JPH10121255A - 3次元物品に遮断被膜を蒸着するための装置 - Google Patents
3次元物品に遮断被膜を蒸着するための装置Info
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Abstract
対し良好なプラズマ蒸着を行う。 【解決手段】 プラズマ蒸着により、無機材料の被膜が
低融解温度ポリマー物品を含む3次元物品上に形成さ
れ、この被膜は優れた気体および/または水に対する遮
断特性を有する。
Description
材料の被膜を付着させることができるプラズマ化学蒸着
(以下、単にPECVDともいう)処理に用いるための
装置に関し、その3次元物品には融解温度の低いポリマ
ー物品が含まれる。また、上記被膜は気体および/また
は水蒸気に対して優れた遮断特性を有するものである。
の重要性が増すにつれてポリマーからなる物品の遮断特
性を改善することが特に必要となっている。
とによって相当の利益を得ることが可能なものであり、
このような製品には、限定はされないけれども、採集チ
ューブ、特に採血用のチューブが含まれる。また、ポリ
マーからなる物品における上述した遮断特性の改善は、
食品、化粧品等についても適用できるものである。
には医療の用途で用いられるために満たすべき一定の性
能基準が求められる。このような性能基準としては、1
年間にわたって初期の吸込み体積(draw volume) の約9
0%以上を維持する能力、放射線滅菌を可能とする能
力、また、検査や分析においてこれらを干渉しない能力
が含まれる。
にプラスチック製の排気された採血チューブの遮断特性
を改善し一定の性能基準を満たし、また物品が医療の用
途において有効かつ使用可能なものである必要がある。
膜もしくは金属酸化物の膜が、ポリプロピレンフィルム
に対する薄い遮断被膜として用いられている。しかしな
がら、ガラス状薄膜は、それが合成されたものである場
合大体において連続的なガラス状ではなく形態的には実
質的に粒状であり、このため、酸素や水蒸気に対して真
の連続ガラス物品が有しているような遮断特性を有する
ことはない。
点を解消するため、ガラス状膜を堆積し、それらの膜の
間に連続有機ポリマーの膜を挿入することが知られてい
る。このような積層の多層被膜はポリプロピレンフィル
ムにおける対酸素遮断特性を改善するが、そのような層
状化はガラス状の遮断を生じさせるものではなく、単に
金属酸化物被膜とアクリレイト被膜の積層物としての機
能を果すだけである。
ガラスと同様の気体および水に対する遮断性能を達成で
きるようにすることが望ましい。
よる遮断膜を生成するのに用いられる方法で現在あるも
のは、主に2次元的な表面に適したものである。このよ
うな方法で3次元物体用に開発されてきたものは、高充
填密度のマトリクス配置処理におけるスケールアップに
それ程適したものではない。本発明の処理は、このよう
なスケールアップに良好に適合したものである。
れ以上の3次元物品(例えば、中空物品)の外表面にプ
ラズマ化学蒸着による遮断膜を被覆できる装置および方
法に関するものであり、次の構成を有するものである。
外表面にプラズマ化学蒸着による遮断膜を被覆できる装
置において、空密減圧室と、前記物品にモノマーを送る
手段と、前記物品に酸化剤を送る手段と、前記物品の内
表面の内側に高周波電力の供給された電極を挿入する手
段と、少なくとも2つの電極と、前記物品を収容する前
記室の内部を減圧しこれを維持するための手段と、前記
空密減圧室に上記要素を収容する手段と、を具え、前記
装置はポンプステーションに蒸着され、および前記室は
前記物品の内側にエネルギーを導入する手段に取付けら
れ、該手段は高周波電力発生器であることを特徴とする
装置を用意し、 b)開口端部、閉端部、外部、内部および外表面および
内表面を有する少なくとも2つの3次元物品を位置決め
し、前記開口端部を前記少なくとも1つの前記電極上に
おき、 c)前記物品を収容する前記室を排気して、5mTor
r未満の圧力とし、 d)前記外表面に対し、モノマーガスを約1〜5scc
mで、約80mTorr〜160mTorrの圧力で送
出し、 e)前記外表面に対し、酸化剤ガスを約50〜150s
ccmで、約80mTorr〜160mTorrの圧力
で送出し、 f)前記電極に対し、約1〜50MHz、0.1〜2ワ
ット/cm2 の高周波電力を送り、および g)40〜100nm/minの速度で前記物品上に遮
断被膜を得る。
る装置に関し、かかる処理によって密な間隔でマトリク
ス配置された3次元物品に無機材料の被膜を付与するこ
とが可能となるものである。この無機材料はSiOx
(ここで、xは約1.4から約2.5)のような金属酸
化物やアルミ酸化物をベースとした組成物とすることが
できる。シリコン酸化物をベースとした組成物は大体に
おいて稠密で蒸気を通さないものであり、望ましくは揮
発性の有機シリコン化合物と、酸素や亜酸化窒素のよう
な酸化剤から誘導されるものである。シリコン酸化物を
