JPH10293145A - インピーダンス測定装置 - Google Patents
インピーダンス測定装置Info
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- JPH10293145A JPH10293145A JP10325897A JP10325897A JPH10293145A JP H10293145 A JPH10293145 A JP H10293145A JP 10325897 A JP10325897 A JP 10325897A JP 10325897 A JP10325897 A JP 10325897A JP H10293145 A JPH10293145 A JP H10293145A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】測定子の接触・解放時の摩耗を防止することが
できるインピーダンス測定装置を提供する。 【解決手段】測定用の抵抗器ＲX に接触する測定子Ｔ1
〜Ｔ4 と、電源Ｐと、抵抗器ＲX に現れた電圧降下を測
定し電流との演算により抵抗値を求める測定手段Ａと、
測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が抵抗器ＲX の電極に接触したことを
検知する検知手段Ｌと、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 を電源Ｐ，測
定手段Ａと検知手段Ｌとに選択的に切り換える切換接点
Ｓ1 〜Ｓ4 を有する切換手段Ｓとを備え、測定子Ｔ1 〜
Ｔ4 が検知手段Ｌから電源Ｐおよび測定手段Ａに切り換
わった後に通電されかつ通電停止後に検知手段Ｌに切り
換わるように動作タイミングを設定している。
できるインピーダンス測定装置を提供する。 【解決手段】測定用の抵抗器ＲX に接触する測定子Ｔ1
〜Ｔ4 と、電源Ｐと、抵抗器ＲX に現れた電圧降下を測
定し電流との演算により抵抗値を求める測定手段Ａと、
測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が抵抗器ＲX の電極に接触したことを
検知する検知手段Ｌと、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 を電源Ｐ，測
定手段Ａと検知手段Ｌとに選択的に切り換える切換接点
Ｓ1 〜Ｓ4 を有する切換手段Ｓとを備え、測定子Ｔ1 〜
Ｔ4 が検知手段Ｌから電源Ｐおよび測定手段Ａに切り換
わった後に通電されかつ通電停止後に検知手段Ｌに切り
換わるように動作タイミングを設定している。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、４端子法を用い
て抵抗器、コンデンサ、インダクタなどのインピーダン
ス素子を測定するインピーダンス測定装置に関するもの
である。
て抵抗器、コンデンサ、インダクタなどのインピーダン
ス素子を測定するインピーダンス測定装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】図６は代表的な抵抗器の測定方法の一例
である。測定子Ｔ1 〜Ｔ4 に接続されている測定対象と
なる抵抗器ＲX に直流電流発生手段Ｄより一定の測定電
流Ｉを流す。抵抗器ＲX に電流が流れたことにより両端
に電圧降下ＥX が発生する。この抵抗器ＲX に比例した
電圧を差動増幅器Ｎにより増幅し、増幅された出力電圧
ＥA と直流電流発生手段Ｄからの出力電流Ｉに比例した
電圧出力ＥI とを演算手段ＢＹに入力し、ＥA ／ＥI の
演算を行なうことにより得られたＥX ／Ｉに比例した出
力を表示手段ＣＣに入力し、抵抗器ＲX を表示する。
である。測定子Ｔ1 〜Ｔ4 に接続されている測定対象と
なる抵抗器ＲX に直流電流発生手段Ｄより一定の測定電
流Ｉを流す。抵抗器ＲX に電流が流れたことにより両端
に電圧降下ＥX が発生する。この抵抗器ＲX に比例した
電圧を差動増幅器Ｎにより増幅し、増幅された出力電圧
ＥA と直流電流発生手段Ｄからの出力電流Ｉに比例した
電圧出力ＥI とを演算手段ＢＹに入力し、ＥA ／ＥI の
演算を行なうことにより得られたＥX ／Ｉに比例した出
力を表示手段ＣＣに入力し、抵抗器ＲX を表示する。
【０００３】図７は図６の直流電流発生手段Ｄに代え
て、定電流発生手段ＤＲを用いた例であり、測定電流Ｉ
R が予め値の判った一定値であるため、測定電流値を演
算手段ＢＲＹに予め設定することができる。図８は、図
６および図７の測定装置において、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 の
抵抗器ＲXへの接触を確認する検知手段を有する例であ
る。すなわち、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4をそれぞれａ位置側
に切り換えて、接触抵抗測定器４，５により測定子Ｔ1
〜Ｔ 4 による接触電圧を測定し、その出力を比較器８，
９により基準値ＥS と比較する。各比較器８，９の出力
を検知し、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が適正の場合に切換接点Ｓ
1 〜Ｓ4 をｂ位置に切換え、定電流回路２より抵抗器Ｒ
X に電流を流し、電圧検出器３により抵抗器ＲX の電圧
降下ＥP を測定し、抵抗値を出力する。
て、定電流発生手段ＤＲを用いた例であり、測定電流Ｉ
R が予め値の判った一定値であるため、測定電流値を演
算手段ＢＲＹに予め設定することができる。図８は、図
６および図７の測定装置において、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 の
抵抗器ＲXへの接触を確認する検知手段を有する例であ
る。すなわち、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4をそれぞれａ位置側
に切り換えて、接触抵抗測定器４，５により測定子Ｔ1
〜Ｔ 4 による接触電圧を測定し、その出力を比較器８，
９により基準値ＥS と比較する。各比較器８，９の出力
を検知し、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が適正の場合に切換接点Ｓ
1 〜Ｓ4 をｂ位置に切換え、定電流回路２より抵抗器Ｒ
X に電流を流し、電圧検出器３により抵抗器ＲX の電圧
降下ＥP を測定し、抵抗値を出力する。
【０００４】この提案例では、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 の接触
動作の自動化が行なえ、大量の抵抗器ＲX の測定が連続
して迅速に行なえる。
