CN108804261B - 连接器的测试方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种连接器的测试方法及装置，其中，该方法包括：获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；比较第一测试信号与第二测试信号；根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。通过本发明，解决了相关技术中针对背板连接器的测试方案成本高且无法应用于正在使用的产品中连接器测试的问题，进而达到了不需要开发测试接口卡，而是在现有的产品基础上，通过与连接器相连的业务单板间接实现连接器测试的目的，从而实现了减少开发测试接口卡的成本的技术效果。

Description

连接器的测试方法及装置
技术领域
本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种连接器的测试方法及装置。
背景技术
在大型电子设备中，通常需要多组件进行数据的相互通信。多个槽位的板卡通过背板相互连接，进行数据通信。有的电子设备中无背板，可以通过直接对接的方式相互连接。无论是有背板和无背板，多个槽位的单板之间的连接线路的测试一直是电子设备加工和调试中一个非常重要的问题。
目前，用于连接单板的连接器主要存在如下两个问题：一、由于背板连接器的管脚是由一根根的鱼眼形状的细针组成的，连接器加工的过程中需要把连接器上的一根根针和背板上的一个个小孔对齐，如果连接器上面的针脚(或管脚)不是垂直的，这样连接器的针脚不能放到过孔里，在机械按压的过程中就会把针脚压歪，这个压歪的针就会和周边的地管脚、电源管脚或其他信号管脚搭接在一起。如果连接器上的管脚与地管脚短接在一起，则在信号上表现为持续的低电平，即通常所说的固定0故障；如果连接器上的管脚与电源管脚短接在一起，则在信号上表现为持续的高电平，即通常所说的固定1故障。二、由于某些场合的单板经常插拔(例如，交换机在使用的过程中会经常插拔第一单板和第二单板)，也会导致背板连接器针脚歪的情况。这种情况用肉眼仔细观察，也能发现背板上的连接器针脚歪了，由于连接器上面的针脚数量众多，人工检测的方案不适合生产过程中的自动化大批量检测。由此，对于背板连接器的检测通常会很困难，维修起来也非常麻烦。
目前，现有技术中的背板连接器的测试方法通常有如下几种：外观检测、飞针检测、在线检测(InCircuitTest，简称ICT)、功能测试和选通测试。下面为两种常用的对背板连接器的测试方案：一种是开发特定的测试系统实现背板的测试，该测试系统包括测试实现单元、控制单元和接口板，其中，接口板上包括选通模块和测量模块。这种测试方案主要是通过接口板上的选通模块打开模拟开关或继电器，控制单元负责把测试仪器万用表连接到接口板上，通过选通背板上的信号，通过测试背板信号的电阻阻值来判断背板信号的好坏；另外一种是通过控制台、控制单元和接口适配器实现背板的测试，这种测试方案通过接口适配器扫描背板网络得到网络关系数据，通过对比测试得到的网络关系数据和标准网络关系数据得到有问题的网络。
由于不同的背板有不同的型号的连接器，以上所有的背板测试方法都需要开发专门的测试系统，成本非常高；另外，上述测试方案直接对背板连接器测试，测试过程中，连接器不能和产品同时使用，对于背板在使用过程中造成的背板连接器的针脚损坏的情况，或者背板安装到产品机框上使用的情况，上述测试方法便则不能使用了，只能通过人工目检检查背板上的针脚是否有损坏了。
针对上述技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种连接器的测试方法及装置，以至少解决相关技术中针对背板连接器的测试方案成本高且无法应用于正在使用的产品中连接器测试的技术问题。
根据本发明的一个实施例，提供了一种连接器的测试方法，包括：获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；比较第一测试信号与第二测试信号；根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。
可选地，在获取第一单板发送的与测试指令对应的测试信号之前，方法还包括：产生测试指令；将测试指令发送给第一单板，其中，第一单板内预先存储有与测试指令对应的至少一种测试信号。
可选地，测试指令至少包括如下任意一种：第一故障测试指令，用于检测连接器的管脚与地管脚连接引起的低电平故障；第二故障测试指令，用于检测连接器的管脚与电源管脚连接引起的高电平故障；第三故障测试指令，用于检测连接器的管脚与相邻管脚连接引起的短路故障。
可选地，第一测试信号和第二测试信号为由1和0组成的序列，其中，与1码对应的管脚的电平为高电平，与0码对应的管脚的电平低电平。
可选地，在测试指令为第一故障测试指令的情况下，第一测试信号为全1序列，其中，根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障，包括：如果第二测试信号全为高电平，则确定连接器上的管脚不存在低电平故障；如果第二测试信号中至少有一位为低电平，则确定连接器上的管脚存在低电平故障，并且，连接器上与低电平对应的管脚位置为存在低电平故障的管脚位置。
可选地，在测试指令为第二故障测试指令的情况下，第一测试信号为全0序列，其中，根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障，包括：如果第二测试信号为全为低电平，则确定连接器上的管脚不存在高电平故障；如果第二测试信号中至少有一位为高电平，则确定连接器上的管脚存在高电平故障，并且，连接器上与高电平对应的管脚位置为存在高电平故障的管脚位置。
可选地，在测试指令为第三故障测试指令的情况下，第一测试信号为0和1相间出现的序列，其中，根据比对结果，确定连接器上出现故障的管脚的位置，包括：如果读取到第二测试信号没有出现三个连续相等的电平，则确定连接器上的管脚不存在短路故障；如果读取到第二测试信号出现三个连续相等的电平，则确定连接器上与连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在短路故障。
可选地，在确定连接器上与连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在短路故障之后，方法还包括：将第一测试信号中与三个管脚中中间管脚对应的序列码设置为高电平或低电平，其他位设置为相反的电平；检测第二单板上的第二主芯片管脚接收到的第二测试信号；根据检测结果，确定连接器上存在短路故障的管脚。
可选地，根据检测结果，确定连接器上存在短路故障的管脚，包括：如果三个管脚中前两个管脚的电平相同，则确定连接器上与前两个管脚对应的两个管脚存在短路故障；如果三个管脚中后两个管脚的电平相同，则确定连接器上与前两个管脚对应的两个管脚存在短路故障；如果三个管脚中的三个管脚的电平均相同，则确定连接器上三个管脚均存在短路故障。
可选地，连接器一侧的管脚与第一单板内至少一个第一主芯片的管脚相连，连接器另一侧的管脚与第二单板内至少一个第二主芯片的管脚相连；其中，通过第一主芯片的Jtag接口将第一测试信号发送至第一主芯片的管脚；通过第二主芯片的Jtag接口读取第二主芯片的管脚接收到的第二测试信号。
