の入力端に
は、常に、内部クロックCLKが入力されている。イン
バ−タ(クロックドインバ−タ)99の動作は、制御パ
ルス/Qiにより制御され、例えば、制御パルス/Qi
が“1”のとき、インバ−タ99は、活性状態となる。
【0298】状態保持回路sriは、PチャネルMOS
トランジスタ101,102、NチャネルMOSトラン
ジスタ103,104及びインバ−タ105から構成さ
れている。
【0299】PチャネルMOSトランジスタ101,1
02は、電源端子とノ−ドZの間に直列接続され、Nチ
ャネルMOSトランジスタ103,104は、接地端子
とノ−ドZの間に直列接続されている。
【0300】MOSトランジスタ101,104のゲ−
トには、内部クロックCLKを反転させたクロック信号
/CLKが入力され、MOSトランジスタ102のゲ−
トには、遅延ユニットUi−3の出力信号/RCLi−
3が入力され、MOSトランジスタ103のゲ−トに
は、遅延ユニットUi−1の出力信号FFCLiが入力
される。
【0301】インバ−タ105の入力端は、ノ−ドZに
接続され、インバ−タ105の出力端からは制御パルス
Qi−2が出力される。ノ−ドZからは、制御パルス/
Qi−2が出力される。
【0302】図37及び図38は、図34のk/jBD
の構成の一例を示している。
【0303】本例では、kが1、jが2の場合、即ち、
外部クロックに対して位相がT/2だけ遅れる場合につ
いて説明する。この場合、k/jBDは、HBD(Half
Backward Delay )となる。
【0304】HBDは、直列接続されたm(mは自然
数)個の遅延ユニットbdi(i=1〜m)から構成さ
れている。各遅延ユニットbdiの構成は、SAD(Sy
nchronous Adjustable Delay)の遅延ユニットUiの後
進パルス遅延回路bdiの構成と同じである。
【0305】よって、BDにおける後進パルスの遅延量
とHBDにおける後進パルスの遅延量の比は、BDにお
ける遅延ユニット数とHBDにおける遅延ユニット数の
比、正確には、1つのブロック内におけるBDの遅延ユ
ニット数とHBDの遅延ユニット数の比に等しくなる。
【0306】具体的には、本例では、n個の遅延ユニッ
トUi(i=1〜n)とm個の遅延ユニットbdi(i
=1〜m)を、それぞれr(rは自然数)個のブロック
B(1),B(2),…B(r)に均等に分けている。
【0307】例えば、ブロックB(1)を、2個の遅延
ユニットU1,U2と1つの遅延ユニットbd1から構
成し、遅延ユニットU1を制御する制御パルスQ1,/
Q1及び遅延ユニットU2を制御する制御パルスQ2,
/Q2のうちのいずれか一方を遅延ユニットbd1に与
えている。
【0308】同様に、ブロックB(r)を、2個の遅延
ユニットUn−1,Unと1つの遅延ユニットbdmか
ら構成し、遅延ユニットUn−1を制御する制御パルス
Qn−1,/Qn−1及び遅延ユニットUnを制御する
制御パルスQn,/Qnのうちのいずれか一方を遅延ユ
ニットbdmに与えている。
【0309】つまり、本例では、SADの2個の遅延ユ
ニットに対してHBDの1個の遅延ユニットを設けてい
る。よって、BDにおいては、後進パルスは、Δだけ遅
延するのに対し、HBDにおいては、後進パルスは、Δ
/2だけ遅延することになる。
【0310】なお、本例の場合、rとmは、等しく、m
=n/2の関係がある。また、上記説明において度々で
てくる互いに素な自然数j,kは、それぞれj=2(1
つのブロック内のSADの遅延ユニットの数に等し
い)、k=1(1つのブロック内のHBDの遅延ユニッ
トの数に等しい)となる。
【0311】また、SADの遅延ユニットの総数nは、
j(本例では2)×rとなり、HBDの遅延ユニットの
総数mは、k(本例では1)×rとなる。
【0312】また、HBDの遅延ユニットbd1〜bd
mは、SADの遅延ユニットU1〜Unに対して均等に
配置するのがよい。つまり、SADの隣接する2つの遅
延ユニットに対してHBDの1つの遅延ユニットを対応
させれば、正確にΔ/2の遅延を生成できるようにな
る。
【0313】図39は、HBDにおける遅延ユニットb
diの構成の一例を示している。
【0314】本例は、図35の遅延ユニットUiを用い
た場合の例である。即ち、遅延ユニットUiの後進パル
ス遅延回路は、3つのインバ−タ44〜46から構成さ
れているため、HBDにおける遅延ユニットbdiも、
3つのインバ−タ44´〜46´から構成される。
【0315】インバ−タ44´,45´は、直列接続さ
れ、インバ−タ44´には、後段の遅延ユニットの出力
信号HCLi+1又は内部クロックCLKが入力され、
インバ−タ45´は、前段の遅延ユニットに出力信号H
CLiを出力する。インバ−タ(クロックドインバ−
タ)44´の動作は、制御パルスQiにより制御され、
例えば、制御パルスQiが“1”のときのみ、インバ−
タ44´は、活性状態となる。
【0316】また、インバ−タ46´の出力端は、イン
バ−タ45´の入力端に接続され、インバ−タ46´の
入力端には、常に、内部クロックCLKが入力されてい
る。インバ−タ(クロックドインバ−タ)46´の動作
は、制御パルス/Qiにより制御され、例えば、制御パ
ルス/Qiが“1”のとき、インバ−タ46´は、活性
状態となる。
【0317】図40は、図39の遅延ユニットbdiを
シンボル化して示すものである。よって、図39の回路
と図40の回路は、同一のものを示している。
【0318】図41は、図34のk/jBDの構成の一
例を示している。
【0319】本例では、jが3、kが1の場合、即ち、
外部クロックに対して位相がT/3だけ遅れる場合につ
いて説明する。
【0320】1/3BDは、直列接続されたm個の遅延
ユニットbdi(i=1〜m)から構成されている。各
遅延ユニットbdiの構成は、SAD(Synchronous Ad
justable Delay)の遅延ユニットUiの後進パルス遅延
回路bdiの構成と同じである。
【0321】よって、BDにおける後進パルスの遅延量
と1/3BDにおける後進パルスの遅延量の比は、BD
における遅延ユニットの数と1/3BDにおける遅延ユ
