KR950012082A - 집적회로의 핀 결선불량 검출장치 - Google Patents
집적회로의 핀 결선불량 검출장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 집적회로의 핀결선부량 검출장치에 관한 것으로, 온/오프되어 검출할 핀을 선택하도록 하는 온/오프 접속장치와, 집적회로의 핀과 연결되어 핀으로부터 검출되는 전압과 설정된 상하 한계전압을 비교하기 위한 비교장치와, 상기 온/오프 접속장치를 제어하기 위한 제어신호 발생기와, 상기 제어신호 발생기에 출력신호를 전송하여 원하는 제어신호가 발생되도록 하는 패턴발생기와, 상기 비교장치의 출력결과에 따라 핀이 접지되거나 핀간 단락이 발생하여 핀으로부터 검출된 전압이 상하한계를 벗어나면 온되어 사용자가 핀의 결선상태를 인지할 수 있도록 하는 결과표시장치로 구성되며, 핀의 개방, 접지전압과의 단락뿐만 아니라 핀각 단락상태의 불량을 검출할 수 있으며, 불량검출시간을 단출할 수 있는 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 종래의 기술에 의한 집적회로의 핀 결선불량 검출장치의 회로도.
제 2 도는 본 발명에 의한 집적회로의 핀 결선불량 검출장치의 구성 블록도.
제 3 도는 제 2 도의 구체적인 회로도.
제 5 도는 제 3 도의 각 부분별 타이밍도.
Claims (1)
- 온/오프되어 검출할 핀을 선택하도록 하는 온/오프 접속장치(113)와, 집적회로의 핀과 연결되어 핀으로부터 검출되는 전압과 설정된 상하 한계전압을 비교하기 위한 비교장치(112)와, 상기 온/오프 접속장치(113)를 제어하기 위한 제어신호 발생기(116)와, 상기 제어신호 발생기(116)에 출력신호를 전송하여 원하는 제어신호가 발생되도록 하는 패턴 발생기(115)와, 상기 비교장치(112)의 출력결과에 따라 핀이 접지되거나 핀간 단락이 발생하여 핀으로부터 검출된 전압이 상하한계를 벗어나면 온되어 사용자가 핀의 결선상태를 인지할 수 있도록 하는 결과표시장치(111)로 구성되는 것을 특징으로 하는 집적회로의 핀 결선불량 검출장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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|---|---|---|---|
| KR1019930021008A KR950013604B1 (ko) | 1993-10-11 | 1993-10-11 | 집적회로의 핀 결선불량 검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
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| KR1019930021008A KR950013604B1 (ko) | 1993-10-11 | 1993-10-11 | 집적회로의 핀 결선불량 검출장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR950012082A true KR950012082A (ko) | 1995-05-16 |
| KR950013604B1 KR950013604B1 (ko) | 1995-11-13 |
Family
ID=19365605
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019930021008A KR950013604B1 (ko) | 1993-10-11 | 1993-10-11 | 집적회로의 핀 결선불량 검출장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR950013604B1 (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100506287B1 (ko) * | 1998-02-11 | 2005-11-11 | 삼성전자주식회사 | 피더블유비 패턴의 쇼트 유무 검사기 및 방법 |
| KR100622071B1 (ko) * | 2004-06-15 | 2006-09-08 | 박용수 | 집적회로의 핀간 결함 측정방법 |
Families Citing this family (1)
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|---|---|---|---|---|
| KR20120037053A (ko) | 2010-10-11 | 2012-04-19 | 삼성전자주식회사 | 집적 회로, 이의 테스트 동작 방법, 및 이를 포함하는 장치들 |
-
1993
- 1993-10-11 KR KR1019930021008A patent/KR950013604B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100506287B1 (ko) * | 1998-02-11 | 2005-11-11 | 삼성전자주식회사 | 피더블유비 패턴의 쇼트 유무 검사기 및 방법 |
| KR100622071B1 (ko) * | 2004-06-15 | 2006-09-08 | 박용수 | 집적회로의 핀간 결함 측정방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950013604B1 (ko) | 1995-11-13 |
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