JPH10239223A - 珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法とその装置 - Google Patents
珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法とその装置Info
- Publication number
- JPH10239223A JPH10239223A JP9046594A JP4659497A JPH10239223A JP H10239223 A JPH10239223 A JP H10239223A JP 9046594 A JP9046594 A JP 9046594A JP 4659497 A JP4659497 A JP 4659497A JP H10239223 A JPH10239223 A JP H10239223A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- siloxane
- silicon compound
- gas
- tube
- compound gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
化合物ガス中に微量混在するシロキサンを数ppb迄正
確に分析可能にして、使用先で望まれる高純度の珪素化
合物ガスを供給し得るよう、品質管理の向上を図る。 【解決手段】 珪素化合物ガスSの貯蔵容器1、試料採
取管2、質量分析計6、キャリアーガス源He、流量計
Fを備えたガス排出管8等を6方位置切り替え弁9に連
結し、予め100℃以上の温度に加熱器4で加熱処理後
冷却器3でー15℃〜ー144℃に冷却した試料採取管
2に、貯蔵容器1より珪素化合物ガスSを所定量流通せ
しめて、シロキサンを試料採取管2内に凝縮せしめて捕
集する。ついで6方位置切り替え弁9を操作して管路を
切り替え、キャリアーガスHeを試料採取管2に送給す
るとともに、試料採取管2を徐々に加熱し、気化した成
分を質量分析計6に搬送し分析する。ー15℃以上の温
度で気化するシロキサンを質量分析計6の質量数77で
検出し測定する。
Description
造に使用される、シラン、ジシラン、これらのハロゲン
化物、四塩化珪素及び四弗化珪素等の珪素化合物ガス中
に混在していると、製造製品の品質上好ましくないシロ
キサンの分析方法とこの分析を行うための装置で、使用
に供する珪素化合物ガスの品質評価に有効に使用するも
のである。
物、更には四塩化珪素、四弗化珪素等の珪素化合物ガス
は半導体製造において、エピタキシャル成長や珪素の酸
化膜および窒化膜の成長の際の原料として有効に使用さ
れている。これらの珪素化合物ガス中には製造される半
導体の品質に悪影響を及ぼすシロキサンが混在している
のが実状であり、これを除去して使用している。そして
半導体の高集積化に伴いそのシロキサン含有を排除し益
々高純度の珪素化合物ガスの出現が望まれてきている。
これと共に当該珪素化合物ガス中のシロキサンの検出の
下限感度が益々微少(数ppb以下)である分析技術の
開発が必要不可欠となってきている。
キサンは、熱伝導度型ガスクロマトグラフィ(以下「T
CD−GC」という。)を検出器として使用して分析さ
れている。そしてこの方法では、分離カラムとしてステ
ンレス鋼製の管にジビニルベンゼン(DVB)等の多孔
質高分子剤よりなるポラパックPやポラパックQ(いず
れも米国Waters社製商品名)を充填して、これに
より組成分を分離して測定するものである。この方法に
よるとシロキサンの検出感度はせいぜい0.5〜1pp
m(500〜1000ppb)であって、上記した必要
とされる数ppbの検出は不可能であった。
は、シロキサンの分析にあたり分離カラムを70〜80
℃の温度に加熱する必要があることから、この加熱温度
に検出限界の原因があると着目し、カラム温度を変化さ
せこの温度の変化による分離カラムからの導出ガスを質
量分析計に導きシロキサン含有量の変動を測定した。そ
の結果を図6のグラフに図示する。なお使用した分離剤
はポラパックPで、使用したガスはモノシランガスで各
温度で同一ガスを5cc捕集し分析した。
ても分離カラムの温度によって、カラムより導出されて
くるシロキサンの量が異なっている。即ち温度が高いと
その量は増加し、前記TCDーGCによる当該ガスの分
析で用いる分離カラムの温度70〜80℃ではシロキサ
ンの含有量は約700〜1200ppbとなり、更に1
00℃の温度では約7000ppbに達することが確認
された。また、これらより低い温度60℃では約300
ppb、40℃では約60ppbと低い含量値を示し
た。これは分離カラムの高分子分離剤に付着残存する微