根据本发明的另一个实施例，提供了一种连接器的测试装置，包括：第一获取模块，用于获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；第二获取模块，用于获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；比较模块，用于比较第一测试信号与第二测试信号；确定模块，用于比较第一单板发送的测试信号与第二单板接收到的测试信号。
可选地，装置还包括：生成模块，用于产生测试指令；发送模块，用于将测试指令发送给第一单板，其中，第一单板内预先存储有与测试指令对应的至少一种测试信号。
根据本发明的另一个实施例，提供了一种电子设备，包括：控制板，用于产生测试指令；第一单板，与控制板连接，用于发送与测试指令对应的第一测试信号；第二单板，与第一单板通过连接器连接，用于接收通过连接器接收到的第二测试信号；其中，控制板用于比较第一测试信号与第二测试信号，并根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。
根据本发明的又一个实施例，还提供了一种存储介质。该存储介质包括存储的程序，程序运行时执行以下步骤的程序代码：获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；比较第一测试信号与第二测试信号；根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。
根据本发明的又一个实施例，还提供了一种处理器。处理器用于运行程序，程序运行时执行以下步骤的程序代码：获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；比较第一测试信号与第二测试信号；根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。
通过本发明，通过第一单板将测试信号(即第一测试信号)发送到连接器上与第一单板相连一侧的管脚上，通过连接器的管脚将第一测试信号传递到与连接器另一侧管脚相连的第二单板，第二单板通过连接器接收测试信号(即第二测试信号)，最后通过比对第一单板发送的测试信号与第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，达到了不需要开发测试接口卡，而是在现有的产品基础上，通过与连接器相连的业务单板间接实现连接器测试的目的，从而实现了减少开发测试接口卡的成本的技术效果，在产品使用的过程中进行在线测试的技术效果，进而解决了相关技术中针对背板连接器的测试方案成本高且无法应用于正在使用的产品中连接器测试的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是本发明实施例的一种连接器的测试方法的计算机设备的硬件结构框图；
图2是根据本发明实施例的一种连接器的测试方法的流程图；
图3是根据本发明实施例的一种可选的有背板情况下的单板连接示意图；
图4是根据本发明实施例的一种可选的无背板情况下的单板连接示意图；
图5是根据本发明实施例的一种可选的连接器的测试方法的流程图；
图6是根据本发明实施例的一种可选的连接器的测试方法的流程图；
图7是根据本发明实施例的一种可选的连接器的测试方法的流程图；
图8是根据本发明实施例的一种可选的连接器的测试方法的流程图；
图9是根据本发明实施例的一种可选的连接器的测试方法的流程图；
图10是根据本发明实施例的一种可选的连接器的测试方法的流程图；
图11是根据本发明实施例的一种优选的固定0电平故障检测方法流程图；
图12是根据本发明实施例的一种优选的固定1电平故障检测方法流程图；
图13是根据本发明实施例的一种优选的短路故障检测方法流程图；
图14是根据本发明实施例的一种电子设备示意图；
图15是根据本发明实施例的一种可选的单板结构示意图；
图16是根据本发明实施例的一种可选的Jtag测试逻辑功能结构示意图；以及
图17是根据本发明实施例的一种连接器的测试装置的结构框图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
实施例1
本申请实施例1所提供的连接器的测试方法实施例可以在大型通讯设备、超高性能服务器和巨型计算机、工业计算机、高端存储设备等包含多组件进行数据通信的电子设备或者类似的装置中执行。其中，对于有背板的场景，连接器用于单板和背板垂直连接；对于无背板的场景，连接器用于单板之间对接。
以运行在计算机设备上为例，图1是本发明实施例的一种连接器的测试方法的计算机设备的硬件结构框图。如图1所示，计算机设备10可以包括一个或多个(图中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)、用于存储数据的存储器104、以及用于通信功能的传输装置106。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述电子装置的结构造成限定。例如，计算机设备10还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。
存储器104可用于存储应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的连接器的测试方法对应的程序指令/模块，处理器102通过运行存储在存储器104内的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至计算机设备10。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
传输装置106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括计算机设备10的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输装置106包括一个网络适配器(Network Interface Controller，NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输装置106可以为射频(Radio Frequency，RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。
在本实施例中提供了一种运行于上述计算机设备的连接器的测试方法，可以应用于有背板组件的电子设备的背板连接器的测试，无背板组件直接对接式设备连接器的相关测试中。图2是根据本发明实施例的一种连接器的测试方法的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：
步骤S202，获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；
步骤S204，获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；
步骤S206，比较第一测试信号与第二测试信号；
