JPH02140710A - 画像形成装置 - Google Patents

画像形成装置

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JPH02140710A
JPH02140710A JP29563588A JP29563588A JPH02140710A JP H02140710 A JPH02140710 A JP H02140710A JP 29563588 A JP29563588 A JP 29563588A JP 29563588 A JP29563588 A JP 29563588A JP H02140710 A JPH02140710 A JP H02140710A
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light beam
signal
condensing
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image
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JP29563588A
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Hiromichi Yamanaka
弘通 山中
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ビームを照射して画像を形成する画像形
成装置に係り、特に光ビームの焦点を調整する装置に関
するものである。
〔従来の技術〕
近年、レーザビームプリンタ等の画像形成装置の画像品
質の向上が要求され、印字画像の高精度化、すなわち解
像度等が240,300,400DPIといった具合に
進んでいる。このため、印字する画素を小さくしなけれ
ばならず、光ビームのスポット径を小さくする必要が生
じてきた。
第13図は従来の画像形成装置の構成を説明する斜視図
である。
この図において、51は画像信号(VDO)で、レーザ
ユニット52に入力される。53は前記レーザユニット
52により0N10FF変調されたレーザビーム、55
はモータで、ポリゴンミラー56を定速回転させる。5
9は集光レンズで、レーザビーム53を感光ドラム58
上に焦点を結ばせる。57はfθレンズで、レーザビー
ム53が感光ドラム58上を一定速度で走査するように
fθ補正する。従って、画像信号51により変調された
レーザビーム53.54は感光ドラム58上に水平走査
される。60はビーム検知手段となる、例えばフォトダ
イオードで構成される光電変換素子で、画像書込みタイ
ミングとなる光ビーム位置検出信号(ビームデイテクト
信号BD)61を出力する。62は転写紙で、図示しな
い現像器および転写帯電器により現像された画像が転写
された状態に対応する。
第14図は、第13図に示した画像形成装置の画像書込
みタイミングを説明するタイミングチャートである。
光ビーム位置検出信号(BD倍信号61が検知されると
、所定時間T経過後、画像信号51に応じた画像記録処
理を1ライン単位に実行し、現像、転写、定着の各プロ
セスを経てj1%−トコピーを得る。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の画像形成装置は上記のように構成されており、特
に集光レンズ59はあらかじめ感光ドラム58上に、焦
点を結ぶ位置に調整されて固定配置されているため、外
部から加わる信号や温度変化等で物理的な歪が生じ、焦
点がずれるという極めて重大な問題点があった。このた
め、−旦焦点位置がほんの僅かずれてしまっても、印字
品位が大幅に低下し、印字品位の高精細化という要求に
も対応できな(なるといった問題も発生する。
この発明は、上記の問題点を解決するためになされたも
ので、レーザビームの焦点位置ずれを検知して自動調整
することにより、常に良好なスポット径を保持した状態
でレーザービームを感光体に結像できる画像形成装置を
得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る画像形成装置は、集光手段を光ビームの
照射方向に対して前後に移動させる移動手段と、感光体
に主走査される所定の光ビーム位置を検出するビーム位
置検出手段と、このビーム位置検出手段の出力をモニタ
しながら移動手段の駆動を制御して、集光手段の位置を
自動調整する位置調整手段とを設けたものである。また
、位置調整手段はビーム位置検出手段から出力されるパ
ルスをカウントしてまたは光ビームの光強度を検知して
集光手段の位置を調整する。
〔作用〕
この発明においては、位置調整手段は、ビーム位置検出
手段の出力を位置ずれ検知手段がモニタしながら移動手
段の駆動を制御し、集光手段の位置を光ビームの照射方
向に対して前後に移動して自動調整し、光ビームの集光
位置を適正位置に調整する。その際、ビーム位置検出手
段から出力される光強度またはパルス信号を検知して、
集光手段の位置を自動調整する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示す画像形成装置の構成
を説明するブロック図であり、1は画像信号で、図示し
ない外部装置より入力される。
2はレーザユニットで、画像信号1により0N10FF
変調された変調ビーム3を出射する。4は集光レンズで
、後述する移動機構によりレーザ出射方向に耐して前後
に移動可能に構成されており、レーザユニット2より出
射された変調ビーム3の焦点を感光ドラム8に合せる位
置に自動調整される(調整動作については詳細に後述す
る)。
5はスキャナモータで、ポリゴンミラー6を一定速度で
回転させ、変調ビーム3を偏向する。
7はfθレンズで、変調ビーム3が感光ドラム8上を一
定速度で走査するようにfθ補正する。
9はこの発明のビーム位置検出手段を構成する光電変換
部で、主走査される変調ビーム3を画像書き出し直前に
検知するとともに、プリント開始時に強制点灯されなが
ら走査されるレーザ光を検知し、その検知信号(BDO
信号とも呼ぶ)10をプリンタ制御手段に出力する。
なお、後述するCPUは位置調整手段を兼ねており、光
電変換部9の出力をモニタしながら移動機構の駆動を制
御し、集光レンズ4の位置を光ビームの照射方向に対し
て前後に移動して自動調整し、光ビームの集光位置を適
正位置に調整する。
111才記録媒体となる転写紙で、矢印方向に搬送され
る。
第2図は第1図に示した光電変換部9の構成を説明する
断面図であり、9aはスリット部で、スリット81〜S
4と遮光部Sdより構成されている。なお、スリット数
は4個に限定されることなく、検出するビーム位置の数
に依存して決定される。9bはフォトダイオードで、ス
リット81〜S4を介して順次透過されるレーザ光を検
知して、第3図に示す電気信号変換回路からBDO信号
10を順次出力する。なお、図中の矢印はレーザ光の走
査方向を示す。
第3図は、第2図に示したフォトダイオード9bを電気
信号に変換する回路図であり、13は電流検出抵抗器で
、レーザビーム(変調ビーム)3が当たることにより、
フォトダイオード9bに流れる電流を検出して検知電圧
Vに変換する。
14はコンパレータで、基準電位Vsと上記電流検出抵
抗器13によって検出されたA点の検知電圧■とを比較
し、パルス信号たるBDO信号10をポートB(B点)
より出力する。
第4図は、第3図の動作説明図であり、レーザの1主査
に対して、正常時には、例えば4個のBDO信号10(
パルスBDOI〜BDO4)を出力する。
また、第1図に示した集光レンズ4は、第5図に示すよ
うに、レーザビーム3の照射方向に前後移動可能な構成
となっている。
第5図は、第1図に示した集光レンズ4の移動機構を説
明する斜視図であり、第1図と同一のものには同じ符号
を付しである。
この図において、24はステッピングモータで、後述す
る制御手段により所定パルス数だけ回転する。25はギ
アボックスで、ステッピングモータ24の回転角に対し
て集光レンズ4の移動量が微小になるように構成されて
いる。
次に第6図(a)、(b)を参照しながら集光レンズの
焦点位置調整制御動作について説明する。
第6図(a)、(b)は、第1図に示したビーム検出手
段9から出力されるBDO信号10の出力特性を説明す
る図であり、同図(a)は集光レンズ4が正常な焦点位
置に位置決めされた場合に対応し、同図(b)は集光レ
ンズ4の焦点位置がずれた場合に対応する。
ビーム検知手段9上を走査されたレーザビーム3はスリ
ットS1上に到達する時にフォトダイオード9bによっ
て検出され、その時のA点での検知電圧V(第3図参照
)は基準電位Vsとなり、B点の出力はLレベルとなる
。次にスリットSlを通過した後、遮光部Sd上にレー
ザビーム3が到達すると、遮光部Sdによって遮光され
、A点での検知電圧Vは、V<Vsとなり、B点での出
力はHレベルとなる。次に再びスリットS。
上に到達すると、フォトダイオード9bによって検出さ
れたA点での検知電圧V<Vsとなり、B点の出力はL
となる。従って、焦点があっていればBDO信号10は
計4個のパルス(第6図(a)参照)が出力される。
一方、レーザビーム3の焦点がずれている時の検知電圧
Vは、第6図(b)に示されるように、ビーム検知手段
9上を走査されたレーザビーム3は、スリットS1上に
到達する時に、フォトダイオード9bによって検出され
、その時のA点での検知電圧Vは、V>Vsとなり、B
点の出力はLレベルとなる。次にスリットs1を通過後
、遮光部Sd上にレーザビーム3が到達するが、この時
レーザビーム3の焦点が合っていないために、スリット
S、、S、の両方からレーザビーム3が入光してしまい
、A点での検′知電圧Vは、依然として−V>Vsのま
まであり、B点での出力も依然としてLレベル状態を維
持する。そして、その後スリットS、上にレーザビーム
3が到達すると、フォトダイオード9bによって検出さ
れA点での検知電圧Vは同様にV>Vsとなり、B点で
の出力はLレベルとなる。
従って、焦点の外れたレーザビーム3がビーム検知手段
9上を走査すると、ビーム検出信号9から出力されるB
DO信号10の出力数は1個となる。
これらの焦点状態出力特性から、BDO信号10の出力
数をカウントすることにより、集光レンズ4の位置のず
れを判定することができる。
また、とともに、BDO信号10の出力数があらかじめ
設定されたスリット数分検出されるまで、ステッピング
モータ24を第7図に示す制御手段により正逆転駆動制
御(例えば第8図に示すフローチャート)すれば、適正
焦点位置に集光レンズ4を自動位置決めすることが可能
となる。
第7図はこの発明による位置調整手段の構成を説明する
制御ブロック図であり、第1図と同一のものには同じ符
号を付しである。
この図において、26はカウンタで、CPU27からの
サンプリング開始信号(SAMP)28に同期してビー
ム検知手段9から出力されるBDO信号10のカウント
を開始する。カウンタ26にはあらかじめ所定のカウン
ト値(この実施例では「4」)が設定されており、BD
O信号10のカウント値と設定値とが一致しないときに
エラー信号(ERR)29を出力する。30はステッピ
ングモータ駆動手段で、CPU27からのステッピング
モータ駆動信号31により所定パルス数だけステッピン
グモータ24を駆動する。
第8図はこの発明による第1の焦点調整制御手順の一例
を示すフローチャートである。なお、(1)〜(15)
は各ステップを示す。
CPU27は、まず所定のタイミングでスキャナモータ
6を駆動しく1)、スキャナモータ6が所定回点数に到
達すると、すなわち、スキャナレディ信号(RDY)が
出力されるのを待機しく2)、スキャナレディ信号(R
DY)が出力されたら、レーザユニット2を強制的にO
Nする(3)。
次いで、BDO信号10の検出タイミングになるのを待
機しく4)、検出タイミングにカウンタ26に対してサ
ンプリング開始信号28を出力する(5)。次いで、エ
ラー信号29がカウンタ26より出力されたかどうかを
判断しく6)、YESならばサンプリング開始信号28
をOFFしく7)、正回転フラグが立っているかどうか
を判断しく8)  Noならばステッピングモータ24
を1ステップ正回転しく9)、集光レンズ4が所定量移
動したかどうかを判断しく10)、Noならばステップ
(4)に戻り、YESならば正回転フラグを0FFL、
て(11)、ステップ(4)に戻る。
一方、ステップ(8)の判断で、YESの場合はステッ
ピングモータ24を1ステップ逆回転しく12)、集光
レンズ4が所定量移動したかどうかを判断しく13) 
 Noならばステップ(4)に戻り、YESならば正回
転フラグをONしく14)、ステップ(4)に戻る。
一方、ステップ(6)の判断で、Noならばサンプリン
グ開始信号28を0FFL(15)、処理を終了する。
このように、カウンタ26がエラー信号29を出力した
ら、CPU27はステッピングモータ駆動手段30に正
逆転信号32を出力すると同時に、ステッピングモータ
駆動信号31を1クロツク出力する。その後、ステップ
(4)に戻り、BDO信号10が入って(るタイミング
でカウンタ26にサンプリング開始信号28を出力し、
エラー信号29をモニタする。そして、ステッピングモ
ータ24を所定回転数、すなわち集光レンズ4を所定量
動かしてもエラー信号29が解消されなかった場合は、
正逆転信号32を逆転し、同様の動作を繰り返す。やが
てカウンタ26からのエラー信号29がFalseにな
る位置、すなわちBDO信号10が4パルス検出できる
位置を検出すると、集光レンズの焦点が合ったと判断し
、一連の制御ルーチンを抜ける。
このような上記ステップ(1)〜(15)に示す制御を
実行することによって感光ドラム8上にレーザビーム3
の焦点を結ぶことができる。
〔第2の実施例〕     − 第9図は、第2図に示したフォトダイオード9bを電気
信号に変換する他の回路図であり、第2図と同一のもの
には同じ符号を付しである。
この図において、OPはオペアンプで、抵抗器Rにより
負帰還回路を構成し、フォトダイオード9bからの出力
を増幅する。Dはダイオードで、BDO信号10を脈流
する。Cはホールドコンデンサで、CPU27から出力
されるサンプルホールド信号SHにより入切するスイッ
チS1の動作に基づいてピーク値をホールドする。40
はA/D変換器で、ホールドコンデンサCに充電された
ピーク電圧をA/D変換してCPU27に出力する。
第10図(a)、(b)はビーム検知手段9の検知電圧
特性を説明する図であり、同図(a)は集光レンズ4の
焦点位置が正常な場合に対応し、同図(b)は集光レン
ズ4の焦点位置がずれている場合に対応する。
この図から分るように、集光レンズ4の焦点位置がずれ
ると、同図(b)に示すように、レーザビーム3の光は
広範囲に分布するため、スリットを通過する時のレーザ
ビーム3の光量は、焦点が合っている場合と比較して小
さ((V+ >Vt )なる。そこで、レーザビーム3
の光量レベル変化を電圧信号として捕えて、その電圧信
号をモニタすれば、集光レンズ4の焦点位置を第11図
に示す回路により決定することが可能となる。
第11図はこの発明による他の位置調整手段の構成を説
明する制御ブロック図であり、第1図と同一のものには
同じ符号が付しである。
この図において、33はピークホールド回路で、ビーム
検知手段9の検知電圧Vのピーク値をCPU34からの
サンプルホールド信号35に同期してサンプリング開始
する。36はA/D変換器で、ピークホールド回路33
にホールドされた検知電圧Vのピーク値を所定ビットに
A/D変換してCPU34に出力する。
なお、CPU34には、第10図(a)に示した基準電
圧V、に対応するディジタルデータが記憶されている。
以下、第12図に示すフローチャートに基づいて動作に
ついて説明する。
第12図はこの発明による第2の焦点調整制御手順の一
例を示すフローチャートである。なお、(1)〜(11
)は各ステップを示す。
CPU34は、所定のタイミングでスキャナモータ5を
駆動しく1)、スキャナモータ5が定速回転(レディ信
号送出)するのを待機しく2)、レーザユニット2を強
制的にONする(3)。
次にBDO信号10が入って(るべきタイミングを待機
しく4)、入ってくるべきタイミングでピークホールド
回路33にサンプルホールド信号35を出力して(5)
、ピークホールド回路33に検知電圧Vをホールドさせ
る。ピークホールド回路33にホールドされた検知電圧
VはA/D変換器36によりA/D変換されCPU34
に送られる。
次いで、CPU34は変換値を読み込み、メモリ内容と
比較する(6)。初めはメモリ内容は「0」なので、変
換値そのものがメモリに記憶される(7)。次いで、サ
ンプルホールド信号35を0FFL (8) 、ステッ
ピングモータ24を1ステップ回転させ(9)、ステッ
プ(4)に戻り、次のBDO信号検出タイミングを待つ
。そして、次のBDO信号検出タイミングで再び、サン
プリングを開始し、変換値とメモリ内容とを比較する。
今回の変換値が直前の変換値よりも大きければ逐次メモ
リ内容を更新する。
以上の動作を繰り返し行い、初めて変換値がメモリ内容
よりも小さくなったとき、すなわちホールド電圧がピー
クを過ぎた場合(ステップ(5)の判断で、Noの場合
) 1ステツプ前の値がピーク値と判断してステッピン
グモータ24を1ズテツブ逆回転させる(10)。次い
で、サンプルホールド信号35を0FFI、(11) 
、処理を終了する。
上記のように制御を行うことによって、感光ドラム8上
にレーザビーム3は焦点を結ぶことができる。