動作の自動化が行なえ、大量の抵抗器ＲX の測定が連続
して迅速に行なえる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、測定子
Ｔ1 〜Ｔ4 の接触および解放時に発生するアーク等によ
り測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が摩耗するという欠点があった。し
たがって、この発明の目的は、測定子の接触・解放時の
摩耗を防止することができるインピーダンス測定装置を
提供することである。
Ｔ1 〜Ｔ4 の接触および解放時に発生するアーク等によ
り測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が摩耗するという欠点があった。し
たがって、この発明の目的は、測定子の接触・解放時の
摩耗を防止することができるインピーダンス測定装置を
提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１のインピーダン
ス測定装置は、測定対象となるインピーダンスの電極に
それぞれ接触する一対の第１の測定子および一対の第２
の測定子と、前記第１の測定子を介して前記インピーダ
ンス素子に電流を供給する電源と、前記第２の測定端子
を介して前記インピーダンス素子に現れた電圧を測定し
前記電流との演算によりインピーダンス値を求める測定
手段と、前記第１の測定子および前記第２の測定子が前
記インピーダンス素子に接触したことを検知する検知手
段と、前記第１の測定子および第２の測定子を前記電源
および前記測定手段と前記検知手段とに選択的に切り換
える切換接点を有する切換手段とを備え、前記測定子は
前記検知手段から前記電源および前記測定手段に切り換
わった後に通電されかつ通電停止後に前記検知手段に切
り換わるように、前記切換接点、前記電源および前記測
定手段の動作タイミングを設定したことを特徴とするも
のである。
ス測定装置は、測定対象となるインピーダンスの電極に
それぞれ接触する一対の第１の測定子および一対の第２
の測定子と、前記第１の測定子を介して前記インピーダ
ンス素子に電流を供給する電源と、前記第２の測定端子
を介して前記インピーダンス素子に現れた電圧を測定し
前記電流との演算によりインピーダンス値を求める測定
手段と、前記第１の測定子および前記第２の測定子が前
記インピーダンス素子に接触したことを検知する検知手
段と、前記第１の測定子および第２の測定子を前記電源
および前記測定手段と前記検知手段とに選択的に切り換
える切換接点を有する切換手段とを備え、前記測定子は
前記検知手段から前記電源および前記測定手段に切り換
わった後に通電されかつ通電停止後に前記検知手段に切
り換わるように、前記切換接点、前記電源および前記測
定手段の動作タイミングを設定したことを特徴とするも
のである。
【０００７】請求項１のインピーダンス測定装置によれ
ば、インピーダンス素子の電極に測定子が接触したかを
確認しかつ、切換接点が測定のため切換動作した後に電
源からインピーダンス素子に電流が流れ、測定手段でイ
ンピーダンスが測定されるため、測定子が測定のために
接触・解放する際には測定子に電流が流れないので、測
定子にアークが生じることがなく測定子に摩耗が発生す
ることを防止することができる。
ば、インピーダンス素子の電極に測定子が接触したかを
確認しかつ、切換接点が測定のため切換動作した後に電
源からインピーダンス素子に電流が流れ、測定手段でイ
ンピーダンスが測定されるため、測定子が測定のために
接触・解放する際には測定子に電流が流れないので、測
定子にアークが生じることがなく測定子に摩耗が発生す
ることを防止することができる。
【０００８】請求項２のインピーダンス測定装置は、請
求項１において、前記検知手段が、前記第１の測定子お
よび前記第２の測定子の各一方が前記インピーダンス素
子の電極の一方に接触することにより閉じる入力回路を
有して前記入力回路の測定子接触抵抗の電圧降下を基準
値と比較する第１の比較器と、前記第１の測定子および
前記第２の測定子の各他方が前記インピーダンス素子の
電極の他方に接触することにより閉じる入力回路を有し
て前記入力回路の測定子接触抵抗の電圧降下を基準値と
比較する第２の比較器と、前記入力回路の各々に介挿さ
れたスイッチ手段とを設け、各前記スイッチ手段の動作
タイミングを相互にずらせたものである。
求項１において、前記検知手段が、前記第１の測定子お
よび前記第２の測定子の各一方が前記インピーダンス素
子の電極の一方に接触することにより閉じる入力回路を
有して前記入力回路の測定子接触抵抗の電圧降下を基準
値と比較する第１の比較器と、前記第１の測定子および
前記第２の測定子の各他方が前記インピーダンス素子の
電極の他方に接触することにより閉じる入力回路を有し
て前記入力回路の測定子接触抵抗の電圧降下を基準値と
比較する第２の比較器と、前記入力回路の各々に介挿さ
れたスイッチ手段とを設け、各前記スイッチ手段の動作
タイミングを相互にずらせたものである。
【０００９】請求項２のインピーダンス測定装置によれ
ば、請求項１の効果のほか、測定子の一部が接触してい
ないにもかかわらず、インピーダンスが低くしかもイン
ピーダンス素子を通して電流が流れるときに第１の比較
器または第２の比較器が動作する誤動作を防止すること
ができる。
ば、請求項１の効果のほか、測定子の一部が接触してい
ないにもかかわらず、インピーダンスが低くしかもイン
ピーダンス素子を通して電流が流れるときに第１の比較
器または第２の比較器が動作する誤動作を防止すること
ができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】この発明の第１の実施の形態のイ
ンピーダンス測定装置を図１ないし図３により説明す
る。すなわち、測定対象となるインピーダンス素子は図
３に示すように抵抗器ＲX を適用している。この抵抗器
ＲX の両電極１５，１６に接触するように、それぞれ一
対の第１の測定子Ｔ1 ，Ｔ2 および一対の第２の測定子
Ｔ3 ，Ｔ 4 が作動手段であるソレノイドＳＯＬにより駆
動される。このソレノイドＳＯＬは給電により動作し、
給電停止により自動復帰するものである。ここで、ｒ1
〜ｒ4 は測定子Ｔ1 〜Ｔ4 の接触抵抗である。
ンピーダンス測定装置を図１ないし図３により説明す
る。すなわち、測定対象となるインピーダンス素子は図
３に示すように抵抗器ＲX を適用している。この抵抗器
ＲX の両電極１５，１６に接触するように、それぞれ一
対の第１の測定子Ｔ1 ，Ｔ2 および一対の第２の測定子
Ｔ3 ，Ｔ 4 が作動手段であるソレノイドＳＯＬにより駆
動される。このソレノイドＳＯＬは給電により動作し、
給電停止により自動復帰するものである。ここで、ｒ1
〜ｒ4 は測定子Ｔ1 〜Ｔ4 の接触抵抗である。