量な水分と導入されて来る珪素化合物と反応してシロキ
サンを生成し、そしてその生成量が高温になると増加す
ることに起因するものと考えられる。
離カラムを使用する従来のTCD−GCによる珪素化合
物ガス中のシロキサンの分析では、分離カラムの温度に
よってカラムより導出されるシロキサンの量が異なり真
値が判断し得ず、またこの分析法で使用される分離カラ
ムの加熱温度70〜80℃では、シロキサンの量が70
0ppb以上の値となり、今後当該分野で必要不可欠と
される珪素化合物ガス中のシロキサン含有量を数ppb
の微量な値まで検出することが不可能であった。本発明
は、上記事情に鑑み珪素化合物ガス中のシロキサン含有
量を数ppbの微量を測定し得る高感度の分析方法とそ
の装置の提供を目的とするものである。
め、従来分離のため使用していた分離用高分子剤を使用
することなく珪素化合物ガスとシロキサンを分離するこ
とに着目したもので、本発明の請求項1に記載の分析方
法では、加熱前処理した後の試料採取管に珪素化合物ガ
スを流通して該ガスを採取し、ついで試料採取管をシロ
キサンの沸点以下の温度に冷却した後昇温して試料採取
管より導出するガスを質量分析計に導き、該質量分析計
でシロキサン量を測定することを特徴とする珪素化合物
ガス中のシロキサンの分析方法であり、また請求項2に
記載の分析方法は、加熱前処理した後の試料採取管をシ
ロキサンの沸点以下の温度まで冷却し、ついで該温度下
で前記試料採取管に珪素化合物ガスを流通して該ガスを
採取した後、試料採取管を昇温して試料採取管より導出
するガスを質量分析計に導いてシロキサン量を測定する
ことを特徴とする珪素化合物ガス中のシロキサンの分析
方法である。請求項3に記載の分析方法は、加熱前処理
温度が100℃以上の温度であることを特徴とする請求
項1または請求項2に記載の珪素化合物ガス中のシロキ
サンの分析方法である。そして請求項4に記載の分析方
法は、試料採取管の冷却温度がー15℃〜ー144℃で
あることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか
1項に記載の珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法
である。また請求項5に記載の分析方法は、試料採取管
がステンレス鋼よりなることを特徴とする請求項1乃至
請求項4のいずれか1項に記載の珪素化合物ガス中のシ
ロキサンの分析方法であり、更に請求項6に記載の分析
方法にあっては、試料採取管がステンレス鋼製筒体内に
ステンレス鋼製またはガラス製の充填物の少なくとも一
つの充填物が充填されてなることを特徴とする請求項1
乃至請求項4のいずれか1項に記載の珪素化合物ガス中
のシロキサンの分析方法である。
実施するための装置であって、珪素化合物ガス源と連通
する管端開口、冷却手段と加熱手段を備えた試料採取管
の一側と連通する管端開口、質量分析計に連通する管端
開口、キャリアーガス源と連通する管端開口、試料採取
管の他側と連通する管端開口、及び一端が外気に開口す
るガス排出管の他端側管端開口等の6ケの開口端がこの
順序で円周上に沿って配置された弁箱に、回転により通
路を切り替える切り替え弁体が回転可能かつ気密に装着
して配置されてなり、そして該切り替え弁体は前記弁箱
に設けた6ケの管端開口に回転切り換えで常に係合する
よう配置された6ケの連結口よりなるとともに、隣り合
う2ケの連結口が一対になって連通して3組の管路が形
成されていて、前記弁体を前記弁箱で回転することによ
り、珪素化合物ガスを試料採取管に導入してシロキサン
を凝縮して採取する試料採取工程と、採取したシロキサ
ンを気化して質量分析計へ導入して分析する分析測定工
程との各工程が順次切り替え可能に配置されてなること
を特徴とする珪素化合物ガス中のシロキサンの分析装置
である。
シロキサンの分析方法の実施態様を図1、図2に一例を
例示して説明する。図1及び図2において1は被測定ガ
スである珪素化合物ガスSが充填してある容器、2は試
料採取管でステンレス鋼製またはガラス製で、冷却時ま
たは加熱時に付与する熱の伝達を効果的にするため内部
にステンレス鋼製のチップやガラスビーズ等の充填物を
充填することが好ましい。該試料採取管2にはこれを冷
却するための冷却器で、例えば液体窒素の如き液化ガス
を冷媒とし管3Aより弁3Cを介して供給され、冷却し
た後管3Bより導出される。また4は試料採取管2を加
熱するための加熱器である。そしてこれら試料採取管
2、冷却器3、及び加熱器4は断熱箱5内に収容すると
より好ましい。
で捕集した試料ガスを質量分析計6に導くためのヘリウ
ムガスよりなるキャリアーガス源Heと連通しているキ
