JPH10173105A - 樹脂パッケージ型半導体装置、およびその製造方法 - Google Patents
樹脂パッケージ型半導体装置、およびその製造方法Info
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
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Abstract
を回避することができる樹脂パッケージ型半導体装置、
およびその製造方法を提供する。 【解決手段】 半導体チップから発生する熱を外部に放
出するための放熱板14を、ダイパッド12よりも幅狭
に形成するとともに上記ダイパッド12の下面に接合さ
れる接合部14aと、この接合部14aよりも幅広に形
成されており、かつ上記接合部14aの端縁から延出さ
せられている放熱部14bと、を備えて構成した。好ま
しくは、上記接合部14aを長矩形状に形成し、この接
合部14aの両端縁から長手方向に一体的に延出して上
記放熱部14bを形成した。
Description
型半導体装置、およびその製造方法に関し、特に、放熱
板が樹脂パッケージ内に組み込まれたタイプの樹脂パッ
ケージ型半導体装置、およびその製造方法に関する。
C、ある種のゲートアレイ、超LSI等、駆動時に生じ
る発熱量が大きい樹脂パッケージ型半導体装置には、樹
脂パッケージ内に放熱板を組み込み、これによって放熱
性能を高めたものが見うけられる。
ッケージ型半導体装置5の構造例を示す。この半導体装
置5は、半導体チップ50と、この半導体チップ50が
搭載されるダイパッド51と、上記半導体チップ50か
ら発生する熱を外部に放出するための放熱板54と、上
記半導体チップ50とワイヤ53を介して電気的に導通
させられている複数本の内部リード52と、上記半導体
チップ50ないし上記内部リード52を包み込む樹脂パ
ッケージ56と、上記各内部リード52に連続して上記
樹脂パッケージ56の外部に延出する外部リード55
と、を備えて構成されている。
ードフレーム57に形成されたダイパッド51の上面に
半導体チップ50をボンディングし、この半導体チップ
50上に形成された上面電極(図示せず)をワイヤ53
を介してこれに対応する内部リード52と結線し、さら
に、合わせ状態においてダイパッド51上の半導体チッ
プ50を収容配置可能なキャビティ7を有する上下の金
型60,61を用いて樹脂材料により上記ダイパッド5
1、半導体チップ50、内部リード52、ワイヤボンデ
ィング部52、および放熱板54を樹脂パッケージング
することにより形成される。
ジ型半導体装置5は、上記放熱板54の周縁部の上面
と、上記内部リード52の先端部の下面とが接触して導
電不良を起こさないように、上記ダイパッド51が上記
内部リード52に対してダウンオフセットさせられてい
る。さらに、このようにダウンオフセットさせられたダ
イパッド51の下面には、放熱板54が接合されてい
る。したがって、上記放熱板54の下面と、上記樹脂パ
ッケージ56の下面との間の距離は、小さく設定せざる
を得ない。このため、上記のようにして製造された樹脂
パッケージ型半導体装置5をハンダリフローの手法など
によって回路基板上に実装する場合に、上記放熱板54
の下面と上記樹脂パッケージ56との間の接合部分にク
ラックが発生し易い。これは、上記放熱板54の下面と
上記樹脂パッケージ56の下面との間の距離が小さいこ
と、上記放熱板54と上記樹脂パッケージ56との間の
接合面積が大きいことに起因していると考えられる。と
いうのは、上記樹脂パッケージ56と金属部分、特に放
熱板54との間の接合部分において、樹脂パッケージ5
6内に吸収された水分が実装時の高温によって気化膨張
して上記樹脂パッケージ56と上記放熱板54との間の
接合部分が剥離させられ、上記樹脂パッケージ56の温
度降下にともない、この剥離部分が上記樹脂パッケージ
56内に残存することによりクッラクが発生すると考え
られるからである。すなわち、上記放熱板54の下面と
上記樹脂パッケージ56の下面との間の距離が小さいと
上記樹脂パッケージ56の下面から吸収した水分が上記
放熱板54の下面と上記樹脂パッケージ56との接合部