【００１１】電源Ｐは、第１の測定子Ｔ1 ，Ｔ2 を介し
て抵抗器ＲX に電流を供給するが、実施の形態では定電
流回路を適用している。図１において、Ａ1 ，Ａ2 は演
算増幅器（一般的な演算増幅器であるナショナルセミコ
ンダクター社のＬＦ３５５Ａの直流電圧利得は１０６ｄ
ｂ〔２００，０００倍〕、入力インピーダンスは１０ 12
Ωである。）、Ｒ1 〜Ｒ5 は抵抗、Ｓ5 ，Ｓ6 は抵抗器
ＲX に供給する測定電流をオンオフするためのスイッチ
であり、いずれか一方により行なうことができる。また
このスイッチＳ5 ，Ｓ6 はチャタリングや摩耗を防止す
るために半導体スイッチがよい。ＥS は直流電源であ
る。抵抗Ｒ1 〜Ｒ4 が等しく、演算増幅器Ａ1 ，Ａ2 の
直流電圧利得が十分大きく、その入力インピーダンスＺ
1 ，Ｚ2 が抵抗Ｒ1 〜Ｒ5 および抵抗器ＲX に対して十
分大きい場合には出力電流Ｉ0 ＝Ｅ S ／Ｒ5 となる。
て抵抗器ＲX に電流を供給するが、実施の形態では定電
流回路を適用している。図１において、Ａ1 ，Ａ2 は演
算増幅器（一般的な演算増幅器であるナショナルセミコ
ンダクター社のＬＦ３５５Ａの直流電圧利得は１０６ｄ
ｂ〔２００，０００倍〕、入力インピーダンスは１０ 12
Ωである。）、Ｒ1 〜Ｒ5 は抵抗、Ｓ5 ，Ｓ6 は抵抗器
ＲX に供給する測定電流をオンオフするためのスイッチ
であり、いずれか一方により行なうことができる。また
このスイッチＳ5 ，Ｓ6 はチャタリングや摩耗を防止す
るために半導体スイッチがよい。ＥS は直流電源であ
る。抵抗Ｒ1 〜Ｒ4 が等しく、演算増幅器Ａ1 ，Ａ2 の
直流電圧利得が十分大きく、その入力インピーダンスＺ
1 ，Ｚ2 が抵抗Ｒ1 〜Ｒ5 および抵抗器ＲX に対して十
分大きい場合には出力電流Ｉ0 ＝Ｅ S ／Ｒ5 となる。
【００１２】測定手段Ａは、第２の測定端子Ｔ3 ，Ｔ4
を介して抵抗器ＲX に現れた電圧を測定し電源Ｐの定電
流回路の出力電流との割算（演算）により抵抗値を求め
るもので、電圧検知手段、演算手段、表示手段等により
構成されるが、実施の形態では、抵抗計、ＬＣＲメータ
などもよい。この測定手段Ａは測定スタート信号を入力
して測定を開始し、測定後は測定終了信号を出力するよ
うにしている。この測定終了信号は抵抗器ＲX の電圧検
知後演算前、演算後表示前、または表示後が可能であ
り、いずれでもよい。
を介して抵抗器ＲX に現れた電圧を測定し電源Ｐの定電
流回路の出力電流との割算（演算）により抵抗値を求め
るもので、電圧検知手段、演算手段、表示手段等により
構成されるが、実施の形態では、抵抗計、ＬＣＲメータ
などもよい。この測定手段Ａは測定スタート信号を入力
して測定を開始し、測定後は測定終了信号を出力するよ
うにしている。この測定終了信号は抵抗器ＲX の電圧検
知後演算前、演算後表示前、または表示後が可能であ
り、いずれでもよい。
【００１３】検知手段Ｌは、第１の測定子Ｔ1 ，Ｔ2 お
よび第２の測定子Ｔ3 ，Ｔ4 が抵抗器ＲX に接触したこ
とを検知する。実施の形態では一方の第１の測定子Ｔ1
および一方の第２の測定子Ｔ2 が抵抗器ＲX の電極の一
方に接触することにより閉じる入力回路ＣＱ1 を有して
入力回路ＣＱ1 の測定子接触抵抗ｒ1 ，ｒ3 の電圧降下
Ｅ1 を基準値Ｅ1 ′と比較する第１の比較器ＣＯＭ
1 と、他方の第１の測定子Ｔ2 および他方の第２の測定
子Ｔ4 が抵抗器ＲX の電極の他方に接触することにより
閉じる入力回路ＣＱ2 を有して入力回路ＣＱ2 の測定子
接触抵抗ｒ2 ，ｒ4の電圧降下Ｅ2 を基準値Ｅ2 ′と比
較する第２の比較器ＣＯＭ2 とを有する。ここで、比較
器ＣＯＭ1 ，ＣＯＭ2 はオープンコレクタ型である。ま
たＲ6 〜Ｒ13は抵抗であるが、Ｒ6 ，Ｒ10は入力回路Ｃ
Ｑ1 ，ＣＱ2 を構成するもので＋Ｖの電圧が印加されて
それぞれ電流Ｉ1 ，Ｉ2 が流れる。Ｒ7 ，Ｒ8 およびＲ
11, Ｒ 12は基準電圧Ｅ1 ′，Ｅ2 ′を生じさせるための
抵抗である。そして、基準電圧Ｅ1 ′，Ｅ2 ′が＋入力
端に印加され、−入力端は抵抗Ｒ6 ，Ｒ10を介した＋Ｖ
の電圧が印加されるとともに、第１の比較器ＣＯＭ1 で
は入力回路ＣＱ1 を構成する切換接点Ｓ1 ，測定子
Ｔ1 ，抵抗器ＲX の片方の電極，測定子Ｔ3 ，切換接点
Ｓ3 を介してアースされ、第２の比較器ＣＯＭ2 では入
力回路ＣＱ2 を構成する切換接点Ｓ2 ，測定子Ｔ2 ，電
極，測定子Ｔ4 ，切換接点Ｓ4 を介してアースされてい
る。
よび第２の測定子Ｔ3 ，Ｔ4 が抵抗器ＲX に接触したこ
とを検知する。実施の形態では一方の第１の測定子Ｔ1
および一方の第２の測定子Ｔ2 が抵抗器ＲX の電極の一
方に接触することにより閉じる入力回路ＣＱ1 を有して
入力回路ＣＱ1 の測定子接触抵抗ｒ1 ，ｒ3 の電圧降下
Ｅ1 を基準値Ｅ1 ′と比較する第１の比較器ＣＯＭ
1 と、他方の第１の測定子Ｔ2 および他方の第２の測定
子Ｔ4 が抵抗器ＲX の電極の他方に接触することにより
閉じる入力回路ＣＱ2 を有して入力回路ＣＱ2 の測定子
接触抵抗ｒ2 ，ｒ4の電圧降下Ｅ2 を基準値Ｅ2 ′と比
較する第２の比較器ＣＯＭ2 とを有する。ここで、比較
器ＣＯＭ1 ，ＣＯＭ2 はオープンコレクタ型である。ま
たＲ6 〜Ｒ13は抵抗であるが、Ｒ6 ，Ｒ10は入力回路Ｃ
Ｑ1 ，ＣＱ2 を構成するもので＋Ｖの電圧が印加されて
それぞれ電流Ｉ1 ，Ｉ2 が流れる。Ｒ7 ，Ｒ8 およびＲ
11, Ｒ 12は基準電圧Ｅ1 ′，Ｅ2 ′を生じさせるための
抵抗である。そして、基準電圧Ｅ1 ′，Ｅ2 ′が＋入力
端に印加され、−入力端は抵抗Ｒ6 ，Ｒ10を介した＋Ｖ
の電圧が印加されるとともに、第１の比較器ＣＯＭ1 で
は入力回路ＣＱ1 を構成する切換接点Ｓ1 ，測定子
Ｔ1 ，抵抗器ＲX の片方の電極，測定子Ｔ3 ，切換接点
Ｓ3 を介してアースされ、第２の比較器ＣＯＭ2 では入
力回路ＣＱ2 を構成する切換接点Ｓ2 ，測定子Ｔ2 ，電
極，測定子Ｔ4 ，切換接点Ｓ4 を介してアースされてい
る。
【００１４】切換手段Ｓは第１の測定子Ｔ1 ，Ｔ2 およ
び第２の測定子Ｔ3 ，Ｔ4 を電源Ｐおよび測定手段Ａ
と、検知手段Ｌとに選択的に切り換える切換接点Ｓ1 〜
Ｓ4 を有するものであり、実施の形態ではリレーＲＬを
適用している。このリレーＲＬは給電により切換接点Ｓ
1 〜Ｓ4 が復帰位置であるａ位置からｂ位置に切り換わ
り、給電停止によりｂ位置からａ位置へ自動復帰する。
び第２の測定子Ｔ3 ，Ｔ4 を電源Ｐおよび測定手段Ａ
と、検知手段Ｌとに選択的に切り換える切換接点Ｓ1 〜
Ｓ4 を有するものであり、実施の形態ではリレーＲＬを
適用している。このリレーＲＬは給電により切換接点Ｓ
1 〜Ｓ4 が復帰位置であるａ位置からｂ位置に切り換わ
