JPH09316628A - Production of vapor-deposited body and vapor deposition device - Google Patents

Production of vapor-deposited body and vapor deposition device

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JPH09316628A
JPH09316628A JP13388596A JP13388596A JPH09316628A JP H09316628 A JPH09316628 A JP H09316628A JP 13388596 A JP13388596 A JP 13388596A JP 13388596 A JP13388596 A JP 13388596A JP H09316628 A JPH09316628 A JP H09316628A
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JP
Japan
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vapor deposition
vapor
chamber
energy beam
material source
Prior art date
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Application number
JP13388596A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideetsu Kumagai
秀悦 熊谷
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vapor deposition device being a vapor deposition system for melting a vapor depositing material source by using an electron beam and improved in such a manner that a vapor depositing material is not deformed by an electron beam passing through vapor cloud. SOLUTION: This vapor deposition device includes a substrate supporting means (cleaning can 4) arranged in a chamber 9, a crucible 5 and an electron beam gun 7 applying an electron beam 8. It is provided with an apparatus configuration for shortening the distance at which the electron beam 8 passes through within a sticking preventing board 13 (in vapor cloud) in which vapor depositing material vapor is present as possible and electron beam deflecting devices 21 and 21a.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気テープ等の蒸
着体の製造方法及びそれに用いる蒸着装置に関する。特
には、電子ビーム等の高エネルギービームを用いて蒸着
物質源を溶融させる方式であって、蒸気雲中を通る高エ
ネルギービームによって蒸着物質が変質しにくいように
改良された蒸着体製造方法及び蒸着装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a vapor deposition body such as a magnetic tape and a vapor deposition apparatus used for the method. In particular, it is a method of melting a vapor deposition material source using a high energy beam such as an electron beam, and a vapor deposition material manufacturing method and vapor deposition improved so that the vapor deposition material is not easily altered by the high energy beam passing through a vapor cloud. Regarding the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気テープを例にとって従来技術を説明
する。なお、この従来技術は本発明の発明者が認識して
いる本発明のベースとなった技術という意味であって、
特許法上の公知技術という意味ではない。また、ここで
従来技術として述べたことについての権利追求を放棄す
るものでもない。磁気テープ上に磁性膜を成膜する方法
にはいくつかの方式があるが、Coを主体とした材料を
蒸着によりテープ上に成膜する方式がある。このような
磁気テープは、高密度記録特性が良好なためビデオテー
プ用等を始めとした高性能磁気テープとして多用されて
いる。
2. Description of the Related Art A conventional technique will be described by taking a magnetic tape as an example. It should be noted that this prior art means a technology which is the basis of the present invention recognized by the inventor of the present invention,
It does not mean a known technology under the Patent Law. Further, this does not mean that the pursuit of rights for what has been described as the prior art here is not abandoned. There are several methods for forming a magnetic film on a magnetic tape, and there is a method for forming a material mainly containing Co on the tape by vapor deposition. Since such a magnetic tape has good high-density recording characteristics, it is widely used as a high-performance magnetic tape such as a video tape.

【0003】図3は、従来の代表的な磁気テープ蒸着装
置の構成を模式的に示す平面図である。この蒸着装置
は、大型の真空チャンバー9を有する。真空チャンバー
9には、排気装置10が接続されており、真空チャンバ
ー9内は真空に維持される。真空チャンバー9内の中央
部にはクーリングキャン4が配置されている。このクー
リングキャン4は、回転するドラムであって、その外周
表面は−30℃に冷却されている。このクーリングキャ
ン4には、クーリングキャン4の側方に配置されている
巻出しロール1から、基体フィルム11が供給される。
フィルム11は、ガイドローラ3及び3´で湾曲させら
れ、クーリングキャン4との接触範囲がより長くとれる
ようになっている。そして、フィルム11はクーリング
キャン4外周面をほぼ1周し、ガイドローラ3´を経て
巻取りロール2に巻取られる。
FIG. 3 is a plan view schematically showing the structure of a conventional typical magnetic tape vapor deposition apparatus. This vapor deposition device has a large vacuum chamber 9. An exhaust device 10 is connected to the vacuum chamber 9, and the inside of the vacuum chamber 9 is maintained in vacuum. A cooling can 4 is arranged in the center of the vacuum chamber 9. The cooling can 4 is a rotating drum whose outer peripheral surface is cooled to -30 ° C. The base film 11 is supplied to the cooling can 4 from the unwinding roll 1 arranged on the side of the cooling can 4.
The film 11 is curved by the guide rollers 3 and 3 ′ so that the contact range with the cooling can 4 can be made longer. Then, the film 11 makes one round around the outer peripheral surface of the cooling can 4, and is wound around the winding roll 2 via the guide roller 3 '.