分に達し易く、また、上記放熱板54と上記樹脂パッケ
ージ56との間の接触面積が大きいと、それだけ吸収し
た水分の影響を受けてクラックが発生し易い。また、上
記樹脂パッケージ56内にクラックが発生してしまう
と、上記樹脂パッケージ型半導体装置5の製品品質の低
下を招来してしまう。
されたものであって、回路基板上に実装する場合のクラ
ックの発生を回避することができる樹脂パッケージ型半
導体装置、およびその製造方法を提供することをその課
題とする。
は、次の技術的手段を講じている。
脂パッケージ型半導体装置は、半導体チップと、この半
導体チップが搭載されるダイパッドと、上記半導体チッ
プから発生する熱を外部に放出するための放熱板と、上
記半導体チップと電気的に導通させられている複数本の
内部リードと、上記半導体チップないし上記内部リード
を包み込む樹脂パッケージと、上記各内部リードに連続
して上記樹脂パッケージの外部に延出する外部リード
と、を備えた樹脂パッケージ型半導体装置であって、上
記放熱板は、上記ダイパッドよりも幅狭に形成されてい
るとともに、上記ダイパッドの下面に接合される接合部
と、この接合部よりも幅広に形成されており、かつ、上
記接合部の端縁から延出させられている放熱部と、を備
えたことを特徴としている。
成されており、この接合部の両端縁から長手方向に一体
的に延出して上記放熱部が形成されている。
は、上記放熱板と上記ダイパッドとの接合部分が幅狭の
接合部により構成されているので、上記ダイパッドと上
放熱板との間の接合面積が従来の放熱板に比べて大幅に
減少している。したがって、樹脂パッケージ内に吸収さ
れた水分が回路基板への実装時の高温によって気化膨張
して上記樹脂パッケージと上記放熱板との間の接合部分
が剥離させられ、上記樹脂パッケージの温度降下にとも
ない、この剥離部分が上記樹脂パッケージ内に残存する
ことによりクッラクが発生しまうことを極力回避するこ
とができる。このため、樹脂パッケージ内に発生したク
ラックに起因する製品品質の低下を回避することができ
る。また、上記放熱部が幅広に形成されているので、上
記接合部を幅狭に形成することによっても、上記放熱板
の放熱性が損なわれることはほとんどない。なお、上記
放熱板の上記ダイパッドに対する接合は、超音波接合法
やスポット溶接などにより行われる。
孔が形成されている。
よれば、上記放熱板の放熱部に貫通孔を形成することに
より、上記放熱板と上記ダイパッドとの間の接合面積が
さらに減少させられているので、上述した効果をさらに
享受することができる。
樹脂パッケージ内の上下の部位が上記貫通孔に注入され
た樹脂によって架橋されているので、上記放熱板と上記
樹脂パッケージとの間の接合強度が高められ、このこと
によっても上記樹脂パッケージ内でのクラックの発生を
防止することができる。
ジングを行う際に、上記放熱板が接合された上記ダイパ
ッドを備えるリードフレームを上記金型に挟持した場合
に、上記貫通孔が上記リードフレームによって区切られ
る上下の空間を連通する。したがって、上記金型によっ
て規定されるキャビティ内に樹脂を注入したとしても、
上記放熱板の裏面側に有効に樹脂を進出させることがで
きるので、上記貫通孔が形成されていない場合に比べて
より速く樹脂パッケージングを完了することができ、こ
のため、上記貫通孔を形成することにより上記樹脂パッ
ケージ内にボイドが形成されてしまうことを回避するこ
ともできる。
ジ型半導体装置の製造方法は、半導体チップが搭載され
るダイパッドと、上記半導体チップと電気的に導通させ
られる内部リードと、を備えるリードフレームを用いた
樹脂パッケージ型半導体装置の製造方法であって、上記
ダイパッド上に半導体チップをボンディングするステッ
プと、上記半導体チップに形成された上面電極と上記内
部リードの先端部の上面とをワイヤを用いて結線するス
テップと、上記ダイパッドよりも幅狭に形成されている
接合部と、この接合部よりも幅広に形成されており、か
つ、上記接合部の端縁から延出させられている放熱部
と、を備えた放熱板を上記ダイパッドの下面に接合する
ステップと、上記半導体チップ、上記ダイパッド、上記
内部リード、および上記放熱板を樹脂パッケージングす
