JPH11170600A

JPH11170600A - 画像形成装置

Info

Publication number: JPH11170600A
Application number: JP33679597A
Authority: JP
Inventors: Shoji Yamaguchi; 昭治山口
Original assignee: Fuji Xerox Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Business Innovation Corp
Priority date: 1997-12-08
Filing date: 1997-12-08
Publication date: 1999-06-29

Abstract

(57)【要約】【課題】小型で、高精度な光量検出が可能な画像形成
装置を提供する。【解決手段】レーザアレイ２の各レーザ素子２ｂから
順次出射されたレーザビームは、結像光学系４を通過
し、ハーフミラー５により感光体ドラム３と偏向光学系
６とに分割される。偏向光学系６に入射したレーザビー
ムは、主走査方向Ｙにパワーを有するシリンドリカルミ
ラー６０によってレーザビームの主光線が光検出器７上
で一致するように曲げられ、光検出器７のほぼ同一位置
に入射する。光検出器７は、各レーザ素子２ｂからのレ
ーザビームの光量を個別に検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリンタや複写機
等の画像形成装置に関し、特に、小型で、高精度な光量
検出が可能な画像形成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の画像形成装置として、例えば、特
開平３−１４７８６０号公報および特開平３−２４３９
６７号公報に示されるものがある。

【０００３】図８は、特開平３−１４７８６０号公報に
示された画像形成装置を示す。この画像形成装置１は、
印字光源となるＬＥＤアレイ５０と、ＬＥＤアレイ５０
の長手方向に沿って移動可能に支持され、ＬＥＤアレイ
５０の各ＬＥＤの光量を検出する光センサ５１と、光セ
ンサ５１の検出結果に基づいてＬＥＤアレイ５０の各Ｌ
ＥＤの光量を補正する光量補正手段５２とを備える。Ｌ
ＥＤアレイ５０の各ＬＥＤの光量を検出し、この検出結
果に基づいて各ＬＥＤの光量を補正することにより、Ｌ
ＥＤアレイ５０の各ＬＥＤの光量が一定となり、均一な
印字画像が得られる。

【０００４】図９は、特開平３−２４３９６７号公報に
示された画像形成装置を示す。この画像形成装置１は、
調光ガラスと反射ミラーとからなり、露光装置５３から
の光を反射板５４，レンズ５５を介して入力する光学反
射ミラー５６と、電極間への印加電圧を変えることによ
り光学反射ミラー５６の調光ガラスの光透過率を変化さ
せることで反射光量を制御する光透過率可変装置５７
（５７ａ〜５７ｎ）と、光学反射ミラー５６で反射した
光によって表面に潜像が形成される感光体５８と、感光
体５８の軸方向に移動可能に支持され、感光体５８の表
面の電位を検出する表面電位センサ５９とを備える。表
面電位センサ５９の出力に基づいて、光学反射ミラー５
６の調光ガラスの光透過率を制御することにより、感光
体５８の表面で光量を均一にでき、均一な画像が形成さ
れる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、特開平３−１
４７８６０号公報に示された画像形成装置１によると、
光センサ５１をＬＥＤアレイ５０の長手方向に沿って移
動させる移動機構が必要となることから、装置が大型化
する。また、光センサ５１を移動させずに各ＬＥＤから
の出射光を検出するためには、光センサ５１をＬＥＤア
レイ５０とほぼ同じ大きさにする必要があるため、装置
が大型になり、さらに、光センサ５１の各素子の特性を
均一に保つことが困難になる。

【０００６】特開平３−２４３９６７号公報に示された
画像形成装置１によると、表面電位センサ５９を感光体
５８の軸方向に移動させる移動機構が必要となることか
ら、装置が大型化する。また、表面電位センサ５９を移
動させずに感光体５８全体の表面電位を検出するために
は、表面電位センサ５９を感光体５８とほぼ同じ長さに
する必要があるため、装置が大型になり、さらに、表面
電位センサ５９の各素子の特性を均一に保つことが困難
になる。

