JPH10507017A - 揮発性メモリ用の電力バックアップ・システム - Google Patents

揮発性メモリ用の電力バックアップ・システム

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JPH10507017A
JPH10507017A JP8511839A JP51183996A JPH10507017A JP H10507017 A JPH10507017 A JP H10507017A JP 8511839 A JP8511839 A JP 8511839A JP 51183996 A JP51183996 A JP 51183996A JP H10507017 A JPH10507017 A JP H10507017A
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JP8511839A
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ハーパー,ジェームズ・ドナルド,ジュニアー
コール,ラリー・ジョー
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エスシーアイ・システムズ・インコーポレーテッド
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Abstract

(57)【要約】 不揮発性メモリ(171)に関連する揮発性メモリ(172)のための保護システムにおいて、エネルギー蓄積部は、電力が正常に提供されている間、エネルギーを累積する。電力故障が起こると、蓄積されたエネルギーは揮発性メモリに供給される。電力の不意の中断の大部分を累積するように、十分なバックアップ電力が蓄積される。結局、外部電力の除去後、バックアップ電力が所定の量まで減少すると、揮発性メモリのデータは不揮発性メモリへ転送される。この保護システムの好ましい使用は、電力の供給に影響する振動及び/又は電力切り換え過渡現象を伴う環境、例えば航空機である。

Description

【発明の詳細な説明】 揮発性メモリ用の電力バックアップ・システム 発明の背景 本発明は、不揮発性メモリを用いた揮発性メモリの電力保持に関し、より特定 すれば、外部から供給されている電力の不意の故障の間の一時的電力供給のため のシステムに関する。 軍用の航空機においては、ホストコンピュータのような電子的装置に電力が供 給されている。航空機の電力システムはそのエンジンによって駆動される航空機 発電機から得られる主電源と、電池のような非常電源と、電力変換装置と、内部 接続網、その他を含む。 電力システムが電源を切り換える時、故障や過渡現象が起り得る。実際、振動 のために故障や過渡現象は非常に頻繁に起る。これは重大な問題を生ずる。 特別な予防処置をしない場合の問題の1つは、そのような故障によって航空機 のコンピュータのメモリに記憶されたデータが失われることである。このような データは、航空機の飛行や武器の操作などに重要なものなので、このデータの信 頼性の維持は重大な問題である。 航空機での電力故障によるデータの消失を防止する1つの従来の技術は、コン ピュータのメモリとして磁気コア・メモリを用いることであった。コア・メモリ の利点は、電力故障に対して鈍感なこと、苛酷な環境に対して強いこと、広い温 度範囲で動作可能なこと、摩耗・疲労などが無いこと(長寿命であること)、そ して1マイクロ秒位の比較的早いアクセス時間である。コア・メモリの欠点は、 256キロバイトで6インチ×9インチ×1.4インチという比較的大きな物理的 サイズと、アクセス時に40ワットという比較的大きな電力消費量と、破壊読み 出し(航空機で用いる全てのコア・メモリはこのタイプである)と、小形のフェ ライトコアの利用可能性が低いことと、現代の航空機に求められるより高速のア クセスの難しさである。 もう1つの、代表的には宇宙船で用いられる従来の技術は、プレーテッド・ワ イヤ・メモリを用いることである。この構成においては、磁性材料でコートされ たワイヤが平行に配置され、ワード線として働く広い平面的な導体がこれらのワ イヤに垂直に存在する。プレーテッド・ワイヤ・メモリの欠点は、非常に高価な こと、非常に大きな物理的サイズ(実質的にコア・メモリより大きい)であるこ と、商業的に得にくいことである。 いくつかの軍用航空機では電池でバックアップされた揮発性ランダム・アクセ ス・メモリ(RAM)を用いている。しかしながら電池は信頼性が無いことが解 っており、受け入れ難いほど貧弱な航空機利用可能性がない。 もう1つの従来の技術は、ホスト・コンピュータの作業メモリとしてスタティ ックRAMを用い、電力故障の発生時にスタティックRAMからデータを電気的消 去可能プログラマブルROM(EEPROM)チップへ転送し、電力故障が終わ った後にデータをスタティックRAMへ戻すことである。この技術には少なくと も2つの問題がある。 第1に、データ転送が生じている時、作業メモリはホスト・コンピュータから 使えない。転送は航空機の飛行任務の重大な局面で起り得、しかも実質的な長さ の時間を要し得るので、そのような使用不可能な事態は受け入れることは出来な い。 第2に、EEPROMは限定された回数の記憶サイクルを有する。即ちEEP ROMは所与の回数の記憶サイクルの後に寿命が来る。航空機の電力故障が頻発 することによって、この制限は簡単に航空機の寿命の間に越えてしまう。更に、 特定のEEPROMの記憶サイクルが実際にどの程度生じたかを検査する便利な 手段が存在しない。従って、それらが必要な時に動作することを保証するために 、EEPROMを頻繁に交換することが必要である。これは、航空機の予想され る使用状況において適正に実行することが難しい微妙な維持管理を要求する。 