り、給電停止によりｂ位置からａ位置へ自動復帰する。
【００１５】切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 の復帰状態で入力回路
ＣＱ1 の抵抗Ｒ6 ，切換接点Ｓ1 ，測定子Ｔ1 ，抵抗器
ＲX の片方の電極，測定子Ｔ3 ，および切換接点Ｓ3 を
通してアースに＋Ｖの電圧による電流Ｉ1 が流れる。そ
して接触抵抗ｒ1 ，ｒ3 による電圧降下Ｅ1 が第１の比
較器ＣＯＭ1 の−入力端子に入力され、基準電圧Ｅ1′
と比較される。ここで、＋Ｖ＞Ｅ1 ′＞電圧降下Ｅ1 に
設定すると、測定子Ｔ 1 ，Ｔ3 が両方とも接触する前は
−入力端子には＋Ｖが入力されるため、第１の比較器Ｃ
ＯＭ1 の出力はロウ（Ｌ）であるが、測定子Ｔ1 ，Ｔ3
が両方とも接触すると、−入力端子には接触抵抗ｒ1 ，
ｒ3 に発生する電圧降下Ｅ1 が入力されるので、第１の
比較器ＣＯＭ1 の出力はハイ（Ｈ）となる。
ＣＱ1 の抵抗Ｒ6 ，切換接点Ｓ1 ，測定子Ｔ1 ，抵抗器
ＲX の片方の電極，測定子Ｔ3 ，および切換接点Ｓ3 を
通してアースに＋Ｖの電圧による電流Ｉ1 が流れる。そ
して接触抵抗ｒ1 ，ｒ3 による電圧降下Ｅ1 が第１の比
較器ＣＯＭ1 の−入力端子に入力され、基準電圧Ｅ1′
と比較される。ここで、＋Ｖ＞Ｅ1 ′＞電圧降下Ｅ1 に
設定すると、測定子Ｔ 1 ，Ｔ3 が両方とも接触する前は
−入力端子には＋Ｖが入力されるため、第１の比較器Ｃ
ＯＭ1 の出力はロウ（Ｌ）であるが、測定子Ｔ1 ，Ｔ3
が両方とも接触すると、−入力端子には接触抵抗ｒ1 ，
ｒ3 に発生する電圧降下Ｅ1 が入力されるので、第１の
比較器ＣＯＭ1 の出力はハイ（Ｈ）となる。
【００１６】同様に測定子Ｔ2 ，Ｔ4 が抵抗器ＲX の他
の片方の電極に接触すると、入力回路ＣＱ2 の抵抗
Ｒ10，切換接点Ｓ2 ，測定子Ｔ2 ，抵抗器ＲX の他の片
方の電極，測定子Ｔ4 および切換接点Ｓ4 を通してアー
スに＋Ｖによる電流Ｉ2 が流れ、接触抵抗ｒ2 ，ｒ4 に
発生する電圧降下Ｅ2 が第２の比較器ＣＯＭ2 の−入力
端子に入力され、基準電圧Ｅ2 ′と比較される。そし
て、第１の比較器ＣＯＭ2 の場合と同様に、測定子
Ｔ2 ，Ｔ4 が両方とも接触する前は−入力端子に＋Ｖの
電圧が入力されて第２の比較器ＣＯＭ2 の出力はロウ
（Ｌ）となり、測定子Ｔ1 ，Ｔ3 が両方とも接触したと
きは接触抵抗ｒ2 ，ｒ4 による電圧降下Ｅ2 が−入力端
子に入力されてハイ（Ｈ）となるように基準電圧Ｅ2 ′
が設定している。第１の比較器ＣＯＭ1 および第２の比
較器ＣＯＭ2 の出力は、アンド回路ＡＮＤに入力されて
おり、ともに入力がハイのときアンド回路ＡＮＤの出力
がハイ（Ｈ）となる。
の片方の電極に接触すると、入力回路ＣＱ2 の抵抗
Ｒ10，切換接点Ｓ2 ，測定子Ｔ2 ，抵抗器ＲX の他の片
方の電極，測定子Ｔ4 および切換接点Ｓ4 を通してアー
スに＋Ｖによる電流Ｉ2 が流れ、接触抵抗ｒ2 ，ｒ4 に
発生する電圧降下Ｅ2 が第２の比較器ＣＯＭ2 の−入力
端子に入力され、基準電圧Ｅ2 ′と比較される。そし
て、第１の比較器ＣＯＭ2 の場合と同様に、測定子
Ｔ2 ，Ｔ4 が両方とも接触する前は−入力端子に＋Ｖの
電圧が入力されて第２の比較器ＣＯＭ2 の出力はロウ
（Ｌ）となり、測定子Ｔ1 ，Ｔ3 が両方とも接触したと
きは接触抵抗ｒ2 ，ｒ4 による電圧降下Ｅ2 が−入力端
子に入力されてハイ（Ｈ）となるように基準電圧Ｅ2 ′
が設定している。第１の比較器ＣＯＭ1 および第２の比
較器ＣＯＭ2 の出力は、アンド回路ＡＮＤに入力されて
おり、ともに入力がハイのときアンド回路ＡＮＤの出力
がハイ（Ｈ）となる。
【００１７】ＤＬ1 〜ＤＬ3 はいずれもＤフリップフロ
ップを用いたラッチ回路、ＣＲ1 ，ＣＲ2 は抵抗Ｒ14,
Ｒ15、およびコンデンサＣＯＭ1 ，ＣＯＭ2 を用いた遅
延回路、Ｂはバッファであり、これらにより制御回路が
構成される。この制御回路では、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 は検
知手段Ｌから電源Ｐおよび測定手段Ａに切換接点Ｓ1〜
Ｓ4 によって切り換わった後に、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 に通
電されかつその通電停止後に切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 によっ
て検知手段Ｌに切り換わるように、切換接点Ｓ 1 〜
Ｓ4 、電源Ｐおよび測定手段Ａの動作タイミングを設定
している。すなわちこの制御回路による動作タイミング
を、図２に示すタイミングチャートとともに説明する。
ラッチ回路ＤＬ1 のクロック端ＣＫに測定子スタート信
号（図２（ａ））が入力され、出力端Ｑより駆動信号が
ソレノイドＳＯＬの駆動手段であるドライバトランジス
タＤＴ1 に入力されドライバトランジスタＤＴ1 がオン
となり、ソレノイドＳＯＬが作動開始し（図２
（ｂ））、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が抵抗器Ｒ X の電極に接触
する動作を行なう。一方の第１の測定子Ｔ1 および一方
の第２の測定子Ｔ3 が抵抗器ＲX の片方の電極に接触す
ると、入力回路ＣＱ1 が閉じ、検知手段Ｌの第１の比較
器ＣＯＭ1 の出力がＨとなり（図２（ｃ））、他方の第
１の測定子Ｔ2 および他方の第２の測定子Ｔ4 が抵抗器
ＲX の他の片方の電極に接触すると、入力回路ＣＱ2 が
閉じ、検知手段Ｌの第２の比較器ＣＯＭ2 の出力がＨと
なり（図２（ｄ））、これらによりアンド回路ＡＮＤの
出力がＨとなる。アンド回路ＡＮＤの出力が第２のラッ
チ回路ＤＬ2 のクロック端ＣＫに入力すると、その出力
端Ｑより駆動信号がドライバトランジスタＤＴ2 に入力
し、ドライバトランジスタＤＴ2 がオンとなり、リレー
ＲＬが動作し、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がａ位置からｂ位置
へ切り換わる（図２（ｅ））。アンド回路ＡＮＤの出力
がハイにならないとドライバトランジスタＤＴ2 がオフ
のままであり、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 は切換動作しない。
つぎに第２のラッチ回路ＤＬ2 の出力端Ｑの信号は遅延
回路ＣＲ1 およびバッファＢを介して測定手段Ａにアン
ド回路ＡＮＤの出力信号よりも遅延した測定スタート信
号として入力するとともに、第３のラッチ回路ＤＬ3 の
クロック端ＣＫに入力する。これにより、測定手段Ａは
測定可能になるとともに、第３のラッチ回路ＤＬ3 の出
力端Ｑの出力により電源Ｐの定電流回路の半導体スイッ