【０００７】従って、本発明の目的は、小型で、高精度
な光量検出が可能な画像形成装置を提供することにあ
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、少なくとも主走査方向にアレイ状に配列さ
れた複数の半導体レーザ素子を有し、画像信号に基づい
て変調された複数のレーザビームを前記複数の半導体レ
ーザ素子から出射するレーザアレイと、前記複数の半導
体レーザ素子から出射される前記複数のレーザビームに
よって露光され、前記レーザアレイと相対的に副走査方
向に移動することによって潜像が形成される像担持体
と、前記複数の半導体レーザ素子から出射された前記複
数のレーザビームを前記像担持体上に結像させて前記潜
像を形成する結像光学系と、前記複数のレーザビームの
光路上に配置され、前記複数の半導体レーザ素子からの
前記複数のレーザビームを前記像担持体の方向と前記像
担持体の方向とは異なる所定の方向とに分割する分割光
学系と、前記分割光学系によって前記所定の方向に分割
された前記複数のレーザビームを前記レーザビームの主
光線が一致するように偏向する偏向光学系と、前記偏向
光学系によって形成された前記主光線の一致点あるいは
その近傍に配置され、前記複数のレーザビームの光量を
検出する光検出器と、前記光検出器によって検出された
前記複数のレーザビームの光量に基づいて前記レーザア
レイから出射される前記複数のレーザビームの光量を補
正する補正手段とを備えたことを特徴とする画像形成装
置を提供する。

【０００９】

【発明の実施の形態】図１および図２は、本発明の第１
の実施の形態に係る画像形成装置を示す。なお、同図に
おいて、Ｘは副走査方向、Ｙは主走査方向、Ｚは光軸方
向をそれぞれ示す。この画像形成装置１は、画像信号に
基づいて変調された複数のレーザビームを出射する半導
体レーザアレイ（以下「レーザアレイ」と略す。）２
と、例えば、主走査方向Ｙの長さ約３００ｍｍを有し、
副走査方向Ｘに回転する感光体ドラム３と、レーザアレ
イ２から出射された複数のレーザビームを感光体ドラム
３の表面に結像させ、感光体ドラム３の表面に静電潜像
を形成する拡大光学系の結像光学系４と、結像光学系４
と感光体ドラム３との間に配置され、レーザアレイ２か
らの複数のレーザビームを光軸方向Ｚと光軸方向Ｚとは
異なる所定の方向とに分割する分割光学系としてのハー
フミラー５と、ハーフミラー５によって所定の方向に分
割された複数のレーザビームをレーザビームの主光線が
一致するように偏向する偏向光学系６と、偏向光学系６
によって形成された主光線の一致点あるいはその近傍に
配置され、レーザアレイ２からの複数のレーザビームの
光量を検出する光検出器７とを備える。

【００１０】また、この画像記録装置１は、感光体ドラ
ム３の周囲に、帯電器，現像器，転写器等を設け、転写
器の前段には給紙部、転写器の後段には定着器，排紙部
等を設けている。これらの各ユニットは、説明上図示を
省略する。

【００１１】レーザアレイ２は、例えば、主走査方向Ｙ
の長さ約５０ｍｍを有し、基板２ａ上に複数の半導体レ
ーザ素子（以下「レーザ素子」と略す。）２ｂを主走査
方向Ｙにのみアレイ状に配列したものである。

【００１２】結像光学系４は、ダブルガウス系レンズ、
オルソメタレンズ群、クセノタール系レンズ等を用いる
ことができる。本実施の形態では、ダブルガウス系レン
ズを用いた。

【００１３】偏向光学系６は、本実施の形態では、主走
査方向Ｙにパワーを有するシリンドリカルミラー６０を
用いた。このシリンドリカルミラー６０は、レーザアレ
イ２からのレーザビームの主光線が光検出器７上で一致
するようにハーフミラー５からの複数のレーザビームを
偏向するものである。

