JPH0946201A - 絶縁ゲート型半導体装置の駆動方法及び装置 - Google Patents
絶縁ゲート型半導体装置の駆動方法及び装置Info
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- JPH0946201A JPH0946201A JP7189410A JP18941095A JPH0946201A JP H0946201 A JPH0946201 A JP H0946201A JP 7189410 A JP7189410 A JP 7189410A JP 18941095 A JP18941095 A JP 18941095A JP H0946201 A JPH0946201 A JP H0946201A
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Abstract
において、ターンオン損失を低減すると共に、ターンオ
ン時のIGBTの電流の時間変化率di/dtを低減す
ることができる駆動装置を提供する。 【構成】駆動回路2、3と、各駆動回路とIGBT1の
ゲートとを接続するゲート抵抗4及びその抵抗値がゲー
ト抵抗4よりも小さいゲート抵抗5と、各駆動回路の動
作タイミングを制御する遅延回路8及び論理回路9とを
有し、入力端子7にターンオン信号が入力され遅延回路
8が遅延した信号を出力するまでの時間t1の間は、抵
抗値がより大きいゲート抵抗4を通じて駆動回路2がI
GBT1のゲートに電流を供給し、時間t1以降は、抵
抗値がより小さいゲート抵抗5を通じて駆動回路3がI
GBT1のゲートに電流を供給する。
Description
タ(Insulated gate bipolar
transistor:以下、IGBTと称す)や、M
OSGTO(Metal oxide gate tu
rn−off thyristor)等の絶縁ゲート型
半導体装置の駆動方法及び駆動装置に関する。
トに加える電圧で電流を制御できる、いわゆる電圧駆動
型素子であるため、電流駆動型のバイポ−ラトランジス
タやGTOより駆動電力が小さく、このため、駆動回路
を簡単にできるので、電源やインバ−タ等の分野に急速
に広まっている。
層101の上にn−層102が設けられている。n−層
102内には複数個のp層103が設けられている。さ
らにp層103内には、n+層104が設けられてい
る。n+層104、p層103、n−層102表面に
は、ゲート絶縁膜105及びゲート電極106が設けら
れ、絶縁ゲートが形成されている。p+層101の下方
に位置する裏面には、コレクタ電極106が設けられて
いる。また、p層103とn+層104とを短絡して、
エミッタ電極108が設けられている。また、エミッタ
電極108は、絶縁膜107を介してゲート電極106
上にも形成されている。
中に概念的に示されている、エミッタ−ゲート間容量C
GEは、ゲート絶縁膜105直下のp層103とゲート電
極106間の容量CGE1と、絶縁膜107を挟んでゲー
ト電極106とエミッタ電極108間の容量CGE2の並
列接続で表される。一方、ゲート−コレクタ間容量CG C
は、ゲート絶縁膜105を挟んで、n−層102とゲー
ト電極106間の容量で表される。
コレクタ間容量CGCとの、コレクタ−エミッタ間電圧依
存性を、図11に示す。ゲート−コレクタ間容量C
GCは、コレクタ−エミッタ間電圧が大きくなるとn−層
102に空乏層がのびるため、容量は急激に小さくな
る。一方、p層103にはあまり空乏層は伸びないた
め、エミッタ−ゲート間容量CGEのコレクタ−エミッタ
間電圧依存性は小さい。
駆動回路の従来例を、図12に示す。IGBT1のエミ
ッタは、電源Vccのアース側に接続されている。コレ
クタ側は、ダイオードDのアノード側に接続されてい
る。ダイオードDのカソード側は電源Vccの高圧側に
接続されている。また、ダイオードDの両端にはインダ
クタンス負荷Lが接続されている。
が接続されている。ゲート抵抗Rgのもう一方は、駆動
回路2に接続されている。駆動回路2は、例えば、np
nトランジスタQ1、pnpトランジスタQ2、npn
トランジスタQ3、及び、抵抗rbから構成され、電源
VGEと接続されている。
トランジスタQ1のコレクタ、及び抵抗rbの一端は、
電源VGEの高電位側に接続されている。pnpトランジ
スタQ2のコレクタ及びnpnトランジスタQ3のエミ
ッタは、電源VGEのアース側に接続されている。抵抗r
bの他端と、npnトランジスタQ1及びpnpトラン
ジスタQ2のベースと、npnトランジスタQ3のコレ
クタとは、互いに接続されている。また、npnトラン
ジスタQ1及びpnpトランジスタQ2のエミッタは、
ゲート抵抗Rgを介してIGBT1と接続されている。
ターンオン時におけるIGBT1の各部の波形を図13
に示す。
の電圧を加えると(図13(1)参照)、npnトラン
ジスタQ3がオンし、抵抗rbを通してベース電流ib
がnpnトランジスタQ1に流れ込み、npnトランジ
スタQ1はオンする。すると、npnトランジスタQ1
を通じてIGBT1のゲートに電流が流れ込み(図13
(3)参照)、ゲート−エミッタ間容量CGE及びゲート
−コレクタ間容量CGCを充電する。
圧は増加し(図13(2)参照)、ある値Vthを越え
ると、IGBT1のコレクタに電流Icが流れ始める
(図13(4)参照)。このnpnトランジスタQ3に
オン信号を加えてからIGBT1に電流が流れるまでの
時間を遅延時間tdと呼ぶ。
(4)に示すように、IGBT1のコレクタに接続され
ているダイオードDが逆バイアス状態となり、ダイオー
ドDの逆回復電流が流れ込む。このため、IGBT1の
電流はピークを持つ。電流が流れてある時間がたつと、
IGBT1のコレクターエミッタ間電圧Vceは急激に
低下する。
では、空乏層が伸びているため、ゲート−コレクタ間容
量CGCは非常に小さい値となっている。しかし、コレク