発明の開示 本発明の目的は、従来技術の上述の欠点を防止するメモリ・システムを提供す ることである。 本発明のもう1つの目的は、システムで用いられる外部コンピュータ・メモリ の損耗を最小にするシステムを提供することである。 本発明の更にもう1つの目的は、航空機における大部分の不意の電力故障の間 、コンピュータ・メモリの利用可能性を維持するシステムを提供することである 。 本発明の更なる目的は、比較的長寿命であり、頑健かつ信頼できると同時に比 較的高速かつ小形のメモリ・システムを提供することである。 上記の目的は、通常の動作中に電気的エネルギーが蓄積される移動体コンピュ ータ・メモリ保護システムを提供する事によって満たされる。電力故障が起ると 、蓄積されたエネルギーは限られた時間だけ揮発性メモリに供給される。この時 間はほとんど全ての電力故障の期間より長い。揮発性メモリ内のデータが不揮発 性メモリに転送されるのは、比較的少数の例外的に長期間の電力故障の時だけで ある。 バックアップ電力がほとんど全ての電力故障の間供給されるので、揮発性メモ リはほとんどの電力故障期間中ホストコンピュータから利用可能に維持される。 即ち、従来技術のアクセス時間の遅延の問題は非常に緩和される。 不揮発性メモリへの転送の回数が、例えば以前の値の1%に劇的に減少するの で、EEPROMのような典型的な不揮発性メモリによって提供される記憶サイ クルの数でも航空機の寿命に対して十分である。即ち、従来技術で用いられてい る不揮発性メモリによって経験された損耗寿命の問題が非常に緩和され、所与の 航空機のEEPROMを交換する必要が無くなった。 本発明の上記および他の目的、特徴、利点は、関連する図面と共に以下の好適 な実施の形態の詳細な説明を読むことによって明らかになるであろう。なお図面 において同一の参照番号は対応する部分を示す。 図面の簡単な説明 図1は、本発明による装置のブロック図である。 図2A乃至図2Jは、図1の装置の動作を説明するために参照するタイミング 図である。 全体的な記述 図1は、移動体、特に航空機や宇宙航空機において用いられる揮発性メモリの ためのデータ保護システムのブロック図である。本記載及び請求の範囲において 用いられているように、用語「航空機」は、振動、電気的スイッチング及び電力 系統の機能不全に起因する電力故障状態にある宇宙船や他の航空機を含む。図1 のシステムは、ホストコンピュータ(図示せず)による使用のため少なくとも1 つの回路ボードの形態を取ることが好ましい。 図1に示されるシステムは、外部電源を監視し、かつ外部電力が不満足である とき、即ち外部電力故障のとき一時的な内部電力をコンピュータ・メモリへ供給 するよう構成されている。 例えば、1991年5月付けのMIL−STD−704E「航空機電力特性」 のような国防総省により制定された航空機仕様は、故障の最大持続時間は50ミ リ秒であり、過渡状態が故障終了時に許されるとしている。大きな電圧偏位が5 0ミリ秒以下のような短い持続過渡時間に対して許され、より小さい電圧偏位は 200ミリ秒のような長い持続過渡時間に対して許される。 一時的な内部電力を供給し得る持続時間は、航空機において予測される実質的 な全ての外部電力故障より長い。従って、コンピュータ・メモリは、電力故障の ほぼ全期間にわたって使用可能の状態にあり、不揮発性バックアップ・メモリの 使用は著しく低減される。 図1のシステムは、入力端子102、104、106、電力インターフェース ・ユニット120、電力モニタ150、記憶コントローラ160、補助メモリ・ バンク170及び出力端子108、110を含む。 電力インターフェース・ユニット 定遅延時間後に良好である場合を示す。本実施の形態においては、所定遅延時間 れると新しいメモリ・サイクル(読出し又は書込み)の開始が禁止されねばなら ないことにある。本発明は外部電力が良好であるか否かを独立的に決定する。 第1及び第2のレベルの外部電力が入力端子104及び106のそれぞれに印 加される。本実施の形態においては、第1の電力レベルは5ボルト(5V)であ り、第2の電力レベルは15ボルト(15V)である。第1の電力レベルは、そ の実際の値が5V±7.5%、即ち4.625Vから5.375Vの範囲内であ るとき良好とされ、この範囲外であるとき不良とされる。第2の電力レベルは、 その実際の値が15V±6%、即ち14.1Vから15.9Vの範囲内にあると き良好とされ、この範囲外であるとき不良とされる。 入力端子104は第1のレベルの電力を電力モニタ150へ供給する。入力端 子106は、第2のレベルの電力を電力インターフェース・ユニット120と電 力モニタ150とに供給する。 第1の外部電力レベル(5V)がバッファ回路(図示せず)により用いられ、 該バッファ回路はホストコンピュータからのアドレス情報、入力/出力データ及 び制御情報をバッファ処理するよう機能する。外部から給電されるインターフェ ース回路の存在により、外部から給電されるロジックと内部で給電されるロジッ クとの間の該インターフェースを介した制御が可能となり、そのため電力ホール ドアップ時間を低減する漏洩経路を排除することができる。即ち、バッファ回路 は、本発明のシステムとホストコンピュータとの間の電力インターフェースを管 理するための境界を確立する。 調整された電力を内部電力バスに供給しかつバックアップ電力として蓄えられ る電力を供給するため、第2のレベルの外部電力(15V)が本発明のシステム により用いられる。 電力インターフェース・ユニット120は、第2のレベルの電力を第3のレベ ルに変換し、調整された内部電力を第4のレベルで供給し、バックアップ電力を 蓄え、該バックアップ電力から該調整された内部電力を外部電力の故障の間供給 するよう構成されている。