ャリアーガス導入管であり、8は流量計Fを介して一側
の管端8Bが除害して大気に放気する除害筒(図示せ
ず。)に連結するガス排出管である。そしてこれらの機
器は6方位置切り替え弁9を介して、後述する試料採取
工程、分析測定工程等の工程に応じて連結または遮断し
得るよう連結している。
す如く弁箱91と該弁箱91に気密にかつ回転可能に装
着される弁体92よりなっている。そして前記弁箱91
は図3の(a)に図示するように、珪素化合物ガスSの
貯蔵容器1と連結している減圧弁10を有する試料導入
管11の管端開口11A、試料採取管2の一側2Aと連
結している管12の管端開口12A、質量分析計6と連
結している管13の管端開口13A、キャリアーガス源
Heと連通しているキャリアーガス導入管7の管端開口
7A、前記試料採取管2の他側2Bに連結している管1
4の管端開口14A、そして一側8Bが除害筒(図示せ
ず。)に連結しているガス排出管8の他側管端開口8A
等の6ケの管端開口がこの順序に従って円周上に沿って
配列されて設けられている。
装着される弁体92は図3の(b)に図示するように、
上記弁箱91に配した6ケの管端開口に弁体92の回転
による移動でも常に係合するように、弁箱に設けた管端
開口の配置と同一円周上に沿って配置した6ケの連結口
93a、93b、93c、93d、93e、そして93
fが設けられ、そしてこれら6ケの連結口93は隣り合
う連結口と、93aー93b、93c−93d、93e
−93fの如く対をなして管路94、95、96でそれ
ぞれ連通せしめて、3組の管路を形成している。
2とは図3の(c)に図示する如く、弁体92が弁箱9
1に回転可能にかつ気密を保って装着され一体となって
6方位置切り替え弁9を形成し、図1、図2に図示する
如き前記各機器を切り替え可能な管路で連設せしめて本
発明の珪素化合物ガス中のシロキサンの分析装置を構成
している。なお、97は弁体92を回転操作するハンド
ルである。
合物ガス中のシロキサンを分析する方法を説明する。ま
ず6方位置切り替え弁9を図1に示す如く、弁体92の
連結口93aが弁箱91に設けた珪素化合物ガスSを貯
蔵する容器1に連結する導入管11の管端開口11Aに
係合するよう設定する。すると弁体92のその他の連結
口と弁箱91の管端開口とは、93b−12A、93c
ー13A、93d−7A、93e−14A、93f−8
Aの如くに自ずと係合する。そして、貯蔵容器1ー試料
採取管2ー流量計Fー大気放出の流通管路と、キャリア
ーガス源Heー質量分析計6の流通管路との2つの流通
管路が形成される。
より質量分析計6にキャリアーガス源Heとしてヘリウ
ムガスを流し、一方試料採取管2を100℃以上の温度
に加熱器4で加熱すると共に、管20より弁21を介し
て試料導入管11にヘリウムガスや窒素ガスの如き不活
性ガスを供給し、そしてこの不活性ガスを試料採取管2
内に流通せしめて流量計Fを介して大気放出する。この
ようにして試料採取管2内を充分加熱洗浄した後、加熱
を停止しついで冷却器3に管端3Aより弁3Cを介して
液体窒素の如き冷媒を流して試料採取管2を冷却する。
冷却温度は分析対象であるシロキサンを完全に捕獲する
ことが必要であることから、シロキサンの沸点であるー
15℃と融点ー144℃の間の温度が好ましい。ー15
℃以上の温度ではシロキサンが凝縮せずガス状で試料採
取管2を流通して大気に放出され真値が得られない。ま
たー144℃以下の温度ではシロキサンが凝固し、次工
程の分析時にこれを気化するのに時間を要するばかり
か、冷却のための費用も嵩む等の不都合が生じる。
停止するとともに、貯蔵容器1の弁を開いて容器1内の
珪素化合物ガスSを減圧弁10、試料導入管11、管1
2を経て試料採取管2に導入し、そして管14、ガス排
出管8、流量計Fを経て管端開口8Bより除害筒(図示
せず。)を介して大気に放出される。この間試料採取管
2は前記冷却温度に継続して保持されている。またこの
間に試料採取管2に流通せしめた珪素化合物ガスSの流
量を流量計Fにて計量する。
弁9を回転操作(例えば時計と同方向)して、図2に図
示した如く93a−8A、93bー11A、93cー1
2A、93dー13A、93e−7A、93fー14A
等の位置に弁体92の各連結口と弁箱91の各管端開口
とを係合せしめる。その結果、貯蔵容器1ー流量計Fー
大気放出の流通管路とキャリアガス源Heー試料採取管
2ー質量分析計6の流通管路との2つの流通管路を形成
するように切り替えられ、試料採取管2に導入されてい
た珪素化合物ガスは容器1より流量計Fを通り管端開口
8Bより除害筒で除害された後大気に放出される。一方
キャリアーガス源Heとしてヘリウムガスがキャリアー
ガス導入管7より管14を経て試料採取管2に導入さ