【００１４】図３は、この装置１の制御系の主要部を示
す。この装置１は、装置１全体の制御を行うＣＰＵ２０
を有し、ＣＰＵ２０のバス２０ａに、ＣＰＵ２０のプロ
グラム（テストモード用プログラム，画像記録モード用
プログラム等）を記憶するＲＯＭ２１と、各種の情報を
記憶するＲＡＭ２２と、Ａ／Ｄ変換器２３を介して光検
出器７から出力される検出値をラッチするラッチ回路２
４と、基本クロックを出力するクロック発生回路２６
と、Ｄ／Ａ変換器２７を介して接続され、レーザアレイ
２を駆動する駆動信号を出力するレーザ駆動回路２８
と、補正データメモリ２９と、画像信号を記憶した画像
メモリ３０と、画像メモリ３０から画像信号を読み出
し、その画像信号を処理して記録パターンに応じた記録
信号を出力する信号処理回路３１とを接続している。

【００１５】ＲＡＭ２２には、各レーザ素子２ｂ毎に所
定の光量の基準値が予め記憶されている。この基準値
は、各レーザ素子２ｂについて同一のものであってもよ
く、装置１各部の特性等に応じて異なるものであっても
よい。

【００１６】補正データメモリ２９には、各レーザ素子
２ｂの駆動電流値の情報が補正データとして予め記憶さ
れている。

【００１７】ＣＰＵ２０は、オペレータによって本装置
１の電源が投入された際、テストモードを実行し、オペ
レータの記録操作によって画像記録モードを実行するよ
うになっている。

【００１８】次に、本装置１の動作を説明する。 (1) テストモードオペレータが、本装置１の電源を投入すると、ＣＰＵ２
０に装置起動信号が入力される。ＣＰＵ２０は、その装
置起動信号に基づき、ＲＯＭ２１に記憶されているテス
トモード用プログラムに従い、以下に説明する如くテス
トモードを実行する。

【００１９】ＣＰＵ２０は、補正データメモリ２９に予
め記憶されている補正データをＤ／Ａ変換器２７に出力
する。Ｄ／Ａ変換器２７は、補正データメモリ２９から
の補正データをデジタルからアナログに変換してレーザ
駆動回路２８に出力する。レーザ駆動回路２８は、Ｄ／
Ａ変換器２７の出力に基づき、クロック発生回路２６か
ら出力される基本クロックに同期してレーザアレイ２の
各レーザ素子２ｂを順次駆動する。各レーザ素子２ｂ
は、順次発光してレーザビームを順次出射する。各レー
ザ素子２ｂから順次出射されたレーザビームは、結像光
学系４を通過し、ハーフミラー５により感光体ドラム３
と偏向光学系６とに分割される。ハーフミラー５を通過
したレーザビ- ムは、感光体ドラム３の表面に結像され
る。一方、偏向光学系６に入射したレーザビームは、主
走査方向Ｙにパワーを有するシリンドリカルミラー６０
によってレーザビームの主光線が光検出器７上で一致す
るように曲げられ、光検出器７のほぼ同一位置に入射す
る。

【００２０】光検出器７は、各レーザ素子２ｂからのレ
ーザビームの光量を個別に検出する。Ａ／Ｄ変換器２３
は、光検出器７からの光量の検出値をアナログからデジ
タルに変換し、ラッチ回路２４に出力する。ラッチ回路
２４は、クロック発生回路２６から出力される基本クロ
ックに同期して光検出器７からの検出値を順次ラッチし
てＣＰＵ２０に出力する。ＣＰＵ２０は、ラッチ回路２
４の出力値（検出値）をＲＡＭ２２に記憶する。

【００２１】ＣＰＵ２０は、各レーザ素子毎にＲＡＭ２
２が記憶する光量の検出値と基準値とを比較し、検出値
が基準値となるような駆動電流値を演算して求め、その
値を補正データとして補正データメモリ２９に記憶す
る。このようにして、テストモードが終了する。

【００２２】(2) 画像記録モード上記テストモードが終了し、オペレータが、記録操作を
行うと、ＣＰＵ２０は、ＲＯＭ２１に記憶されている画
像記録モード用プログラムに従い、以下に説明する如く
画像記録モードを実行する。信号処理回路３１は、画像
メモリ３０から画像信号を読み出し、その画像信号を処
理して記録パターンに応じた記録信号をＡ／Ｄ変換器２
７に出力する。これと同時に、ＣＰＵ２０は、補正デー
タメモリ２９に記憶されているテストモード後の補正デ
ータをＡ／Ｄ変換器２７に出力する。Ａ／Ｄ変換器２７
は、信号処理回路３１からの記録信号および補正データ
メモリ２９からの補正データをデジタルからアナログに
変換してレーザ駆動回路２８に出力する。レーザ駆動回
路２８は、ＣＰＵ２０の制御の下に、Ａ／Ｄ変換器２７
を介して入力した記録信号および補正データに基づいて
レーザアレイ２の各レーザ素子２ｂを例えば同時に駆動
する。レーザアレイ２の各レーザ素子２ｂからはレーザ
ビームが出射される。各レーザ素子２ｂから出射された
レーザビームは、結像光学系４によってハーフミラー５
を介して感光体ドラム３の表面に上記テストモードで設
定された基準値の所定の光量で結像される。感光体ドラ
ム３は、レーザビームによって露光されることにより静
電潜像を形成する。その後、静電潜像は、現像器によっ
てトナー現像され、そのトナー像が転写器によって給紙
部から給紙された記録用紙に転写され、さらに定着器に
よって定着された後、記録用紙は排紙部へと送られる。

【００２３】上記第１の実施の形態によれば、以下の効
果が得られる。 (イ) 各レーザビームの主光線が、主走査方向Ｙにパワー
を有するシリンドリカルミラー６０により光検出器７上
で一致するため、各レーザビームは光検出器７のほぼ同
一位置に入射されることから、光検出器７の感度のばら
つきによる検出誤差を低減することができ、高精度な光
量検出が可能になる。 (ロ) 第１の主光線一致点（図中結像光学系４内）に直接
光検出器７を配置する場合、この点におけるビーム径
は、光学系設計時では他の光学特性を重視し決定される
ので、光検出器７上のビーム径を任意に設定できない。
一方、第１の実施の形態においては、ハーフミラー５，
偏向光学系６および光検出器７からなる光量検出装置の
配置を光検出器７上のビーム径を考慮して決めることが
可能となるので、必要となる光検出器７を容易に入手可
能となる。 (ハ) 光検出器７の移動機構が不要であるので、構成が容
易となり、装置の小型化，簡素化が図れる。 (ニ) 結像光学系４を通過した各ビームの光量を測定する
ので、感光体ドラム３上におけるビームとほぼ等価な光
量ばらつきを高精度で検出可能となる。

【００２４】なお、ハーフミラー５の配置位置は、結像
光学系４とシリンドリカルミラー６０との間の光軸上で
あれば、どこに配置しても構わない。すなわち結像光学
系４とシリンドリカルミラー６０との間の距離をＬ₀、
結像光学系４とハーフミラー５までの距離をＬ₁、ハー
フミラー５からシリンドリカルミラー６０までの距離を
Ｌ₂とし、常にＬ₁＋Ｌ₂＝Ｌ₀の関係が成り立つよう
にハーフミラー５、シリンドリカルミラー６０を配置す
ればよい。

【００２５】図４は、本発明の第２の実施の形態に係る
レーザアレイ２を示す。このレーザアレイ２は、基板２
ａ上に複数のレーザ素子２ｂを副走査方向Ｘにｍ行、主
走査方向Ｙにｎ列アレイ状に配列している。本実施の形
態では、複数のレーザ素子２ｂを斜めに１２行×１２０
０列で配列した。

