JP4513940B2 - 静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等の信号ラインあるいは電源ラインへの静電気の印加に対して、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係を明確にすることが可能な静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が人体より発生する静電気によって誤動作、破壊現象を生じるため、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子を使用することが多い。
【０００３】
従来は、静電気吸収素子の電気特性を評価する際、素子単体での評価を行っているが、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等に静電気吸収素子を組み込んだ状態での静電気吸収能力の評価方法及び評価装置がなく、静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係は不明な点が多く存在する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
そのため、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性の違いによって、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が誤動作、破壊現象を生じるかどうかを確認する方法や装置が必要になってきている。
【０００５】
そこで、本発明は、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性の違いによって、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が誤動作、破壊現象を生じるかどうかを等価的に確認可能で、前記静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係を明確にすることができる静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００６】
本発明のその他の目的や新規な特徴は後述の実施の形態において明らかにする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法は、帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力する静電気シミュレータ部を用い、
集積回路の信号ラインあるいは電源ラインと、グランドライン間に被試験素子として、非直線性の電圧−電流特性の静電気吸収素子を接続し、
前記静電気シミュレータ部の出力信号を前記静電気吸収素子の両端に印加したときの前記集積回路の出力ラインの出力信号を監視して、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を検出することで、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力を評価することを特徴としている。
【０００８】
本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価装置は、帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力する静電気シミュレータ部と、
集積回路と、
該集積回路の信号ラインあるいは電源ラインと、グランドライン間に接続される被試験素子としての静電気吸収素子であって、非直線性の電圧−電流特性を有するものと、
該集積回路の出力ラインの出力信号を監視して、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を検出する動作検出部とを備え、
前記静電気シミュレータ部の出力信号を前記静電気吸収素子の両端に印加したときの前記集積回路の出力ラインの出力信号から、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を前記動作検出部で検出することで、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力を評価することを特徴としている。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置の実施の形態を図面に従って説明する。
【００１０】
図１は本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置の実施の形態を示し、図２は評価対象となる電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電圧−電流特性の１例を示す。
【００１１】
図１において、１は人体（又はその他の物体）に帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力可能な静電気シミュレータ部、１０は評価すべき静電気吸収素子である被試験素子、２０は被試験素子の動作を検出し評価するための動作検出部である。
【００１２】
前記静電気シミュレータ部１は、充電電圧源２，スイッチ３、コンデンサ４、及び電気抵抗５を有している。
【００１３】
前記動作検出部２０は、ＩＣ（集積回路）２１、スイッチ２２、外部トリガー回路２３、回路電圧源２４及びオシロスコープ２５を有している。ここで、ＩＣ２１は、静電気吸収素子が設けられる携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等に内蔵されているＩＣと同種のものとする。
【００１４】
前記静電気シミュレータ部１は、当初スイッチ３を充電電圧源２側に切り替えておき、充電電圧源２によってコンデンサ４を充電し、この状態でスイッチ３を抵抗５側に入れることで、抵抗５を介して動作検出部２０のＩＣ２１の信号ラインあるいは電源ラインに静電気（人体に帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートした電流波形）を印加するよう構成されている。
【００１５】