ニットの数の比、正確には、1つのブロック内における
BDの遅延ユニット数と1/3BDの遅延ユニット数の
比に等しくなる。
【0322】具体的には、本例では、n個の遅延ユニッ
トUi(i=1〜n)とm個の遅延ユニットbdi(i
=1〜m)を、r個のブロックB(1),B(2),…
B(r)に均等に分けている。
【0323】例えば、ブロックB(1)を、3個の遅延
ユニットU1〜U3と1つの遅延ユニットbd1から構
成し、遅延ユニットU1を制御する制御パルスQ1,/
Q1を遅延ユニットbd1に与えている。但し、制御パ
ルスQ1,/Q1に変えて、遅延ユニットU2又は遅延
ユニットU3を制御する制御パルスを遅延ユニットbd
1に与えてもよい。
【0324】つまり、本例では、SADの3個の遅延ユ
ニットに対して1/3BDの1個の遅延ユニットを設け
ている。よって、BDにおいては、後進パルスは、Δだ
け遅延するのに対し、1/3BDにおいては、後進パル
スは、Δ/3だけ遅延することになる。
【0325】なお、本例の場合、rとmは、等しく、m
=n/3の関係がある。また、上記説明において度々で
てくる互いに素な自然数j,kは、それぞれj=3(1
つのブロック内のSADの遅延ユニットの数に等し
い)、k=1(1つのブロック内のHBDの遅延ユニッ
トの数に等しい)となる。
【0326】また、SADの遅延ユニットの総数nは、
j(本例では3)×rとなり、HBDの遅延ユニットの
総数mは、k(本例では1)×rとなる。
【0327】また、1/3BDの遅延ユニットbd1〜
bdmをSADの遅延ユニットU1〜Unに対して均等
に配置するのがよい。つまり、SADの隣接する3つの
遅延ユニットに対して1/3BDの1つの遅延ユニット
を対応させれば、正確にΔ/3の遅延を生成できるよう
になる。
【0328】図42は、図34のk/jBDの構成の一
例を示している。
【0329】本例では、kが2、jが3の場合、即ち、
外部クロックに対して位相が2T/3だけ遅れる場合に
ついて説明する。
【0330】2/3BDは、直列接続されたm個の遅延
ユニットbdi(i=1〜m)から構成されている。各
遅延ユニットbdiの構成は、SAD(Synchronous Ad
justable Delay)の遅延ユニットUiの後進パルス遅延
回路bdiの構成と同じである。
【0331】よって、BDにおける後進パルスの遅延量
と2/3BDにおける後進パルスの遅延量の比は、BD
における遅延ユニット数と2/3BDにおける遅延ユニ
ット数の比、正確には、1つのブロック内におけるBD
の遅延ユニット数と2/3BDの遅延ユニット数の比に
等しくなる。
【0332】具体的には、本例では、n個の遅延ユニッ
トUi(i=1〜n)とm個の遅延ユニットbdi(i
=1〜m)を、r個のブロックB(1),B(2),…
B(r)に均等に分けている。
【0333】例えば、ブロックB(1)を、3個の遅延
ユニットU1〜U3と2つの遅延ユニットbd1,bd
2から構成し、遅延ユニットU1を制御する制御パルス
Q1,/Q1を遅延ユニットbd1に与え、遅延ユニッ
トU3を制御する制御パルスQ3,/Q3を遅延ユニッ
トbd2に与えている。
【0334】但し、制御パルスQ1,/Q1,Q3,/
Q3に変えて、制御パルスQ1,/Q1,Q2,/Q2
を遅延ユニットbd1,bd2に与えてもよいし、ま
た、制御パルスQ2,/Q2,Q3,/Q3を遅延ユニ
ットbd1,bd2に与えてもよい。
【0335】つまり、本例では、SADの3個の遅延ユ
ニットに対して2/3BDの2個の遅延ユニットを設け
ている。よって、BDにおいては、後進パルスは、Δだ
け遅延するのに対し、2/3BDにおいては、後進パル
スは、2Δ/3だけ遅延することになる。
【0336】なお、本例の場合、m=2n/3の関係が
ある。また、上記説明において度々でてくる互いに素な
自然数j,kは、それぞれj=3(1つのブロック内の
SADの遅延ユニットの数に等しい)、k=2(1つの
ブロック内のHBDの遅延ユニットの数に等しい)とな
る。
【0337】また、SADの遅延ユニットの総数nは、
j(本例では3)×rとなり、HBDの遅延ユニットの
総数mは、k(本例では2)×rとなる。また、m/n
=k×r/j×rであるから、m/n=k/jの関係が
ある。
【0338】また、2/3BDの遅延ユニットbd1〜
bdmをSADの遅延ユニットU1〜Unに対して均等
に配置するのがよい。つまり、SADの隣接する3つの
遅延ユニットに対して2/3BDの2つの遅延ユニット
を対応させれば、正確に2Δ/3の遅延を生成できるよ
うになる。
【0339】図43は、図34のk/jBDの構成を一
般的に示している。図44は、図43の1つのブロック
B(i)内におけるk/jBDの構成を示している。
【0340】SADは、r個のブロックB(1)〜B
(r)から構成されている。SADにおいて、各ブロッ
クは、j個の遅延ユニットを含んでいる。同様に、k/
jBDは、r個のブロックB(1)〜B(r)から構成
されている。k/jBDにおいて、各ブロックは、k個
の遅延ユニットを含んでいる。
【0341】j及びkは、互いに素な自然数であり、j
>kに設定するのが一般的である。ブロックがr個存在
するから、SADの遅延ユニットの合計数nは、r×j
個となり、k/jBDの遅延ユニットの合計数mは、r
×k個となる。
【0342】SADのブロック数とk/jBDのブロッ
ク数は等しい。例えば、SADのブロックB(1)は、
k/jBDのブロック(1)に対応し、SADのブロッ
クB(2)は、k/jBDのブロック(2)に対応し、
SADのブロックB(r)は、k/jBDのブロック
(r)に対応している。
【0343】例えば、SADのブロック(1)は、j組
の制御パルスQ1,/Q1,Q2,/Q2,・・・Q
j,/Qjにより制御されている。そこで、これらj組
の制御パルスのうちのk(<j)組のみを選択し、この
k組の制御パルスをk/jBDのブロック(1)に供給
する。
【0344】k組の制御パルスは、j組の制御パルスQ
1,/Q1,Q2,/Q2,・・・Qj,/Qjから規
則的かつ均等に選択される。