れ、該採取管2を流通して管12、管13を経て質量分
析計6に導入される。そして弁3Cを閉じて冷却器3へ
の冷媒の供給を停止して、試料採取管2の冷却を止める
とともに、加熱器4を作動して試料採取管2加熱する。
凝縮して液化されていたり、凝固して固化されていた成
分が、温度の上昇とともに各成分特有の融点に従い融解
したり、各成分特有の沸点に従い気化したりする。なお
シロキサン、及び珪素化合物ガスの沸点と融点を表1に
示す。
15℃であり、他の珪素化合物ガスの沸点はシロキサン
より低温度であったり、高い温度であったりして、その
沸点温度にシロキサンと差がある。従って、シロキサン
の沸点(ー15℃)より低い沸点温度の組成分は先の工
程での冷却温度ー144℃より加熱して温度を徐々に上
昇させて行く間にシロキサンの沸点に達するまでに既に
気化し、試料採取管に導入されるキャリアガスHeに同
伴されて先んじて質量分析計6に搬送される。また一
方、シロキサンの沸点(ー15℃)より高い沸点の組成
分はシロキサンの気化するー15℃の温度近辺の温度で
は未だ気化せず液体状態を保持している。従ってー10
〜ー15℃の温度に達すると試料採取管2内に保持され
ているシロキサンの凝縮液のみが気化し始め、この気化
したシロキサンは試料採取管2に導入されているキャリ
アーガスHeに同伴されて質量分析計6に搬送される。
ているシロキサンは完全に分離されて質量分析計6に導
入され、通常の質量分析計による分析操作でシロキサン
の量が測定される。そしてこれで得られたシロキサンの
量(m)を試料採取時に試料採取管2に流した珪素化合
物ガスSの流量(M)に対する割合m/Mを算出するこ
とにより珪素化合物ガスS中のシロキサンの含有濃度が
得られる。
の試料珪素化合物ガスSの採取にあたっては、試料採取
管2を所定温度に冷却した状態で珪素化合物ガスSを流
して、含有するシロキサンを試料採取管2内で凝縮して
捕獲し、そしてその間に試料採取管2に流した珪素化合
物ガスSの流量を計測して試料を採取するする方法につ
いて説明した。しかし本発明はこれに限定されるもので
なく、試料採取にあたって試料採取管2を低温に冷却す
ることなく常温状態として珪素化合物ガスSを流して該
ガスを採取し、その後試料採取管2を所定の温度に冷却
しても良く、この場合試料採取管2は定容量の管とし、
そして採取量が定量の管で定まっているので流量の計測
は必要ない。
え操作による管路の切り替えは、上記工程、即ち試料採
取工程、質量分析計による分析測定工程の2つの工程の
順序を繰り返しで切り替えられ、極めて簡便かつ効率よ
く使用することができる。
の分析を上記図1、図2に図示した装置を使用して行っ
た実施例について説明する。 実施例1:試料採取管2としてステンレス鋼製、容積2
cc(管内径5mm)に80メッシュのステンレス鋼製
のチップを充填して使用した。そして、6方位置切り替
え弁9を図1に示す如く試料採取工程の位置にして、試
料採取に先だって試料採取管2を150℃に加熱すると
ともに管20より不活性ガスとしてヘリウムガスを流し
30分間加熱処理をして採取管2内の水分を排除した。
続いて試料採取管2の加熱を停止して、冷却器3を作動
して試料採取管2をー110℃に冷却した。ついでヘリ
ウムガスの供給を停止し、貯蔵容器1より珪素化合物ガ
スSとしてモノシランガスを導出し試料採取管2に導き
これに1000cc流通せしめた(流量計Fで測定)。
図2に示す如く管路を質量分析計6による分析測定工程
に切り替えるとともに、冷却器3による冷却を停止し加
熱器4を作動せしめて試料採取管2を約10℃/分の昇
温速さで徐々に昇温した。この結果、キャリアーガス導
入管7より供給されるキャリアーガス源Heとしてヘリ
ウムガスが試料採取管2に導入され、そして前記徐々な
る試料採取管2の昇温により、その温度が特定成分の固
有の沸点に達するとこれに相当する沸点を有する成分が
気化し、しかも低い沸点の成分の順に気化し、ヘリウム
ガスに同伴されて質量分析計6に搬送される。
数をシロキサンの質量数77に固定し、試料採取管2を
ー110℃から約10℃/分の昇温速度で150℃まで
昇温して質量分析計6に搬送されてきた質量数77の成
分(シロキサン)を分析した結果を昇温時間[分]に対
する質量数77のシロキサンの相対量を図4のグラフで
図示する。この相対量を既知の標準ガスにより値付けし
たところ、4.96×10ー5ccとなり、採取試料が1
000ccであることからその濃度は4.96×10ー8
であり即ち49.6ppbの値を得た。
1では低温で試料採取を行ったのに代えて、定量の試料
採取管を使用して常温状態で行う方法について、珪素化
合物ガスSに四弗化珪素ガスを使用して行った。実施例
2:ステンレス鋼製の両端に開閉弁Vs(図示せず。)