ターエミッタ間電圧Vceが低下すると、ゲート−コレ
クタ間容量CGCは急激に増加する。このため、ゲート電
圧及びゲート電流はほぼ一定となる。この時、コレクタ
ーエミッタ間の電圧Vceは、Vce(res)でほぼ
一定となる。
電されると、ゲート電圧は、VGEー(npnトランジス
タQ1のベース−エミッタ間電圧≒0.7V)になる。
このとき、コレクターエミッタ間の電圧Vceは、前記
Vce(res)からさらに低下し、最終的に定常値V
ce(sat)となる。
路2では、ゲート抵抗Rgの値が固定されていた。この
ため、ゲート抵抗Rgの抵抗値が小さいと、IGBT1
のゲート電圧の時間変化率が大きくなり、この結果、I
GBT1のコレクタ電流の時間変化率di/dtが大き
くなっていた(図13(4)の領域A)。
なると、ダイオードDの逆回復時の電流変化率di/d
tが大きくなる(図13(4)の領域B)。このため、
IGBT1の回路に浮遊インダクタンスL’が存在する
場合には、その浮遊インダクタンスに流れる電流の時間
変化によって生じる跳ね上がり電圧(L’×di/dt
(領域B))も大きなものとなる。従来の駆動回路にお
いては、この跳ね上がり電圧による素子や装置の破壊、
あるいは、当該跳ね上がり電圧により生じたノイズによ
る誤動作が引き起こされるという問題があった。
抗Rgの抵抗値を大きくして、電流の時間変化率di/
dtを抑えると、ゲート電圧が、ゲート−コレクタ間容
量CGCのため一定になる期間tres(図13(3)参
照)が長くなり、その間はコレクタ−エミッタ間電圧V
ceは、定常値Vce(sat)よりは高いVce(r
es)となっている。このため、いわゆるターンオン損
失が増大するという問題があった。
れたもので、上述したIGBTを含む絶縁ゲート型半導
体素子を含む半導体装置において、いわゆるターンオン
損失を低減することが可能な、絶縁ゲート型半導体装置
の駆動方法及びその装置を提供することを目的とする。
法およびその装置において、ターンオン時の電流の時間
変化率di/dtを低減することが可能な、絶縁ゲート
型半導体装置の駆動方法及びその装置を提供することに
ある。
導体素子の駆動方法は、上記目的を達成するために、ゲ
ートにオン信号が加わった直後の初期状態が、ゲート電
圧が時間と共に上昇する第1の期間と、当該第1の期間
に続く、ゲート電圧がゲート−コレクタ間容量の増加の
ためほぼ一定となる第2の期間とを少なくとも含んでい
る、絶縁ゲート型半導体素子を備えた絶縁ゲート型半導
体装置の駆動方法において、前記ゲートに印加する駆動
電圧を、前記初期状態が続く期間中に変化させるもので
あり、前記第1の期間全体を少なくとも含む第1’の期
間に前記ゲートに印加する駆動電圧を、当該第1’の期
間に連続して設定される、前記第2の期間の少なくとも
一部を含む第2’の期間に前記ゲートに印加する駆動電
圧よりも低くする。
成するために、ゲートにオン信号が加わった直後の初期
状態が、コレクタに電流が流れ始めるまでの第1の期間
と、当該第1の期間の後でかつゲート電圧が時間と共に
上昇する第2の期間と、ゲート電圧がゲート−コレクタ
間容量の増加のためほぼ一定となる第3の期間とを少な
くとも含んでいる、絶縁ゲート型半導体素子を備えた絶
縁ゲート型半導体装置の駆動方法において、前記ゲート
に印加する駆動電圧を、前記初期状態が続く期間中に変
化させるものであり、前記第1の期間に前記ゲートに印
加する駆動電圧V1と、前記第2の期間全体を少なくと
も含む第2’の期間に前記ゲートに印加する駆動電圧V
2と、当該第2’の期間に連続して設定される、前記第
3の期間の少なくとも一部を含む第3’の期間に前記ゲ
ートに印加する駆動電圧V3とを、V2<V1、かつ、
V2<V3となるように設定する。
置は、上記目的を達成するために、前記駆動電圧を発生
する第1及び第2の駆動回路と、前記第1の駆動回路と
前記ゲートとを接続する第1のゲート抵抗、及び、前記
第2の駆動回路と前記ゲートを接続する、前記第1のゲ
ート抵抗の抵抗値よりも小さい抵抗値の第2のゲート抵
抗と、入力されるオン信号に応じて、最初に、前記第1
の駆動回路を動作させると共に、動作させる駆動回路を
切り換えるタイミングを決定し、該タイミングに応じて
前記第1の駆動回路の動作を停止し、第2の駆動回路の
動作を開始する制御回路とを有し、前記制御回路は、前
記絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧が安定する定常
状態を達成する以前の初期状態における、ゲート電圧が
時間と共に増加する第1の期間以降で、かつ、ゲート電
圧がゲート−コレクタ間容量の増加のためほぼ一定とな
る第2の期間の終了前に、動作させる駆動回路を切り換
えるための前記タイミングを決定するタイミング決定回
路を有する。
成するために、前記駆動電圧を発生する第1、第2、及
び、第3の駆動回路と、前記第1の駆動回路と前記ゲー
トとを接続する第1のゲート抵抗、前記第2の駆動回路
と前記ゲートを接続する第2のゲート抵抗、及び、前記
第3の駆動回路と前記ゲートを接続する第3のゲート抵
抗と、入力されるオン信号に応じて、最初に前記第1の
駆動回路を動作させると共に、動作させる駆動回路を前
記第1の駆動回路から前記第2の駆動回路へ切り換える
第1のタイミング、及び、前記第2の駆動回路から前記
第3の駆動回路へ切り換える第2のタイミングをそれぞ
れ決定し、該第1及び第2のタイミングに応じて前記3
つの駆動回路を順次動作させる制御回路とを有し、前記
制御回路は、前記絶縁ゲート型半導体素子のゲート電圧
が安定する定常状態を達成する以前の初期状態におけ
る、ゲートに電圧が印加されてからコレクタに電流が流
れ始めるまでの第1の期間の終了とほぼ同期する時点を
前記第1のタイミングとし、該第1のタイミングの後
の、ゲート電圧が時間と共に増加する第2の期間以降
で、かつ、ゲート電圧がゲート−コレクタ間容量の増加
