JPH10282108A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
- Publication number
- JPH10282108A JPH10282108A JP9342597A JP9342597A JPH10282108A JP H10282108 A JPH10282108 A JP H10282108A JP 9342597 A JP9342597 A JP 9342597A JP 9342597 A JP9342597 A JP 9342597A JP H10282108 A JPH10282108 A JP H10282108A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction
- water
- constant temperature
- bubbles
- temperature bath
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】温水循環式恒温槽の循環水中の気泡の除去。
【解決手段】温水循環式恒温槽１４の循環水の交換中に
反応容器６を実装した反応テーブル５を回転させること
で気泡を除去する。
反応容器６を実装した反応テーブル５を回転させること
で気泡を除去する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は自動分析装置に関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の自動分析装置の循環水交換は、恒
温槽内の循環水をある一定量排出後、新たに純水を給水
し、反応容器または恒温槽壁面に気泡が付着するのを防
止するために界面活性剤を添加していた。
温槽内の循環水をある一定量排出後、新たに純水を給水
し、反応容器または恒温槽壁面に気泡が付着するのを防
止するために界面活性剤を添加していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】循環水の交換後、恒温
槽内の循環水（純水と界面活性剤の混合液）を３７℃で
制御するため温水循環式恒温槽の流路上にヒータを設置
している。そのため、循環水中の溶存酸素などがヒータ
の加熱により発泡する。また、循環水を給排水するため
に流路を電磁弁により切り換える。この時に空気が混入
してしまう。従来の制御では、これらの気泡の除去は非
常に困難であった。もし、恒温槽内にこれらの気泡が混
入した状態で測定し、光度計の測光軸上に気泡が存在し
た場合、測定値は異常となり安定した分析結果は得られ
ない。
槽内の循環水（純水と界面活性剤の混合液）を３７℃で
制御するため温水循環式恒温槽の流路上にヒータを設置
している。そのため、循環水中の溶存酸素などがヒータ
の加熱により発泡する。また、循環水を給排水するため
に流路を電磁弁により切り換える。この時に空気が混入
してしまう。従来の制御では、これらの気泡の除去は非
常に困難であった。もし、恒温槽内にこれらの気泡が混
入した状態で測定し、光度計の測光軸上に気泡が存在し
た場合、測定値は異常となり安定した分析結果は得られ
ない。
【０００４】本発明の目的は、恒温槽循環水中の気泡を
簡単に除去できる自動分析装置を提供することにある。
簡単に除去できる自動分析装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の目的である恒温
槽循環水中の気泡を除去するための手段として、以下の
ような制御を行う。すなわち、第一段階として、恒温槽
内の循環水を排出する際、循環水全てを排出せずある一
定量排出させる。この制御は循環水の給排水する電磁弁
を切り換える際の気泡の混入をおさえるために行われ
る。第二段階として、純水の吐出方向が恒温槽内壁に当
たるように給水口を設け、水中および水面の気泡を上昇
させる。恒温槽外側面には、上昇した気泡の除去およ
び、純水の給水が必要以上に供給されぬよう側面に排水
溝が設置されている。第三段階として、界面活性剤を恒
温槽内に添加し反応容器を実装した反応ディスクを一方
向または、正逆回転させる。これにより恒温槽内壁に付
着した気泡を反応容器の一方向または、正逆回転によっ
て押し流すことにより除去が可能となる。また、界面活
性剤の拡散を促進させる効果もある。
槽循環水中の気泡を除去するための手段として、以下の
ような制御を行う。すなわち、第一段階として、恒温槽
内の循環水を排出する際、循環水全てを排出せずある一
定量排出させる。この制御は循環水の給排水する電磁弁
を切り換える際の気泡の混入をおさえるために行われ
る。第二段階として、純水の吐出方向が恒温槽内壁に当
たるように給水口を設け、水中および水面の気泡を上昇
させる。恒温槽外側面には、上昇した気泡の除去およ
び、純水の給水が必要以上に供給されぬよう側面に排水
溝が設置されている。第三段階として、界面活性剤を恒
温槽内に添加し反応容器を実装した反応ディスクを一方
向または、正逆回転させる。これにより恒温槽内壁に付
着した気泡を反応容器の一方向または、正逆回転によっ
て押し流すことにより除去が可能となる。また、界面活
性剤の拡散を促進させる効果もある。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１の本発明に基づく自動分析装
