JPH10257352A - 半導体演算回路 - Google Patents

半導体演算回路

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JPH10257352A
JPH10257352A JP9081876A JP8187697A JPH10257352A JP H10257352 A JPH10257352 A JP H10257352A JP 9081876 A JP9081876 A JP 9081876A JP 8187697 A JP8187697 A JP 8187697A JP H10257352 A JPH10257352 A JP H10257352A
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JP
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input terminal
signal
circuit
arithmetic circuit
signal voltage
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JP9081876A
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Sunao Shibata
直 柴田
Tadahiro Omi
忠弘 大見
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/14Picture signal circuitry for video frequency region
    • H04N5/142Edging; Contouring
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、非常に簡単な回路で画像の平均化
処理によるノイズ除去、エッジ強調処理、エッジ検出処
理を可能にする半導体演算回路を提供することを目的と
する。 【解決手段】 入力端子が少なくとも一つのMOS型の
トランジスタのゲート電極に接続されて構成された増幅
回路と、前記入力端子に第1のスイッチ素子を介して接
続された第1の信号入力端子と、前記入力端子に容量素
子を介して接続された複数の第2の信号入力端子とを有
する半導体演算回路において、前記入力端子に第1の信
号電圧を加えるとともに前記第2の信号入力端子に所定
の第2の入力信号電圧群を加えた状態で前記第1のスイ
ッチ素子を開放し、その後前記第2の信号入力端子に所
定の第3の入力信号電圧群を加える手段を有し、且つ前
記増幅回路がソースフォロワ回路又は電圧フォロワ回路
であることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、半導体演算回路に
係り、特に画像処理等に用いる高性能演算回路に関す
る。
【0002】
【背景技術】マルチメディア技術の発展に伴い、画像情
報を扱う演算の需要が増大している。画像情報は基本的
に2次元に配列された画素値のデータで表現されるため
データ量が非常に大きく、従来のマイクロプロセッサを
用いた逐次演算では多くの時間がかかった。とくにロボ
ット応用のように実時間の応答が要求される画像処理演
算ではこれが大きな問題であり、技術的なブレークスル
ーが求められている。
【0003】この困難を解決する一つの方法として各画
素毎に同一の演算回路を備え、それぞれの画素の位置に
おいて周りの画素のデータを取り込んで演算を行う方式
が種々提案されている。すべての画素での演算が並列に
行われるため高速の処理が可能である。しかしながらこ
の方式では、高度な演算を行うためには演算回路の規模
が大きくなり一つの画素の占める面積が大きくなって、
画素の集積密度が上がらないという問題があった。つま
り画像の解像度を向上させることができないという問題
があった。特に、ノイズを平均化処理で減らしたり、画
像の鮮明度を向上させるためのエッジ強調を行う演算は
非常に複雑な回路を必要とするため、画素密度を上げて
取り込み画像の解像度を向上させることと両立させるこ
とが困難であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は以上の問題点
を解決するために行ったものであり、非常に簡単な回路
で画像の平均化処理によるノイズ除去、エッジ強調処
理、エッジ検出処理を可能にする半導体演算回路を提供
するものである。
【0005】
【課題を解決する手段】本発明は、入力端子が少なくと
も一つのMOS型のトランジスタのゲート電極に接続さ