電力インターフェース・ユニット120は、ダイオー ド122、124、126、電流リミッタ130、電力蓄積コンデンサ131、 132、133、134、及び調整器140を備える。 第2のレベルの外部電力(15V)がダイオード122に与えられ、該ダイオ ード122は第3のレベルの電力信号INT14を出力する。第2のレベルの外 部電力は、14.1ボルトの最小値を有するよう規定され、そのためINT14 信号は、外部電力により駆動されているとき14.1ボルトの最小値からダイオ ード122の両端間の降下分である0.45ボルトを引いた値、即ち、13.6 5ボルトを有する。外部電力故障のとき、ダイオード122は電力インターフェ ース・ユニット120が発生するバックアップ電力の漏洩を阻止するよう機能す る。 第2のレベルの外部電力はまた突入電流リミッタ130に与えられ、該突入電 流リミッタ130は電力蓄積キャパシタ131〜134の充電速度を制御するよ う機能し、そのため外部電源は、図1の保護システムがバックアップ電力を蓄積 するときの急な大電流要求により悪影響を及ぼされない。本実施の形態において 、突入電流リミッタ130は電流消費を1アンペアに制限する。従って、ほぼ5 0〜60msecが、キャパシタ・バンクを或るレベル例えば11.1ボルトま で充電するのに必要とされる。なお、この或るレベルは、ホストコンピュータに よりコンピュータ・メモリに最後の電力故障以降に書き込まれたデータが次の電 力故障の間保存されるのを保証するのに十分であるレベルである。 ダイオード124は、電力蓄積コンデンサを外部電力に対して電流隔離をする よう機能する。 電力蓄積コンデンサ131、132、133、134はまたコンデンサC1、 C2、…、Cn−1、Cnと呼称されるが、これらは、一時的なバックアップ電 力VSTOREを蓄積し、外部電力故障時にこのバックアップ電力VSTORE を供給するよう機能する。数n及びコンデンサのキャパシタンスは、一時的なバ ックアップ電力に、コンピュータRAMからバックアップ・メモリへのデータ転 送のための十分な電力を加えた電力の所望の持続時間を与えるよう選定される。 例えば、軍規格MIL−C−39006スタイルCLR81に従った、Spr ague M39006/25−0232Hタンタル・コンデンサのような湿式 タンタル・コンデンサが用いられ、その各々は330マイクロファラッドのキャ パシタンスを有し、バックアップ電力を供給する所望の最小持続時間は200m secであり、コンピュータ・メモリ及び内部ロジックが必要とするスタンバイ 電流は70ミリアンペアであり、この期間に必要とされる電圧の大きさは5ボル ト(メモリ・バンクが200msec動作して記憶しその後穏やかに停止するの に必要とされる電圧)であるとすると、ほぼ16個のコンデンサ(n=16)が 用いられ得る。この数は のように求められる。各330μFのコンデンサをその製造公差及び温度係数だ け定格を下げると最悪ケースで1コンデンサ当たり175μFとなる。従って、 コンデンサの数(n)=Ctotal / Cper capacitor =2800/175 =16 である。 コンデンサC1,・・・・Cnは(330)(16)=略々5200マイクロフ ァラッドの公称キャパシタンス及び2800マイクロファラッドの最悪の場合の キャパシタンスを供給するように作用する。一般的な状態下で、本実施の形態の 保護システムは4秒までのバックアップ電力及び最悪の場合の状態下で200ミ リ秒までのバックアップ電力を供給することができる。 上述のコンデンサの代替物として、オハイオ州、クリーブランドのTechn autic 株式会社のHYPERCAPコンデンサは、本発明での使用に適し ている。これらの再充電可能な固体コンデンサはカーボン・カソードと固体電解 質と銀でドープされたアノードとで構成されている。これらのコンデンサは、小 形で広い温度領域に渡って高精度であるものと期待される。 ダイオード126は、外部電力故障期間に電力蓄積即ちバックアップ・コンデ ンサC1・・・・・Cnから一時的な電力を供給するように機能する。即ち、I NT14信号に対する外部電力が有効なバックアップ電力のレベルより小さくな ると、INT14信号がバックアップ・コンデンサから発生される。第2の外部 電力レベルは、例えば、14.1ボルトの最低値を有するものとして特定され、 その結果、INT14信号は、14.1ボルトの最低値から、各々のダイオード 124、126の両端間の電圧降下である0.45ボルト及び電流リミッタの飽 和電圧を引いた値、即ち、内部バックアップ電力による駆動時の14.1V−( 2)(0.45V)−(0.1V)=13.1ボルトを持つ。バックアップ電力 レベルは時間と共に変わるので、INT14信号のレベルは時間と共に変化する ものと認識される。 INT14信号はレギュレータ140に供給され、レギュレータ140は、時 間変動するINT14信号を、第4のレベルの調整された内部電力信号INT5 (ここでは、メモリ・バンク170や、電力モニタ150および記憶コントロー ラ160の如き、保護システム内に含まれる他の論理回路により使用される5V )に変換する。INT5信号が分配されるラインは、補足電力バス(capti ve power bus)を形成する。即ち、外部的に供給された電圧から実 質的に独立している。 電力モニタ 電力モニタ150は、5Vおよび15Vの二つの外部電力レベル、INT14 信号、VSTORE信号、及び調整された内部電力INT5を受信し、以下に述 べる、電力モニタ信号EXTMON、INT5MON,VSTMONおよびVS TENMONを発生し、電力モニタ信号を記憶コントローラ160に供給するよ うになされている。各々の電力モニタ信号は、例えば比較回路でスレッショルド をチェックすることにより発生できる。