JPH10107341A - レーザ装置 - Google Patents
レーザ装置Info
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- JPH10107341A JPH10107341A JP8256931A JP25693196A JPH10107341A JP H10107341 A JPH10107341 A JP H10107341A JP 8256931 A JP8256931 A JP 8256931A JP 25693196 A JP25693196 A JP 25693196A JP H10107341 A JPH10107341 A JP H10107341A
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- Japan
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- laser
- semiconductor element
- signal
- power supply
- laser device
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザ装置の動作中にコネクタの誤接続の検
出を行ない電源の故障を防ぐ。 【解決手段】 レーザ装置動作中にレーザ電源１の第１
の半導体素子７から認定信号をレーザ発振器１１に送
り、この信号に対しレーザ発振器１１の第２の半導体素
子（演算回路）１６で予め決められた演算を行ない、レ
ーザ電源１の第１の半導体素子７の演算結果比較回路１
０にて予め決められた信号と照合し、一致しなければレ
ーザ電源１の動作を停止する。
出を行ない電源の故障を防ぐ。 【解決手段】 レーザ装置動作中にレーザ電源１の第１
の半導体素子７から認定信号をレーザ発振器１１に送
り、この信号に対しレーザ発振器１１の第２の半導体素
子（演算回路）１６で予め決められた演算を行ない、レ
ーザ電源１の第１の半導体素子７の演算結果比較回路１
０にて予め決められた信号と照合し、一致しなければレ
ーザ電源１の動作を停止する。
Description
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ装置に関
し、特に電源と発振器分離型のレーザ装置に関する。
し、特に電源と発振器分離型のレーザ装置に関する。
【０００１】
【従来の技術】従来、この種の誤接続検出回路は、ケー
ブルを接続する電子機器において、ケーブルの誤接続を
検出する目的で用いられている。
ブルを接続する電子機器において、ケーブルの誤接続を
検出する目的で用いられている。
【０００２】例えば、特開平０６−２２３９５０には、
電子機器のインターフェースにケーブル端末のコネクタ
を接続したときに電子機器から信号をインターフェース
の所定の端子に導出し、この信号からコネクタ側でケー
ブルの種別を表すＩＤ信号を生成して電子機器に送り返
し、予め登録されたＩＤと照合し、接続が適合している
か否かを判定する技術が記載されている。
電子機器のインターフェースにケーブル端末のコネクタ
を接続したときに電子機器から信号をインターフェース
の所定の端子に導出し、この信号からコネクタ側でケー
ブルの種別を表すＩＤ信号を生成して電子機器に送り返
し、予め登録されたＩＤと照合し、接続が適合している
か否かを判定する技術が記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】第１の問題点は、コネ
クタが完全に接続されていない場合や、コネクタピンの
接触不良がある場合に、動作中に誤接続の検出を行なわ
ないことである。
クタが完全に接続されていない場合や、コネクタピンの
接触不良がある場合に、動作中に誤接続の検出を行なわ
ないことである。
【０００４】その理由は、誤接続の検出はコネクタ接続
初期のみ行なうことにある。
初期のみ行なうことにある。
【０００５】第２の問題点は、サーマルスイッチが動作
した場合に複数あるサーマルスイッチのどれが動作した
かを特定できずに、不具合カ所を検出できないことであ
る。
した場合に複数あるサーマルスイッチのどれが動作した
かを特定できずに、不具合カ所を検出できないことであ
る。
【０００６】その理由は、サーマルスイッチが直列に繋
がれているために動作したサーマルスイッチの特定がで
きないことにある。
がれているために動作したサーマルスイッチの特定がで
きないことにある。
【０００７】本発明の目的は、レーザ電源とレーザ発振
器の接続状態を動作開始前および動作中に監視する半導
体素子を有するレーザ装置を提供することにある。
器の接続状態を動作開始前および動作中に監視する半導
体素子を有するレーザ装置を提供することにある。
【０００８】本発明の他の目的は、複数あるサーマルス
イッチによる異常検出において、動作したサーマルスイ
ッチを特定する機能を有する半導体素子を有するレーザ
装置を提供することにある。
イッチによる異常検出において、動作したサーマルスイ
ッチを特定する機能を有する半導体素子を有するレーザ
装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザ装置は、
レーザ電源とレーザ発振器の接続状態を動作中に監視
し、異常時にレーザ電源を停止することを特徴とする。