のためほぼ一定となる第3の期間の終了前での時点を前
記第2のタイミングとして決定するタイミング決定回路
を有し、前記第2のゲート抵抗の抵抗値は、前記第1、
第3のゲート抵抗の抵抗値のいずれよりも大きいものと
する。
成するために、入力されるオン信号により前記駆動電圧
を発生する駆動回路と、前記駆動回路と前記ゲートとを
接続するゲート抵抗と、前記ゲートにそれぞれ接続され
る、第1の容量及び該第1の容量よりも静電容量が小さ
い第2の容量と、前記オン信号に応じて、最初、前記第
1の容量を前記ゲートに電気的に接続してその充電を開
始させると共に、前記ゲートへ電気的に接続し充電を行
わせる容量を切り換えるタイミングを決定し、該タイミ
ングに応じて前記第1の容量の充電を停止し、前記第2
の容量を前記ゲートに接続しその充電を開始させる制御
回路とを有し、前記制御回路は、前記絶縁ゲート型半導
体素子のゲート電圧が安定する定常状態を達成する以前
の初期状態における、ゲート電圧が時間と共に増加する
第1の期間以降で、かつ、ゲート電圧がゲート−コレク
タ間容量の増加のためほぼ一定となる第2の期間の終了
前に、充電すべき容量を切り換えるための前記タイミン
グを決定するタイミング決定回路を有する。
ト型半導体素子のゲート電圧が、ターンオン時の初期状
態において、ゲート−コレクタ間容量の増加のためほぼ
一定の電圧となっている期間が終了する以前に、ゲート
に供給されるゲート電流がより少ない量に制限できるた
め、ターンオン時の電流の時間変化率di/dtの増加
を抑制することができる。
圧が一定の電圧に達した以降は、上記期間で供給される
ゲート電流よりも、より大きな電流を供給することがで
きるため、コレクタ−エミッタ間電圧が速やかに定常値
Vce(sat)になり、ターンオン損失を低減するこ
とができる。
の駆動方法、及び、それを実現する駆動装置の実施例を
図面を使って、詳細に説明する。
の回路構成を図1に示す。なお、本図では、駆動の対象
となるIGBT1だけ表示し、IGBT1に接続される
負荷など、その他のIGBT装置の構成は省略してい
る。
られるオン信号に従ってIGBT1を駆動するもので、
2個の駆動回路2、3と、駆動回路2、3とIGBT1
のゲートとをそれぞれ接続するゲート抵抗4、5と、両
駆動回路2、3を駆動するゲート用電源6と、各駆動回
路の動作を制御する制御回路とを有する。
めた時間t1だけ遅延させて出力する遅延回路8と、当
該遅延出力に応じて、動作される駆動回路を切り換える
論理回路9とを有する。
ート抵抗5の抵抗値は、ゲート抵抗4の抵抗値よりも小
さいものとする。
pnpトランジスタQ2、npnトランジスタQ3、及
び、抵抗rb1から構成されている。npnトランジス
タQ1のコレクタ及び抵抗rb1は、ゲート用電源6の
高電位側に接続されている。pnpトランジスタQ2の
コレクタ及びnpnトランジスタQ3のエミッタは、ゲ
ート用電源6のアース側に接続されている。抵抗rb
1、npnトランジスタQ1及びpnpトランジスタQ
2のベース、npnトランジスタQ3のコレクタは、互
いに接続されている。npnトランジスタQ1及びpn
pトランジスタQ2のエミッタは、ゲート抵抗4に接続
されている。
nトランジスタQ4、pnpトランジスタQ5、npn
トランジスタQ6、及び、抵抗rb2から構成されてい
る。npnトランジスタQ4のコレクタ及び抵抗rb2
は、ゲート用電源6の高電位側に接続されている。pn
pトランジスタQ5のコレクタ及びnpnトランジスタ
Q6のエミッタは、ゲート用電源6のアース側に接続さ
れている。抵抗rb2、npnトランジスタQ4及びp
npトランジスタQ5のベース、npnトランジスタQ
3のコレクタは、互いに接続されている。npnトラン
ジスタQ4及びpnpトランジスタQ5のエミッタは、
ゲート抵抗5に接続されている。
るインバータ92と、インバータ92の出力と入力端子
7からIGBT1のオン信号の論理和をとるANDゲー
ト91とを有する。論理回路9のANDゲート91から
の出力は、駆動回路2のnpnトランジスタQ3に接続
されている。
ン信号を、所定の時間(本実施例では時間t1)だけ遅
延させて出力するもので、その出力は、論理回路9及び
駆動回路3のnpnトランジスタQ6に接続されてい
る。
る。図2は、図1に示す本装置の各部における波形を示
している。
らのオン信号(図2(1))が加わると、この時点では
遅延回路8の出力はLowレベルのままであるため、論
理回路9の出力はHiレベルとなり、npnトランジス
タQ3のベース電圧(図2(2))は正の電圧になる。
よって、駆動回路2が動作して、ゲート抵抗4を通じて
IGBT1のゲート容量(=CGE+CGC)を充電する。
後には、遅延回路8からの出力がHiレベルとなるた
め、npnトランジスタQ3のベース電圧が0になると
同時に、npnトランジスタQ6のベース電圧(図2
(3))が正になる。よって、駆動回路3が動作して、
ゲート抵抗5を通じてIGBT1のゲート容量を充電す
る。
ことにより、IGBT1のゲート電圧、ゲート電流、コ
レクタ電圧、及び、コレクタ電流は、図2(4)、
(5)、(6)に示すように変化する。
ト抵抗4、5にそれぞれ接続された駆動回路2、3の駆
動タイミングを制御することにより、IGBT1のター
ンオン時の初期状態の時間変化特性に対応して、IGB
T1のゲート電極への給電を行うものである。
ミングに対応する遅延時間t1は、入力端子7にオン信
号が加わってから、ゲート電圧がゲート−コレクタ容量
CGCの増加によりほぼ一定となる時間t2より長くし、
かつ、前記オン信号が加わってから、ゲート電圧がCGC
の増加により一定となり再び増加するまでの時間t3よ
り短くなるように予め選ぶものとする。
初に増加する領域では、抵抗値の大きなゲート抵抗4を
通して駆動回路2がゲート電流を供給するため、コレク
タ電流の時間変化率di/dtを低減させることができ
る。
クタ容量CGCのためゲート電圧が一定となる領域では、