【0345】また、選択されたk組の制御パルスは、k
/jBDの対応するk個の遅延ユニットに規則的に与え
られる。例えば、制御パルスQ1,/Q1,Q2,/Q
2が選択される場合には、制御パルスQ1,/Q1をk
/jBDの遅延ユニットbd1に与え(bd2に与えな
い)、制御パルスQ2,/Q2をk/jBDの遅延ユニ
ットbd2に与える(bd1に与えない)。
【0346】このような構成によれば、SADの前進パ
ルスが到達する遅延ユニットの位置にかかわらず、常
に、SADの遅延ユニット数とk/jBDの遅延ユニッ
ト数の比は、k/j=m/nを満たすようになる。よっ
て、前進パルスが到達する遅延ユニットの位置にかかわ
らず、k/jBDにおいて正確にk/jΔの遅延量を生
成することができる。
【0347】次に、図45を参照しながら、本発明(図
31の例の場合)の原理について説明する。
【0348】外部クロックCKと内部クロックCLKの
スキュ−の幅(遅延量)をk×D1とし、外部クロック
CK及び内部クロックCLKの周期をTとする。
【0349】内部クロックCLKの1つめのパルスが発
生した時点(立ち上がった時点)から時間Aが経過した
時点で遅延模倣パルスCLを発生させる。この場合、遅
延模倣パルスCLが発生した時点から、内部クロックC
LKの2つめのパルスが発生する時点までの時間は、Δ
fとなる。
【0350】また、この時間Δfをコピ−してΔbを作
り、遅延模倣パルスCLを発生させた時点から時間2×
Δ(但し、Δf=Δb=Δ)が経過した時点で遅延模倣
パルスRCLが発生するようにする。すると、遅延模倣
パルスRCLが発生した時点から時間Aが経過した時点
は、内部クロックCLKの3つめのパルスが発生する時
点と一致することになる。但し、(A+W)<Tとす
る。Wは、遅延模倣パルスCL,RCLの幅である。
【0351】遅延模倣パルスRCLが発生した時点から
外部クロックCKの3つめのパルスが発生する時点まで
の時間を(j−k)×D1+j×D2とすると、遅延模
倣パルスRCLを時間(j−k)×D1+j×D2だけ
遅延させてやれば、外部クロックCKのタイミングに一
致した補正内部クロックCK´が得られる。
【0352】つまり、遅延量A,(2×Δ),(j−
k)×D1+j×D2を生成する遅延回路を形成し、内
部クロックCLKを時間 A+(2×Δ)+{(j−
k)×D1+j×D2}だけ遅らせれば、外部クロック
CKのタイミングに一致した補正内部クロックCK´が
得られることになる。
【0353】遅延量(2×Δ)は、SADにより生成さ
れ、また、遅延量(j−k)×D1+j×D2は、遅延
素子により生成される。遅延量Aは、以下のようにして
決定される。
【0354】図45の関係から、 k×D1+A+Δ = T+k×D1 …(1) k×D1+A+2Δ+(j−k)×D1+j×D2 = 2T …(2) が導ける。
【0355】(1)式より、T = A+Δ …(3)
が導け、(2)式より、A+2Δ+j(D1+D2)
= 2T …(4)が導ける。
【0356】(3),(4)式より、 A+2Δ+j(D1+D2) = 2(A+Δ) A = j(D1+D2) …(5) となる。
【0357】また、外部クロックCKに対して(k/
j)×Tだけ遅延した内部クロックCKDが生成される
原理は、以下の通りである。
【0358】時間(k/j)×Δ(Δ=Δf=Δb)を
作り、遅延模倣パルスCLを発生させた時点から時間Δ
+(k/j)×Δが経過した時点で遅延パルスk/jC
Lが発生するようにする。また、遅延パルスk/jCL
が発生した時点から時間k×D2が経過した時点におい
て、内部クロックCKDを発生させる。
【0359】この時、図45から明らかなように、内部
クロックCKDは、外部クロックCKに対して、 k×D1+(k/j)×Δ+k×D2 …(6) だけ遅れていることになる。
【0360】(6)式を変形すると、 (k/j)×(j×D1+Δ+j×D2) = (k/j)×{j(D1+D2)+Δ} …(7) となる。
【0361】(7)式は、上記(3),(5)式より、 (k/j)×T …(8) となる。
【0362】つまり、内部クロックCKDは、外部クロ
ックCKに対して位相が(k/j)×Tだけ遅れている
ことを意味する。
【0363】よって、遅延量A,Δ+(k/j)×Δ,
k×D2を生成する遅延回路を形成し、内部クロックC
LKを時間 A+{Δ+(k/j)×Δ}+k×D2だ
け遅らせれば、外部クロックCKに対して位相が(k/
j)×Tだけ遅れた内部クロックCKDが得られること
になる。
【0364】遅延量Δは、SADのFDにより生成さ
れ、また、遅延量k×D2は、遅延素子により生成され
る。遅延量Aは、上述の手法によって、(5)式に示す
ように、j(D1+D2)に設定される。
【0365】次に、図46を参照しながら、本発明(図
32の例の場合)の原理について説明する。
【0366】外部クロックCKと内部クロックCLKの
スキュ−の幅(遅延量)をD1とし、外部クロックCK
及び内部クロックCLKの周期をTとする。
【0367】内部クロックCLKの1つめのパルスが発
生した時点(立ち上がった時点)から時間Aが経過した
時点で遅延模倣パルスCLを発生させる。この場合、遅
延模倣パルスCLが発生した時点から、内部クロックC
LKの2つめのパルスが発生する時点までの時間は、Δ
fとなる。
【0368】また、この時間Δfをコピ−してΔbを作
り、遅延模倣パルスCLを発生させた時点から時間2×
Δ(但し、Δf=Δb=Δ)が経過した時点で遅延模倣
パルスRCLが発生するようにする。すると、遅延模倣
パルスRCLが発生した時点から時間Aが経過した時点
は、内部クロックCLKの3つめのパルスが発生する時
点と一致することになる。但し、(A+W)<Tとす
る。Wは、遅延模倣パルスCL,RCLの幅である。
【0369】遅延模倣パルスRCLが発生した時点から
外部クロックCKの3つめのパルスが発生する時点まで
の時間を(j−1)×D1+j×D2とすると、遅延模
倣パルスRCLを時間(j−1)×D1+j×D2だけ
遅延させてやれば、外部クロックCKのタイミングに一
致した補正内部クロックCK´が得られる。