が設けられている1000cc(管の内径8cm、長さ
19.9cm)の定量試料採取管2を図1の如き装着し
開閉弁Vsを開とし、実施例1と同様に6方位置切り替
え弁9を先ず図1の如く試料採取工程の位置として、不
活性ガスを流しながら試料採取管2を100℃以上の温
度に加熱して採取管内の水分を排除する。ついで試料採
取管2を常温まで冷却した後不活性ガスの導入を停止す
るとともに、貯蔵容器1より常温で四弗化珪素ガス導出
して試料採取管2に流通せしめ、時期をみて開閉弁Vs
を閉じて試料採取する。引き続き開閉弁Vsを閉じたま
ま冷却器3を作動して試料採取管2をー110℃まで冷
却するとともに、6方位置切り替え弁9を図2の如き位
置にして分析測定工程に切り替える。ー110℃の温度
になると四弗化珪素は固化される。
て試料採取管2を10℃/分の昇温速度で加熱するとと
もに試料採取管2に備え付けの開閉弁Vsを開く。する
とキャリアーガス導入管7から供給されているキャリア
ーガス源Heのヘリウムガスが試料採取管2に導入さ
れ、該管2内で気化したガスはヘリウムガスに同伴され
て質量分析計6に搬送される。この実施例2では、ー9
5℃の温度になると固化した四弗化珪素が融解すること
なしに昇華現象を起こし直ちに気化し、ヘリウムガスに
同伴されて質量分析計6を経て大気に排除される。そし
て更に昇温を続けるとー15℃の温度になると凝縮して
いたシロキサンが気化し始めヘリウムガスに伴われて質
量分析計6に搬送され質量数77の質量数位置でシロキ
サンの含量が測定される。この結果を図5にグラフで図
示する。ここで質量分析計6の質量数をシロキサンに質
量数77に固定し、試料採取管2の開閉弁Vs開いてー
110℃から10℃/分の昇温速度で昇温し始めてから
の昇温時間(分)に伴う質量数77の相対的検出量を表
示した。
の含量の標準ガスより検量した結果、1.13×10ー5
ccの含量を得た。従って1000ccの四弗化珪素中
のシロキサン含有濃度は11.3ppbとなる。また上
記二つのの実施例1及び実施例2で得られた分析結果の
図4、図5のグラフで、曲線のノイズ幅を感度を高めて
測定し、前記グラフの感度目盛りに換算したところノイ
ズ幅は0.36mmであった。この値より前記実施例
1、及び実施例2の図1、及び図2のグラフの曲線と濃
度の関係を勘案して、本発明の分析方法の検出下限界値
を求めた結果、安全率S/N=2としてその検出下限界
値は0.3ppbであった。なお上記実施例1及び実施
例2では珪素化合物ガスSとしてモノシラン、四弗化珪
素を例示して該各ガス中のシロキサンについて説明した
が、本発明はこれに限定されるものでなく、前記表1に
示したシロキサンが生成混入される恐れがある珪素化合
物ガス中のシロキサンの分析にも勿論適用し得る。
化合物ガス中のシロキサンを分離するため、従来の如き
分離剤を使用したカラムを使用せずにそれぞれの成分の
保有する沸点の差により分離するようにし、かつ試料採
取管を試料採取前に充分加熱するとともに不活性ガスを
流して水分を排除し洗浄するので、従来の如き分離にあ
たって温度による分離量が変動する等の影響が無く、上
記成分の分離を極めて正確に遂行し得、シロキサンの適
確な分析が可能となった。しかも従来検出不可能であっ
た数ppbの微量のシロキサンの検出も可能となり、今
後益々必要とされる不純物含量が微量な高純度の半導体
製造の材料ガスの品質管理に極めて有効に活用し得る。
位置切り替え弁を使用し、かつ該切り替え弁に試料ガス
源、試料採取管、質量分析計、キャリアーガス源及び大
気放出するガス排出管等を適切に配して連結して、有機
的に管路を切り替えて試料採取工程、分析測定工程を順
次切り替えることができて、極めて操作が容易で適切な
分析運転が遂行し得る等の効果を発揮する。
略図である。
略図である。
え弁の組立図である。
ラフである。
ラフである。
熱温度の変化に伴うシロキサンの分析値の変化を示すグ
ラフである。
加熱器、6 質量分析計、 7 キャリアーガス導入
管、 8 ガス排出管、9 6方位置切り替え弁、 1
1 試料導入管、12、14 試料採取管に連結する
管、 13 質量分析計に連結する管、91 6方位置
切り替え弁の弁箱、 92 6方位置切り替え弁の弁
体、93a、93b、93c、93d、93e、93f
連結口、94、95、96 管路、 S 珪素化合物
ガス、 He キャリアーガス源 F 流量計
Claims (7)
- 【請求項1】 加熱前処理した後の試料採取管に珪素化
合物ガスを流通して該ガスを採取し、ついで試料採取管
をシロキサンの沸点以下の温度に冷却した後に昇温して
試料採取管より導出するガスを質量分析計に導き、該質
量分析計でシロキサン量を測定することを特徴とする珪
