JPH10209198A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 隣接する金属線の接触不良が発生することの
ない構造を持つ樹脂封止型の半導体装置を提供する。 【解決手段】 半導体チップ16の端子は外周側に位置
する外側端子群22aとその内側に位置する内側端子群
22bで構成され、これら端子群の複数の端子17a、
17b、…が千鳥状に配置されている。隣り合うインナ
ーリードは、その先端が半導体チップ16から遠くかつ
低い位置にある外側インナーリード19aと、その先端
が半導体チップ16に近くかつ高い位置にある内側イン
ナーリード19bとなっている。そして、外側端子群2
2aの端子17aと外側インナーリード19a、および
内側端子群22bの端子17bと内側インナーリード1
9bが対向配置され、これらが金属線20a、20bで
接続されている。
ない構造を持つ樹脂封止型の半導体装置を提供する。 【解決手段】 半導体チップ16の端子は外周側に位置
する外側端子群22aとその内側に位置する内側端子群
22bで構成され、これら端子群の複数の端子17a、
17b、…が千鳥状に配置されている。隣り合うインナ
ーリードは、その先端が半導体チップ16から遠くかつ
低い位置にある外側インナーリード19aと、その先端
が半導体チップ16に近くかつ高い位置にある内側イン
ナーリード19bとなっている。そして、外側端子群2
2aの端子17aと外側インナーリード19a、および
内側端子群22bの端子17bと内側インナーリード1
9bが対向配置され、これらが金属線20a、20bで
接続されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置に関
し、特に樹脂封止型パッケージを有する半導体装置に関
するものである。
し、特に樹脂封止型パッケージを有する半導体装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体装置の多ピン化を図る場
合、例えばリードフレームの各リード間のピッチをでき
る限り小さくするなどして対応してきた。しかしなが
ら、リードフレームのリードピッチの縮小化にも限界が
あり、この手段で多ピン化を進めるのが難しい状況とな
ってきた。
合、例えばリードフレームの各リード間のピッチをでき
る限り小さくするなどして対応してきた。しかしなが
ら、リードフレームのリードピッチの縮小化にも限界が
あり、この手段で多ピン化を進めるのが難しい状況とな
ってきた。
【0003】そこで、多ピン化を目的とした半導体装置
の構造がいくつか提案されている。例えば、図2
(a)、(b)に示す半導体装置(以下、従来例1とい
う)では、アイランド1上に半導体チップ2が搭載さ
れ、半導体チップ2の端子3とインナーリード4、5が
金属線6により電気的に接続されている。このインナー
リードは上部インナーリード4と下部インナーリード5
からなり、これらインナーリード4、5間は絶縁材7に
よって電気的に絶縁されている。そして、これら半導体
チップ2、インナーリード4、5等が樹脂8により封止
されている。この半導体装置の場合、高さの異なる2段
のインナーリードを用いることによって、リードピッチ
を見かけ上小さくすることができ、多ピン化を図ること
ができる。
の構造がいくつか提案されている。例えば、図2
(a)、(b)に示す半導体装置(以下、従来例1とい
う)では、アイランド1上に半導体チップ2が搭載さ
れ、半導体チップ2の端子3とインナーリード4、5が
金属線6により電気的に接続されている。このインナー
リードは上部インナーリード4と下部インナーリード5
からなり、これらインナーリード4、5間は絶縁材7に
よって電気的に絶縁されている。そして、これら半導体
チップ2、インナーリード4、5等が樹脂8により封止
されている。この半導体装置の場合、高さの異なる2段
のインナーリードを用いることによって、リードピッチ
を見かけ上小さくすることができ、多ピン化を図ること
ができる。
【0004】それに対して、図3(a)、(b)に示す
半導体装置(以下、従来例2という)の場合、インナー
リードは同一平面上にあるが、隣り合うインナーリード
9a、9bの長さが互い違いに異なっている。また、半
導体チップ10上の端子11a、11bが外縁部とその
内側にそれぞれ列をなすように配置されている。そこ
で、チップ外側の端子11aと長いインナーリード9a
が金属線13aにより接続されるとともに、チップ内側
の端子11bと短いインナーリード9bが金属線13b
により接続されている。そして、これら半導体チップ1
0、インナーリード9a、9b等が樹脂14により封止
されている。このように、隣り合う金属線の両端、端子
側とインナーリード側の位置が異なるため、リードピッ
