JPH10142260A - コンタクトプローブおよびそれを備えたプローブ装置 - Google Patents

コンタクトプローブおよびそれを備えたプローブ装置

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JPH10142260A
JPH10142260A JP30332296A JP30332296A JPH10142260A JP H10142260 A JPH10142260 A JP H10142260A JP 30332296 A JP30332296 A JP 30332296A JP 30332296 A JP30332296 A JP 30332296A JP H10142260 A JPH10142260 A JP H10142260A
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film
pattern
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JP30332296A
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Toshinori Ishii
利昇 石井
Mitsuyoshi Ueki
光芳 植木
Atsushi Matsuda
厚 松田
Nobuyoshi Tachikawa
宣芳 立川
Hideaki Yoshida
秀昭 吉田
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Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ICやLCD等のコンタクト用パッドとの位
置合わせの容易なコンタクトプローブを提供すると共
に、その製造コストの低減を図り、針先の交換や針圧の
変更などのメンテナンスの容易なコンタクトプローブを
提供する。 【解決手段】 複数の第1のパターン配線3、3がフィ
ルム2上に形成され、これらのパターン配線3、3の各
先端3aがフィルム2から突出状態に配されてコンタク
トピンとされる第1のコンタクトプローブ1aと、第1
のパターン配線3、3と接続される複数の第2のパター
ン配線3、3がフィルム2上に形成された第2のコンタ
クトプローブ1bとが、別個に形成されて連結されてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブピンやソ
ケットピン等として用いられ、半導体ICチップや液晶
(LCD)デバイス等の各端子に接触して電気的なテス
トを行うためのコンタクトプローブおよびこれを備えた
プローブ装置(プローブカードを含む)に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ICチップやLSIチップ等の
半導体チップ又はLCD(液晶表示体)の電気検査は、
上記各素子の各端子にタングステン製の針を備えたコン
タクトピンが用いられてきた。近年、ICチップ等の高
集積化および微細化に伴って、上記ICやLCDのコン
タクト用の電極であるコンタクトパッドが狭ピッチ化さ
れてきており、これに対応するためには、上記コンタク
トピンの多ピン狭ピッチ化が要望されてきている。しか
しながら、従来、上記コンタクトピンとして用いられて
いたタングステン製の針を用いたコンタクトプローブで
は、タングステン針の先端の径の加工限界から多ピン狭
ピッチ化への対応が困難であった。
【0003】これに対して、例えば、特公平7−820
27号公報には、複数のパターン配線が樹脂フィルム上
に形成され、これらのパターン配線の各先端が前記樹脂
フィルムから突出状態に配されてコンタクトピンとされ
る新しいコンタクトプローブの技術が提案されている。
上記公報には、この新しいコンタクトプローブの製造プ
ロセスとして、P4プロセスと呼ばれるプロセスが開示
されており、このP4プロセスにより製造されたコンタ
クトプローブを、ここではP4コンタクトプローブと呼
ぶことにする。
【0004】このP4コンタクトプローブは、一般にそ
の先端がICチップ等のパッド位置に一致するように配
置されており、一方、他端側はプリンテッド・サーキッ
ト・ボード(以下「PCB」と呼ぶ。)に接続するため
にピッチを広げた台形型をしている。さらにこのP4コ
ンタクトプローブには、位置決め用の位置決め孔が設け
られており、この位置決め孔を用いて、高精度に加工さ
れたメカニカルパーツに組み込まれ、このメカニカルパ
ーツをPCBに組み込んでいた。
【0005】上記P4コンタクトプローブは、配線パタ
ーンの加工・形成プロセスとして、精密なパターン形成
が可能なフォトリソグラフィー技術を用いているため、
先端部のピッチが狭く、上記各素子の狭いコンタクトパ
ッドのピッチにコンタクト可能であるという利点を持っ
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
P4コンタクトプローブのコンタクトピンのICやLC
Dのコンタクトパッドへの位置合わせの精度は、結局は
上記メカニカルパーツへの固定手段、すなわち位置決め
孔を用いたネジ止めの精度に左右されるため、せっかく
コンタクトピンのピッチを狭くしたり、コンタクトピン
の先端の径を細くしても、上記位置合わせの精度が悪け
れば、P4コンタクトプローブのメリットを生かしづら
いという問題点が指摘されていた。
【0007】その上、上記P4コンタクトプローブに
は、次のような問題点もあった。すなわちP4コンタク
トプローブは、先端にパターン配線のピッチの狭い部分
を有するため、フォトリソグラフィーの工程やメッキ工
程等において歩留まりが低くなるという問題点を有して
いた。これはP4コンタクトプローブを製造する際に、
ピッチの狭い部分の歩留まりによりコンタクトプローブ
全体の歩留まりが支配されていることを意味する。
【0008】ここで、通常のP4コンタクトプローブ
は、上記先端部とは反対側において、上記先端部から離
れるに従ってその幅が広くなるような台形の形状をして
おり、パターン配線も粗になる。しかもこのコンタクト
プローブをPCBに組み込むためには、ある程度の大き
さが必要となり、上記コンタクトプローブ全体としては
かなりの大面積を有していた。ここで、大面積を必要と
するということは、同じ面積の樹脂フィルムを原材料と
して用いた場合には、少量のコンタクトプローブしか取
れないということになる。従って、上記のようなコンタ
クトプローブを製造すると、歩留まりは面積が狭く配線
のピッチの狭い先端部により支配され、一方、面積事態
はピッチの広い、従って歩留まりの良い反対側の部分に
よって支配されているということで、矛盾を生じてい
た。
【0009】さらに、上記の問題点との関連で、コンタ
クトプローブの先端部は樹脂フィルムから突き出ている
ので破損しやすく、この場合に全体を取り替える必要が
あるため、その交換コストが高くなり、また針圧を変更
