JPH09316628A - 蒸着体製造方法及び蒸着装置 - Google Patents

蒸着体製造方法及び蒸着装置

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JPH09316628A
JPH09316628A JP13388596A JP13388596A JPH09316628A JP H09316628 A JPH09316628 A JP H09316628A JP 13388596 A JP13388596 A JP 13388596A JP 13388596 A JP13388596 A JP 13388596A JP H09316628 A JPH09316628 A JP H09316628A
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vapor deposition
vapor
chamber
energy beam
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Hideetsu Kumagai
秀悦 熊谷
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子ビームを用いて蒸着物質源を溶融させる
蒸着方式であって、蒸気雲中を通る電子ビームによって
蒸着物質が変質しにくいように改良された蒸着装置を提
供する。 【解決手段】 蒸着装置は、チャンバー9内に配置され
た基体支持手段(クーリングキャン4)と、ルツボ5
と、このルツボ中の蒸着物質源に対して電子ビーム8を
当てる電子ビーム銃7と、を含む。蒸着物質蒸気の存在
する防着板13内(蒸気雲中)を電子ビーム8が通過す
る距離を極力短くするための機器配置、及び、そのため
の電子ビーム偏向装置21、21a、21bが設けられ
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気テープ等の蒸
着体の製造方法及びそれに用いる蒸着装置に関する。特
には、電子ビーム等の高エネルギービームを用いて蒸着
物質源を溶融させる方式であって、蒸気雲中を通る高エ
ネルギービームによって蒸着物質が変質しにくいように
改良された蒸着体製造方法及び蒸着装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気テープを例にとって従来技術を説明
する。なお、この従来技術は本発明の発明者が認識して
いる本発明のベースとなった技術という意味であって、
特許法上の公知技術という意味ではない。また、ここで
従来技術として述べたことについての権利追求を放棄す
るものでもない。磁気テープ上に磁性膜を成膜する方法
にはいくつかの方式があるが、Coを主体とした材料を
蒸着によりテープ上に成膜する方式がある。このような
磁気テープは、高密度記録特性が良好なためビデオテー
プ用等を始めとした高性能磁気テープとして多用されて
いる。
【0003】図3は、従来の代表的な磁気テープ蒸着装
置の構成を模式的に示す平面図である。この蒸着装置
は、大型の真空チャンバー9を有する。真空チャンバー
9には、排気装置10が接続されており、真空チャンバ
ー9内は真空に維持される。真空チャンバー9内の中央
部にはクーリングキャン4が配置されている。このクー
リングキャン4は、回転するドラムであって、その外周
表面は−30℃に冷却されている。このクーリングキャ
ン4には、クーリングキャン4の側方に配置されている
巻出しロール1から、基体フィルム11が供給される。
フィルム11は、ガイドローラ3及び3´で湾曲させら
れ、クーリングキャン4との接触範囲がより長くとれる
ようになっている。そして、フィルム11はクーリング
キャン4外周面をほぼ1周し、ガイドローラ3´を経て
巻取りロール2に巻取られる。
【0004】図におけるクーリングキャン4の右側の領
域が、蒸着基体であるフィルム11の表面に蒸着膜を成
膜する蒸着部である。ここには、蒸着物質源(磁性材料
CoやCo−Ni)を溶融するルツボ5が配置されてい
る。蒸着物質源の加熱には、Coが高融点であるため、
電子ビーム8が用いられる。電子ビーム8は、真空チャ
ンバー9の奥壁に取り付けられている電子銃7から、防
着板13(後述)の穴13aを抜けて、ルツボ5内に向
けて発せられる。
【0005】ルツボ5とクーリングキャン4との間には
低入射角規制シャッター6が設けられている。低入射角
規制シャッター6は、ルツボ5とクーリングキャン4の
