KR930007965Y1

KR930007965Y1 - 동작전류에 의한 집적회로 고장검출회로

Info

Publication number: KR930007965Y1
Application number: KR2019900018247U
Authority: KR
Inventors: 최승욱
Original assignee: 금성산전 주식회사; 이희종
Priority date: 1990-11-26
Filing date: 1990-11-26
Publication date: 1993-11-27
Also published as: KR920009930U

Abstract

내용 없음.

Description

동작전류에 의한 집적회로 고장검출회로

제 1 도는 종래의 집적회로 고장검출회로도.

제 2 도는 본 고안의 동작전류에 의한 집적회로 고장검출회로도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 테스트패턴 발생기 2 측정 집적회로

3 : 전압/전류변환기 8 : 제어신호 발생기

15 : 비교기 20 : 표시부

본 고안은 측정 집적회로(IC)의 동작전류를 측정하여 측정 집적회로의 불량여부를 판별하는 집적회로 측정장치에 있어서, 적분콘덴서를 용이하게 충방전시킬 수 있고, 구성부품의 수를 감소시킬 수 있는 집적회로 고장검출회로에 관한 것이다.

종래의 집적회로 측정장치는 측정 집적회로의 동작전류와 기준전류 즉, 예상되는 소비전류(미리 결정된 값)를 비교하여 동작전류가 기준전류보다 클 경우에는 측정 집적회로를 불량으로 판별함으로써 측정 집적회로의 불량여부를 판별하였다.

이러한 종래의 집적회로 측정장치는 전류를 비교하여 불량여부를 판별한 다음에는 다음 측정한 집적회로의 전류치를 다시 비교하기 위하여 사용한 적분콘덴서에 충전된 전압을 방전시켜서 새로운 초기상태로 환원시켜주어야 하였다.

제 1 도는 종래의 전류를 비교하여 측정 집적회로의 불량 여부를 판별하는 집적회로 고장검출회로도를 도시한 것이다.

종래의 집적회로 고장검출회로는 테스트패턴을 측정 집적회로(2)에 발생하는 테스트패턴 발생기(1)와, 상기 테스트패턴 발생기(1)에서 인가되는 테스트패턴에 따라 저항(4)에 흐르는 전압을 전류로 변환하여 측정 집적회로(2)의 소비전류를 검출하는 전압/;전류 변환기(3)와, 버퍼(9)를 통한 제어신호 발생기(8)의 신호(B)에 따라 스위칭 되는 스위치(5)(6)와, 상기 전압/전류변환기(3)로 부터의 전류(Ix)와 기준전류원(7)으로 부터의 기준 전류(Ir)의 차동성분을 충전하는 적분콘덴서(10)와, 비교기(15)의 반전출력 및 제어신호 발생기(8)의 출력신호(G)와, 비교기(15)의 반전출력 및 제어신호 발생기(8)의 출신신호(G)를 각각 입력으로 하여 스위치(11), (12)를 제어하는 앤드게이트(17), (18)와, 상기 앤드게이트(17), (18)의 동작상태에 따라 인가되는 적분콘덴서(10)의 충전전압과 기준전압(Er)을 비교하는 상기 비교기(15)와, 상기 제어신호 발생기(8)의 출력신호(F)를 클럭신호(CK)로 하여 상기 비교기(15)의 출력신호를 표시부(20)에 인가하는 디플립플롭(19)으로 이루어졌다.

상기와 같은 구성을 갖는 종래의 집적회로 고장검출회로의 동작을 설명한다.

먼저, 테스트 패턴 발생기(1)로부터 테스트패턴 신호가 발생되어 측정 집적회로(2)에 인가되고, 이 테스트패턴 신호는 측정 집적회로(2)를 통하여 저항(4)에 흐르게 된다. 저항(4)에 흐르는 전류에 대한 전압값을 입력으로 하는 전압/전류변환기(3)는 전압을 전류로 변환하여 측정 집적회로(2)에 흐르는 소비전류(Ix)를 검출하게 된다.

제어신호 발생기(8)는 버퍼(9)를 통하여 스위치(5), (6)를 제어하기 위한 신호(B)를 출력하고, 이에 따라 스위치(5), (6)가 제어되어 상기 검출된 소비전류(Ix)와 기준전류원(7)으로 부터 인가되는 기준전류(Ir)의 차동성분이 적분콘덴서(10)에 충전된다.

이때, 제어신호 발생기(8)로 부터 앤드게이트(17)(18)의 한 입력단에 각각 로우상태의 게이트신호(G)가 인가되어 그 출력은 로우상태로 되고, 따라서 스위치(11), (12)는 디스에이블 되게 된다.