素化合物ガス中のシロキサンの分析方法。 - 【請求項2】 加熱前処理した後の試料採取管をシロキ
サンの沸点以下の温度まで冷却し、ついで該温度下で前
記試料採取管に珪素化合物ガスを流通して該ガスを採取
した後、試料採取管を昇温して試料採取管より導出する
ガスを質量分析計に導いてシロキサン量を測定すること
を特徴とする珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方
法。 - 【請求項3】 加熱前処理温度が100℃以上の温度で
あることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の
珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法。 - 【請求項4】 試料採取管の冷却温度がー15℃〜ー1
44℃であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の
いずれか1項に記載の珪素化合物ガス中のシロキサンの
分析方法。 - 【請求項5】 試料採取管がステンレス鋼よりなること
を特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記
載の珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法。 - 【請求項6】 試料採取管がステンレス鋼製筒体内にス
テンレス鋼製またはガラス製の充填物の少なくとも一つ
の充填物が充填されてなることを特徴とする請求項1乃
至請求項4のいずれか1項に記載の珪素化合物ガス中の
シロキサンの分析方法。 - 【請求項7】 珪素化合物ガス源と連通する管端開口、
冷却手段と加熱手段を備えた試料採取管の一側と連通す
る管端開口、質量分析計に連通する管端開口、キャリヤ
ーガス源と連通する管端開口、試料採取管の他側と連通
する管端開口、及び一端が外気に開口するガス排出管の
他端側管端開口等の6ケの開口端がこの順序で円周上に
沿って配置された弁箱に、回転により通路を切り替える
切り替え弁体が回転可能かつ気密に装着して配置されて
なり、そして該切り替え弁体は前記弁箱に設けた6ケの
管端開口に回転切り換えで常に係合するよう配置された
6ケの連結口よりなるとともに、隣り合う2ケの連結口
が一対になって連通して3組の管路が形成されていて、
前記弁体を前記弁箱で回転することにより、珪素化合物
ガスを試料採取管に導入しシロキサンを凝縮して採取す
る試料採取工程と、採取したシロキサンを気化して質量
分析計へ導入して分析する分析測定工程との各工程が順
次切り替え可能に配置されてなることを特徴とする珪素
化合物ガス中のシロキサンの分析装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04659497A JP3608183B2 (ja) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | 珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法とその装置 |
US09/015,780 US5900532A (en) | 1997-02-20 | 1998-01-29 | Method of removing siloxanes from silicon compound gases and apparatus therefor |
KR1019980005439A KR100243882B1 (ko) | 1997-02-20 | 1998-02-20 | 규소 화합물 가스에 함유된 실록산을 제거하는 방법 및 제거장치와, 실록산의 함유량을 분석하는 방법 및 분석장치 |
US09/115,541 US5952557A (en) | 1997-02-20 | 1998-07-15 | Apparatus for analyzing a silicon compound gas for siloxane content |
US09/217,992 US6196050B1 (en) | 1997-02-20 | 1998-12-22 | Method of removing siloxanes from silicon compound gases and apparatus therefor, and siloxane content analyzing method and analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04659497A JP3608183B2 (ja) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | 珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法とその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10239223A true JPH10239223A (ja) | 1998-09-11 |