中心を結ぶ線に対してほぼ直角に、その線の周辺のクー
リングキャン4の表面を覆うように延びている。この低
入射角規制シャッター6は、蒸着物質蒸気の拡散を妨害
するためのものである。
【0006】図4は、低入射角規制シャッター6の作用
を説明するための模式図である。図4において、低入射
角規制シャッター6の右端を6a、左端を6bとする。
また、電子ビーム8がルツボ内の磁性材料に当った点
(蒸着物蒸発源)をAとする。点Aで蒸発して、図の上
方に進んだ蒸気は、低入射角規制シャッター6の右端6
aの右側を通って進み、クーリングキャン4に巻かれた
フィルムの表面の点Bに達する。
【0007】点Bと点Aを結んだ線(最短直線)と、ク
ーリングキャン4の中心Oと点Bを結んだ線の延長線と
のなす角θを蒸着の入射角という。図4における点B
は、線BAが低入射角規制シャッターの右端6aをかす
めており、この点Bにおいてθは最小であるので、θは
最低入射角である。一方、点Aからクーリングキャン4
の外周に接するように線(図示されず)を引けば、この
線と、点Oと該接点とを結ぶ線とのなす角は90°であ
るので、そのような点の入射角は90°(最高入射角)
である。このように入射角がある程度以上(例えば40
°以上)で蒸着を行うのを斜め蒸着という。この斜め蒸
着は、高密度高出力という特長があるので磁気記録媒体
等の蒸着に利用される。
【0008】低入射角規制シャッター6の右端部の裏側
(クーリングキャン4側)には酸素導入管12が設置さ
れている。酸素導入管12は、真空チャンバー9中に図
3の紙面の垂直方向に立ち上がるように設けられてい
る。酸素導入管12からは微量の酸素(O2 )が真空チ
ャンバー9内に供給される。この酸素は、保磁力を向上
させるという効果がある。
【0009】クーリングキャン4の右側円周約1/4 の部
分は、防着板13によって囲まれている。防着板13
は、蒸気雲の分布を該防着板13内に規制するためのも
のである。したがってフィルム上への蒸着が起るのも、
実質的には、防着板13に囲まれた約1/4 円周部分に限
られる。このようにしているのは、上記斜め蒸着を実現
するためである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述の図3の蒸着装置
にあっては、電子ビーム8が、防着板13内を右上隅か
ら左下隅のルツボ5に向かって横切っている。つまり、
電子ビーム(軌跡)8は、基体への蒸着が開始される入
射角が70〜90°の範囲近傍を通過している。このた
め、酸素雰囲気中の蒸気雲と電子ビームとがプラズマ状
に反応し、薄膜形成で重要な初期状態が乱され、安定し
た高特性の薄膜ができない。また、蒸気雲中を通る電子
ビームの長さが長いと、同様にプラズマ状の反応が拡大
し高特性を得ることのできる薄膜を作れない。しかし、
この電子ビーム軌跡がテープの電磁変換特性や磁気特性
に影響を与えることは、今まで知られていなかった。
【0011】本発明は、電子ビーム等の高エネルギービ
ームを用いて蒸着物質源を溶融させる蒸着方式であっ
て、蒸気雲中を通る高エネルギービームによって蒸着物
質が変質しにくいように改良された蒸着体製造方法及び
蒸着装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の蒸着体製造方法は、 チャンバー内におい
て蒸着物質源に高エネルギービームを当てて蒸着物質蒸
気を発生させ、これを基体表面上に堆積する蒸着体製造
方法であって; 上記蒸着物質蒸気の存在する帯域(蒸
気雲)中を上記高エネルギービームが通過する距離を極
力短くすることを特徴とする。
【0013】また、本発明の蒸着装置は、 チャンバー
と、 このチャンバー内に配置された基体支持手段と、
同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
と、この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に
対して高エネルギービームを当てる高エネルギービーム
銃と、 を含む蒸着装置であって; 上記蒸着物質蒸気
の存在する帯域(蒸気雲)中を上記高エネルギービーム
が通過する距離を極力短くするための機器配置がなされ
ているか、又は、そのための手段が設けられていること
を特徴とする。
【0014】つまり、高エネルギービームが蒸気雲中を
通る長さをできるだけ短くすることにより、蒸着物質の
高エネルギービームによる変質、あるいは、高エネルギ
ービームにより活性化された蒸着物質と雰囲気ガスとの