したい場合等にも不便であるという問題点もあった。
【0010】上記問題点に鑑みて、本発明のコンタクト
プローブ及びこれを用いたプローブ装置においては、I
CやLCD等のコンタクト用パッドとの位置合わせの容
易なコンタクトプローブ及びこれを用いたプローブ装置
の提供を目的とする。さらに、本発明のコンタクトプロ
ーブ及びこれを用いたプローブ装置においては、コンタ
クトプローブの製造コストの低減を図り、針先の交換や
針圧の変更などのメンテナンスの容易なコンタクトプロ
ーブの提供をも目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のコンタクトプロ
ーブ及びそれを用いたプローブカードにおいては、上記
課題を解決するために、次に述べるような手段を講じ
た。すなわち、請求項1記載のコンタクトプローブにお
いては、複数の第1のパターン配線がフィルム上に形成
され、該フィルムの一方の先端部から、これらの第1の
パターン配線の各先端が突出状態に配されてコンタクト
ピンとされる第1のコンタクトプローブと、前記第1の
パターン配線と接続される複数の第2のパターン配線が
フィルム上に形成された第2のコンタクトプローブと
が、別個に形成されて連結されていることを特徴とす
る。
【0012】このコンタクトプローブにおいては、第1
のコンタクトプローブと第2のコンタクトプローブとが
別個の工程で形成された後に、パターン配線を接続させ
るようにして連結される。
【0013】請求項2記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項1記載のコンタクトプローブにおいて、前
記第1のパターン配線は密に形成されてなり、前記第2
のパターン配線は前記第1のパターン配線と接続される
近傍においては密に形成されると共に、前記近傍から離
間した位置においては粗に形成されでなることを特徴と
する。
【0014】請求項3記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項1記載のコンタクトプローブにおいて、前
記第1のパターン配線が前記先端部において密に形成さ
れてなるとともに、その他端部において粗に形成されて
なり、前記第2のパターン配線が粗に形成されて、前記
他端部において、前記第1のパターン配線と接続されて
なることを特徴とする。このコンタクトプローブにおい
ては、第1のコンタクトプローブと第2のコンタクトプ
ローブとが、粗に形成されたパターン配線同士で連結さ
れる。
【0015】請求項4記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項1から3までに記載のコンタクトプローブ
において、前記第1のコンタクトプローブは、前記第2
のコンタクトプローブと比較して、面積が小に形成され
ていることを特徴とする。
【0016】このコンタクトプローブにおいては、パタ
ーン配線が密に形成されている第1のコンタクトプロー
ブの占有面積を小さくしたため、高価なパターン配線が
密な部分の面積を小さくすることによりその部分の収量
を増加させ、第1のコンタクトプローブと第2のコンタ
クトプローブとを連結して形成したコンタクトプローブ
全体としての製造コストを低減することができる。
【0017】請求項5記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項1から4までのいずれかに記載のコンタク
トプローブにおいて、前記第2のコンタクトプローブ
が、フレキシブル・プリンテッド・サーキット(FP
C)からなることを特徴とする。このコンタクトプロー
ブにおいては、第2のコンタクトプローブとしてが価格
の安いFPCを用いるため、コンタクトプローブ全体と
しての製造コストがさらに減少する。
【0018】請求項6記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項1から5までのいずれかに記載のコンタク
トプローブにおいて、前記第1のコンタクトプローブと
前記第2のコンタクトプローブとは、該第1のコンタク
トプローブの前記第1の配線パターンが形成されている
側の面と、前記第2のコンタクトプローブの前記第2の
配線パターンが形成されている面とが向き合うようにし
て、異方性導電テープにより接着されていることを特徴
とする。このコンタクトプローブでは、異方性導電テー
プにより第1の配線パターンと第2の配線パターンとが
接続されるため、両配線パターンの位置ずれの許容度が
増大し、位置合わせが容易になる。
【0019】請求項7記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項1から6までのいずれかに記載されたコン
タクトプローブにおいて、前記フィルムには、金属フィ
ルムが直接張り付けられていることを特徴とする。
【0020】このコンタクトプローブでは、前記フィル
ムが、例えば水分を吸収して伸張し易い樹脂フィルム等
であっても、該フィルムには、金属フィルムが直接張り
付けられているため、該金属フィルムにより前記フィル
ムの伸びが抑制される。すなわち、各コンタクトピンの
間隔にずれが生じにくく、先端部が測定対象物に正確か
つ高精度に当接される。
【0021】さらに、該金属フィルムは、グラウンドと
して用いることができ、それにより、コンタクトプロー
ブの先端近くまでインピーダンスマッチングをとる設計
が可能となり、高周波域でのテストを行う場合にも反射
雑音による悪影響を防ぐことができる。すなわち、プロ
ーバーと呼ばれるテスターからの伝送線路の途中で基板
配線側とコンタクトピンとの間の特性インピーダンスが
合わないと反射雑音が生じ、その場合、特性インピーダ
ンスの異なる伝送線路が長ければ長いほど大きな反射雑
音が生じるという問題がある。反射雑音は信号歪とな
り、高周波になると誤動作の原因になり易い。本コンタ
クトプローブでは、前記金属フィルムをグラウンドとし
て用いることによりコンタクトピン先の近くまで基板配
線側によって特性インピーダンスのずれを最小限に抑え
ることができ、反射雑音による誤動作を抑えることがで
きる。
【0022】請求項8記載のコンタクトプローブにおい
ては、請求項7記載のコンタクトプローブにおいて、前
記金属フィルムには、第2のフィルムが直接張り付けら
れていることを特徴とする。
【0023】このコンタクトプローブでは、前記金属フ
ィルムに第二のフィルムが直接張り付けられているた
め、メカニカルパーツによるコンタクトプローブの組み
込み時の締付けに対して緩衝材となるという作用効果を
得ることができる。したがって、組み込み時に配線パタ
ーンに与えるダメージを軽減することができるという作
用効果を得ることができる。また、LCD用のものにあ
っては、金属フィルムとTABICの端子とのショート
を防止することができる。
【0024】請求項9記載のプローブ装置においては、