【００２６】図５は、本発明の第２の実施の形態に係る
偏向光学系６を示す。なお、同図(a) はＹＺ面を示し、
同図(b) はＸＺ面を示す。この第２の実施の形態は、偏
向光学系６として主走査方向Ｙにパワーを有するシリン
ドリカルミラー６０と、シリンドリカルミラー６０と光
検出器７との間に配置された副走査方向Ｘにパワーを有
するアナモフィックレンズ６１とを用いたものであり、
他は第１の実施の形態と同様に構成されている。レーザ
アレイ２の各レーザ素子２ｂが、主走査方向Ｙおよび副
走査方向Ｘに配列されている場合、各レーザビームは、
まずシリンドリカルミラー６０によって主走査方向Ｙの
主光線が光検出器７上で交わるように曲げられ、アナモ
フックレンズ８によって副走査方向Ｘの主光線が光検出
器７上で交わるように曲げられる。これにより、各ビー
ムが光検出器７上のほぼ同一位置に入射され各ビームの
光量が検出される。検出された光量に応じて、各レーザ
の駆動電流を調整することで、全てのレーザの光量が高
精度で制御可能となる。

【００２７】上記第２の実施の形態によれば、各レーザ
ビームの主光線が、シリンドリカルミラー６０およびア
ナモフックレンズ６１により光検出器７上で一致するた
め、レーザ素子２ｂが、主走査方向Ｙおよび副走査方向
Ｘに配列されている場合でも、各レーザビームは光検出
器７の同一位置に入射されるので、光検出器７の感度の
ばらつきによる検出誤差を低減することができる。

【００２８】図６は、本発明の第３の実施の形態に係る
偏向光学系６を示す。なお、同図(a) はＹＺ面を示し、
同図(b) はＸＺ面を示す。この第３の実施の形態は、レ
ーザアレイ２として図４に示したようにレーザ素子２ｂ
が主走査方向Ｙおよび副走査方向Ｘに配列されたものを
用い、偏向光学系６として主走査方向Ｙおよび副走査方
向Ｘにパワーを有するシリンドリカルミラー６０を用い
たものであり、他は第１の実施の形態と同様に構成され
ている。レーザアレイ２の各レーザ素子２ｂが、主走査
方向Ｙおよび副走査方向Ｘに配列されている場合、各レ
ーザビームは、このシリンドリカルミラー６０によって
主走査方向Ｙの主光線が光検出器７上で交わるように曲
げられ、さらに副走査方向Ｘの主光線が光検出器７上で
交わるように曲げられる。これにより、各ビームが光検
出器７上のほぼ同一位置に入射され各ビームの光量が検
出される。検出された光量に応じて、各レーザの駆動電
流を調整することで、全てのレーザの光量が高精度で制
御可能となる。

【００２９】上記第３の実施の形態によれば、各レーザ
ビームの主光線が、主走査方向Ｙおよび副走査方向Ｘに
パワーを有するシリンドリカルミラー６０により光検出
器７上で一致するため、レーザ素子２ｂが、主走査方向
Ｙおよび副走査方向Ｘに配列されている場合でも、各レ
ーザビームは光検出器７の同一位置に入射されるので、
光検出器７の感度ばらつきによる検出誤差を低減するこ
とができる。

【００３０】図７は、本発明の第４の実施の形態に係る
偏向光学系６を示す。なお、同図(a) はＹＺ面を示し、
同図(b) はＸＺ面を示す。この第４の実施の形態は、レ
ーザアレイ２として図４に示したようにレーザ素子２ｂ
が主走査方向Ｙおよび副走査方向Ｘに配列されたものを
用い、偏向光学系６として主走査方向Ｙおよび副走査方
向Ｘにパワーを有し、ハーフミラー５からの複数のレー
ザビームを所定の範囲に偏向するシリンドリカルミラー
６０と、シリンドリカルミラー６０と光検出器７との間
に配置され、シリンドリカルミラー６０によって所定の
範囲に偏向された複数のレーザビームをレーザビームの
主光線が光検出器７上で一致するように集光する集光レ
ンズ６２とを用いたものであり、他は第１の実施の形態
と同様に構成されている。レーザアレイ２の各レーザ素
子２ｂが、主走査方向Ｙおよび副走査方向Ｘに配列され
ている場合、各レーザビームは、このシリンドリカルミ
ラー６０によって主走査方向Ｙの主光線および副走査方
向Ｘの主光線が光検出器７上の所定の範囲に入射するよ
うに曲げられ、集光レンズ６２によって主走査方向Ｙの
主光線および副走査方向Ｘの主光線が光検出器７上で交
わるように集光される。これにより、各ビームが光検出
器７上のほぼ同一位置に入射され各ビームの光量が検出
される。検出された光量に応じて、各レーザの駆動電流
を調整することで、全てのレーザの光量が高精度で制御
可能となる。

