JPH09183249A

JPH09183249A - 光ビーム記録装置

Info

Publication number: JPH09183249A
Application number: JP34402995A
Authority: JP
Inventors: Hideki Fukunaga; 秀樹福永; Shoji Yamaguchi; 昭治山口; Takashi Nomiyama; 孝野見山
Original assignee: Fuji Xerox Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Business Innovation Corp
Priority date: 1995-12-28
Filing date: 1995-12-28
Publication date: 1997-07-15
Also published as: US5703860A

Abstract

(57)【要約】【課題】光検出器の応答速度を上げないと高精度で焦
点位置のずれを検出することができず、構成を複雑なも
のにしないと的確な焦点位置のずれの検出ができない。【解決手段】半導体レーザアレイ１に検出用光ビーム
を出射する検出用発光部を設ける。検出用光ビームを感
光体ドラム４の両側に配置した光検出器５で検出する。
光検出器５の検出信号を検出回路１１を介して入力した
制御回路は、駆動回路１３を介して圧電素子６ａ、６ｂ
を駆動して半導体レーザアレイ１を前後進させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ビーム記録装置に
関し、特に、温度変化、外部から加わる振動等に基づく
光ビームの焦点位置のずれを、検出応答性の高速化を図
ることなく、検出できるようにした光ビーム記録装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、レーザビームプリンタやディジタ
ル複写機等の光ビーム記録装置の画像品質の向上が要求
されている。このために、記録画像の精度を高くして解
像度の高い画像記録を実現する試みが繰り返されてい
る。この目的のためには、光ビームの焦点位置を高い精
度で制御することにより記録画素の径を所定の値以下に
維持することが必要になる。

【０００３】従来の光ビーム焦点位置検出装置を備えた
光ビーム記録装置として、例えば、特開平２−１４０７
１０号公報に示されるものがある。ここに示される光ビ
ーム焦点位置検出装置は、感光体の非画像形成領域の直
前に配置された光検出器と、この光検出器を収容するハ
ウジングの開口部に設けられ、光ビームの主走査方向に
規則的に並べられた複数のスリットを有したスリット板
とを有して構成されている。この光ビーム焦点位置検出
装置において、コリメータレンズによって集光作用を受
けた光ビームが主走査方向に走査されると、ビーム径が
所定の値のときは、光ビームがスリット板の個々のスリ
ットを介して光検出器によって検出される。その結果、
光検出器よりスリット数に等しい独立したパルスが出力
される。一方、ビーム径が所定の値より大になると、光
検出器より出力される信号が独立したパルスではなくな
り、連続した波形の信号になる。この光検出器の出力に
基づいて光ビームの焦点位置のずれを検出し、コリメー
タレンズを光軸方向に変位させることにより焦点位置の
ずれを補正している。

【０００４】この光ビーム焦点位置検出装置の変形例と
して、スリット板に設けられた１つのスリットを介して
光ビームを受光する光検出器を有したものが、前述した
特開平２−１４０７１０号公報に示されている。この光
ビーム焦点位置検出装置によると、光ビームのビーム径
に応じて変化する光検出器の受光レベルに基づいてコリ
メータレンズを光軸方向に変位させ、これによって焦点
位置のずれを補正している。

【０００５】また、従来の光ビーム焦点位置検出装置を
備えた光ビーム記録装置として、例えば、特開平２−２
８９８１２号公報に示されるものがある。ここに示され
る光ビーム焦点位置検出装置は、感光体の非画像形成領
域に、例えば、凹部と非凹部を規則的に並べたオートフ
ォーカスパターンを形成し、この凹部と非凹部から反射
される光ビームを集光レンズを介して光検出器で検出す
る構成を有している。この光ビーム焦点位置検出装置に
よると、光検出器における凹部と非凹部の受光レベルの
差が所定の値より小さくなったとき、焦点位置にずれが
生じたと判断し、その差に応じてコリメータレンズを光
軸方向に変位させ、これによって焦点位置のずれを補正
している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の光ビー
ム焦点位置検出装置によると、特開平２−１４０７１０
号公報に記載されたものでは、光ビームの主走査方向の
走査速度は１μｍ／ｎｓのオーダであり、光ビーム径を
２０μｍ以下としたとき、光検出器は１０ｎｓ〜数１０
ｎｓ程度の応答速度しか有していないので、光ビーム径
をμｍのオーダで精度良く測定することができない。