步骤S208，根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。
具体地，在上述步骤中，第一单板和第二单板可以为电子设备中通过连接器连接的业务单板，第一单板和第二单板可以通过连接器直接对接，也可以通过连接器分别与背板连接，如图3所示为根据本发明实施例的一种可选的有背板情况下的单板连接示意图，如图4所示为根据本发明实施例的一种可选的无背板情况下的单板连接示意图，无论哪种情况，由第一单板发送测试信号(即第一测试信号)，由通过连接器与第一单板连接(包括有背板和无背板的两种情况)的第二单板接收测试信号(即第二测试信号)，则可以通过比较第二单板接收到第二测试信号与第一单板发送的第一测试信号来确定连接于第一单板和第二单板之间的连接器是否发生故障。
基于上述步骤S102至S108公开的方案，通过同一连接器连接的第一单板和第二单板可以用于检测连接于二者之间的连接器上的管脚(即针脚)是否发生故障，例如，连接器上管脚由于歪针导致与地管脚短接引起固定低电平故障(或称固定“0”电平故障，即与地管脚短接的管脚都呈现持续的低电平“0”)，或者与电源管脚短接引起固定高电平故障(或称固定“1”电平故障，即与电源管脚短接的管脚都呈现持续的高电平“1”)，或者与其他相邻的信号管脚短接引起短路故障(即两个短接信号管脚会构成短路)。
此处需要说明的是，图3是根据本发明实施例的一种可选的有背板情况下的单板连接示意图，图4是根据本发明实施例的一种可选的无背板情况下的单板连接示意图；如图3和4所示，第一单板和第二单板上都有至少一个主芯片，其中，每个主芯片都有Jtag接口，Jtag接口有4根线，TCK、TMS、TDI和TDO，其中，TCK是时钟信号；TMS是Jtag模块的状态控制信号，控制芯片Jtag模块所处的状态；TDI是数据输入信号；TDO是数据输出信号。由此，作为一种可选的实施方式，连接器一侧的管脚可以与第一单板内至少一个第一主芯片的管脚相连，连接器另一侧的管脚与第二单板内至少一个第二主芯片的管脚相连；其中，通过第一主芯片的Jtag接口可以将第一测试信号发送至第一主芯片的管脚；通过第二主芯片的Jtag接口可以读取第二主芯片的管脚接收到的第二测试信号。
一种可选的实施例中，如果测试信号为由0和1构成的序列，其中，0对应的管脚电平为低电平，1对应的管脚电平为高电平，则上述第一单板发送的第一测试信号可以用于表征连接器一侧管脚的电平状态，上述第二单板通过连接器接收到的第二测试信号可以用于表征连接器另一侧管脚的电平状态。
由上可知，在本申请实施例1公开的方案中，通过第一单板将测试信号(即第一测试信号)发送到连接器上与第一单板相连一侧的管脚上，通过连接器的管脚将第一测试信号传递到与连接器另一侧管脚相连的第二单板，第二单板通过连接器接收测试信号(即第二测试信号)，最后通过比对第一单板发送的第一测试信号与第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，则可以确定连接于第一单板与第二单板之间的连接器是否出现故障。
通过本申请实施例1公开的方案，达到了不需要开发测试接口卡，而是在现有的产品基础上，通过与连接器相连的业务单板间接实现连接器测试的目的，从而实现了减少开发测试接口卡的成本，在产品使用的过程中进行在线测试的技术效果，进而解决了相关技术中针对背板连接器的测试方案成本高且无法应用于正在使用的产品中连接器测试的技术问题。
可选地，如图5所示，在获取第一单板发送的与测试指令对应的测试信号之前，上述方法还可以包括如下步骤：
步骤S502，产生测试指令；
步骤S504，将测试指令发送给第一单板，其中，第一单板内预先存储有与测试指令对应的至少一种测试信号。
具体地，在上述步骤中，上述测试指令至少包括如下任意一种：第一故障测试指令，用于检测连接器的管脚与地管脚连接引起的低电平故障；第二故障测试指令，用于检测连接器的管脚与电源管脚连接引起的高电平故障；第三故障测试指令，用于检测连接器的管脚与相邻管脚连接引起的短路故障。每种测试指令可以用于测试不同的故障类型，与每种测试指令对应的测试信号可以是一种或多种，预先存储在第一单板内，第一单板在接收到下发的测试指令后，可以获取相应的测试信号进行测试。
作为一种可选的实施例，在测试信号为由1和0组成的序列的情况下，与第一故障测试指令对应的测试信号可以为全1序列；与第二故障测试指令对应的测试信号可以为全0序列；与第三故障测试指令对应的测试信号可以为0和1相间出现的序列，其中，与1码对应的管脚的电平为高电平，与0码对应的管脚的电平低电平。例如，以8为序列码为例，与第一故障测试指令对应的测试信号可以为“11111111”，与第二故障测试指令对应的测试信号可以为“00000000”，与第三故障测试指令对应的测试信号可以是“10101010”，也可以是“01010101”。
基于上述实施例，在第一种可选的实施场景中，即在测试指令为第一故障测试指令的情况下，第一测试信号为全1序列，如图6所示，步骤S208，根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障，可以包括如下步骤：
步骤S602，如果第二测试信号全为高电平，则确定连接器上的管脚不存在低电平故障；
步骤S604，如果第二测试信号中至少有一位为低电平，则确定连接器上的管脚存在低电平故障，并且，连接器上与低电平对应的管脚位置为存在低电平故障的管脚位置。
可选地，步骤S602和S604的执行顺序是可以互换的，即可以先执行上步骤S604再执行步骤S602。
具体地，在上述步骤中，上述第二测试信号为在第一单板发送全1序列的第一测试信号后，第二单板通过连接器接收到的测试信号(即第二单板中与连接器相连的至少一个主芯片的管脚电平)；上述固定低电平故障可以为连接器的管脚与地管脚连接引起的故障，也即固定“0”电平故障。由于第一单板发送的第一测试信号可以用于表征连接器一侧管脚的电平状态，第二单板通过连接器接收到的第二测试信号可以用于表征连接器另一侧管脚的电平状态，因而，如果第二测试信号为全为高电平(即全1序列)，则表明连接器两侧的管脚的电平状态一致，可以确定连接器上的管脚不存在固定低电平故障；如果第二测试信号中不全为高电平(即序列中至少有一位为0码)，则表明连接器两侧的管脚的电平状态不一致，由于发送的第一测试信号全1序列，则连接器上与第一单板连接的一侧的管脚都为高电平，而第二测试信号表明连接器上与第二单板连接的一侧的管脚中存在低电平的管脚，则说明该管脚与地管脚短接在一起，出现了固定低电平故障。
一种可选的实施例中，以图3或4所示的通过背板连接器连接的单板1和单板2为例，针对固定“0”电平故障的检测方法，如果连接器管脚出现歪针的情况，则在压接的时候，这个管脚与周边的地管脚搭接在一起，表现为低电平，即所说的固定0电平故障。如果一个管脚对地短路，则连接器对端接收到的信号必有一个信号是低电平，通过相与可以检测出出现低电平的位置。如图3或4所示，单板1测试逻辑模块，通过Jtag接口的相关Jtag命令，把8个连续的高电平，即8个1信号发送到背板连接器上面。即把发送的信号(即第一测试信号)表示为8’b11111111，与此同时，单板2上的Jtag测试逻辑通过芯片的Jtag接口，间接的接收8个信号，假设中间第4位接收的为低电平，接收信号(即第二测试信号)表示为8’b11110111，通过8’b11111111按位与8’b11110111＝8’b11110111，然后一位一位检测为0的位，第4位为0说明检测的到第4位对应的管脚有问题，同理如果对应的管脚有对地短路问题，则对应的第几位一定为低电平，即表示为0。通过这样的方法就可以检测出对应的管脚有无对地短路的情况。