【００３１】上記第４の実施の形態によれば、各レーザ
ビームの主光線が、主走査方向Ｙおよび副走査方向Ｘに
パワーを有するシリンドリカルミラー６０、および集光
レンズ９により光検出器７上で一致するため、レーザ素
子２ｂが、主走査方向Ｙおよび副走査方向Ｘに配列され
ている場合でも、各レーザビームは光検出器７の同一位
置に入射されるので、光検出器７の感度ばらつきによる
検出誤差を低減することができる。

【００３２】

【実施例】第２の実施の形態に対応する実施例を説明す
る。この実施例では、主走査方向曲率半径が１８５ｍ
ｍ、主走査方向長さが９５．１７８５ｍｍ以上のシリン
ドリカルミラー６０を結像光学系４から光軸方向へ３０
０ｍｍの位置に配置し、光検出器７をシリンドリカルミ
ラー６０から１１６ｍｍの位置に配置した。この結果、
ハーフミラー５からのレーザビームを光検出器７上で直
径１０ｍｍの範囲に入射させることができた。従って、
光検出器７としては有効径１５ｍｍ程度のものを使用す
ることができ、光検出器７の感度のばらつきによる検出
誤差を低減することができる。

【００３３】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れず、種々に変形実施が可能である。例えば、像担持体
としては、上述した感光体ドラムの他、ベルト状の感光
体、ドラム状あるいはベルト状の誘電体を用いてもよ
い。また、本発明は、中間転写体を用いた画像形成装置
にも適用可能である。また、レーザアレイ２が複数のレ
ーザ素子２ｂを主走査方向Ｙにのみ配列したものである
場合において、偏向光学系として主走査方向Ｙにパワー
を有し、ハーフミラー５からの複数のレーザビームを所
定の範囲に偏向するシリンドリカルミラー６０と、シリ
ンドリカルミラー６０によって所定の範囲に偏向された
複数のレーザビームをレーザビームの主光線が光検出器
７上で一致するように集光する集光レンズ６２とを用い
てもよい。また、上記実施の形態では、像担持体として
の感光体ドラムの方を副走査方向Ｘに移動させたが、レ
ーザアレイの方を副走査方向Ｘに移動させてもよい。ま
た、レーザアレイを主走査方向の長さが感光体ドラム３
と同様のものを用いた場合は、結像光学系として等倍光
学系を用い、レーザアレイと結像光学系との間にフィー
ルドレンズ等の集光手段を配置してもよい。

【００３４】

【発明の効果】以上説明したように本発明の画像形成装
置によれば、複数の半導体レーザ素子から出射された複
数のレーザビームを光検出器のほぼ同一位置に入射させ
ることができるので、光検出器の感度のばらつきによる
検出誤差を低減して高精度な光量検出が可能になる。ま
た、光検出器の移動機構が不要であるので、装置の小型
化が図れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る画像形成装置
の概略構成を示す側面図である。