INT14信号は電力モニタ150の論 理回路の電力として使用され、そのレベルは監視されない。 記憶コントローラ NT5と、電力モニタ150からの電力モニタ信号とを受信し、READY信号 、ハードウエア記憶ビジーHSB信号及びNSTCYC信号を発生する。記憶コ ントローラ160は、特定用途集積回路から構成された単純状態マシンである。 代わりに、記憶コントローラ160はマイクロプロセツサであってもよい。 READY信号は、メモリ・バンク170がアクセスされ得ること、及び、メ モリ・バンクがアクセスできない時、即ち、記憶サイクルが生じている時を示す 。 保護システムは、外部電力が良好であることをホストコンピュータからの調整誤 り信号が示すとき、用意完了(レディー)であることを要する。 HSB信号は、メモリ・バンク170内のメモリに記憶サイクルを行わせる。 即ち、スタティックRAMからデータをEEPROMバックアップ・メモリにロ ードさせる。 NSTCYC信号は、行われた記憶動作の回数を示す。記憶コントローラ16 0はHSB信号の発生を計数し、NSTCYC信号として計数結果を出力するカ ウンタを含む。NSTCYC信号は、不揮発性メモリの残存寿命を容易にアクセ スするために使用される。 メモリ・バンク メモリ・バンク170は、バックアップ・メモリ171b,172b,・・・ ・・・174bに各々関連した複数のスタティックRAM171a,172a, ・・・174aを含む。スタティックRAM及び関連したEEPROMと協働す る商業的に入手可能なメモリ・チップとしては、Simtec STK12C6 8−M CMOS 8K×8 高性能AUTOSTORE不揮発性スタティック RAM、またはXicor X20C16 高速AUTOSTORE NOVR AM等が好適である。明瞭のために、一つの電源と、メモリ・バンク170内の 各々のメモリの強制記憶リード線とが図示されているが、各々のメモリはアドレ ス・リード線、入力/出力リード線及び制御リード線を有する。各々のメモリの 電源リード線は、調整された内部電力INT5信号と結合される。各々のメモリ の強制記憶リード線は記憶コントローラ160からのHSB信号に結合される。 コロラド州コロラドスプリングスのSimtekにより製造されたSTK12 C68−Mチップは、アクセス時間が35ナノ秒の高速スタティックRAMであ り、それぞれのスタティックRAMに、「シャドウRAM」と呼ばれることがあ る不揮発性EEPROMが組み込まれている。スタティックRAMは、独立の不 揮発性データがEEPROMに10年間も常駐する間、限りない回数だけ読出し 、書込み可能である。EEPROMは約100,000記憶サイクルに限定され る。スタティックRAMからEEPROMへの記憶は、各々のスタティックRA Mチップ(図1には示していないが、各々のスタティックRAMチップのINT 5リー ド線に位置される)に設けられた外部コンデンサに蓄積された電荷を使用する。 記憶は、ソフトウエアによって初期化され、またはHSB信号によりハードウエ アによって強制実行される。EEPROMからスタティックRAMへの呼び戻し は、入力電圧が4ボルトより大きくなったとき、またはソフトウエアにより初期 化された時に自動的に生じる。 動作 図1に示された保護システムの動作について、図2A〜2Jのタイミング図を 参照して説明する。 3つのタイプの電力故障が図2A〜2Jのタイミング図に示されている。時点 Eと時点Hとの間の期間は、メモリ・バンクが最初にターンオンしたときに故障 が生じており、しかも保護システムが十分なバックアップ電力を生成する前の状 態である。時点Mと時点Oとの間の期間には、本発明の保護システムが、ホスト コンピュータ用のスタティックRAMを使用可能状態に維持しながら記憶動作の 要求を如何にして排除するかを証明する典型的な故障が存在する。時点R以後、 外部電力が遮断されるときのような極めて長時間の電力故障が存在し、記憶動作 は行われる。 図2Aは、図1のターミナル101へ供給される第1のレベルの外部電圧(5 V)を示している。 図2Bにおいては、実線により図1のターミナル106へ供給される第2のレ ベルの外部電圧(15V)を示し、点線により図1のダイオード122の出力に 生成されるINT14信号を示している。 図2A及び2Bにおける曲線は互いに同期して変動するように表されているが 、必ずしも同期して変動する必要はない。本発明は、複数の外部電圧のいずれか に故障が生じた期間中、メモリの読み出し/書き込みの新しいサイクルの開始を 受け付けないように構成されている。ただし、15Vの外部電圧の故障は、図1 のキャパシタC1〜Cnから供給されるバックアップ電力を必要としている。 ている該信号の高レベルは電力が正常であることを示しており、低レベルは電力 ルになり、電力が正常に戻った後も2ミリ秒の所定時間、低レベルに保持される 。電力が異常であるとき、保護システムは、ホストコンピュータからメモリ・バ ンク170への読み出し/書き込み動作を許容すべきではない。 図2Dは、図1の記憶コントローラ160によって発生されてメモリ・バンク 170のメモリに供給されるハードウェア記憶ビジー(HSB)信号を表してお り、該HSB信号により、スタティックRAMから不揮発性EEPROMである バックアップ・メモリへの記憶が実行される。該信号の高レベルは記憶動作が実 行されないことを表し、低レベルにより記憶動作が強制実行される。HSB信号 は、記憶動作の期間中、低レベルに保持される。 図2Eは、VSTORE信号、すなわち、図1のコンデンサC1〜Cnから得 られるバックアップ電力のレベルを表している。VSTORE信号のレベルは、 時間とともに変動する。この実施の形態においては、VSTORE信号は、外部 電力で駆動されるとき、0Vの最小レベルから少なくとも13.6Vである最大 レベルまで変動する。