れて構成された増幅回路と、前記入力端子に第1のスイ
ッチ素子を介して接続された第1の信号入力端子と、前
記入力端子に容量素子を介して接続された複数の第2の
信号入力端子とを有する半導体演算回路において、前記
入力端子に第1の信号電圧を加えるとともに前記第2の
信号入力端子に所定の第2の入力信号電圧群を加えた状
態で前記第1のスイッチ素子を開放し、その後前記第2
の信号入力端子に所定の第3の入力信号電圧群を加える
手段を有し、且つ前記増幅回路がMOS型のトランジス
タを用いて構成されたソースフォロワ回路又はMOS型
のトランジスタを入力段に有する演算回路を用いて構成
された電圧フォロワ回路であることを特徴としている。
【0006】前記第3の信号電圧群がすべて同一の値で
あり且つ前記第1の信号電圧に等しいことを特徴とす
る。また、前記第1の信号電圧並びに前記第2の信号電
圧群が2次元に配置されたフォトセンサ群より得られる
信号若しくはそれに所定の演算処理を施した信号である
ことを特徴とする。
【0007】さらに、前記第1の信号電圧が所定の位置
のフォトセンサより得られる信号若しくはそれに所定の
演算処理を施した信号であり、前記第2の信号電圧群が
前記所定の位置のフォトセンサに隣接するフォトセンサ
群より得られる信号若しくはそれに所定の演算処理を施
した信号であることを特徴とする。
【0008】前記増幅回路の出力端子が第2のスイッチ
素子を介して前記第2の入力端子の少なくとも1つに接
続されていることを特徴とする。
【0009】また、本発明の半導体演算回路は、アナロ
グデータ保持回路と、結線を切り換える手段とを設け、
前記増幅回路の出力値を前記アナログデータ保持回路の
少なくとも一部に格納するとともに、前記格納された出
力値を再び前記結線を切り換える手段を用いて前記入力
端子に導くように構成されたことを特徴とする。
【0010】以上の半導体演算回路を1つのブロックと
し、該ブロックを2次元に配置して構成したことを特徴
とし、また、前記ブロック中に少なくとも一つのフォト
センサを設けたことを特徴とする。
【0011】本発明により、画像の平均化処理によるノ
イズ除去、エッジ強調処理、エッジ検出処理等が非常に
簡単な回路で実現できるようになり、2次元イメージセ
ンサの高画質化と同時に高機能化を達成することが可能
になった。これにより実時間の画像処理が可能になった
のである。
【0012】
【実施例】以下に実施例をあげて本発明をより詳細に説
明する。
【0013】(実施例1)図1は本発明の第1の実施例
を示す回路図である。101はNチャネルMOSトラン
ジスタ、102はPチャネルMOSトランジスタであ
り、いずれもデプレション型のトランジスタである。ト
ランジスタ101および102はプッシュプル方式の増
幅器、つまりCMOS方式のソースフォロワ回路103
を構成している。104はMOSトランジスタ101、
102共通のゲート電極であり、例えば第1層目の多結
晶シリコン層でできている。これはソースフォロワ回路
103の入力端子となっており、スイッチ素子105を
介して信号入力端子V9につながっている。このスイッ
チ素子は、例えば単体のNMOSもしくはPMOSを用
いてもよく、あるいは1対のNMOS,PMOSを並列
に組み合わせたいわゆるCMOSスイッチを用いてもよ
い。CN、CPは、それぞれNMOS101、PMOS1
02のゲート電極104とチャネル間の容量である。1
06a〜106c等は入力ゲート電極であり、これらは
例えば第2層目の多結晶シリコン層でできている。また
これらの入力ゲートはV1〜V8の入力信号端子につなが
っている。スイッチ105を開放した状態での共通ゲー
ト電極104のフローティング電位をVFとすると、VF
は次式で与えられる。 VF =(C11+C22+・・・+C88+QF)/CTOT (式1) CTOT = C1+C2+・・・+C8 (式2) ここでQFは、フローティング状態にある共通ゲート電
極上の電荷量を表す。またCTOTは、式2に示したよう
に電極104につながっている全容量の和である。ここ
にCN,CPが含まれていないのは、ソースフォロワ回路
ではこれらが実効的に非常に小さくなり無視できるから
である。その理由は、MOSトランジスタ102、10
2のチャネルは出力端子107と電気的に同電位となっ
ており、その値はソースフォロワ回路103の動作によ
り共通ゲート電極104の値とほぼ等しくなるため、C
N,CPの充放電が起こらないからである。つまり、
N,CPは無視することができる。
【0014】図2は2次元のフォトセンサ・アレーの中
から9画素分のアレーを取り出しその位置関係を図示し
たものである。I1、I2……、I9はそれぞれ画素1〜