【0004】図におけるクーリングキャン4の右側の領
域が、蒸着基体であるフィルム11の表面に蒸着膜を成
膜する蒸着部である。ここには、蒸着物質源(磁性材料
CoやCo−Ni)を溶融するルツボ5が配置されてい
る。蒸着物質源の加熱には、Coが高融点であるため、
電子ビーム8が用いられる。電子ビーム8は、真空チャ
ンバー9の奥壁に取り付けられている電子銃7から、防
着板13(後述)の穴13aを抜けて、ルツボ5内に向
けて発せられる。
The area on the right side of the cooling can 4 in the figure is a vapor deposition section for forming a vapor deposition film on the surface of the film 11 which is the vapor deposition substrate. Here, a crucible 5 for melting a vapor deposition material source (magnetic material Co or Co—Ni) is arranged. Since Co has a high melting point for heating the vapor deposition material source,
An electron beam 8 is used. The electron beam 8 is emitted from the electron gun 7 attached to the inner wall of the vacuum chamber 9 through the hole 13 a of the deposition-inhibitory plate 13 (described later) and into the crucible 5.

【0005】ルツボ5とクーリングキャン4との間には
低入射角規制シャッター6が設けられている。低入射角
規制シャッター6は、ルツボ5とクーリングキャン4の
中心を結ぶ線に対してほぼ直角に、その線の周辺のクー
リングキャン4の表面を覆うように延びている。この低
入射角規制シャッター6は、蒸着物質蒸気の拡散を妨害
するためのものである。
A low incident angle regulating shutter 6 is provided between the crucible 5 and the cooling can 4. The low incidence angle regulating shutter 6 extends substantially at right angles to a line connecting the crucible 5 and the center of the cooling can 4 so as to cover the surface of the cooling can 4 around the line. The low incident angle control shutter 6 is for hindering the diffusion of vapor deposition material vapor.

【0006】図4は、低入射角規制シャッター6の作用
を説明するための模式図である。図4において、低入射
角規制シャッター6の右端を6a、左端を6bとする。
また、電子ビーム8がルツボ内の磁性材料に当った点
(蒸着物蒸発源)をAとする。点Aで蒸発して、図の上
方に進んだ蒸気は、低入射角規制シャッター6の右端6
aの右側を通って進み、クーリングキャン4に巻かれた
フィルムの表面の点Bに達する。
FIG. 4 is a schematic view for explaining the operation of the low incident angle regulating shutter 6. In FIG. 4, the right end of the low incident angle regulating shutter 6 is 6a and the left end is 6b.
A point where the electron beam 8 hits the magnetic material in the crucible (vapor deposition source) is A. The vapor that evaporates at the point A and moves upward in the figure is the right end 6 of the low incident angle control shutter 6.
Proceed through the right side of a to reach point B on the surface of the film wound on the cooling can 4.

【0007】点Bと点Aを結んだ線(最短直線)と、ク
ーリングキャン4の中心Oと点Bを結んだ線の延長線と
のなす角θを蒸着の入射角という。図4における点B
は、線BAが低入射角規制シャッターの右端6aをかす
めており、この点Bにおいてθは最小であるので、θは
最低入射角である。一方、点Aからクーリングキャン4
の外周に接するように線(図示されず)を引けば、この
線と、点Oと該接点とを結ぶ線とのなす角は90°であ
るので、そのような点の入射角は90°(最高入射角)
である。このように入射角がある程度以上(例えば40
°以上)で蒸着を行うのを斜め蒸着という。この斜め蒸
着は、高密度高出力という特長があるので磁気記録媒体
等の蒸着に利用される。
The angle θ formed by the line connecting the points B and A (the shortest straight line) and the extension of the line connecting the center O of the cooling can 4 and the point B is called the incident angle of vapor deposition. Point B in FIG.
Indicates that the line BA shades the right end 6a of the low incident angle regulating shutter, and θ is the minimum at this point B, so θ is the minimum incident angle. On the other hand, from point A to cooling can 4
If a line (not shown) is drawn so as to be in contact with the outer circumference of the line, the angle formed by this line and the line connecting the point O and the contact point is 90 °, so the incident angle of such a point is 90 °. (Maximum incident angle)
It is. Thus, the incident angle is above a certain level (eg 40
Diagonal vapor deposition is performed at temperatures above °. This oblique vapor deposition has the feature of high density and high output, and is therefore used for vapor deposition of magnetic recording media and the like.

【0008】低入射角規制シャッター6の右端部の裏側
(クーリングキャン4側)には酸素導入管12が設置さ
れている。酸素導入管12は、真空チャンバー9中に図
3の紙面の垂直方向に立ち上がるように設けられてい
る。酸素導入管12からは微量の酸素(O2 )が真空チ
ャンバー9内に供給される。この酸素は、保磁力を向上
させるという効果がある。
An oxygen introducing tube 12 is installed on the back side (on the side of the cooling can 4) of the right end portion of the low incident angle regulating shutter 6. The oxygen introducing tube 12 is provided in the vacuum chamber 9 so as to stand upright in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. A small amount of oxygen (O 2 ) is supplied from the oxygen introducing pipe 12 into the vacuum chamber 9. This oxygen has the effect of improving the coercive force.