チを用いたスイッチＳ5 ，Ｓ6 をオンにし、測定がスタ
ートする（図２（ｆ））。そして、図２（ｈ）に示すよ
うに定電流回路より定電流の測定電流が切換接点Ｓ1 ，
Ｓ2 および測定子Ｔ1 ，Ｔ2 を介して抵抗器ＲX に流
れ、また測定電流により抵抗器ＲX に現れた電圧降下を
測定子Ｔ3 ，Ｔ4 および切換接点Ｓ3 ，Ｓ4 を介して測
定手段Ａにより検出し抵抗値を測定する。測定手段Ａの
測定終了により、測定手段Ａより測定終了を示す信号が
出力されると（図２（ｇ））、この信号が第２のラッチ
回路ＤＬ2 および第３のラッチ回路ＤＬ3 の各リセット
端Ｒに入力され、これらがリセットされてドライバトラ
ンジスタＤＴ2 がオフとなると同時に定電流回路のスイ
ッチＳ5 ，Ｓ6 がオフとなり測定電流が停止する（図２
（ｈ））。またドライバトランジスタＤＴ2 のオフによ
りリレーＲＬへの給電が停止し切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がｂ
位置からａ位置へ復帰動作する（図２（ｅ））。この切
換接点Ｓ1 〜Ｓ4 はリレーＲＬによる機械式接点である
ため、スイッチＳ5 ，Ｓ6 よりも若干遅れて動作する。
上記のような動作により、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 はｂ位置
への切換後に測定電流の通電が開始され、かつａ位置へ
の復帰前に測定電流の通電が停止することとなる。さら
に第２のラッチ回路ＤＬ2 のリセットにより反転出力端
／Ｑが遅延回路ＣＲ2 を介して第１のラッチ回路ＤＬ1
のリセット端に入力し、第１のラッチ回路ＤＬ1 がリセ
ットされ、ドライバトランジスタＤＴ1 がオフとなり、
ソレノイドＳＯＬが停止し、測定子Ｔ1〜Ｔ4 が自動復
帰する（図２（ｂ））。このため、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 は
切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がａ位置にあってｂ位置に切り換え
られる前に電極に接触して検知手段Ｌにより検知され、
かつ切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 の切換後に測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が
抵抗器ＲX の電極から離れることとなる。
ップを用いたラッチ回路、ＣＲ1 ，ＣＲ2 は抵抗Ｒ14,
Ｒ15、およびコンデンサＣＯＭ1 ，ＣＯＭ2 を用いた遅
延回路、Ｂはバッファであり、これらにより制御回路が
構成される。この制御回路では、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 は検
知手段Ｌから電源Ｐおよび測定手段Ａに切換接点Ｓ1〜
Ｓ4 によって切り換わった後に、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 に通
電されかつその通電停止後に切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 によっ
て検知手段Ｌに切り換わるように、切換接点Ｓ 1 〜
Ｓ4 、電源Ｐおよび測定手段Ａの動作タイミングを設定
している。すなわちこの制御回路による動作タイミング
を、図２に示すタイミングチャートとともに説明する。
ラッチ回路ＤＬ1 のクロック端ＣＫに測定子スタート信
号（図２（ａ））が入力され、出力端Ｑより駆動信号が
ソレノイドＳＯＬの駆動手段であるドライバトランジス
タＤＴ1 に入力されドライバトランジスタＤＴ1 がオン
となり、ソレノイドＳＯＬが作動開始し（図２
（ｂ））、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が抵抗器Ｒ X の電極に接触
する動作を行なう。一方の第１の測定子Ｔ1 および一方
の第２の測定子Ｔ3 が抵抗器ＲX の片方の電極に接触す
ると、入力回路ＣＱ1 が閉じ、検知手段Ｌの第１の比較
器ＣＯＭ1 の出力がＨとなり（図２（ｃ））、他方の第
１の測定子Ｔ2 および他方の第２の測定子Ｔ4 が抵抗器
ＲX の他の片方の電極に接触すると、入力回路ＣＱ2 が
閉じ、検知手段Ｌの第２の比較器ＣＯＭ2 の出力がＨと
なり（図２（ｄ））、これらによりアンド回路ＡＮＤの
出力がＨとなる。アンド回路ＡＮＤの出力が第２のラッ
チ回路ＤＬ2 のクロック端ＣＫに入力すると、その出力
端Ｑより駆動信号がドライバトランジスタＤＴ2 に入力
し、ドライバトランジスタＤＴ2 がオンとなり、リレー
ＲＬが動作し、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がａ位置からｂ位置
へ切り換わる（図２（ｅ））。アンド回路ＡＮＤの出力
がハイにならないとドライバトランジスタＤＴ2 がオフ
のままであり、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 は切換動作しない。
つぎに第２のラッチ回路ＤＬ2 の出力端Ｑの信号は遅延
回路ＣＲ1 およびバッファＢを介して測定手段Ａにアン
ド回路ＡＮＤの出力信号よりも遅延した測定スタート信
号として入力するとともに、第３のラッチ回路ＤＬ3 の
クロック端ＣＫに入力する。これにより、測定手段Ａは
測定可能になるとともに、第３のラッチ回路ＤＬ3 の出
力端Ｑの出力により電源Ｐの定電流回路の半導体スイッ
チを用いたスイッチＳ5 ，Ｓ6 をオンにし、測定がスタ
ートする（図２（ｆ））。そして、図２（ｈ）に示すよ
うに定電流回路より定電流の測定電流が切換接点Ｓ1 ，
Ｓ2 および測定子Ｔ1 ，Ｔ2 を介して抵抗器ＲX に流
れ、また測定電流により抵抗器ＲX に現れた電圧降下を
測定子Ｔ3 ，Ｔ4 および切換接点Ｓ3 ，Ｓ4 を介して測
定手段Ａにより検出し抵抗値を測定する。測定手段Ａの
測定終了により、測定手段Ａより測定終了を示す信号が
出力されると（図２（ｇ））、この信号が第２のラッチ
回路ＤＬ2 および第３のラッチ回路ＤＬ3 の各リセット
端Ｒに入力され、これらがリセットされてドライバトラ
ンジスタＤＴ2 がオフとなると同時に定電流回路のスイ
ッチＳ5 ，Ｓ6 がオフとなり測定電流が停止する（図２
（ｈ））。またドライバトランジスタＤＴ2 のオフによ
りリレーＲＬへの給電が停止し切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がｂ
位置からａ位置へ復帰動作する（図２（ｅ））。この切
換接点Ｓ1 〜Ｓ4 はリレーＲＬによる機械式接点である
ため、スイッチＳ5 ，Ｓ6 よりも若干遅れて動作する。