9の輝度値を表す電圧信号である。画素9は今対象とし
ている画素であり、画素1〜8はその8近傍の画素であ
る。図3〜5を用いて画素9においてエッジ強調処理を
行う動作について説明する。
【0015】まず動作の第1ステップを図3に示す。ス
イッチ105を閉じ、各画素の信号値を図示したように
印加する。つまり、センターの画素値をソースフォロワ
の入力端子104に、また周辺画素値の値をV1〜V8
入力信号端子に入力する。この後、スイッチ105を開
放する(図4)。このとき式1を用いてフローティング
電極104上の電荷QFの値が次式3のように求まる。 QF = I9−(I1+I2+・・・+I8)/8 (式3) ここで、C1〜C8はすべて同じ値とした。
【0016】次に、図5に示したように電極106a〜
106cにはすべて同じ値I9を入力する。式1、式3
を用いてこの時のVFが、 VF = I9+{I9−(I1+I2+・・・+I8)/8} = 2I9−(I1+I2+・・・+I8)/8 (式4) のように求まる。式4は画像処理等でよく用いられるエ
ッジ強調処理のための演算である。つまり、画素9の値
がまわり8画素の平均値とどれだけずれているかをまず
求め、そのずれの値をもとの画素値に加えた形になって
いる。こうすれば、画素9の値が周りよりも大きいとき
には益々大きくなり、逆に小さいときには益々小さくな
りエッジが強調されるのである。本発明によれば非常に
簡単な回路でエッジ処理という高度な演算が可能にな
る。すなわちソースフォロワ回路一つで演算が行えるた
め、フォトセンサと一体化して集積しても高密度のセン
サアレーを実現することができ、イメージセンサの高い
解像度と同時に高機能化が図れる。
【0017】(実施例2)図6は本発明の第2の実施例
を示す図面である。図1の第1の実施例との違いは、ソ
ースフォロワ回路103の代わりに演算増幅器の電圧フ
ォロワ回路が用いられている点である。ソースフォロワ
と同様にその出力端子602に現れる電圧は入力端子6
03の電位と等しくなる。入力端子603は、電気的に
フローティングとする必要があるためこの演算増幅器の
入力段のデバイスはMOS型の素子が用いられているこ
とが重要であるが、その回路構成等はいかなるものが用
いられていてもよい。
【0018】(実施例3)図7は本発明の第3の実施例
を示す図面である。701は、その出力端子702の電
圧が入力端子703と等しくなる回路であり、図1のよ
うにソースフォロワを用いてもよいし、あるいは図6の
ように演算増幅器を用いてもよい。本実施例は、平均化
によるノイズ除去を行う回路であり、図1の実施例との
大きな違いは信号入力端子704a〜704cが9個と
一つ増加していることおよびその動作である。その動作
を次に説明する。
【0019】まず第1ステップでは、V1〜V10をすべ
てグランド(0V)にしてスイッチ素子105を閉じ
る。第2ステップではスイッチ105を開放した後V1
〜V9端子に図2の各画素値I1〜I9をそれぞれ入力す
る。そうすると式1に従いフローティングゲート703
の電位はI1〜I9の画素値の平均値となる。つまりノイ
ズを平均化処理によって抑えた出力値が出力端子に現れ
る。このように図1と同様の回路がノイズ除去にも用い
ることができる。
【0020】(実施例4)図8は本発明の第4の実施例
を示す図面であり、第3の実施例の回路(図7)を用い
てノイズ除去の処理とエッジ強調処理を両方できるよう
にした回路である。701〜703は図7と同じもので
あり、V1〜V10はそれぞれ図7の対応する信号入力端
子と対応している。ただしスイッチ素子105は図8に
は示されていないが、その機能はスイッチマトリクス8
04の中に含まれている。I1〜I9は各画素の値であり
これは例えば、近傍画素および自分の画素のフォトセン
サより直接出力電圧を配線で導いたものである。あるい
はアナログ値を一時的に記憶しておくメモリ回路の出力
電圧でもよい。804、805は、目的に応じて画素値
データと回路の信号入力端子の接続を切り換える機能を
持ったブロックである。以下本回路の動作について説明
する。
【0021】ノイズ除去の動作に際しては、まずブロッ
ク805ではV1〜V8の各信号入力端子はすべてグラン
ドに接続され、ブロック804ではV9,V10端子がグ
ランドに接続される。次いでV10端子を開放状態にした
後、画素値I1〜I9の信号線がそれぞれV1〜V9端子に
接続される。この操作により出力端子702にはI1
9の平均値が出力される。この値はアナログ値を記憶
するメモリ回路806に一時的に保持されその出力線8
07によって近傍の画素の演算回路に供給される。こう
して平均化処理の施されたデータに対しエッジ強調処理
が行われる。これは次のように行われる。