前記動作検出部２０において、ＩＣ２１には回路電圧源２４から回路電圧が供給され、ＩＣ２１のクロック入力ラインに外部トリガー回路２３のクロック信号が供給されており、ＩＣ２１はこのクロック信号に同期して動作する。スイッチ２２はＩＣ２１の任意の入力ラインを電源ライン又はグランドラインに切り替えて接続するものである。また、ＩＣ２１の任意の出力ラインにその出力信号を監視する表示部としてのオシロスコープ２５が接続されている。ＩＣ２１が正常に動作しているときは、スイッチ２２がグランドライン側に接続された状態で、ＩＣ出力信号を表示するオシロスコープ２５は回路電圧を示す。
【００１６】
以上の構成において、静電気シミュレータ部１と動作検出部２０間に被試験素子１０を実装し（電源ラインとグランドライン間に接続し）、この状態で静電気を印加して素子１０を評価する。すなわち、静電気シミュレータ部１の充電電圧源２によってコンデンサ４を充電し、この状態でスイッチ３を電気抵抗５側に切り替えて、抵抗５を介して動作検出部２０のＩＣ２１の電源ライン、グランドライン間に静電気を印加する。このとき、スイッチ２２はＩＣ２１の信号ラインをグランドラインに接続した状態とする。被試験素子１０が静電気を吸収した場合は、外部トリガー回路２３のクロック信号に同期して動作するＩＣ２１は誤動作せず、オシロスコープ２５の波形は変化しない（正常動作時の波形と同じ）。被試験素子１０が静電気を吸収できない場合は、オシロスコープ２５の波形が変化し、ＩＣ２１が誤動作、破壊を引き起こしたことを検出できる。
【００１７】
なお、ＩＣ２１が誤動作してオシロスコープ２５の波形が変化したとき、スイッチ２２を電源ライン側に切り替えてＩＣ２１を正常な動作に戻す。
【００１８】
このように、図２のような非直線性を有する静電気吸収素子の電気特性の違いに対して、その特性に対応したＩＣ２１の誤動作、破壊現象の有無を検出し、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力の確認が可能である。そして、ＩＣ２１は、静電気吸収素子が設けられる携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等に内蔵されているＩＣと同種であり、等価的に携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が誤動作、破壊現象を生じるかどうかを確認可能である。
【００１９】
なお、上記実施の形態では、スイッチ２２はＩＣ２１の信号ラインをグランドラインに接続した状態として測定を行ったが、ＩＣ２１の種類によっては、スイッチ２２でＩＣ２１の信号ラインを電源ラインに接続した状態として静電気シミュレータ部の出力を印加し、測定を行ってもよい。
【００２０】
以上本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されることなく請求項の記載の範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当業者には自明であろう。
【００２１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等の信号ラインあるいは電源ラインへの静電気の印加に対して、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係を明確にすることが可能な静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置を実現できる。
【００２２】
本発明によって、非直線性を有する静電気吸収素子の電気特性評価基準を見なおすことができ、選別時の歩留りの向上が見込める。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置の実施の形態を示す回路図である。
【図２】静電気吸収素子（非直線素子）の電圧−電流特性を示す特性図である。
【符号の説明】
１ 静電気シミュレータ部
２ 充電電圧源
３，２２ スイッチ
４ コンデンサ
５ 電気抵抗
１０ 被試験素子
２０ 動作検出部
２１ ＩＣ
２３ 外部トリガー回路
２４ 回路電圧源
２５ オシロスコープ
【発明の属する技術分野】
本発明は、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等の信号ラインあるいは電源ラインへの静電気の印加に対して、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係を明確にすることが可能な静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が人体より発生する静電気によって誤動作、破壊現象を生じるため、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子を使用することが多い。
【０００３】
従来は、静電気吸収素子の電気特性を評価する際、素子単体での評価を行っているが、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等に静電気吸収素子を組み込んだ状態での静電気吸収能力の評価方法及び評価装置がなく、静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係は不明な点が多く存在する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
そのため、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性の違いによって、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が誤動作、破壊現象を生じるかどうかを確認する方法や装置が必要になってきている。
【０００５】
そこで、本発明は、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性の違いによって、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が誤動作、破壊現象を生じるかどうかを等価的に確認可能で、前記静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係を明確にすることができる静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００６】