最小レベルと最大レベルとの間に存在するスレッショルド が重要である。第1のスレッショルドは、例えば6.5Vであり、調整された内 部電力として十分なVSTOREのレベルである。第2のスレッショルドは、例 えば8.0Vであり、スタティックRAMからバックアップ用のメモリへのデー タ転送を行うに足るエネルギーを表し、ゆるやかに遮断(シャット・ダウン)す るVSTOREのレベルである。第3のスレッショルドは、例えば11.1Vで あり、最後の電力故障後にホスト・コンピュータによってメモリ・バンクに書き 込まれたデータが、電力の次の故障の期間中に保持されることを保証するに十分 なVSTOREのレベルである。 図2FはEXTMON信号を示しており、該EXTMON信号は、外部電力が 正常であるかどうか、または外部電力故障があるかどうかを示している。EXT 時間遅延が存在する。 図2Gは、INT5MON信号を表しており、該INT5MON信号は、VS TORE信号が第1のスレッショルドである6.5V以上であるか、すなわち、 レギュレータ140によって調整された内部電力が十分なレベルにあるかどうか を示している。 図2HはVSTENMON信号を示しており、該VSTENMON信号は、V STMON信号を無視すべきとき、すなわち無効であると推定できる場合、また は、VSTMON信号がイネーブルされるべきであると推定される場合を表して いる。電力が保護システムに供給されたとき、VSTENMON信号は高レベル となるが、あたかも低レベルであるかのように取り扱われる。最初の高レベルか ら低レベルへの変化により、VSTENフリップ・フロップ(不図示)はセット される。このセット状態は、揮発性メモリから不揮発性メモリへの記憶動作の後 まで、継続して維持される。VSTENフリップ・フロップがセットされると、 VSTMON信号はイネーブル状態となり、VSTENMON信号は有効でなく なる。記憶動作の後にVSTENフリップ・フロップがクリアされ、VSTEN MON信号は、次の高レベルから低レベルへの変化が生じるまで、非イネーブル 状態となる。 図2JはVSTMON信号を示しており、該信号は、スタティックRAMから バックアップ用のメモリへの記憶を実行すべき場合を表している。図1の保護シ ステムが最初にアクティブ状態にされたとき、VSTMON信号は無視され、そ れにより、ホストコンピュータがメモリ・バンクに対して書き込みをする可能性 が無いときの記憶回数を低減させることができる。 図2A及び2Bに示されているように、0ミリ秒の時点を表している時点Aに おいて、外部電源の両方がターンオンされる。すると、図2Bに示されているよ うに、INT14信号もターンオンする。さらに、図2FのEXTMON信号に より、外部電力が正常であることが示され、図2GのINT5MON信号により 、調整された内部電力INT5が正常であることが示される。図2Eに示される ように、コンデンサC1〜Cnへの電荷蓄積が開始され、それにより、VSTO REが立ち上がり始める。 メモリ・バンクに供給された電圧が約4V以上になると、EEPROMの内容 が自動的にスタティックRAMに転送される。この転送は、記憶サイクルを構成 するものではない。したがって、VSTORE信号が第3のスレッショルドに到 達する前、及び、外部電力が開始する直後に、種々の故障が生じたとしても、不 揮発性EEPROMの記憶サイクルは回避される。 あることを表しており、メモリ・バンク170はホストコンピュータからの読み 出し/書き込み動作を受容すべきである。2ミリ秒の期間中、保護システムは、 NSTCYC信号カウンタのリセット、及び種々のラッチ回路(不図示)の初期 化等の、内部ハウスキーピング機能を実行する。 時点Dにおいて、図2EのVSTORE信号が第2のスレッショルドに到達し ており、VSTMON信号は、記憶を実行すべきであることを示している状態か ら、記憶してゆるやかに遮断するに十分なエネルギが利用可能であることを示す 状態に変化する。しかしながら、最初の高レベルから低レベルへの変化が生じて いないので、図2HのVSTENMON信号がイネーブル状態とはならず、した がって、図2JのVSTMON信号は無視される。この間、コンデンサC1〜C nへの充電は継続されている。 時点Bから時点Eまでの間、ホストコンピュータはメモリ・バンク170との 間でデータの読み出し/書き込みを実行している。 外部電力が有効になってから約40ミリ秒後の時点Eにおいて、最初の外部電 力故障が生じる。例えば、故障は、外部電力調整許容レベルを超過する電力過渡 現象である。特に、図2A及び図2Bに示されるように、ターミナル104及び 106に供給される外部電圧レベルが低下し、また図2C及び図2Fに示される 信号が低レベルのとき、図1に示されたシステムは、ホストコンピュータからの 読み出し/書き込み動作を拒否することになっている。 例えば、航空機環境では、直流電力がオンになると、400Hzのリンギング の電力過渡現象が生じる可能性がある。記憶が、このリンギング過渡現象又は5 0Hzの過渡的な電力ドロップアウトによって開始されないことを保証するのが 望ましい。本発明では、この機能は、図2HのVSTENMON信号が、ハイ・ レベルからロー・レベルへの最初の変化が生じるまで、非イネーブル状態である と考えることによって実行される。 また、電力がオンになった直後に、例えば、60ミリ秒以内に、クリティカル なミッション・データが記憶される必要はないことが予想されるので、電力がオ ンになった直後のメモリの内容を保持することは重要ではない。 図2Eに示されているように、点Eで、コンデンサC1、・・・、Cnからの バックアップ電力の供給が開始され、VSTORE信号は減少し始める。