【0370】つまり、遅延量A,(2×Δ),(j−
1)×D1+j×D2を生成する遅延回路を形成し、内
部クロックCLKを時間 A+(2×Δ)+{(j−
1)×D1+j×D2}だけ遅らせれば、外部クロック
CKのタイミングに一致した補正内部クロックCK´が
得られることになる。
【0371】遅延量(2×Δ)は、SADにより生成さ
れ、また、遅延量(j−1)×D1+j×D2は、遅延
素子により生成される。遅延量Aは、以下のようにして
決定される。
【0372】図46の関係から、 D1+A+Δ = T+D1 …(9) D1+A+2Δ+(j−1)×D1+j×D2 = 2T …(10) が導ける。
【0373】(9)式より、T = A+Δ …(1
1)が導け、(10)式より、A+2Δ+j(D1+D
2) = 2T …(12)が導ける。
【0374】(11),(12)式より、 A+2Δ+j(D1+D2) = 2(A+Δ) A = j(D1+D2) …(13) となる。
【0375】また、外部クロックCKに対して(k/
j)×Tだけ遅延した内部クロックCKDが生成される
原理は、以下の通りである。
【0376】時間(k/j)×Δ(Δ=Δf=Δb)を
作り、遅延模倣パルスCLを発生させた時点から時間Δ
+(k/j)×Δが経過した時点で遅延パルスk/jC
Lが発生するようにする。また、遅延パルスk/jCL
が発生した時点から時間(k−1)×D2+k×D2が
経過した時点において、内部クロックCKDを発生させ
る。
【0377】この時、図46から明らかなように、内部
クロックCKDは、外部クロックCKに対して、 D1+(k/j)×Δ+(k−1)×D1+k×D2 …(14) だけ遅れていることになる。
【0378】(14)式を変形すると、 (k/j)×(j×D1+Δ+j×D2) = (k/j)×{j(D1+D2)+Δ} …(15) となる。
【0379】(15)式は、上記(11),(12)式
より、 (k/j)×T …(16) となる。
【0380】つまり、内部クロックCKDは、外部クロ
ックCKに対して位相が(k/j)×Tだけ遅れている
ことを意味する。
【0381】よって、遅延量A,Δ+(k/j)×Δ,
k×D2を生成する遅延回路を形成し、内部クロックC
LKを時間 A+{Δ+(k/j)×Δ}+k×D2だ
け遅らせれば、外部クロックCKに対して位相が(k/
j)×Tだけ遅れた内部クロックCKDが得られること
になる。
【0382】遅延量Δは、SADのFDにより生成さ
れ、また、遅延量k×D2は、遅延素子により生成され
る。遅延量Aは、上述の手法によって、(13)式に示
すように、j(D1+D2)に設定される。
【0383】図47は、外部クロックを発生し、デ−タ
を受け取るコントロ−ラと、外部クロックから生成した
内部クロックに基づいてデ−タを出力するメモリとの接
続関係を示している。
【0384】上述の例では、外部クロックと内部クロッ
クの位相関係を明確に決定し、メモリから正確なデ−タ
を出力する技術について述べた。本例では、このような
メモリから読み出された正確なデ−タを、コントロ−ラ
が正確に受け取ることができる技術について説明する。
【0385】一般に、メモリシステムは、コントロ−ラ
(CPU)と、複数のメモリ(IC)とを含んでいる。
また、外部クロックCKがコントロ−ラからメモリ1,
2に到達するまでには、一定の時間がかかる。そこで、
まず、コントロ−ラから各メモリ1,2までの外部クロ
ックの配線長を等しくする。
【0386】また、メモリ1又はメモリ2は、外部クロ
ックCKに対して一定の位相関係にある内部クロックに
基づいてデ−タを出力する。デ−タは、デ−タバスを経
由してコントロ−ラに導かれる。
【0387】コントロ−ラは、メモリ1又はメモリ2か
らデ−タを受け取るが、デ−タバスの配線長、配線容量
などにより、デ−タがメモリ1又はメモリ2から出力さ
れ、コントロ−ラに入力されるまでに一定の時間がかか
る。
【0388】即ち、コントロ−ラは、正確なデ−タを取
り込むため、デ−タバスのデ−タの伝搬時間を考慮した
タイミングによりデ−タを取り込む必要がある。
【0389】そこで、メモリ1,2に等しい外部クロッ
クの入力容量を持つダミ−メモリ(IC)を用意する。
コントロ−ラからダミ−メモリまでの外部クロックの配
線長は、コントロ−ラから各メモリ1,2までの外部ク
ロックの配線長に等しくする。
【0390】また、ダミ−ICに入力される外部クロッ
クCKをさらにコントロ−ラに戻し、これをリタ−ンク
ロックとする。
【0391】リタ−ンクロックは、コントロ−ラがメモ
リ1又はメモリ2の出力デ−タを受け取るタイミングを
決定するものである。よって、ダミ−メモリからコント
ロ−ラまでのリタ−ンクロックの配線長は、メモリ1又
はメモリ2からコントロ−ラまでのデ−タバス長に等し
くする。
【0392】このように、コントロ−ラは、リタ−ンク
ロックに基づいて、メモリ1又はメモリ2からのデ−タ
を受け取る。よって、誤デ−タがコントロ−ラに入力さ
れることがない。
【0393】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明のクロッ
ク制御回路によれば、次のような効果を奏する。
【0394】外部クロックに対し常に一定の位相関係に
なる内部クロックを安定して生成することができ、しか
も、外部クロックの周期が変化しても、外部クロックの
数サイクル目には、外部クロックに対して内部クロック
が常に一定の位相関係を有するようになる。
【0395】よって、本発明は、いわゆるシンクロナス
メモリのようなクロック同期型のDRAMのデ−タ入出
力回路の制御に最適である。
【0396】また、クロックのサイクルを分周してデ−
タ出力を行うような制御により、クロックの1周期で複
数のデ−タを出力するような場合には、外部クロックに
対して位相が所定量だけ正確にずれた内部クロックを複
数必要とするが、本発明によれば、このような複数の内
部クロックをPLLなどの複雑なシステムを用いなくて
も、容易に生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の回路を有するメモリを備えたシステム