請求項1から8までのいずれかに記載のコンタクトプロ
ーブを、前記パターン配線の各基端に接続される端子を
有する回路に接続してなるプローブ装置であって、この
プローブ装置は、前記フィルム上に配されて該フィルム
から前記コンタクトピンよりも短く突出する強弾性フィ
ルムと、この強弾性フィルムと前記コンタクトプローブ
とを挟持するコンタクトプローブ挟持体とを備えている
ことを特徴とする。
【0025】このプローブ装置では、前記強弾性フィル
ムが設けられ、該強弾性フィルムがコンタクトピンの先
端を上方から押さえるため、ピン先端が上方に湾曲した
ものが存在しても、測定対象物に確実に接触させること
ができ、各ピンに均一な接触圧が得られるところから接
触不良による測定ミスをなくすことができる。
【0026】請求項10記載のプローブ装置において
は、請求項9記載のプローブ装置において、前記フィル
ムは、前記強弾性フィルムが前記コンタクトピンを押圧
するときに緩衝材となるように前記強弾性フィルムより
も先端側に長く形成されていることを特徴とする。この
プローブ装置では、前記フィルムが前記強弾性フィルム
よりも先端側に長く形成されて該強弾性フィルムがコン
タクトピンを押圧するときに緩衝材となるため、繰り返
し使用しても、強弾性フィルムとの摩擦によりコンタク
トピンが歪んで湾曲すること等がなく、測定対象物に対
して安定した接触を保つことができる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るコンタクトプ
ローブの第1の実施形態を図1および図2を参照しなが
ら説明する。これらの図にあって、符号1はコンタクト
プローブ、2は樹脂フィルム、3はパターン配線を示し
ている。
【0028】本実施形態のコンタクトプローブ1は、図
に示すように、ポリイミド樹脂フィルム2の片面に金属
で形成されるパターン配線3を張り付けた構造となって
おり、前記樹脂フィルム2の端部2aから前記パターン
配線3の先端が突出してコンタクトピン3aとされてい
る。上記コンタクトプローブ1は、端部2a側の、パタ
ーン配線3のピッチが狭く、密に形成されている第1の
コンタクトプローブ1aと、その反対側の、パターン配
線3のピッチが広く粗に形成されている第2のコンタク
トプローブ1bとが別個に形成されており、両者はその
パターン配線が連結されるように、接合面5においてフ
ィルム面を重ねるようにして連結されている。
【0029】第1のコンタクトプローブ1aと第2のコ
ンタクトプローブ1bとは、その接合面5においては、
異方性導電テープ7を挟んで熱圧着により接着されてい
る。また、このコンタクトプローブ1は、第2のコンタ
クトプローブ1bに設けられた位置決め穴4の位置にお
いて、メカニカルパーツ11と固定部材14により固定
されている。
【0030】次に、図3を参照して、前記コンタクトプ
ローブ1すなわち、第1のコンタクトプローブ1aと第
2のコンタクトプローブ1bの作製工程について工程順
に説明する。
【0031】〔ベースメタル層形成工程〕まず、図3の
(a)に示すように、ステンレス製の支持金属板15の
上に、Cu(銅)メッキによりベースメタル層16を形
成する。 〔パターン形成工程〕このベースメタル層16の上にフ
ォトレジスト層17を形成した後、図3の(b)に示す
ように、写真製版技術によりフォトレジスト層17に所
定のパターンのフォトマスク18を施して露光し、図3
の(c)に示すように、フォトレジスト層17を現像し
て前記パターン配線3となる部分を除去して残存するフ
ォトレジスト層17に開口部17aを形成する。なお、
本実施の形態においては、フォトレジスト層17をネガ
型フォトレジストによって形成しているが、ポジ型フォ
トレジストを採用して所望の開口部を形成してもかまわ
ない。また、本実施の形態においては、前記フォトレジ
スト層17のように、フォトマスク18を用いた露光・
現像工程を経て、開口部17aが形成されたものを使用
したが、本発明ではこれに限定されるものではない。例
えば、メッキ処理される箇所に予め孔が形成された(す
なわち、予め、図3(c)の符号17で示す状態に形成
されている)フィルム等でもよい。本願発明において、
このようなフィルム等を用いる場合には、本実施の形態
におけるパターン形成工程は不要である。
【0032】〔電解メッキ工程〕そして、図3の(d)
に示すように、前記開口部17aに前記パターン配線3
となるNiまたはNi合金層Nをメッキ処理により形成
した後、図3の(e)に示すように、フォトレジスト層
17を除去する。
【0033】〔フィルム被着工程〕次に、図3の(f)
に示すように、前記NiまたはNi合金層Nの上であっ
て、図に示した前記パターン配線3の先端、すなわち、
コンタクトピン3aとなる部分以外に、前記樹脂フィル
ム2を接着剤2aにより接着する。前記樹脂フィルム2
は、ポリイミド樹脂PIに金属フィルム(銅箔)500
が一体に設けられた二層テープである。このフィルム被
着工程の前までに、二層テープのうち銅面500に、写
真製版技術を用いて銅エッチングを施して、グラウンド
面を形成しておく。そして、このフィルム被着工程で
は、二層テープのうちの樹脂面PIを、接着剤aを介し
て前記NiまたはNi合金Nに被着させる。なお、金属
フィルム500は、銅箔に加えて、Ni合金でもよい。 〔分離工程〕そして、図3の(g)に示すように、樹脂
フィルム2とパターン配線3とベースメタル層16とか
らなる部分を、支持金属板15から分離させた後、Cu
エッチを経て、樹脂フィルム2にパターン配線3のみを
接着させた状態とする。
【0034】〔金コーティング工程〕次に、露出状態の
パターン配線3に、図3の(h)に示すように、Auメ
ッキを施し表面にAuメッキ層Aを形成する。このと
き、樹脂フィルム2から突出状態とされた前記コンタク
トピン3aでは、全周に亙る表面全体にAu層Aが形成
される。
【0035】以上の工程により、図1及び2に示すコン
タクトプローブ1すなわち第1のコンタクトプローブ1
aと第2のコンタクトプローブ1bとが別個に作製さ
れ、その後、前述のように異方性導電テープ7により両
者が接着される。
【0036】図4及び図5は、上記異方性導電テープ7
により、第1のコンタクトプローブ1aと第2のコンタ
クトプローブ1bとが接着される様子を示す概略図であ
る。まず図5に示すように、第1のコンタクトプローブ
1aと第2のコンタクトプローブ1bとの間に異方性導
電テープ7を挟み、ほぼパターン配線3同士が合うよう
に位置合わせをして接近させる。そして両者が接触した
時点で熱圧着により押しつける。ここで、熱圧着前は、
テープ7中には導電粒子7aが多数存在し、ほぼランダ
ムに位置している。
【0037】図5に示すように熱圧着を行うと、導電粒
子7aが図5に示すように両方の配線パターン3が一致
する場所においてのみ押しつぶされ、テープ7の延在す
る方向と垂直な方向に連続して並び、この垂直方向の電
気伝導のみを許容し、平行方向の電気伝導は起こらなく