JP3608183B2 JP3608183B2 (ja) | 2005-01-05 |
Family
ID=12751635
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04659497A Expired - Lifetime JP3608183B2 (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-28 | 珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法とその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3608183B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012181123A (ja) * | 2011-03-02 | 2012-09-20 | Tokyo Institute Of Technology | 匂い濃縮装置 |
JP2013061172A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Taiyo Nippon Sanso Corp | シリコン化合物ガス中の不純物濃度の分析方法 |
CN103712831A (zh) * | 2014-01-03 | 2014-04-09 | 浙江中宁硅业有限公司 | 使用气相色谱分析硅烷的取样系统及其方法 |
CN114200043A (zh) * | 2021-12-01 | 2022-03-18 | 中煤科工集团沈阳研究院有限公司 | 一种煤自然发火标志气体检测系统、方法及其储气装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210007394A (ko) * | 2019-07-11 | 2021-01-20 | 정경환 | 시료가스 분리장치 |
-
1997
- 1997-02-28 JP JP04659497A patent/JP3608183B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012181123A (ja) * | 2011-03-02 | 2012-09-20 | Tokyo Institute Of Technology | 匂い濃縮装置 |
JP2013061172A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Taiyo Nippon Sanso Corp | シリコン化合物ガス中の不純物濃度の分析方法 |
CN103712831A (zh) * | 2014-01-03 | 2014-04-09 | 浙江中宁硅业有限公司 | 使用气相色谱分析硅烷的取样系统及其方法 |
CN114200043A (zh) * | 2021-12-01 | 2022-03-18 | 中煤科工集团沈阳研究院有限公司 | 一种煤自然发火标志气体检测系统、方法及其储气装置 |
CN114200043B (zh) * | 2021-12-01 | 2023-09-05 | 中煤科工集团沈阳研究院有限公司 | 一种煤自然发火标志气体检测系统、方法及其储气装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3608183B2 (ja) | 2005-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6196050B1 (en) | Method of removing siloxanes from silicon compound gases and apparatus therefor, and siloxane content analyzing method and analyzing apparatus | |
EP0419357B1 (fr) | Procédé et dispositif de dosage d'impuretés dans un gaz par chromatographie en phase gazeuse et utilisation pour la calibration d'impuretés dopantes dans le silane | |