るステップと、を含むことを特徴としている。
製造方法によれば、上記した第1の側面に係る樹脂パッ
ケージ型半導体装置と同様の効果を奏する樹脂パッケー
ジ型半導体装置を提供することができる。
付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より
明らかとなろう。
形態を、図面を参照して具体的に説明する。
半導体装置の一例を示す全体斜視図、図2は、図1のII
−II線に沿う断面図、図3は、図1のIII −III 線に沿
う断面図、図4は、上記樹脂パッケージ型半導体装置1
の製造に用いられるリードフレーム22に形成されたダ
イパッド12の下面に放熱板14を接合した状態の平面
図、図5は、図4のダイパッド12の上面に半導体チッ
プ13を実装し、さらにこの半導体チップ13と内部リ
ード16とをワイヤ19を用いて結線した状態の平面
図、図6は、図5のリードフレーム22をその内部に半
導体チップ13を収容するようにして金型に挟持した状
態の断面図である。
樹脂パッケージ型半導体装置1は、半導体チップ13が
搭載されるダイパッド12と、上記半導体チップ13か
ら発生する熱を外部に放出するための放熱板14と、上
記半導体チップ13と電気的に導通させられる複数本の
内部リード16と、上記半導体チップ13ないし上記各
内部リード16を包み込む樹脂パッケージ10と、を備
えて構成されている。
14は、上記ダイパッド12の下面に接合される長矩形
状の接合部14aと、この接合部14aの両端縁から上
記接合部14aの長手方向に一体的に延出して形成され
た放熱部14bと、を備えて構成されている。上記接合
部14aは、上記ダイパッド12よりも幅狭に形成され
ており、上記放熱部14bは、上記接合部14aよりも
幅広に形成されている。上記放熱部14bには、円形状
の貫通孔14cが形成されている。
の上面と、上記内部リード16の先端部の上面とは、ワ
イヤ19を介して電気的に導通するように結線されてい
る。
ッド12の両側縁からは、一体的に耳片12Aが形成さ
れており、図1および図3に良く表れているように、こ
の耳片12Aの先端部が屈曲形成されて回路基板上に面
実装可能に構成さてれいる。また、この耳片12Aは、
回路基板に実装されて上記半導体チップ13から発生し
た熱を回路基板に放熱するように構成されている。
プ13、内部リード16、およびワイヤ19は、エポキ
シ樹脂などの熱硬化性樹脂によって樹脂パッケージング
されており、樹脂パッケージ10の側面からは内部リー
ド16に一体的に延出して外部リード11が形成されて
いる。
ード11の先端部には、上記樹脂パッケージ10の底面
と略面一になるように水平部11Aが形成されており、
この水平部11Aをハンダ付けすることにより上記樹脂
パッケージ型半導体装置1が回路基板上に面実装される
ように構成されている。
ジ型半導体装置1の製造方法を図4ないし図6を参照し
ながら説明する。便宜上、図4を参照しながら上記樹脂
パッケージ型半導体装置1の製造に用いるリードフレー
ム22について説明する。
レーム23,23および長手方向等間隔に上記サイドフ
レーム23,23間を掛け渡すように形成されるクロス
フレーム24,24によって囲まれる矩形領域25内
に、上記樹脂パッケージ型半導体装置1の構成部分とな
るべきリード11,16あるいはダイパッド12などが
打ち抜き形成されている。矩形状に形成されたダイパッ
ド12の両側縁からは、一体的に耳片12Aが形成され
ており、この耳片12Aの端縁が支持リード28を介し
てクロスフレーム28に連結されている。矩形領域25
内には、上記サイドフレーム23,23間を掛け渡すよ
うにしてタイバー26が形成されている。ダイバー26
の内側には、基端が連結されているとともに、先端部が
上記ダイパッド12の周縁に向けて延びる複数本の内部
リード16が形成されている。タイバー26の外側に
は、各内部リード16に連続して延びる複数本の外部リ
ード11が形成されており、各外部リード11の外端部
は、支持リード28を介してクロスフレーム24,24
に連結されている。
に放熱板14を取り付けた状態において上記放熱板14