따라서, 콘덴서(10)의 충전전압이 비교기(15)의 한 입력단에 인가되므로 비교기(15)는 다른 입력단에 인가되는 기준전압(Er)과 비교하여 그 출력을 디플립플롭(19)의 입력단에 인가한다.

한편, 디플립플롭(19)의 클럭단자(CK)에는 제어신호 발생기(8)의 출력신호(F)가 인가되어, 입력단(D)에 인가된 비교기(15)의 출력신호가 표시부(20)에 인가되어 표시되게 된다. 따라서, 표시부(20)상에 표시되는 값으로 측정 집적회로(12)의 불량여부를 판단하게 된다.

이때, 측정 집적회로(2)의 동작이 양호하다면 소비전류(Ix)에 의한 전압과 미리 설정된 기준전류(Ir)에 대한 전압의 절대값이 서로 같게 되므로 비교기(15)의 출력은 현상태를 유지하여 측정 집적회로(2)가 양호상태임을 표시하고, 절대값이 서로 다르면 비교기(15)의 출력을 반전시켜 불량을 표시하게 된다.

상기와 같은 동작으로 측정 집적회로의 불량여부를 판단한 후에는 적분콘덴서(10)를 방전시켜 주어야 한다. 따라서, 제어신호 발생기(8)에서는 앤드게이트(17, 18)의 한 입력에 하이상태의 신호를 인가하고, 따라서 비교기(15)의 출력에 따라 앤드 게이트(17, 18) 중 하나에서 고전위신호가 출력되고, 이에따라 스위치(11), (12)중 하나의 스위치가 온되게 된다. 그러므로, 방전패스가 형성되어 콘덴서(10)에 충전되어 있던 전압은 임의의 스위치(11), (12) 및 콘덴서(10)에 충전되어 있던 전압은 임의의 스위치(11), (12) 및 콘덴서(13), (14)를 통하여 방전되게 한다.

상기에서 설명한 바와같은 종래의 측정 집적회로 고장검출회로는 테스트패턴 발생기로부터 발생되는 임의의 테스트패턴으로 측정 집적회로를 구동시키고, 구동에 따른 소비전류를 측정하여 미리 설정된 기준전류와 비교하여 이를 적분 콘덴서에 충전시키며, 이 값의 크기에 따라 측정 집적회로의 불량여부를 판단하였으며, 다음의 측정을 위하여 적분콘덴서를 초기화시키는 동작이 산행되어야만 하였다. 그러므로 이러한 동작을 위하여 논리게이트등의 디지탈 소자와 포지티브와 네가티브 스위칭하기 위한 아날로그 스위치가 필요하였기 때문에 디지탈소자와 아날로그 소자의 논리레벨을 위한 인터페이스가 필요한 문제점이 있었다.

본 고안은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 비교기와 트랜지스터를 사용한 스위칭신호를 이용하여 적분콘덴서를 충방전시키는 측정 집적회로의 고장검출회로를 제공하는 데에 있다.

이하 첨부 도면에 의거하여 본 고안의 실시예를 상세히 설명한다.

본 고안의 측정 집적회로의 고장검출회로는 테스트 패턴을 측정 집적회로(2)에 발생하는 테스트 패턴발생기(1)와, 상기 테스트 패턴 발생기(1)에서 인가되는 테스트패턴에 따라 저항(4)에 흐르는 전압을 전류로 변환하여 측정 집적회로(2)의 소비전류(Ix)를 검출하는 전압/전류변환기(3)와, 제어신호 발생기(8)의 신호(B)에 따라 스위칭되는 스위치(5), (6)와, 상기 전압/전류변환기(3)로부터의 소비전류(Ix)와 기준전류원(7)으로 부터의 기준전류(Ir)의 차동성분을 충전하는 적분콘덴서(10)와, 제어신호 발생기(8)의 출력 신호(T1, T2)에 의하여 구동되어 방전통로 형성용 트랜지스터(21), (22)를 구동시키기 위한 스위칭 트랜지스터(26), (27)와, 상기 트랜지스터(26), (27)의 구동상태에 따라 스위칭되어 적분콘덴서(10)의 방전통로를 형성하는 트랜지스터(21), (22)와, 트랜지스터(21), (22)의 동작상태에 따라 인가되는 적분콘덴서(10)의 충전전압과 기준전압(Er)을 비교하는 비교기(15)와, 상기 제어신호 발생기(8)의 출력신호(F)를 클럭신호(CK)로 하여 상기 비교기(15)의 출력신호를 표시부(20)에 인가하는 디플립플롭으로 구성된다.