置の主要部の原理図を示す。本装置では、４８個の透光
性の角形プラスチック反応容器６が回転式の反応テーブ
ル５の円周上に保持されている。４０個の試薬容器３が
回転式の試薬テーブル２に配置されている。被測定試料
３５個と標準試料２２個の容器１１が回転式のサンプル
テーブル１０に配置される。サンプルテーブル１０の定
位置のサンプル容器から入力検体情報に基づく所定量の
各試料液を試料用可動アームに保持されたノズル内に吸
引して反応テーブル５の定位置の反応容器６に試料を吐
き出しする試料サンプリング機構８とマイクロシリンジ
機構１５がある。試薬ピペッティング機構４とシリンジ
機構１７は、入力検体情報に基づいて回転し、その停止
位置が制御される試薬テーブル２上の試薬吸入位置の試
薬容器中から可動アームに保持された試薬用ノズル内に
入力情報に基づく所定量の試薬を吸入して、反応テーブ
ル上の試薬吐き出し位置にある反応容器中に添加する。
反応容器に収容する反応液の撹拌機構９による撹拌位置
は、反応テーブル上の試薬吐き出し位置に一致させる。
置の主要部の原理図を示す。本装置では、４８個の透光
性の角形プラスチック反応容器６が回転式の反応テーブ
ル５の円周上に保持されている。４０個の試薬容器３が
回転式の試薬テーブル２に配置されている。被測定試料
３５個と標準試料２２個の容器１１が回転式のサンプル
テーブル１０に配置される。サンプルテーブル１０の定
位置のサンプル容器から入力検体情報に基づく所定量の
各試料液を試料用可動アームに保持されたノズル内に吸
引して反応テーブル５の定位置の反応容器６に試料を吐
き出しする試料サンプリング機構８とマイクロシリンジ
機構１５がある。試薬ピペッティング機構４とシリンジ
機構１７は、入力検体情報に基づいて回転し、その停止
位置が制御される試薬テーブル２上の試薬吸入位置の試
薬容器中から可動アームに保持された試薬用ノズル内に
入力情報に基づく所定量の試薬を吸入して、反応テーブ
ル上の試薬吐き出し位置にある反応容器中に添加する。
反応容器に収容する反応液の撹拌機構９による撹拌位置
は、反応テーブル上の試薬吐き出し位置に一致させる。
【０００７】この他に反応テーブル５の回転時に光軸を
横切る各反応容器６の吸光度を入力情報に基づく所定の
波長で測定する多波長光度計１３，測定終了後の反応容
器を洗浄する洗浄用ノズル機構１２と洗浄用給排水ポン
プ機構１６，マイクロシリンジ機構１５，ＬＯＧアンプ
１８，Ａ／Ｄ変換器１９，各機構部の動作制御およびデ
ータ処理用コンピュータ１，出力用プリンタ２１，入出
力および表示用タッチパネル付きＬＣＤ２０，プログラ
ム，測定条件およびデータメモリ用フロッピディスクド
ライバ２２，反応テーブル上の各反応容器を一定温度に
保持するための循環式恒温槽１４，コンピュータ１と各
機構系を接続するインターフェース２４等より構成され
る。
横切る各反応容器６の吸光度を入力情報に基づく所定の
波長で測定する多波長光度計１３，測定終了後の反応容
器を洗浄する洗浄用ノズル機構１２と洗浄用給排水ポン
プ機構１６，マイクロシリンジ機構１５，ＬＯＧアンプ
１８，Ａ／Ｄ変換器１９，各機構部の動作制御およびデ
ータ処理用コンピュータ１，出力用プリンタ２１，入出
力および表示用タッチパネル付きＬＣＤ２０，プログラ
ム，測定条件およびデータメモリ用フロッピディスクド
ライバ２２，反応テーブル上の各反応容器を一定温度に
保持するための循環式恒温槽１４，コンピュータ１と各
機構系を接続するインターフェース２４等より構成され
る。
【０００８】本装置による測定の開始にあたっては、先
ず必要に応じて標準試料と被測定試料をサンプルテーブ
ル１０にセットし、各試料液毎に測定する項目すなわち
項目選択情報を入力する。また、試薬テーブル２には測
定に必要なすべての試薬をセットする。各測定項目毎の
測定条件はフロッピディスクで供給する。以上の準備が
終了したらオペレータは装置をスタートさせる。装置が
スタートすると反応テーブル５とサンプルテーブル１０
が回転し、最初に測定されるべき試料液と最初に使用さ
れる清浄な反応容器が各々のテーブルの所定位置に位置
付けられる。この状態で試料サンプリング機構８とマイ
クロシリンジ機構１５によって試料の最初に測定される
べき測定項目に適応する量が反応容器中に採取される。
ず必要に応じて標準試料と被測定試料をサンプルテーブ
ル１０にセットし、各試料液毎に測定する項目すなわち
項目選択情報を入力する。また、試薬テーブル２には測
定に必要なすべての試薬をセットする。各測定項目毎の
測定条件はフロッピディスクで供給する。以上の準備が
終了したらオペレータは装置をスタートさせる。装置が
スタートすると反応テーブル５とサンプルテーブル１０
が回転し、最初に測定されるべき試料液と最初に使用さ
れる清浄な反応容器が各々のテーブルの所定位置に位置
付けられる。この状態で試料サンプリング機構８とマイ
クロシリンジ機構１５によって試料の最初に測定される
べき測定項目に適応する量が反応容器中に採取される。
【０００９】次いで反応テーブル５が反時計方向に回転
し、１マシンサイクル後には１回転＋１ピッチ（１反応
容器）分回転した位置で停止して、次のサイクルの動作
に移行する。すなわち、各動作（マシン）サイクル（本
例では１サイクルは１８秒すなわち２００テスト／時）
の開始時毎に反応テーブルは１ピッチずつ反時計方向に