の周縁部の上面が内部リード16の先端部の下面と接触
しないように上記リードフレーム22のその他の部分、
たとえば上記内部リード16対して下方にダウンオフセ
ットされている。
12の裏面に上記放熱板14を接合する。上述したよう
に、上記放熱板14は、上記ダイパッド12の下面に接
合される長矩形状の接合部14aと、この接合部14a
の両端縁から上記接合部14aの長手方向に一体的に延
出して形成された放熱部14bと、を備えて構成されて
おり、上記接合部14aは、上記ダイパッド12よりも
幅狭に形成されているとともに、上記放熱部14bは、
上記接合部14aよりも幅広に形成されている。また、
上記放熱部14bには、円形状の貫通孔14cが形成さ
れている。なお、上記接合部14aの幅は、3mm程度
に設定され、接合部14aは上記ダイパッド12に対し
て超音波接合法、あるいはスポット溶接などの手段によ
って接合される。
半導体チップ13の上面に形成された上面電極(図示せ
ず)と、これに対応する上記内部リード16の先端部の
上面とを電気的に導通するようにワイヤ19を用いて結
線する。
おいて上記ダイパッド12および上記半導体チップ13
を収容可能なキャビティ4を形成する上下の金型30,
31によって、図5に示すリードフレーム22のタイバ
ー26の部分をはさみ付けて上記キャビティ4内に上記
半導体チップ13を収容する。そして、上記上下の金型
30,31の型締めを行う。
ーナー部には、ランナを介してキャビティ空間内に樹脂
材料を供給するためのゲート(図示せず)が形成されて
おり、型締めが行われた上下の金型30,31には、樹
脂が注入される前からヒータなどによって熱が与えられ
ている。
ポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂を溶融状態でキャビティ
4内に注入し、上記金型30,31に与えられた熱によ
って注入された樹脂を硬化させ、樹脂パッケージ10を
形成させる。
貫通孔14cが上記リードフレーム22によって区切ら
れる上下の空間を連通しているので、上記金型3によっ
て規定されるキャビティ4内に樹脂を注入した場合に、
上記放熱板14の裏面側に有効に樹脂を進出させること
ができる。したがって、上記貫通孔14cが形成されて
いない場合に比べてより速く樹脂パッケージングを完了
することができ、このため、上記貫通孔14cを形成す
ることにより上記樹脂パッケージ10内にボイドが形成
されてしまうことを回避することができる。
ケージ型半導体装置1は、上記放熱板14と上記ダイパ
ッド12との接合部分が幅狭の接合部14aにより構成
されているので、上記ダイパッド12と上記放熱板14
との間の接合面積が従来の放熱板に比べて大幅に減少し
ている。したがって、樹脂パッケージ10内に吸収され
た水分が回路基板への実装時の高温によって気化膨張し
て上記樹脂パッケージ10と上記放熱板14との間の接
合部分が剥離させられ、上記樹脂パッケージ10の温度
降下にともない、この剥離部分が上記樹脂パッケージ1
0内に残存することによりクッラクが発生しまうことを
極力回避することができる。このため、樹脂パッケージ
10内に発生したクラックに起因する製品品質の低下を
回避することができる。また、上記構成の樹脂パッケー
ジ型半導体装置1によれば、上記放熱板14の放熱部1
4bに貫通孔14cを形成することにより、上記放熱板
14と上記ダイパッド12との間の接合面積がさらに減
少させられているので、上述し効果をさらに享受するこ
とができる。なお、上記放熱部14bが幅広に形成され
ているので、上記接合部14aを幅狭に形成することに
よっても、上記放熱部14bの放熱性が損なわれること
もない。
1は、上記放熱板14によって区切られる上記樹脂パッ
ケージ10内の上下の部位が上記貫通孔14cに注入さ
れた樹脂によって架橋されているので、上記放熱板14
と上記樹脂パッケージ10との間の接合強度が高めら
れ、このことによっても上記樹脂パッケージ10内での
クラックの発生を防止することができる。
14の接合部14aが長矩形状に形成されていたが、上
記放熱部14bは、上記ダイパッド12よりも幅狭に形
成されていればよく、その形状は様々に設計変更可能で