より具体的には、レーザ装置の動作中に予め決められた
認定信号をレーザ電源からレーザ発振器に送り、送られ
た信号に決められた処理をしてレーザ電源に送り返し、
レーザ電源にて送り返された信号を予め決められた信号
と照合し、間違っていればレーザ電源を停止する手段
（図１の７，１６）を有する。
レーザ電源とレーザ発振器の接続状態を動作中に監視
し、異常時にレーザ電源を停止することを特徴とする。
より具体的には、レーザ装置の動作中に予め決められた
認定信号をレーザ電源からレーザ発振器に送り、送られ
た信号に決められた処理をしてレーザ電源に送り返し、
レーザ電源にて送り返された信号を予め決められた信号
と照合し、間違っていればレーザ電源を停止する手段
（図１の７，１６）を有する。
【００１０】また、複数あるサーマルスイッチのうち、
動作したものを特定することをも特徴とする。具体的に
は、複数のサーマルスイッチそれぞれを並列に監視し、
全てのサーマルスイッチの状態を時系列的な信号として
レーザ電源に送る手段（図２の１７）と、発振器から送
られた信号を監視し、異常があった場合に電源を停止す
る手段（図２の２０）と、異常カ所を外部に表示する手
段（図２の２１）を含む。
動作したものを特定することをも特徴とする。具体的に
は、複数のサーマルスイッチそれぞれを並列に監視し、
全てのサーマルスイッチの状態を時系列的な信号として
レーザ電源に送る手段（図２の１７）と、発振器から送
られた信号を監視し、異常があった場合に電源を停止す
る手段（図２の２０）と、異常カ所を外部に表示する手
段（図２の２１）を含む。
【００１１】本発明によればレーザ電源とレーザ発振器
の接続状態を動作中に監視している。このため、動作中
でも接続の異常を検出できる。また、誤接続による過大
な負荷を防ぎ、寿命の消耗を軽減できる。
の接続状態を動作中に監視している。このため、動作中
でも接続の異常を検出できる。また、誤接続による過大
な負荷を防ぎ、寿命の消耗を軽減できる。
【００１２】また複数あるサーマルスイッチのうち、動
作したものを特定できる。このため、不具合カ所が容易
に特定でき、レーザ管の寿命も長くなる。また、配線を
最小限に抑え、レーザ装置をコンパクトにできる。
作したものを特定できる。このため、不具合カ所が容易
に特定でき、レーザ管の寿命も長くなる。また、配線を
最小限に抑え、レーザ装置をコンパクトにできる。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の第１の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【００１４】本発明の第１の実施の形態を示すブロック
図である図１を参照すると、レーザ装置２１は、レーザ
光を出力するレーザ発振器１１とレーザ発振器１１を駆
動するレーザ電源１とから構成されている。レーザ発振
器１１はレーザ光を出力するレーザ管１３と、スタート
時に高電圧を印加して動作させるスタート回路１５と、
動作時にレーザ管が異常な温度に上昇した場合にオープ
ンとなり、レーザ電源１に異常を認識させるサーマルス
イッチ１２，１４と、レーザ電源１から送られた認識信
号を演算する第２の半導体素子１６により構成されてい
る。
図である図１を参照すると、レーザ装置２１は、レーザ
光を出力するレーザ発振器１１とレーザ発振器１１を駆
動するレーザ電源１とから構成されている。レーザ発振
器１１はレーザ光を出力するレーザ管１３と、スタート
時に高電圧を印加して動作させるスタート回路１５と、
動作時にレーザ管が異常な温度に上昇した場合にオープ
ンとなり、レーザ電源１に異常を認識させるサーマルス
イッチ１２，１４と、レーザ電源１から送られた認識信
号を演算する第２の半導体素子１６により構成されてい
る。
【００１５】また、レーザ電源１は、入力を制御し、レ
ーザ装置２１の動作のＯＮ／ＯＦＦを行なう入力制御回
路２と、ＡＣ入力を直流に整流する整流回路３と、整流
された電流を駆動する駆動回路４と、駆動回路４を制御
する出力制御回路６と、レーザ管１３のフィラメントに
交流電流を流すと共に直流の放電電流が流れ込むフィラ
メントトランス５と、レーザ電源１とレーザ発振器１１
の接続を監視する第１の半導体素子７により構成されて
いる。
ーザ装置２１の動作のＯＮ／ＯＦＦを行なう入力制御回
路２と、ＡＣ入力を直流に整流する整流回路３と、整流
された電流を駆動する駆動回路４と、駆動回路４を制御
する出力制御回路６と、レーザ管１３のフィラメントに
交流電流を流すと共に直流の放電電流が流れ込むフィラ
メントトランス５と、レーザ電源１とレーザ発振器１１
の接続を監視する第１の半導体素子７により構成されて
いる。
【００１６】さらに、第１の半導体素子７は、認定信号
を設定する認定信号設定回路８と、動作中に一定の時間
間隔で認定信号を出力する認定信号出力回路８と、レー
ザ発振器１１で認定信号を演算した結果送り返される回
答信号を比較し、予め設定した信号と異なっていればレ
ーザ電源１を停止する信号を出力する演算結果比較回路
から構成されている。ここで、認識信号を演算する理由
は、多くの機種を判別するためと、外来ノイズによる誤
認識を防ぐためである。
を設定する認定信号設定回路８と、動作中に一定の時間
間隔で認定信号を出力する認定信号出力回路８と、レー
ザ発振器１１で認定信号を演算した結果送り返される回