なる。
【0038】従って、第1のコンタクトプローブ1aと
第2のコンタクトプローブ1bのそれぞれ上下に並んだ
パターン配線3、3間に導電粒子7aを介して電気伝導
が起こり、両者が電気的に接続されることになる。ここ
で、上記の異方性導電テープを用いたため、図5に示し
た位置合わせにおいて、パターン配線3と隣のパターン
配線3とのピッチの差以上の位置合わせのずれが生じな
ければ、パターン配線3、3同士の電気的接続が可能に
なるので、第1のコンタクトプローブ1aと第2のコン
タクトプローブ1bとの位置合わせの許容度が増し、両
者の電気的接続が容易になると共に、テープの粘着力に
より、プローブ1aと1bとの連結も同時にできる。
【0039】次に、第1のコンタクトプローブ1a、第
2のコンタクトプローブ1b及びメカニカルパーツ11
を、実際のIC等またはそれと同一のコンタクトパッド
21のパターンを備えたガラス板上の、上記コンタクト
パッド21と位置合わせする手順について述べる。
【0040】(1)実際のIC等またはそれと同一のコ
ンタクトパッド21のパターンを備えたガラス板を、組
み込み治具20の所定の位置に載せる。 (2)次に、異方性導電テープ7を仮付けした第2のコ
ンタクトプローブ1bを組み込み治具20の位置決めピ
ン20bに、位置決め穴4が一致するようにはめ込む。
位置決めピン20bは、マニュピレータによってXY方
向の位置を都度任意に設定できる。
【0041】(3)顕微鏡を用いて、第1のコンタクト
プローブ1aを操作して、コンタクトパッド21側及び
第2のコンタクトプローブ1b側との位置合わせを行
い、テープで仮付け後、異方性導電テープ7で熱圧着す
る。
【0042】(4)コンタクトプローブ固定用のメカニ
カルパーツ11をその位置決め穴11bに合わせて組み
込み治具20にはめ込み、接着剤を用いて第2のコンタ
クトプローブ1bをメカニカルパーツ11に貼り付け
る。但し、第1のコンタクトプローブ1a部分のメカニ
カルパーツ11への接着は取り外し可能な両面テープ等
(図示せず)を用いる。 (5)この状態で、図示しないPCBに、このメカニカ
ルパーツ11を組み込み、その後、組み込み治具20を
取り外す。
【0043】上述のように、第1のコンタクトプローブ
1aと第2のコンタクトプローブ1bとの連結及びパタ
ーン配線3、3同士の接続には、異方性導電テープ7が
用いられるため、位置合わせのずれが緩和され、ある程
度の位置ずれが吸収されるため位置合わせの許容度が増
大して位置合わせの精度が向上するとともに位置合わせ
が容易になる。
【0044】また、針先3aが痛んだ場合や針圧を変更
する場合には、接合面5で異方性導電テープ7により接
着された部分を剥して、第1のコンタクトプローブ1a
を交換するだけでよいので、メンテナンスが容易にな
る。その上、パターン配線3が密に形成されている第1
のコンタクトプローブ1aの面積が、パターン配線3が
粗に形成されている第2のコンタクトプローブ1bと比
較して、その占有面積が非常に小さくなっているので、
例えば第1のコンタクトプローブと第2のコンタクトプ
ローブを製造する工程として、上記P4プロセスを採用
した際に、従来のようにコンタクトプローブ全体の面積
に対して第1のコンタクトプローブ1aの面積も非常に
小さくなる。
【0045】前述のように、コンタクトプローブの一般
的な製造歩留まりは、パターン配線3のピッチ広狭によ
り支配され、ピッチが狭い部分を多く含む場合には歩留
まりが低くなると考えられるので、第1のコンタクトプ
ローブ1aの製造歩留まりは従来のコンタクトプローブ
の製造歩留まりと大差なく、一方、面積の広い第2のコ
ンタクトプローブ1bの製造歩留まりは従来のコンタク
トプローブの歩留まりよりも非常に良くなるので、全体
としての本発明のコンタクトプローブ1の製造歩留まり
は配線パターンのピッチの狭いものと広いものとが一体
化したコンタクトプローブの製造歩留まりに比べて向上
する。
【0046】尚、上記第1の実施の形態においては、第
2のコンタクトプローブ1bとメカニカルパーツ11と
の接合はエポキシ樹脂等の接着材を用いたが、メカニカ
ルに行うことも可能である。また、上記実施の形態にお
いては、第1のコンタクトプローブ1aと第2のコンタ
クトプローブ1bとを接続した場合を例にして説明した
が、この形態に限定されることはなく、コンタクトプロ
ーブ1が第1のコンタクトプローブと第2のコンタクト
プローブと第3のコンタクトプローブとから形成されて
いるケースもあり、この接続の個数は、用途に合わせて
適宜決められる。さらに、図2に示した第1のコンタク
トプローブ1aと第2のコンタクトプローブ1bとの接
続構造においては、第2のコンタクトプローブ1bのパ
ターン配線3が樹脂フィルム2の上に形成されるため、
例えば最終的に下の方向から電気的配線を取り出したい
場合には不便である。このような場合には、第1のコン
タクトプローブ1aと第2のコンタクトプローブ1bと
の接合面とは反対方向の第2のコンタクトプローブの端
において、さらにもう1枚、第2のコンタクトプローブ
と同様のコンタクトプローブを、第3のコンタクトプロ
ーブとして連結させることにより、第3のコンタクトプ
ローブにおいては配線パターンは樹脂フィルムの下側に
配置されるため、下方向から配線を取り出すこともでき
る。また、第1のコンタクトプローブ1aと第2のコン
タクトプローブ1bの接合面近傍でのパターン配線3の
ピッチが広い場合には、両者の配線同士をボンディング
ワイヤで接続することも可能であり、この場合にも、第
2のコンタクトプローブのパターン配線は下側から取り
出せる。
【0047】次に、本発明の第2の実施の形態につい
て、図7を用いて説明する。このコンタクトプローブ1
においては、第1の実施の形態で示したコンタクトプロ
ーブと同様に、第1のコンタクトプローブ1aと第2の
コンタクトプローブ1bとが別個に製造されて、異方性
電導テープ7で連結されている。この第2の実施の形態
に示したコンタクトプローブ1が第1の実施の形態に示
したコンタクトプローブ1と異なる点は、第1のコンタ
クトプローブ1aのパターン配線3がピッチの狭い部分
とピッチの広い部分とを含んでいることである。この場
合には、第1のコンタクトプローブ1aと第2のコンタ
クトプローブ1bとの接合は、ピッチの広いパターン配
線がある部分においてなされることになる。
【0048】上記コンタクトプローブにおいては、位置
合わせ時の第1のコンタクトプローブ1aと第2のコン
タクトプローブ1bとの位置ズレの余裕が第1の実施の
形態に示したコンタクトプローブの場合に比較してさら
に大きくなる。
【0049】次に、本発明のコンタクトプローブの第3
の実施の形態について説明する。図示しないが、第3の
実施の形態においては、第1または第2の実施の形態で
説明したコンタクトプローブと異なる点は、第2のコン
タクトプローブとしてP4プロセスを用いたコンタクト
プローブではなくて、市販の従来品であるフレキシブル