の主要部を示す図。
【図2】図1のメモリ内のクロック制御回路の構成を示
す図。
【図3】図2の回路内の遅延ユニットを詳細に示す回路
図。
【図4】図3の遅延ユニット内の状態保持部を詳細に示
す回路図。
【図5】図2の回路内の制御パルス発生回路を詳細に示
す図。
【図6】本発明の原理について示す図。
【図7】図2〜5の回路の動作を示すタイミング図。
【図8】図7のタイミング図のaの状態を示す図。
【図9】図7のタイミング図のbの状態を示す図。
【図10】図7のタイミング図のcの状態を示す図。
【図11】図7のタイミング図のdの状態を示す図。
【図12】図7のタイミング図のeの状態を示す図。
【図13】図7のタイミング図のfの状態を示す図。
【図14】図7のタイミング図のgの状態を示す図。
【図15】図7のタイミング図のhの状態を示す図。
【図16】図7のタイミング図のiの状態を示す図。
【図17】図2の回路の変形例を示す図。
【図18】図2の回路の変形例を示す図、
【図19】図18の回路内の遅延回路34を詳細に示す
図。
【図20】図18の回路内の制御パルス発生延回路61
を詳細に示す図、
【図21】図2の回路の動作の問題点を示す図。
【図22】図18〜図20の回路の動作を示すタイミン
グ図。
【図23】本発明の回路をチップに組み込む場合のレイ
アウトを示す図。
【図24】図2及び図18の回路の動作を示す図。
【図25】図2及び図18の回路の動作を示す図。
【図26】図2及び図18の回路の動作を示す図。
【図27】図2及び図18の回路の動作を示す図。
【図28】図2のクッロック制御回路の概略の構成を示
す図。
【図29】本発明のクロック制御回路の第1例を示す
図。
【図30】本発明のクロック制御回路の第2例を示す
図。
【図31】本発明のクロック制御回路の第3例を示す
図。
【図32】本発明のクロック制御回路の第4例を示す
図。
【図33】本発明のクロック制御回路の第5例を示す
図。
【図34】図1のクロック制御回路の構成を詳細に示す
図。
【図35】図34の回路内の遅延ユニットUiの構成を
詳細に示す図。
【図36】図34の回路内の遅延ユニットUiの構成を
詳細に示す図。
【図37】HBDの構成の第1例を示す図。
【図38】HBDの構成の第2例を示す図。
【図39】図37又は図38の遅延ユニットbdiの構
成を示す図。
【図40】図39の回路をシンボル化して示す図。
【図41】1/3BDの構成の第1例を示す図。
【図42】1/3BDの構成の第2例を示す図。
【図43】m/nBDの構成を示す図。
【図44】図43のブロックB(i)の構成を示す図。
【図45】本発明の原理について示す図。
【図46】本発明の原理について示す図。
【図47】本発明のメモリシステムの構成を示す図。
【図48】従来のシステムの主要部を示す図。
【図49】図48のシステムの外部クロックと内部クロ
ックのスキュ−を示す回路図。
【図50】本発明の基礎となる同期システムの原理を示
す図。
【図51】図50の原理を達成するための回路の一例を
示す図。
【図52】図51の回路における遅延量Δf,Δbの決
定の様子を示す図。
【符号の説明】
11 :メモリ、 12 :CPU、 13 :バッファ、 14 :入力回路、 15 :出力回路、 16 :書き込み・読み出し回路、 17 :メモリセルアレイ、 18 :デ−タバス、 21 :入力端子、 22 :入力バッファ、 23、25−1〜25−n、29−1〜29−n,30
:遅延回路、 24 :前進遅延アレイ、 26 :ミラ−制御回路、 27−1〜27−n :制御素子、 28 :後進遅延アレイ、 31 :クロック同期遅延制御回
路、 32、33−1〜33−n、34,57,62 :遅延
回路、 41〜46,59,63,66〜68,70 :インバ
−タ、 47 :状態保持部、 48,49,64 :NAND回路、 51,52 :Pチャネル型MOSトラン
ジスタ、 53〜56 :Nチャネル型MOSトラン
ジスタ、 58,69,71,72 :NOR回路、 60,61 :制御パルス発生回路、 73 :NAND回路、 74 :遅延回路、 75 :インバ−タ、 81〜84 :回路パタ−ン。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03L 7/00 G11C 11/34 354C 362S

Claims (31)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 直列に接続された複数の遅延ユニットか
    ら構成され、 各々の遅延ユニットは、前進パルスを一定の遅延量だけ
    遅らせて後段の遅延ユニットに伝達する前進パルス遅延
    回路と、後進パルスを前記一定の遅延量だけ遅らせて前
    段の遅延ユニットに伝達する後進パルス遅延回路と、内
    部クロックのパルスが前記複数の遅延ユニットに入力さ
    れていない場合に前記前進パルスが入力されると第1状
    態に設定され、前記内部クロックのパルスが前記複数の
    遅延ユニットに入力されている場合に前記後進パルスが
    入力されると第2状態に設定される状態保持部とから構
    成され、 前記前進パルスは、初段の遅延ユニットに入力され、前
    記後進パルスのフロントエッジは、前記内部クロックの
    パルスが前記複数の遅延ユニットに入力された時に状態
    保持部が第2状態の遅延ユニットのうち最も前記初段の
    遅延ユニットに近い遅延ユニットで形成され、前記後進
    パルスは、前記初段の遅延ユニットから出力されること
    を特徴とする遅延アレイ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の遅延アレイにおいて、 前記後進パルスのフロントエッジ以外のエッジは、前記
    内部クロックのパルスが前記複数の遅延ユニットに入力
    されなくなった時に状態保持部が第2状態の遅延ユニッ
    トのうち最も前記初段の遅延ユニットに近い遅延ユニッ