KR0163608B1 (ko) | 극고순도의 기체분석용 측정장치 | |
CN106501125B (zh) | 气体吸附脱附测试装置及测试方法 | |
JP2007218916A (ja) | 透過測定のための方法および装置 | |
JPH07174746A (ja) | 有機物分析装置および有機物分析方法 | |
JPH07318555A (ja) | 全有機体炭素計 | |
JP3725441B2 (ja) | 気体流れ中の不純物を分析するための方法 | |
JPH10239223A (ja) | 珪素化合物ガス中のシロキサンの分析方法とその装置 | |
JP6932382B2 (ja) | 製品を凍結乾燥するチェンバーを有するシステムおよびその制御方法 | |
JP2000187027A (ja) | 微量有機化合物分析方法及び装置 | |
US20070240488A1 (en) | Molten Metal Gas Sampling | |
JP3299562B2 (ja) | 微量有機化合物分析方法及び装置 | |
JP2005083839A (ja) | 大気中又は溶存気体中の三種安定酸素同位体比測定方法及びそれに用いるo2単離装置 | |
JP2858143B2 (ja) | 濃縮分析方法及びその装置 | |
CN106098587A (zh) | 用于监测污染物的系统和方法 | |
JP3672267B2 (ja) | 微量金属分析用標準ガス、標準ガスの調製装置および標準ガスの調製方法 | |
JPH04278458A (ja) | 濃縮分析法及び装置 | |
JP2002250722A (ja) | 極低濃度硫化水素の分析方法および分析装置 | |
JP3495965B2 (ja) | 水分モニタリング装置およびこれを備えた半導体製造装置 | |
JPH05302920A (ja) | 炭素測定装置 | |
JP2004264282A (ja) | ガス状物質の濃縮方法及びキャリアガスの濃縮及び分析装置 | |
JP2001116724A (ja) | ガス中の水分濃度測定方法及び装置 | |
JP2004354332A (ja) | 濃縮分析装置及び方法 | |
US3724169A (en) | Delta t bar spectrometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040511 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040602 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040907 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041001 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071022 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081022 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091022 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091022 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091022 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101022 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101022 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111022 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111022 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121022 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121022 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121022 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |