CN1320349C - 扫描隧道显微镜的扫描装置 - Google Patents

扫描隧道显微镜的扫描装置 Download PDF

Info

Publication number
CN1320349C
CN1320349C CNB021452113A CN02145211A CN1320349C CN 1320349 C CN1320349 C CN 1320349C CN B021452113 A CNB021452113 A CN B021452113A CN 02145211 A CN02145211 A CN 02145211A CN 1320349 C CN1320349 C CN 1320349C
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
shell
inner box
mounting platform
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB021452113A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1501063A (zh
Inventor
李民乾
胡均
华寿亭
张心澄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHANGHAI AJ NANO-SCIENCE DEVELOPMENT Co Ltd
Original Assignee
SHANGHAI AJ NANO-SCIENCE DEVELOPMENT Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHANGHAI AJ NANO-SCIENCE DEVELOPMENT Co Ltd filed Critical SHANGHAI AJ NANO-SCIENCE DEVELOPMENT Co Ltd
Priority to CNB021452113A priority Critical patent/CN1320349C/zh
Publication of CN1501063A publication Critical patent/CN1501063A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1320349C publication Critical patent/CN1320349C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

一种扫描隧道显微镜的扫描装置,包含的内盒置于金属外罩内构成双层屏蔽。探针的针尖从外壳底板小孔内伸出,探针与外壳构成一体。置于安装平台上的三个调节杆呈现等腰三角形的分布。两手动调节杆为粗调,位于等腰三角形顶角位置上的自动调节杆为精调。当探针针尖与待测样品表面形成隧道电流以后,探针针尖的高度和位置是固定不动的。而待测样品随着待测样品台被压电陶瓷管的驱动进行移动,从而形成探针针尖对着待测样品表面进行扫描。与在先技术相比,本发明结构简单,操作方便,抗干扰能力强,扫描范围较大,最大扫描范围可达6μm,扫描分辩率为高序石墨(HOPG)原子分辩。分辩的精度高达1×10-5μm(0.1)。

Description

扫描隧道显微镜的扫描装置
技术领域
本发明是一种扫描隧道显微镜的扫描装置,用于扫描隧道显微镜上,具有原子级的分辩率,是纳米技术研究中不可缺少的重要工具。
背景技术
扫描装置是扫描隧道显微镜结构中核心的部分。在先技术中,有一种是其中探针为手动调整,针尖与待测样品相逼近的方式是用马达自动驱进,最大扫描范围为6μm,主要的缺点是功能少,安装调试较复杂,操作不方便。
在先技术中,美国有两个公司(Digital Instruments Co.(USA)和ParkInstruments Co.(USA),)提供的扫描装置调整控制全是由计算机自动控制,针尖与待测样品逼近的结构也是用马达自动驱进,扫描的最大范围是0.5μm.虽然它具有安装调试简单,操作也比较简单,生产成本较低廉。但它的扫描范围较小,在有些要求较大范围内进行测量的场合不适用。
发明内容
本发明的目的为克服上述在先技术中的不足,提供一种扫描装置,既结构简单、调整方便、体积小、成本低廉,同时又具有较高的性价比,较高的分辩率精度,较大的扫描范围。
本发明的扫描装置如图1所示。包括:外罩1、带盒盖2的内盒3、安装平台4、底座5,由安装平台4和底座5构成的扫描座6和探针32。
所说的外罩1是下端带有凸缘10的金属罩11。凸缘10上均匀分布有悬吊螺栓101,以供安装抗震悬吊弹簧所用。外罩1罩在内盒3的外面。
所说的带盒盖2的内盒3包括外壳30,外壳30围成内腔的收容室301。在外壳30顶端上置有定位孔302与盒盖2上的定位柱20相配。在收容室301内置有电路板31。探针32带有绝缘套管33,带有绝缘套管33的探针安装金属管35与探针32的针尖从外壳30底板上的小孔内伸出内盒3,探针32与外壳30构成一体。探针32的尾端连接在电路板31上。外壳30的侧壁上置有与控制系统上的电子插头62相配的电子插座34。
所说的安装平台4上置有两个手动调节杆40和一个自动调节杆41。三个调节杆40、41呈现一等三角形的分布,自动调节杆41位于等腰三角形的顶点。在三个调节40、41之间置有待测样品台61。待测样品台61置于压电陶瓷管60上。压电陶瓷管60上有与控制系统上的D形接口相配的D形接口63。安装平台4的底下有支撑柱43,支撑柱43置于底座5上。
安装平台4与底座5构成扫描底座6可以是一体式的,或者是分体组装的。
所说的内盒3置放在安装平台4上,安装平台4上的三个调节杆40、41顶在内盒3外壳30的底板上,从外壳30底板上小孔内伸出的探针32针尖对准待测样品台61。
所说的外罩1、盒盖2和内盒3的外壳30均是由比重较重的金属如不锈钢,或是硬铝合金构成,为的是使探头部分比较,使探针32稳定,以避免针尖颤抖。
上述如图1所示的结构,待测样品置放在待测样品台61上。开始探测时,首先调节两个手动调节杆40,使探针32针尖缓慢地逼近待测样品,当调节到一定位置时,通过控制箱操纵自动调节杆41进行精调,直到加有偏压的探针32针尖与待测样品表面之间克服势垒形成隧道电流后,固定探险针32针尖的高度。启动压电陶瓷管60使待测样品台61载着待测样品移动,则形成探针32的针尖对着待测样品表面扫描。通过记录针尖与待测样品表面之间的隧道电流的变化,就获得了待测样品表面形貌的信息。
本发明的扫描装置与在先技术相比,本发明扫描装置上的内盒3外罩有外罩1,构成了双层屏蔽,因此抗干扰能力强。
本发明的探针32从外壳30底板小孔内穿出,探针32与外壳30组成一体。探针32针尖高度的调整,先用两手动调节杆40进行粗调,后用自动调节杆进行精调。既保护了针尖不因突然产生较大的隧道电流而受损,又能使针尖距待测样品表面的高度调节精确,从而提高了扫描装置的扫描精度。本发明扫描装置中,探针32针尖的位置调整好了以后固定不动,而是通过压电陶瓷管60驱动待测样品台61载着待测样品移动,形成针尖对着待测样品表面扫描。这不仅使得测量稳定可靠,而且扫描范围也容易扩大。因此,本发明不仅结构简单、操作方便,同时扫描范围较大,扫描分辩率精度高。
附图说明
图1是本发明的扫描体装置的结构分解示意图。
具体实施方式
如上述图1所示的结构。
其中外罩1、盒盖2和外壳30均由不锈钢构成。
探针32上的绝缘套管33是由高绝缘材料聚四氟乙烯构成。三个调节杆40、41的分布呈现的等腰三角形的高大于安装平台4的半径。自动调节杆41是由计算机控制步进电机的驱动进行调节。将上述结构的本发明扫描装置用于扫描隧道显微镜上,获得的扫描范围是3μm,最大可达到6μm。扫描分辩率为高序石墨(HOPG)原子分辩。分辩的精度高达1×10-5μm(0.1)。

