JPH0980095A - 絶縁抵抗測定装置 - Google Patents
絶縁抵抗測定装置Info
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- JPH0980095A JPH0980095A JP25695495A JP25695495A JPH0980095A JP H0980095 A JPH0980095 A JP H0980095A JP 25695495 A JP25695495 A JP 25695495A JP 25695495 A JP25695495 A JP 25695495A JP H0980095 A JPH0980095 A JP H0980095A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 絶縁劣化異常の誤認検出がなく、安全且つ確
実に活線状態の施工ができる絶縁抵抗測定装置を提供す
る。 【解決手段】 絶縁抵抗測定装置１を、零相変流器ＺＣ
Ｔ１と、この零相変流器ＺＣＴ１に接続される電流検出
回路２と、電路に接続されるリアクトルＬ１と、電流検
出回路２に接続される電流制御回路３と、この電流制御
回路３の制御により直流励磁電流をリアクトルＬ１に出
力する直流電源４で構成する。
実に活線状態の施工ができる絶縁抵抗測定装置を提供す
る。 【解決手段】 絶縁抵抗測定装置１を、零相変流器ＺＣ
Ｔ１と、この零相変流器ＺＣＴ１に接続される電流検出
回路２と、電路に接続されるリアクトルＬ１と、電流検
出回路２に接続される電流制御回路３と、この電流制御
回路３の制御により直流励磁電流をリアクトルＬ１に出
力する直流電源４で構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電路の絶縁抵抗を
活線状態で測定する絶縁抵抗測定装置装置の改善に関す
る。
活線状態で測定する絶縁抵抗測定装置装置の改善に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、電路の絶縁抵抗を活線状態で測定
する絶縁抵抗測定装置は、図６に示すようなものであっ
た。即ち絶縁抵抗測定装置２１に零相変流器ＺＣＴ３
と、この零相変流器ＺＣＴ３に接続された電流検出回路
２２により、浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒに流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和であるIo電流を検出するIo方式を用
い、Io電流の絶対値が一定レベルを越えると異常と認識
していた。
する絶縁抵抗測定装置は、図６に示すようなものであっ
た。即ち絶縁抵抗測定装置２１に零相変流器ＺＣＴ３
と、この零相変流器ＺＣＴ３に接続された電流検出回路
２２により、浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒに流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和であるIo電流を検出するIo方式を用
い、Io電流の絶対値が一定レベルを越えると異常と認識
していた。
【０００３】また、図８に示すように、 Igr方式を用い
た Igr絶縁検出器の絶縁抵抗測定装置３１があった。
た Igr絶縁検出器の絶縁抵抗測定装置３１があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図６に示すIo方式によ
る絶縁抵抗測定装置２１は、図７（ａ）に示すように
IC，IR共に小さい場合には異常なしと判断し、図７
（ｂ）に示すようにIRが大きい場合には絶縁劣化異常と
みなし異常と判断するが、図７（ｃ）に示すように浮遊
容量Ｃが大きく、これに流れる漏洩電流ICが大きい場合
には、本来異常でないにもかかわらず絶縁劣化異常と誤
認することがあった。
る絶縁抵抗測定装置２１は、図７（ａ）に示すように
IC，IR共に小さい場合には異常なしと判断し、図７
（ｂ）に示すようにIRが大きい場合には絶縁劣化異常と
みなし異常と判断するが、図７（ｃ）に示すように浮遊
容量Ｃが大きく、これに流れる漏洩電流ICが大きい場合
には、本来異常でないにもかかわらず絶縁劣化異常と誤
認することがあった。
【０００５】また、図８に示す Igr方式による Igr絶縁
検出器の絶縁抵抗測定装置３１は、第二種接地線を一度
切断しなければならないため、この施工を活線時に行う
には非常に危険であった。
検出器の絶縁抵抗測定装置３１は、第二種接地線を一度
切断しなければならないため、この施工を活線時に行う
には非常に危険であった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記従来の絶縁抵抗測定
装置の問題点に鑑み、本発明の目的は、絶縁劣化異常の
誤認検出がなく、安全且つ確実に活線状態の施工ができ
る絶縁抵抗測定装置を提供するもので、零相変流器と、
該零相変流器に接続される電流検出回路と、電路に接続
されるリアクトルと、前記電流検出回路に接続される電
流制御回路と、該電流制御回路の制御により直流励磁電