上記のような動作により、切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 はｂ位置
への切換後に測定電流の通電が開始され、かつａ位置へ
の復帰前に測定電流の通電が停止することとなる。さら
に第２のラッチ回路ＤＬ2 のリセットにより反転出力端
／Ｑが遅延回路ＣＲ2 を介して第１のラッチ回路ＤＬ1
のリセット端に入力し、第１のラッチ回路ＤＬ1 がリセ
ットされ、ドライバトランジスタＤＴ1 がオフとなり、
ソレノイドＳＯＬが停止し、測定子Ｔ1〜Ｔ4 が自動復
帰する（図２（ｂ））。このため、測定子Ｔ1 〜Ｔ4 は
切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がａ位置にあってｂ位置に切り換え
られる前に電極に接触して検知手段Ｌにより検知され、
かつ切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 の切換後に測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が
抵抗器ＲX の電極から離れることとなる。
【００１８】この実施の形態によれば、抵抗器ＲX の電
極に測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が接触したかを確認しかつ、切換
接点Ｓ1 〜Ｓ4 が測定のため切換動作した後に電源Ｐか
ら抵抗器ＲX に電流が流れ、測定手段Ａで抵抗値が測定
されるため、測定子Ｔ1 〜Ｔ 4 が測定のために接触・解
放する際には測定子Ｔ1 〜Ｔ4 に電流が流れないので、
測定子Ｔ1 〜Ｔ4 にアークが生じることがなく測定子Ｔ
1 〜Ｔ4 および接点Ｓ 1 〜Ｓ4 に摩耗が発生することを
防止することができる。
極に測定子Ｔ1 〜Ｔ4 が接触したかを確認しかつ、切換
接点Ｓ1 〜Ｓ4 が測定のため切換動作した後に電源Ｐか
ら抵抗器ＲX に電流が流れ、測定手段Ａで抵抗値が測定
されるため、測定子Ｔ1 〜Ｔ 4 が測定のために接触・解
放する際には測定子Ｔ1 〜Ｔ4 に電流が流れないので、
測定子Ｔ1 〜Ｔ4 にアークが生じることがなく測定子Ｔ
1 〜Ｔ4 および接点Ｓ 1 〜Ｓ4 に摩耗が発生することを
防止することができる。
【００１９】この発明の第２の実施の形態を図４および
図５に示す。このインピーダンス測定装置は、第１の実
施の形態において、検知手段Ｌの入力回路ＣＱ1 ，ＣＱ
2 にそれぞれスイッチ手段Ｓ7 ，Ｓ8 を介挿し、その動
作タイミングを相互にずらせている。すなわち、図４が
図１と比較して異なる点は、スイッチ手段Ｓ7 ，Ｓ8を
追加し、そのタイミング制御としてラッチ回路ＤＬ4 〜
ＤＬ7 を追加したことである。
図５に示す。このインピーダンス測定装置は、第１の実
施の形態において、検知手段Ｌの入力回路ＣＱ1 ，ＣＱ
2 にそれぞれスイッチ手段Ｓ7 ，Ｓ8 を介挿し、その動
作タイミングを相互にずらせている。すなわち、図４が
図１と比較して異なる点は、スイッチ手段Ｓ7 ，Ｓ8を
追加し、そのタイミング制御としてラッチ回路ＤＬ4 〜
ＤＬ7 を追加したことである。
【００２０】スイッチ手段Ｓ7 、Ｓ8 はトランジスタな
どの電子式であり、切換接点Ｓ1 ，Ｓ2 と抵抗Ｒ6 ，Ｒ
10との間にそれぞれ介挿されている。制御回路のラッチ
回路ＤＬ4 〜ＤＬ7 はＤフリップフロップを用いてい
る。すなわち、第１の比較器ＣＯＭ1 の出力端を第４の
ラッチ回路ＤＬ4 のクロック端に接続し、第２の比較器
ＣＯＭ2 の出力端を第５のラッチ回路ＤＬ5 のクロック
端に接続し、これらの出力端Ｑをアンド回路ＡＮＤの入
力端に接続して、第１の実施の形態と同様に第２のラッ
チ回路ＤＬ2 のクロック端ＣＫに接続している。また測
定子スタート信号を第１のラッチ回路ＤＬ1 のほかに第
６のラッチ回路ＤＬ6 のクロック端ＣＫにも入力するよ
うに接続し、第６のラッチ回路ＤＬ6 の出力端をスイッ
チ手段Ｓ7に接続し、第６のラッチ回路ＤＬ6 の反転出
力端／Ｑを第７のラッチ回路ＤＬ7の入力端ＣＫに接続
し、第７のラッチ回路ＤＬ7 の出力端Ｑをスイッチ手段
Ｓ8に接続している。
どの電子式であり、切換接点Ｓ1 ，Ｓ2 と抵抗Ｒ6 ，Ｒ
10との間にそれぞれ介挿されている。制御回路のラッチ
回路ＤＬ4 〜ＤＬ7 はＤフリップフロップを用いてい
る。すなわち、第１の比較器ＣＯＭ1 の出力端を第４の
ラッチ回路ＤＬ4 のクロック端に接続し、第２の比較器
ＣＯＭ2 の出力端を第５のラッチ回路ＤＬ5 のクロック
端に接続し、これらの出力端Ｑをアンド回路ＡＮＤの入
力端に接続して、第１の実施の形態と同様に第２のラッ
チ回路ＤＬ2 のクロック端ＣＫに接続している。また測
定子スタート信号を第１のラッチ回路ＤＬ1 のほかに第
６のラッチ回路ＤＬ6 のクロック端ＣＫにも入力するよ
うに接続し、第６のラッチ回路ＤＬ6 の出力端をスイッ
チ手段Ｓ7に接続し、第６のラッチ回路ＤＬ6 の反転出
力端／Ｑを第７のラッチ回路ＤＬ7の入力端ＣＫに接続
し、第７のラッチ回路ＤＬ7 の出力端Ｑをスイッチ手段
Ｓ8に接続している。
【００２１】さらに動作とともに詳しく説明すると、測
定子スタート信号（図５（ａ））が第１のラッチ回路Ｄ
Ｌ1 および第６のラッチ回路ＤＬ6 に入力されると、前
記したようにソレノイドＳＯＬの動作により測定子Ｔ1
〜Ｔ4 が抵抗器ＲX の電極に接触し始めると同時に（図
５（ｂ））、スイッチ手段Ｓ7 がオンとなり（図
（ｃ））、一方の第１の測定子Ｔ1 および一方の第２の
測定子Ｔ3 の接触が検知され、正常に接触していると第
１の比較器ＣＯＭ1 がハイになる。その信号が第４のラ
ッチ回路ＤＬ4 のクロック端ＣＫに入力され、第４のラ
ッチ回路ＤＬ4 の出力端Ｑのハイ信号がとなり（図５
（ｅ））、アンド回路ＡＮＤに入力されるとともに、第
６のラッチ回路ＤＬ6 のリセット端Ｒに入力されて第６
のラッチ回路ＤＬ 6 がリセットし、スイッチ手段Ｓ7 が
オフとなる（図５（ｃ））。また、第６のラッチ回路Ｄ
Ｌ6 のリセットによりその反転出力端／Ｑの信号が第７
のラッチ回路ＤＬ7 のクロック端ＣＫに入力され、第７
のラッチ回路ＤＬ7 の出力端Ｑよりスイッチ手段Ｓ8 を
オンにし（図５（ｄ））、他方の第１の測定子Ｔ2 およ
び他方の第２の測定子Ｔ4 の接触状態が検知され、正常
に検知していると第２の比較器ＣＯＭ2 の出力端がハイ
となるので、第５のラッチ回路ＤＬ5 のクロック端ＣＫ
に入力され、その出力端Ｑがハイ信号となり（図５
（ｆ））、アンド回路ＡＮＤに入力するとともに第７の
ラッチ回路ＤＬ7 のリセット端Ｒに入力されてリセット
され、スイッチ手段Ｓ8 がオフとなる（図５（ｄ））。
一方アンド回路ＡＮＤの入力端がともにハイとなると第
２のラッチ回路ＤＬ2 の出力端Ｑがハイとなり、第１の
