JPH10109440A - 画像記録装置 - Google Patents

画像記録装置

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JPH10109440A
JPH10109440A JP26688696A JP26688696A JPH10109440A JP H10109440 A JPH10109440 A JP H10109440A JP 26688696 A JP26688696 A JP 26688696A JP 26688696 A JP26688696 A JP 26688696A JP H10109440 A JPH10109440 A JP H10109440A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高画質および高密度の画像記録を高速で実現
することができ、光量のバラツキや変動による画質劣化
を防ぐこと。 【解決手段】 画素密度に応じて配置された半導体レー
ザ素子2aから出射された各レーザビーム3を集光点4
aに集光させ、集光点4aに配置した結像レンズ系5に
よって感光体ドラム7上に結像するようにした。また、
所定のタイミングで、半導体レーザ素子2aから出射さ
れた各レーザビーム3の光量を個別に検出し、この検出
結果に基づいて各半導体レーザ素子2aの駆動条件を制
御するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザアレイを備
えた画像記録装置に関し、特に、高画質および高密度の
画像記録を高速で実現することができ、且つ、各半導体
レーザ素子の光量のバラツキや変動による画質劣化を防
いだ画像記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子写真方式による光プリンタや
ディジタル複写機等の画像記録装置では、画質の向上が
要求され、記録画像の高精度化、すなわち高密度化等を
達成するための技術開発が進んでいる。
【0003】従来の画像記録装置として、ポリゴンミラ
ーを有したレーザビーム走査装置を用いたものが知られ
ている。この画像記録装置は、レーザ光源から画像信号
に応じて変調されたレーザビームを出射し、このレーザ
ビームをポリゴンミラーで主走査方向に走査して副走査
方向に回転する感光体ドラムを露光し、感光体ドラム上
に静電潜像を形成し、この静電潜像に基づいて画像記録
を実現している。
【0004】しかし、レーザビーム走査装置を用いた画
像記録装置によると、ポリゴンミラーの回転速度の高速
化の制約により、記録速度の高速化に限界がある。ま
た、ポリゴンミラーを回転させるモータの騒音や信頼性
の点で問題を生じている。
【0005】そこで、記録速度の高速化を図るため、ポ
リゴンミラーを使用しないで記録画像のパターンに応じ
て駆動されることにより複数の光ビームを出射するアレ
イ状光源を使用した画像記録装置が検討されている。
【0006】このポリゴンミラーを使用しない従来の画
像記録装置として、LEDアレイや蛍光表示管、液晶シ
ャッターアレイ等のイメージバーを用いたものが提案さ
れているが、これらは光量の少ない点から高速化に限界
があり、更に、高解像度のための微小スポットの形成や
スポットの集積化が困難である。
【0007】そこで、そのような問題に対処してなされ
た従来の画像記録装置として、例えば、特開昭64−4
2667号公報に示されるものがある。この画像記録装
置は、半導体レーザ素子をアレイ状に配列して成るレー
ザアレイを感光体ドラムに近接配置して感光体ドラムを
直接露光する構成を有している。この画像記録装置によ
ると、レーザアレイを高速で駆動し、感光体ドラムをレ
ーザアレイの駆動速度に応じた回転速度で駆動すること
によって高速の画像記録が行える。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の画像記
録装置によると、レーザアレイを感光体ドラムに直接対
面させて配置しているので、レーザアレイから出射され
るレーザビームの結像度が十分でないことから、例え
ば、昨今要求されている1200dpiといった高密度
の画像記録を高画質で行うことができない。一方、レー
ザアレイと感光体ドラムの間にセルフォックレンズアレ
イを配置して結像度を上げようとしても、各レンズ素子
が画素密度の高密度化に伴ってレンズ口径が小さくなる
ので、MTF(Modulation Transfe
r Function)が低下して記録密度が低下す
る。
【0009】また、レーザアレイの各半導体レーザ素子
間に光量のバラツキがあるため、画質を劣化させるとい
う問題を生ずる。また、レーザアレイの使用条件の違い
やレーザアレイの各半導体レーザ素子の雰囲気温度が変
化したり、各半導体レーザ素子の経時的な特性が変化す
ると、光量が変動して画質を劣化させるという問題を生
ずる。
【0010】従って、本発明の目的は、高画質及び高密
度の画像記録を高速で実現することができる画像記録装
置を提供することである。
【0011】本発明の他の目的は、光量のバラツキや変
動による画質劣化を防ぐことができる画像記録装置を提
供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点に鑑
み、上記の目的を達成するため、複数の半導体レーザ素
子を少なくとも主走査方向にアレイ状に配列したレーザ