通过上述实施例，可以实现检测连接器上是否存在固定“0”故障的管脚，并可以确定存在固定“0”故障的管脚的位置。
基于上述实施例，在第二种可选的实施场景中，即在测试指令为第二故障测试指令的情况下，第一测试信号为全0序列，如图7所示，步骤S208，根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障，可以包括如下步骤：
步骤S702，如果第二测试信号为全为低电平，则确定连接器上的管脚不存在高电平故障；
步骤S704，如果第二测试信号中至少有一位为高电平，则确定连接器上的管脚存在高电平故障，并且，连接器上与高电平对应的管脚位置为存在高电平故障的管脚位置。
可选地，步骤S702和S704的执行顺序是可以互换的，即可以先执行上步骤S704再执行步骤S702。
具体地，在上述步骤中，上述第二测试信号为在第一单板发送全0序列的第一测试信号后，第二单板通过连接器接收到的测试信号(即第二单板中与连接器相连的至少一个主芯片的管脚电平)；上述固定高电平故障可以为连接器的管脚与电源管脚连接引起的故障，也即固定“1”电平故障。由于第一单板发送的第一测试信号可以用于表征连接器一侧管脚的电平状态，第二单板通过连接器接收到的第二测试信号可以用于表征连接器另一侧管脚的电平状态，因而，如果第二测试信号为全为低电平(即全0序列)，则表明连接器两侧的管脚的电平状态一致，可以确定连接器上的管脚不存在固定高电平故障；如果第二测试信号中不全为低电平(即序列中至少有一位为1码)，则表明连接器两侧的管脚的电平状态不一致，由于发送的第一测试信号全0序列，则连接器上与第一单板连接的一侧的管脚都为低电平，而第二测试信号表明连接器上与第二单板连接的一侧的管脚中存在高电平的管脚，则说明该管脚与电源管脚短接在一起，出现了固定高电平故障。
一种可选的实施例中，仍以图3或4所示的通过背板连接器连接的单板1和单板2为例，针对固定“1”电平故障的检测方法，连接器管脚出现歪针的情况，在压接的时候，这个管脚与周边的电源管脚搭接在一起，表现为高电平，即所说的固定1电平故障。如果其中有一个管脚对电源短路，测对端接收到的信号一定会有一个是高电平，通过输入输出信号的或操作，检测出高电平的数据位置，就可以确定出现问题的管脚的位置。如图3或4所示，单板1测试逻辑模块，通过Jtag接口的相关Jtag命令，把8个连续的低电平，即8个0信号发送到背板连接器上面。即把发送的信号(即第一测试信号)表示为8’b00000000，与此同时，单板2上的Jtag测试逻辑通过芯片的Jtag接口，间接的接收8个信号，假设中间第4位接收的为高电平，接收信号(即第二测试信号)表示为8’b00001000，通过8’b00000000按位或8’b00001000＝8’b00001000,然后一位一位检测为1的位，第4位为1说明检测的到第4位对应的管脚有问题，同理如果对应的管脚有对电源短路问题，则对应的第几位一定为低电平，即表示为1。通过这样的方法就可以检测出对应的管脚有无对电源短路的情况。
通过上述实施例，可以实现检测连接器上是否存在固定“1”故障的管脚，并可以确定存在固定“1”故障的管脚的位置。
基于上述实施例，在第三种可选的实施场景中，即在测试指令为第三故障测试指令的情况下，第一测试信号为0和1相间出现的序列，如图8所示，步骤S208，根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障，可以包括如下步骤：
步骤S802，如果读取到第二测试信号没有出现三个连续相等的电平，则确定连接器上的管脚不存在短路故障；
步骤S804，如果读取到第二测试信号出现三个连续相等的电平，则确定连接器上与连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在短路故障。
可选地，步骤S802和S804的执行顺序是可以互换的，即可以先执行上步骤S804再执行步骤S802。
具体地，在上述步骤中，上述第二测试信号为在第一单板发送0和1相间出现的序列的第一测试信号后，第二单板通过连接器接收到的测试信号(即第二单板中与连接器相连的至少一个主芯片的管脚电平)；上述短路故障可以为连接器的管脚与相邻其他信号管脚连接引起的故障。由于第一单板发送的第一测试信号可以用于表征连接器一侧管脚的电平状态，第二单板通过连接器接收到的第二测试信号可以用于表征连接器另一侧管脚的电平状态，因而，如果第二测试信号没有出现三个连续相等的电平，则表明连接器两侧的管脚的电平状态一致，可以确定连接器上的管脚不存在固定高电平故障；如果第二测试信号中出现三个连续相等的电平(即序列中存在连续三个1码或三个0码)，则表明连接器两侧的管脚的电平状态不一致，由于发送的第一测试信号0和1相间出现的序列，则连接器上与第一单板连接的一侧的管脚应该高、低电平相间的电平状态，而第二测试信号表明连接器上与第二单板连接的一侧的管脚中存在连续三个高电平或连续三个低电平的管脚，则说明这三管脚中可能存在至少两个管脚短路的短路故障，可能是三个管脚中前两个管脚短路，也可能是后两个管脚短路，还可能出现三个管脚都短路的情况。
一种可选的实施例中，仍以图3和4所示的通过背板连接器连接的单板1和单板2为例，针对相邻管脚短路的检测方法，相邻管脚短路是指两个相邻的管脚接收到的信号同时为00或同时为11。由于连接器的管脚压歪，出现两个信号管脚连接到一起。发送信号发送间隔为1010，即两相邻位为不同电平的信号，接收端如果检测到相邻位相同的信号，则出现相邻管脚短路的情况。在排除固定电平的故障之后，进行短路故障检测。检测过程如下，以8位测试信号为例，假设第4、5位管脚短路，如图3或4所示，单板1发送的信号(即第一测试信号)为8’b01010101，单板2接收到的信号(即第二测试信号)为8’01000101，其中，对第一测试信号和第二测试信号进行相与运算，即8’b01010101&8’b01000101＝8’b01000101，对结果进行两位检测，中间的4、5、6位为000说明第4、5两位或5、6两位短路。
在上述第三种可选的实施场景中，为了进一步确定三个管脚中存在短路故障的管脚位置，一种可选的实施例中，如图9所示，在确定连接器上与连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在短路故障之后，上述方法还可以包括如下步骤：
步骤S902，将第一测试信号中与三个管脚中中间管脚对应的序列码设置为高电平或低电平，其他位设置为相反的电平；
步骤S904，检测第二单板上的第二主芯片管脚接收到的第二测试信号；
步骤S906，根据检测结果，确定连接器上存在短路故障的管脚。
具体地，在上述步骤中，当确定连接器上与连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在短路故障之后，可以将第一测试信号中与三个管脚中中间管脚对应的序列码设置为高电平(即1码)或低电平(即0码)，重新发送至与连接器另一侧相连的第二单板，并根据第二单板接收到的第二测试信号与第一测试信号的比较结果，确定连接器上存在短路故障的管脚。