これに 対応して、図1のダイオード126を介して供給されるバックアップ電力を表す INT14信号もまた、減少を開始する。 点Fでは、VSTORE信号は、第2のスレショルドより小さくなり、図2J のVSTMON信号は、記憶が開始されるべきであることを示す。しかし、図2 HのVSTENMON信号は依然として非イネーブル状態なので、VSTMON 信号は無視される。 点Gでは、VSTORE信号は第1のスレショルドより小さくなり、図2Gの INT5MON信号はハイになり、調整された内部電力INT5信号が異常であ ることを示す。INT5信号が第1のスレショルドよりも小さいがメモリ・バン ク170のスタティックRAMチップに印加された電圧が依然として例えば4ボ ルトよりも大きければ、このスタティックRAMの内容は保存される。それぞれ のスタティックRAMチップの電圧供給リード線にコンデンサ(図示せず)が存 在することに注意すべきである。スタティックRAMチップに印加された電圧が 4ボルトよりも低くなる場合には、このスタティックRAMの内容は失われる。 しかし、電圧が4ボルトよりも高くなると、EEPROMの内容は、メモリ・チ ップによって、自動的にスタティックRAMに転送される。 点Hでは、図2A及び図2Bに示されるように、外部電力が正常になり、第1 の外部電力故障が終了する。図2FのEXTMON信号は極性が反転し、外部電 力が正常であることを示す。図1のダイオード122を介して供給される外部電 力を表す図2BのINT14信号は、その予想されるレベルまで上昇し、図2G のINT5MON信号は極性が反転して、調整された内部電力INT5信号が正 常であることを示す。電荷がコンデンサC1、・・・、Cnの上に集積し始める ことによって、図2Eに示されるように、VSTOREが上昇を始める。 示されるように、外部電力は正常であることを示す。 点Kでは、図2EのVSTORE信号は第2のスレショルドに達し、それによ って、図2JのVSTMON信号は極性が反転し、記憶が必要ではないことを示 す。この時点では、メモリに対してどのようなアクションも取られない。 点Lでは、図2EのVSTORE信号は第3のスレショルドに到達するが、こ れは、最後の電力故障(この例では、点Iにおけるもの)の後にホストコンピュ ータによってメモリ・バンクに書き込まれたデータが次の電力故障の間に保存さ れることを保証するのに十分なVSTOREのレベルである。第1の故障が生じ なかった場合には、VSTORE信号は、点Aの約50から60ミリ秒後で、第 3のスレショルドに到達する。 点Lでは、図2HのVSTENMON信号は、ハイからローへの最初の変化を 示しており、図2JのVSTMON信号をイネーブルするVSTENフリップフ ロップをセットする。VSTENフリップフロップがセットされた後、VSTE NMON信号のすべての変化は、ハードウェア記憶サイクルが実行されるまで無 視され、その時点で、VSTENフリップフロップがクリアされる。 図2EのVSTORE信号は、コンデンサC1、・・・、Cn上に電荷が集積 されるにつれて、約220ミリ秒で最小の13.6ボルトである調整されたレベ ルに達するまで、連続的に増加する。この時点で、保護システムは、その典型的 な状態にある。 第2の外部電力故障は、約300ミリ秒の点Mにおいて生じるが、これは、本 発明による保護システムがそのために設計されている典型的な故障を表す。上述 のように、この故障は、少なくとも1つの外部電力レベルがその特定の許容差の 範囲外の高い側か低い側かのどちらかにあることを含む。ただし、図2A及び図 2Bでは、共に、外部電力のレベルは、低くなっている。 び図2Fに示されるように、極性が反転する。バックアップ電力がコンデンサC 1、・・・、CnからINT14信号として供給され、これらのコンデンサ上の 電荷は減少し始め、それによって、VSTORE信号とINT14信号とは、図 2E及び2Bに示されているように、減少し始める。 重要なことに、図2GのINT5MON信号は、内部電力INT5信号は正常 であることを示し続け、それによって、メモリ・バンク170の動作は、中断な しに継続する。電力故障が生じたにもかかわらず、記憶サイクルは必要ではなく 、それによって、メモリ・バンク170の不揮発性EEPROM部分の寿命が保 存される。 点Nにおいては、図2EのVSTORE信号は、第3のスレショルドより小さ くなり、図2HのVSTENMON信号は極性が反転し、図2JのVSTMON 信号がもはやイネーブルされていないことを示す。しかし、記憶動作がまだ生じ ていないので、VSTENフリップフロップはイネーブル状態に保持されたまま である。 点Oでは、図2A及び図2Bに示されるように、第2の外部電力故障が終了す る。この第2の外部電力故障の時間的な長さは、約190ミリ秒である。図2F のEXTMON信号は極性が反転し、外部電力が正常であることを示す。INT 14信号は、図2Bにおいて示されるように、この時点では外部電力によって駆 動されているので、上昇する。電荷がバックアップ・コンデンサC1、・・・、 Cnの上に集積し、それによって、図2Eに示すように、VSTOREは上昇し 始める。 力が正常であることを示す。 点Qでは、図2EのVSTORE信号は、第3のスレショルドの上まで上昇し 、それによって、図2HのVSTENMON信号は極性が反転し、図2JのVS TMON信号がイネーブルされていることを示すが、これは、点Lにおいて先に セットされたVSTENフリップフロップの状態に影響しない。 第2の外部電力故障は全体で約190ミリ秒の継続時間を有していたが、メモ リ・バンクは、その故障の全体に亘って使用可能であり、記憶サイクルは要求さ れなかった。 外部電力がシャット・オフされる際に生じる非常に長い故障のような第3の外 部電力故障が、点Rで生じる。