상기한 바와같은 구성을 갖는 본 고안의 측정 집적회로의 고장검출 동작을 상세히 설명한다.

먼저, 테스트 패턴 발생기(1)로 부터 테스트패턴 신호가 발생되어 측정 집적회로(2)에 인가되고, 이 테스트 패턴 신호는 측정 집적회로(2)를 통하여 저항(4)에 흐르게 된다. 저항(4)에 흐르는 전류에 대한 전압값을 입력으로 하는 전압/전류변환기(3)는 전압을 전류로 변환하여 측정 집적회로(12)에 흐르는 소비전류(Ix)를 검출하게 된다.

제어신호 발생기(8)는 스위치(5), (6)를 제어하기 위한 신호(B)를 출력하고, 이에 따라 스위치(5), (6)가 제어되어 상기 검출된 소비전류(Ix)와 기준전류원(7)으로 부터 인가되는 기준전류(Ir)의 차동성분이 콘덴서(10)에 충전된다.

이때, 제어신호 발생기(8)로부터 트랜지스터(27), (27)의 베이스에 출력신호(T1, T2)가 인가되지 않아 오프되고, 이에따라 방전패스 형성용 트랜지스터(21, 22)가 오프되어 콘덴서(10)의 충전전압이 비교기(15)의 한입력단에 인가되므로 비교기(15)는 다른 입력단에 인가되는 기준전압(Br)과 비교하여 그 출력을 디플립플롭(19)의 입력단에 인가한다.

한편, 디플립플롭(19)의 클럭단자(CK)에는 제어신호 발생기(8)의 출력신호(F)가 인가되어 그의 입력단(D)에 인가된 비교기(15)의 출력신호가 표시부(20)에 인가되어 표시되게 된다. 따라서, 상기와 마찬가지로, 표시부(20)상에 표시되는 값으로 측정 집적회로(2)의 불량여부를 판단하게 된다.

상기와 같은 동작으로 측정 집적회로의 불량을 판단한 후에는 충전콘덴서(10)를 방전시켜 주어야 한다. 따라서, 본 고안에서는 제어신호 발생기(8)로 부터 트랜지스터(26, 27)의 베이스에 출력신호(T1, T2)가 인가되어 둘중 하나의 트랜지스터를 온시킨다.

이에 따라 비교기(15)의 출력이 저항(25) 및 스위칭 트랜지스터(26, 27)중 하나를 통하여 방전패스 형성용 트랜지스터(21), (22)에 인가된다. 그러므로, 적분콘덴서(10)의 방전패스가 형성되어 충전전압이 방전패스 형성용 트랜지스터와 그에 접속된 전류원(24, 23)중 하나를 통하여 방전을 하게 된다.

상기한 바와같은 본 고안에 의하면 적분콘덴서의 충방전회로를 상기 스위칭 트랜지스터와 비교기로 구성하여 줌으로써 종래의 디지탈 소자와 아날로그 소자의 전류레벨을 인터페이스하기 위한 별도의 회로가 필요하지 않은 이점이 있다.

Claims

테스트패턴신호를 측정 집적회로(2)에 발생하는 테스트패턴 발생기(1)와, 상기 테스트패턴 발생기(1)에서 인가되는 테스트패턴에 따라 저항(4)에 흐르는 전압을 전류로 변환하여 측정 집적회로(2)의 소비전류(Ix)를 검출하는 전압/전류변환기(3)와, 상기 전압/전류 변환기(3)로 부터의 측정 집적회로(2)의 소비전류(Ix)와 기준전류원(7)으로부터의 기준전류(Ir)의 차동성분을 충전시키는 적분콘덴서(10)와, 상기 적분콘덴서(10)의 충전전압과 기준전압(Er)을 비교하는 비교기(15)와, 비교기(15)의 출력을 제어신호 발생기(8)의 출력신호(F)에 의하여 표시부(20)에 인가하는 디플립플롭(19)으로 구성되어 측정 집적회로(2)의 불량여부를 판단하는 측정집적회로의 고장검출회로에 있어서, 상기 측정 집적회로(2)의 불량여부 판단후 제어신호 발생기(8)로부터 인가되는 신호(T1, T2)에 의하여 스위칭되어 저항(25)을 통한 비교기(15)의 출력을 통과시키는 스위칭 트랜지스터(26), (27)와, 상기 스위칭 트랜지스터(26), (27)의 스위칭 상태에 따라 구동되어 전류원(23), (24)과 함께 상기 적분콘덴서(10)의 방전패스를 형성하는 트랜지스터(21), (22)로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 측정 집적회로의 고장검출회로.