【０００７】また、特開平２−２８９８１２号公報に記
載されたものでは、感光体ドラムにオートフォーカスパ
ターンを形成するため、製造工程が１つ増えてコストア
ップを招くことになる。

【０００８】従って、本発明の目的は光検出器の応答速
度を上げることなく焦点位置のずれを高精度で、かつ、
構成の複雑化を招かずに検出することができる光ビーム
記録装置を提供することにある。

【０００９】本発明の他の目的は温度変化、外部から加
わる振動等に基づく焦点位置のずれを的確に検出するこ
とができる光ビーム記録装置を提供することにある。

【００１０】本発明の他の目的は感光体ドラムにオート
フォーカスパターン等の加工を施さないで焦点位置のず
れを検出することができる光ビーム記録装置を提供する
ことにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
実現するため、画像信号に応じて変調された複数の光ビ
ームを集光光学系を介して感光体上に集光して画像記録
を行う光ビーム記録装置において、前記複数の光ビーム
を出射するアレイ状の発光部を有する光ビーム用光源
と、所定の位置に配置され、前記検出用光ビームを検出
する検出手段と、前記検出手段の前記検出用光ビームの
検出結果に基づいて前記複数の光ビームの前記感光体上
の集光状態を制御する制御手段を備えたことを特徴とす
る光ビーム記録装置を提供する。

【００１２】

【発明を実施する形態】図１は本発明の第１の実施の形
態における光ビーム記録装置を示す。この光ビーム記録
装置は、複数のレーザビームを同時に独立して出射する
半導体レーザアレイ１と、固定ステージ６に対して半導
体レーザアレイ１を光軸に沿って前後進させる圧電素子
６ａ、６ｂと、画像信号をストアした画像メモリ１０
と、画像信号を処理して記録パターンに応じた記録信号
を出力する信号処理回路９と、記録信号を入力して半導
体レーザアレイ１を駆動するレーザ駆動回路８と、半導
体レーザアレイ１から出射されたレーザビームを所定の
位置に集光させる集光光学系２と、支持ロール（図示せ
ず）によって回転的に支持され、レーザビームによって
露光されることにより静電潜像を形成する感光体ドラム
４と、感光体ドラム４の両側に設けられ、照射された光
強度に応じた電気信号を発生する光検出器５と、光検出
器５からの電気信号によりスポット径を検出する検出回
路１１と、検出回路１１からのデータにより制御信号を
出力する制御回路１２と、制御信号に基づいて圧電素子
６ａ、６ｂを駆動する駆動回路１３を有する。感光体ド
ラム４の静電潜像を現像してトナー像を形成する現像
器、トナー像を記録体に転写する転写器、トナー像を記
録体に定着する定着器、等は図示省略されている。

【００１３】図２は図１で使用される２次元面発光レー
ザからなる半導体レーザアレイ１を示す。この半導体レ
ーザアレイ１は、好ましくは、単一の半導体基板１８上
に画像書込用発光部１５を２次元状に配列した記録用領
域１７と、この記録用領域１７の外側の領域の上下に対
角をなして配置された検出用発光部１６が形成されてい
る。検出用発光部１６が形成されている部分を検出用領
域と呼ぶ。以下の説明では、発光部１５、１６はレーザ
ビームを出射するレーザを含むものとして説明する。画
像書込用発光部１５は主走査方向に平行に配列され、副
走査方向に傾斜角θを有して配列されている。画像書込
用発光部１５は主走査方向に間隔ｇ₁を、副走査方向に
間隔ｇ₂を有し、Ｌ₁×Ｌ₂のサイズの半導体基板１８
上に主走査方向にＬ₃の幅を有して形成されている。一
方、検出用発光部１６は隣接する画像書込用発光部１５
と間隔ｄを有して配置されている。

【００１４】図３(a) は図１で使用される光検出器５の
光電変換セグメント２０の形態を示し、副走査方向に延
びた複数の短冊状の光電変換セグメント２０が主走査方
向に並んで形成されている。レーザビームが光検出器５
上に照射され、光検出器５上でビームスポット２１を形
成すると、図３(b) に示すように、各光電変換セグメン
ト２０はそれぞれ受光した光強度に応じた電気信号を出
力する。