図2A及び図2Bの外部電力信号は低下し、図2 C及び図2FのRF信号とEXTMON信号とは、極性を反転させる。コンデン サC1、・・・、Cnからのバックアップ電力の供給が始まり、それによって、 図2EのVSTORE信号と図2BのINT14信号が減少し始める。 点Sにおいて、VSTORE信号が第3のスレショルドより小さくなり、それ によって、図2HのVSTENMON信号はハイになり、これは、VSTMON 信号がイネーブルされていないことを示す。しかし、VSTENフリップフロッ プは、イネーブルされた状態に留まる。 点Tにおいて、VSTORE信号は、第2のスレショルドより小さくなり、そ れによって、図2JのVSTMON信号はオンになり、図2DのHSB信号の極 性は反転し、スタティックRAMからEEPROMへの記憶をメモリ・バンク1 70において強制的に行わせる。NSTCYC信号は増加され、記憶サイクルが 生じることを示す。 点Uにおいて、記憶サイクルが完了し、それによって、図2DのHSB信号は 極性が反転する。メモリ・バンク170のスタティックRAM部分の中にあった すべてのデータは、不揮発性バックアップ・メモリに安全にセーブされ、このメ モリは、データを、例えば10年程度まで保持する。VSTENフリップフロッ プは、クリアされる。 点Vでは、図2EのVSTORE信号は第3のスレショルドより小さくなり、 図2GのINT5MON信号は極性が反転して、調整された内部電力INT5信 号が不良であることを示す。その後で、電荷が、コンデンサC1、・・・、Cn から、電荷が全くなくなるまで、放電する。 以上では、本発明を航空機の環境に即して説明してきたが、データ・アクセス がクリティカルであり電力が例えば電気的なスイッチングによって頻繁に故障を 生じるような任意の環境にも、本発明が適していることは明らかであろう。 本発明の例示的な実施の形態とその種々の修正例とを添付の図面を参照して詳 細に説明したが、本発明は、この正確な実施の形態とその修正例とに限定される ものではなく、当業者は、請求の範囲において定義される本発明の技術思想及び 範囲から離れることなく、種々の変更及び更なる修正を行い得ることを理解すべ きである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G06F 1/00 341V (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG ,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN, TD,TG),AP(KE,MW,SD,SZ,UG), AM,AT,AU,BB,BG,BR,BY,CA,C H,CN,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB ,GE,HU,IS,JP,KE,KG,KP,KR, KZ,LK,LR,LT,LU,LV,MD,MG,M N,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU ,SD,SE,SG,SI,SK,TJ,TM,TT, UA,UZ,VN

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.メモリ電力を提供するための装置であって、 外部電力を受け取るための手段と、 少なくとも第1のレベルの電力が提供されている期間にデータを記憶するため の揮発性メモリ手段と、 データを記憶するための不揮発性メモリ手段と、 前記外部電力を蓄積するための、及び、前記外部電力の故障期間に前記第1の レベルよりも高いレベルのバックアップ電力を前記揮発性メモリ手段に提供する ためのバックアップ電力蓄積手段と、 前記外部電力の故障の検出に応答して前記揮発性メモリ手段から前記不揮発性 メモリ手段へデータを転送するための、及び、前記バックアップ電力が前記第1 の電力レベルよりも小さくなるまで前記転送を遅延させるための制御手段と、 を具備する装置。 2.前記転送が、前記外部電力の一時的故障の実質的部分においてデータの前記 転送を阻止するに足る所定の時間の間遅延される、請求項1記載の装置。 3.前記不揮発性メモリ手段が少なくとも1つの半導体EEPROMである、請 求項1記載の装置。 4.前記バックアップ電力蓄積手段が、前記外部電力の供給から充電されるよう に接続された複数のコンデンサを含む、請求項1記載の装置。 5.前記転送が、大部分の前記一時的故障において前記転送を阻止するに足る所 定の時間の間遅延される、請求項2記載の装置。 6.外部電力を受け取るための前記手段が、航空機電源システムから電力を受け 取るようになされた、請求項1記載の装置。 7.前記揮発性メモリ手段及び前記不揮発性メモリ手段が固体である、請求項1 記載の装置。 8.メモリ電力を提供するための装置であって、 外部電力を受け取るための手段と、 第1のレベルの電力が提供されている間、データを記憶するための揮発性メモ リ手段と、 電力が提供されていない期間、データを記憶するための不揮発性メモリ手段と 、 前記外部電力を蓄積するための、及び、蓄積された外部電力を前記外部電力の 故障の期間バックアップ電力として前記揮発性メモリ手段へ供給するためのバッ クアップ電力蓄積手段と、 前記外部電力が前記第1のレベルの電力よりも小さくなったときに、前記揮発 性メモリ手段に記憶されたデータの前記揮発性メモリ手段から前記不揮発性メモ リ手段への転送を制御するための、及び、前記揮発性メモリ手段から前記不揮発 性メモリ手段へのデータ転送の回数の計数を提供するための制御手段と、 を具備する装置。 9.スタートアップ時に、前記制御手段が、前記バックアップ電力が第2のレベ ルの電力へ上昇するまで、前記揮発性メモリ手段から前記不揮発性メモリ手段へ の前記転送を阻止するよう動作する、請求項1記載の装置。 