其中，作为一种可选的实施方式，根据检测结果，确定连接器上存在短路故障的管脚，如图10所示，可以包括如下步骤：
步骤S9061，如果三个管脚中前两个管脚的电平相同，则确定连接器上与前两个管脚对应的两个管脚存在短路故障；
步骤S9063，如果三个管脚中后两个管脚的电平相同，则确定连接器上与前两个管脚对应的两个管脚存在短路故障；
步骤S9065，如果三个管脚中的三个管脚的电平均相同，则确定连接器上三个管脚均存在短路故障。
可选地，步骤S9061、S9063和S9065的执行顺序是可以互换的，即可以先执行上步骤中的任意一个步骤。
仍以图3和4所示的通过背板连接器连接的单板1和单板2为例，在单板1发送的信号(即第一测试信号)为8’b01010101，单板2接收到的信号(即第二测试信号)为8’01000101后，由于中间的4、5、6位为000说明第4、5两位或5、6两位短路，之后，则通过单板1发送8’b11101111，即把中间可能短路的位即第5位发送低电平，其他为高电平，则单板2侧接收到的信号一定是8’b11100111，通过这种方法可以检测到4、5两位管脚短路。其他位置短路可以用相同的方法检测。
通过上述实施例，可以实现检测连接器上是否存在短路故障的管脚，并可以确定存在短路故障的管脚的位置。
需要说明的是，上述各个步骤的执行主体可以为电子设备中控制板等，但不限于此。
作为一种优选的实施方式，仍以图3和4所示的通过背板连接器连接的单板1和单板2为例，下面结合图11至13来说明本申请上述实施例，其中，图11是根据本发明实施例的一种优选的固定0电平故障检测方法流程图，图12是根据本发明实施例的一种优选的固定1电平故障检测方法流程图，图13是根据本发明实施例的一种优选的短路故障检测方法流程图，其中，对于不同故障用到的检测码型如表1所示。
表1不同故障类型使用到的检测码型
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(1)固定0电平故障检测方案。
固定0电平是背板连接器压接的过程中经常出现的故障现象，主要是由于压接的时候，有个别的针没有对准背板pcb上的压接过孔，导致针被压歪，从而和周边的地短接，导致上电之后，该管脚拉低，形成了固定0电平故障。
固定0电平检测步骤如附图11中所示，步骤112中，控制板1先向单板1发送Jtag 0电平检测指令，单板1控制单元会通过本地总线控制EPLD中Jtag模块，Jtag模块通过与主芯片相连接的Jtag接口，使主芯片的所有管脚输出高电平1的状态。主芯片状态通过背板高速连接器传输到单板2相应的背板连接器上。然后控制板通过通讯链路再向单板2发送指令，单板2控制单元通过Jtag采样主芯片背板连接器相关管脚的状态。步骤114中，控制板再通过通讯链路读取单板2检测状态，如果连接器正常，相应的状态应该是高电平“1”，如果是0说明，该管脚存在固定0电平故障。
(2)固定1电平故障检测方案。
固定1电平和固定0电平检测流程一致，检测方法也一样。固定1电平指管脚拉到高电平1，
固定1电平检测步骤如附图12中所示，步骤122中，控制板先向单板1发送Jtag 1电平检测指令，单板1控制单元会通过本地总线控制EPLD中Jtag模块，Jtag模块通过与主芯片相连接的Jtag接口，使主芯片的所有管脚输出高电平0的状态。主芯片状态通过背板高速连接器传输到单板2相应的背板连接器上。然后控制板通过通讯链路再向单板2发送指令，单板2控制单元通过Jtag采样主芯片背板连接器相关管脚的状态。步骤124中，控制板再通过通讯链路读取单板2检测状态，如果连接器正常，相应的状态应该是高电平“0”，如果是1说明，该管脚存在固定1电平故障。
(3)短路故障检测方案
两个管脚短路，通常在连接器压接的过程中或在单板使用的过程中，背板连接器常常出现相邻的管脚倒针的情况，就会导致相邻的两个管脚的状态会同时变化，要么同时为高电平11，要么同时为低电平00
管脚短路检测步骤如附图13中所示，步骤132中，控制板先向单板1发送管脚短路检测指令，单板1控制单元会通过本地总线控制EPLD中Jtag模块，Jtag模块通过与主芯片相连接的Jtag接口，使主芯片的所有管脚输出高电平10101010的状态。主芯片状态通过背板高速连接器传输到单板2相应的背板连接器上。然后控制板通过通讯链路再向单板2发送指令，单板2控制单元通过Jtag采样主芯片背板连接器相关管脚的状态。步骤134中，控制板再通过通讯链路读取单板2检测状态，如果连接器正常，相应的状态应该是高电平“10101010”，如果有出现连续的三个11或连续的三个00的状态，则对应的三个相应的管脚中的两个存在短路的故障。步骤136中，为了进一步确认短路的位置，控制板分别向单板1和单板2发送检测指令，单板1发送的检测码型中三个连续相等电平中间为1其他为0或中间为0其他都为1，步骤138中，主控板通过单板2读取检测到的状态，从而确认出两个管脚短路的故障。
需要说明的是，本实施例公开的连接器的测试方法，与现有的连接器测试方法在逻辑实现和测试结构的构思上存在根本差异。首先：在测试结构的构思上存在差异，之前的测试系统需要开发特定的测试单板和测试模具等，本发明只需要把Jtag相关的测试信号和Jtag测试逻辑模块嵌入当前的产品中就可以实现背板的测试，不需要开发特定测试系统。其次：在测试逻辑实现上，本发明中的测试模块通过Jtag接口的4根线，把测试信号发送到产品的主芯片的管脚上面，测试信号再通过主芯片与背板连接器相连的管脚，传递到背板连接器上面，接着背板另一侧的单板2上的测试逻辑通过Jtag接口接收到测试信号。而之前的方法是直接通过控制单元和接口适配器，发送测试数据。测试系统直接连接到背板管脚上面，本发明是间接实现测试。再次：之前的发明或是利用接口卡测试背板上的电阻或是通过接口适配卡测试出背板连接关系网络，通过对比网络对背板进行测试，本发明是利用Jtag接口直接发送不同的码型直接对背板中的故障进行测试。在产品使用过程中，测试逻辑与单板Jtag接口断开，不影响产品正常的功能。在需要进行调试定位的时候，测试逻辑通过Jtag接口进行测试，实现背板连接器的在线测试。综上所述，本发明在背板测试的构思上面与现有的技术构思不同。一个是直接测试，一个嵌入到产品中实现间接测试。在测试逻辑中也有所不同，一个需要接口适配器直接发送测试信号测试，一个是通过产品中芯片的Jtag接口间接实现测试信号的发送接收。
此处还需要说明的是，本实施例提供的连接器的测试方法不需要开发专门的测试接口卡，而是利用业务单板芯片的Jtag接口和单板上的逻辑芯片实现背板连接器的测试，可以兼容现有的单板结构，只需要在在单板的逻辑中添加Jtag测试模块，就能实现背板的在线测试。本发明把测试模块嵌入到当前的产品中，所有的产品都可采用，不需要开发专门的测试系统，从而实现测试成本的大幅降低。在产品的所有单板中都会有Jtag接口，本发明中的Jtag测试方法可以适用所有产品中的背板相关测试，只要其他技术人员利用这种方法对背板进性测试，可能触发本发明所涉及的保护范围。本发明适用产品中所有单板相互连接的测试。产品中的不同槽位的单板可以通过背板连接，也可以无背板通过直连的方式连接，本发明都可以适用。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
实施例2
在本实施例中还提供了一种电子设备，可以用于执行实施例1中提供的连接器的测试方法。图14是根据本发明实施例的一种电子设备示意图，如图14所示，该电子设备包括：控制板141、第一单板143和第二单板145。
其中，控制板141，用于产生测试指令；
第一单板143，与控制板连接，用于发送与测试指令对应的第一测试信号；
第二单板145，与第一单板通过连接器连接，用于接收通过连接器接收到的第二测试信号；
其中，控制板用于比较第一测试信号与第二测试信号，并根据比较结果，确定连接器上的管脚是否存在故障。
具体地，上述电子设备中第一单板和第二单板的连接结构可以包括图3中有背板的情况和图4中无背板的情况，控制板是整个电子设备产品的控制单元。第一单板、第二单板和控制板之间通过通信链路通信。
由上可知，在本申请实施例2公开的方案中，通过控制板141产生用于测试连接器故障的测试指令，并发送至第一单板143和第二单板145，其中，第一单板143在接收到测试指令后，获取与该测试指令对应的测试信号，并将测试信号(即第一测试信号)发送到连接器上，通过连接器将第一测试信号传递到与连接器相连的第二单板145，第二单板145通过连接器接收测试信号(即第二测试信号)，最后控制板141比对第一单板143发送的测试信号与第二单板145通过连接器接收到的第二测试信号，则可以确定连接于第一单板143与第二单板145之间的连接器是否存在故障。
通过本申请实施例2公开的方案，达到了不需要开发测试接口卡，而是在现有的产品基础上，通过与连接器相连的业务单板间接实现连接器测试的目的，从而实现了减少开发测试接口卡的成本，在产品使用的过程中进行在线测试的技术效果，进而解决了相关技术中针对背板连接器的测试方案成本高且无法应用于正在使用的产品中连接器测试的技术问题。
可选地，上述第一单板可以包括：第一主芯片和用于对第一主芯片的管脚进行测试的第一逻辑芯片，其中，第一主芯片具有第一Jtag接口，与第一逻辑芯片通过第一Jtag接口通信；上述第二单板可以包括：第二主芯片和用于对第二主芯片的管脚电平进行测试的第二逻辑芯片，其中，第二主芯片具有第二Jtag接口，与第二逻辑芯片通过第二Jtag接口通信。
具体地，在上述实施例中，上述第一主芯片可以为与背板连接器一侧相连的第一单板内的主芯片，上述第二主芯片可以为与背板连接器一侧相连的第二单板内的主芯片，第一主芯片和第二主芯片都有Jtag接口，其中，第一Jtag接口为第一主芯片与第一逻辑芯片通信的接口，第二Jtag接口为第二主芯片与第二逻辑芯片通信的接口。本发明中需要把背板两侧单板中的与背板连接器相连的主芯片的4个Jtag接口的信号线连接到单板的逻辑芯片上面。
作为一种可选的实施方式，上述第一主芯片和第一逻辑芯片的连接结构，以及二主芯片和第二逻辑芯片的连接结构可以为图3或4所示的连接结构。
可选地，在上述实施例中，连接器一侧的管脚与第一单板内至少一个第一主芯片的管脚相连，连接器另一侧的管脚与第二单板内至少一个第二主芯片的管脚相连。
可选地，上述第一单板还可以包括：第一控制单元，用于通过本地总线控制第一逻辑芯片；上述第二单板还可以包括：第二控制单元，用于通过本地总线控制第二逻辑芯片。
具体地，在上述实施例中，在测试过程中，背板连接器一侧的第一单板中的第一控制单元通过Jtag接口把需要的测试数据(即第一测试信号)发送到与背板连接器相连的第一主芯片对应的管脚上，背板连接器另外一侧的交第二单板接收到测试数据(即通过背板连接器传递的与第一测试信号对应的电平状态)后，第二单板第二控制单元通过本地总线控制第二逻辑芯片读取第二主芯片管脚的电平状态，得到第二测试信号，的从而实现背板连接器的测试。
作为一种可选的实施方式，上述第一控制单元和第一控制单元在第一单板和第二单板内的连接结构，可以如图3或4所示的连接结构。
一种可选的实施例中，图15示出了根据本发明实施例的一种单板结构示意图，可以作为上述第一单板或第二单板的结构，如图15所示，上述第一单板和第二单板可以包括控制单元和单板EPLD逻辑芯片，以及至少一个主芯片，其中，主芯片主要负责数据通信。其中，单板EPLD逻辑芯片中包含由用于进行Jtag测试的逻辑程序，如图15中的“Jtag测试”加粗框，主芯片的Jtag接口通过串行或并行的方式连接到EPLD逻辑芯片中的Jtag逻辑，从而通过Jtag逻辑实现测试。
其中，Jtag测试逻辑功能结构如附图16所示：本地总线接口部分负责和单板上面的控制单元通信。Jtag接口部分负责和单板上面的主芯片的Jtag接口进行通信。数据存储主要负责存储从控制单元接收到的测试信号。指令存储主要存储从控制单元接收到的测试指令。控制单元部分主要负责根据测试指令，向Jtag接口发送相关的测试命令，把测试信号通过Jtag接口发送到芯片上，从而传递到背板的连接器管脚上。
通过本实施例提供的电子设备，可以实现第一单板和第二单板之间的连接器如下任意一种故障检测：
一、针对固定“0”电平故障的检测：控制板控制单元通过通信接口和单板1的控制单元和本地总线接口，把“固定0电平故障”的测试指令和测试数据发送到逻辑芯片中的测试指令和数据的存储单元中，逻辑逻辑中根据测试指令，把需要发送的测试信号，发送到单板的主芯片上面，从而发送到背板连接器上。同时控制板控制单元通过第二单板上的Jtag测试逻辑把测试信号读取出来。通过比对确定背板连接器上有固定0电平故障的管脚位置。
二、针对固定“1”电平故障的检测：控制板控制单元通过通信接口，线路转发功能板的控制单元和本地总线接口，把“固定1电平故障”的测试指令和测试数据发送到逻辑芯片中的测试指令和数据的存储单元中，逻辑逻辑中根据测试指令，把需要发送的测试信号，发送到单板的主芯片上面，从而发送到背板连接器上。同时控制板控制单元通过第二单板上的Jtag测试逻辑把测试信号读取出来。通过比对确定背板连接器上有固定1电平故障的管脚位置。
三、短路故障的检测：控制板控制单元通过通信接口，线路转发功能板的控制单元和本地总线接口，把“短路故障”的测试指令和测试数据发送到逻辑芯片中的测试指令和数据的存储单元中，逻辑逻辑中根据测试指令，把需要发送的测试信号，发送到单板的主芯片上面，从而发送到背板连接器上。同时控制板控制单元通过第二单板上的Jtag测试逻辑把测试信号读取出来。通过比对确定背板连接器上有短路故障的管脚位置。
通过本申请上述实施例公开的方案，在第一单板和第二单板上主芯片的Jtag接口都连接到单板的逻辑芯片中，第一单板的控制单元通过本地总线控制逻辑芯片中的Jtag测试模块，向单板的主芯片输入测试码流，第二单板的控制单元通过本地总线总线控制逻辑的Jtag模块，检测主芯片Jtag接口输入码流。如图3或4所示，控制板通过通信链路1和通信链路2分别控制第一单板和第二单板的控制单元，通过比对输入和输出的测试码流，来检测背板上高速连接器的管脚有没有出现上述故障情况。实现了在线检测背板连接器管脚是否存在“固定0电平”、“固定1电平”和“相邻管脚短路”的问题，满足背板在产品使用过程中对连接器的检测。
由上可知，本申请上述实施例，具有如下两个优点：一、不增加第一单板和第二单板的成本，只要把主芯片的Jtag接口引入单板逻辑中即可，只要增加相应的Jtag逻辑模块和增加相应的软件算法即可。二、单板可以在线检测，为快速定位背板crc相应的问题提供强有力的措施。