【００１５】図１で使用される圧電素子６ａ、６ｂは、
低電圧で剛性の高い変位が発生することで知られてお
り、例えば、表１の仕様のものが利用できる。

【表１】

【００１６】以下、第１の実施の形態の光ビーム記録装
置の動作を説明する。

【００１７】画像信号をストアした画像メモリ１０から
読み出された画像信号は、記録パターンに応じて信号処
理回路９にて処理された後、レーザ駆動回路８に記録信
号として入力される。半導体レーザアレイ１の記録用領
域１７にある画像書込用発光部１５はレーザ駆動回路８
によってそれぞれ独立に強度変調され、画像情報をのせ
た複数のレーザビームを放射する。このレーザビーム
は、集光光学系２により、半導体レーザアレイ１の記録
用領域１７の幅Ｌ₃を感光体ドラム４上の画像書込領域
の幅に縮小、拡大もしくは等倍にする縮倍率に基づい
て、所定の速度で回転している感光体ドラム４上に集光
され、感光体ドラム４の画像書込領域に静電潜像を形成
する。

【００１８】これと並行して、制御回路１２からの信号
によってレーザ駆動回路８に駆動信号が入力され、検出
用発光部１６がレーザ駆動回路８によってそれぞれ独立
に駆動される。２つの検出用発光部１６から出射された
レーザビームは集光光学系２を通った後、光検出器５上
にビームスポット２１として照射される。各光検出器５
にビームスポット２１が形成されると、短冊状に並んだ
各光電変換セグメント２０から、それぞれ受光した光強
度に応じて検出回路１１に独立に電気信号が送られる。
検出回路１１は主走査方向のスポット径を検出し、スポ
ット径のデータを制御回路１２に出力する。スポット径
が所定の範囲を越えていた場合、制御回路１２から、こ
のデータに基づいて駆動回路１３に駆動信号が発せら
れ、駆動回路１３によって圧電素子６ａ、６ｂを動作さ
せて半導体レーザアレイ１の両端をレーザビームの光軸
方向、即ち、集光光学系２の方向に対して前後に移動さ
せ、焦点位置を自動調整する。これによりスポット径を
所定の範囲内におさめる。

【００１９】図４は光検出器５上のビームスポット２１
のスポット径を検出して圧電素子６ａ、６ｂをレーザビ
ームの光軸に沿って前後進させる制御フローを示す。ま
ず、光検出器５が検出用発光部１６から出射されたレー
ザビームを受光する。次に、検出回路１１は各光電変換
セグメント２０から光強度信号を入力し、最大の光強
度、即ち、光強度最大値Ｉｐを有する光電変換セグメン
ト２０を選択する。次に、検出回路１１はその光強度最
大値Ｉｐを制御回路１２へ出力する。制御回路１２には
光強度最大値Ｉｐを上限の光強度Ｉ₂および下限の光強
度Ｉ₁と比較し、以下の制御を行う。

【００２０】(1) Ｉ₁≦Ｉｐ≦Ｉ₂のとき画像書込用発光部１５から出射されるレーザビームは感
光体ドラム４上で焦点位置のずれを有しないと判断す
る。従って、駆動回路１３へ第１の状態の制御信号を出
力し、圧電素子６ａ、６ｂに現在の歪状態を維持させ
る。よって、半導体レーザアレイ１は現在の位置を維持
する。

【００２１】(2) Ｉｐ＞Ｉ₂のときレーザビームのスポット径が感光体ドラム４上で上限の
スポット径より大きいと判断する。従って、制御回路１
２は駆動回路１３へ第２の状態の制御信号を出力し、駆
動回路１３は圧電素子６ａ、６ｂに駆動信号を出力して
半導体レーザアレイ１を後進させる。

【００２２】(3) Ｉｐ＜Ｉ₁のときレーザビームのスポット径が感光体ドラム４上で下限の
スポット径より小さいと判断する。従って、制御回路１
２は駆動回路１３へ第３の状態の制御信号を出力し、駆
動回路１３は圧電素子６ａ、６ｂに駆動信号を出力して
半導体レーザアレイ１を前進させる。