【0009】クーリングキャン4の右側円周約1/4 の部
分は、防着板13によって囲まれている。防着板13
は、蒸気雲の分布を該防着板13内に規制するためのも
のである。したがってフィルム上への蒸着が起るのも、
実質的には、防着板13に囲まれた約1/4 円周部分に限
られる。このようにしているのは、上記斜め蒸着を実現
するためである。
A portion of the cooling can 4 on the right side of the circumference of about 1/4 is surrounded by a deposition-preventing plate 13. Protective plate 13
Is for controlling the distribution of the vapor cloud within the deposition preventive plate 13. Therefore, vapor deposition on the film occurs
Substantially, it is limited to about 1/4 of the circumference surrounded by the deposition-inhibitory plate 13. The reason for doing so is to realize the above-mentioned oblique vapor deposition.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上述の図3の蒸着装置
にあっては、電子ビーム8が、防着板13内を右上隅か
ら左下隅のルツボ5に向かって横切っている。つまり、
電子ビーム(軌跡)8は、基体への蒸着が開始される入
射角が70〜90°の範囲近傍を通過している。このた
め、酸素雰囲気中の蒸気雲と電子ビームとがプラズマ状
に反応し、薄膜形成で重要な初期状態が乱され、安定し
た高特性の薄膜ができない。また、蒸気雲中を通る電子
ビームの長さが長いと、同様にプラズマ状の反応が拡大
し高特性を得ることのできる薄膜を作れない。しかし、
この電子ビーム軌跡がテープの電磁変換特性や磁気特性
に影響を与えることは、今まで知られていなかった。
In the vapor deposition apparatus shown in FIG. 3, the electron beam 8 traverses inside the deposition-inhibiting plate 13 from the upper right corner toward the crucible 5 at the lower left corner. That is,
The electron beam (trajectory) 8 has passed in the vicinity of an incident angle of 70 to 90 ° at which vapor deposition on the substrate is started. For this reason, the vapor cloud in the oxygen atmosphere and the electron beam react in a plasma state, disturbing an important initial state in thin film formation, and a stable thin film with high characteristics cannot be formed. In addition, if the length of the electron beam passing through the vapor cloud is long, the plasma-like reaction similarly expands, and it is not possible to form a thin film capable of obtaining high characteristics. But,
It has not been known until now that this electron beam trajectory affects the electromagnetic conversion characteristics and magnetic characteristics of the tape.

【0011】本発明は、電子ビーム等の高エネルギービ
ームを用いて蒸着物質源を溶融させる蒸着方式であっ
て、蒸気雲中を通る高エネルギービームによって蒸着物
質が変質しにくいように改良された蒸着体製造方法及び
蒸着装置を提供することを目的とする。
The present invention is a vapor deposition method in which a source of a vapor deposition material is melted by using a high energy beam such as an electron beam, and the vapor deposition material is improved so that the high energy beam passing through a vapor cloud does not easily change the quality of the vapor deposition material. An object is to provide a body manufacturing method and a vapor deposition apparatus.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の蒸着体製造方法は、 チャンバー内におい
て蒸着物質源に高エネルギービームを当てて蒸着物質蒸
気を発生させ、これを基体表面上に堆積する蒸着体製造
方法であって; 上記蒸着物質蒸気の存在する帯域(蒸
気雲)中を上記高エネルギービームが通過する距離を極
力短くすることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the method for producing a vapor-deposited material of the present invention is to generate a vapor of a vapor-deposited material by applying a high-energy beam to a source of the vapor-deposited material in a chamber, and generate the vapor on the substrate. A method for manufacturing a vapor deposition body, wherein the distance through which the high energy beam passes through a zone (vapor cloud) in which the vapor of the vapor deposition material exists is shortened as much as possible.

【0013】また、本発明の蒸着装置は、 チャンバー
と、 このチャンバー内に配置された基体支持手段と、
同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
と、この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に
対して高エネルギービームを当てる高エネルギービーム
銃と、 を含む蒸着装置であって; 上記蒸着物質蒸気
の存在する帯域(蒸気雲)中を上記高エネルギービーム
が通過する距離を極力短くするための機器配置がなされ
ているか、又は、そのための手段が設けられていること
を特徴とする。
Further, the vapor deposition apparatus of the present invention comprises a chamber, a substrate supporting means arranged in the chamber,
A vapor deposition apparatus comprising: a vapor deposition material source holding means also arranged in the chamber; and a high energy beam gun for applying a high energy beam to the vapor deposition material source held by the vapor deposition material source holding means; It is characterized in that equipment is arranged to minimize the distance that the high-energy beam passes through the zone (vapor cloud) in which the vapor deposition material vapor exists, or means is provided for that purpose.