ある。
14bが上記接合部14aの両端縁から一体的に延出形
成されていたが、上記放熱部14bは少なくとも一端縁
から延出形成すればよいのいうまでもない。
通孔14cは、選択的事項であり、必ずしも必要なもの
ではなく、また、その形状、個数、および形成位置は、
本実施形態に係る樹脂パッケージ型半導体装置1を説明
するために参照した図面に描かれている形状、個数、お
よび形成位置には限定されず様々に設計変更可能であ
る。
一例を示す全体斜視図である。
るリードフレームに形成されたダイパッドの下面に放熱
板を接合した状態の平面図である。
の半導体チップと内部リードとをワイヤを用いて結線し
た状態の平面図である。
の内部に収容するようにして金型に挟持した状態の断面
図である。
面透視図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体チップと、この半導体チップが搭
載されるダイパッドと、上記半導体チップから発生する
熱を外部に放出するための放熱板と、上記半導体チップ
と電気的に導通させられている複数本の内部リードと、
上記半導体チップないし上記内部リードを包み込む樹脂
パッケージと、上記各内部リードに連続して上記樹脂パ
ッケージの外部に延出する外部リードと、を備えた樹脂
パッケージ型半導体装置であって、 上記放熱板は、上記ダイパッドよりも幅狭に形成されて
いるとともに、上記ダイパッドの下面に接合される接合
部と、この接合部よりも幅広に形成されており、かつ、
上記接合部の端縁から延出させられている放熱部と、を
備えたことを特徴とする、樹脂パッケージ型半導体装
置。 - 【請求項2】 上記接合部は、長矩形状に形成されてお
り、この接合部の両端縁から長手方向に一体的に延出し
て上記放熱部が形成されている、請求項1に記載の樹脂
パッケージ型半導体装置。 - 【請求項3】 上記放熱部には、貫通孔が形成されてい
る、請求項1または2に記載の樹脂パッケージ型半導体
装置。 - 【請求項4】 半導体チップが搭載されるダイパッド
と、上記半導体チップと電気的に導通させられる内部リ
ードと、を備えるリードフレームを用いた樹脂パッケー
ジ型半導体装置の製造方法であって、 上記ダイパッド上に半導体チップをボンディングするス
テップと、 上記半導体チップに形成された上面電極と上記内部リー
ドの先端部の上面とをワイヤを用いて結線するステップ
と、 上記ダイパッドよりも幅狭に形成されている接合部と、
この接合部よりも幅広に形成されており、かつ、上記接
合部の端縁から延出させられている放熱部と、を備えた
放熱板を上記ダイパッドの下面に接合するステップと、 上記半導体チップ、上記ダイパッド、上記内部リード、
および上記放熱板を樹脂パッケージングするステップ
と、 を含むことを特徴とする樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33358296A JP3732604B2 (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 樹脂パッケージ型半導体装置、およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33358296A JP3732604B2 (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 樹脂パッケージ型半導体装置、およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10173105A true JPH10173105A (ja) | 1998-06-26 |
JP3732604B2 JP3732604B2 (ja) | 2006-01-05 |
Family
ID=18267665
Family Applications (1)
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JP3732604B2 (ja) | 2006-01-05 |
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