・プリンテッド・サーキット(FPC)を用いた点であ
る。
【0050】すなわち、第1のコンタクトプローブ1a
の接合面5でのパターン配線3のピッチが100μm程
度であれば、第2のコンタクトプローブ1bとしてFP
Cを用いてそれと接続可能であるから、複雑で高コスト
のP4プロセスを用いたコンタクトプローブを第2のコ
ンタクトプローブとして使用しないで、安価にコンタク
トプローブを形成することが可能となる。
【0051】なお、上記の第1、第2の実施形態におい
ては、コンタクトプローブ1をプローブカードであるプ
ローブ装置に適用することを前提として説明したが、他
の測定用治具等に採用しても構わない。例えば、ICチ
ップを内側に保持して保護し、ICチップのバーンイン
テスト用装置等に搭載されるICチップテスト用ソケッ
ト等に適用してもよい。
【0052】次に、図8から図13を参照して、本発明
の第4の実施形態について説明する。本実施形態は、上
記第1及び第2の実施形態においてICプローブ用の所
定形状に切り出したコンタクトプローブ1を、それに代
えてLCD用プローブ用の所定形状に切り出して使用す
るものである。もちろん、以下に述べる説明はIC用の
コンタクトプローブにも適用が可能である。LCD用プ
ローブ用に切り出されたコンタクトプローブは、図8乃
至10に符号200で示され、201は樹脂フィルムで
ある。図9に示すように、このコンタクトプローブ1
も、上記実施の形態と同様に、第1のコンタクトプロー
ブ200aと第2のコンタクトプローブ200bとが接
合面5において、異方性導電テープ7により接着され、
パターン配線3と3とが電気的に接続されている点は同
様である。
【0053】図11に示すように、LCD用プローブ装
置(プローブ装置)100は、コンタクトプローブ挟持
体110と、このコンタクトプローブ挟持体110を額
縁状フレーム120に固定してなる構造を有しており、
このコンタクトプローブ挟持体110から突出したコン
タクトピン3aの先端がLCD(液晶表示体)90の端
子(図示せず)に接触するようになっている。
【0054】図10に示すように、コンタクトプローブ
挟持体110は、トップクランプ111とボトムクラン
プ115とを備えている。トップクランプ111は、コ
ンタクトピン3aの先端を押さえる第一突起112、T
ABIC(回路)300側の端子301を押さえる第二
突起113およびリードを押さえる第三突起114を有
している。ボトムクランプ115は、傾斜板116、取
付板117および底板118から構成されている。
【0055】コンタクトプローブ200を傾斜板116
の上に載置し、さらにTABIC300の端子301が
コンタクトプローブ200の樹脂フィルム201,20
1間に位置するように載置する。その後、トップクラン
プ111を第一突起112が樹脂フィルム201の上で
かつ第二突起113が端子301に接触するように乗せ
ボルトにより組み立てる。
【0056】図12示すように、コンタクトプローブ2
00を組み込み、ボルト130によりトップクランプ1
11とボトムクランプ115を組み合わせることによ
り、コンタクトプローブ挟持体110が作製される。
【0057】上記コンタクトプローブ挟持体110は、
図13に示すように、ボルト131により固定されてL
CD用プローブ装置100に組み立てられる。LCD用
プローブ装置100を用いてLCD90の電気的テスト
を行うには、LCD用プローブ装置100のコンタクト
ピン3aの先端をLCD90の端子(図示せず)に接触
させた状態で、コンタクトピン3aから得られた信号を
TABIC300を通して外部に取り出すことにより行
われる。尚、上記図12及び図13においては、コンタ
クトプローブ200は、実際には第1のコンタクトプロ
ーブ200aと第2のコンタクトプローブ200bとが
別個に形成されて連結されているが、これらの図におい
てはその様子は省略されており、図示されていない。
【0058】上記LCD用プローブ装置100において
も、コンタクトプローブ200が、第1のコンタクトプ
ローブ200aと第2のコンタクトプローブ200bと
が接続して形成されているので、上記第1及び第2の実
施の形態において述べたIC用コンタクトプローブにお
いて、位置合わせが容易であり、また、針先の交換や針
圧の変更が必要な場合には、第1のコンタクトプローブ
を交換するだけで可能なことから、メンテナンスが容易
であるという点も第1及び第2の実施の形態の場合と同
様である。
【0059】次に、図14から図16を参照して、第5
の実施の形態について説明する。図14に示すように、
上記第3の実施の形態において説明したコンタクトプロ
ーブ200のうち、第1のコンタクトプローブ200a
の先端におけるコンタクトピン3aのうち何本かは、そ
の先端が図16のSに示すように正常に形成される場合
の他に、上方に湾曲した先端S1や下方に湾曲した先端
S2のようになってしまう場合もある。
【0060】このような場合に、図15に示すように、
上記樹脂フィルム201を第一突起112および傾斜板
116で挟持してコンタクトピン3aをLCD90の端
子に押しつけても、正常な先端S1および下方に湾曲し
た先端S2は、LCD90の端子に何とか接触するが、
上方に湾曲した先端S1は接触しにくく、仮に何とか接
触したとしても十分な接触圧が得られないという事態が
生じることがあった。このような異常なコンタクトピン
が一本でも存在すると、コンタクトピン3aのLCD9
0の端子に対する接触不良が発生するため、正確な電気
テストが行えなくなる。
【0061】また、テスト時に所望の接触圧を得るため
にコンタクトピン3aの押し付け量を増減させて接触圧
を調整しているが、大きな接触圧を得るためには大きな
押し付け量が必要となるものの、針の形状が例えばS1
のような場合には、いくら押しつけても接触圧が上がら
ず、必要な大きさの接触圧が得られないことがあった
り、各コンタクトピン3aにより針圧のバラツキが生じ
る場合もあった。
【0062】そこで、第5の実施の形態では、図16に
示すように、コンタクトピン3aのうち、上方に湾曲し
た状態の先端S1及び下方に湾曲した状態の先端S2
と、正常な状態の先端Sとを整列させるため、樹脂フィ
ルム201の上部に有機または無機材料からなる強弾性
フィルム400を、コンタクトピン3aの先端部が樹脂
フィルム201から突出する側に、コンタクトピン3a
よりも短く突出するように重ね合わせ、その状態でコン
タクトプローブ200および強弾性フィルム400を、
トップクランプ111の第一突起112とボトムクラン
プ115の傾斜板116とで挟持してなるコンタクトプ
ローブ挟持体110を採用した。なお、強弾性フィルム
400は、有機材料であれば、セラミックまたはポリエ
チレンテレフタレートからなり、無機材料であれば、セ
ラミック、特にアルミナ製フィルムからなることが好ま
しい。
【0063】そして、このコンタクトプローブ挟持体1