実施の形態で説明したように、リレーＲＬの動作による
切換接点Ｓ1〜Ｓ4 のｂ位置への切り換わり（図５
（ｇ））、定電流回路および測定手段Ａによる測定が行
なわれる（図５（ｈ）（ｊ））。つぎに測定手段Ａの測
定終了信号が出力されると（図５（ｉ））、第２のラッ
チ回路ＤＬ2 および第３のラッチ回路ＤＬ3 が前述のよ
うにリセットされ、定電流回路からの電流が停止すると
ともに切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がａ位置側に切り換えられ
る。また同時に、測定終了信号が第４のラッチ回路ＤＬ
4 および第５のラッチ回路ＤＬ5 のリセット端に入力さ
れてこれらがリセットされる。
定子スタート信号（図５（ａ））が第１のラッチ回路Ｄ
Ｌ1 および第６のラッチ回路ＤＬ6 に入力されると、前
記したようにソレノイドＳＯＬの動作により測定子Ｔ1
〜Ｔ4 が抵抗器ＲX の電極に接触し始めると同時に（図
５（ｂ））、スイッチ手段Ｓ7 がオンとなり（図
（ｃ））、一方の第１の測定子Ｔ1 および一方の第２の
測定子Ｔ3 の接触が検知され、正常に接触していると第
１の比較器ＣＯＭ1 がハイになる。その信号が第４のラ
ッチ回路ＤＬ4 のクロック端ＣＫに入力され、第４のラ
ッチ回路ＤＬ4 の出力端Ｑのハイ信号がとなり（図５
（ｅ））、アンド回路ＡＮＤに入力されるとともに、第
６のラッチ回路ＤＬ6 のリセット端Ｒに入力されて第６
のラッチ回路ＤＬ 6 がリセットし、スイッチ手段Ｓ7 が
オフとなる（図５（ｃ））。また、第６のラッチ回路Ｄ
Ｌ6 のリセットによりその反転出力端／Ｑの信号が第７
のラッチ回路ＤＬ7 のクロック端ＣＫに入力され、第７
のラッチ回路ＤＬ7 の出力端Ｑよりスイッチ手段Ｓ8 を
オンにし（図５（ｄ））、他方の第１の測定子Ｔ2 およ
び他方の第２の測定子Ｔ4 の接触状態が検知され、正常
に検知していると第２の比較器ＣＯＭ2 の出力端がハイ
となるので、第５のラッチ回路ＤＬ5 のクロック端ＣＫ
に入力され、その出力端Ｑがハイ信号となり（図５
（ｆ））、アンド回路ＡＮＤに入力するとともに第７の
ラッチ回路ＤＬ7 のリセット端Ｒに入力されてリセット
され、スイッチ手段Ｓ8 がオフとなる（図５（ｄ））。
一方アンド回路ＡＮＤの入力端がともにハイとなると第
２のラッチ回路ＤＬ2 の出力端Ｑがハイとなり、第１の
実施の形態で説明したように、リレーＲＬの動作による
切換接点Ｓ1〜Ｓ4 のｂ位置への切り換わり（図５
（ｇ））、定電流回路および測定手段Ａによる測定が行
なわれる（図５（ｈ）（ｊ））。つぎに測定手段Ａの測
定終了信号が出力されると（図５（ｉ））、第２のラッ
チ回路ＤＬ2 および第３のラッチ回路ＤＬ3 が前述のよ
うにリセットされ、定電流回路からの電流が停止すると
ともに切換接点Ｓ1 〜Ｓ4 がａ位置側に切り換えられ
る。また同時に、測定終了信号が第４のラッチ回路ＤＬ
4 および第５のラッチ回路ＤＬ5 のリセット端に入力さ
れてこれらがリセットされる。
【００２２】この実施の形態によれば、測定子Ｔ1 〜Ｔ
4 の一部が接触していないにもかかわらず、インピーダ
ンスが低くしかもインピーダンス素子を通して電流が流
れるときに第１の比較器ＣＯＭ1 または第２の比較器Ｃ
ＯＭ1 が動作する誤動作を防止することができる。たと
えば第１の比較器ＣＯＭ1 で第１の測定子Ｔ1 および第
２の測定子Ｔ4 が接触したことを検知したり、第２の比
較器ＣＯＭ2 で第１の測定子Ｔ2 および第２の測定子Ｔ
3 が接触するのを確実に防止することができる。
4 の一部が接触していないにもかかわらず、インピーダ
ンスが低くしかもインピーダンス素子を通して電流が流
れるときに第１の比較器ＣＯＭ1 または第２の比較器Ｃ
ＯＭ1 が動作する誤動作を防止することができる。たと
えば第１の比較器ＣＯＭ1 で第１の測定子Ｔ1 および第
２の測定子Ｔ4 が接触したことを検知したり、第２の比
較器ＣＯＭ2 で第１の測定子Ｔ2 および第２の測定子Ｔ
3 が接触するのを確実に防止することができる。
【００２３】すなわち、抵抗器ＲX の値が小さい場合に
は、たとえば仮に第２の測定子Ｔ3のみが接触していな
いとすると、第１の測定子Ｔ1 ，抵抗器ＲX および第２
の測定子Ｔ4 を通して第１の比較器ＣＯＭ1 の−入力端
子からアースに至る閉回路が形成され、これに＋Ｖの電
圧が印加されるため電流Ｉ1 が流れ、抵抗器ＲX の値が
小さいため電圧Ｅ1 が基準電圧Ｅ1 ′より低いときは、
第１の比較器ＣＯＭ1の出力端がハイになる。また第２
の比較器ＣＯＭ2 も測定子Ｔ2 ，Ｔ4 の接触によりハイ
になる。その結果、測定子Ｔ3 が接触していないのにも
かからわず、第１の比較器ＣＯＭ1 および第２の比較器
ＣＯＭ2 がともにハイとなり誤動作をすることとなる。
同様に測定子Ｔ4 のみが接触していない場合も同様に誤
動作する。したがって、スイッチＳ7 ，Ｓ8 を設けて第
１の比較器ＣＯＭ1 および第２の比較器ＣＯＭ2 を個別
に検知動作させると抵抗器ＲX の値が小さくても、この
ような誤動作を防止することができる。
は、たとえば仮に第２の測定子Ｔ3のみが接触していな
いとすると、第１の測定子Ｔ1 ，抵抗器ＲX および第２
の測定子Ｔ4 を通して第１の比較器ＣＯＭ1 の−入力端
子からアースに至る閉回路が形成され、これに＋Ｖの電
圧が印加されるため電流Ｉ1 が流れ、抵抗器ＲX の値が
小さいため電圧Ｅ1 が基準電圧Ｅ1 ′より低いときは、
第１の比較器ＣＯＭ1の出力端がハイになる。また第２
の比較器ＣＯＭ2 も測定子Ｔ2 ，Ｔ4 の接触によりハイ
になる。その結果、測定子Ｔ3 が接触していないのにも
かからわず、第１の比較器ＣＯＭ1 および第２の比較器
ＣＯＭ2 がともにハイとなり誤動作をすることとなる。
同様に測定子Ｔ4 のみが接触していない場合も同様に誤
動作する。したがって、スイッチＳ7 ，Ｓ8 を設けて第
１の比較器ＣＯＭ1 および第２の比較器ＣＯＭ2 を個別
に検知動作させると抵抗器ＲX の値が小さくても、この
ような誤動作を防止することができる。
【００２４】なお、この発明において、測定子Ｔ1 〜Ｔ
4 の接触の検知手段はセンサやカム等により機械的に検
知して、スイッチやタイマ等を動作させるように構成し
たものでもよい。また、電源Ｐは定電流回路であった
が、図７に示すような直流電流発生手段により構成し
て、その電流に比例した電圧信号を測定手段Ａに入力す
るようにしても、測定手段Ａにおいて抵抗値を求めるこ
とができる。
4 の接触の検知手段はセンサやカム等により機械的に検
知して、スイッチやタイマ等を動作させるように構成し
たものでもよい。また、電源Ｐは定電流回路であった
が、図７に示すような直流電流発生手段により構成し
て、その電流に比例した電圧信号を測定手段Ａに入力す
るようにしても、測定手段Ａにおいて抵抗値を求めるこ