進行した位置で停止し、次の試料液が左となりの反応容
器に採取される。また、反応テーブルの回転時には多波
長光度計１３の光軸を通過するすべての反応容器中の反
応液の吸光度が、入力情報に基づく各波長によって測定
される。
し、１マシンサイクル後には１回転＋１ピッチ（１反応
容器）分回転した位置で停止して、次のサイクルの動作
に移行する。すなわち、各動作（マシン）サイクル（本
例では１サイクルは１８秒すなわち２００テスト／時）
の開始時毎に反応テーブルは１ピッチずつ反時計方向に
進行した位置で停止し、次の試料液が左となりの反応容
器に採取される。また、反応テーブルの回転時には多波
長光度計１３の光軸を通過するすべての反応容器中の反
応液の吸光度が、入力情報に基づく各波長によって測定
される。
【００１０】本発明の目的である恒温槽循環水中の気泡
を除去方法を図２により説明する。図２に温水循環式恒
温槽の構成を示す。反応テーブル５に実装される反応容
器６内の検体試料を反応槽３１内の循環水により３７℃
で制御する。ヒータ２５のオン／オフ動作により制御さ
れる循環水を循環させるための循環ポンプ２６と試薬を
保存するための保冷庫２７，光度計のランプ２８，給水
用電磁弁２９，排水用電磁弁３０により構成される。さ
らに、反応槽３１内の循環水交換は、自動または手動に
より交換可能である。反応槽３１内の循環水を交換する
ために、先ず排水用電磁弁３０が開く。排水用電磁弁３
０は、反応槽３１内の循環水がすべて排出される直前に
閉じる。これは反応槽３１と循環ポンプ２６間の循環水
がすべて排出されると循環ポンプ２６に空気が混入し反
応槽３１内の気泡付着の原因となる。排水用電磁弁３０
が閉じると次に、給水用電磁弁２９が開き給水口３２よ
り純水の供給を開始する。純水の供給中に界面活性剤を
添加する。界面活性剤により恒温槽内壁，流路内などに
付着した気泡が反応槽３１内に現れる。反応槽３１に
は、排水溝３３が設置されており故意に必要以上の純水
を供給すると同時に反応容器６を実装した反応テーブル
５が一方向または、正逆回転することにより循環水内の
気泡を余分な循環水と共に排水溝３３に排出する。ま
た、反応容器６を実装した反応テーブル５が一方向また
は、正逆回転することにより界面活性剤の拡散も促進す
る。
を除去方法を図２により説明する。図２に温水循環式恒
温槽の構成を示す。反応テーブル５に実装される反応容
器６内の検体試料を反応槽３１内の循環水により３７℃
で制御する。ヒータ２５のオン／オフ動作により制御さ
れる循環水を循環させるための循環ポンプ２６と試薬を
保存するための保冷庫２７，光度計のランプ２８，給水
用電磁弁２９，排水用電磁弁３０により構成される。さ
らに、反応槽３１内の循環水交換は、自動または手動に
より交換可能である。反応槽３１内の循環水を交換する
ために、先ず排水用電磁弁３０が開く。排水用電磁弁３
０は、反応槽３１内の循環水がすべて排出される直前に
閉じる。これは反応槽３１と循環ポンプ２６間の循環水
がすべて排出されると循環ポンプ２６に空気が混入し反
応槽３１内の気泡付着の原因となる。排水用電磁弁３０
が閉じると次に、給水用電磁弁２９が開き給水口３２よ
り純水の供給を開始する。純水の供給中に界面活性剤を
添加する。界面活性剤により恒温槽内壁，流路内などに
付着した気泡が反応槽３１内に現れる。反応槽３１に
は、排水溝３３が設置されており故意に必要以上の純水
を供給すると同時に反応容器６を実装した反応テーブル
５が一方向または、正逆回転することにより循環水内の
気泡を余分な循環水と共に排水溝３３に排出する。ま
た、反応容器６を実装した反応テーブル５が一方向また
は、正逆回転することにより界面活性剤の拡散も促進す
る。
【００１１】
【発明の効果】本発明は以下のような効果がある。
【００１２】（１）反応容器を実装した反応テーブルが
一方向または、正逆回転することにより恒温槽内の循環
水中の気泡や、恒温槽内壁などに付着した気泡を除去す
る。 （２）反応容器を実装した反応テーブルが一方向また
は、正逆回転することにより界面活性剤の撹拌を促進す
る。
一方向または、正逆回転することにより恒温槽内の循環
水中の気泡や、恒温槽内壁などに付着した気泡を除去す
る。 （２）反応容器を実装した反応テーブルが一方向また
は、正逆回転することにより界面活性剤の撹拌を促進す
る。
【００１３】（３）恒温槽内の循環水中の気泡や、恒温
槽内壁などに付着した気泡を除去することにより安定し
た分析が可能となる。
槽内壁などに付着した気泡を除去することにより安定し
た分析が可能となる。
【図１】自動分析装置のシステムのブロック図。
【図２】自動分析装置の温水循環式恒温槽の説明図。
５…反応テーブル、６…反応容器、８…試料サンプリン
グ機構、９…撹拌機構、１０…サンプルテーブル、１１
…試料容器、１２…洗浄用ノズル機構、１３…多波長光
度計、１４…温水循環式恒温槽。
グ機構、９…撹拌機構、１０…サンプルテーブル、１１
…試料容器、１２…洗浄用ノズル機構、１３…多波長光
度計、１４…温水循環式恒温槽。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 進藤 勲夫 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内
Claims (3)