    トで形成されることを特徴とする遅延アレイ。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の遅延アレイと、遅延量D
    1を有し、外部クロックに基づいて内部クロックを発生
    するバッファと、前記内部クロックのパルスを遅延量A
    だけ遅らせて前進パルスとして前記遅延アレイの初段の
    遅延ユニットに供給する第1遅延回路と、前記初段の遅
    延ユニットから出力される後進パルスを遅延量D2だけ
    遅らせて補正内部クロックとして出力する第2遅延回路
    とから構成され、 前記遅延量D1、前記遅延量D2及び前記遅延量Aは、 A=D1+D2 の関係を有していることを特徴とするクロック制御回
    路。
  4. 【請求項4】 前記内部クロックのパルスが請求項1記
    載の遅延アレイの複数の遅延ユニットに入力されてから
    前記前進パルスが前記初段の遅延ユニットに供給される
    までの期間内に、前記複数の遅延ユニットの前進パルス
    遅延回路を初期化するための制御パルスを発生する制御
    パルス発生回路を具備することを特徴とする請求項3記
    載のクロック制御回路。
  5. 【請求項5】 前記前進パルスが請求項1記載の遅延ア
    レイの最終段の遅延ユニットから出力される場合に、前
    記初段の遅延ユニットから出力される後進パルスを遮断
    し、前記後進パルスに代えて前記内部クロックのパルス
    が前記第2遅延回路から出力されるように制御する手段
    を具備することを特徴とする請求項3記載のクロック制
    御回路。
  6. 【請求項6】 前記手段は、前記内部クロックのパルス
    が前記第2遅延回路から出力された後に、前記初段の遅
    延ユニットから出力される後進パルスに基づいて前記第
    2遅延回路を初期化することを特徴とする請求項5記載
    のクロック制御回路。
  7. 【請求項7】 請求項1記載の遅延アレイは、前記バッ
    ファが配置される位置と前記第2遅延回路が配置される
    位置の中間に配置され、 前記第1遅延回路のパタ−ンは、前記バッファ及び前記
    バッファから前記遅延アレイまでの配線のパタ−ンに同
    様のパタ−ンと、前記第2遅延回路及び前記遅延アレイ
    から前記第2遅延回路までの配線のパタ−ンに同様のパ
    タ−ンとの組み合わせにより構成されるようにレイアウ
    トされることを特徴とする請求項3記載のクロック制御
    回路。
  8. 【請求項8】 メモリセルアレイと、前記メモリセルア
    レイに対してデ−タの書き込み又は読み出しを行うため
    の書き込み・読み出し回路と、前記デ−タをバスから入
    力するための入力回路と、前記デ−タを前記バスへ出力
    するための出力回路と、請求項3記載のクロック制御回
    路とから構成され、 前記書き込み・読み出し回路の動作は、前記クロック制
    御回路のバッファから出力される内部クロックにより制
    御され、前記入力回路又は前記出力回路の動作は、少な
    くとも前記クロック制御回路の第2遅延回路から出力さ
    れる補正内部クロックにより制御されることを特徴とす
    るメモリ回路。
  9. 【請求項9】 バスと、前記バスに対してデ−タの授受
    を行うと共に外部クロックを発生する制御ブロックと、
    請求項8記載のメモリ回路を有し、前記バスに対してデ
    −タの授受を行うと共に前記外部クロックを受け取るメ
    モリブロックとを具備することを特徴とする同期制御シ
    ステム。
  10. 【請求項10】 直列接続された複数の遅延ユニットか
    ら構成され、各々の遅延ユニットは、前進パルス及び後
    進パルスを一定の遅延量だけ遅延させて非同期に伝達さ
    せる遅延回路と、前記前進パルスにより第1状態に設定
    され、前記後進パルスにより第2状態に設定される状態
    保持部とを有し、 前記前進パルスは、初段の遅延ユニットに入力され、前
    記後進パルスのフロントエッジは、内部クロックのパル
    スが前記複数の遅延ユニットに入力された時に状態保持
    部が第2状態の遅延ユニットのうち最も前記初段の遅延
    ユニットに近い遅延ユニットで形成され、前記後進パル
    スは、前記前進パルスの進行方向とは逆の方向に進み、
    前記初段の遅延ユニットから出力されることを特徴とす
    る遅延アレイ。
  11. 【請求項11】 直列に接続された複数の第1及び第2
    遅延ユニットから構成され、 各々の第1遅延ユニットは、前進パルスを一定の遅延量
    だけ遅らせて後段の遅延ユニットに伝達する前進パルス
    遅延回路と、第1後進パルスを前記一定の遅延量だけ遅
    らせて前段の遅延ユニットに伝達する第1後進パルス遅
    延回路と、内部クロックのパルスが前記複数の第1遅延
    ユニットに入力されていない場合に前記前進パルスが入
    力されると第1状態に設定され、前記内部クロックのパ
    ルスが前記複数の第1遅延ユニットに入力されている場
    合に前記第1後進パルスが入力されると第2状態に設定
    される状態保持部とから構成され、 各々の第2遅延ユニットは、第2後進パルスを前記一定
    の遅延量だけ遅らせて前段の遅延ユニットに伝達する第
    2後進パルス遅延回路から構成され、 前記前進パルスは、初段の第1遅延ユニットに入力さ
    れ、前記第1後進パルスのフロントエッジは、前記内部
    クロックのパルスが前記複数の第1遅延ユニットに入力
    された時に状態保持部が第2状態の第1遅延ユニットの
    うち最も前記初段の第1遅延ユニットに近い第1遅延ユ
    ニットで形成され、前記第1後進パルスは、前記初段の
    第1遅延ユニットから出力され、 前記第2後進パルスのフロントエッジは、前記第1後進
    パルスのフロントエッジを形成する第1遅延ユニットに
    対応する第2遅延ユニットで形成され、前記第2後進パ
    ルスは、初段の第2遅延ユニットから出力され、 前記第1後進パルス遅延回路の遅延量と前記第2後進パ