とができる。
【００２５】測定対象は抵抗器以外にコンデンサ、イン
ダクタなどがある。また切換接点Ｓ 1 〜Ｓ4 はリレーＲ
Ｌの接点を用いたが、スイッチング素子など電子式であ
ってもよい。
ダクタなどがある。また切換接点Ｓ 1 〜Ｓ4 はリレーＲ
Ｌの接点を用いたが、スイッチング素子など電子式であ
ってもよい。
【００２６】
【発明の効果】請求項１のインピーダンス測定装置によ
れば、インピーダンス素子の電極に測定子が接触したか
を確認しかつ、切換接点が測定のため切換動作した後に
電源からインピーダンス素子に電流が流れ、測定手段で
インピーダンスが測定されるため、測定子が測定のため
に接触・解放する際には測定子に電流が流れないので、
測定子にアークが生じることがなく測定子に摩耗が発生
することを防止することができる。
れば、インピーダンス素子の電極に測定子が接触したか
を確認しかつ、切換接点が測定のため切換動作した後に
電源からインピーダンス素子に電流が流れ、測定手段で
インピーダンスが測定されるため、測定子が測定のため
に接触・解放する際には測定子に電流が流れないので、
測定子にアークが生じることがなく測定子に摩耗が発生
することを防止することができる。
【００２７】請求項２のインピーダンス測定装置によれ
ば、請求項１の効果のほか、測定子の一部が接触してい
ないにもかかわらず、インピーダンスが低くしかもイン
ピーダンス素子を通して電流が流れるときに第１の比較
器または第２の比較器が動作する誤動作を防止すること
ができる。
ば、請求項１の効果のほか、測定子の一部が接触してい
ないにもかかわらず、インピーダンスが低くしかもイン
ピーダンス素子を通して電流が流れるときに第１の比較
器または第２の比較器が動作する誤動作を防止すること
ができる。
【図１】この発明の第１の実施の形態の回路図である。
【図２】その動作タイミングチャートである。
【図３】それぞれ測定対象の測定状態を示す斜視図であ
る。
る。
【図４】第２の実施の形態の回路図である。
【図５】その動作タイミングチャートである。
【図６】代表的な抵抗測定装置のブロック図である。
【図７】別の抵抗測定装置のブロック図である。
【図８】測定子の接触を検知する手段を有する抵抗測定
装置のブロック図である。
装置のブロック図である。
ＲX 抵抗器 Ｔ1 ，Ｔ2 第１の測定子 Ｔ3 ，Ｔ4 第２の測定子 Ｓ1 〜Ｓ4 切換接点 Ｓ 切換手段 Ｌ 検知手段 ＣＯＭ1 第１の比較器 ＣＯＭ2 第２の比較器 Ａ 測定手段 Ｐ 電源 ＣＱ1 ，ＣＱ2 入力回路
Claims (2)
- 【請求項１】 測定対象となるインピーダンス素子の電
極にそれぞれ接触する一対の第１の測定子および一対の
第２の測定子と、前記第１の測定子を介して前記インピ
ーダンス素子に電流を供給する電源と、前記第２の測定
端子を介して前記インピーダンス素子に現れた電圧を測
定し前記電流との演算によりインピーダンス値を求める
測定手段と、前記第１の測定子および前記第２の測定子
が前記インピーダンス素子に接触したことを検知する検
知手段と、前記第１の測定子および第２の測定子を前記
電源および前記測定手段と前記検知手段とに選択的に切
り換える切換接点を有する切換手段とを備え、前記測定
子は前記検知手段から前記電源および前記測定手段に切
り換わった後に通電されかつ通電停止後に前記検知手段
に切り換わるように、前記切換接点、前記電源および前
記測定手段の動作タイミングを設定したことを特徴とす
るインピーダンス測定装置。 - 【請求項２】 前記検知手段は、前記第１の測定子およ
び前記第２の測定子の各一方が前記インピーダンス素子
の電極の一方に接触することにより閉じる入力回路を有
して前記入力回路の測定子接触抵抗の電圧降下を基準値
と比較する第１の比較器と、前記第１の測定子および前
記第２の測定子の各他方が前記インピーダンス素子の電
極の他方に接触することにより閉じる入力回路を有して
前記入力回路の測定子接触抵抗の電圧降下を基準値と比
較する第２の比較器と、前記入力回路の各々に介挿され
たスイッチ手段とを設け、各前記スイッチ手段の動作タ
イミングを相互にずらせた請求項１記載のインピーダン
ス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9103258A JP3017693B2 (ja) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | インピーダンス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9103258A JP3017693B2 (ja) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | インピーダンス測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10293145A true JPH10293145A (ja) | 1998-11-04 |
| JP3017693B2 JP3017693B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=14349425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9103258A Expired - Lifetime JP3017693B2 (ja) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | インピーダンス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3017693B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100996206B1 (ko) | 2008-10-22 | 2010-11-23 | 한국표준과학연구원 | 전류비교기를 이용한 인덕터 평가시스템 및 이를 사용한 평가방법 |
-
1997
- 1997-04-21 JP JP9103258A patent/JP3017693B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100996206B1 (ko) | 2008-10-22 | 2010-11-23 | 한국표준과학연구원 | 전류비교기를 이용한 인덕터 평가시스템 및 이를 사용한 평가방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3017693B2 (ja) | 2000-03-13 |
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