抵抗値の小さいゲート抵抗5を通じてゲート電流を供給
するため、ゲート電圧が一定となる期間が短くなり、こ
のためターンオン損失が減少する。
実施例を説明する。
に、入力端子7に加えられるオン信号に従ってIGBT
1を駆動するものであり、上記第1の実施例(図1参
照)と同じ構成である、2個の駆動回路2、3、当該駆
動回路2、3とIGBT1のゲートとをそれぞれ接続す
るゲート抵抗4、5、及び、両駆動回路2、3を駆動す
るゲート用電源6を有する。
ト抵抗5の抵抗値は、ゲート抵抗4の抵抗値よりも小さ
いものとする。
の駆動回路2、3の動作タイミングを制御する制御回路
として、上記図1の第1の実施例で使用されていた遅延
回路8及び論理回路9の代わりに、論理回路15と、I
GBT1のコレクタ電圧を検出して駆動回路の切り換え
タイミングを決定するコレクタ電圧判定回路とを備えて
いる。
のコレクタに接続されるツエナーダイオード10と、ツ
エナーダイオード10のアノードに接続される抵抗11
と、抵抗11に接続される抵抗12とを有する。ここ
で、抵抗12の他端側は、ゲート用電源6のアースに接
続されている。
ー電圧を、ゲート−コレクタ容量CGCのためゲート電圧
が一定となるときのコレクタ−エミッタ電圧Vce(r
es)より高く設定しておく。
抗11及び12の接続点にそれぞれのベースが接続され
ている、npnトランジスタ13及びpnpトランジス
タ14を有する。npnトランジスタ13及びpnpト
ランジスタ14のエミッタは、互いに接続され、論理回
路15の入力側に接続されている。
及びpnpトランジスタ14のエミッタ側と接続されて
いるインバータ1502と、入力端子7に入力される信
号とインバータ1502の出力との論理和をとるAND
ゲート1501と、前記エミッタでの電圧と入力端子7
に入力される信号との論理和をとるANDゲート150
3とを有する。ANDゲート1501、1503の出力
は、それぞれ、駆動回路2のトランジスタQ3のゲー
ト、駆動回路3のトランジスタQ6のゲートに接続され
ている。
直後は、IGBT1のコレクタ電圧が高く(図2(6)
参照)、この間は、ツエナーダイオード10が導通し、
電流が抵抗11及び12に流れる。この時抵抗12に生
じる電圧降下によりnpnトランジスタ13がオンし、
論理回路15へ正の電圧(Highレベル)を出力す
る。
信号が入力されている期間では、論理回路15のAND
ゲート1503により、npnトランジスタQ3にオン
信号が伝わり、駆動回路2が動作する。よって、IGB
T1のゲートには、駆動回路2により、ゲート抵抗4を
通じて電流が供給される。
れ、コレクタ電圧が低下すると、ツエナーダイオード1
0には電流が流れなくなる。すると、npnトランジス
タ13がオフ状態となり、論理回路15への出力電圧は
0となる。
信号が加わっている期間では、論理回路15のANDゲ
ート1501により、npnトランジスタQ6にオン信
号が出力され、駆動回路3が動作する。したがって、I
GBT1のゲートには、ゲート抵抗4に比較して抵抗値
がより小さなゲート抵抗5を通じて、電流が供給され
る。
電流が増加する領域(図2(6)参照)では、抵抗値の
より大きなゲート抵抗4でゲート電流を供給するため、
電流変化率di/dtの増加を抑制することができる。
ターンオンし、コレクタ電圧が減少して、ゲート−コレ
クタ容量CGCが増加する期間では、抵抗値のより小さな
ゲート抵抗5でゲート電流を供給することができる。こ
のため、ゲート電圧が一定となる期間が、ゲート抵抗4
を通じて給電したとした場合よりも短くなり、ターンオ
ン損失を減少させることが可能となる。
け、駆動回路2を動作させ、別の期間では駆動回路3を
動作させるため、遅延回路を使用していた。ところが、
IGBT1の特性のばらつきにより、遅延時間や、ゲー
ト電圧が一定になる時間がばらつくことがあり、このた
め、素子によっては、遅延回路の定数を調整する必要が
ある場合がある。
T1のコレクタ電圧を直接検出して、2つの駆動回路を
切り替えるため、IGBT素子の特性ばらつきを考慮す
る必要がなく、個々のIGBT素子の特性によらず、タ
ーンオン損失をほぼ一定の範囲内に抑えることが可能と
なる。
実施例を図4を参照して説明する。本実施例は、2つの
駆動回路2、3の動作タイミングを制御するために、I
GBT1のゲート電圧を検出し、当該ゲート電圧に基づ
いて制御を実行するものである。
に、上記第1の実施例(図1参照)と同じ構成である、
2個の駆動回路2、3、当該駆動回路2、3とIGBT
1のゲートとをそれぞれ接続するゲート抵抗4、5、及
び、両駆動回路2、3を駆動するゲート用電源6を有す
る。ここで、上記第1の実施例と同様に、ゲート抵抗5
の抵抗値は、ゲート抵抗4の抵抗値よりも小さいものと
する。
の駆動回路2、3の動作タイミングを制御する制御回路
として、上記図1の第1の実施例で使用されていた遅延
回路8及び論理回路9の代わりに、論理回路18と、I
GBT1のゲート電圧と基準電圧17を比較するコンパ
レータ16とから構成されるゲート電圧判定回路とが設
けられている。
とと入力端子7に入力される信号との論理和をとるAN
Dゲート1803と、コンパレータ16の出力を入力と
するインバータ1802と、入力端子7に入力される信
号とインバータ1802の出力との論理和をとるAND
ゲート1801とを有する。
は、それぞれ、駆動回路2のトランジスタQ3のゲー
ト、駆動回路3のトランジスタQ6のゲートに接続され
ている。
IGBT1のゲート電圧が基準電圧17より低い間は、
コンパレータの出力は0である。このため、論理回路1
8のANDゲート1801が、駆動回路2のトランジス
タQ3にオン信号を出力する。よって、駆動回路2が動
作し、抵抗値のより大きなゲート抵抗4を通じて、IG
BT1のゲート電流が供給される。
レクタ容量CGCにより一定となるIGBT1のゲート電
圧より、少し低く設定するものとする。