【0014】つまり、高エネルギービームが蒸気雲中を
通る長さをできるだけ短くすることにより、蒸着物質の
高エネルギービームによる変質、あるいは、高エネルギ
ービームにより活性化された蒸着物質と雰囲気ガスとの
反応を抑制し、もって蒸着膜の変質を防止するのであ
る。
That is, by shortening the length of the high energy beam passing through the vapor cloud as much as possible, alteration of the vapor deposition material by the high energy beam or reaction between the vapor deposition material activated by the high energy beam and the atmospheric gas To prevent deterioration of the deposited film.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】蒸気雲中を高エネルギービームが
通過する距離を極力短くする一つの形態として、蒸着物
質源から基体表面に到る蒸着物質蒸気の拡散方向に対し
て、高エネルギービームを大角度傾斜させて蒸着物質源
に当てることとすることができる。この場合、上記角度
は60°以上であることが好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION As one mode for minimizing the distance that a high energy beam passes through a vapor cloud, a high energy beam is applied to a diffusion direction of vapor of a vapor deposition substance from a vapor deposition substance source to a substrate surface. A large angle of inclination can be applied to the vapor deposition material source. In this case, the angle is preferably 60 ° or more.

【0016】ここで、本発明に言う高エネルギービーム
の例としては、電子ビーム、レーザー、イオンガン等を
挙げることができる。
Examples of the high energy beam referred to in the present invention include electron beams, lasers, ion guns and the like.

【0017】また、蒸着物質の例としては、Co、Co
−Ni合金等を挙げることができる。
Further, examples of vapor deposition materials include Co and Co.
-Ni alloy etc. can be mentioned.

【0018】蒸着製品の例としては、磁気テープ、磁気
ディスク等の磁気記録媒体等を挙げることができる。こ
の場合、蒸着基体の例としては、PET、ポリイミド、
アラミド、PENフィルム等を挙げることができる。
Examples of vapor-deposited products include magnetic recording media such as magnetic tapes and magnetic disks. In this case, examples of the vapor deposition substrate include PET, polyimide,
Examples include aramid and PEN film.

【0019】本発明の実施形態の特に有用な形態とし
て、 蒸着の方式が、基体表面の蒸着点と蒸着物質源と
を結んだ線が、該基体表面の該蒸着点における法線に対
してある角度(入射角)をもって蒸着が行われるいわゆ
る斜め蒸着であり、 基体への蒸着が開始される入射角
70〜90°の高入射角蒸着点近傍を、上記高エネルギ
ービームを通過させないという形態がある。上記蒸着点
近傍においては、薄膜形成で重要な初期の基体上への堆
積が起るため、特に高エネルギービームによる蒸着物質
の変質が問題となるのである。
As a particularly useful form of the embodiment of the present invention, the method of vapor deposition is such that the line connecting the vapor deposition point on the surface of the substrate and the source of vapor deposition substance is with respect to the normal line at the vapor deposition point on the surface of the substrate. This is so-called oblique vapor deposition in which vapor deposition is performed at an angle (incident angle), and there is a form in which the high energy beam does not pass near the high incident angle vapor deposition point with an incident angle of 70 to 90 ° at which vapor deposition on the substrate is started. . In the vicinity of the vapor deposition point, deposition on the initial substrate, which is important in thin film formation, occurs, so that the alteration of the vapor deposition material due to the high energy beam becomes a problem.

【0020】[0020]

【実施例】以下、本発明の実施例に係る蒸着装置の図を
参照しつつさらに具体的に説明する。図1は、本発明の
一実施例に係る蒸着装置の構成を模式的に示す平面図で
ある。図1の全体構成について、図3の蒸着装置につい
ての説明と一部重複する部分もあるが説明する。
Embodiments Hereinafter, the vapor deposition apparatus according to the embodiments of the present invention will be described more specifically with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of a vapor deposition device according to an embodiment of the present invention. The entire configuration of FIG. 1 will be described although there is a part overlapping with the description of the vapor deposition device of FIG.

【0021】図1の蒸着装置は、大型の真空チャンバー
9(寸法一例幅1.5m×長5m×高2.5m)を有す
る。真空チャンバー9には、排気装置(真空ポンプ)1
0が接続されており、真空チャンバー9内は5×10-5
Torr程度の真空に維持される。真空チャンバー9内の中
央部にはクーリングキャン4(基体支持手段)が配置さ
れている。このクーリングキャン4は、回転するドラム
であって、その外周表面は−30℃に冷却されている。
このクーリングキャン4には、クーリングキャン4の側
方に配置されている巻出しロール1から、基体フィルム
11が供給される。フィルム11は、ガイドローラ3及
び3´で湾曲させられ、クーリングキャン4との接触範
囲がより長くとれるようになっている。そして、フィル
ム11はクーリングキャン4外周面をほぼ1周し、ガイ
ドローラ3´を経て巻取りロール2に巻取られる。
The vapor deposition apparatus shown in FIG. 1 has a large vacuum chamber 9 (an example of dimensions is width 1.5 m × length 5 m × height 2.5 m). In the vacuum chamber 9, an exhaust device (vacuum pump) 1
0 is connected, and the inside of the vacuum chamber 9 is 5 × 10 −5.
The vacuum is maintained at about Torr. A cooling can 4 (base support means) is arranged in the center of the vacuum chamber 9. The cooling can 4 is a rotating drum whose outer peripheral surface is cooled to -30 ° C.
The base film 11 is supplied to the cooling can 4 from the unwinding roll 1 arranged on the side of the cooling can 4. The film 11 is curved by the guide rollers 3 and 3 ′ so that the contact range with the cooling can 4 can be made longer. Then, the film 11 makes one round around the outer peripheral surface of the cooling can 4, and is wound around the winding roll 2 via the guide roller 3 '.