【0022】まずブロック805ではI1〜I8の信号線
がV1〜V8に接続される。同時にブロック804では信
号線I9がV10に接続され増幅器701の入力電圧がI9
に固定される。ここまでの操作は、第1の実施例と同様
である。異なるのは残ったV9信号入力端子の扱いであ
り、これは配線808に接続することによって増幅器7
01の出力端子702に接続される。増幅器701はヴ
ォルテージフォロワの機能を持つため、V9端子の電位
は電極703の電位と等しくなる。つまりV9端子と電
極703間の容量は電荷の充放電が生じないため、その
容量値は実効的に殆どゼロとなる。つまり、エッジ検出
処理では不要なV9入力端子は取り除いたのと等価にな
る。不要な容量結合を無くせるため回路の演算精度を向
上させることができる。次にV10端子を開放とした後V
1〜V8端子はすべてI9に接続される。これにより出力
端子702にエッジ強調処理したデータが出力されるの
は図1の第1の実施例と同様である。この値は例えば8
06の記憶回路に保持する。あるいは、806とは別個
の記憶素子を設けそれに保持してもよい。
【0023】以上述べたように図8の回路はたった一つ
のソースフォロワ回路701と配線を切り替えるスイッ
チング・ブロックでできた極めて簡単な構成である。こ
れによって、ノイズ除去・エッジ強調といった画像処理
の基本動作が実行できる。したがって、図8の回路をフ
ォトセンサと一体化して一つの画素として2次元のイメ
ージセンサを構成することにより、高解像度で且つ高機
能なイメージ処理システムが実現できる。
【0024】また必ずしもフォトセンサと本発明の回路
を一体化して形成する必要はない。イメージセンサはフ
ィルレシオ(1画素当たりのデバイスの面積中フォトセ
ンサの受光部の面積が占める割合)を十分大きくとった
従来のセンサで、CCD,バイポーラセンサ、CMOS
センサ等、一切の演算機能を持たないものを用いてもよ
い。そして本発明の回路は、例えば図8に示した様な回
路を別途高密度にアレー状に配置したプロセッサを作
り、必要な画素群のデータをイメージセンサよりダウン
ロードし画像処理演算をを行ってもよい。この場合、イ
メージセンサの画素数と、プロセッサアレーのプロセッ
サエレメント数とが一致している必要はなく、後者の方
が少なくてもよい。この場合は、イメージセンサでとら
えた全画面のデータをいくつかのブロックに分割してプ
ロセッサアレーにダウンロードしてやればよい。あるい
は、隣接する数画素のデータを平均化したものを一つの
プロセッサエレメントに供給してやってもよい。画像の
大まかな特徴を抽出するには極めて有効な方法である。
またこの目的のためには、各プロセッサエレメント中に
必要なアナログメモリ回路を必要数設けることが有効で
ある。さらに隣接画素間の画素値の差分絶対値を各方向
について求め、その最大値をもってその位置における画
像の空間微分値とし、さらにしきい処理を施すことによ
り2値化を行いエッジの位置を求める処理を行ってもよ
い。この2値化には、例えばニューロンMOSトランジ
スタを用いたインバータをコンパレータに用いてその2
値化のしきい値を必要に応じて可変にするのがよい。こ
れにより状況を判断しながら画像のエッジを検出すると
いう極めて高度な画像処理が可能になる。
【0025】
【発明の効果】以上述べたように本発明の半導体演算装
置を用いることによりこれまで多大な時間を要した画像
処理を短時間にしかも簡単なハードウェアで実行が可能
になった。したがって、マルチメディア応用を始めさま
ざまな知能ロボットへの応用が大きく拡がった。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例を示す模式図である。
【図2】 2次元フォトセンサアレーの中から9画素分
のアレーを取り出し、その位置関係を示す模式図であ
る。
【図3】 エッジ強調処理を説明する模式図である。
【図4】 エッジ強調処理を説明する模式図である。
【図5】 エッジ強調処理を説明する模式図である。
【図6】 本発明の第2の実施例を示す模式図である。
【図7】 本発明の第3の実施例を示す模式図である。
【図8】 本発明の第4の実施例を示す模式図である。
【符号の説明】
101 NチャネルMOSトランジスタ、 102 PチャネルMOSトランジスタ、 103 ソースフォロワ回路 104 MOSトランジスタ101、102共通のゲー
ト電極、 105 スイッチ素子、 106a〜106c 入力ゲート電極、 107 出力、 601 電圧フォロワ回路、 602 出力端子、 603 入力端子、 701 出力端子の電圧が入力端子と等しくなる回路、 702 出力端子、 703 入力端子、 704a〜704c 信号入力端子、 804、805 目的に応じて画素値データと回路の信