反応を抑制し、もって蒸着膜の変質を防止するのであ
る。
【0015】
【発明の実施の形態】蒸気雲中を高エネルギービームが
通過する距離を極力短くする一つの形態として、蒸着物
質源から基体表面に到る蒸着物質蒸気の拡散方向に対し
て、高エネルギービームを大角度傾斜させて蒸着物質源
に当てることとすることができる。この場合、上記角度
は60°以上であることが好ましい。
【0016】ここで、本発明に言う高エネルギービーム
の例としては、電子ビーム、レーザー、イオンガン等を
挙げることができる。
【0017】また、蒸着物質の例としては、Co、Co
−Ni合金等を挙げることができる。
【0018】蒸着製品の例としては、磁気テープ、磁気
ディスク等の磁気記録媒体等を挙げることができる。こ
の場合、蒸着基体の例としては、PET、ポリイミド、
アラミド、PENフィルム等を挙げることができる。
【0019】本発明の実施形態の特に有用な形態とし
て、 蒸着の方式が、基体表面の蒸着点と蒸着物質源と
を結んだ線が、該基体表面の該蒸着点における法線に対
してある角度(入射角)をもって蒸着が行われるいわゆ
る斜め蒸着であり、 基体への蒸着が開始される入射角
70〜90°の高入射角蒸着点近傍を、上記高エネルギ
ービームを通過させないという形態がある。上記蒸着点
近傍においては、薄膜形成で重要な初期の基体上への堆
積が起るため、特に高エネルギービームによる蒸着物質
の変質が問題となるのである。
【0020】
【実施例】以下、本発明の実施例に係る蒸着装置の図を
参照しつつさらに具体的に説明する。図1は、本発明の
一実施例に係る蒸着装置の構成を模式的に示す平面図で
ある。図1の全体構成について、図3の蒸着装置につい
ての説明と一部重複する部分もあるが説明する。
【0021】図1の蒸着装置は、大型の真空チャンバー
9(寸法一例幅1.5m×長5m×高2.5m)を有す
る。真空チャンバー9には、排気装置(真空ポンプ)1
0が接続されており、真空チャンバー9内は5×10-5
Torr程度の真空に維持される。真空チャンバー9内の中
央部にはクーリングキャン4(基体支持手段)が配置さ
れている。このクーリングキャン4は、回転するドラム
であって、その外周表面は−30℃に冷却されている。
このクーリングキャン4には、クーリングキャン4の側
方に配置されている巻出しロール1から、基体フィルム
11が供給される。フィルム11は、ガイドローラ3及
び3´で湾曲させられ、クーリングキャン4との接触範
囲がより長くとれるようになっている。そして、フィル
ム11はクーリングキャン4外周面をほぼ1周し、ガイ
ドローラ3´を経て巻取りロール2に巻取られる。
【0022】図におけるクーリングキャン4の右側の領
域が、蒸着基体であるフィルム11の表面に蒸着膜を成
膜する蒸着部である。ここには、蒸着物質源(磁性材料
CoやCo−Ni)を溶融するルツボ5(蒸着物質源保
持手段)が配置されている。蒸着物質源の加熱には、C
oが高融点であるため、電子ビーム8が用いられる。図
1の蒸着装置においては、図3の蒸着装置と異なり、電
子銃7は真空チャンバー9の右側壁に搭載されている。
さらに、電子銃7の内側の真空チャンバー9内には、電
子ビーム8の偏向装置21が備えられている。この偏向
装置21は、電磁コイルを含みその内部空間の磁場を変
化させて電子ビーム8を図の下方向に偏向させるもので
ある。一方、偏向コイル21aは、ビームをルツボの長
手方向にスキャンさせるためのコイルである。電子ビー
ム8は、偏向コイル21aでスキャンされ、偏向装置2
1で下向きに偏向され、防着板13の右壁手前部に開け
られた穴13bを通ってルツボ5内に当たる。図1の蒸
着装置においては、蒸気雲中を横切る電子ビーム軌跡の
長さは、穴13bからルツボ5の間の短い距離である
(具体的数値は後述)。また、この電子ビーム軌跡は、
蒸着開始領域である防着板13の上部(図の)から遠ざ
かっている。したがって、蒸着物質の電子ビーム照射変
質に起因する問題を極力低減することができる。
【0023】ルツボ5とクーリングキャン4との間には
低入射角規制シャッター6が設けられている。低入射角
規制シャッター6は、ルツボ5とクーリングキャン4の
中心を結ぶ線に対してほぼ直角に、その線の周辺のクー
リングキャン4の表面を覆うように延びている。この低
入射角規制シャッター6は、図3の蒸着装置の低入射角
規制シャッターと同じく、蒸着物質蒸気の拡散を妨害す
るためのものである。その詳しい説明は前記部分を参照
されたい。
【0024】低入射角規制シャッター6の右端部の裏側