ト電圧が一定となる直前に、コンパレータ16の出力は
正(Highレベル)となる。この正の出力により、A
NDゲート1801の出力はLowレベルとなり、駆動
回路2からゲート抵抗4を通じての電流の供給が停止す
ると共に、論路回路18のもう一方のANDゲート18
03はHighレベルとなり、駆動回路3のトランジス
タQ6にオン信号を伝え、抵抗値のより小さなゲート抵
抗5を通じてゲート電流が供給される。
圧変化を検出し、それを制御に利用することで、IGB
Tのゲート電圧が一定となる期間をより短くすることが
できるため、ターンオン損失を減少させることができ
る。
の第4の実施例を、図5を参照して説明する。本実施例
では、マルチエミッタ構成を備えるIGBTを利用する
ものであり、2つの駆動回路2、3の動作タイミングを
制御するために、前記マルチエミッタのうちの1つのエ
ミッタから全エミッタ電流の1部を検出し、当該エミッ
タ電流の1部に基づいて、前記制御を実行するものであ
る。
常、複数の個別エミッタ電極を接続して構成するもので
あり、本実施例では、この個別エミッタ電極の1つから
出力されるエミッタ電流を検出するものである。また、
エミッタ電流に限らず、初期状態の時間変化特性に対応
してその電流量が変化する電流であれば、その他の電流
を利用する構成としても良い。
に、コンパレータ16で基準電圧17と比較する対象が
異なるだけで、その他の全ての構成は、上記第3の実施
例(図4参照)と同じである。すなわち、本実施例で
は、IGBT1のエミッタ電流の一部を、1つのエミッ
タ1aを通して取り出し、抵抗19の両端に生ずる電圧
と、基準電圧17とをコンパレータ16で比較し、その
比較結果を論理回路18に出力する。
コレクタ電流(例えば図2(6)参照)とほぼ同じよう
に、IGBT1のターンオン初期状態において変化する
ものであり、さらに、取りだしたエミッタ電流の一部
は、前記エミッタ電流(エミッタ電流の総量)の増減に
比例して変化する。
り、かつ、IGBT1に流れるエミッタ電流の一部が予
め定めたしきい値以下では、論理回路18により、駆動
回路2のトランジスタQ3にオン信号が出力され、当該
電流が前記予め定めたしきい値以上になると、駆動回路
3のトランジスタQ6にオン信号が出力される。
電流の一部が予め定めたしきい値までは、より大きな抵
抗値のゲート抵抗を通じて駆動することで、電流変化率
di/dtを抑え、それ以降の期間では、より小さな抵
抗値のゲート抵抗値を通じて駆動することで、ゲート電
圧が一定となる期間を短くし、ターンオン損失を減らす
ことができる。
実施例を、図6、図7を参照して説明する。
照)において、駆動回路の個数を2つから3つに増や
し、これら3つの駆動回路に接続するゲート抵抗の抵抗
値を予め定めた値にし、さらに、各駆動回路の動作タイ
ミングを制御することにより、IGBT1の初期状態に
おける時間変化特性に、より的確に対応させた駆動方法
を実現するものである。
同じ構成については、上記第1の実施例と同じ符号を付
し、その詳細な説明を省略する。
に、3個の駆動回路2、3、23と、駆動回路2、3、
23とIGBT1のゲートとをそれぞれ接続するゲート
抵抗4、5、24と、駆動回路2、3、23を駆動する
ゲート用電源6と、各駆動回路の動作タイミングを制御
する制御回路である、遅延回路8、25及び論理回路2
7とを有する。
同様に、npnトランジスタQ7、pnpトランジスタ
Q8、npnトランジスタQ9、及び、抵抗rb3から
構成されている。npnトランジスタQ7のコレクタ及
び抵抗rb3は、ゲート用電源6の高電位側に接続され
ている。pnpトランジスタQ8のコレクタ及びnpn
トランジスタQ9のエミッタは、ゲート用電源6のアー
ス側に接続されている。抵抗rb3、npnトランジス
タQ7及びpnpトランジスタQ8のベース、npnト
ランジスタQ9のコレクタは、互いに接続されている。
npnトランジスタQ7及びpnpトランジスタQ8の
エミッタは、ゲート抵抗24に接続されている。
に接続されている、ゲート抵抗4、5及び24の3つの
抵抗の抵抗値は、以下の関係を満たしているものとす
る。
4、24の抵抗値) 遅延回路25は、入力端子7に加えられるオン信号を、
時間tdだけ遅延させて出力する。ここで、時間tdと
は、IGBT1にターンオン信号を加えてから、当該I
GBT1に電流が流れるまでの遅延時間(図7(7)参
照)とする。
れるオン信号を、上記第1の実施例で説明した条件を満
足する時間t1だけ遅延させるものであり、その出力
は、駆動回路23のトランジスタQ9のベースと接続さ
れている。遅延回路8及び遅延回路25の出力、及び、
入力端子7は、論理回路27と接続されている。
とそれぞれ接続しているインバータ2704、270
2、入力端子7に加えられる信号とインバータ2702
の出力とインバータ2704の出力との論理和をとるA
NDゲート2701、及び、入力端子7に加えられる信
号と遅延回路25の出力とインバータ2704の出力と
の論理和をとるANDゲート2703から構成される。
ANDゲート2701、2703の出力は、それぞれ、
駆動回路2のトランジスタQ3のベース、駆動回路3の
トランジスタQ6のベースに接続されている。
る。
7(1))、その直後では、両遅延回路8、25からの
出力はLowレベルであるため、ANDゲート2701
の出力がHighレベルとなる。このため、トランジス
タQ3のベース電圧が正になり(図7(2))、駆動回
路2が動作して、抵抗4を通じてゲート電流がIGBT
1のゲートに供給される。
遅延回路25の出力がHighレベルとなる。このた
め、ANDゲート2701の出力がLowレベルとな
り、npnトランジスタQ3のベース電圧が0になる。
一方、この時点でも遅延回路8の出力は依然としてLo
wレベルである。よって、ANDゲート2703がHi
ghレベルとなり、npnトランジスタQ6のベース電
圧が正になり(図7(3))、駆動回路2が動作して、