【0022】図におけるクーリングキャン4の右側の領
域が、蒸着基体であるフィルム11の表面に蒸着膜を成
膜する蒸着部である。ここには、蒸着物質源(磁性材料
CoやCo−Ni)を溶融するルツボ5(蒸着物質源保
持手段)が配置されている。蒸着物質源の加熱には、C
oが高融点であるため、電子ビーム8が用いられる。図
1の蒸着装置においては、図3の蒸着装置と異なり、電
子銃7は真空チャンバー9の右側壁に搭載されている。
さらに、電子銃7の内側の真空チャンバー9内には、電
子ビーム8の偏向装置21が備えられている。この偏向
装置21は、電磁コイルを含みその内部空間の磁場を変
化させて電子ビーム8を図の下方向に偏向させるもので
ある。一方、偏向コイル21aは、ビームをルツボの長
手方向にスキャンさせるためのコイルである。電子ビー
ム8は、偏向コイル21aでスキャンされ、偏向装置2
1で下向きに偏向され、防着板13の右壁手前部に開け
られた穴13bを通ってルツボ5内に当たる。図1の蒸
着装置においては、蒸気雲中を横切る電子ビーム軌跡の
長さは、穴13bからルツボ5の間の短い距離である
(具体的数値は後述)。また、この電子ビーム軌跡は、
蒸着開始領域である防着板13の上部(図の)から遠ざ
かっている。したがって、蒸着物質の電子ビーム照射変
質に起因する問題を極力低減することができる。
The area on the right side of the cooling can 4 in the figure is a vapor deposition section for forming a vapor deposition film on the surface of the film 11 which is the vapor deposition substrate. A crucible 5 (vapor deposition material source holding means) for melting a vapor deposition material source (magnetic material Co or Co—Ni) is arranged here. For heating the vapor deposition material source, C
Since o has a high melting point, the electron beam 8 is used. In the vapor deposition apparatus of FIG. 1, unlike the vapor deposition apparatus of FIG. 3, the electron gun 7 is mounted on the right side wall of the vacuum chamber 9.
Further, inside the vacuum chamber 9 inside the electron gun 7, a deflecting device 21 for the electron beam 8 is provided. The deflecting device 21 includes an electromagnetic coil and changes the magnetic field in its internal space to deflect the electron beam 8 downward in the drawing. On the other hand, the deflection coil 21a is a coil for scanning the beam in the longitudinal direction of the crucible. The electron beam 8 is scanned by the deflection coil 21a, and the deflection device 2
It is deflected downward by 1 and hits the inside of the crucible 5 through a hole 13b formed in the front part of the right wall of the deposition-inhibitory plate 13. In the vapor deposition apparatus of FIG. 1, the length of the electron beam trajectory traversing the vapor cloud is a short distance between the hole 13b and the crucible 5 (specific numerical values will be described later). Also, this electron beam trajectory is
It is distant from the upper portion (in the figure) of the deposition-inhibitory plate 13, which is the vapor deposition start region. Therefore, it is possible to minimize the problems caused by the electron beam irradiation alteration of the vapor deposition material.

【0023】ルツボ5とクーリングキャン4との間には
低入射角規制シャッター6が設けられている。低入射角
規制シャッター6は、ルツボ5とクーリングキャン4の
中心を結ぶ線に対してほぼ直角に、その線の周辺のクー
リングキャン4の表面を覆うように延びている。この低
入射角規制シャッター6は、図3の蒸着装置の低入射角
規制シャッターと同じく、蒸着物質蒸気の拡散を妨害す
るためのものである。その詳しい説明は前記部分を参照
されたい。
A low incident angle control shutter 6 is provided between the crucible 5 and the cooling can 4. The low incidence angle regulating shutter 6 extends substantially at right angles to a line connecting the crucible 5 and the center of the cooling can 4 so as to cover the surface of the cooling can 4 around the line. The low-incidence-angle control shutter 6 is for blocking diffusion of vapor deposition material, like the low-incidence-angle control shutter of the vapor deposition apparatus shown in FIG. See the above section for the detailed description.

【0024】低入射角規制シャッター6の右端部の裏側
(クーリングキャン4側)には酸素導入管12が設置さ
れている。酸素導入管12は、真空チャンバー9中に図
1の紙面の垂直方向に立ち上がるように設けられてい
る。酸素導入管12からは微量の酸素(O2 )が真空チ
ャンバー9内に供給される。
An oxygen introducing tube 12 is installed on the back side (cooling can 4 side) of the right end portion of the low incident angle regulating shutter 6. The oxygen introducing tube 12 is provided in the vacuum chamber 9 so as to stand upright in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. A small amount of oxygen (O 2 ) is supplied from the oxygen introducing pipe 12 into the vacuum chamber 9.