流を前記リアクトルに出力する直流電源とで構成され、
電路の浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電流のベ
クトル和を検出し、前記浮遊容量に等しいリアクタンス
容量を発生させて浮遊容量を打ち消し、前記浮遊容量と
絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電流のベクトル和が最小と
なるよう前記電流制御部によりフィードバック制御する
ことである。
装置の問題点に鑑み、本発明の目的は、絶縁劣化異常の
誤認検出がなく、安全且つ確実に活線状態の施工ができ
る絶縁抵抗測定装置を提供するもので、零相変流器と、
該零相変流器に接続される電流検出回路と、電路に接続
されるリアクトルと、前記電流検出回路に接続される電
流制御回路と、該電流制御回路の制御により直流励磁電
流を前記リアクトルに出力する直流電源とで構成され、
電路の浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電流のベ
クトル和を検出し、前記浮遊容量に等しいリアクタンス
容量を発生させて浮遊容量を打ち消し、前記浮遊容量と
絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電流のベクトル和が最小と
なるよう前記電流制御部によりフィードバック制御する
ことである。
【０００７】また、前記絶縁抵抗測定装置において、前
記リアクトルの一次側に降圧トランスを設けることであ
る。
記リアクトルの一次側に降圧トランスを設けることであ
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】零相変流器及び電流検出回路によ
り電路の浮遊容量と絶縁抵抗に流れる漏洩電流のベクト
ル和であるIo電流を検出し、電流制御回路の制御により
直流電源が直流励磁電流をリアクトルの鉄心の中央部に
巻かれたコイルに出力し、浮遊容量に等しいリアクタン
ス容量を発生させて浮遊容量を打ち消す。そして電流制
御回路により、浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩
電流のベクトル和が最小となるようにフィードバック制
御する。
り電路の浮遊容量と絶縁抵抗に流れる漏洩電流のベクト
ル和であるIo電流を検出し、電流制御回路の制御により
直流電源が直流励磁電流をリアクトルの鉄心の中央部に
巻かれたコイルに出力し、浮遊容量に等しいリアクタン
ス容量を発生させて浮遊容量を打ち消す。そして電流制
御回路により、浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩
電流のベクトル和が最小となるようにフィードバック制
御する。
【０００９】
【実施例】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第１実施例
を図１〜図４に示す。以下これらの図面に基づき本発明
を説明する。
を図１〜図４に示す。以下これらの図面に基づき本発明
を説明する。
【００１０】絶縁抵抗測定装置１は、零相変流器ＺＣＴ
１と、この零相変流器ＺＣＴ１に接続される電流検出回
路２と、電路に接続されるリアクトルＬ１と、電流検出
回路２に接続される電流制御回路３と、この電流制御回
路３の制御により直流励磁電流をリアクトルＬ１に出力
する直流電源４で構成される。
１と、この零相変流器ＺＣＴ１に接続される電流検出回
路２と、電路に接続されるリアクトルＬ１と、電流検出
回路２に接続される電流制御回路３と、この電流制御回
路３の制御により直流励磁電流をリアクトルＬ１に出力
する直流電源４で構成される。
【００１１】リアクトルＬ１は、鉄心の両端にコイルＬ
AC1 及びコイルＬAC2 を巻き、中央部にコイルＬDCを巻
く。
AC1 及びコイルＬAC2 を巻き、中央部にコイルＬDCを巻
く。
【００１２】零相変流器ＺＣＴ１及び電流検出回路２に
より電路の浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒに流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和であるIo電流を検出し、電流制御回
路３の制御により直流電源４が直流励磁電流をリアクト
ルＬ１の鉄心の中央部に巻かれたコイルＬDCに出力し、
浮遊容量Ｃに等しいリアクタンス容量を発生させて浮遊
容量Ｃを打ち消す。そして電流制御回路３により、浮遊
容量Ｃと絶縁抵抗Ｒの両方に流れる漏洩電流IC，IRのベ
クトル和I0が最小となるようにフィードバック制御す
る。
より電路の浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒに流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和であるIo電流を検出し、電流制御回
路３の制御により直流電源４が直流励磁電流をリアクト
ルＬ１の鉄心の中央部に巻かれたコイルＬDCに出力し、
浮遊容量Ｃに等しいリアクタンス容量を発生させて浮遊
容量Ｃを打ち消す。そして電流制御回路３により、浮遊