- 【請求項１】被検体の試料および試薬を配列したサンプ
ラー部と、反応処理する反応容器列と、上記反応容器列
を一定温度に保つ温水循環式の恒温槽と、上記試料およ
び上記試薬を定量分注するノズル機構系と上記試料と上
記試薬の反応結果、反応状態を測光する光度計から構成
される自動分析装置において、上記恒温槽内の循環水を
上記恒温槽の側面に当てる給水口にカバーを設け、循環
水の気泡を除去する機構を持つことを特徴とする自動分
析装置。 - 【請求項２】請求項１において、上記恒温槽内の循環水
の交換動作時、反応ディスクは上記反応容器を実装して
一方向または、正逆回転を繰返しながら循環水内の気泡
を上昇させ、上記恒温槽内に設けたオーバーフロー面よ
り流出するまで給水を続け、上記反応容器の正逆回転で
排水溝より気泡を押し流す自動分析装置。 - 【請求項３】請求項１において、上記恒温槽の内壁に気
泡付着防止のための界面活性剤を添加し、上記反応容器
を実装した反応ディスクを一方向または、正逆回転さ
せ、界面活性剤の拡散を促進させる自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9342597A JPH10282108A (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9342597A JPH10282108A (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | 自動分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10282108A true JPH10282108A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=14081957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9342597A Pending JPH10282108A (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10282108A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1544601A2 (en) * | 2003-12-19 | 2005-06-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Air bubbles removing system in an automatic analyzer |
| JP2009168652A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2020159804A (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
| WO2023026810A1 (ja) * | 2021-08-27 | 2023-03-02 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
-
1997
- 1997-04-11 JP JP9342597A patent/JPH10282108A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1544601A2 (en) * | 2003-12-19 | 2005-06-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Air bubbles removing system in an automatic analyzer |
| JP2005181087A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| EP1544601A3 (en) * | 2003-12-19 | 2006-05-10 | Hitachi High-Technologies Corporation | Air bubbles removing system in an automatic analyzer |
| CN1308682C (zh) * | 2003-12-19 | 2007-04-04 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
| US7459123B2 (en) | 2003-12-19 | 2008-12-02 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| JP2009168652A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2020159804A (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
| WO2023026810A1 (ja) * | 2021-08-27 | 2023-03-02 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
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