实施例3
在本实施例中还提供了一种连接器的测试装置，该装置用于实现上述实施例1中各个可选的及优选的实施例和实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
图17是根据本发明实施例的一种连接器的测试装置的结构框图，如图17所示，该装置包括：第一获取模块171、第二获取模块173、比较模块175和确定模块177。
其中，第一获取模块171，用于获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；
第二获取模块173，用于获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，连接器连接于第一单板和第二单板之间；
比较模块175，用于比较第一测试信号与第二测试信号；
确定模块177，用于比较第一单板发送的测试信号与第二单板接收到的测试信号。
此处需要说明的是，上述第一获取模块171、第二获取模块173、比较模块175和确定模块177对应于实施例1中的步骤S202至S208，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
由上可知，在本申请实施例3公开的方案中，通过第一获取模块171获取第一单板发送的与测试指令对应的测试信号(即第一测试信号)，其中，第一测试信号被发送到连接器上与第一单板相连一侧的管脚上，连接器的管脚将第一测试信号传递到与连接器另一侧管脚相连的第二单板，通过第二获取模块173获取第二单板通过连接器接收到的测试信号(即第二测试信号)，最后通过比较模块175比对第一单板发送的第一测试信号与第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，则可以确定连接于第一单板与第二单板之间的连接器是否出现故障。
通过本申请实施例3公开的方案，达到了不需要开发测试接口卡，而是在现有的产品基础上，通过与连接器相连的业务单板间接实现连接器测试的目的，从而实现了减少开发测试接口卡的成本，在产品使用的过程中进行在线测试的技术效果，进而解决了相关技术中针对背板连接器的测试方案成本高且无法应用于正在使用的产品中连接器测试的技术问题。
可选地，上述装置还可以包括：生成模块，用于产生测试指令；发送模块，用于将测试指令发送给第一单板，其中，第一单板内预先存储有与测试指令对应的至少一种测试信号。
此处需要说明的是，上述生成模块和发送模块对应于实施例1中的步骤S502至S504，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
可选地，在测试指令为第一故障测试指令的情况下，第一测试信号采用全1序列，上述确定模块177可以包括：第一确定单元，用于如果第二测试信号全为高电平，则确定连接器上的管脚不存在低电平故障；第二确定单元，用于如果第二测试信号中至少有一位为低电平，则确定连接器上的管脚存在低电平故障，并且，连接器上与低电平对应的管脚位置为存在低电平故障的管脚位置。
此处需要说明的是，上述第一确定单元和第二确定单元对应于实施例1中的步骤S602至S604，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
可选地，在测试指令为第二故障测试指令的情况下，第一测试信号采用全0序列，上述确定模块177可以包括：第三确定单元，用于如果第二测试信号为全为低电平，则确定连接器上的管脚不存在高电平故障；第四确定单元，用于如果第二测试信号中至少有一位为高电平，则确定连接器上的管脚存在高电平故障，并且，连接器上与高电平对应的管脚位置为存在高电平故障的管脚位置。
此处需要说明的是，上述第三确定单元和第四确定单元对应于实施例1中的步骤S702至S704，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
可选地，在测试指令为第三故障测试指令的情况下，第一测试信号采用0和1相间出现的序列，上述确定模块177可以包括：第五确定单元，用于如果读取到第二测试信号没有出现三个连续相等的电平，则确定连接器上的管脚不存在短路故障；第六确定单元，用于如果读取到第二测试信号出现三个连续相等的电平，则确定连接器上与连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在短路故障。
此处需要说明的是，上述第五确定单元和第六确定单元对应于实施例1中的步骤S802至S804，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
可选地，在测试指令为第三故障测试指令的情况下，上述第六确定单元可以包括：设置单元，用于将第一测试信号中与三个管脚中中间管脚对应的序列码设置为高电平或低电平，其他位设置为相反的电平；检测单元，用于检测第二单板上的第二主芯片管脚接收到的第二测试信号；确定子单元，用于根据检测结果，确定连接器上存在短路故障的管脚。
此处需要说明的是，上述设置单元、检测单元和确定子单元对应于实施例1中的步骤S902至S906，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
可选地，在测试指令为第三故障测试指令的情况下，上述确定子单元可以包括：第一子确定模块，用于如果三个管脚中前两个管脚的电平相同，则确定连接器上与前两个管脚对应的两个管脚存在短路故障；第二子确定模块，用于如果三个管脚中后两个管脚的电平相同，则确定连接器上与前两个管脚对应的两个管脚存在短路故障；第三子确定模块，用于如果三个管脚中的三个管脚的电平均相同，则确定连接器上三个管脚均存在短路故障。
此处需要说明的是，上述第一子确定模块、第二子确定模块和第三子确定模块对应于实施例1中的步骤S9061至S9065，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。
实施例4
本发明的实施例还提供了一种存储介质。可选地，在本实施例中，该存储介质包括存储的程序，程序运行时可以执行实施例1中的方法的步骤的程序代码。
可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
可选地，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。
实施例5
本发明的实施例还提供了一种处理器。可选地，在本实施例中，该处理器用于运行程序，程序运行时可以执行实施例1中的方法的步骤的程序代码。
可选地，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种连接器的测试方法，其特征在于，包括：
获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；
获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，所述连接器连接于所述第一单板和所述第二单板之间；
比较所述第一测试信号与所述第二测试信号；