容量Ｃと絶縁抵抗Ｒの両方に流れる漏洩電流IC，IRのベ
クトル和I0が最小となるようにフィードバック制御す
る。
【００１３】リアクトルＬ１の磁束の流れにおいて、交
流磁束分は鉄心の中央部で打ち消し合うように設定され
ている。従って鉄心の中央部のコイルＬDCへの相互イン
ダクタンスはほぼ０となる。また、直流磁束分は鉄心の
両端部を通る。これにより鉄心の両端部の透磁率が小さ
くなり、コイルＬAC1 及びコイルＬAC2 によるリアクト
ル容量が小さくなる。
流磁束分は鉄心の中央部で打ち消し合うように設定され
ている。従って鉄心の中央部のコイルＬDCへの相互イン
ダクタンスはほぼ０となる。また、直流磁束分は鉄心の
両端部を通る。これにより鉄心の両端部の透磁率が小さ
くなり、コイルＬAC1 及びコイルＬAC2 によるリアクト
ル容量が小さくなる。
【００１４】図４（ａ），図４（ｂ），図４（ｃ）の何
れにおいてもIC＝ILとなるように交流磁束を発生させる
ためIO＝IRとなり、常に絶縁抵抗Ｒによる漏洩電流IRの
みが検出される。
れにおいてもIC＝ILとなるように交流磁束を発生させる
ためIO＝IRとなり、常に絶縁抵抗Ｒによる漏洩電流IRの
みが検出される。
【００１５】リアクトル容量の増減動作は、リアクトル
容量を大きくしたい場合は直流励磁電流を減少させ、リ
アクトル容量を小さくしたい場合は直流励磁電流を増加
させる。
容量を大きくしたい場合は直流励磁電流を減少させ、リ
アクトル容量を小さくしたい場合は直流励磁電流を増加
させる。
【００１６】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第２実施
例を図５に示す。以下これらの図面に基づき本発明を説
明する。
例を図５に示す。以下これらの図面に基づき本発明を説
明する。
【００１７】絶縁抵抗測定装置１１は、零相変流器ＺＣ
Ｔ２と、この零相変流器ＺＣＴ２に接続される電流検出
回路１２と、電路に接続される降圧トランスＴＲと、こ
の降圧トランスＴＲに接続されるリアクトルＬ２と、電
流検出回路１２に接続される電流制御回路１３と、この
電流制御回路１３の制御により直流励磁電流をリアクト
ルＬ２に出力する直流電源１４で構成される。
Ｔ２と、この零相変流器ＺＣＴ２に接続される電流検出
回路１２と、電路に接続される降圧トランスＴＲと、こ
の降圧トランスＴＲに接続されるリアクトルＬ２と、電
流検出回路１２に接続される電流制御回路１３と、この
電流制御回路１３の制御により直流励磁電流をリアクト
ルＬ２に出力する直流電源１４で構成される。
【００１８】リアクトルＬ２は、リアクトルＬ１と同様
に鉄心の両端にコイルＬAC1 及びコイルＬAC2 を巻き、
中央部にコイルＬDCを巻く。
に鉄心の両端にコイルＬAC1 及びコイルＬAC2 を巻き、
中央部にコイルＬDCを巻く。
【００１９】零相変流器ＺＣＴ２及び電流検出回路１２
により電路の浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒに流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和であるIo電流を検出し、電流制御回
路１３の制御により直流電源１４が直流励磁電流をリア
クトルＬ１の鉄心の中央部に巻かれたコイルＬDCに出力
し、浮遊容量Ｃに等しいリアクタンス容量を発生させて
浮遊容量Ｃを打ち消す。そして電流制御回路１３によ
り、浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒの両方に流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和I0が最小となるようにフィードバッ
ク制御する。
により電路の浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒに流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和であるIo電流を検出し、電流制御回
路１３の制御により直流電源１４が直流励磁電流をリア
クトルＬ１の鉄心の中央部に巻かれたコイルＬDCに出力
し、浮遊容量Ｃに等しいリアクタンス容量を発生させて
浮遊容量Ｃを打ち消す。そして電流制御回路１３によ
り、浮遊容量Ｃと絶縁抵抗Ｒの両方に流れる漏洩電流
IC，IRのベクトル和I0が最小となるようにフィードバッ
ク制御する。
【００２０】リアクトルＬ２の磁束の流れにおいて、交
流磁束分は鉄心の中央部で打ち消し合うように設定され
ている。従って鉄心の中央部のコイルＬDCへの相互イン
ダクタンスはほぼ０となる。また、直流磁束分は鉄心の
両端部を通る。これにより鉄心の両端部の透磁率が小さ
くなり、コイルＬAC1 及びコイルＬAC2 によるリアクト
ル容量が小さくなる。
流磁束分は鉄心の中央部で打ち消し合うように設定され
ている。従って鉄心の中央部のコイルＬDCへの相互イン
ダクタンスはほぼ０となる。また、直流磁束分は鉄心の
両端部を通る。これにより鉄心の両端部の透磁率が小さ
くなり、コイルＬAC1 及びコイルＬAC2 によるリアクト
ル容量が小さくなる。