10を額縁フレーム120に固定し、コンタクトピン3
aをLCD90の端子に押し当てると、強弾性フィルム
400がコンタクトピン3aを上方から押さえ、前記上
方に湾曲した先端S1であってもLCD90の端子に確
実に接触する。これにより、多数のコンタクトピンのう
ち全てのコンタクトピン3aに均一な接触圧が得られ、
接触不良による測定ミスをなくすことができる。
【0064】さらに、強弾性フィルム400からのコン
タクトピン3aの突出量を変化させることにより、コン
タクトピン3aを押しつけたときにコンタクトピン3a
を上から押さえるタイミングを変えることが可能とな
り、所望の押しつけ量で所望の接触圧を得ることができ
る。
【0065】上記第5の実施形態におけるLCD用プロ
ーブ装置100においては、全ピン3aのうち数本に上
方に湾曲した先端S1が含まれていたとしても、LCD
90に接触するときのピン3a位置は、強弾性フィルム
400により矯正され、全ピン3a位置が整列されるた
め、上記第1及び第2の実施の形態において示した位置
合わせの容易さとの相乗効果により、LCD90用端子
とのコンタクトが性格かつ容易に行える。
【0066】次に、図17および図18を参照して、第
6の実施形態について説明する。図17に示すように、
上記第3の実施形態において説明した、コンタクトプロ
ーブ200の樹脂フィルム201は、例えばポリイミド
樹脂からなっているため、水分を吸収して伸びが生じ、
コンタクトピン3a,3a間の間隔tが変化することが
あった。そのため、コンタクトピン3aがLCD90の
端子の所定位置に接触することが不可能となり、正確な
電気テストを行うことができないという問題があった。
【0067】そこで、第6の実施形態では、図18に示
すように、前記樹脂フィルム201の上にさらに金属フ
ィルム500を張り付け、湿度が変化してもコンタクト
ピン3a,3a間の間隔tの変化を少なくし、これによ
り、コンタクトピン3aをLCD90の端子の所定位置
に確実に接触させることとした。この金属フィルム50
0は、グラウンドとしても使用可能である。なお、この
金属フィルム500用の材料としては、Ni、Ni合
金、CuまたはCu合金のうちいずれかのものが好まし
い。ここで上記材料が金属フィルム500として好まし
い理由は、上述のように、この金属フィルム500をグ
ラウンドとして使用する場合に、良好な電気特性が得ら
れるからである。
【0068】上記第6の実施形態におけるLCD用プロ
ーブ装置100においても、ピン位置が各ピンによって
ずれることがなくなるので、位置合わせの容易さとの相
乗効果により、正確にLCD90用の端子にコンタクト
を取ることができる。
【0069】次に、図19を参照して、第7の実施形態
について説明する。この実施の形態においては、上記第
5の実施形態のように、樹脂フィルム201の上に金属
フィルム500を張り付けると共に、上記第4の実施形
態のように強弾性フィルム400を使用したものであ
り、これにより、コンタクトピン3a先端の湾曲によら
ず均一な接触圧が得られると共に、コンタクトピン3
a,3a間の間隔tの変化を最小限に抑えて電気テスト
を正確に行えるものである。
【0070】上記第7の実施形態におけるLCD用プロ
ーブ装置100においても、上記で述べた各実施の形態
におけるのと同様に、正確な位置合わせが可能となり、
同様な作用効果を奏することができる。
【0071】次に、図20および図21を参照して、第
8の実施形態について説明する。図20に示すように、
樹脂フィルム201の上に張り付けられた金属フィルム
500の上にさらに第二の樹脂フィルム202を張り付
ける構成を採用し、図21に示すように、この第二の樹
脂フィルム202の上に強弾性フィルム400を設けた
ものである。ここで、上記第6の実施形態と異なり、第
二の樹脂フィルム202を設けたのは、コンタクトプロ
ーブ200とTABIC300の端子301とを接続さ
せるべく、トップクランプ111の突起113で端子3
01を押さえたときに、金属フィルム500とTABI
C300の端子301とのショートを防ぐためである。
また、第二の樹脂フィルム202を設けることで、金属
フィルム500の表面が覆われることになり、大気中で
の酸化の進行を有効に抑えることができる。
【0072】上記第8の実施形態におけるLCD用プロ
ーブ装置100においても、上記第1から第6までの実
施の形態と同様の効果を発揮するとともに、さらに、上
記ショート防止と酸化防止の効果をも発揮する。
【0073】次に、図22および図23を参照して、第
9の実施形態について説明する。上記第4、6および7
の実施形態では、使用中は、強弾性フィルム400がコ
ンタクトピン3aに押圧接触しており、繰り返しの使用
により強弾性フィルム400とコンタクトピン3aの摩
擦が繰り返され、これによる歪みが蓄積されると、コン
タクトピン3aが左右に曲がり、接触点がずれることが
あった。
【0074】そこで第9の実施形態では、図22に示す
ように、前記樹脂フィルム201を従来よりも幅広なフ
ィルム201aとするとともに、コンタクトピン3aの
金属フィルム500からの突出長さをX1、幅広樹脂フ
ィルム201aの金属フィルム500からの突出長さを
X2とすると、X1>X2とする構成を用いている。そ
して、図23に示すように、前記強弾性フィルム400
を幅広樹脂フィルム201aよりも短く突出するように
重ねて使用すると、強弾性フィルム400は、柔らかい
幅広樹脂フィルム201aに接触し、コンタクトピン3
aとは直接接触しないため、コンタクトピン3aが左右
に曲がることが防止できる。
【0075】上記第9の実施形態におけるLCD用プロ
ーブ装置100においても、コンタクトピン3aが左右
に曲がることを防止できる効果と上述した位置合わせの
容易性との相乗効果により、さらに精度良くコンタクト
ピン3aを、LCD90用の端子とのコンタクトが良好
になる。
【0076】次に、図24および図25を参照して、第
10の実施の形態について説明する。 この実施の形態
においては、金属フィルム500の上に第二の樹脂フィ
ルム202を張り付け、その場合、コンタクトピン3a
の金属フィルム500からの突出長さをX1、幅広樹脂
フィルム201aの金属フィルム500からの突出長さ
をX2とすると、X1>X2の関係になるように構成す
る。そして、図25に示すように、第二の樹脂フィルム
202の上に設ける強弾性フィルム400は、幅広樹脂
フィルム201aよりも短く突出するように重ねるよう
にする。
【0077】上記第10の実施形態におけるLCD用プ
ローブ装置100においても、金属フィルム500とT
ABIC300の端子301とのショートを防ぐことが
できる。さらに、第二の樹脂フィルム202を設けるこ
とで、金属フィルム500の表面が覆われることにな
り、大気中での酸化の進行を有効に抑えることができ
る。
【0078】
【発明の効果】請求項1記載のコンタクトプローブによ