答信号を比較し、予め設定した信号と異なっていればレ
ーザ電源１を停止する信号を出力する演算結果比較回路
から構成されている。ここで、認識信号を演算する理由
は、多くの機種を判別するためと、外来ノイズによる誤
認識を防ぐためである。
【００１７】次に、図１の装置の動作について図を参照
して説明する。
して説明する。
【００１８】レーザ電源１とレーザ発振器１１にはそれ
ぞれ、第１の半導体素子７、第２の半導体素子１６を有
している。レーザ装置２１の動作中にレーザ電源１の第
１の半導体素子７に含まれる認定信号設定回路９により
設定された認定信号は認定信号出力回路８によりレーザ
発振器１１の第２の半導体素子（演算回路）１６に送ら
れる。レーザ発振器１１の第２の半導体素子（演算回
路）１６は、送られた認定信号に対して予め決められた
演算を行ない、レーザ電源１の第１の半導体素子７の演
算結果比較回路１０に回答信号として送り返す。演算結
果比較回路１０は送り返された回答信号を予め認定信号
設定回路にて設定された信号と比較し、異なっている場
合に入力制御回路２に動作停止の信号を送り、レーザ装
置２１を停止する。
ぞれ、第１の半導体素子７、第２の半導体素子１６を有
している。レーザ装置２１の動作中にレーザ電源１の第
１の半導体素子７に含まれる認定信号設定回路９により
設定された認定信号は認定信号出力回路８によりレーザ
発振器１１の第２の半導体素子（演算回路）１６に送ら
れる。レーザ発振器１１の第２の半導体素子（演算回
路）１６は、送られた認定信号に対して予め決められた
演算を行ない、レーザ電源１の第１の半導体素子７の演
算結果比較回路１０に回答信号として送り返す。演算結
果比較回路１０は送り返された回答信号を予め認定信号
設定回路にて設定された信号と比較し、異なっている場
合に入力制御回路２に動作停止の信号を送り、レーザ装
置２１を停止する。
【００１９】第１の半導体素子７および第２の半導体素
子１６の具体例としてはゲートアレイを用いる。また、
レーザ電源１とレーザ発振器１１の間の信号の伝達は、
レーザ電源１からレーザ発振器１１への出力信号を送る
線、レーザ発振器１１からレーザ電源１への出力信号を
送る線、および信号を取り込むタイミングを決めるクロ
ックの線の３本の線を通して行なう。
子１６の具体例としてはゲートアレイを用いる。また、
レーザ電源１とレーザ発振器１１の間の信号の伝達は、
レーザ電源１からレーザ発振器１１への出力信号を送る
線、レーザ発振器１１からレーザ電源１への出力信号を
送る線、および信号を取り込むタイミングを決めるクロ
ックの線の３本の線を通して行なう。
【００２０】次に、本発明の第２の実施の形態について
図面を参照して詳細に説明する。
図面を参照して詳細に説明する。
【００２１】本発明の第２の実施の形態を示すブロック
図である図２を参照すると、レーザ発振器１１におい
て、内部のレーザ管の温度や雰囲気温度および冷却用フ
ァンの動作状態を知るための複数個のサーマルスイッチ
１２，１４が備えられている。これらのサーマルスイッ
チはレーザ管に絶縁材を介して接触しており、雰囲気温
度の上昇および、冷却ファンの冷却能力低下によりレー
ザ管温度が予め設定された温度に達した場合にＯＰＥＮ
となるように設定してある。これらのサーマルスイッチ
１２，１４をレーザ発振器１１側の第３の半導体素子１
７の電極に１個のサーマルスイッチに対し２電極を１対
として接続し、これらの１対の電極を並列に配し前記の
半導体内にこれらの１対の電極を選択できるスイッチ機
構を構成させ、時系列的に個々のサーマルスイッチのオ
ープン／クローズ状態を認識できる第１のサーマルスイ
ッチ認識回路１８を第３の半導体素子１７に持たせ、異
常時に異常信号をレーザ電源１側の第４の半導体素子１
９の第２のサーマルスイッチ認識回路２０に送り、これ
を受けた第２のサーマルスイッチ認識回路２０がレーザ
電源１を停止する信号を入力制御回路２に送り、電源を
停止するとともに、表示素子２１にて異常の表示をす
る。
図である図２を参照すると、レーザ発振器１１におい
て、内部のレーザ管の温度や雰囲気温度および冷却用フ
ァンの動作状態を知るための複数個のサーマルスイッチ
１２，１４が備えられている。これらのサーマルスイッ
チはレーザ管に絶縁材を介して接触しており、雰囲気温
度の上昇および、冷却ファンの冷却能力低下によりレー
ザ管温度が予め設定された温度に達した場合にＯＰＥＮ
となるように設定してある。これらのサーマルスイッチ
１２，１４をレーザ発振器１１側の第３の半導体素子１
７の電極に１個のサーマルスイッチに対し２電極を１対
として接続し、これらの１対の電極を並列に配し前記の
半導体内にこれらの１対の電極を選択できるスイッチ機
構を構成させ、時系列的に個々のサーマルスイッチのオ
ープン／クローズ状態を認識できる第１のサーマルスイ
ッチ認識回路１８を第３の半導体素子１７に持たせ、異
常時に異常信号をレーザ電源１側の第４の半導体素子１
９の第２のサーマルスイッチ認識回路２０に送り、これ
を受けた第２のサーマルスイッチ認識回路２０がレーザ
電源１を停止する信号を入力制御回路２に送り、電源を
停止するとともに、表示素子２１にて異常の表示をす
る。
【００２２】
【発明の効果】第１の効果は、コネクタが完全に接続さ
れていない場合や、コネクタピンの接触不良がある場合
に、動作中の発振器への過大な負担を無くし、長寿命化
することができる。