アレイと、前記複数の半導体レーザ素子から出射される
各レーザビームによって露光され、前記レーザアレイと
相対的に副走査方向に移動することによって画像信号に
応じた静電潜像が形成される感光体とを備えた画像記録
装置において、前記複数の半導体レーザ素子から出射さ
れる前記各レーザビームを共通の集光点に集光する集光
手段と、前記集光点、或いはその近傍に配置され、前記
各レーザビームを前記感光体上に結像させる結像手段
と、前記各レーザビームの光量を個別に検出する光検出
手段と、前記光検出手段が検出した前記各レーザビーム
の光量に基づいて前記複数の半導体レーザ素子の駆動条
件を制御する制御手段とを備えた画像記録装置を提供す
るものである。上記構成によれば、レーザアレイを用い
ることで、ビーム光量が多くなるので、画像記録の高速
化が可能となり、高密度化のためのスポットの集積化が
可能となる。また、画素密度に応じて配置された半導体
レーザ素子から出射された各レーザビームを集光点に集
光させ、集光点あるいはその近傍に配置した結像レンズ
系によって感光体上に結像するようにしたので、レーザ
ビームのビーム径に対して十分大きな口径を有した結像
レンズ径を使用することが可能になり、MTFおよび焦
点深度を画素密度に応じた値にすることができる。その
結果、高画質および画素密度の高い画像を高速で記録す
ることが可能となる。また、所定のタイミングで、各レ
ーザビームの光量を個別に検出し、この検出結果に基づ
いて各半導体レーザ素子の駆動条件を制御することで、
各レーザビームの光量のバラツキや変動を少なくして画
質劣化を防ぐことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施
の形態に係る画像記録装置の構成を示す斜視図である。
なお、同図において、Xは光軸方向、Yは主走査方向、
Zは副走査方向をそれぞれ示す。この画像記録装置1A
は、n×m個の面発光半導体レーザ素子(以下「レーザ
素子」と略す。)2aをアレイ状に配置し、各レーザ素
子2aからレーザビーム3を同時に独立して出射可能な
半導体レーザアレイ2と、各レーザ素子2aから出射さ
れた複数のレーザビーム3を結像レンズ系5の主点であ
る集光点4aを集光させるフィールドレンズ等の集光レ
ンズ系4と、個々のレーザビーム3を発散光から収束光
に変換して感光体ドラム7上に集光させ、かつレーザ素
子2aの発光パターンを所望の倍率にて投影させる結像
レンズ系5と、主走査方向Yおよび副走査方向Zの投影
倍率を変えるアフォーカルレンズ6と、レーザビーム3
によって露光されることにより静電潜像を形成する感光
体ドラム7と、各レーザビーム3の光量を個別に検出す
る光量検出ユニット10Aとを備えている。
【0014】また、この画像記録装置1Aは、感光体ド
ラム7の周囲に、帯電器、現像器、転写器等を設け、転
写器の前段には給紙部、転写部の後段には定着器、排紙
部等を設けている。これらの各ユニットは、説明上図示
を省略する。
【0015】結像レンズ系5は、例えば、オルソメタレ
ンズ群、クセノタール系レンズ、あるいはダブルガウス
系レンズが適用される。なお、結像レンズ系5は、集光
点4a近傍に配置されてもよい。
【0016】感光体ドラム7は、例えば、300mmの
長さを有し、図示しない支持ローラによって回転可能に
支持され、レーザビーム3の結像点5aが感光体面7a
と一致するように位置決めされている。
【0017】光量検出ユニット10Aは、主走査方向Y
に平行に配置されたガイドレール100と、ガイドレー
ル100に沿って主走査方向Yに移動する支持台101
と、支持台101に支持され、各レーザビーム3の光量
を個別に検出する光検出器102と、主走査方向Yに互
いに離間して配置された一対のプーリ103A、103
Bと、プーリ103Aを回動させるパルスモータ、DC
サーボモータ等のモータ104と、一対のプーリ103
A、103B間に張架されたベルト105と、支持台1
01とベルト105とを連結する連結部材106とを備
えている。
【0018】光検出器102は、集光レンズ系4、結像
レンズ系5およびアフォーカルレンズ6を通過し、感光
体ドラム7に照射される直前の各レーザビーム3の光量
を検出できるよう配置される。
【0019】図2はレーザアレイ2の要部正面図であ
る。レーザアレイ2は、主走査方向Yに沿って所定の間
隔で設けられたn本のY方向基線Nと、Y方向基線Nに
対して角度θを有した所定の間隔で設けられたm本のθ
方向基線Mとの各交点にn×m個の開口径Dのレーザ素
子2aを形成している。例えば、長さ300mmの感光
体ドラムに600dpiの解像度で画像記録を行う場
合、レーザアレイ2のスポット数は7200個となり、
3インチウェハを用いた場合、nを6以上、mを120
0以下、θ方向基線Mの間隔を40μmとすると、主走
査方向Yの全長は50mm以下となる。また、スポット
間隔を更に狭くすることが可能である場合は、nを6以
下にしても良い。また、更に高解像度の1200dpi
で画像記録を行う場合も、主走査方向Yの全長が50m
m以下となるようにレーザ素子2aを主走査方向Yと副
走査方向Zに配列させるのが良い。また、4インチウェ
ハを用いる場合には、主走査方向の全長が70mm以下
となるようにレーザ素子2aを配列させることが望まし
い。
【0020】図3は光検出器102の受光面を示す図で
ある。光検出器102は、副走査方向Zの全てのレーザ