チが実質的に狭くならず、多ピン化を図ることができ
る。
半導体装置(以下、従来例2という)の場合、インナー
リードは同一平面上にあるが、隣り合うインナーリード
9a、9bの長さが互い違いに異なっている。また、半
導体チップ10上の端子11a、11bが外縁部とその
内側にそれぞれ列をなすように配置されている。そこ
で、チップ外側の端子11aと長いインナーリード9a
が金属線13aにより接続されるとともに、チップ内側
の端子11bと短いインナーリード9bが金属線13b
により接続されている。そして、これら半導体チップ1
0、インナーリード9a、9b等が樹脂14により封止
されている。このように、隣り合う金属線の両端、端子
側とインナーリード側の位置が異なるため、リードピッ
チが実質的に狭くならず、多ピン化を図ることができ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の樹脂封止型の半
導体装置においては、半導体チップとインナーリードを
金属線で接続した後、全体を樹脂で封止する際に、樹脂
の圧力により金属線が変形して隣接する金属線同士が接
触する、という品質上の問題があった。例えば、上記従
来例1の半導体装置の場合、上部、下部インナーリード
を有していてもインナーリードの近傍では隣接する金属
線が接近しており、金属線の変形による接触の恐れが充
分にあった。また、従来例2の半導体装置の場合、イン
ナーリードが同一平面上にあるため、樹脂の流れ込みに
より金属線が水平方向に変形した場合に接触する恐れが
充分にあった。
導体装置においては、半導体チップとインナーリードを
金属線で接続した後、全体を樹脂で封止する際に、樹脂
の圧力により金属線が変形して隣接する金属線同士が接
触する、という品質上の問題があった。例えば、上記従
来例1の半導体装置の場合、上部、下部インナーリード
を有していてもインナーリードの近傍では隣接する金属
線が接近しており、金属線の変形による接触の恐れが充
分にあった。また、従来例2の半導体装置の場合、イン
ナーリードが同一平面上にあるため、樹脂の流れ込みに
より金属線が水平方向に変形した場合に接触する恐れが
充分にあった。
【0006】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたものであって、樹脂封止型の半導体装置において
隣接する金属線の接触不良が発生することのない構造を
持つ半導体装置を提供することを目的とする。
されたものであって、樹脂封止型の半導体装置において
隣接する金属線の接触不良が発生することのない構造を
持つ半導体装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の半導体装置は、半導体チップの外縁部に
外側端子群が形成されるとともに、外側端子群よりも内
側に内側端子群が形成されることにより、これら端子群
の複数の端子が千鳥状に配置され、隣り合うインナーリ
ードが、その先端が半導体チップから遠くかつ低い位置
にある外側インナーリードと、その先端が外側インナー
リードの先端よりも半導体チップに近くかつ高い位置に
ある内側インナーリードからなり、外側端子群の端子と
外側インナーリード、および内側端子群の端子と内側イ
ンナーリードがそれぞれ金属線で接続されたことを特徴
とするものである。またこの場合、外側端子群の端子と
外側インナーリード、および内側端子群の端子と内側イ
ンナーリードをそれぞれ対向するように配置することが
望ましい。
めに、本発明の半導体装置は、半導体チップの外縁部に
外側端子群が形成されるとともに、外側端子群よりも内
側に内側端子群が形成されることにより、これら端子群
の複数の端子が千鳥状に配置され、隣り合うインナーリ
ードが、その先端が半導体チップから遠くかつ低い位置
にある外側インナーリードと、その先端が外側インナー
リードの先端よりも半導体チップに近くかつ高い位置に
ある内側インナーリードからなり、外側端子群の端子と
外側インナーリード、および内側端子群の端子と内側イ
ンナーリードがそれぞれ金属線で接続されたことを特徴
とするものである。またこの場合、外側端子群の端子と
外側インナーリード、および内側端子群の端子と内側イ
ンナーリードをそれぞれ対向するように配置することが
望ましい。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
1を参照して説明する。図1(a)は本実施の形態の半
導体装置を示す側断面図、図1(b)は樹脂封止前の半
導体装置を示す平面図である。図中符号16は半導体チ
ップ、17a、17bは端子、18はアイランド、19
a、19bはインナーリード、20a、20bは金属
線、21は樹脂、である。
1を参照して説明する。図1(a)は本実施の形態の半
導体装置を示す側断面図、図1(b)は樹脂封止前の半