    ルス遅延回路の遅延量は、同じであることを特徴とする
    遅延アレイ。
  12. 【請求項12】 請求項11記載の遅延アレイにおい
    て、 前記第1後進パルスのフロントエッジ以外のエッジは、
    前記内部クロックのパルスが前記複数の第1遅延ユニッ
    トに入力されなくなった時に状態保持部が第2状態の第
    1遅延ユニットのうち最も前記初段の第1遅延ユニット
    に近い第1遅延ユニットで形成されることを特徴とする
    遅延アレイ。
  13. 【請求項13】 請求項11記載の遅延アレイにおい
    て、 前記第1遅延ユニットの数と前記第2遅延ユニットの数
    は、互いに異なることを特徴とする遅延アレイ。
  14. 【請求項14】 請求項11記載の遅延アレイにおい
    て、 前記第2遅延ユニットの数は、前記第1遅延ユニットの
    数よりも少ないことを特徴とする遅延アレイ。
  15. 【請求項15】 請求項11記載の遅延アレイにおい
    て、 前記複数の第1遅延ユニットのうち連続するj個の第1
    遅延ユニットにより1つの第1ブロックを構成し、前記
    複数の第2遅延ユニットのうち連続するk個の第2遅延
    ユニットにより前記第1ブロックに対応する1つの第2
    ブロックを構成し、前記第1ブロックの前記j個の第1
    遅延ユニットのうちのk個の動作を制御する制御パルス
    に基づいて、前記第2ブロックのk個の第2遅延ユニッ
    トの動作を制御する(但し、j,kは、互いに素な自然
    数で、かつ、j>kである。)ことを特徴とする遅延ア
    レイ。
  16. 【請求項16】 請求項15記載の遅延アレイにおい
    て、 前記第1遅延ユニットは、r(rは自然数)個のブロッ
    クを構成し、前記第1遅延ユニットの総数は、n(=r
    ×j)個であり、前記第2遅延ユニットも、r個のブロ
    ックを構成し、前記第2遅延ユニットの総数は、m(=
    r×j)個であり、前記第1後進パルスの遅延量をΔと
    した場合に、前記第2後進パルスの遅延量は、(m/
    n)×Δであることを特徴とする遅延アレイ。
  17. 【請求項17】 請求項11記載の遅延アレイと、遅延
    量D1を有し、外部クロックに基づいて前記内部クロッ
    クを発生するバッファと、前記内部クロックのパルスを
    遅延量Aだけ遅らせて前記前進パルスとして前記初段の
    第1遅延ユニットに供給する第1遅延回路と、前記初段
    の第1遅延ユニットから出力される前記第1後進パルス
    を遅延量(j−1)×D1+j×D2だけ遅らせて第1
    補正内部クロックとして出力する第2遅延回路と、前記
    初段の第2遅延ユニットから出力される前記第2後進パ
    ルスを遅延量(k−1)×D1+k×D2だけ遅らせて
    第2補正内部クロックとして出力する第3遅延回路とを
    具備し(但し、j,kは、互いに素な自然数で、かつ、
    j>kである。)、 前記遅延量D1、前記遅延量D2及び前記遅延量Aは、 A = j×(D1+D2) の関係を有していることを特徴とするクロック制御回
    路。
  18. 【請求項18】 請求項11記載の遅延アレイと、遅延
    量k×D1を有し、外部クロックに基づいて前記内部ク
    ロックを発生するバッファと、前記内部クロックのパル
    スを遅延量Aだけ遅らせて前記前進パルスとして前記初
    段の第1遅延ユニットに供給する第1遅延回路と、前記
    初段の第1遅延ユニットから出力される前記第1後進パ
    ルスを遅延量(j−k)×D1+j×D2だけ遅らせて
    第1補正内部クロックとして出力する第2遅延回路と、
    前記初段の第2遅延ユニットから出力される前記第2後
    進パルスを遅延量k×D2だけ遅らせて第2補正内部ク
    ロックとして出力する第3遅延回路とを具備し(但し、
    j,kは、互いに素な自然数で、かつ、j>kであ
    る。)、 前記遅延量D1、前記遅延量D2及び前記遅延量Aは、 A = j×(D1+D2) の関係を有していることを特徴とするクロック制御回
    路。
  19. 【請求項19】 請求項17又は18記載のクロック制
    御回路において、 前記内部クロックのパルスが前記複数の第1遅延ユニッ
    トに入力されてから前記前進パルスが前記初段の第1遅
    延ユニットに供給されるまでの期間内に、前記複数の第
    1遅延ユニットの前記前進パルス遅延回路を初期化する
    ための制御パルスを発生する制御パルス発生回路をさら
    に具備することを特徴とするクロック制御回路。
  20. 【請求項20】 請求項17又は18記載のクロック制
    御回路において、 前記第1遅延ユニットの数と前記第2遅延ユニットの数
    は、互いに異なることを特徴とするクロック制御回路。
  21. 【請求項21】 請求項17又は18記載のクロック制
    御回路において、 前記第2遅延ユニットの数は、前記第1遅延ユニットの
    数よりも少ないことを特徴とするクロック制御回路。
  22. 【請求項22】 請求項17又は18記載のクロック制
    御回路において、 前記複数の第1遅延ユニットのうち連続するj個の第1
    遅延ユニットにより1つの第1ブロックを構成し、前記
    複数の第2遅延ユニットのうち連続するk個の第2遅延
    ユニットにより前記第1ブロックに対応する1つの第2
    ブロックを構成し、前記第1ブロックの前記j個の第1
    遅延ユニットのうちのk個の動作を制御する制御パルス
    に基づいて、前記第2ブロックのk個の第2遅延ユニッ
    トの動作を制御することを特徴とするクロック制御回
    路。
  23. 【請求項23】 請求項22記載のクロック制御回路に
    おいて、 前記第1遅延ユニットは、r(rは自然数)個のブロッ
    クを構成し、前記第1遅延ユニットの総数は、n(=r
    ×j)個であり、前記第2遅延ユニットも、r個のブロ
    ックを構成し、前記第2遅延ユニットの総数は、m(=
    r×j)個であることを特徴とするクロック制御回路。
  24. 【請求項24】 請求項23記載のクロック制御回路に
    おいて、 前記第2後進パルス遅延回路は、前記第1後進パルス遅
    延回路が生成する遅延量のm/n(=k/j)の遅延量
    を生成することを特徴とするクロック制御回路。
  25. 【請求項25】 請求項23記載のクロック制御回路に
    おいて、 前記jは、2、前記kは、1であり、前記第2遅延ユニ
    ットの前記第2後進パルス遅延回路は、前記第1遅延ユ
    ニットの前記第1後進パルス遅延回路が生成する遅延量
    の半分の遅延量を生成することを特徴とするクロック制
    御回路。
  26. 【請求項26】 請求項23記載のクロック制御回路に
    おいて、 前記kは、1であり、前記第2遅延ユニットの前記第2
    後進パルス遅延回路は、前記第1遅延ユニットの前記第
    1後進パルス遅延回路が生成する遅延量の1/jの遅延
    量を生成することを特徴とするクロック制御回路。
  27. 【請求項27】 複数のメモリと、前記複数のメモリを
    コントロ−ルするコントロ−ラと、前記コントロ−ラか
    ら出力される外部クロックに関して、前記複数のメモリ
    の入力容量と同じ入力容量を有するダミ−メモリと、前
    記コントロ−ラから前記複数のメモリまでの前記外部ク
    ロックの遅延時間と前記コントロ−ラから前記ダミ−メ
    モリまでの前記外部クロックの遅延時間が等しくなるよ
    うに配置される第1配線と、前記外部クロックに対して
    一定の位相関係を有する内部クロックに基づいて前記複
    数のメモリのうちの1つから前記コントロ−ラにデ−タ
    を導くデ−タバスと、前記ダミ−メモリに与えられる前
    記外部クロックをリタ−ンクロックとして再び前記コン
    トロ−ラに戻す第2配線とを具備し、 前記複数のメモリのうちの1つから前記コントロ−ラま
    での前記デ−タの遅延時間と前記ダミ−メモリから前記
    コントロ−ラまでの前記リタ−ンクロックの遅延時間が
    等しく、かつ、前記コントロ−ラは、前記リタ−ンクロ
    ックに基づいて前記デ−タを取り込むことを特徴とする
    メモリシステム。
  28. 【請求項28】 外部クロックに対しD1だけ遅れた内
    部クロックが入力され、前記内部クロックが入力されて
    から遅延時間Aが経過した後、前進パルスを出力する第
    1遅延回路と、前記前進パルスを2×Δだけ遅延させた
    後、後進パルスを出力する第2遅延回路と、前記後進パ
    ルスが入力され、前記後進パルスが入力されてから遅延
    時間(j−1)×D1+j×D2が経過した後、前記外
    部クロックに対して位相が一致している補正内部クロッ
    クを出力する第3遅延回路と(但し、jは、自然数、Δ
    は、前記前進パルスが発生した後、最初に前記内部クロ
    ックのパルスが発生するまでの時間、Aは、j×(D1
    +D2)である。)を具備することを特徴とするクロッ
    ク制御回路。
  29. 【請求項29】 外部クロックに対しm×D1だけ遅れ
    た内部クロックが入力され、前記内部クロックが入力さ
    れてから遅延時間Aが経過した後、前進パルスを出力す
    る第1遅延回路と、前記前進パルスを2×Δだけ遅延さ
    せた後、後進パルスを出力する第2遅延回路と、前記後
    進パルスが入力され、前記後進パルスが入力されてから
    遅延時間(j−k)×D1+j×D2が経過した後、前
    記外部クロックに対して位相が一致している補正内部ク
    ロックを出力する第3遅延回路と(但し、j,kは、互
    いに素な自然数、j≧k、Δは、前記前進パルスが発生
    した後、最初に前記内部クロックのパルスが発生するま
    での時間、Aは、j×(D1+D2)である。)を具備
    することを特徴とするクロック制御回路。
  30. 【請求項30】 外部クロックに対しD1だけ遅れた内
    部クロックが入力され、前記内部クロックが入力されて
    から遅延時間Aが経過した後、前進パルスを出力する第
    1遅延回路と、前記前進パルスをΔ+(k/j)×Δだ
    け遅延させた後、後進パルスを出力する第2遅延回路
    と、前記後進パルスが入力され、前記後進パルスが入力
    されてから遅延時間(k−1)×D1+k×D2が経過
    した後、前記外部クロックに対して位相が(k/j)×
    Tだけ遅れている補正内部クロックを出力する第3遅延
    回路と(但し、j,kは、互いに素な自然数、j≧k、
    Δは、前記前進パルスが発生した後、最初に前記内部ク
    ロックのパルスが発生するまでの時間、Aは、j×(D
    1+D2)、Tは、外部クロックの周期である。)を具
    備することを特徴とするクロック制御回路。
  31. 【請求項31】 外部クロックに対しk×D1だけ遅れ
    た内部クロックが入力され、前記内部クロックが入力さ
    れてから遅延時間Aが経過した後、前進パルスを出力す
    る第1遅延回路と、前記前進パルスをΔ+(k/j)×
    Δだけ遅延させた後、後進パルスを出力する第2遅延回
    路と、前記後進パルスが入力され、前記後進パルスが入
    力されてから遅延時間k×D2が経過した後、前記外部
    クロックに対して位相が(k/j)×Tだけ遅れている
    補正内部クロックを出力する第3遅延回路と(但し、
    j,kは、互いに素な自然数、j≧k、Δは、前記前進
    パルスが発生した後、最初に前記内部クロックのパルス
    が発生するまでの時間、Aは、j×(D1+D2)、T
    は、外部クロックの周期である。)を具備することを特
    徴とするクロック制御回路。
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