【００２１】図４（ａ），図４（ｂ），図４（ｃ）に示
したと同様に、IC＝ILとなるように交流磁束を発生させ
るためIO＝IRとなり、常に絶縁抵抗Ｒによる漏洩電流IR
のみが検出される。
したと同様に、IC＝ILとなるように交流磁束を発生させ
るためIO＝IRとなり、常に絶縁抵抗Ｒによる漏洩電流IR
のみが検出される。
【００２２】リアクトル容量の増減動作は、リアクトル
容量を大きくしたい場合は直流励磁電流を減少させ、リ
アクトル容量を小さくしたい場合は直流励磁電流を増加
させる。
容量を大きくしたい場合は直流励磁電流を減少させ、リ
アクトル容量を小さくしたい場合は直流励磁電流を増加
させる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように本発明に係る絶縁抵抗測定
装置は、零相変流器と、該零相変流器に接続される電流
検出回路と、電路に接続されるリアクトルと、前記電流
検出回路に接続される電流制御回路と、該電流制御回路
の制御により直流励磁電流を前記リアクトルに出力する
直流電源とで構成され、電路の浮遊容量と絶縁抵抗の両
方に流れる漏洩電流のベクトル和を検出し、前記浮遊容
量に等しいリアクタンス容量を発生させて浮遊容量を打
ち消し、前記浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電
流のベクトル和が最小となるよう前記電流制御部により
フィードバック制御することによって、浮遊容量Ｃの漏
洩電流ICを打ち消すことによりIC成分の増減による絶縁
劣化異常の誤認検出がなくなると共に、第二種接地線を
切断しなくても零相変流器を貫通させるだけで良いの
で、安全且つ確実に活線状態の施工ができるという効果
がある。
装置は、零相変流器と、該零相変流器に接続される電流
検出回路と、電路に接続されるリアクトルと、前記電流
検出回路に接続される電流制御回路と、該電流制御回路
の制御により直流励磁電流を前記リアクトルに出力する
直流電源とで構成され、電路の浮遊容量と絶縁抵抗の両
方に流れる漏洩電流のベクトル和を検出し、前記浮遊容
量に等しいリアクタンス容量を発生させて浮遊容量を打
ち消し、前記浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電
流のベクトル和が最小となるよう前記電流制御部により
フィードバック制御することによって、浮遊容量Ｃの漏
洩電流ICを打ち消すことによりIC成分の増減による絶縁
劣化異常の誤認検出がなくなると共に、第二種接地線を
切断しなくても零相変流器を貫通させるだけで良いの
で、安全且つ確実に活線状態の施工ができるという効果
がある。
【００２４】また、前記絶縁抵抗測定装置において、前
記リアクトルの一次側に降圧トランスを設けることによ
って、リアクトルの耐圧が低く済み、またインダクタン
ス値が小さくて済むため、コイルの巻数が少なくて済む
という効果がある。
記リアクトルの一次側に降圧トランスを設けることによ
って、リアクトルの耐圧が低く済み、またインダクタン
ス値が小さくて済むため、コイルの巻数が少なくて済む
という効果がある。
【図１】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第１実施例の
回路図である。
回路図である。
【図２】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第１実施例の
リアクトルの構成図である。
リアクトルの構成図である。
【図３】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第１実施例の
リアクトルの磁束の流れの説明図である。
リアクトルの磁束の流れの説明図である。
【図４】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第１実施例の
ベクトル図である。
ベクトル図である。
【図５】本発明に係る絶縁抵抗測定装置の第２実施例の
実施例の回路図である。
実施例の回路図である。
【図６】従来の絶縁抵抗測定装置の第１実施例の回路図
である。
である。
【図７】従来の絶縁抵抗測定装置の第１実施例のベクト
ル図である。
ル図である。
【図８】従来の絶縁抵抗測定装置の第２実施例の回路図
である。
である。
１，１１・・・絶縁抵抗測定装置、２，１２・・・電流
検出回路、３，１３・・・電流制御回路、４，１４・・
・直流電源、ＺＣＴ１，ＺＣＴ２・・・零相変流器、Ｌ
１，Ｌ２・・・リアクトル。
検出回路、３，１３・・・電流制御回路、４，１４・・
・直流電源、ＺＣＴ１，ＺＣＴ２・・・零相変流器、Ｌ
１，Ｌ２・・・リアクトル。
Claims (2)
- 【請求項１】 電路の絶縁抵抗を活線状態で測定する絶
縁抵抗測定装置であって、該絶縁抵抗測定装置は、零相
変流器と、該零相変流器に接続される電流検出回路と、
電路に接続されるリアクトルと、前記電流検出回路に接
続される電流制御回路と、該電流制御回路の制御により
直流励磁電流を前記リアクトルに出力する直流電源とで
構成され、電路の浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏
洩電流のベクトル和を検出し、前記浮遊容量に等しいリ
アクタンス容量を発生させて浮遊容量を打ち消し、前記
浮遊容量と絶縁抵抗の両方に流れる漏洩電流のベクトル
和が最小となるよう前記電流制御部によりフィードバッ
ク制御することを特徴とする絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項２】 前記絶縁抵抗測定装置において、前記リ
アクトルの一次側に降圧トランスを設けることを特徴と
する請求項１に記載の絶縁抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25695495A JPH0980095A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | 絶縁抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25695495A JPH0980095A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | 絶縁抵抗測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0980095A true JPH0980095A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=17299678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25695495A Pending JPH0980095A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | 絶縁抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0980095A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006226879A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 漏洩電流測定装置 |
| KR100639748B1 (ko) * | 2001-10-04 | 2006-10-30 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 누설 전류 측정 방법 |
| KR100676225B1 (ko) * | 2006-04-28 | 2007-02-01 | 예명환 | 활선 저압 배전선로의 누전여부 탐지 및 보수 방법 |
| JP2012122997A (ja) * | 2010-12-08 | 2012-06-28 | General Electric Co <Ge> | 漏洩電流マスキングおよび地絡検出用のシステム、方法、および装置 |
-
1995
- 1995-09-08 JP JP25695495A patent/JPH0980095A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100639748B1 (ko) * | 2001-10-04 | 2006-10-30 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 누설 전류 측정 방법 |
| KR100840040B1 (ko) * | 2001-10-04 | 2008-06-19 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 감시 장치 |
| KR100840041B1 (ko) * | 2001-10-04 | 2008-06-19 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 감시 시스템 |
| KR100840042B1 (ko) * | 2001-10-04 | 2008-06-19 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 감시 장치 |
| KR100840039B1 (ko) * | 2001-10-04 | 2008-06-19 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 저항 측정 방법 |
| JP2006226879A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 漏洩電流測定装置 |
| KR100676225B1 (ko) * | 2006-04-28 | 2007-02-01 | 예명환 | 활선 저압 배전선로의 누전여부 탐지 및 보수 방법 |
| JP2012122997A (ja) * | 2010-12-08 | 2012-06-28 | General Electric Co <Ge> | 漏洩電流マスキングおよび地絡検出用のシステム、方法、および装置 |
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