JPH0989910A - 走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機構 - Google Patents
走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機構Info
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- Y10S977/86—Scanning probe structure
- Y10S977/872—Positioner
Abstract
を提供する。 【解決手段】カンチレバー12はホルダーにより移動体
16に取り付けられる。移動体16の一角には三枚のサ
ファイア板18が設けられており、サファイア板18の
平面は互いに直交している。三本のピエゾアクチュエー
ター30X、30Y、30Zは、互いに直交する方向に
変位可能で、一端がそれぞれ固定台32X、32Y、3
2Zに固定されている。ピエゾアクチュエーター30
X、30Y、30Zの他端にはサファイア板22が取り
付けられている。サファイア板22は、ルビー球20を
間に挟んで、移動体16に設けられたサファイア板18
に対向している。サファイア板18と22の中央部には
引き合う極性の磁石が設けられ、両者は十分に狭い間
隔、例えば数μmの間隔を置いて向き合っている。
Description
分子のオーダーの分解能で観察、測定、加工する走査型
プローブ顕微鏡のプローブ走査機構に関する。
装置として、走査型プローブ顕微鏡(SPM:Scanning
Probe Microscope )が知られている。SPMの一つ
に、ビニッヒ(Binnig)やローラー(Rohrer)等によっ
て発明された走査型トンネル顕微鏡(STM:Scanning
Tunneling Microscope )がある。また、別のSPMと
しては、原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Micro
scope )がある。AFMは、サーボ技術を始めとするS
TMの要素技術を利用し、絶縁性の試料を原子オーダー
で観察できる装置で、例えば特開昭62−130302
号に開示されている。
由端に持つカンチレバーを備えている。この探針を試料
に近づけると、探針先端の原子と試料表面の原子との間
に働く相互作用力(原子間力)によりカンチレバーの自
由端が変位する。この自由端の変位を電気的あるいは光
学的に測定しながら、探針を試料面に沿ってXY方向に
走査することにより、試料の凹凸情報等を三次元的にと
らえることができる。
直交する方向に移動可能なXテーブルとYテーブルを有
し、これを積層型ピエゾアクチュエーターを用いて移動
させる構成のXYステージや、三本の積層型ピエゾアク
チュエーターが互いに直交する様に連結されている、い
わゆるトライポッド、円筒状の圧電体の内側面に周方向
に連続した一枚の共通電極を設け、外側面に周方向に四
枚の駆動電極を設けてなる、いわゆる圧電チューブスキ
ャナーなどがある。
は、XテーブルのX方向の運動とYテーブルのY方向の
運動とは完全に独立しており、一方の運動が他方に影響
を与えることはないが、テーブルの慣性質量が大きいた
め、高速走査には適さない。
は比較的高速での走査を行なえるが、各方向の運動が他
の方向の運動と独立でないため、ある方向の運動が他の
方向の運動に影響を与えてしまう。
ゾアクチュエーター自体の固有振動数や、ある方向の変
位に対して他の方向が変位する干渉や、リンギング現象
のために走査周期は300Hzが限界である。チューブ
スキャナーは実際に数十Hz程度が限界である。
に印加する電圧を急激に上げると、変位発生後に振動を
残す現象をいう。円筒型ピエゾアクチュエーターでは、
大きな走査幅を得るには、全長の長いものを使用する必
要があるが、全長の長いものほど、リンギングは発生し
易い。
間変化の遅い試料を観察する目的にはそれほど支障なく
使用できるが、走査周期が長いために、例えば、貧食細
胞が食刺を伸ばしたり、細胞が刺激に反応する様子を観
察するといった目的には応えることができない。本発明
は、各方向の運動が互いに独立しており、プローブを高
速で走査できるプローブ走査機構を提供することを目的
とする。
査機構は、探針を有するレバー部と、前記レバー部を保
持するレバー保持部を備えた移動部材と、前記移動部材
を第一の軸方向に移動させる第一の駆動部と、第一の軸
に直交する第二の軸方向に前記移動部材を移動させる第
二の駆動部と、第一および第二の軸方向に移動可能に前
記移動部材を保持する移動部材保持部とを有しているこ
とを特徴とする。
レバー部を保持するレバー保持部を備えた移動部材と、
前記移動部材を第一の軸方向に移動させる第一の駆動部
と、第一の軸に直交する第二の軸方向に前記移動部材を
移動させる第二の駆動部と、第一および第二の軸に直交
する第三の軸方向に前記移動部材を移動させる第三の駆
動部と、第一、第二、第三の軸方向に移動可能に前記移
動部材を保持する移動部材保持部とを有していることを
特徴とする。
て図面を参照しつつ説明する。まず、プローブ走査機構
の構成について図1を用いて説明する。カンチレバー1
2はホルダー(図4に符号14で示される)により移動
体16に取り付けられる。移動体16の一角には三枚の
サファイア板18が設けられており、サファイア板18
の平面は互いに直交している。三本のピエゾアクチュエ
ーター30X、30Y、30Zは、互いに直交する方向
に変位可能で、一端がそれぞれ固定台32X、32Y、
32Zに固定されている。ピエゾアクチュエーター30
X、30Y、30Zの他端にはサファイア板22が取り
付けられている。サファイア板22は、ルビー球20を
間に挟んで、移動体16に設けられたサファイア板18
に対向している。
部には磁石24が設けられ、サファイア板22の中央部
には磁石26が設けられ、両者は互いに引き合う極性
で、十分に狭い間隔、例えば数μmの間隔を置いて向き
合っている。磁石24と磁石26の磁束密度は約125
00ガウスである。磁石24と磁石26の間の引力によ
り、図1に示される様に、移動体16は三本のピエゾア
クチュエーター30X、30Y、30Zに支持されてい
る。