(クーリングキャン4側)には酸素導入管12が設置さ
れている。酸素導入管12は、真空チャンバー9中に図
1の紙面の垂直方向に立ち上がるように設けられてい
る。酸素導入管12からは微量の酸素(O2 )が真空チ
ャンバー9内に供給される。
【0025】クーリングキャン4の右側円周約1/4 の部
分は、防着板13によって囲まれている。防着板13
は、蒸気雲の分布を該防着板13内に規制するためのも
のである。したがってフィルム上への蒸着が起るのも、
実質的には、防着板13に囲まれた約1/4 円周部分に限
られる。さらに、図1の蒸着装置では、図3の蒸着装置
と比べて、防着板13の左右幅が狭く(懐が狭く)なっ
ている。したがって、電子ビームが蒸気雲中を通過する
長さはさらに短くなる。
【0026】図2は、本発明の他の一実施例に係る蒸着
装置の構成を模式的に示す平面図である。この実施例の
蒸着装置においては、電子銃は図3の蒸着装置と同じ位
置(奥壁右隅)にある。しかし、電子ビーム軌跡8は、
防着板13の裏側(右側)を手前方向に進み、偏向装置
21´bによって偏向させられ、防着板13手前に開け
られた穴13bを通って防着板13内に入り、ルツボ5
に到る。この場合でも、図1同様に、防着板13内の蒸
気雲を電子ビームが横切る長さを短くするとともに、蒸
着開始領域から離れた部位で電子ビーム軌跡が蒸気雲を
横断するようにすることができる。つまり、そのような
状態を実現するための具体的手段は多様なものがありう
るということである。
【0027】具体的適用例 以下のような条件で成膜を行った。 (1)フィルム材質:PET (2)フィルム幅、厚:620mm×10μm (3)フィルム走行速度:50m/min (4)蒸着材料:Co−Ni (5)電子ビーム強度:30kV×5A (6)電子ビーム軌跡が蒸気雲を横切る長さ:700mm (7)チャンバー内真空度:8×10-5Torr (8)蒸着膜厚:200nm(0.2μm )
【0028】成膜された磁気テープについて電磁変換特
性をノーマルメタル型8mmテープとの比較により調べ
た。その結果、図3の蒸着装置(電子ビーム軌跡が蒸気
雲を横切る長さ1,200mm、その他の条件は同じ)と
比較して、Y-out(輝度信号出力)+6.0dB、Y
-C/N(輝度信号キャリア/ノイズ)+5.0dB、C
-out(カラー信号出力)+1.5dB、C-C/N(カラー
信号キャリア/ノイズ)+4.0dBと、いずれの特性
値とも高くなった。
【0029】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は以下の効果を発揮する。 本発明を蒸着方式の磁気テープに適用した場合、高
出力特性で、C/N(キャリア/ノイズ比)の良い蒸着
テープを製造できる。 本発明を斜め蒸着の蒸着プロセスに適用した場合
は、最低入射角を低くしても今までと同等の特性を有す
る蒸着膜が得られる。よって原材料使用効率が向上し、
コストダウンも可能となる。 さらに、蒸着効率が向上するため生産スピードも向
上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る蒸着装置の構成を模式
的に示す平面図である。
【図2】本発明の他の一実施例に係る蒸着装置の構成を
模式的に示す平面図である。
【図3】従来の代表的な磁気テープ蒸着装置の構成を模
式的に示す平面図である。
【図4】低入射角規制シャッター6の作用を説明するた
めの模式図である。
【符号の説明】
1…巻出しロール、2…巻取りロール、3…ガイドロー
ラ、4…クーリングキャン、5…ルツボ、6…低入射角
規制シャッター、6a…右端、6b…左端、7…電子
銃、8…電子ビーム、9…真空チャンバー、10…排気
装置、11…フィルム、12…酸素導入管、13…防着
板、13a、b…穴、21…偏向装置、21a、b…偏
向装置(スキャナー)

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チャンバー内において蒸着物質源に高エ
    ネルギービームを当てて蒸着物質蒸気を発生させ、これ
    を基体表面上に堆積する蒸着体製造方法であって;上記
    蒸着物質蒸気の存在する帯域(蒸気雲)中を上記高エネ
    ルギービームが通過する距離を極力短くすることを特徴
    とする蒸着体製造方法。
  2. 【請求項2】 チャンバー内において蒸着物質源に高エ
    ネルギービームを当てて蒸着物質蒸気を発生させ、これ
    を基体表面上に堆積する蒸着体製造方法であって;蒸着