ビーム3が入射するように構成された矩形状(円形状)
の単一の光検出素子102aを備えている。レーザアレ
イ2は、主走査方向Yおよび副走査方向Zに2次元状に
配列されているが、副走査方向Zの長さが主走査方向Y
に比べて十分短いため、このように構成しても支障なく
レーザビーム3の光量を個別に検出することができる。
【0021】図4はこの装置1Aの制御系の主要部を示
すブロック図である。この装置1Aは、装置1A全体の
制御を行うCPU20を有し、CPU20のバス20a
に、CPU20のプログラム(テストモード用のプログ
ラム、画像記録モード用のプログラム等)を記憶するR
OM21と、各種の情報を記憶するRAM22と、A/
D変換器23を介して光検出器102から出力される検
出値をラッチするラッチ回路24と、モータ104を駆
動するモータ駆動回路25と、基本クロックを出力する
クロック発生回路26と、D/A変換器27を介して接
続され、レーザアレイ2を駆動する駆動信号を出力する
レーザ駆動回路28と、補正データメモリ29と、画像
信号を記憶した画像メモリ20と、画像メモリ20から
画像信号を読み出し、その画像信号を処理して記録パタ
ーンに応じた記録信号を出力する信号処理回路31とを
接続している。
【0022】RAM22には、各レーザ素子2a毎に所
定の光量の基準値が予め記憶されている。この基準値
は、各レーザ素子2aについて同一のものであってもよ
く、装置1A各部の特性等に応じて異なるものであって
もよい。
【0023】補正データメモリ29には、各レーザ素子
2aの駆動電流値の情報が補正データとして予め記憶さ
れている。
【0024】CPU20は、オペレータによって本装置
1Aの電源が投入された際、テストモードを実行し、オ
ペレータの記録操作によって画像記録モードを実行する
ようになっている。
【0025】次に、本装置1Aの動作を図5を参照して
説明する。図5は光検出器102のホームポジションを
示す概略図である。(1) テストモードオペレータが、本
装置1Aの電源を投入すると、CPU20に装置起動信
号が入力される。CPU20は、その装置起動信号に基
づき、ROM21に記憶されているテストモード用のプ
ログラムに従い、以下に説明する如くテストモードを実
行する。光検出器102は、図5に示すように、レーザ
ビーム3a、3b、3cの外側に位置するホームポジシ
ョンで待機している。CPU20は、補正データメモリ
29に予め記憶されている補正データをD/A変換器2
7に出力する。D/A変換器27は、補正データメモリ
29からの補正データをデジタルからアナログに変換し
てレーザ駆動回路28に出力する。レーザ駆動回路28
は、D/A変換器27の出力に基づき、クロック発生回
路26から出力される基本クロックに同期してレーザア
レイ2の各レーザ素子2aを順次駆動し、各レーザ素子
2aは順次発光してレーザビーム3を順次出射する。
【0026】一方、CPU20は、各レーザ素子2aの
順次発光に同期するよう光検出器102を主走査方向Y
へ移動させる。すなわち、CPU20は、モータ駆動回
路25を制御してモータ104を駆動させる。モータ1
04の駆動によりプーリ103Aが回転すると、ベルト
105が走行し、連結部材106が支持台101をガイ
ドレール100に沿って移動させる。光検出器102
は、図4に示すホームポジションから主走査方向Yに沿
って矢印の方向に移動し、各レーザ素子2aからのレー
ザビーム3の光量を個別に検出する。A/D変換器23
は、光検出器102からの光量の検出値をアナログから
デジタルに変換し、ラッチ回路24に出力する。ラッチ
回路24は、クロック発生回路26から出力される基本
クロックに同期して光検出器102からの検出値を順次
ラッチしてCPU20に出力する。CPU20は、光検
出器102の位置に対応してラッチ回路24の出力値
(検出値)をRAM22に記憶する。なお、主走査方向
Yの同一の位置でレーザ素子2aが副走査方向Zに複数
存在する場合は、主走査方向Yの同一の位置における各
レーザ素子2aを順次駆動して各レーザビーム3の光量
を検出してもよい。
【0027】CPU20は、各レーザ素子2a毎にRA
M22が記憶する光量の検出値と基準値とを比較し、検
出値が基準値となるような駆動電流値を演算して求め、
その値を補正データとして補正データメモリ29に記憶
する。CPU20は、全てのレーザ素子2aについて光
量検出が終了すると、モータ駆動回路25を制御して光
検出器102を図4に示すホームポジションに戻し、次
回の検出動作に備える。このようにして、テストモード
が終了する。
【0028】(2) 画像記録モード 上記テストモードが終了し、オペレータが、記録操作を
行うと、CPU20は、ROM21に記憶されている画
像記録モード用のプログラムに従い、以下に説明する如
く画像記録モードを実行する。この画像記録モードで
は、光検出器102は図5に示すホームポジションに待
機している。信号処理回路31は、画像メモリ30から
画像信号を読み出し、その画像信号を処理して記録パタ
ーンに応じた記録信号をD/A変換器27に出力する。
これと同時に、CPU20は、補正データメモリ29に
記憶されているテストモード後の補正データをD/A変
換器27に出力する。D/A変換器27は、信号処理回
路31からの記録信号および補正データメモリ29から
の補正データをデジタルからアナログに変換してレーザ