号入力端子の接続を切り換える機能を持ったブロック、 806 アナログ値を記憶するメモリ回路、 807 出力線、 808 配線。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力端子が少なくとも一つのMOS型の
    トランジスタのゲート電極に接続されて構成された増幅
    回路と、前記入力端子に第1のスイッチ素子を介して接
    続された第1の信号入力端子と、前記入力端子に容量素
    子を介して接続された複数の第2の信号入力端子とを有
    する半導体演算回路において、前記入力端子に第1の信
    号電圧を加えるとともに前記第2の信号入力端子に所定
    の第2の入力信号電圧群を加えた状態で前記第1のスイ
    ッチ素子を開放し、その後前記第2の信号入力端子に所
    定の第3の入力信号電圧群を加える手段を有し、且つ前
    記増幅回路がMOS型のトランジスタを用いて構成され
    たソースフォロワ回路であることを特徴とする半導体演
    算回路。
  2. 【請求項2】 入力端子が少なくとも一つのMOS型の
    トランジスタのゲート電極に接続されて構成された増幅
    回路と、前記入力端子に第1のスイッチ素子を介して接
    続された第1の信号入力端子と、前記入力端子に容量素
    子を介して接続された複数の第2の信号入力端子とを有
    する半導体演算回路において、前記入力端子に第1の信
    号電圧を加えるとともに前記第2の信号入力端子に所定
    の第2の入力信号電圧群を加えた状態で前記第1のスイ
    ッチ素子を開放し、その後前記第2の信号入力端子に所
    定の第3の入力信号電圧群を加える手段を有し、且つ前
    記増幅回路がMOS型のトランジスタを入力段に有する
    演算増幅器を用いて構成された電圧フォロワ回路である
    ことを特徴とする半導体演算回路。
  3. 【請求項3】 前記第3の信号電圧群がすべて同一の値
    であり且つ前記第1の信号電圧に等しいことを特徴とす
    る請求項1又は2に記載の半導体演算回路。
  4. 【請求項4】 前記第1の信号電圧並びに前記第2の信
    号電圧群が2次元に配置されたフォトセンサ群より得ら
    れる信号若しくはそれに所定の演算処理を施した信号で
    あることを特徴とする請求項1〜第3のいずれか1項に
    記載の半導体演算回路。
  5. 【請求項5】 前記第1の信号電圧が所定の位置のフォ
    トセンサより得られる信号若しくはそれに所定の演算処
    理を施した信号であり、前記第2の信号電圧群が前記所
    定の位置のフォトセンサに隣接するフォトセンサ群より
    得られる信号若しくはそれに所定の演算処理を施した信
    号であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項
    に記載の半導体演算回路。
  6. 【請求項6】 前記増幅回路の出力端子が第2のスイッ
    チ素子を介して前記第2の入力端子の少なくとも1つに
    接続されていることを特徴とする請求項1〜〜5のいず
    れか1項に記載の半導体演算回路。
  7. 【請求項7】 アナログデータ保持回路と、結線を切り
    換える手段とを設け、前記増幅回路の出力値を前記アナ
    ログデータ保持回路の少なくとも一部に格納するととも
    に、前記格納された出力値を再び前記結線を切り換える
    手段を用いて前記入力端子に導くように構成されたこと
    を特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載した半
    導体演算回路。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載した半導体演算回路を1
    つのブロックとし、該ブロックを2次元に配置して構成
    したことを特徴とする半導体演算回路。
  9. 【請求項9】 前記ブロック中に少なくとも一つのフォ
    トセンサを設けたことを特徴とする請求項8に記載の半
    導体演算回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001033834A1 (fr) * 1999-10-30 2001-05-10 Fujitsu General Limited Procede et circuit de mise en evidence de contours