【００２３】以上の第１の実施の形態において、光検出
器５のレーザビームの光軸上の位置は、レーザビームの
焦点位置が変位したとしても、光検出器５が常に収束ビ
ームあるいは拡散ビームの何れかの１つを受光する位置
であって、できるだけ焦点位置に近い位置が望ましい。
換言すれば、レーザビームの焦点位置が変位することに
よって受光しているレーザビームが拡散ビームから収束
ビームに変わらない位置、あるいは収束ビームから拡散
ビームに変わらない位置であって焦点位置に近い位置が
望ましい。光検出器５をこのように配置することによっ
てビームスポット２１のスポット径を検出するだけで半
導体レーザ１の移動量とその移動方向を同時に演算する
ことができる。

【００２４】画像書込用発光部１５からのレーザビーム
が感光体ドラム４上に焦点を有するとき、検出用発光部
１６からのレーザビームも光検出器５上に焦点を有する
位置に、光検出器５が位置する場合、光検出器５が検出
したビームスポット２１のスポット径をメモリにストア
しても良い。これによって、ストアされたスポット径に
基づいて調整前後のスポット径を比較することにより焦
点位置ずれの方向を判別することができる。

【００２５】半導体レーザアレイ１の移動量は圧電素子
６ａ、６ｂの変位量で定まり、両端の移動量が等しいと
きもあり、両端で移動量が異なるときもある。何れの場
合も、対応する１つの光検出器５の検出結果によってそ
の移動量が決定される。

【００２６】説明が１部重複するが、半導体レーザアレ
イ１の両端の検出用発光部１６から出射されたレーザビ
ームのビームスポット２１のスポット径が各光検出器５
上で所定の大きさのとき、画像書込用発光部１５から出
射されたレーザビームの焦点位置が感光体ドラム４上と
なるように、初期設定を行えば良い。これにより、半導
体レーザアレイ１の両端の検出用発光部１６からのレー
ザビームの焦点が所定の位置にくるように半導体レーザ
アレイ１の位置を調整すると、検出用発光部１６の間に
ある記録用領域１７の画像書込用発光部１５からのレー
ザビームの焦点位置が調整される。検出用発光部１６は
記録用領域１７の画像書込用発光部１５とは独立に駆動
されるため、任意の時刻において画像書込用発光部１５
のレーザビームの焦点位置の調整が可能になる。光検出
器５は副走査方向に延びた複数の短冊状の光電変換セグ
メント２０を主走査方向に並べて用いているので、各構
成部品が副走査方向や主走査方向に位置ずれを生じたと
きは光検出器５上のビームスポット２１の中心位置が移
動する。このため、最も光強度の強い光電変換セグメン
ト２０をビームスポット２１の中心に位置するようにす
れば良い。これによって焦点位置ずれによるスポット径
の変動を各構成部品の副走査方向や主走査方向への位置
ずれとは独立して検出することができる。

【００２７】図５は本発明の第１の実施の形態における
光ビーム記録装置に用いられる半導体レーザアレイ１の
他の構成を示し、図２と同一の部分は同一の引用数字で
示されているので、重複する説明は省略するが、記録用
領域１７の画像書込用発光部１５が幅Ｌを有し、間隔ｇ
を有して１次元状に配置されている。検出用発光部１６
は隣接する画像書込用発光部１５と間隔ｄを有して両側
に配置されている。

【００２８】図６(a) 、(b) 、(c) は本発明の第１の実
施の形態における光ビーム記録装置に用いられる光検出
器５の他の構成を示し、図３(a) 、(b) と同一の部分は
同一の引用数字で示されているので、重複する説明は省
略するが、光電変換セグメント２０が２次元状に配置さ
れている。各光電変換セグメント２０は独立して検出回
路２１のそれぞれ対応する検出部に光強度信号を送る
と、その中から光強度最大値Ｉｐを検出し、図４のフロ
ーチャートに基づいて半導体レーザアレイ１の前後進の
制御が行われる。

【００２９】図４(a) 、(b) および図６(a) 、(b) 、
(c) では光強度最大値Ｉｐのレベルに応じて半導体レー
ザアレイ１の前後進制御を行ったが、それに代えて光強
度閾値Ｉ_thを設け、その光強度閾値Ｉ_thを越える光強度
信号を出力する光電変換セグメント２０の個数を検出
し、その個数に応じて半導体レーザ１の前後進を行って
も良い。