Claims (2)

1、一种扫描隧道显微镜的扫描装置,包括:外罩(1)、带盒盖(2)的内盒(3)、安装平台(4)、底座(5)和探针(32),其特征在于:
a.所说的外罩(1)是下端带有凸缘(10)的金属罩(11),凸缘(10)上均匀分布有悬吊螺栓(101),外罩(1)罩在内盒(3)的外面;
b.所说的带有盒盖(2)的内盒(3)包括外壳(30),外壳(30)围成的收容室(301),外壳(30)顶端上的定位孔(302)与盒盖(2)上的定位柱(20)相配,置于收容室(301)内的金属管(35)带有绝缘套管(33),探针(32)安装在金属管(35)上,针尖从外壳(30)底板上的小孔内伸出内盒,探针(32)与外壳(30)构成一体,在收容室(301)内置有电路板(31),探针(30)的尾端连接在电路板(31)上,外壳(30)的侧壁上置有与控制系统上电子插头(62)相配的电子插座(34);
c.所说的安装平台(4)上置有两个手动调节杆(40)和一个自动调节杆(41),三个调节杆(40、41)的分布呈现一等腰三角形,自动调节杆(41)位于等腰三角形的顶点,在三个调节杆(40、41)之间置有压电陶瓷管(60),在压电陶瓷管(60)上置放待测样品台(61),压电陶瓷管(60)上有D形接口(63),安装平台(4)的底下有支撑柱(43),支撑柱(43)置于底座(5)上,安装平台(4)与底座(5)构成扫描座(6);
d.上述的内盒(3)置于安装平台(4)上,安装平台(4)上的三个调节杆(40、41)顶在内盒(3)的外壳(30)底板上,从外壳(30)底板上小孔内伸出的探针(32)针尖对准安装平台(4)上压电陶瓷管(60)上的待测样品台(61)。
2、根据权利要求1所述的扫描隧道显微镜的扫描装置,其特征在于所说的外罩(1)、盒盖(2)利内盒(3)的外壳(30)均是由不锈钢,或是硬铝合金构成。
CNB021452113A 2002-11-12 2002-11-12 扫描隧道显微镜的扫描装置 Expired - Fee Related CN1320349C (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB021452113A CN1320349C (zh) 2002-11-12 2002-11-12 扫描隧道显微镜的扫描装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB021452113A CN1320349C (zh) 2002-11-12 2002-11-12 扫描隧道显微镜的扫描装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1501063A CN1501063A (zh) 2004-06-02
CN1320349C true CN1320349C (zh) 2007-06-06