駆動回路28に出力する。レーザ駆動回路28は、CP
U20の制御の下に、D/A変換器27を介して入力し
た記録信号および補正データに基づいてレーザアレイ2
の各レーザ素子2aを、例えば同時に駆動する。レーザ
アレイ2の各レーザ素子2aからはレーザビーム3が出
射される。各レーザ素子2aから出射されたレーザビー
ム3は、集光レンズ系4によって集光点4aに集光さ
れ、結像レンズ系5によってアフォーカルレンズ6を介
して感光体面7a上に上記テストモードで設定された基
準値の所定の光量で結像される。感光体ドラム7は、レ
ーザビーム3によって露光されることにより静電潜像を
形成する。その後、静電潜像は、現像器によってトナー
現像され、そのトナー像が転写器によって給紙部から給
紙された記録用紙に転写され、更に定着器によって定着
された後、記録用紙は排紙部への送られる。
【0029】次に、本装置1Aの効果を説明する。 (1) レーザアレイ2を用いることで、ビーム光量が多く
なるので、画像記録の高速化が可能となり、高密度化の
ためのスポットの集積化が可能となる。また、画素密度
に応じて配置された半導体レーザ素子2aから出射され
た各レーザビーム3を集光点4aに集光させ、集光点4
aあるいはその近傍に配置した結像レンズ系5によんて
感光体ドラム7上に結像するようにしたので、レーザビ
ーム3のビーム径に対して十分大きな口径を有した結像
レンズ系5を使用することが可能になり、MTFおよび
焦点深度を画素密度に応じた値にすることが可能とな
る。 (2) 本装置1Aの起動時に、半導体レーザ素子2aから
出射された各レーザビーム3の光量を個別に検出し、こ
の検出結果に基づいて各半導体レーザ素子2aの駆動条
件を制御することで、光量変動の主要因が長時間の経時
変化によるものである場合に、各レーザビーム3の光量
のバラツキや変動を少なくして画質劣化を抑制すること
が可能となる。 (3) 光学素子(集光レンズ系4、結像レンズ系5、アフ
ォーカルレンズ6)の後段で光量の検出を行っているの
で、光学素子4、5、6の熱膨張による光量変動を補正
することができる。 (4) 感光体ドラム7上とほぼ等価な位置で光量を検出す
るため、各レーザ素子2aから出射されたレーザビーム
3の光路の違いによって生じる光学素子4、5、6のけ
られも含めた全体の光量を検出できるため、感光体ドラ
ム7上に実際の画像を形成するレーザの光量の補正が可
能となり、精度の高い光量補正を行うことができる。 (5) 1つの光検出素子102aを使用することにより、
複数の光検出素子を使用するのに比べ、光量検出のため
の光検出素子の感度のバラツキによる光量検出値の狂い
が生じることがなく、全ての半導体レーザ素子2aの光
量は同一の光検出素子102aからの出力で制御される
ため、極めて安定した制御を行うことができる。 (6) 光検出器102は、レーザビーム3の光量を検出し
ているので、強度を検出するのと異なり、単一の受光素
子で済むことから、構成を簡素化することができる。 (7) 光検出素子102aは、副走査方向Zの全てのレー
ザビーム3が入射するように構成されているので、光検
出器102を副走査方向Zに移動させることなく、主走
査方向Yにのみ移動させる構成を採用することができ、
移動機構の簡素化を図ることができる。
【0030】図6は本発明の第2の実施の形態に係る画
像記録装置の構成を示す斜視図である。この画像記録装
置1Bは、第1の実施の形態に係る画像記録装置1Aと
は、光量検出ユニット10Bが異なるものであり、他は
第1の実施の形態と同様に構成されている。なお、この
図において第1の実施の形態と同一の部分には同一の引
用数字、符号を付したので重複する説明は省略する。
【0031】この光量検出ユニット10Bは、例えば、
集光点4aを通る軸線を中心とする軸110と、軸11
0に対して回動可能に支持された軸受111と、軸受1
11に接合されたアーム112と、アーム112の先端
に立設された支持台113と、支持台113に配置され
た光検出器102と、アーム112を回動させる図示し
ないモータとを備えている。
【0032】光学素子4、5、6から出射されるレーザ
ビーム3の角度が各レーザ素子2a毎に異なるため、直
線的に光検出器102を移動させた場合、光検出器10
2の受光面での反射率が変わり、実際の光量と検出され
る光量が異なる。特に入射角度が大きい場合は、検出誤
差の要因となるが、この第2の実施の形態によれば、レ
ーザビーム3が光検出器102に直角に入射するため、
精度の高い光量検出を行うことができる。
【0033】図7は本発明の第3の実施の形態に係る画
像記録装置の構成を示す斜視図である。この画像記録装
置1Cは、第1の実施の形態に係る画像記録装置1Aと
同一の光量検出ユニット10Aをレーザアレイ2と集光
レンズ系4との間に配置したものであり、他は第1の実
施の形態と同様に構成されている。なお、この図におい
て第1の実施の形態と同一の部分には同一の引用数字、
符号を付したので重複する説明は省略する。
【0034】本装置のように拡大投影型の場合、光学素
子4、5、6の後方の感光体ドラム7の近傍では、レー
ザビーム3の像は広がっており、ここで光量を検出する
と、光検出器102を広い範囲で移動させなければなら
ず、装置が大型化する。従って、この第3の実施の形態
のように、レーザアレイ2側で光量を検出すれば、光検
出器102の移動範囲は狭くて済むため、装置を小型化
にすることができる。
【0035】図8は本発明の第4の実施の形態を示す図
である。この第4の実施の形態では、光検出器102
は、主走査方向Yに並べて配置された2つの光検出素子
102a、102bを備え、その2つの光検出素子10
2a、102bの間隔を光検出器102が横切るレーザ
ビーム3の光路の幅の半分としたものである。これによ
り、2つのレーザ素子2aの光量を同時に検出すること
ができ、光量補正の高速化が図れる。
【0036】次に、本発明の第5の実施の形態を説明す
る。この第5の実施の形態では、CPU20は、テスト
モードを画像記録期間外に定期的に実行するようにした
ものである。この第5の実施の形態によれば、レーザア
レイ2近傍の温度等のように光量変動の主要因が短い周
期によるものの場合、画像作製期間外に定期的に光量補
正を行うことにより、常に一定の光量が保たれ、画像の
劣化を防止することが可能となる。
【0037】次に、本発明の第6の実施の形態を説明す
る。この第6の実施の形態では、レーザアレイ2に基準
のレーザ素子2a、あるいはレーザアレイ2の近傍に基
準の光源を設け、光量補正を行う際、この基準のレーザ
素子2a、あるいは基準の光源の光量と同じになるよう
に補正するものである。これにより、レーザビーム3の
光量のバラツキをより抑えることができる。
【0038】図9の(a),(b) は、本発明の第7の実施の
形態に係る画像記録装置の構成を示す斜視図であり、
(a) は画像記録モード時の状態を、(b) はテストモード
時の状態をそれぞれ示す。
【0039】この画像記録装置1Dは、第1の実施の形
態に係る画像記録装置1Aとは、光量検出ユニット10
Cと、アフォーカル系が異なるものであり、他は第1の
実施の形態と同様に構成されている。なお、この図にお
いて第1の実施の形態と同一の部分には同一の引用数
字、符号を付したので重複する説明は省略する。
【0040】光量検出ユニット10Cは、副走査方向Z
に平行に配置されたガイドレール120と、ガイドレー
ル120に沿って副走査方向Zに移動する支持部材12
1と、支持部材121に支持され、各レーザビーム3の
光量を個別に検出する光検出器102と、副走査方向Z
に互いに離間して配置された一対のプーリ122A、1
22Bと、プーリ122Aを回動させるモータ123
と、一対のプーリ122A、122B間に張架されたベ
ルト124と、支持部材121とベルト124を連結す
る連結部材125を備えている。
【0041】光検出器102は、副走査方向Zに移動す
るように構成され、画像記録モードの時、各レーザビー
ム3の光路から外れた位置に配置され、テストモードの
時、受光面に全てのレーザビーム3が照射される位置に
配置される。
【0042】アフォーカル系は、レーザビーム3を副走
査方向に拡散させるアナモフィックレンズ8と、レーザ
ビーム3を副走査方向に収束させる感光体面7a上に結
像させるシリンドリカルミラー9から構成されている。
【0043】図10は光検出器102の受光面を示す図
である。光検出器102は、テストモードの配置位置に
おける全てのレーザビーム3の照射領域より大なる受光
領域の単一の光検出素子102Aを備えており、レーザ
アレイ2から順次出射されるレーザビーム3の光量を同
一位置で個別に検出できるようになっている。
【0044】この第7の実施の形態によれば、光検出器
102が同一位置でレーザアレイ2の各レーザ素子2a
の光量を個別に検出するようになっているため、光検出
器102を各レーザ素子2aの出射タイミングに合わせ
て主走査方向に移動させる必要がなく、光検出器102
の移動機構の構成を簡素化することができる。
【0045】次に、本発明の第8の実施の形態を説明す
る。この第8の実施の形態では、レーザアレイ2と集光
レンズ系4の間に第7の実施の形態と同一の光量検出ユ
ニット10Cを配置したものである。この第8の実施の
形態によると、光検出器102の形状や位置が光学系に
依存しないため、光学系が変わった場合でも大きな設計
変更なしに対応ができるという利点がある。
【0046】次に、本発明の第9の実施の形態を説明す
る。この第9の実施の形態では、集光レンズ系4と結像
レンズ5の間に第7の実施の形態と同一の光量検出ユニ
ット10Cを配置したものである。この第9の実施の形
態によると、光検出器102の形状や位置が殆ど光学系
に依存しないため、結像レンズ系5やアフォーカル系が
変わった場合でも大きな設計変更なしに対応ができると
いう利点がある。
【0047】次に、本発明の第10の実施の形態を説明
する。この第10の実施の形態では、シリンドリカルミ
ラー9と感光体ドラム7の間に第7の実施の形態と同一
の光量検出ユニット10Cを配置したものである。この
第10の実施の形態によると、全ての光学系の影響を含
んだ状態で感光体面7aとほぼ等価な光量検出が可能
で、最も精度の高い光量補正を行うことができる。
【0048】図11は本発明の第11の実施の形態の画
像記録装置に係る結像レンズ系5を示す側面図である。
この実施の形態では、第7の実施の形態の画像記録装置
1Dにおいて、結像レンズ系5を第1から第4のレンズ
5A〜5Dより成るクセノタール型レンズと、第2のレ
ンズ5Bと第3のレンズ5Cの間に配置された絞り32
より構成し、図示を省略しているが、絞り32と第3の
レンズ5Cの間に第7の実施の形態と同一の光量検出ユ
ニット10Cを配置したものである。