ベースした材料の厚さは、好ましくは約50nmから4
00nmである。
40の概要を表わす図である。この装置を使用する場
合、ポリマーのチューブは電極43の上部におかれ、ま
た、室44は所定のベース圧力、好ましくは5mTor
r未満の圧力まで排気される。有機シリコンの蒸気(例
えばHMDSO(ヘキサメチルジシロキサン))と酸化
剤(例えば酸素)は、それぞれ管41および42を介し
て装置内に導くことができる。垂直流れについて直径が
約12インチの系では、HMDSOについて約1〜5s
ccmの流れが、また、酸素については約50〜150
sccmの流れが用いられる。この系では、一定の速度
で連続的にポンプ作用を行うことにより、約80〜16
0mTorrの圧力が維持される。本装置は、ポンピン
グステーション46上に装着されている。
および適合システム45が用いられ、これにより電極の
数および近さに応じて、約1〜50MHzの周波数のプ
ラズマおよび約0.1〜2ワット/cm2 の単位電極面
積あたりの電力を発生することができる。これによっ
て、SiOx は蒸着の対象となる物品上に40〜100
mm/min程度の速さで蒸着する。有効な遮断特性
は、50〜400nmの厚さの被膜によって実現するこ
とができる。
F周波数について、電極の電位はピークからピークで約
500V〜1000Vの振幅の振動を行う。所定のRF
に関して、電力の振幅は周波数の増加につれて減少し、
また、周波数の減少につれて増加する。適合システムが
ブロッキングコンデンサを有しており、また、電極の回
路の一部がプラズマにさらされる場合は、プラズマによ
る電子電流は電極において約−100V〜−400Vの
負の直流バイアスを生じさせる。このバイアスは、プラ
ズマにさらされる電極回路の面積を小さくすること、お
よび/またはRF電流をブロックするインダクタによっ
て電極電位の直流成分を短絡することによって減少させ
ることができ、あるいはほとんど除去することができ
る。
さに熱崩壊を生じさせないようポリマー物品に対しエネ
ルギーの一部を伝えることである。このようなエネルギ
ーの吸収は、処理時間、イオン流およびこれらのイオン
を加速するプラズマシースの電位の結果として生じるも
のである。これらの作用は真空下において生じるから、
熱伝導や熱対流はほとんど生じず、吸収されたエネルギ
ーのほとんどは保持される。
を生成するためには、物理的および化学的特性について
狭い範囲で満たすようにする必要がある。いずれの特性
を満たさない場合でも、膜は透過性の高いものとなる。
プラズマ蒸着のパラメータに対する対酸素遮断特性をプ
ロットした応答曲面(図2参照)によれば、最適な遮断
は、酸素およびHMDSOの流量と系の圧力とからなる
マトリクス空間において狭い範囲のみで生ずることがわ
かる。この範囲外では、モノマーが過大である場合軟質
ポリマーの膜を、酸素が過大である場合高応力でかつ破
壊し易い膜をそれぞれ生じ、また、圧力が低い場合蒸着
速度が遅く、一方圧力が高い場合粉状の蒸着をもたらす
気体相の核形成を生じることになる。
の間に膜において適切なイオンのボンバードが生じるこ
とがなければ遮断は劣ったものとなる。基体表面近くの
電界は、蒸着速度を増す上で重要であり、また、イオン
のボンバードに基づいて膜を確定し、これにより微小気
泡や粒状組織を排除する上で最も重要である。しかしな
がら、過大なイオンエネルギーは膜の熱的な破壊をもた
らし得るものである。これらの要求をバランスするため
には、電極の総数、電極の間隔、RF周波数、RF電力
およびプラズマと接地導線との結合を適切に組合せる必
要がある。
の周囲にRFプラズマ放電を生じ、同時に電界を形成し
て表面に向うイオンを加速する。この放電によって反応
種を生じ、これにより結合して膜となるものを形成する
ことができる。一方、電界は放電とは別に蒸着材料を不
浸過性の膜に含浸させる。ある系配置ではこれらの両方
の過程が同時かつ適切に生じるとは限らない。事実、処
理が行われる空間全体にわたって遮断が達成されない例
もある。
mの距離で最も強度が大きく、また、距離が大きくなる
程密度が減少する。ともになった電極が、数cmまたは
それ以下、例えば0.5〜15cmの間隔を有したマト
リクス配置とされる場合、上述の放電領域は重複し、ま
た、プラズマ密度は隣接領域の効果によって増大する。
このことによって、より低いRF電力で必要な化学反応
を生じさせるのに必要とされ得る所定のプラズマ密度を
得ることが可能となる。前述したように、電極の電位は
シース場を制御するものであり、RF電力およびRF周
波数に依存する。プラズマのポテンシャルは、上述した
要因の影響を受け、加えて、接地チャンバー壁のような
導電性表面の近傍に向う帯電した反応種の流れの影響を
受ける。このように、好結果を生む系では、注意深く各
処理パラメータを適合させるとともに配置設計が必要と
なる。
に応じて多様な形態で実施可能なものである。
の構成が好ましく、図1に示す装置で用いることが可能