なお、上記実施例では、賓光手段の位置調整制御実行時
期については特に限定していないが、最適な画像を記録
するため、電源投入時および連続プリント開始直前また
は環境温度変動を捕えて実行すれ+2さらに緻密な制御
が可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明は集光手段を光ビームの
照射方向に対して前後に移動させる移動手段と、感光体
に主走査される所定の光ビーム位置を検出するビーム位
置検出手段と、このビーム位置検出手段の出力をモニタ
しながら移動手段の駆動を制御して、集光手段の位置を
自動調整する位置調整手段とを設け、ビーム位置検出手
段がら出力されるパルスをカウントしてまたは光ビーム
の光強度を検知して集光手段の位置を調整するように構
成したもので、本来ビーム位置を検出するビーム位置検
出手段の出力から集光手段の焦点位置を自動調整できる
。従って、何らかの原因で集光手段の位置が基準位置よ
りもずれても、常に最適な位置に調整でき、高精細な画
像を記録するに相応しい光ビームを感光体に結像できる
優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す画像形成装置の構成
を説明するブロック図、 第2図は、第1図に示した光電変換部9の構成を説明す
る断面図、 第3図は、第2図に示したフォトダイオード9bを電気
信号に変換する回路図、 第4図は、第3図に示した電気変換回路出力を示す図、 第5図は、第1図に示した集光レンズ4の移動機構を説
明する斜視図、 第6図(a)、(b)は、第1図に示したビーム検出手
段9から出力されるBDO信号10の出力特性を説明す
る図、 第7図はこの発明による位置調整手段の構成を説明する
制御ブロック図、 第8図はこの発明による第1の焦点調整制御手順の一例
を示すフローチャート、 第9図は、第2図に示したフォトダイオード9bを電気
信号に変換する他の回路図。 第10図(a)、(b)はビーム検知手段9の検知電圧
特性を説明する図、 第11図はこの発明による他の位置調整手段の構成を説
明する制御ブロック図、 第12図はこの発明による第2の焦点調整制御手順の一
例を示すフローチャート、 第13図は従来の画像形成装置の構成を説明する斜視図
、 第14図は、第13図に示した画像形成装置の画像書込
みタイミングを説明するタイミングチャートである。 図中、lは画像信号、2はレーザユニット、3は変調ビ
ーム(レーザビーム)、4は集光レンズ、5はスキャナ
モータ、6はポリゴンミラー7はfθレンズ、8は感光
ドラム、9は光電変換部、10はBDO信号である。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外部装置からの画像信号により変調された光ビー
    ムを照射する光ビーム照射手段と、この光ビーム照射手
    段により照射された光ビームを集光する集光手段と、こ
    の集光手段により集光された光ビームを感光体上に水平
    走査する走査手段とを有する画像形成装置において、前
    記集光手段を前記光ビームの照射方向に対して前後に移
    動させる移動手段と、前記感光体に主走査される前記所
    定の光ビーム位置を検出するビーム位置検出手段と、こ
    のビーム位置検出手段の出力をモニタしながら前記移動
    手段の駆動を制御して、前記集光手段の位置を自動調整
    する位置調整手段とを具備したことを特徴とする画像形
    成装置。
  2. (2)位置調整手段は、ビーム位置検出手段から出力さ
    れるパルスをカウントして集光手段の位置ずれを調整す
    ることを特徴とする請求項(1)記載の画像形成装置。
  3. (3)位置調整手段は、光ビームの光強度を検知して集
    光手段の位置ずれを調整することを特徴とする請求項(
    1)記載の画像形成装置。
JP29563588A 1988-11-21 1988-11-21 画像形成装置 Pending JPH02140710A (ja)

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Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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