【0025】クーリングキャン4の右側円周約1/4 の部
分は、防着板13によって囲まれている。防着板13
は、蒸気雲の分布を該防着板13内に規制するためのも
のである。したがってフィルム上への蒸着が起るのも、
実質的には、防着板13に囲まれた約1/4 円周部分に限
られる。さらに、図1の蒸着装置では、図3の蒸着装置
と比べて、防着板13の左右幅が狭く(懐が狭く)なっ
ている。したがって、電子ビームが蒸気雲中を通過する
長さはさらに短くなる。
A part of the cooling can 4 on the right side of the circumference of about 1/4 is surrounded by the deposition-inhibiting plate 13. Protective plate 13
Is for controlling the distribution of the vapor cloud within the deposition preventive plate 13. Therefore, vapor deposition on the film occurs
Substantially, it is limited to about 1/4 of the circumference surrounded by the deposition-inhibitory plate 13. Further, in the vapor deposition device of FIG. 1, the left-right width of the deposition-inhibitory plate 13 is narrower (narrower pocket) than the vapor deposition device of FIG. Therefore, the length of the electron beam passing through the vapor cloud is further shortened.

【0026】図2は、本発明の他の一実施例に係る蒸着
装置の構成を模式的に示す平面図である。この実施例の
蒸着装置においては、電子銃は図3の蒸着装置と同じ位
置(奥壁右隅)にある。しかし、電子ビーム軌跡8は、
防着板13の裏側(右側)を手前方向に進み、偏向装置
21´bによって偏向させられ、防着板13手前に開け
られた穴13bを通って防着板13内に入り、ルツボ5
に到る。この場合でも、図1同様に、防着板13内の蒸
気雲を電子ビームが横切る長さを短くするとともに、蒸
着開始領域から離れた部位で電子ビーム軌跡が蒸気雲を
横断するようにすることができる。つまり、そのような
状態を実現するための具体的手段は多様なものがありう
るということである。
FIG. 2 is a plan view schematically showing the construction of a vapor deposition apparatus according to another embodiment of the present invention. In the vapor deposition apparatus of this embodiment, the electron gun is located at the same position as the vapor deposition apparatus of FIG. 3 (right corner on the back wall). However, the electron beam trajectory 8 is
The back side (right side) of the deposition-inhibitory plate 13 is moved toward the front side, is deflected by the deflecting device 21′b, and enters into the deposition-inhibitory plate 13 through the hole 13b formed in front of the deposition-inhibition plate 13, and the crucible 5
To reach. Also in this case, as in FIG. 1, the length of the electron beam traversing the vapor cloud in the deposition-inhibiting plate 13 should be shortened, and the electron beam locus should traverse the vapor cloud at a position away from the vapor deposition start region. You can That is, there can be various concrete means for realizing such a state.

【0027】具体的適用例 以下のような条件で成膜を行った。 (1)フィルム材質:PET (2)フィルム幅、厚:620mm×10μm (3)フィルム走行速度:50m/min (4)蒸着材料:Co−Ni (5)電子ビーム強度:30kV×5A (6)電子ビーム軌跡が蒸気雲を横切る長さ:700mm (7)チャンバー内真空度:8×10-5Torr (8)蒸着膜厚:200nm(0.2μm ) Specific Application Example A film was formed under the following conditions. (1) Film material: PET (2) Film width and thickness: 620 mm × 10 μm (3) Film traveling speed: 50 m / min (4) Vapor deposition material: Co-Ni (5) Electron beam intensity: 30 kV × 5 A (6) Length of electron beam traversing vapor cloud: 700 mm (7) Degree of vacuum in chamber: 8 × 10 -5 Torr (8) Deposition film thickness: 200 nm (0.2 μm)

【0028】成膜された磁気テープについて電磁変換特
性をノーマルメタル型8mmテープとの比較により調べ
た。その結果、図3の蒸着装置(電子ビーム軌跡が蒸気
雲を横切る長さ1,200mm、その他の条件は同じ)と
比較して、Y-out(輝度信号出力)+6.0dB、Y
-C/N(輝度信号キャリア/ノイズ)+5.0dB、C
-out(カラー信号出力)+1.5dB、C-C/N(カラー
信号キャリア/ノイズ)+4.0dBと、いずれの特性
値とも高くなった。
The electromagnetic conversion characteristics of the formed magnetic tape were examined by comparison with a normal metal type 8 mm tape. As a result, Y- out (luminance signal output) +6.0 dB, Y compared with the vapor deposition apparatus of FIG. 3 (length of electron beam traversing vapor cloud is 1,200 mm, other conditions are the same)
-C / N (luminance signal carrier / noise) +5.0 dB, C
-out (color signal output) +1.5 dB, C -C / N (color signal carrier / noise) +4.0 dB, which were both high in the characteristic values.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は以下の効果を発揮する。 本発明を蒸着方式の磁気テープに適用した場合、高
出力特性で、C/N(キャリア/ノイズ比)の良い蒸着
テープを製造できる。 本発明を斜め蒸着の蒸着プロセスに適用した場合
は、最低入射角を低くしても今までと同等の特性を有す
る蒸着膜が得られる。よって原材料使用効率が向上し、
コストダウンも可能となる。 さらに、蒸着効率が向上するため生産スピードも向
上する。
As is apparent from the above description, the present invention exhibits the following effects. When the present invention is applied to a vapor deposition type magnetic tape, a vapor deposition tape having high output characteristics and good C / N (carrier / noise ratio) can be manufactured. When the present invention is applied to the vapor deposition process of oblique vapor deposition, a vapor deposition film having the same characteristics as before can be obtained even if the minimum incident angle is lowered. Therefore, the use efficiency of raw materials is improved,
Cost reduction is also possible. Furthermore, since the vapor deposition efficiency is improved, the production speed is also improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る蒸着装置の構成を模式
的に示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view schematically showing a configuration of a vapor deposition device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の他の一実施例に係る蒸着装置の構成を
模式的に示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view schematically showing the configuration of a vapor deposition device according to another embodiment of the present invention.