Family

ID=34232308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB021452113A Expired - Fee Related CN1320349C (zh) 2002-11-12 2002-11-12 扫描隧道显微镜的扫描装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN1320349C (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101202125B (zh) * 2007-08-14 2010-07-14 中国科学院物理研究所 一种用于扫描隧道显微镜的主动式降噪方法及装置
CN102735880B (zh) * 2012-06-20 2013-11-27 浙江大学 用于大幅度微纳结构的扫描探针测量系统及其方法
CN104181335A (zh) * 2013-05-24 2014-12-03 中国科学院物理研究所 一种扫描隧道显微镜扫描探头
CN109884501B (zh) * 2019-03-06 2022-04-19 惠科股份有限公司 一种检测机台、断线短路检测机及校正方法
CN112730897B (zh) * 2020-12-26 2022-02-18 厦门大学 一种隔离式扫描隧道显微镜的针尖扫描头装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2089208U (zh) * 1990-12-29 1991-11-20 重庆大学 一种新型的扫描隧道显微镜体
US6118121A (en) * 1995-09-22 2000-09-12 Olympus Optical Co., Ltd. Probe scanning mechanism for a scanning probe microscope
JP2001074633A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Japan Science & Technology Corp 超高圧走査型トンネル顕微鏡装置
JP2002014026A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Jeol Ltd 走査形プローブ顕微鏡
CN2519270Y (zh) * 2002-01-31 2002-10-30 重庆大学 高精度扫描隧道显微镜的镜体
CN2593320Y (zh) * 2002-11-28 2003-12-17 上海爱建纳米科技发展有限公司 扫描隧道显微镜的扫描探头

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2089208U (zh) * 1990-12-29 1991-11-20 重庆大学 一种新型的扫描隧道显微镜体
US6118121A (en) * 1995-09-22 2000-09-12 Olympus Optical Co., Ltd. Probe scanning mechanism for a scanning probe microscope
JP2001074633A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Japan Science & Technology Corp 超高圧走査型トンネル顕微鏡装置
JP2002014026A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Jeol Ltd 走査形プローブ顕微鏡
CN2519270Y (zh) * 2002-01-31 2002-10-30 重庆大学 高精度扫描隧道显微镜的镜体
CN2593320Y (zh) * 2002-11-28 2003-12-17 上海爱建纳米科技发展有限公司 扫描隧道显微镜的扫描探头

Also Published As

Publication number Publication date
CN1501063A (zh) 2004-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4174357B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
US6130427A (en) Scanning probe microscope with multimode head
US7473887B2 (en) Resonant scanning probe microscope
US7784107B2 (en) High speed measurement, analysis and imaging systems and methods for length scales from meter to sub-nanometer
EP1032828B1 (en) Electrostatic force detector with cantilever for an electrostatic force microscope
US8489356B2 (en) Variable density scanning
US7415868B2 (en) Deconvolving tip artifacts using multiple scanning probes
US8296856B2 (en) Control system for scanning probe microscope
CN1320349C (zh) 扫描隧道显微镜的扫描装置
Stahl et al. Atomic force microscope using piezoresistive cantilevers and combined with a scanning electron microscope
CN110262309A (zh) 一种适用于微纳双模检测加工模块的控制系统及方法
CN2593320Y (zh) 扫描隧道显微镜的扫描探头
US9366693B2 (en) Variable density scanning
CN209246981U (zh) 一种新型多功能轴承检测仪器
CN218895150U (zh) 一种土建工程规划用测绘仪
Thibado et al. Scanning tunneling microscope combined with scanning electron microscope for the study of grain boundaries
CN215728236U (zh) 扫描探针显微镜系统
CN201477021U (zh) 一种用于电镀层表面分析的显微检测仪
CN217278455U (zh) 一种超高真空原子力显微镜用真空系统
CN113552390A (zh) 扫描探针显微镜系统
WO2023283048A1 (en) Afm imaging with real time drift correction
JP2007170874A (ja) 顕微鏡システム、観察方法および観察プログラム
Walters et al. Scanning Laser Microscope Incorporating a SIL Nano-Positioning System
Ping The development of a scanning tunnelling microscope
JPH04339202A (ja) 走査型トンネル分光法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20070606

Termination date: 20101112