【００３０】図７は本発明の第１の実施の形態における
光ビーム記録装置の圧電素子６ａ、６ｂに代えて使用さ
れる変位ユニットを示し、駆動回路１３から駆動信号を
入力して駆動されるモータ３０と、モータ３０の回転に
基づいて固定ステージ３１の溝３１ａに係合して前後進
する可動ステージ３２を有し、半導体レーザアレイ１は
可動ステージ３２に固定されている。

【００３１】以上の構成において、モータ３０の正転あ
るいは逆転によって可動ステージ３２が前後進し、それ
によって半導体レーザアレイ１が前後進する。

【００３２】図８は本発明の第２の実施の形態の光ビー
ム記録装置を示し、図１と同一の部分は同一の引例数字
で示されているので、重複する説明は省略するが、副走
査方向にのみパワーを持つアナモフィック光学系３と、
アナモフィック光学系３を感光体ドラム４に対して前後
に移動させる移動ユニット７と、移動ユニット７を駆動
する駆動回路１４が付加されている。この第２の実施の
形態では、主走査方向とは独立に、副走査方向のスポッ
ト径も検出する。まず主走査方向のスポット径のデータ
に基づいて半導体レーザアレイ１の位置の調整を行った
後、副走査方向のスポット径のデータに基づいてアナモ
フィック光学系３を移動させ、焦点位置を自動調整す
る。副走査方向のスポット径のデータは、例えば、図６
(a) 、(c)において、光強度閾値Ｉ_thを越える光強度信
号を出力する光電変換セグメント２０の個数に基づいて
得られる。

【００３３】図９は本発明の第３の実施の形態の光ビー
ム記録装置を示し、図１および図８と同一の部分は同一
の引用数字で示されているので、重複する説明は省略す
るが、半導体レーザアレイ１の代わりにＬＥＤアレイ２
２をアレイ状の光ビーム用光源として用い、更に、集光
光学系２およびレーザ駆動回路８に代えて、それぞれ、
ＬＥＤアレイ２２を駆動するＬＥＤ駆動回路２３と、Ｌ
ＥＤアレイ２２からの出射光を所定の位置に結像させる
セルフォックレンズアレイ２４が使用されている。

【００３４】図１０は本発明の第４の実施の形態の光ビ
ーム記録装置を示し、図１、図８および図９と同一の部
分は同一の引用数字で示されているので、重複する説明
は省略するが、本発明の第１の実施の形態の光ビーム記
録装置における集光光学系２の代わりにマイクロレンズ
アレイ２５を用いている。ここでは半導体レーザアレイ
１のそれぞれの発光部に対して１つのマイクロレンズ
（図示せず）が対応して結像作用を行っている。

【００３５】図１１には本発明の第５の実施の形態の光
ビーム記録装置を示し、図１、図８、図９および図１０
と同一の部分は同一の引用数字で示されているので、重
複する説明は省略するが、本発明の第４の実施の形態の
光ビーム記録装置に加え、副走査方向にのみパワーを持
つアナモフィック光学系３と、アナモフィック光学系３
を感光体ドラム４に対して前後に移動させる移動ユニッ
ト７が付加されている。

【００３６】以上の実施の形態では、半導体レーザアレ
イとして面発光レーザを用いたが、端面発光レーザを用
いても良い。また、アレイ状光源として半導体レーザの
他にＬＥＤ素子を用いたが、それらの代わりにスーパー
ルミネッセントダイオード素子、エレクトロルミネッセ
ンス素子、蛍光体発光素子、発光体と液晶シャッターを
組み合わせたもの、発光体とＡＯ素子、あるいはＥＯ素
子を組み合わせたものを用いても良い。