ゲート抵抗5を通じてゲート電流がIGBT1のゲート
に供給される。
は、遅延回路8の出力もHighレベルとなるため、A
NDゲート2703の出力はLowレベルとなる。よっ
て、npnトランジスタQ6のベース電圧が0になると
同時に、トランジスタQ9のベース電圧が正になり(図
7(4))、駆動回路23が動作して、抵抗24を通じ
てゲート電流がIGBT1のゲートに供給される。
では、IGBT1のゲートには、初めに、ゲート抵抗
4、次にゲート抵抗5、最後にゲート抵抗24を通じて
ゲートに電流が供給される。
の期間(時間<td)には、IGBT1のゲートに電流
を供給するときのゲート抵抗をより小さくすることで、
遅延時間tdを短くすることができる。さらに、ゲート
電流が流れ始めてからゲート電圧がほぼ一定になった後
の予め定めた時点までの期間(td<時間<t1)、よ
り大きな抵抗値を備えたゲート抵抗を通して、IGBT
1のゲートへ給電することにより、ゲート電流の時間変
化率di/dtを小さく抑えることができる。さらに、
IGBT1のゲート電圧がほぼ一定となった後の前記予
め定めた時点以降の期間(時間t1以降)に、再び抵抗
値がより小さいゲート抵抗を通じて給電することによ
り、ターンオン損失を小さくすることができる。
れた駆動回路を複数設け、それら駆動回路のうち、駆動
する駆動回路を順次切り換えることにより、ゲートに接
続するゲート抵抗の抵抗値を変え、ゲートへの印加電圧
を切り換えていたが、本発明では、ゲートへの印加電圧
の切り換え方法、及びゲート抵抗の切り換え方法は、上
述した実施例に限定されるものではない。本発明におい
ては、初期状態の期間中に所定のタイミングで、ゲート
への印加電圧、あるいは、ゲートへ供給される電流が切
り換えられるものであれば、その他の方法及び装置を用
いても良い。
作する駆動回路を1つとし、互いに異なる抵抗値のゲー
ト抵抗が接続されている駆動回路を順次切り換えること
により印加電圧を変化させていたが、駆動回路を切り換
えるかわりに動作させる駆動回路の個数を変化させるこ
とで、印加する駆動電圧あるいは供給するゲート電流量
を変化させる構成としても良い。
実施例を図9を参照して説明する。
スタのゲート電圧の時間変化に対応して、駆動回路に接
続しているゲート抵抗を切り換えることにより、駆動方
法を制御していたが、IGBTのゲートに複数の容量を
接続し、これらのうち充電すべき容量を切り換えること
でも、上記各実施例で達成されたものと同様な効果が得
られる。
同じ構成については同じ符号を付し、その詳細な説明を
省略する。
に、駆動回路2と、駆動回路2とIGBT1のゲートと
の間を接続するゲート抵抗4と、ゲート抵抗4と共にI
GBT1のゲートに接続される容量C1、C2と、容量
C1、C2にそれぞれ接続されるn−MOSFETM
1、M2と、容量C1、C2の切り換えタイミングを制
御するための遅延回路8及び論理回路9とを有する。
2より、その静電容量が大きいものとする。
Q3のベースは、入力端子7と接続されている。入力端
子7は、また、遅延回路8及び論理回路9のANDゲー
ト91の入力側にも接続されている。
路と同様に、入力信号を時間t1だけ遅延させて出力す
るもので、その出力は、論理回路9のインバータ92の
入力及びn−MOSFETM1のゲートに接続されてい
る。論理回路9のANDゲート91の出力は、n−MO
SFETM2のゲートに接続されている。
ると、トランジスタQ3及びQ1がオンして、ゲート抵
抗4を通じて、IGBT1のゲートに電流が流れる。こ
の時、n−MOSFETM1もオンするので、容量C1
の充電が開始される。
わち、IGBT1のゲート電圧がほぼ一定になる時間
(図2参照)で、遅延回路9の出力がHighレベルと
なり、論理回路9の出力がLowレベルとなるため、n
−MOSFETM2がオンし、n−MOSFETM1が
オフする。このため、容量C1の充電が停止され、容量
C2の充電が開始される。
ので、IGBT1のゲート電圧の立ち上がり期間(時間
<t1)では、容量C2が接続されている場合に比較し
て、コレクタ電流Iの時間変化率dI/dtがより低く
抑えることができる。
容量C2だけを充電するように構成されているため、ゲ
ート電圧がほぼ一定になる時間を、容量C1が接続され
ている場合よりも、短くすることができる。
用いて、2つの容量の切り換えを行い、ゲートへ流れる
電流からの吸収する量を変えているが、上記2つの容量
の切り換えを実行する回路は、本実施例に限定されるも
のではなく、他の回路構成によって実現しても構わな
い。
で説明した、本発明を適用した駆動回路を使って構成し
たモータ駆動用インバータ回路の一実施例を、図8を参
照して説明する。
8に示すように、IGBT200a、200b、200
c、200d、200e、200fに、逆並列にダイオ
ード201a、201b、201c、201d、201
e、201fがそれぞれ接続されており、IGBT20
0a及び200d、IGBT200b及び200e、I
GBT200c及び200fが、直列に接続され、U
相、V相、W相の各相の電圧を発生するように構成され
ている。
各相の出力がでており、駆動すべきモータ206と接続
されている。
下アーム駆動回路205は、上述した実施例で説明し
た、本発明を適用した駆動回路の一つを利用するものと
する。また、各駆動回路204、205は、各IGBT
のオン、オフタイミングを所定の周期で行わせるための
タイミング信号の発生回路も含むものとする。
200a、200b、200cのコレクタは共通であ
り、整流回路203の高電位側と接続されている。ま
た、下アーム側のIGBT200d、200e、200
fのエミッタは共通であり、整流回路203のアース側
と接続されている。
換する。各IGBT200は、この直流を受電し、再度
交流に変換してモータ206を駆動する。上アーム駆動
回路204、及び、下アーム駆動回路205は、各IG