JP2002288655A (ja) * 2001-03-28 2002-10-04 Canon Inc 画像処理装置、画像入力装置、画像処理方法、記憶媒体及びコンピュータ・プログラム
US7352397B2 (en) 2002-07-25 2008-04-01 Fujitsu Limited Circuit and method for contour enhancement

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7088860B2 (en) * 2001-03-28 2006-08-08 Canon Kabushiki Kaisha Dynamically reconfigurable signal processing circuit, pattern recognition apparatus, and image processing apparatus
US7049872B2 (en) * 2002-10-08 2006-05-23 Impinj, Inc. Use of analog-valued floating-gate transistors to match the electrical characteristics of interleaved and pipelined circuits
US7187237B1 (en) * 2002-10-08 2007-03-06 Impinj, Inc. Use of analog-valued floating-gate transistors for parallel and serial signal processing

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH077826B2 (ja) 1983-08-25 1995-01-30 忠弘 大見 半導体集積回路
EP0471844A4 (en) 1989-05-07 1992-04-22 Tadahiro Ohmi Silicon oxide film and semiconductor device having the same
JP2662559B2 (ja) 1989-06-02 1997-10-15 直 柴田 半導体装置
JP3122756B2 (ja) 1991-01-12 2001-01-09 直 柴田 半導体装置
TW208086B (ja) 1991-03-21 1993-06-21 Shibata Naoru
JP2686014B2 (ja) 1992-01-14 1997-12-08 直 柴田 半導体装置
JP3269659B2 (ja) 1992-05-27 2002-03-25 直 柴田 半導体装置
JP3119392B2 (ja) 1992-06-03 2000-12-18 直 柴田 半導体装置
JP3421365B2 (ja) 1992-07-29 2003-06-30 直 柴田 半導体装置
JP3289736B2 (ja) 1992-08-26 2002-06-10 直 柴田 半導体集積回路
JP3438241B2 (ja) 1992-10-29 2003-08-18 直 柴田 半導体神経回路装置
JPH06250994A (ja) 1993-02-22 1994-09-09 Sunao Shibata 演算装置
JP3278080B2 (ja) 1993-02-22 2002-04-30 直 柴田 半導体集積回路
JP3459017B2 (ja) 1993-02-22 2003-10-20 直 柴田 半導体装置
JP3289748B2 (ja) 1993-11-30 2002-06-10 直 柴田 半導体装置
JP3289749B2 (ja) 1993-12-02 2002-06-10 直 柴田 半導体集積回路
JP3611340B2 (ja) 1993-12-28 2005-01-19 直 柴田 半導体回路
JPH07211084A (ja) 1994-01-18 1995-08-11 Sunao Shibata 半導体装置
US5684738A (en) 1994-01-20 1997-11-04 Tadashi Shibata Analog semiconductor memory device having multiple-valued comparators and floating-gate transistor
JP3611041B2 (ja) 1994-02-14 2005-01-19 直 柴田 半導体演算回路
JP3557483B2 (ja) 1994-02-14 2004-08-25 直 柴田 半導体回路