根据比较结果，确定所述连接器上的管脚是否存在故障；
其中，所述连接器一侧的管脚与所述第一单板内至少一个第一主芯片的管脚相连，所述连接器另一侧的管脚与所述第二单板内至少一个第二主芯片的管脚相连；
其中，通过所述第一主芯片的Jtag接口将所述第一测试信号发送至所述第一主芯片的管脚；通过所述第二主芯片的Jtag接口读取所述第二主芯片的管脚接收到的第二测试信号。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取第一单板发送的与测试指令对应的测试信号之前，所述方法还包括：
产生所述测试指令；
将所述测试指令发送给所述第一单板，其中，所述第一单板内预先存储有与所述测试指令对应的至少一种测试信号。
3.根据权利要求2中所述的方法，其特征在于，所述测试指令至少包括如下任意一种：
第一故障测试指令，用于检测所述连接器的管脚与地管脚连接引起的低电平故障；
第二故障测试指令，用于检测所述连接器的管脚与电源管脚连接引起的高电平故障；
第三故障测试指令，用于检测所述连接器的管脚与相邻管脚连接引起的短路故障。
4.根据权利要求3中所述的方法，其特征在于，所述第一测试信号和所述第二测试信号为由1和0组成的序列，其中，与1码对应的管脚的电平为高电平，与0码对应的管脚的电平为低电平。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述测试指令为第一故障测试指令的情况下，所述第一测试信号为全1序列，其中，根据比较结果，确定所述连接器上的管脚是否存在故障，包括：
如果所述第二测试信号全为高电平，则确定所述连接器上的管脚不存在低电平故障；
如果所述第二测试信号中至少有一位为低电平，则确定所述连接器上的管脚存在所述低电平故障，并且，所述连接器上与所述低电平对应的管脚位置为存在所述低电平故障的管脚位置。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述测试指令为第二故障测试指令的情况下，所述第一测试信号为全0序列，其中，根据比较结果，确定所述连接器上的管脚是否存在故障，包括：
如果所述第二测试信号为全为低电平，则确定所述连接器上的管脚不存在高电平故障；
如果所述第二测试信号中至少有一位为高电平，则确定所述连接器上的管脚存在所述高电平故障，并且，所述连接器上与所述高电平对应的管脚位置为存在所述高电平故障的管脚位置。
7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述测试指令为第三故障测试指令的情况下，所述第一测试信号为0和1相间出现的序列，其中，根据比较结果，确定所述连接器上的管脚是否存在故障，包括：
如果读取到所述第二测试信号没有出现三个连续相等的电平，则确定所述连接器上的管脚不存在所述短路故障；
如果读取到所述第二测试信号出现三个连续相等的电平，则确定所述连接器上与所述连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在所述短路故障。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在如果读取到所述第二测试信号出现三个连续相等的电平，则确定所述连接器上与所述连续相等的电平对应的三个管脚中至少有两个管脚存在所述短路故障之后，所述方法还包括：
将所述第一测试信号中与所述三个管脚中中间管脚对应的序列码设置为高电平或低电平，其他位设置为相反的电平，重新发送至所述第一单板上的第一主芯片管脚；
检测所述第二单板上的第二主芯片管脚接收到的第二测试信号；
根据检测结果，确定所述连接器上存在所述短路故障的管脚。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据检测结果，确定所述连接器上存在所述短路故障的管脚，包括：
如果所述三个管脚中前两个管脚的电平相同，则确定所述连接器上与所述前两个管脚对应的两个管脚存在所述短路故障；
如果所述三个管脚中后两个管脚的电平相同，则确定所述连接器上与所述前两个管脚对应的两个管脚存在所述短路故障；
如果所述三个管脚中的三个管脚的电平均相同，则确定所述连接器上所述三个管脚均存在所述短路故障。
10.一种连接器的测试装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取第一单板发送的与测试指令对应的第一测试信号；
第二获取模块，用于获取第二单板通过连接器接收到的第二测试信号，其中，所述连接器连接于所述第一单板和所述第二单板之间；
比较模块，用于比较所述第一测试信号与所述第二测试信号；
确定模块，用于比较所述第一单板发送的测试信号与所述第二单板接收到的测试信号；
其中，所述连接器一侧的管脚与所述第一单板内至少一个第一主芯片的管脚相连，所述连接器另一侧的管脚与所述第二单板内至少一个第二主芯片的管脚相连；
所述装置还用于，通过所述第一主芯片的Jtag接口将所述第一测试信号发送至所述第一主芯片的管脚；通过所述第二主芯片的Jtag接口读取所述第二主芯片的管脚接收到的第二测试信号。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
生成模块，用于产生所述测试指令；
发送模块，用于将所述测试指令发送给所述第一单板，其中，所述第一单板内预先存储有与所述测试指令对应的至少一种测试信号。
12.一种电子设备，其特征在于，包括：
控制板，用于产生测试指令；
第一单板，与所述控制板连接，用于发送与所述测试指令对应的第一测试信号；
第二单板，与所述第一单板通过连接器连接，用于接收通过所述连接器接收到的第二测试信号；
其中，所述控制板用于比较所述第一测试信号与所述第二测试信号，并根据比较结果，确定所述连接器上的管脚是否存在故障；
其中，所述连接器一侧的管脚与所述第一单板内至少一个第一主芯片的管脚相连，所述连接器另一侧的管脚与所述第二单板内至少一个第二主芯片的管脚相连；
所述电子设备还用于，通过所述第一主芯片的Jtag接口将所述第一测试信号发送至所述第一主芯片的管脚；通过所述第二主芯片的Jtag接口读取所述第二主芯片的管脚接收到的第二测试信号。
13.根据权利要求12所述的电子设备，其特征在于，所述第一单板包括：第一主芯片和用于对所述第一主芯片的管脚进行测试的第一逻辑芯片，其中，所述第一主芯片具有第一Jtag接口，与所述第一逻辑芯片通过所述第一Jtag接口通信；
所述第二单板包括：第二主芯片和用于对所述第二主芯片的管脚电平进行测试的第二逻辑芯片，其中，所述第二主芯片具有第二Jtag接口，与所述第二逻辑芯片通过所述第二Jtag接口通信。
14.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，
所述第一单板还包括：第一控制单元，用于通过本地总线控制所述第一逻辑芯片；
所述第二单板还包括：第二控制单元，用于通过本地总线控制所述第二逻辑芯片。
15.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至9中任一项所述的连接器的测试方法的操作。
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