【0049】この第11の実施の形態では、レーザビー
ム3が集光される位置に光検出器102が配置されるた
め、光検出器102を小型化できるという利点がある。
また、光検出素子102aの同じ位置に全てのレーザビ
ーム3が照射されるため、光検出素子102aの面内に
よって異なる感度のバラツキの影響をなくすことができ
る。
【0050】なお、第7の実施の形態から第11の実施
の形態において、光検出器102の配置位置によっては
単一の光検出素子102aで全てのレーザビーム3の照
射領域をカバーできない場合がある。このような場合に
は、図12の(a) に示すような2つの光検出素子102
Aを有する光検出器102で検出したり、図12の(b)
に示すような3つ以上の光検出素子102Aを有する光
検出器102で検出しても良い。
【0051】図13の(a),(b) は本発明の第12の実施
の形態に係る画像記録装置の構成を示す斜視図であり、
(a) は画像記録モードを、(b) はテストモードをそれぞ
れ示す。この画像記録装置1Eは、第7の実施の形態に
係る画像記録装置1Dとは、光量検出ユニット10Dが
異なるものであり、他は第1の実施の形態と同様に構成
されている。尚、この図において、第7の実施の形態と
同一の部分には、同一の引用数字、符号を付したので重
複する説明は省略する。
【0052】光量検出ユニット10Dは、各レーザビー
ム3の光路から外れた位置に配置された光検出器102
と、結像レンズ系5とアナモフィックレンズ8の間に配
置され、画像記録モードのとき各レーザビーム3の光路
の外側に位置し、テストモードのとき各レーザビーム3
の光路に位置して、各レーザビーム3を光検出器102
に導く反射ミラー130と、画像記録モード時と試験モ
ード時に反射ミラー130を変位させる可動機構部(後
述)より構成されている。
【0053】図14は、可動機構部を示す図である。可
動機構部は、反射ミラー130に設けられた主走査方向
Yに平行なシャフト131と、シャフト131を回転自
在に軸支した軸受132と、反射ミラー130のレーザ
アレイ2と反対側の端部に形成された突起133と、駆
動信号に基づいて図示しないプランジャーを突出させ
て、突起133を押圧することにより、反射ミラー13
0をシャフト131を中心に矢印方向に回転させるソレ
ノイド134と、シャフト131の外周部に巻回される
と共に一端が反射ミラー130に、他端が軸受132に
固定され、反射ミラー130を矢印と反対方向に付勢す
るスプリング135より構成されている。
【0054】この実施の形態では、テストモードでは、
ソレノイド134がオンして、プランジャーを突出する
ことにより反射ミラー130の突起133を押圧し、反
射ミラー130をシャフト131を中心に矢印方向に回
転させ、結像レンズ系5を通過した全てのレーザビーム
3が光検出器12に入射するようにする。一方、画像記
録モードでは、ソレノイド134がオフになり、プラン
ジャーによる反射ミラー130の突起133の押圧が解
かれる。このため、スプリング135の弾性力によって
反射ミラー130がシャフト32を中心に矢印と反対方
向に回転し、反射ミラー130が各レーザビーム3の光
路の外側に位置する。テストモードと画像記録モードの
他の動作は、第7の実施の形態と同一なので説明を省略
する。この実施の形態でも、第7の実施の形態と同様な
効果を得ることができる。
【0055】なお、反射ミラー130を集光レンズ系4
と結像レンズ系5の間に配置した場合、レーザビーム3
は集光レンズ系4の焦点距離の位置で全レーザビームが
集光される。従って、集光レンズ系4の焦点距離の位置
に光検出器102を配置することにより、光検出器10
2を小型化にすることができ、且つ、光検出器102の
光検出素子102aの面内によって異なる感度のバラツ
キの影響もなくすことができる。
【0056】また、第12の形態においても、反射ミラ
ー130をレーザアレイ2と集光レンズ系4の間、アナ
モフィックレンズ8とシリンドリカルミラー9の間、シ
リンドリカルミラー9と感光体ドラム7の間に配置して
も良い。この場合、各レーザビーム3を特定の位置に集
光するような曲率を有する反射ミラーを用いることによ
り、レーザビーム3を集光させ、光検出器102の小型
化や、感度のバラツキの低減を図るようにしても良い。
【0057】図15の(a),(b) は、本発明の第13の実
施の形態に係る画像記録装置の構成を示す斜視図であ
り、(a) は画像記録モードを、(b) はテストモードをそ
れぞれ示す。この画像記録装置1Fは、第12の実施の
形態の画像記録装置1Eにおいて反射ミラー130と光
検出器102の間に集光レンズ136を配置したもので
あり、他は第12の実施の形態と同様に構成されてい
る。尚、この図において、第12の実施の形態と同一の
部分には、同一の引用数字、符号を付したので重複する
説明は省略する。
【0058】この実施の形態では、反射ミラー130で
反射した各レーザビーム3を集光レンズ136によって
光検出器102上に集光させるようになっているため、
光検出器102を小型化することができる。また、光検
出器102の光検出素子102a上の同一位置に全ての
レーザビーム3が照射されるため、光検出素子102a
の面内によって異なる感度のバラツキの影響をなくすこ
とができる。
【0059】尚、第12、及び第13の実施の形態で
は、光量検出時に反射ミラー130を変位させたが、反