30Yと30Zは動いてなく、X方向のピエゾアクチュ
エーター30Xが駆動している状態を考える。ピエゾア
クチュエーター30Xの伸縮によりサファイア板22は
X方向に往復運動し、移動体16は、ルビー球20を介
してサファイア板22に押され、あるいは磁力によりサ
ファイア板22に引っ張られて、X方向に往復運動す
る。この往復運動の間、Y方向とZ方向を向いたサファ
イア板18は、それに向き合ったサファイア板22に対
してルビー球20の回転を伴なってX方向に移動するだ
けで、Y方向とZ方向には移動しない。従って、移動体
16のY方向とZ方向の位置は変わらない。この運動の
抵抗は、Y方向とZ方向のルビー球20の転がり抵抗の
みで極めて小さい。
Xと30Yと30Zが共に駆動状態にあり、これにより
移動体16が三次元的に運動している場合を考える。移
動体16がY方向やZ方向に運動していても、それらの
運動はX方向の成分を全く持たないので、X方向の運動
に関しては前述の状況と全く同じであり、ピエゾアクチ
ュエーター30Xは、ピエゾアクチュエーター30Yと
30Zから何等影響を受けることなく、移動体16をX
方向に駆動する。すなわち、任意の一本のピエゾアクチ
ュエーターは、他の二本のピエゾアクチュエーターに全
く影響されることなく、その方向に移動体16を駆動す
る。
動は完全に独立しているので、走査周波数はそれぞれの
方向の振動特性によってのみ決まる。実際の走査は共振
周波数以下の周期で行なわれ、また、ピエゾアクチュエ
ーター30Xと30Yと30Z、移動体16、カンチレ
バー12、カンチレバーホルダー14から成る機構の共
振周波数は200kHz程度にすることができる。すな
わち、200kHz程度の周波数で走査を行なうことが
できる。
可能に保持する手段として、磁石24と26を用いてい
るが、図3に示すように、バネ(好ましくは引っ張りバ
ネや板バネ)やゴムなどの弾性体28を用いても一向に
構わない。
を用いた原子間力顕微鏡について図4と図5を用いて説
明する。図4に示されるように、移動体16には、カン
チレバー12の上方の位置に、屈折プリズム44が固定
されている。屈折プリズム44は、図5に示すように、
二枚の三角プリズム44aと44bを向きを90°変え
てZ方向に重ねて配置した構成となっている。
ザー発振器40、レーザー発振器からの光ビームを拡大
または平行化するエクスパンダー/コリメーター42、
カンチレバーからの反射光を偏向する反射ミラー46、
四分割された受光領域を備えた光センサー48が所定の
配置されている。これらの光学素子は共に一つの筐体に
固定されている。
ゾアクチュエーター30X、30Y、30Zを伸縮させ
ることによって、任意の方向に移動可能である。走査に
平行して、レーザー発振器40から射出された光ビーム
はエクスパンダー/コリメーター42を経て、屈折プリ
ズム44で偏向され、カンチレバー12の自由端部に入
射する。カンチレバー12からの反射光は反射ミラー4
6で反射され、光センサー48に入射する。光センサー
48に対する反射光の入射位置は、カンチレバー12の
自由端部の変位に応じて変化し、従って、光センサー4
8の各受光領域に入射する光量を調べることで、カンチ
レバー12の自由端部の変位が求められる。
と一緒に移動し、これに応じて屈折プリズム44に対す
る光ビームの入射位置が変わるが、屈折プリズム44は
光ビームがカンチレバー12の自由端部の同じ位置に入
射するように補償する。
軽量に抑えることができる。具体的には、移動体16と
ホルダー(板バネ)14、カンチレバー12、屈折プリ
ズム44の総質量は1g以下に抑えることができる。こ
れにより、高速走査が可能となる。
れるものではない。発明の要旨を逸脱しない範囲で行な
われる実施は、すべて本発明に含まれる。本明細書には
以下の各項に記した発明が含まれる。
部を保持するレバー保持部を備えた移動部材と、前記移
動部材を第一の軸方向に移動させる第一の駆動部と、第
一の軸に直交する第二の軸方向に前記移動部材を移動さ
せる第二の駆動部と、第一および第二の軸方向に移動可
能に前記移動部材を保持する移動部材保持部とを有して
いることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡のプローブ
走査機構。
部を保持するレバー保持部を備えた移動部材と、前記移
動部材を第一の軸方向に移動させる第一の駆動部と、第
一の軸に直交する第二の軸方向に前記移動部材を移動さ
せる第二の駆動部と、第一および第二の軸に直交する第
三の軸方向に前記移動部材を移動させる第三の駆動部
と、第一、第二、第三の軸方向に移動可能に前記移動部
材を保持する移動部材保持部とを有していることを特徴
とする走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機構。
し、前記第一および第二の駆動部と前記移動部材は互い
に対向する平面を備えており、互いに対向する前記駆動
部の平面と前記移動部材の平面の間に前記球状部材が挟
持されることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡のプロ
ーブ走査機構。
し、前記第一、第二、第三の駆動部と前記移動部材は互
いに対向する平面を備えており、互いに対向する前記駆
動部の平面と前記移動部材の平面の間に前記球状部材が
挟持されることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡のプ
ローブ走査機構。
動部材保持部は、一端が前記駆動部に係合し、他端が前
記移動部材に係合している弾性部材であることを特徴と
する走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機構。
動部材保持部は、互いに対向する前記駆動部の平面と前
記移動部材の平面に設けられた互いに引き合う磁性体で
あることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡のプローブ
走査機構。
張りバネであることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡
のプローブ走査機構。 8.第5項において、前記弾性部材が板バネであること
を特徴とする走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機
構。
独立しており、プローブを高速で走査できるプローブ走
査機構が得られる。これにより、貧食細胞が食刺を伸ば
す様子や細胞が刺激に反応する様子などを観察できる走
査型プローブ顕微鏡が得られるようになる。
を示す斜視図である。
を示す図である。
鏡の構成を示す図である。
板、20…ルビー球、22…サファイア板、24、26
…磁石、30X、30Y、30Z…ピエゾアクチュエー
ター。
Claims (2)
- 【請求項1】探針を有するレバー部と、 前記レバー部を保持するレバー保持部を備えた移動部材
と、 前記移動部材を第一の軸方向に移動させる第一の駆動部
と、 第一の軸に直交する第二の軸方向に前記移動部材を移動
させる第二の駆動部と、 第一および第二の軸方向に移動可能に前記移動部材を保
持する移動部材保持部とを有していることを特徴とする
走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機構。 - 【請求項2】探針を有するレバー部と、 前記レバー部を保持するレバー保持部を備えた移動部材
と、 前記移動部材を第一の軸方向に移動させる第一の駆動部
と、 第一の軸に直交する第二の軸方向に前記移動部材を移動
させる第二の駆動部と、 第一および第二の軸に直交する第三の軸方向に前記移動
部材を移動させる第三の駆動部と、 第一、第二、第三の軸方向に移動可能に前記移動部材を
保持する移動部材保持部とを有していることを特徴とす
る走査型プローブ顕微鏡のプローブ走査機構。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24413195A JP3577141B2 (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | プローブ走査機構、および、それを用いた走査型プローブ顕微鏡 |
US08/713,731 US5912461A (en) | 1995-09-22 | 1996-09-13 | Probe scanning mechanism for a scanning probe microscope |
US09/286,793 US6118121A (en) | 1995-09-22 | 1999-04-06 | Probe scanning mechanism for a scanning probe microscope |
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---|---|---|---|
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Publications (2)
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Country Status (2)
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---|---|
US (2) | US5912461A (ja) |
JP (1) | JP3577141B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6021665A (en) * | 1997-07-24 | 2000-02-08 | Olympus Optical Co., Ltd. | Cantilever tracking type scanning probe microscope |
JP2001330425A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 走査機構およびこれを用いた機械走査型顕微鏡 |
JP2004257844A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 高精度微小移動装置 |
JP2010521693A (ja) * | 2007-03-16 | 2010-06-24 | ビーコ インストルメンツ インコーポレイテッド | 高速走査spmスキャナ及びその動作方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69817329T2 (de) * | 1998-06-02 | 2004-06-09 | International Business Machines Corp. | Vorrichtung und Verfahren zur Identifikation einer Substanz durch Oberflächenwechselwirkungen |
DE59911490D1 (de) * | 1999-03-09 | 2005-02-24 | Nanosurf Ag Liestal | Positionierkopf für ein Rastersondenmikroskop |
US6612160B2 (en) * | 2001-03-09 | 2003-09-02 | Veeco Instruments, Inc. | Apparatus and method for isolating and measuring movement in metrology apparatus |
US6903023B2 (en) * | 2002-09-16 | 2005-06-07 | International Business Machines Corporation | In-situ plasma etch for TERA hard mask materials |
CN1320349C (zh) * | 2002-11-12 | 2007-06-06 | 上海爱建纳米科技发展有限公司 | 扫描隧道显微镜的扫描装置 |
JP2005106790A (ja) * | 2003-01-09 | 2005-04-21 | Univ Kanazawa | 走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 |