【００３７】

【実施例】図２で示した半導体レーザアレイ１の設計値
の一例を示すと、以下の通りである。Ｌ₁＝３５ｍｍＬ₂＝２ｍｍＬ₃＝３０ｍｍｇ₁＝ｇ₂＝５０μｍｄ＝３〜５ｍｍ画像書込用発光部１５の１ラインの個数：１６個より３
２個発光部１５、１６の開口径：５μｍ図５で示した半導体レーザアレイ１の設計値の一例を示
すと、以下の通りである。Ｌ＝３００ｍｍｇ＝２０〜１００μｍｄ＝３〜５ｍｍ発光部１５、１６の開口径：５μｍ本発明では、以上述べた実施の形態に加えて以下の変形
が可能である。 (1) 検出用光ビームのスポット径に応じて感光体ドラム
を前後進させる。 (2) 検出用光ビームの光検出部は感光体ドラムの非画像
形成領域の全周、あるいは外周上の所定の長さにわたっ
て形成する。その長さは光検出部の応答速度等を考慮し
て決める。 (3) 検出用光ビームはレイアウトに応じてミラー等によ
って光路を変更される。 (4) 画像書込用光ビームを検出用光ビームとして利用す
る。 (5) 集光光学系の前後進は主走査方向、副走査方向、あ
るいはその両方向のそれぞれのビーム径を調整するよう
に制御される。

【００３８】

【発明の効果】以上述べた通り、本発明の光ビーム記録
装置によると、検出用発光部から出射される検出用光ビ
ームを検出して画像書込用光ビームの焦点位置のずれを
制御するようにしたので、高速応答性を有する光検出部
を使用しないで高精度に画像書込用光ビームの外径を制
御することができ、それによって画質の劣化を防ぎなが
ら精細度の高い画像記録を行うことができる。また、そ
れぞれの実施の形態に基づいた効果を列挙すると、以下
の通りである。 (1) 感光体の両側で検出用光ビームを検出したので、光
検出器の個数を増大せず、構成の複雑化を招かないでア
レイ状の画像書込用発光部の各光ビームの外径を高精度
で制御できる。 (2) 感光体からの反射光を利用したときは、感光体上に
焦点位置があるかどうかの検出が正確になる。 (3) ポリゴンミラー等に基づく偏向光を利用しないの
で、光検出器の応答速度が問題にならない。 (4) 集光光学系を全て球面レンズで形成すると、光軸に
対して垂直な面内の１つの軸方向のビーム系を検出する
だけで、その面内の焦点位置の補正ができる。 (5) 集光光学系を球面レンズと光軸に対して垂直な面内
の１方向のみに屈折力を有するアナモフィック系レンズ
で形成しても、２方向で焦点位置のずれを検出すること
で、ビーム径を正確に調整することができる。アナモフ
ィック系レンズで主走査方向と副走査方向の拡大縮小率
を変えたときも同様である。 (6) 主走査方向と副走査方向でビーム径が相違すると
き、一般的には、焦点位置のずれに敏感なビーム径の小
さい方を制御するだけで、焦点位置の補正ができる。 (7) 光源を移動させる代わりに集光光学系を移動させた
ときは、光源の移動によって生じる恐れのある傾きやね
じれによる像面の歪を抑制することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態の光ビーム記録装置
を示す説明図

【図２】本発明の第１の実施の形態における２次元面発
光レーザアレイを示す説明図

【図３】(a) 本発明の第１の実施の形態における光検出
器と光ビームのスポット径の関係を表す説明図 (b) 光検出器の出力を示す説明図

【図４】本発明の第１の実施の形態における制御を示す
フローチャート

【図５】本発明の第１の実施の形態における１次元面発
光レーザアレイを示す説明図

【図６】(a) 本発明の第１の実施の形態における他の光
検出器とレーザビームのスポット径の関係を表す説明図 (b) 光検出器の主走査方向の出力を示す説明図 (c) 光検出器の副走査方向の出力を示す説明図

