JPH09331180A - 電子機器筐体構造 - Google Patents

電子機器筐体構造

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JPH09331180A
JPH09331180A JP8150923A JP15092396A JPH09331180A JP H09331180 A JPH09331180 A JP H09331180A JP 8150923 A JP8150923 A JP 8150923A JP 15092396 A JP15092396 A JP 15092396A JP H09331180 A JPH09331180 A JP H09331180A
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JP
Japan
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conductive film
electronic device
circuit board
conductive
device housing
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Pending
Application number
JP8150923A
Other languages
English (en)
Inventor
Taneaki Chiba
胤明 千葉
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH09331180A publication Critical patent/JPH09331180A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0007Casings
    • H05K9/0045Casings being rigid plastic containers having a coating of shielding material

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子機器筐体に設けたボス部を利用して電子
回路基板をネシにより固定すると、ネジの螺合によりボ
ス部に設けた導電膜が破損され、電子回路基板に設けた
グランド膜とこの導電膜との電気接続状態が劣化され
る。 【解決手段】 電子機器筐体1に設けるボス部11,1
4の少なくとも表面領域を、電子機器筐体を構成する樹
脂と一体の軟質エラストマ、好ましくは導電性エラスト
マ1Bで構成する。ボス部11,14の表面の厚い部分
が導電性エラストマ1Bからなる導電膜4として構成さ
れるため、電子回路基板2やカバー3を固定するための
ネジ5,6をボス部11,14に螺合した場合でも導電
膜4が破損されることはなく、電子回路基板2とカバー
3の導電膜2a,3aと電子機器筐体1の導電膜4との
電気接続を良好に保つことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子機器筐体に関
し、特に電子機器筐体内に電子回路基板を固定し、或い
は電気機器筐体の開口部にカバーを固定するための固定
構造に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の電子機器筐体は樹脂成形により形
成されるものが多く、この電子機器筐体内に電子回路基
板を内装固定し、あるいは電子機器筐体の開口部に同様
に樹脂等で形成されたカバーを固定して内部を封止する
構成がとられている。しかしながら、このような樹脂成
形された電子機器筐体は、金属製の筐体のような電磁波
を遮蔽する機能を有していないため、最近では電気機器
筐体やカバーの表面にメッキ等により導電膜を形成し、
この導電膜を利用して電磁遮蔽を行うようにした電子機
器筐体も提案されている。
【0003】このような電磁遮蔽用の導電膜が形成され
た電子機器筐体に電子回路基板を内装固定する場合、通
常では電子機器筐体にボス部を設け、このボス部を利用
して電気回路基板を固定する構造がとられている。例え
ば、図4(a)はその一例であり、電子機器筐体101
の内部にはボス部102が一体に成形されており、この
ボス部を含む電子機器筐体の内面に導電膜103がメッ
キ形成されている。そして、電子回路基板104の裏面
に設けられているグランド膜105を前記ボス部上の導
電膜103に接触させた状態で、電子回路基板104に
設けられている穴にセルフタッピングネジ106を挿通
させ、このネジ106をボス部102に螺合させること
で電子回路基板104の固定を行っている。
【0004】あるいは、図4(b)のように、ボス部1
02には予め盲穴107をあけると共に、この盲穴内に
インサートナット108を圧入しておき、電気回路基板
104に設けられている穴にネジ109を挿通させてイ
ンサートナット108に螺合させて電子回路基板104
の固定を行っている。このような構成をとることで、電
子回路基板104のグランド膜105をボス部102に
おいて電子機器筐体の導電膜103に対して電気接続
し、電子回路基板の接地をとることができる。さらに、
図示は省略するが、電子機器筐体の開口部に、同様に導
電膜を形成したカバーを取着することで、電子機器筐体
の内部を導電膜で封止し、電磁波の遮蔽が可能となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の固定構造においては、例えば図4(a)に示
した構造では、セルフタッピングネジ106を螺合する
際に、ネジの軸転動作に伴ってボス部102の上面にお
ける導電膜103に剪断力が加えられ、導電膜103が
裂断される等の損傷を受け易い。また、図4(b)に示
した構成においても、インサートナット108を圧入す
る際の力によって導電膜103が裂断され易い。このた
め、ボス部102の上面の導電膜103と電子回路基板
104のグランド膜105との接触状態が劣化されて接
触不良が生じ、電子回路基板のグランド膜を好適に接地
することができなくなるおそれがある。また、電子機器
筐体にカバーを固定する際に同様な導電膜の損傷が生じ
ると、電子機器筐体の電磁波の遮蔽効率が劣化され、電
磁波の漏出が生じることもある。
【0006】本発明の目的は、このような電子機器筐体
に対する電子回路基板やカバーのネジによる固定部分に
おける導電膜の電気的な接触不良を防止した電子機器筐
体構造を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、電子機器筐体
は少なくとも電子回路基板やカバー等を固定するための
ネジが螺合される部分を、電子機器筐体を構成する樹脂
と一体に軟質エラストマで形成したことを特徴とする。
例えば、電子機器筐体を非導電性の一般樹脂と、軟質エ
ラストマとを二重成形により形成しており、電子機器筐
体には前記ネジが螺合される箇所にボス部が形成されて
おり、このボス部の表面領域を導電性エラストマで形成
し、あるいはこのボス部の全体を導電性エラストマで形
成した構成とすることが好ましい。
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施形態を示す部
分分解斜視図、図2はその組立状態の要部の断面図であ
る。電子機器筐体1は樹脂成形により箱状に形成されて
おり、その内底面の複数箇所には上方に向けて突出され
た基板固定用ボス部11が一体に形成されている。ま
た、上側の開口部12の四隅部分には、周壁部13の肉
圧を大きくしたカバー固定用ボス部14が一体に形成さ
れている。そして、前記電子機器筐体1の少なくとも内
面および開口部の上面には導電膜4が形成されている。
【0009】ここで、前記電子機器筐体1は非導電性の
一般樹脂1Aと、導電性を有する導電性エラストマ1B
とを用いた二重成形によって形成されており、一般樹脂
1Aで形成される筐体の少なくとも内面および開口部の
上面にまでわたる領域に導電性エラストマ1Bを配設す
ることで、この領域に前記導電膜4を形成している。し
たがって、この導電膜4は、メッキ法により形成される
導電膜に比較してその膜厚は十分に厚く、しかも一般樹
脂1Aと一体化されていることでその機械的な強度にも
高いものが得られる。なお、導電性エラストマ1Bは、
例えばエラストマにカーボン等の導電性粉末を混入させ
ることで形成できる。
【0010】前記電子機器筐体1の内部には、裏面にグ
ランド用の導電膜2aが形成されている電子回路基板2
が内装され、その複数箇所に設けた穴にセルフタッピン
グネジ5を挿通させ、このネジ5を前記基板固定用ボス
部11に螺合させることで電子回路基板2を電子機器筐
体1内に固定することができる。また、電子機器筐体1
の開口部12には裏面に導電膜3aが形成されているカ
バー3が被せられ、その四隅に設けた穴にセルフタッピ
ングネジ6を挿通させ、このネジ6を前記カバー固定用
ボス部14に螺合させることでカバー3を電子機器筐体
1に固定することができる。なお、これら電子回路基板
2やカバー3の導電膜2a,3aは従来と同様にメッキ
法等により形成される。
【0011】したがって、この構成では、図2に示され
るように、基板固定用ボス部11にセルフタッピングネ
ジ5が螺合されることで電子回路基板2がボス部11に
固定され、電子回路基板2の裏面に設けられている導電
膜2aが電子機器筐体1の導電膜4に接触され、グラン
ド膜2aが接地される。また、カバー固定用ボス部14
にセルフタッピングネジ6が螺合されることでカバー3
がボス部14に固定され、電子機器筐体の開口部12を
閉塞し、カバー3の裏面に設けられている導電膜3aが
電子機器筐体の導電膜4に接触され、両導電膜によって