US5719520A (en) 1994-02-15 1998-02-17 Tadashi Shibata Multi-valued ROM circuit #7
DE69421377T2 (de) * 1994-02-28 2000-03-23 St Microelectronics Srl Filter zur Rauschunterdrückung und Kantenverstärkung von numerischen Bildsignalen mit Hilfe unscharfer Logik
JP3285109B2 (ja) 1994-09-12 2002-05-27 直 柴田 半導体装置
JP3569728B2 (ja) 1995-01-11 2004-09-29 直 柴田 不揮発性半導体メモリ装置
JPH08204563A (ja) * 1995-01-30 1996-08-09 Canon Inc 演算処理装置
JPH08204562A (ja) * 1995-01-31 1996-08-09 Canon Inc 半導体装置、及びそれを用いた半導体回路、相関演算装置、a/d変換器、d/a変換器及び信号処理システム
JP3642079B2 (ja) 1995-02-13 2005-04-27 直 柴田 半導体集積回路
WO1996030855A1 (fr) 1995-03-24 1996-10-03 Tadashi Shibata Circuit arithmetique a semiconducteurs
WO1996030948A1 (fr) 1995-03-31 1996-10-03 Tadashi Shibata Memoire non volatile a semi-conducteurs
DE69628919T2 (de) * 1995-03-31 2004-06-03 Shibata, Tadashi, Sendai Halbleiterfunktionsschaltung
US5939925A (en) * 1995-03-31 1999-08-17 Tadashi Shibata And Tadahiro Ohmi Semiconductor circuitry to process analog signals using weighted- sum operations
WO1996030853A1 (fr) 1995-03-31 1996-10-03 Tadashi Shibata Circuit arithmetique a semi-conducteur
JP3503772B2 (ja) 1995-03-31 2004-03-08 直 柴田 半導体演算回路
JPH09245110A (ja) 1996-03-13 1997-09-19 Tadahiro Omi フィードバック回路
JP3706869B2 (ja) 1996-03-13 2005-10-19 忠弘 大見 半導体演算回路
GB2317522B (en) * 1996-09-12 2000-09-27 Vsli Vision Limited Low noise operation of an image sensor

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001033834A1 (fr) * 1999-10-30 2001-05-10 Fujitsu General Limited Procede et circuit de mise en evidence de contours
US6980258B1 (en) 1999-10-30 2005-12-27 Fujitsu General Limited Method and circuit for emphasizing contour
JP2002288655A (ja) * 2001-03-28 2002-10-04 Canon Inc 画像処理装置、画像入力装置、画像処理方法、記憶媒体及びコンピュータ・プログラム
JP4545978B2 (ja) * 2001-03-28 2010-09-15 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像入力装置
US7352397B2 (en) 2002-07-25 2008-04-01 Fujitsu Limited Circuit and method for contour enhancement

Also Published As

Publication number Publication date
US6606119B1 (en) 2003-08-12

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