導体装置を示す平面図である。図中符号16は半導体チ
ップ、17a、17bは端子、18はアイランド、19
a、19bはインナーリード、20a、20bは金属
線、21は樹脂、である。
【0009】図1(a)に示すように、アイランド18
上に半導体チップ16が搭載され、半導体チップ16の
端子17a、17bとインナーリード19a、19bが
金属線20a、20bにより電気的に接続されている。
図1(b)に示すように、半導体チップ16の外縁部に
は複数の端子17a、17b、…が形成されているが、
これら端子17a、17b、…は外周側に位置する外側
端子群22aとその内側に位置する内側端子群22bで
構成され、これら端子群22a、22bにおける複数の
端子17a、17b、…が千鳥状に配置されている。
上に半導体チップ16が搭載され、半導体チップ16の
端子17a、17bとインナーリード19a、19bが
金属線20a、20bにより電気的に接続されている。
図1(b)に示すように、半導体チップ16の外縁部に
は複数の端子17a、17b、…が形成されているが、
これら端子17a、17b、…は外周側に位置する外側
端子群22aとその内側に位置する内側端子群22bで
構成され、これら端子群22a、22bにおける複数の
端子17a、17b、…が千鳥状に配置されている。
【0010】また、図1(a)に示すように、隣り合う
2本のインナーリード19a、19bは、その先端が半
導体チップ16から遠くかつ低い位置にある外側インナ
ーリード19aと、その先端が外側インナーリード19
aの先端よりも半導体チップ16に近くかつ高い位置に
ある内側インナーリード19bとなっている。そして、
図1(b)に示すように、外側端子群22aの端子17
aと外側インナーリード19a、および内側端子群22
bの端子17bと内側インナーリード19bがそれぞれ
対向するように配置され、これら対向する端子とインナ
ーリードが金属線20a、20bで接続されている。そ
して、全体が樹脂21によって封止されている。
2本のインナーリード19a、19bは、その先端が半
導体チップ16から遠くかつ低い位置にある外側インナ
ーリード19aと、その先端が外側インナーリード19
aの先端よりも半導体チップ16に近くかつ高い位置に
ある内側インナーリード19bとなっている。そして、
図1(b)に示すように、外側端子群22aの端子17
aと外側インナーリード19a、および内側端子群22
bの端子17bと内側インナーリード19bがそれぞれ
対向するように配置され、これら対向する端子とインナ
ーリードが金属線20a、20bで接続されている。そ
して、全体が樹脂21によって封止されている。
【0011】本実施の形態の半導体装置においては、隣
り合う外側インナーリード19aと内側インナーリード
19bの先端がインナーリードの長さ方向においても高
さ方向においても異なる位置にあり、半導体チップ16
の端子17a、17b側も千鳥状に配置されている。そ
のため、隣り合う金属線20a、20bの位置がインナ
ーリードの長さ方向にも高さ方向にもずれた状態とな
る。しかも、外側端子群22aの端子17aと外側イン
ナーリード19a、および内側端子群22bの端子17
bと内側インナーリード19bが対向配置されているの
で、図1(b)に示すように、隣り合う金属線20a、
20bは平面視したときにほぼ平行となっている。した
がって、樹脂封止の際に樹脂21の圧力により金属線2
0a、20bが多少変形したとしても、金属線20a、
20b同士が接触することがない。
り合う外側インナーリード19aと内側インナーリード
19bの先端がインナーリードの長さ方向においても高
さ方向においても異なる位置にあり、半導体チップ16
の端子17a、17b側も千鳥状に配置されている。そ
のため、隣り合う金属線20a、20bの位置がインナ
ーリードの長さ方向にも高さ方向にもずれた状態とな
る。しかも、外側端子群22aの端子17aと外側イン
ナーリード19a、および内側端子群22bの端子17
bと内側インナーリード19bが対向配置されているの
で、図1(b)に示すように、隣り合う金属線20a、
20bは平面視したときにほぼ平行となっている。した
がって、樹脂封止の際に樹脂21の圧力により金属線2
0a、20bが多少変形したとしても、金属線20a、
20b同士が接触することがない。
【0012】なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態
に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない
範囲において種々の変更を加えることが可能である。
に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない
範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【0013】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
半導体装置によれば、隣り合う金属線の位置がインナー
リードの長さ方向にも高さ方向にもずれた状態となるた
め、樹脂封止の際に樹脂の圧力により金属線が多少変形
しても、隣接する金属線同士が接触することがない。ま
た、半導体装置のピン数を従来の2倍にしても隣接する
金属線の間隔は従来と同じになるため、品質不良が生じ
ることなく多ピン化を図ることができる。
半導体装置によれば、隣り合う金属線の位置がインナー
リードの長さ方向にも高さ方向にもずれた状態となるた
め、樹脂封止の際に樹脂の圧力により金属線が多少変形
しても、隣接する金属線同士が接触することがない。ま
た、半導体装置のピン数を従来の2倍にしても隣接する
金属線の間隔は従来と同じになるため、品質不良が生じ
ることなく多ピン化を図ることができる。
【図1】 本発明の一実施の形態である半導体装置を示
す、(a)側断面図、(b)樹脂封止前の状態を示す平
面図、である。
す、(a)側断面図、(b)樹脂封止前の状態を示す平
面図、である。
【図2】 従来例1の半導体装置を示す、(a)側断面
図、(b)樹脂封止前の状態を示す平面図、である。
図、(b)樹脂封止前の状態を示す平面図、である。
【図3】 従来例2の半導体装置を示す、(a)側断面
図、(b)樹脂封止前の状態を示す平面図、である。
図、(b)樹脂封止前の状態を示す平面図、である。
16 半導体チップ 17a,17b 端子 18 アイランド 19a 外側インナーリード 19b 内側インナーリード 20a,20b 金属線 21 樹脂 22a 外側端子群 22b 内側端子群
Claims (2)
- 【請求項1】 半導体チップ上の端子とインナーリード
が金属線で電気的に接続され、これらが樹脂によって封
止された半導体装置において、 半導体チップの外縁部に外側端子群が形成されるととも
に、この外側端子群よりも内側に内側端子群が形成され
ることにより、これら端子群の複数の端子が千鳥状に配
置され、 隣り合うインナーリードが、その先端が半導体チップか
ら遠くかつ低い位置にある外側インナーリードと、その
先端が前記外側インナーリードの先端よりも半導体チッ
プに近くかつ高い位置にある内側インナーリードからな
り、 前記外側端子群の端子と前記外側インナーリード、およ
び前記内側端子群の端子と前記内側インナーリードがそ
れぞれ金属線で接続されたことを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置において、 前記外側端子群の端子と前記外側インナーリード、およ
び前記内側端子群の端子と前記内側インナーリードがそ
れぞれ対向するように配置されたことを特徴とする半導
体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9008058A JPH10209198A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9008058A JPH10209198A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10209198A true JPH10209198A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11682743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9008058A Pending JPH10209198A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10209198A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007036072A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置及びその実装方法 |
-
1997
- 1997-01-20 JP JP9008058A patent/JPH10209198A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007036072A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置及びその実装方法 |
JP4580304B2 (ja) * | 2005-07-29 | 2010-11-10 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990406 |