【図７】本発明の第１の実施の形態における移動ユニッ
トの他の構成を示す説明図

【図８】本発明の第２の実施の形態における光ビーム記
録装置を示す説明図

【図９】本発明の第３の実施の形態における光ビーム記
録装置を示す説明図

【図１０】本発明の第４の実施の形態における光ビーム
記録装置を示す説明図

【図１１】本発明の第５の実施の形態における光ビーム
記録装置を示す説明図

【符号の説明】

１，半導体レーザアレイ２，集光光学系３，アナモフィック光学系４，感光体ドラム５，光検出器６ａ，６ｂ，圧電素子７，移動ユニット８，レーザ駆動回路９，信号処理回路１０，画像メモリ１１，検出回路１２，制御回路１３，１４，駆動回路１５，画像書込用発光部１６，検出用発光部１７，記録用領域１８，半導体基板２０，光電変換セグメント２１，ビームスポット２２，ＬＥＤアレイ２３，ＬＥＤ駆動回路２４，セルフォックレンズアレイ２５，マイクロレンズアレイ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像信号に応じて変調された複数の光ビ
ームを集光光学系を介して感光体上に集光して画像記録
を行う光ビーム記録装置において、前記複数の光ビームを出射するアレイ状の発光部を有す
る光ビーム用光源と、所定の位置に配置され、前記複数の光ビーム中の検出用
光ビームを検出する光検出手段と、前記光検出手段の前記検出用光ビームの検出結果に基づ
いて前記複数の光ビームの前記感光体上の集光状態を制
御する制御手段を備えたことを特徴とする光ビーム記録
装置。
【請求項２】前記光ビーム用光源は、複数の画像書込
用光ビームを出射するアレイ状の画像書込用発光部、お
よび前記画像書込用発光部に隣接して配置され、前記集
光光学系を介して前記所定の位置に集光する前記検出用
光ビームを出射する検出用発光部を有する構成の請求項
１記載の光ビーム記録装置。
【請求項３】前記光ビーム用光源は、前記アレイ状の
画像書込用発光部が配置された記録用領域、および前記
検出用発光部として離間して形成された第１および第２
の検出用発光部が配置された第１および第２の検出用領
域を有し、前記光検出手段は、前記第１および第２の検出用発光部
から出射される第１および第２の検出用光ビームを検出
する第１および第２の光検出部を有し、前記制御手段は、前記第１および第２の検出用光ビーム
の検出結果に基づいて前記複数の画像書込用光ビームの
前記感光体上の集光状態を制御する構成の請求項２記載
の光ビーム記録装置。
【請求項４】前記光ビーム用光源は、前記第１および
第２の検出用発光部が形成された前記第１および第２の
検出用領域が前記記録用領域の両側に配置された構成の
請求項３記載の光ビーム記録装置。
【請求項５】前記光ビーム用光源は、前記第１および
第２の検出用発光部を結ぶ直線が主走査ラインと交差す
るように前記第１および第２の検出用領域に形成されて
いる構成の請求項４記載の光ビーム記録装置。
【請求項６】前記光検出手段は、前記検出用光ビーム
が集光点に向かって収束する収束側領域、あるいは前記
集光点から拡散する拡散側領域の何れかの領域に配置さ
れている構成の請求項１記載の光ビーム記録装置。
【請求項７】前記光検出手段は、前記所定の位置とし
て前記感光体に隣接した位置に配置されている構成の請
求項１記載の光ビーム記録装置。
【請求項８】前記光検出手段は、前記所定の位置とし
て前記検出用光ビームの前記感光体からの反射光を受光
する位置に配置されている構成の請求項１記載の光ビー
ム記録装置。
【請求項９】前記光検出手段は、前記検出用光ビーム
のビーム径をその中心を通る１つの直線に沿って検出す
る構成の請求項１記載の光ビーム記録装置。
【請求項１０】前記光検出手段は、前記検出用光ビー
ムのビーム径をその中心を通る直交した２つの直線に沿
って検出する構成の請求項１記載の光ビーム記録装置。
【請求項１１】前記光検出手段は、前記所定の位置と
して光路変更手段によって変更された前記検出用光ビー
ムの光路上に配置されている構成の請求項１記載の光ビ
ーム記録装置。
【請求項１２】前記光検出手段は、前記第１および第
２の光検出部が前記感光体の両縁の非画像形成領域に配
置されている構成の請求項３記載の光ビーム記録装置。
【請求項１３】前記光検出手段は、前記第１および第
２の光検出部が前記感光体に隣接してその両側に配置さ
れている構成の請求項３記載の光ビーム記録装置。
【請求項１４】前記制御手段は、前記光ビーム用光源
を前記複数の光ビームの光軸に沿って前後進させる光源
移動手段を含む構成の請求項１記載の光ビーム記録装
置。
【請求項１５】前記制御手段は、前記集光光学系を前
記複数の光ビームの光軸に沿って前後進させる光学系移
動手段を含む構成の請求項１記載の光ビーム記録装置。
【請求項１６】前記制御手段は、前記感光体を前記複
数の光ビームの光軸に沿って前後進させる感光体移動手
段を含む構成の請求項１記載の光ビーム記録装置。