US7278298B2 (en) * | 2004-11-30 | 2007-10-09 | The Regents Of The University Of California | Scanner for probe microscopy |
EP2202501A1 (en) | 2008-12-23 | 2010-06-30 | ETH Zürich | Hollow piezoelectric device for distingishing forces and torques |
GB2548849A (en) * | 2016-03-30 | 2017-10-04 | Troika Systems Ltd | Analysis device |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4188118A (en) * | 1978-05-17 | 1980-02-12 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Manipulator for rotating and examining small spheres |
US5103095A (en) * | 1990-05-23 | 1992-04-07 | Digital Instruments, Inc. | Scanning probe microscope employing adjustable tilt and unitary head |
JPH04235302A (ja) * | 1991-01-11 | 1992-08-24 | Jeol Ltd | トンネル顕微鏡の探針微動機構 |
JP2598851B2 (ja) * | 1992-01-23 | 1997-04-09 | 松下電器産業株式会社 | 位置決め装置 |
US5448399A (en) * | 1992-03-13 | 1995-09-05 | Park Scientific Instruments | Optical system for scanning microscope |
US5656769A (en) * | 1994-08-11 | 1997-08-12 | Nikon Corporation | Scanning probe microscope |
US5479013A (en) * | 1994-08-24 | 1995-12-26 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. | STM probe |
JP3174465B2 (ja) * | 1994-11-28 | 2001-06-11 | 松下電器産業株式会社 | 原子間力顕微鏡 |
US5500535A (en) * | 1995-03-07 | 1996-03-19 | Molecular Imaging Corporation | Stress cell for a scanning probe microscope |
US5569918A (en) * | 1995-03-17 | 1996-10-29 | Rhk Technology, Inc. | Probe holder and probe mounting method for a scanning probe microscope |
US5811802A (en) * | 1995-08-18 | 1998-09-22 | Gamble; Ronald C. | Scanning probe microscope with hollow pivot assembly |
JPH09101317A (ja) * | 1995-10-05 | 1997-04-15 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡のアプローチ装置 |
US5627371A (en) * | 1996-02-09 | 1997-05-06 | Lucent Technologies Inc. | Tilting positioner for a micropositioning device |
-
1995
- 1995-09-22 JP JP24413195A patent/JP3577141B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-09-13 US US08/713,731 patent/US5912461A/en not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-04-06 US US09/286,793 patent/US6118121A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6021665A (en) * | 1997-07-24 | 2000-02-08 | Olympus Optical Co., Ltd. | Cantilever tracking type scanning probe microscope |
JP2001330425A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 走査機構およびこれを用いた機械走査型顕微鏡 |
JP2004257844A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 高精度微小移動装置 |
JP2010521693A (ja) * | 2007-03-16 | 2010-06-24 | ビーコ インストルメンツ インコーポレイテッド | 高速走査spmスキャナ及びその動作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6118121A (en) | 2000-09-12 |
JP3577141B2 (ja) | 2004-10-13 |
US5912461A (en) | 1999-06-15 |
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