本発明のその他の目的や新規な特徴は後述の実施の形態において明らかにする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法は、帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力する静電気シミュレータ部を用い、
集積回路の信号ラインあるいは電源ラインと、グランドライン間に被試験素子として、非直線性の電圧−電流特性の静電気吸収素子を接続し、
前記静電気シミュレータ部の出力信号を前記静電気吸収素子の両端に印加したときの前記集積回路の出力ラインの出力信号を監視して、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を検出することで、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力を評価することを特徴としている。
【０００８】
本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価装置は、帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力する静電気シミュレータ部と、
集積回路と、
該集積回路の信号ラインあるいは電源ラインと、グランドライン間に接続される被試験素子としての静電気吸収素子であって、非直線性の電圧−電流特性を有するものと、
該集積回路の出力ラインの出力信号を監視して、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を検出する動作検出部とを備え、
前記静電気シミュレータ部の出力信号を前記静電気吸収素子の両端に印加したときの前記集積回路の出力ラインの出力信号から、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を前記動作検出部で検出することで、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力を評価することを特徴としている。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置の実施の形態を図面に従って説明する。
【００１０】
図１は本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置の実施の形態を示し、図２は評価対象となる電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電圧−電流特性の１例を示す。
【００１１】
図１において、１は人体（又はその他の物体）に帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力可能な静電気シミュレータ部、１０は評価すべき静電気吸収素子である被試験素子、２０は被試験素子の動作を検出し評価するための動作検出部である。
【００１２】
前記静電気シミュレータ部１は、充電電圧源２，スイッチ３、コンデンサ４、及び電気抵抗５を有している。
【００１３】
前記動作検出部２０は、ＩＣ（集積回路）２１、スイッチ２２、外部トリガー回路２３、回路電圧源２４及びオシロスコープ２５を有している。ここで、ＩＣ２１は、静電気吸収素子が設けられる携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等に内蔵されているＩＣと同種のものとする。
【００１４】
前記静電気シミュレータ部１は、当初スイッチ３を充電電圧源２側に切り替えておき、充電電圧源２によってコンデンサ４を充電し、この状態でスイッチ３を抵抗５側に入れることで、抵抗５を介して動作検出部２０のＩＣ２１の信号ラインあるいは電源ラインに静電気（人体に帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートした電流波形）を印加するよう構成されている。
【００１５】
前記動作検出部２０において、ＩＣ２１には回路電圧源２４から回路電圧が供給され、ＩＣ２１のクロック入力ラインに外部トリガー回路２３のクロック信号が供給されており、ＩＣ２１はこのクロック信号に同期して動作する。スイッチ２２はＩＣ２１の任意の入力ラインを電源ライン又はグランドラインに切り替えて接続するものである。また、ＩＣ２１の任意の出力ラインにその出力信号を監視する表示部としてのオシロスコープ２５が接続されている。ＩＣ２１が正常に動作しているときは、スイッチ２２がグランドライン側に接続された状態で、ＩＣ出力信号を表示するオシロスコープ２５は回路電圧を示す。
【００１６】
以上の構成において、静電気シミュレータ部１と動作検出部２０間に被試験素子１０を実装し（電源ラインとグランドライン間に接続し）、この状態で静電気を印加して素子１０を評価する。すなわち、静電気シミュレータ部１の充電電圧源２によってコンデンサ４を充電し、この状態でスイッチ３を電気抵抗５側に切り替えて、抵抗５を介して動作検出部２０のＩＣ２１の電源ライン、グランドライン間に静電気を印加する。このとき、スイッチ２２はＩＣ２１の信号ラインをグランドラインに接続した状態とする。被試験素子１０が静電気を吸収した場合は、外部トリガー回路２３のクロック信号に同期して動作するＩＣ２１は誤動作せず、オシロスコープ２５の波形は変化しない（正常動作時の波形と同じ）。被試験素子１０が静電気を吸収できない場合は、オシロスコープ２５の波形が変化し、ＩＣ２１が誤動作、破壊を引き起こしたことを検出できる。
【００１７】
なお、ＩＣ２１が誤動作してオシロスコープ２５の波形が変化したとき、スイッチ２２を電源ライン側に切り替えてＩＣ２１を正常な動作に戻す。
【００１８】
このように、図２のような非直線性を有する静電気吸収素子の電気特性の違いに対して、その特性に対応したＩＣ２１の誤動作、破壊現象の有無を検出し、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力の確認が可能である。そして、ＩＣ２１は、静電気吸収素子が設けられる携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等に内蔵されているＩＣと同種であり、等価的に携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等が誤動作、破壊現象を生じるかどうかを確認可能である。
【００１９】