BTのゲートに駆動信号を伝え、所定の周期で個々のI
GBTをオン、オフさせる。
204、205を使用することにより、各IGBTのコ
レクタ電流における電流変化率di/dtを抑制するこ
とができる。このため、各ダイオード201へのはね上
がり電圧が従来より小さくなり、本インバータ回路の信
頼性が増すとともに、ノイズを発生を低減させることが
できる。
従来よりターンオン損失を低減することができるため、
本例のインバータ回路の高効率化を図ることができる。
としてIGBTのみについて述べたが、絶縁ゲートを持
つ他の素子、例えば、MOSFETやMOSGTOで
も、上述したIGBTと同様な駆動方法及び装置を用い
て駆動することで、同様の効果を達成することができ
る。
導体素子を含む半導体装置において、いわゆるターンオ
ン損失を低減することが可能な、絶縁ゲート型半導体装
置の駆動方法及びその装置を提供することができる。
よびその装置において、ターンオン時の電流の時間変化
率di/dtを低減することが可能な、絶縁ゲート型半
導体装置の駆動方法及びその装置を提供することができ
る。
図。
図。
用インバータ回路の一実施例の回路図。
−コレクタ間容量の、コレクタ−エミッタ間電圧依存性
を示すグラフ。
駆動回路の回路図。
形図。
ト抵抗、5:ゲート抵抗、6:ゲート電源、7:入力端
子、8:遅延回路、9:論理回路、10:ツエナーダイ
オード、11:抵抗、12:抵抗、13:npnトラン
ジスタ、14:pnpトランジスタ、15:論理回路、
16:コンパレータ、17:基準電源、18:論理回
路、19:抵抗、23:駆動回路、24:ゲート抵抗、
25:遅延回路、27:論理回路、200a、200
b、200c、200d、200e、200f:IGB
T、201a、201b、201c、201d、201
e、201f:ダイオード、202:交流電源、20
3:整流回路、204:上アーム駆動回路、205:下
アーム駆動回路、206:モータ。
Claims (13)
- 【請求項1】ゲートにオン信号が加わった直後の初期状
態が、ゲート電圧が時間と共に上昇する第1の期間と、
当該第1の期間に続く、ゲート電圧がゲート−コレクタ
間容量の増加のためほぼ一定となる第2の期間とを少な
くとも含んでいる、絶縁ゲート型半導体素子を備えた絶
縁ゲート型半導体装置の駆動方法において、 前記ゲートに印加する駆動電圧を、前記初期状態が続く
期間中に変化させるものであり、 前記第1の期間全体を少なくとも含む第1’の期間に前
記ゲートに印加する駆動電圧を、当該第1’の期間に連
続して設定される、前記第2の期間の少なくとも一部を
含む第2’の期間に前記ゲートに印加する駆動電圧より
も低くすることを特徴とする絶縁ゲート型半導体装置の
駆動方法。 - 【請求項2】請求項1において、 前記印加電圧は、駆動回路で発生し、当該駆動回路と前
記ゲートとを接続するゲート抵抗を通して、前記ゲート
へ印加するものであり、 前記第1’の期間には、前記駆動電圧として発生した予
め定めた電圧を、第1の抵抗値を有する第1のゲート抵
抗を通じて、前記ゲートに印加し、 前記第2’の期間には、前記予め定めた駆動電圧を、前
記第1の抵抗値よりも小さな抵抗値の第2のゲート抵抗
を通じて、前記ゲートに印加することを特徴とする絶縁
ゲート型半導体装置の駆動方法。 - 【請求項3】ゲートにオン信号が加わった直後の初期状
態が、コレクタに電流が流れ始めるまでの第1の期間
と、当該第1の期間の後でかつゲート電圧が時間と共に
上昇する第2の期間と、ゲート電圧がゲート−コレクタ
間容量の増加のためほぼ一定となる第3の期間とを少な
くとも含んでいる、絶縁ゲート型半導体素子を備えた絶
縁ゲート型半導体装置の駆動方法において、 前記ゲートに印加する駆動電圧を、前記初期状態が続く
期間中に変化させるものであり、 前記第1の期間に前記ゲートに印加する駆動電圧V1
と、前記第2の期間全体を少なくとも含む第2’の期間
に前記ゲートに印加する駆動電圧V2と、当該第2’の
期間に連続して設定される、前記第3の期間の少なくと
も一部を含む第3’の期間に前記ゲートに印加する駆動
電圧V3とを、 V2<V1 かつ V2<V3となるように設定するこ
とを特徴とする絶縁ゲート型半導体装置の駆動方法。 - 【請求項4】絶縁ゲート型半導体素子のゲートに駆動電
圧を印加して駆動する、絶縁ゲート型半導体装置の駆動
装置において、 前記駆動電圧を発生する第1及び第2の駆動回路と、 前記第1の駆動回路と前記ゲートとを接続する第1のゲ
ート抵抗、及び、前記第2の駆動回路と前記ゲートを接
続する、前記第1のゲート抵抗の抵抗値よりも小さい抵
抗値の第2のゲート抵抗と、 入力されるオン信号に応じて、最初に、前記第1の駆動
回路を動作させると共に、動作させる駆動回路を切り換
えるタイミングを決定し、該タイミングに応じて前記第
1の駆動回路の動作を停止し、第2の駆動回路の動作を
開始する制御回路とを有し、 前記制御回路は、前記絶縁ゲート型半導体素子のゲート
電圧が安定する定常状態を達成する以前の初期状態にお
ける、ゲート電圧が時間と共に増加する第1の期間以降
で、かつ、ゲート電圧がゲート−コレクタ間容量の増加
のためほぼ一定となる第2の期間の終了前に、動作させ
る駆動回路を切り換えるための前記タイミングを決定す
るタイミング決定回路を有することを特徴とする絶縁ゲ
ート型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項5】請求項4において、 前記タイミング決定回路は、入力されるオン信号を前記
第1の期間全体を少なくとも含んで設定される期間t1
だけ遅延させる遅延回路を有し、該遅延信号が出力され
た時点を前記切り換えのタイミングとすることを特徴と
する絶縁ゲート型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項6】請求項4において、 前記タイミング決定回路は、前記絶縁ゲート型半導体素