れば、コンタクトプローブがコンタクトピンを備えた第
1のコンタクトプローブと、これとメカニカルパーツと
を結合する第2のコンタクトプローブとが別個に形成さ
れ、パターン配線が接続するように連結されているの
で、測定パターンとの位置合わせが容易になり、かつコ
ンタクトプローブ全体として歩留まりが向上することに
より、製造コストが低減できる。さらに、コンタクトピ
ンの針圧を変更したり破損した場合等に、第1のコンタ
クトプローブのみを取り替えればよいので、メンテナン
スが容易になる。
【0079】請求項2記載のコンタクトプローブによれ
ば、前記第1のコンタクトプローブのパターン配線は密
に形成され、第2のコンタクトプローブのパターン配線
は粗に形成されているので、それぞれのパターンサイズ
に見合うように両者を製造コストに合わせて別プロセス
で形成することもできる。このようにすると、コンタク
トプローブ全体を密な配線パターンに対応した高コスト
の製造工程で製造する場合と比較して、全体としての製
造コストを下げることができる。
【0080】請求項3記載のコンタクトプローブにおい
ては、第1のコンタクトプローブのパターン配線が、そ
の先端において密に形成されており、他端において粗に
形成されているため、第2のコンタクトプローブの粗な
配線パターンと電気的接続を行う場合に、合わせ余裕が
大きくなるという利点がある。
【0081】請求項4記載のコンタクトプローブにおい
ては、配線パターンが密な第1のコンタクトプローブの
占有面積が第2のコンタクトプローブの占有面積と比較
して小さく形成されて、両者が接合されて1つのコンタ
クトプローブを形成するので、コンタクトプローブ全体
としての製造コストが低減できる。
【0082】請求項5記載のコンタクトプローブにおい
ては、第2のコンタクトプローブが市販のFPCにより
形成され、それが第1のコンタクトプローブと接続され
て1個のコンタクトプローブを形成しているので、コン
タクトプローブ全体を製造するためのコストが低減でき
る。
【0083】請求項6記載のコンタクトプローブにおい
ては、第1のコンタクトプローブと第2のコンタクトプ
ローブとが、異方性導電テープにより接着されるため、
第1のコンタクトプローブと第2のコンタクトプローブ
との位置合わせ余裕が増大する。さらにテープによる接
着なので、破損時の第1のコンタクトプローブの交換等
のメンテナンスがさらに容易になる。
【0084】請求項7記載のコンタクトプローブによれ
ば、前記フィルムが、例えば水分を吸収して伸張し易い
樹脂フィルム等であっても、該フィルムには、金属フィ
ルムが直接張り付けられているため、該金属フィルムが
前記フィルムの伸びを抑えることができる。したがっ
て、このようなコンタクトプローブにおいては、フィル
ムの伸びによって測定対象のパッドとのコンタクト位置
がずれることがなく、ピン位置の認識を誤ることが防止
される。さらに、該金属フィルムは、グラウンドとして
用いることができ、それにより、コンタクトプローブの
先端近くまで基板配線側との特性インピーダンスのずれ
を最小限に押さえることが可能となり、高周波域でのテ
ストを行う場合にも反射雑音による誤動作等の悪影響を
防ぐことができる。
【0085】請求項8記載のコンタクトプローブによれ
ば、前記金属フィルムに第二のフィルムが直接張り付け
られているため、メカニカルパーツによるコンタクトプ
ローブの組み込み時の締付けに対して緩衝材となるとい
う作用効果を得ることができる。したがって、組み込み
時に配線パターンに与えるダメージを軽減することがで
きるという作用効果を得ることができる。また、LCD
用のものにあっては、金属フィルムとTABICの端子
とのショートを防止することができる。
【0086】請求項9記載のプローブ装置によれば、前
記強弾性フィルムが設けられ、該強弾性フィルムがコン
タクトピンの先端を上方から押さえるため、ピン先端が
上方に湾曲したものが存在しても、測定対象物に確実に
接触させることができ、各ピンに均一な接触圧が得られ
るところから接触不良による測定ミスをなくすことがで
きる。したがって、このようなプローブ装置において
は、コンタクトピンの位置を正確に認識でき、全ピンの
うち数本に上方に湾曲したものが含まれていたとしても
測定対象物に接触する時のピン位置は、強弾性フィルム
により矯正され、全ピン位置が整列されるため、結局の
ところ、全ピン位置を正確に認識することが可能とな
る。
【0087】請求項10記載のプローブ装置によれば、
前記フィルムが前記強弾性フィルムよりも先端側に長く
形成されて該強弾性フィルムがコンタクトピンを押圧す
るときに緩衝材となるため、繰り返し使用しても、強弾
性フィルムとの摩擦によりコンタクトピンが歪んで湾曲
すること等がなく、測定対象物に対して安定した接触を
保つことができる。したがって、このようなプローブ装
置においては、ピン位置を正確に認識でき、その場合に
前記フィルムによりピンの歪み等が抑えられているた
め、全ピンの位置をさらに正確に把握することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るコンタクトプローブの第1の実
施形態におけるコンタクトプローブを示す平面図であ
る。
【図2】 本発明に係るコンタクトプローブの第1の実
施形態における側面図である。
【図3】 本発明に係るコンタクトプローブの第1の実
施形態におけるコンタクトプローブを製造する工程を示
す工程図である。
【図4】 本発明に係るコンタクトプローブの第1の実
施形態における異方性導電テープを用いた第1のコンタ
クトプローブのパターン配線と第2のコンタクトプロー
ブのパターン配線を電気的に接続する原理を示した原理
図である。
【図5】 本発明に係るコンタクトプローブの第1の実
施形態における異方性導電テープを用いた第1のコンタ
クトプローブのパターン配線と第2のコンタクトプロー
ブのパターン配線を電気的に接続する原理を示した原理
図である。である。
【図6】 本発明のコンタクトプローブの第1の実施の
形態を示す第1のコンタクトプローブと第2のコンタク
トプローブ及びメカニカルパーツの連結時の位置決めの
仕方を示す概略図である。
【図7】 本発明に係るコンタクトプローブの第2の実
施形態を示すコンタクトプローブの平面図である。
【図8】 本発明に係るプローブ装置の第4の実施形態
におけるコンタクトプローブを示す斜視図である。
【図9】 図8のA−A線視断面図である。
【図10】 本発明に係るプローブ装置の第4の実施形
態におけるコンタクトプローブ挟持体を示す分解斜視図
である。
【図11】 本発明に係るプローブ装置の第4の実施形
態におけるプローブ装置を示す斜視図である。
【図12】 本発明に係るプローブ装置の第4の実施形
態におけるコンタクトプローブ挟持体を示す斜視図であ
る。
【図13】 図11のB−B線断面図である。
【図14】 本発明に係るプローブ装置の第5の実施形
態に関してコンタクトプローブの従来の欠点を示す側面