10.第1のレベルの外部電力が提供される間データを記憶するよう航空機にお いて使用される揮発性メモリ手段のための保護システムであって、 電力が提供されない間、データを記憶するための不揮発性メモリ手段と、 前記外部電力を蓄積するための、及び、前記外部電力の故障の期間に、蓄積さ れた外部電力を前記不揮発性メモリ手段へ提供するためのバックアップ電力蓄積 手段と、 前記バックアップ電力が前記第1のレベルの電力よりも小さくなったときに前 記揮発性メモリ手段から前記不揮発性メモリ手段へのデータ転送を制御するため の、及び、前記揮発性メモリ手段から前記不揮発性メモリ手段へのデータ転送の 回数の計数を提供するための制御手段と、 を具備する保護システム。 11.メモリ電力を提供するための装置であって、 データを記憶することができ、データが記憶されるとき又はデータ保存のため に不揮発性メモリとの間でデータを転送しているときを除いてコンピュータがデ ータを検索することができる揮発性メモリと、 前記揮発性メモリから転送されたデータを記憶するための不揮発性メモリと、 外部電源から電力を伝えるための手段と、 前記外部電源の電力故障の期間、前記不揮発性メモリへ電力を供給するための バックアップ電源と、 前記電力故障を検出し、バックアップ電力を前記揮発性メモリへ供給し、それ ぞれの前記電力故障の期間、所定の長さの時間にわたって前記揮発性メモリから 前記不揮発性メモリへのデータ転送を阻止するための、及び、前記所定の長さの 時間よりも長く故障が継続した後、前記データ転送を行わせるためのデータ転送 制御装置と、 を具備し、前記所定の長さの時間が、前記外部電源の一時的故障の実質的部分の 間、前記データ転送を阻止するに足るものである装置。 12.前記バックアップ電源が、前記外部電源からの電力を蓄積するための、及 び、前記故障の1つの検出時にその蓄積された電力を分配するための蓄積装置を 備える、請求項11記載の装置。 13.前記装置が航空機コンピュータ・システムに設けられている、請求項11 記載の装置。 14.前記実質的な部分が前記一時的故障の大部分である、請求項11記載の装 置。 15.メモリ電力を提供するための装置であって、 データを記憶するための揮発性メモリと、 前記揮発性メモリから転送されたデータを記憶するための不揮発性メモリであ って、制限された回数の読み出し/書き込みサイクルを摩耗前に実行する不揮発 性メモリと、 外部電源から前記揮発性メモリへ電力を伝えるための手段と、 前記外部電源の故障期間に、前記揮発性メモリへ電力を供給するためのバック アップ電源と、 前記電力故障を検出し、前記揮発性メモリへ電力を供給し、それぞれの前記電 力故障の期間、所定の長さの時間にわたって前記揮発性メモリから前記不揮発性 メモリへのデータ転送を阻止するための、及び、前記所定の長さの時間よりも長 く故障が継続した後、前記データ転送を行わせるためのデータ転送制御装置と、 を具備し、前記所定の長さの時間が、前記外部電源の実質的な数の一時的故障の 間、前記データ転送を阻止するに足るものであり、前記メモリの所与の長さの動 作時間の間の読み出し/書き込みサイクルの前記回数が制限される装置。 16.前記装置が、航空機コンピュータ・システムに設けられ、前記外部電源が 航空機電源システムである、請求項15記載の装置。 17.揮発性メモリと電源とを備える航空機コンピュータ・システムにおいてデ ーのタ記憶と検索とを制御する方法であって、前記電源が比較的頻繁に一時的電 力故障を起こす方法であって、 (a)前記一時的故障の大部分の持続時間を決定するステップと、 (b)バックアップ電源からバックアップ電力を提供するステップと、 (c)前記揮発性メモリから転送されたデータを記憶してデータの消失を阻止 するために不揮発性メモリを設けるステップと、 (d)それぞれの前記一時的電力故障の開始を検出するステップと、 (e)それぞれの前記故障の期間、バックアップ電力を前記揮発性メモリに供 給するステップと、 (f)前記故障の持続時間が前記一時的故障の大部分の持続時間よりも長くな った後のみ、それぞれの故障の期間、データを前記揮発性メモリから前記不揮発 性メモリへ転送するステップと、 を備える方法。 18.前記不揮発性メモリの実行可能な読み出し/書き込みサイクルの全回数が 制限される、請求項17記載の方法。 19.全体バックアップ電源が、前記電源から電荷蓄積装置を充電し、この蓄積 された電荷を故障の検出時に放出することにより生成される、請求項17記載の 方法。 20.前記コンピュータ・システムが、データが前記揮発性メモリから転送され るときにディスエーブルされる、請求項17記載の方法。 21.前記サイクルを計数して、前記不揮発性メモリの残存寿命に関する情報を 与えるステップを含む、請求項18記載の方法。 22.コンピュータ・システムにおいてコンピュータ・ダウン時間とデータ転送 動作とを制限する方法であって、該コンピュータ・システムが電源と、該コンピ ュータ・システムの動作に使用するための揮発性メモリと、前記揮発性メモリか らのデータを記憶し、データが一時的電力故障に起因して破壊されないようにす る方法において、 (a)それぞれの前記故障の開始を検出し、それに応答して、前記揮発性メモ リへバックアップ電力を供給するステップと、 (b)それぞれの故障期間に、前記電力故障の大部分の持続時間よりも長い所 定の時間の間、前記バックアップ電力を維持するステップと、 (c)前記故障が前記所定の時間よりも長く続くときのみ、前記揮発性メモリ から前記不揮発性メモリへデータを転送するステップと、 を含む方法。
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