れていない場合や、コネクタピンの接触不良がある場合
に、動作中の発振器への過大な負担を無くし、長寿命化
することができる。
【００２３】その理由は、誤接続の検出を動作中にも行
なうためである。
なうためである。
【００２４】第２の効果は、レーザ管を長寿命化するこ
とができる。
とができる。
【００２５】その理由は、温度上昇カ所を特定し、寿命
に影響のある冷却用ファンの交換等の適切な処置が行な
えるためである。
に影響のある冷却用ファンの交換等の適切な処置が行な
えるためである。
【図１】本発明の第１の実施の形態を示すレーザ装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態を示すレーザ装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
１ レーザ電源 １１ レーザ発振器
Claims (4)
- 【請求項１】 レーザ電源とレーザ発振器とを電気的接
続手段により接続して構成するレーザ装置において、前
記レーザ電源内に第１の半導体素子を具備させるととも
に前記レーザ発振器内に第２の半導体素子を具備させ
て、前記電気的手段を介して前記レーザ電源とレーザ発
振器とを接続し、レーザ装置の動作開始時に前記第１の
半導体素子から前記第２の半導体素子へ認識信号を送
り、第２の半導体素子が定められた処理を行なった後に
前記第１の半導体素子に回答信号を送り、この回答信号
と予め定められた信号とを照合することにより組合せの
確認を行ない、正しい組合せの場合のみ動作開始をする
誤接続検出手段を有することを特徴とするレーザ装置。 - 【請求項２】 前記信号の授受により組合せの正しさを
レーザ装置動作開始後もある時間間隔で確認し、正しい
場合に動作を継続させ、誤った組合せの場合には動作を
停止する機能を前記第１および第２の半導体素子間の信
号の授受に持たせたことを特徴とする請求項１記載のレ
ーザ装置。 - 【請求項３】 前記レーザ発振器内部には、レーザ管の
温度や雰囲気温度および冷却用ファンの動作状態を知る
ためのサーマルスイッチが複数個備えられ、それらのサ
ーマルスイッチを前記第２の半導体素子の電極に１個の
サーマルスイッチに対し２電極を１対として接続し、こ
れらの１対の電極を並列に配し前記第２半導体素子内に
これらの１対の電極を選択できるスイッチ機構を構成さ
せ、時系列的に個々のサーマルスイッチのオープン／ク
ローズ状態を認識できる機能を前記第１および第２の半
導体素子に持たせ、異常時に異常信号を前記第１の半導
体素子に送り電源を停止する機能を有することを特徴と
する請求項１記載のレーザ装置。 - 【請求項４】 前記電源を停止したときに停止情報を表
示素子に表示することを特徴とする請求項３記載のレー
ザ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08256931A JP3094918B2 (ja) | 1996-09-27 | 1996-09-27 | レーザ装置 |
| US08/937,604 US5946332A (en) | 1996-09-27 | 1997-09-25 | Laser having a connection detector for monitoring a connection between separated oscillator and power units |
| DE19743010A DE19743010A1 (de) | 1996-09-27 | 1997-09-29 | Laser mit Verbindungsdetektor zur Überwachung einer Verbindung zwischen getrennten Oszillator- und Versorgungseinheiten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08256931A JP3094918B2 (ja) | 1996-09-27 | 1996-09-27 | レーザ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10107341A true JPH10107341A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3094918B2 JP3094918B2 (ja) | 2000-10-03 |
Family
ID=17299365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08256931A Expired - Fee Related JP3094918B2 (ja) | 1996-09-27 | 1996-09-27 | レーザ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5946332A (ja) |
| JP (1) | JP3094918B2 (ja) |