【図3】従来の代表的な磁気テープ蒸着装置の構成を模
式的に示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view schematically showing the configuration of a conventional typical magnetic tape vapor deposition device.

【図4】低入射角規制シャッター6の作用を説明するた
めの模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation of the low incident angle regulating shutter 6.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…巻出しロール、2…巻取りロール、3…ガイドロー
ラ、4…クーリングキャン、5…ルツボ、6…低入射角
規制シャッター、6a…右端、6b…左端、7…電子
銃、8…電子ビーム、9…真空チャンバー、10…排気
装置、11…フィルム、12…酸素導入管、13…防着
板、13a、b…穴、21…偏向装置、21a、b…偏
向装置(スキャナー)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Unwinding roll, 2 ... Winding roll, 3 ... Guide roller, 4 ... Cooling can, 5 ... Crucible, 6 ... Low incident angle control shutter, 6a ... Right end, 6b ... Left end, 7 ... Electron gun, 8 ... Electron Beam, 9 ... Vacuum chamber, 10 ... Exhaust device, 11 ... Film, 12 ... Oxygen introduction tube, 13 ... Adhesion plate, 13a, b ... Hole, 21 ... Deflection device, 21a, b ... Deflection device (scanner)

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 チャンバー内において蒸着物質源に高エ
ネルギービームを当てて蒸着物質蒸気を発生させ、これ
を基体表面上に堆積する蒸着体製造方法であって;上記
蒸着物質蒸気の存在する帯域(蒸気雲)中を上記高エネ
ルギービームが通過する距離を極力短くすることを特徴
とする蒸着体製造方法。
1. A method for producing a vapor-deposited material in which a vapor-deposited material source is irradiated with a high-energy beam in a chamber to generate vapor-deposited material, and the vapor is deposited on a surface of a substrate; A vapor deposition method for producing a vapor-deposited body, wherein the distance that the high-energy beam passes through is shortened as much as possible.
【請求項2】 チャンバー内において蒸着物質源に高エ
ネルギービームを当てて蒸着物質蒸気を発生させ、これ
を基体表面上に堆積する蒸着体製造方法であって;蒸着
物質源から基体表面に到る蒸着物質蒸気の拡散方向に対
して、上記高エネルギービームを大角度傾斜させて蒸着
物質源に当てることを特徴とする蒸着体製造方法。
2. A method for producing a vapor-deposited material in which a vapor-deposited material source is irradiated with a high-energy beam in a chamber to generate vapor of the vapor-deposited material, and the vapor is deposited on a surface of a substrate; A method for producing a vapor-deposited material, which comprises inclining the high-energy beam at a large angle with respect to a diffusion direction of vapor of the vapor-deposited material and irradiating the vapor-deposited material source.
【請求項3】 チャンバー内において蒸着物質源に高エ
ネルギービームを当てて蒸着物質蒸気を発生させ、これ
を基体表面上に堆積する蒸着体製造方法であって;上記
蒸着は、上記基体表面の蒸着点と蒸着物質源とを結んだ
線が、該基体表面の該蒸着点における法線に対してある
角度(入射角)をもって蒸着が行われるいわゆる斜め蒸
着であり、 基体への蒸着が開始される入射角70〜90°の高入射
角蒸着点近傍を、上記高エネルギービームを通過させな
いことを特徴とする蒸着体製造方法。
3. A method for producing a vapor deposition body, comprising: producing a vapor of a vapor deposition material by irradiating a high energy beam to a vapor deposition material source in a chamber; and depositing the vapor on a surface of a substrate; The line connecting the point and the vapor deposition material source is so-called oblique vapor deposition in which vapor deposition is performed at a certain angle (incident angle) with respect to the normal to the vapor deposition point on the substrate surface, and vapor deposition on the substrate is started. A method for producing a vapor-deposited body, characterized in that the high-energy beam is not passed near a high-incidence-angle vapor deposition point having an incident angle of 70 to 90 °.
【請求項4】 チャンバーと、このチャンバー内に配置
された基体支持手段と、 同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
と、 この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に対し
て高エネルギービームを当てる高エネルギービーム銃
と、 を含む蒸着装置であって;上記蒸着物質蒸気の存在する
帯域(蒸気雲)中を上記高エネルギービームが通過する
距離を極力短くするための機器配置がなされているか、
及び/又は、そのための手段が設けられていることを特
徴とする蒸着装置。
4. A chamber, a substrate supporting means arranged in the chamber, a vapor deposition material source holding means also arranged in the chamber, and a vapor deposition material source held in the vapor deposition material source holding means. A vapor deposition apparatus including a high-energy beam gun for applying a high-energy beam; and a device arrangement for minimizing a distance that the high-energy beam passes through a zone (vapor cloud) in which the vapor of the vapor deposition material exists. Is it done?