子のコレクタ電圧を検出し、前記検出されたコレクタ電
圧が予め定めた電圧値以下かどうかを判定するコレクタ
電圧判定回路を有し、該判定の結果、前記検出したコレ
クタ電圧が前記予め定めた電圧値以下となった時点を、
前記切り換えのタイミングとすることを特徴とする絶縁
ゲート型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項7】請求項4において、 前記タイミング決定回路は、前記絶縁ゲート型半導体素
子のゲート電圧を検出し、前記検出されたゲート電圧が
予め定めた電圧値以上かどうかを判定するゲート電圧判
定回路を有し、該判定の結果、前記検出したゲート電圧
が前記予め定めた電圧値以上となった時点を、前記切り
換えのタイミングとすることを特徴とする絶縁ゲート型
半導体装置の駆動装置。 - 【請求項8】請求項4において、 前記タイミング決定回路は、前記絶縁ゲート型半導体素
子のエミッタ電流、コレクタ電流、及び、前記2種類の
電流の一方の電流量に対応して変化する電流のうち、い
ずれか1つの電流の電流値を検出し、前記検出された電
流値が予め定めた電流値以上かどうかを判定する電流判
定回路を有し、該判定の結果、前記検出した電流値が前
記予め定めた電流値以上となった時点を、前記切り換え
のタイミングとすることを特徴とする絶縁ゲート型半導
体装置の駆動装置。 - 【請求項9】絶縁ゲート型半導体素子のゲートに駆動電
圧を印加して駆動する、絶縁ゲート型半導体装置の駆動
装置において、 前記駆動電圧を発生する第1、第2、及び、第3の駆動
回路と、 前記第1の駆動回路と前記ゲートとを接続する第1のゲ
ート抵抗、前記第2の駆動回路と前記ゲートを接続する
第2のゲート抵抗、及び、前記第3の駆動回路と前記ゲ
ートを接続する第3のゲート抵抗と、 入力されるオン信号に応じて、最初に前記第1の駆動回
路を動作させると共に、動作させる駆動回路を前記第1
の駆動回路から前記第2の駆動回路へ切り換える第1の
タイミング、及び、前記第2の駆動回路から前記第3の
駆動回路へ切り換える第2のタイミングをそれぞれ決定
し、該第1及び第2のタイミングに応じて前記3つの駆
動回路を順次動作させる制御回路とを有し、 前記制御回路は、前記絶縁ゲート型半導体素子のゲート
電圧が安定する定常状態を達成する以前の初期状態にお
ける、ゲートに電圧が印加されてからコレクタに電流が
流れ始めるまでの第1の期間の終了とほぼ同期する時点
を前記第1のタイミングとし、該第1のタイミングの後
の、ゲート電圧が時間と共に増加する第2の期間以降
で、かつ、ゲート電圧がゲート−コレクタ間容量の増加
のためほぼ一定となる第3の期間の終了前での時点を前
記第2のタイミングとして決定するタイミング決定回路
を有し、 前記第2のゲート抵抗の抵抗値は、前記第1、第3のゲ
ート抵抗の抵抗値のいずれよりも大きいことを特徴とす
る絶縁ゲート型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項10】請求項9において、 前記タイミング決定回路は、入力されるオン信号を、前
記第1の期間と略一致する期間tdだけ遅延させる第1
の遅延回路と、前記オン信号を、前記第2の期間全体を
少なくとも含んで設定される期間t1だけ遅延させる第
2の遅延回路とを有し、前記第1の遅延回路からの遅延
信号が出力された時点を前記第1のタイミングとし、前
記第2の遅延回路からの遅延信号が出力された時点を前
記第2のタイミングとすることを特徴とする絶縁ゲート
型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項11】絶縁ゲート型半導体素子のゲートに駆動
電圧を印加して駆動する、絶縁ゲート型半導体装置の駆
動装置において、 入力されるオン信号により前記駆動電圧を発生する駆動
回路と、 前記駆動回路と前記ゲートとを接続するゲート抵抗と、 前記ゲートにそれぞれ接続される、第1の容量及び該第
1の容量よりも静電容量が小さい第2の容量と、 前記オン信号に応じて、最初、前記第1の容量を前記ゲ
ートに電気的に接続してその充電を開始させると共に、
前記ゲートへ電気的に接続し充電を行わせる容量を切り
換えるタイミングを決定し、該タイミングに応じて前記
第1の容量の充電を停止し、前記第2の容量を前記ゲー
トに接続しその充電を開始させる制御回路とを有し、 前記制御回路は、前記絶縁ゲート型半導体素子のゲート
電圧が安定する定常状態を達成する以前の初期状態にお
ける、ゲート電圧が時間と共に増加する第1の期間以降
で、かつ、ゲート電圧がゲート−コレクタ間容量の増加
のためほぼ一定となる第2の期間の終了前に、充電すべ
き容量を切り換えるための前記タイミングを決定するタ
イミング決定回路を有することを特徴とする絶縁ゲート
型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項12】請求項11において、 前記タイミング決定回路は、入力されるオン信号を前記
第1の期間全体を少なくとも含んで設定される期間t1
だけ遅延させる遅延回路を有し、該遅延信号が出力され
た時点を前記切り換えのタイミングとすることを特徴と
する絶縁ゲート型半導体装置の駆動装置。 - 【請求項13】直流電力を交流電力に変換する、絶縁ゲ
ート型半導体素子と前記絶縁ゲート型半導体素子の駆動
を行う駆動装置とを備えるインバータ回路において、 前記駆動装置は、請求項4から12のいずれかに記載の
絶縁ゲート型半導体装置の駆動装置であることを特徴と
するインバータ回路。
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JP18941095A JP3614519B2 (ja) | 1995-07-25 | 1995-07-25 | 絶縁ゲート型半導体装置の駆動方法及び装置 |
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