射ミラーとして入射した光の一部を反射し、残りを透過
させる平行平面板のミラーを用いた場合には、それを光
路内に固定しても良い。
【0060】また、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れず、種々な実施の形態が可能である。例えば、感光体
はベルト状であってもよい。また、レーザアレイと感光
体とが相対的に副走査方向Zに移動する構成なら、レー
ザアレイのみを移動してもよく、レーザアレイおよび感
光体が移動してもよい。
【0061】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の画像記録
装置によると、画素密度に応じて配置された半導体レー
ザ素子から出射された各レーザビームを集光点に集光さ
せ、集光点、或いはその近傍に配置した結像レンズ系に
よって感光体上に結像するようにしたので、レーザビー
ムのビーム径に対して十分な大きな口径を有した結像レ
ンズ径を使用することが可能になり、MTF及び焦点深
度を画素密度に応じて値にすることができる。その結
果、高画質及び高密度の画像記録を高速で実現すること
ができる。
【0062】また、所定のタイミングで各レーザビーム
の光量を個別に検出し、この検出結果に基づいて複数の
半導体レーザ素子の駆動条件を制御することで、各レー
ザビームの光量のバラツキや変動を少なくして画質劣化
を防ぐことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る画像記録装置
の構成を示す斜視図。
【図2】第1の実施の形態に係るレーザアレイの要部正
面図。
【図3】第1の実施の形態に係る光検出器の受光面を示
す説明図。
【図4】第1の実施の形態に係る制御系の主要部を示す
ブロック図。
【図5】第1の実施の形態に係る光検出器のホームポジ
ションを示す概略図。
【図6】本発明の第2の実施の形態に係る画像記録装置
の構成を示す斜視図。
【図7】本発明の第3の実施の形態に係る画像記録装置
の構成を示す斜視図。
【図8】本発明の第4の実施の形態に係る画像記録装置
の構成を示す斜視図。
【図9】本発明の第7の実施の形態に係る画像記録装置
の構成を示す斜視図。
【図10】第7の実施の形態に係る光検出器の受光面を
示す説明図。
【図11】本発明の第11の実施の形態の画像記録装置
に係る結像レンズ系5を示す側面図。
【図12】本発明に係る光検出器の応用例を示す説明
図。
【図13】本発明の第12の実施の形態に係る画像記録
装置の構成を示す斜視図。
【図14】第12の実施の形態に係る可動機構部を示す
説明図。
【図15】本発明の第13の実施の形態に係る画像記録
装置の構成を示す斜視図。
【符号の説明】
1A〜1F 画像記録装置 2 半導体レーザアレイ 2a 半導体レーザ素子 3、3a〜3c レーザビーム 4 集光レンズ系 4a 集光点 5 結像レンズ系 5A 第1のレンズ 5B 第2のレンズ 5C 第3のレンズ 5D 第4のレンズ 6 アフォーカルレンズ 7 感光体ドラム 7a 感光体面 8 アナモフィックレンズ 9 シリンドリカルミラー 10A〜10E 光量検出ユニット 20 CPU 20a バス 21 ROM 22 RAM 23 A/D変換器 24 ラッチ回路 25 モータ駆動回路 26 クロック発生回路 27 D/A変換器 28 レーザ駆動回路 29 補正データメモリ 30 画像メモリ 31 信号処理回路 32 絞り 100 ガイドレール 101 支持台 102 光検出器 102a 光検出素子 103A、103B プーリ 104 モータ 105 ベルト 106 連結部材 110 軸 111 軸受 112 アーム 113 支持台 120 ガイドレール 121 支持台 122A、122B プーリ 123 モータ 124 ベルト 125 連結部材 130 反射ミラー 131 シャフト 132 軸受 133 突起 134 ソレノイド 135 スプリング D 開口径 M θ方向基線 N Y方向基線 W レーザアレイの幅 X 光軸方向 Y 主走査方向 Z 副走査方向 θ 角度

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の半導体レーザ素子を少なくとも主
    走査方向にアレイ状に配列したレーザアレイと、前記複
    数の半導体レーザ素子から出射される各レーザビームに
    よって露光され、前記レーザアレイと相対的に副走査方
    向に移動することによって画像信号に応じた静電潜像が
    形成される感光体とを備えた画像記録装置において、 前記複数の半導体レーザ素子から出射される前記各レー
    ザビームを共通の集光点に集光する集光手段と、 前記集光点、或いはその近傍に配置され、前記各レーザ
    ビームを前記感光体上に結像させる結像手段と、 前記各レーザビームの光量を個別に検出する光検出手段
    と、 前記光検出手段が検出した前記各レーザビームの光量に
    基づいて前記複数の半導体レーザ素子の駆動条件を制御
    する制御手段とを備えていることを特徴とする画像記録
    装置。
  2. 【請求項2】 前記光検出手段は、前記複数の半導体レ
    ーザ素子から出射される少なくとも1つのレーザビーム
    の照射領域より大なる受光領域を有する光検出素子を備
    え、前記光検出素子を前記主走査方向に移動させること