なお、上記実施の形態では、スイッチ２２はＩＣ２１の信号ラインをグランドラインに接続した状態として測定を行ったが、ＩＣ２１の種類によっては、スイッチ２２でＩＣ２１の信号ラインを電源ラインに接続した状態として静電気シミュレータ部の出力を印加し、測定を行ってもよい。
【００２０】
以上本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されることなく請求項の記載の範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当業者には自明であろう。
【００２１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、携帯用電子機器等における装置、ユニットあるいは基板等の信号ラインあるいは電源ラインへの静電気の印加に対して、電圧−電流特性の非直線性を利用した静電気吸収素子の電気特性と静電気吸収能力の関係を明確にすることが可能な静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置を実現できる。
【００２２】
本発明によって、非直線性を有する静電気吸収素子の電気特性評価基準を見なおすことができ、選別時の歩留りの向上が見込める。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置の実施の形態を示す回路図である。
【図２】静電気吸収素子（非直線素子）の電圧−電流特性を示す特性図である。
【符号の説明】
１ 静電気シミュレータ部
２ 充電電圧源
３，２２ スイッチ
４ コンデンサ
５ 電気抵抗
１０ 被試験素子
２０ 動作検出部
２１ ＩＣ
２３ 外部トリガー回路
２４ 回路電圧源
２５ オシロスコープ
Claims (2)
- 帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力する静電気シミュレータ部を用い、
集積回路の信号ラインあるいは電源ラインと、グランドライン間に被試験素子として、非直線性の電圧−電流特性の静電気吸収素子を接続し、
前記静電気シミュレータ部の出力信号を前記静電気吸収素子の両端に印加したときの前記集積回路の出力ラインの出力信号を監視して、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を検出することで、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力を評価することを特徴とする静電気吸収素子の電気特性評価方法。 - 帯電した電荷により発生する静電気をシミュレートし電流波形として出力する静電気シミュレータ部と、
集積回路と、
該集積回路の信号ラインあるいは電源ラインと、グランドライン間に接続される被試験素子としての静電気吸収素子であって、非直線性の電圧−電流特性を有するものと、
該集積回路の出力ラインの出力信号を監視して、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を検出する動作検出部とを備え、
前記静電気シミュレータ部の出力信号を前記静電気吸収素子の両端に印加したときの前記集積回路の出力ラインの出力信号から、前記集積回路の誤動作、破壊現象の有無を前記動作検出部で検出することで、前記静電気吸収素子の静電気吸収能力を評価することを特徴とする静電気吸収素子の電気特性評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000323500A JP4513940B2 (ja) | 2000-10-24 | 2000-10-24 | 静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000323500A JP4513940B2 (ja) | 2000-10-24 | 2000-10-24 | 静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002131355A JP2002131355A (ja) | 2002-05-09 |
| JP4513940B2 true JP4513940B2 (ja) | 2010-07-28 |
Family
ID=18801158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000323500A Expired - Lifetime JP4513940B2 (ja) | 2000-10-24 | 2000-10-24 | 静電気吸収素子の電気特性評価方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4513940B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61197572U (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-10 | ||
| JPH03163372A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-15 | Fujitsu Ltd | 入出力保護素子評価装置およびその評価方法 |
-
2000
- 2000-10-24 JP JP2000323500A patent/JP4513940B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61197572U (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-10 | ||
| JPH03163372A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-15 | Fujitsu Ltd | 入出力保護素子評価装置およびその評価方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002131355A (ja) | 2002-05-09 |
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| JPH0524222Y2 (ja) |
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