【図２】本発明の第１の実施の形態に係る画像形成装置
の概略構成を示す平面図である。

【図３】第１の実施の形態に係る画像形成装置の制御系
の主要部を示すブロック図である。

【図４】第１の実施の形態に係るレーザアレイの正面図
である。

【図５】(a) は本発明の第２の実施の形態に係る偏向光
学系のＹＺ面を示す図、(b) はＸＺ面を示す図である。

【図６】(a) は本発明の第３の実施の形態に係る偏向光
学系のＹＺ面を示す図、(b) はＸＺ面を示す図である。

【図７】(a) は本発明の第４の実施の形態に係る偏向光
学系のＹＺ面を示す図、(b) はＸＺ面を示す図である。

【図８】従来の画像形成装置を示す図である。

【図９】他の従来の画像形成装置を示す図である。

【符号の説明】

１画像形成装置２レーザアレイ２ａ基板２ｂレーザ素子３感光体ドラム４結像光学系５ハーフミラー６偏向光学系７光検出器２０ＣＰＵ２０ａＣＰＵ２１ＲＯＭ２２ＲＡＭ２３Ａ／Ｄ変換器２４ラッチ回路２６クロック発生回路２７Ｄ／Ａ変換器２８レーザ駆動回路２９補正データメモリ３０画像メモリ３１信号処理回路６０シリンドリカルミラー６１アナモフィックレンズ６２集光レンズＸ副走査方向Ｙ主走査方向Ｚ光軸方向

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号ＦＩＨ０４Ｎ 1/23 １０３

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】少なくとも主走査方向にアレイ状に配列さ
れた複数の半導体レーザ素子を有し、画像信号に基づい
て変調された複数のレーザビームを前記複数の半導体レ
ーザ素子から出射するレーザアレイと、前記複数の半導体レーザ素子から出射される前記複数の
レーザビームによって露光され、前記レーザアレイと相
対的に副走査方向に移動することによって潜像が形成さ
れる像担持体と、前記複数の半導体レーザ素子から出射された前記複数の
レーザビームを前記像担持体上に結像させて前記潜像を
形成する結像光学系と、前記複数のレーザビームの光路上に配置され、前記複数
の半導体レーザ素子からの前記複数のレーザビームを前
記像担持体の方向と前記像担持体の方向とは異なる所定
の方向とに分割する分割光学系と、前記分割光学系によって前記所定の方向に分割された前
記複数のレーザビームを前記レーザビームの主光線が一
致するように偏向する偏向光学系と、前記偏向光学系によって形成された前記主光線の一致点
あるいはその近傍に配置され、前記複数のレーザビーム
の光量を検出する光検出器と、前記光検出器によって検出された前記複数のレーザビー
ムの光量に基づいて前記レーザアレイから出射される前
記複数のレーザビームの光量を補正する補正手段とを備
えたことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】前記レーザアレイは、前記複数の半導体レ
ーザ素子が前記主走査方向にのみアレイ状に配列され、前記偏向光学系は、前記主走査方向にパワーを有する構
成の請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】前記レーザアレイは、前記複数の半導体レ
ーザ素子が前記主走査方向および前記副走査方向にアレ
イ状に配列され、前記偏向光学系は、前記主走査方向および前記副走査方
向にパワーを有する構成の請求項１記載の画像形成装
置。
【請求項４】前記偏向光学系は、シリンドリカルミラー
からなる構成の請求項２または３記載の画像形成装置。
【請求項５】前記レーザアレイは、前記複数の半導体レ
ーザ素子が前記主走査方向および前記副走査方向にアレ
イ状に配列され、前記偏向光学系は、前記主走査方向にパワーを有する第
１の偏向光学部材と、前記副走査方向にパワーを有する
第２の偏向光学部材とを備えた構成の請求項１記載の画
像形成装置。
【請求項６】前記第１の偏向光学部材は、シリンドリカ
ルミラーからなり、前記第２の偏向光学部材は、アナモ
ックレンズからなる構成の請求項５記載の画像形成装
置。
【請求項７】前記偏向光学系は、前記複数のレーザビー
ムを所定の範囲に偏向する第１の偏向光学部材と、前記
第１の偏向光学部材によって前記所定の範囲に偏向され
た前記複数のレーザビームを前記レーザビームの主光線
が一致するように偏向する第２の偏向光学部材とを備え
た構成の請求項１記載の画像形成装置。
【請求項８】前記第１の偏向光学部材は、シリンドリカ
ルミラーからなり、前記第２の偏向光学部材は、集光レ
ンズからなる構成の請求項７記載の画像形成装置。
【請求項９】前記偏向光学系は、前記結像光学系と前記
像担持体との間に配置された構成の請求項１記載の画像
形成装置。