| DE (1) | DE19743010A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013048159A (ja) * | 2011-08-29 | 2013-03-07 | Furukawa Electric Co Ltd:The | レーザ加工装置 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000064621A1 (fr) * | 1999-04-27 | 2000-11-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Procede pour regler des conditions de traitement sur un appareil d'usinage laser, et support d'enregistrement lisible par ordinateur pour programme |
| JP2002158396A (ja) * | 2000-11-22 | 2002-05-31 | Nec Corp | オートレーザーパワーコントロール回路 |
| US20060096956A1 (en) * | 2001-10-19 | 2006-05-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of controlling working conditions of a laser working machine and a computer-readable storage medium |
| DK200700799A (da) | 2007-06-01 | 2008-12-02 | Hansen Torben Kirk | Skåneværktöj til et bukkeværktöj |
| CN101593928B (zh) * | 2008-05-27 | 2011-03-30 | 北京中视中科光电技术有限公司 | 一种控制激光发射的设备和方法 |
| DE102008029412B4 (de) * | 2008-06-23 | 2010-07-22 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Überwachen eines Anschlusses eines elektronischen Elementes an einem Hardwarenanschluß |
| CN108804261B (zh) * | 2017-05-05 | 2023-05-19 | 中兴通讯股份有限公司 | 连接器的测试方法及装置 |
| CN112547571B (zh) * | 2020-12-30 | 2024-03-15 | 河南福申电子科技有限公司 | 一种自动检测筛选大批量激光器的方法及其监测系统 |
| KR102499844B1 (ko) * | 2021-05-04 | 2023-02-16 | 성광메디텍 주식회사 | 드레싱 모자 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60223179A (ja) * | 1984-04-20 | 1985-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | レ−ザ発振器 |
| US4950268A (en) * | 1987-02-27 | 1990-08-21 | Xintec Corporation | Laser driver and control circuit |
| US5379145A (en) * | 1989-12-01 | 1995-01-03 | Scientific-Atlanta, Inc. | Laser transmitter for light wave (fiber optic) communication espectially of AM modulated CATV signals having means . . . against damage |
| JPH06223950A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-12 | Nec Eng Ltd | ケーブル誤接続検出装置 |
-
1996
- 1996-09-27 JP JP08256931A patent/JP3094918B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-09-25 US US08/937,604 patent/US5946332A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-29 DE DE19743010A patent/DE19743010A1/de not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013048159A (ja) * | 2011-08-29 | 2013-03-07 | Furukawa Electric Co Ltd:The | レーザ加工装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19743010A1 (de) | 1998-04-02 |
| US5946332A (en) | 1999-08-31 |
| JP3094918B2 (ja) | 2000-10-03 |
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