    で前記各レーザビームの光量を検出する構成の請求項1
    記載の画像記録装置。
  3. 【請求項3】 前記光検出手段は、前記複数の半導体レ
    ーザ素子から出射される少なくとも1つのレーザビーム
    の照射領域より大なる受光領域を有する光検出素子を備
    え、前記光検出素子を前記各レーザビームに直交するよ
    うに円弧で移動させることで前記各レーザビームの光量
    を検出する構成の請求項1記載の画像記録装置。
  4. 【請求項4】 前記光検出手段は、前記複数の半導体レ
    ーザ素子から出射される複数のレーザビームの照射領域
    より大なる受光領域を有する光検出素子を備え、前記複
    数の半導体レーザ素子から前記各レーザビームを個別に
    出射させることで前記各レーザビームの光量を検出する
    構成の請求項1記載の画像記録装置。
  5. 【請求項5】 前記光検出手段は、前記複数の半導体レ
    ーザ素子から出射される複数のレーザビームの照射領域
    より大なる反射領域を有する反射ミラーと、前記反射ミ
    ラーによって反射させられた前記複数のレーザビームの
    照射領域より大なる受光領域を有する光検出素子を備
    え、前記複数の半導体レーザ素子から前記各レーザビー
    ムを個別に出射させることで前記各レーザビームの光量
    を検出する構成の請求項1記載の画像記録装置。
  6. 【請求項6】 前記光検出素子は、前記反射ミラーによ
    って反射させられた前記レーザビームを集光レンズを介
    して所定の受光位置で受光する構成の請求項5記載の画
    像記録装置。
  7. 【請求項7】 前記反射ミラーは、所定の曲率の反射面
    を有し、 前記光検出素子は、前記反射ミラーによって反射させら
    れた前記複数のレーザビームを所定の受光位置で受光す
    る構成の請求項5記載の画像記録装置。
  8. 【請求項8】 前記光検出手段は、前記複数の半導体レ
    ーザ素子から出射される複数のレーザビームの照射領域
    より大なる透過反射領域を有し、前記照射領域が前記透
    過反射領域に入るように配置されたハーフミラーと、前
    記ハーフミラーによって反射させられた前記複数のレー
    ザビームの照射領域より大なる受光領域を有する光検出
    素子を備え、前記複数の半導体レーザ素子から前記各レ
    ーザビームを個別に出射させることで前記各レーザビー
    ムの光量を検出する構成の請求項1記載の画像記録装
    置。
  9. 【請求項9】 前記制御手段は、装置起動信号の入力に
    基づいて、前記駆動条件の制御を行う構成の請求項1記
    載の画像記録装置。
  10. 【請求項10】 前記制御手段は、画像記録期間外に定
    期的に、前記駆動条件の制御を行う構成の請求項1記載
    の画像記録装置。
  11. 【請求項11】 前記レーザアレイは、基準の半導体レ
    ーザ素子を備え、 前記光検出素子は、前記基準の半導体レーザ素子から出
    射されるレーザビームの光量を検出し、 前記制御手段は、前記光検出手段による光量検出に基づ
    いて他の前記半導体レーザ素子の前記駆動条件を制御す
    る構成の請求項1記載の画像記録装置。
  12. 【請求項12】 前記制御手段は、各半導体レーザ素子
    毎に光量の基準値を記憶するメモリを備え、前記光検出
    手段が検出した前記光量と前記メモリが記憶する基準値
    とを比較し、この比較結果に基づいて前記駆動条件を制
    御する構成の請求項1記載の画像記録装置。
  13. 【請求項13】 前記光検出手段は、単一の光検出素子
    により前記光量を検出する構成の請求項1記載の画像記
    録装置。
  14. 【請求項14】 前記光検出手段は、主走査方向の検出
    移動距離に応じた間隔を有して主走査方向に配列された
    複数の光検出素子により前記光量を検出する構成の請求
    項1記載の画像記録装置。
  15. 【請求項15】 前記光検出素子は、前記結像手段を通
    過し、前記感光体に照射される直前で前記各レーザビー
    ムの前記光量を検出する構成の請求項2、3、或いは4
    記載の画像記録装置。
  16. 【請求項16】 前記光検出手段は、前記複数の半導体
    レーザ素子から出射され、前記集光手段に入射する前で
    前記各レーザビームの前記光量を検出する構成の請求項
    1記載の画像記録装置。
  17. 【請求項17】 前記光検出手段は、前記複数の半導体
    レーザ素子から出射され、前記集光手段で集光される集
    光点で前記各レーザビームの前記光量を検出する構成の
    請求項1記載の画像記録装置。
  18. 【請求項18】 前記集光手段は、フィールドレンズで
    ある構成の請求項1記載の画像記録装置。
  19. 【請求項19】 前記結像手段は、オルソメタレンズ
    群、クセノタール系レンズ、あるいはダブルガウス系レ
    ンズである構成の請求項1記載の画像記録装置。
  20. 【請求項20】 前記レーザアレイは、複数の半導体レ
    ーザ素子が主走査方向に平行な複数ラインに配列された
    構成の請求項1記載の画像記録装置。
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