電子機器筐体1の内部を遮蔽し、電磁波の漏出を遮蔽す
る。
【0012】そして、この構成では、電子機器筐体1に
設けられている導電膜4が導電エラストマ1Bにより形
成されているため、その膜厚が厚く、かつ機械的な強度
が高められているため、セルフタッピングネジ5,6を
各ボス部11,14に螺合させた際にも導電膜4が破損
されることは殆どない。これにより、電子回路基板2の
導電膜2aやカバー3の導電膜3aに対する電子機器筐
体1の導電膜4の電気的な接触を良好な状態に確保で
き、各導電膜2a,3aの接地を良好なものとし、かつ
電子機器筐体内部の電磁遮蔽効果を高めることができ
る。
【0013】図3は本発明の他の実施形態を示す図であ
り、前記実施形態の図2に対応する断面図である。この
実施形態では、基板固定用ボス部11とカバー固定用ボ
ス部14の各ボス部の全体をそれぞれ導電性エラストマ
1Bにより形成している。そして、電子回路基板やカバ
ーを固定するためのセルフタッピングネジ5,6は、各
ボス部11,14を構成する導電性エラストマ1Bに対
して螺合させている。
【0014】この実施形態では、ボス部11,14は表
面のみならずその内部に向けて一体化された導電性部材
として構成されているため、セルフタッピングネジ5,
6を螺合した際に各ボス部11,14の表面が損傷を受
けることは殆どなく、電子回路基板2の導電膜2aやカ
バー3の導電膜3aとの電気接続状態を極めて高い信頼
度で確保することができる。また、この構成では螺合さ
れるセルフタッピングネジ5,6もボス部11,14を
構成する導電膜4に電気接続されることになるため、電
子回路基板2の上面側に導電膜2aの一部を形成し、或
いはカバー3の表面に導電膜3aを形成した構成におい
ても、このネジ5,6を介してこれらの導電膜2a,3
aの接地を行うことが可能となる。
【0015】なお、前記各実施形態では、セルフタッピ
ングネジを用いて電子回路基板やカバーを固定する例に
ついて説明したが、図4(b)に示したようなインサー
トナットとネジを用いる固定構造においても本発明を同
様に適用することが可能である。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電子機器
筐体に部材を固定するためのネジが螺合される箇所を電
子機器筐体を構成する樹脂と一体に形成された軟質エラ
ストマで構成しているので、その表面に形成された導電
膜がネジやナット等の固定部材によって破損されること
がなく、電子回路基板やカバー等の導電膜に対する電気
的接続を確保し、好適な接地や電磁遮蔽の効果を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子機器筐体の一実施形態の部分分解
斜視図である。
【図2】図1の構造の組立状態の要部の断面図である。
【図3】本発明の他の実施形態における組立状態の要部
の断面図である。
【図4】従来の電子機器筐体の異なる例を示す一部の断
面図である。
【符号の説明】 1 電気機器筐体 1A 一般樹脂 1B 導電性エラストマ 2 電子回路基板 3 カバー 2a,3a 導電膜 4 導電膜 5,6 セルフタッピングネジ 11 基板固定用ボス部 14 カバー固定用ボス部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂成形された電子機器筐体に、電子回
    路基板やカバー等の部材をネジにより固定し、かつこの
    固定箇所において前記部材に設けた導電膜と前記電子機
    器筐体に設けた導電膜とを接触させるようにした電子機
    器筐体において、前記電子機器筐体は少なくとも前記ネ
    ジが螺合される部分を電子機器筐体を構成する樹脂と一
    体に軟質エラストマで形成したことを特徴とする電子機
    器筐体構造。
  2. 【請求項2】 電子機器筐体を非導電性の一般樹脂と、
    導電性エラストマとを二重成形により形成してなる請求
    項1の電子機器筐体構造。
  3. 【請求項3】 電子機器筐体には前記ネジが螺合される
    箇所にボス部が形成されており、このボス部の表面領域
    を導電性エラストマで形成してなる請求項1または2の
    電子機器筐体構造。
  4. 【請求項4】 電子機器筐体には前記ネジが螺合される
    箇所にボス部が形成されており、このボス部の全体を導
    電性エラストマで形成してなる請求項1または2の電子
    機器筐体構造。
  5. 【請求項5】 電子回路基板やカバーにはボス部に対向
    する面に導電膜が形成され、これらの導電膜が導電性エ
    ラストマに接触して電気接続が行われる請求項2ないし
    4のいずれかの電子機器筐体構造。
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