なものである。10個の電極は13×100mmのPE
T(ポリエチレンテレフタレート)チューブの内部に係
合するものであり、図3に示すようにマトリクス配置さ
れる。この図において電極には位置に応じた番号1〜1
0が付されている。本例では、電極の中心間の距離は4
cmであるが、これに限定されるものではない。本例で
は、2.6sccmのHMDSOの流れと70sccm
の酸素の流れが実施され、また、圧力はポンプの絞り弁
調整によって120mTorrに調整される。そして、
SiOx の3分間の蒸着が11.9MHz、120ワッ
トの高周波励起によって実施される。これによって、電
極には直流バイアス−230Vを有したピークからピー
クで770VのRF振幅が作用する。本例のチューブは
ほぼ40cm2 の表面積を有するから、0.3W/cm
2の電力が投入されることになる。以上の処理によって
気体および水蒸気に対する改善された遮断特性を得るこ
とができ、この特性は処理が施されていない1mm厚の
PETチューブの場合のほぼ3倍の遮断特性となる。
存するものである。例えば、電極をより広く散在させる
場合は遮断膜を形成するのにより大きな単位面積当りの
電力を必要とし、また、上例のマトリクス配置において
外側のコーナー、すなわち、図3の#2,3,8および
9の電極に4つのチューブのみ配置する場合は電力を増
して適切なプラズマ密度を生成するようにすると、相当
の遮断が得られる前に熱崩壊を生じることになる。この
場合には、電極に915Vのピークからピークの振幅を
用いても上例の10個の電極を用いた770Vのピーク
からピークの振幅によって得られるものに匹敵する蒸着
を得ることはできない。また、直流バイアスは、Gibso
n, Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 223 (1991)やGreen,
Mat. Res.Soc. Symp. Proc., 165 (1990) などのPEC
VDによる膜蒸着に関する出版物において、イオンボバ
ードについて重要な要因として説明されているが、ここ
では関係のないことは明らかである。すなわち、電極回
路を8000μHの接地インダクタに接続することによ
り、このようなバイアスは損失や妨げもなく完全にゼロ
まで減少させることができるからである。インダクタを
有する系列に抵抗体を挿入することにより、バイアスを
段階的に減少させることができる。このことが生じる
と、プラズマのポテンシャルはまさに転移し、基体の表
面電荷はシース電位を維持するものとなる。
気体流れ、圧力およびRF周波数、また調整を同様のも
のとし、電力を148ワットの2分間とした処理を行っ
た。この処理によれば水に対する遮断は処理がなされて
いないチューブのほぼ2.5倍となった。
プラズマを用いる以外上例と同様の処理を行った。これ
によれば、未処理の場合の1.7倍の遮断を得ることが
できた。
レンの性能をプラズマ蒸着の間の圧力(mTorr)と
酸素流れ(sccm)の関数として表わした図である。
電極およびその位置が示され、また、図1の装置で用い
ることができる電極のマトリクスが示される図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 2つまたはそれ以上の3次元物品の外表
面にプラズマ化学蒸着による遮断膜を被覆できる装置に
おいて、 空密減圧室と、 前記物品にモノマーを送る手段と、 前記物品に酸化剤を送る手段と、 前記物品の内表面の内側に高周波電力の供給された電極
を挿入する手段と、 少なくとも2つの電極と、 前記物品を収容する前記室の内部を減圧しこれを維持す
るための手段と、 前記空密減圧室に上記要素を収容する手段と、 を具え、前記装置はポンプステーションに蒸着され、お
よび前記室は前記物品の内側にエネルギーを導入する手
段に取付けられ、該手段は高周波電力発生器であること
を特徴とする装置。 - 【請求項2】 前記空密減圧室は電極および3次元物品
の周囲に生成されるプラズマ放電に近接するか、または
前記空密減圧室は接地表面に近接することを特徴とする
請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】 前記装置は、少なくとも10個の電極と
該10個の電極を保持する手段を具えたことを特徴とす
る請求項1に記載の装置。 - 【請求項4】 前記装置は、少なくとも20個の電極と
該20個の電極を保持する手段を具えたことを特徴とす
る請求項1に記載の装置。 - 【請求項5】 前記電極は、約0.5〜15cmの間隔
を有していることを特徴とする請求項3に記載の装置。 - 【請求項6】 前記電極は、約0.5〜15cmの間隔
を有していることを特徴とする請求項4に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
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