    物質源から基体表面に到る蒸着物質蒸気の拡散方向に対
    して、上記高エネルギービームを大角度傾斜させて蒸着
    物質源に当てることを特徴とする蒸着体製造方法。
  3. 【請求項3】 チャンバー内において蒸着物質源に高エ
    ネルギービームを当てて蒸着物質蒸気を発生させ、これ
    を基体表面上に堆積する蒸着体製造方法であって;上記
    蒸着は、上記基体表面の蒸着点と蒸着物質源とを結んだ
    線が、該基体表面の該蒸着点における法線に対してある
    角度(入射角)をもって蒸着が行われるいわゆる斜め蒸
    着であり、 基体への蒸着が開始される入射角70〜90°の高入射
    角蒸着点近傍を、上記高エネルギービームを通過させな
    いことを特徴とする蒸着体製造方法。
  4. 【請求項4】 チャンバーと、このチャンバー内に配置
    された基体支持手段と、 同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
    と、 この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に対し
    て高エネルギービームを当てる高エネルギービーム銃
    と、 を含む蒸着装置であって;上記蒸着物質蒸気の存在する
    帯域(蒸気雲)中を上記高エネルギービームが通過する
    距離を極力短くするための機器配置がなされているか、
    及び/又は、そのための手段が設けられていることを特
    徴とする蒸着装置。
  5. 【請求項5】 チャンバーと、 このチャンバー内に配置された基体支持手段と、 同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
    と、 この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に対し
    て高エネルギービームを当てる高エネルギービーム銃
    と、 を含む蒸着装置であって;蒸着物質源から基体表面に到
    る蒸着物質蒸気の拡散方向に対して、上記高エネルギー
    ビームを大角度傾斜させて蒸着物質源に当てるための機
    器配置がなされているか、及び/又は、そのための手段
    が設けられていることを特徴とする蒸着装置。
  6. 【請求項6】 チャンバーと、 このチャンバー内に配置された基体支持手段と、 同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
    と、 この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に対し
    て高エネルギービームを当てる高エネルギービーム銃
    と、 を含む蒸着装置であって;基体表面の蒸着点と蒸着物質
    源を結んだ線が、該基体表面の該蒸着点における法線に
    対してある角度(入射角)をもって蒸着を行う(斜め蒸
    着)ように構成されており、 基体への蒸着が開始される入射角70〜90°の高入射
    角蒸着点近傍を上記高エネルギービームを通過させない
    ように構成されていることを特徴とする蒸着装置。
  7. 【請求項7】 チャンバーと、 チャンバーの排気手段と、 チャンバー内に酸素を導入する酸素導入口と、 チャンバー内に配置された回転ドラム状のクーリングキ
    ャンと、 クーリングキャン外周にテープを連続走行させるテープ
    送り手段と、 チャンバー内にクーリングキャンに隣接して配置された
    蒸着物質源保持ルツボと、 このルツボ内の蒸着物質源に電子ビームを当てる電子銃
    と、 クーリングキャンとルツボの間に配置された低入射角規
    制シャッターと、 蒸気雲の拡がりをクーリングキャンの一部に規制する防
    着板と、 を備えた蒸着装置であって;上記電子銃から蒸着物質源
    に到る電子ビーム軌跡が防着板内を通過する距離が極力
    短くなるように上記各機器が構成・配置されていること
    を特徴とするテープ用蒸着装置。
  8. 【請求項8】 上記電子ビームを偏向させる手段をさら
    に有する請求項7記載の蒸着装置。
JP13388596A 1996-05-28 1996-05-28 蒸着体製造方法及び蒸着装置 Pending JPH09316628A (ja)

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