図である。
【図15】 本発明に係るプローブ装置の第5の実施形
態に関してプローブ装置の従来の欠点を示す側面図であ
る。
【図16】 本発明に係るプローブ装置の第5の実施形
態におけるプローブ装置を示す側面図である。
【図17】 本発明に係るコンタクトプローブの第6の
実施形態に関して図11のD方向矢視図である。
【図18】 本発明に係るコンタクトプローブの第6の
実施形態におけるコンタクトプローブを示す側面図であ
る。
【図19】 本発明に係るプローブ装置の第7の実施形
態におけるプローブ装置を示す側面図である。
【図20】 本発明に係るプローブ装置の第8の実施形
態におけるコンタクトプローブを示す側面図である。
【図21】 本発明に係るプローブ装置の第8の実施形
態におけるプローブ装置を示す側面図である。
【図22】 本発明に係るプローブ装置の第9の実施形
態におけるコンタクトプローブを示す側面図である。
【図23】 本発明に係るプローブ装置の第9の実施形
態におけるプローブ装置を示す側面図である。
【図24】 本発明に係るプローブ装置の第10の実施
形態におけるコンタクトプローブを示す側面図である。
【図25】 本発明に係るプローブ装置の第10の実施
形態におけるプローブ装置を示す側面図である。
【符号の説明】
1 コンタクトプローブ 1a 第1のコンタクトプローブ 1b 第2のコンタクトプローブ 2 フィルム(樹脂フィルム) 3 パターン配線 3a コンタクトピン 5 接合面 7 異方性導電テープ 100 プローブ装置 110 コンタクトプローブ挟持体 200 コンタクトプローブ 200a 第1のコンタクトプローブ 200b 第2のコンタクトプローブ 201 フィルム 201a フィルム(幅広フィルム) 202 第二のフィルム 300 回路(TABIC) 301 端子 400 強弾性フィルム 500 金属フィルム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 立川 宣芳 兵庫県三田市テクノパーク十二番の六 三 菱マテリアル株式会社三田工場内 (72)発明者 吉田 秀昭 兵庫県三田市テクノパーク十二番の六 三 菱マテリアル株式会社三田工場内

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の第1のパターン配線がフィルム上に
    形成され、該フィルムの一方の先端部から、これらの第
    1のパターン配線の各先端が突出状態に配されてコンタ
    クトピンとされる第1のコンタクトプローブと、 前記第1のパターン配線と接続される複数の第2のパタ
    ーン配線がフィルム上に形成された第2のコンタクトプ
    ローブとが、別個に形成されて連結されていることを特
    徴とするコンタクトプローブ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のコンタクトプローブにお
    いて、 前記第1のパターン配線は密に形成されてなり、 前記第2のパターン配線は前記第1のパターン配線と接
    続される近傍においては密に形成されると共に、前記近
    傍から離間した位置においては粗に形成されてなること
    を特徴とするコンタクトプローブ。
  3. 【請求項3】 請求項1記載のコンタクトプローブにお
    いて、 前記第1のパターン配線が前記先端部において密に形成
    されてなるとともに、その他端部において粗に形成され
    てなり、 前記第2のパターン配線が粗に形成されて、前記他端部
    において、前記第1のパターン配線と接続されてなるこ
    とを特徴とするコンタクトプローブ。
  4. 【請求項4】 請求項1から3までに記載のコンタクト
    プローブにおいて、 前記第1のコンタクトプローブは、前記第2のコンタク
    トプローブと比較して、面積が小に形成されていること
    を特徴とするコンタクトプローブ。
  5. 【請求項5】 請求項1から4までのいずれかに記載の
    コンタクトプローブにおいて、 前記第2のコンタクトプローブが、フレキシブル・プリ
    ンテッド・サーキットからなることを特徴とするコンタ
    クトプローブ。
  6. 【請求項6】 請求項1から5までのいずれかに記載の
    コンタクトプローブにおいて、 前記第1のコンタクトプローブと前記第2のコンタクト
    プローブとは、該第1のコンタクトプローブの前記第1
    の配線パターンが形成されている側の面と、前記第2の
    コンタクトプローブの前記第2の配線パターンが形成さ
    れている面とが向き合うようにして、異方性導電テープ
    により接着されていることを特徴とするコンタクトプロ
    ーブ。
  7. 【請求項7】 請求項1から6までのいずれかに記載さ
    れたコンタクトプローブにおいて、 前記フィルムには、金属フィルムが直接張り付けられて
    いることを特徴とするコンタクトプローブ。
  8. 【請求項8】 請求項7記載のコンタクトプローブにお
    いて、 前記金属フィルムには、第2のフィルムが直接張り付け
    られていることを特徴とするコンタクトプローブ。
  9. 【請求項9】 請求項1から8までのいずれかに記載の
    コンタクトプローブを、前記パターン配線の各基端に接
    続される端子を有する回路に接続してなるプローブ装置
    であって、 このプローブ装置は、前記フィルム上に配されて該フィ
    ルムから前記コンタクトピンよりも短く突出する強弾性
    フィルムと、 この強弾性フィルムと前記コンタクトプローブとを挟持
    するコンタクトプローブ挟持体とを備えていることを特
    徴とするプローブ装置。
  10. 【請求項10】 請求項9記載のプローブ装置におい
    て、 前記フィルムは、前記強弾性フィルムが前記コンタクト
    ピンを押圧するときに緩衝材となるように前記強弾性フ
    ィルムよりも先端側に長く形成されていることを特徴と
    するプローブ装置。
JP30332296A 1996-05-23 1996-11-14 コンタクトプローブおよびそれを備えたプローブ装置 Withdrawn JPH10142260A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007105732A1 (ja) * 2006-03-14 2009-07-30 パナソニック株式会社 光ピックアップ装置およびそれを搭載した光ディスク装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPWO2007105732A1 (ja) * 2006-03-14 2009-07-30 パナソニック株式会社 光ピックアップ装置およびそれを搭載した光ディスク装置

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