And / or a means therefor is provided.
【請求項5】 チャンバーと、 このチャンバー内に配置された基体支持手段と、 同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
と、 この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に対し
て高エネルギービームを当てる高エネルギービーム銃
と、 を含む蒸着装置であって;蒸着物質源から基体表面に到
る蒸着物質蒸気の拡散方向に対して、上記高エネルギー
ビームを大角度傾斜させて蒸着物質源に当てるための機
器配置がなされているか、及び/又は、そのための手段
が設けられていることを特徴とする蒸着装置。
5. A chamber, a substrate support means arranged in the chamber, a vapor deposition material source holding means also arranged in the chamber, and a vapor deposition material source held in the vapor deposition material source holding means. A high-energy beam gun for applying a high-energy beam, comprising: a high-energy beam gun for inclining the high-energy beam at a large angle with respect to the diffusion direction of the vapor of the vapor of the vapor from the vapor source to the substrate surface. A vapor deposition apparatus, characterized in that the equipment is arranged for application to a source and / or means for it are provided.
【請求項6】 チャンバーと、 このチャンバー内に配置された基体支持手段と、 同じくチャンバー内に配置された蒸着物質源保持手段
と、 この蒸着物質源保持手段に保持される蒸着物質源に対し
て高エネルギービームを当てる高エネルギービーム銃
と、 を含む蒸着装置であって;基体表面の蒸着点と蒸着物質
源を結んだ線が、該基体表面の該蒸着点における法線に
対してある角度(入射角)をもって蒸着を行う(斜め蒸
着)ように構成されており、 基体への蒸着が開始される入射角70〜90°の高入射
角蒸着点近傍を上記高エネルギービームを通過させない
ように構成されていることを特徴とする蒸着装置。
6. A chamber, a substrate supporting means arranged in the chamber, a vapor deposition material source holding means also arranged in the chamber, and a vapor deposition material source held in the vapor deposition material source holding means. A high-energy beam gun for applying a high-energy beam; and a line connecting a vapor deposition point on a substrate surface and a vapor deposition material source with respect to a normal line at the vapor deposition point on the substrate surface at an angle ( It is configured to perform vapor deposition with an incident angle (oblique vapor deposition), and is configured to prevent the above high energy beam from passing near the high incident angle vapor deposition point with an incident angle of 70 to 90 ° at which vapor deposition on the substrate is started. A vapor deposition apparatus characterized by being provided.
【請求項7】 チャンバーと、 チャンバーの排気手段と、 チャンバー内に酸素を導入する酸素導入口と、 チャンバー内に配置された回転ドラム状のクーリングキ
ャンと、 クーリングキャン外周にテープを連続走行させるテープ
送り手段と、 チャンバー内にクーリングキャンに隣接して配置された
蒸着物質源保持ルツボと、 このルツボ内の蒸着物質源に電子ビームを当てる電子銃
と、 クーリングキャンとルツボの間に配置された低入射角規
制シャッターと、 蒸気雲の拡がりをクーリングキャンの一部に規制する防
着板と、 を備えた蒸着装置であって;上記電子銃から蒸着物質源
に到る電子ビーム軌跡が防着板内を通過する距離が極力
短くなるように上記各機器が構成・配置されていること
を特徴とするテープ用蒸着装置。
7. A chamber, an exhaust means for the chamber, an oxygen inlet for introducing oxygen into the chamber, a cooling drum-like cooling can arranged in the chamber, and a tape for continuously running the tape around the cooling can. A feed means, a vapor deposition material source holding crucible arranged in the chamber adjacent to the cooling can, an electron gun for applying an electron beam to the vapor deposition material source in the crucible, and a low-pressure lamp arranged between the cooling can and the crucible. A vapor deposition apparatus comprising: an incident angle control shutter; and an adhesion preventive plate that restricts the spread of a vapor cloud to a part of a cooling can; an electron beam trajectory from the electron gun to a vapor deposition material source is an adhesion preventive plate. A vapor deposition apparatus for tapes, characterized in that each of the above-mentioned devices is constructed and arranged so that a distance passing through the inside is minimized.
【請求項8】 上記電子ビームを偏向させる手段をさら
に有する請求項7記載の蒸着装置。
8. The vapor deposition apparatus according to claim 7, further comprising means for deflecting the electron beam.
JP13388596A 1996-05-28 1996-05-28 Production of vapor-deposited body and vapor deposition device Pending JPH09316628A (en)

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