JPH09273068A - 織布検反方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】布端検出のための人手による事前の準備を行な
うことなく布端検出を遂行できるようにする。 【解決手段】織布Ｗ上の検知範囲１９１，２０１から反
射する光が受光素子１９，２０によって受光され、受光
素子１９，２０は受け取った光を電気信号に変換する。
受光素子１９，２０は変換電気信号を電流−電圧変換回
路２８，２９を介して布端検出用信号処理回路基板２２
に出力する。布端検出用信号処理回路基板２２は入力す
る電気信号値と予め設定された信号レベルとの比較に基
づいて布端検出を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、織布の織り状態を
反映する光を拾いながら移動するセンサヘッドを備え、
前記光の受光量に応じた電気信号を出力する光電センサ
を用いて織布の欠点を検出する織布検反方法及び装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の織布検反装置が特開昭６０−２
３１８５０号公報に開示されている。走査ヘッド（本願
でいうセンサヘッド）に組み込まれた光源から織布上に
投射された光の反射光は感光セルによって受光される。
光の経路上には光学レンズ系が設置されており、投射光
あるいは反射光の集光、平行化等の必要な光学的処理が
光学レンズ系によって行われる。感光セルは受光量に応
じた電気信号を出力し、この電気信号が評価ユニットで
評価される。受光量に応じて変換された電気信号の評価
は一般的に電気信号の大きさと予め設定された基準値と
の比較によって行われる。電気信号の値が基準値以内で
あれば正常の評価が行われ、電気信号の値が基準値を越
えれば異常の評価が行われる。

【０００３】走査ヘッドは織布の織幅方向に往復する
が、往復端での反転位置は、例えば特開昭６３−８５１
４２号公報に開示されるように往復端にリミットスイッ
チを配置しておくことによって規定される。特開昭６３
−８５１４２号公報の装置の場合には、センサヘッドを
往復動させるためのベルトに止着されたドグがリミット
スイッチをＯＮ−ＯＦＦする。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】センサヘッドが布端の
外方へはみ出せば、織布の織り状態を反映する光を拾え
なくなり、結果的には織布の欠点を見つけたことになっ
てしまう。そのため、センサヘッドが布端の外方へはみ
出す前にリミットスイッチがＯＮする必要がある。しか
し、リミットスイッチを織布の織幅領域内へ大きく入り
込ませれば、織布の両端部に検反できない領域が残って
しまう。これを回避するにはリミットスイッチの設置位
置を厳密に調整する必要があるが、このような厳密な位
置調整は難しい。又、織布の織幅は変更することがあ
り、織幅の変更がある場合には前記リミットスイッチの
配置位置を変更しなければならないという煩わしさがあ
る。

【０００５】本発明は、布端検出のための人手による事
前の準備を行なうことなく布端検出を遂行できる織布検
反方法及び装置を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】そのために請求項１の発
明では、織布の布端を検出できる信号レベルを予め設定
しておき、センサヘッド上に搭載された光電センサによ
って得られる電気信号の値が前記信号レベルから外れた
ときには布端を検出したときとした。

【０００７】センサヘッド上の前記光電センサが織布上
を走査しているときには、この光電センサから得られる
電気信号値が予め設定された信号レベルにある。前記光
電センサが織布の布端から外方へ外れた所を走査したと
きには、この光電センサから得られる電気信号値が予め
設定された信号レベルから外れる。

【０００８】請求項２の発明では、検反用光電センサを
布端検出用光電センサとして用いるようにした。センサ
ヘッド上の検反用光電センサが織布上を走査していると
きには、検反用光電センサから得られる電気信号値が予
め設定された信号レベルにある。検反用光電センサが織
布の布端から外方へ外れた所を走査したときには、検反
用光電センサから得られる電気信号値が予め設定された
信号レベルから外れる。

【０００９】請求項３の発明では、織布の織り状態を反
映する光を得るために織布に向けて投射される検反用投
光を布端検出に用いた。検反用投光が織布に当たった場
合に布端検出用光電センサから得られる電気信号値と、
検反用投光が織布に当たらない場合に布端検出用光電セ
ンサから得られる電気信号値とは大きく異なる。従っ
て、布端検出に検反用投光を利用することは精度の高い
布端検出の行なう上で有利である。

【００１０】請求項４の発明では、織布の布端を検出で
きるセンサヘッド上に搭載された光電センサと、前記光
電センサから得られる電気信号の値と予め設定された信
号レベルとの比較に基づいて布端検出の判定を行なう布
端検出判定手段とを備えた織布検反装置を構成した。

【００１１】前記光電センサが織布の布端から外方へ外
れた所を走査したときには、この光電センサから得られ
る電気信号値が予め設定された信号レベルから外れる。
電気信号値が予め設定された信号レベルから外れた場合
には、布端検出判定手段は布端を検出したと判定する。

【００１２】請求項５の発明では、布端検出用光電セン
サとして検反用光電センサを用いた。検反用光電センサ
を布端検出用光電センサとして兼用する構成は機構の簡
素化に繋がる。

【００１３】請求項６の発明では、織布の布端に対応し
て光ゲイン差増大手段を配置し、織布から得られる光ゲ
インと布端の外方から得られる光ゲインとの差を増大す
るようにした。

【００１４】織布から得られる光ゲインと布端の外方か
ら得られる光ゲインとの差が大きいほど、布端検出の精
度が高くなる。請求項７の発明では、光ゲイン差増大手
段として光反射体を用いた。

【００１５】織布からの反射光によって布端検出用光電
センサから得られる電気信号値と、光反射体からの反射
光によって布端検出用光電センサから得られる電気信号
値とは大きく異なる。従って、信号レベルの設定が容易
となる。

【００１６】請求項８の発明では、布端を検出したとき
には欠点有無判定手段の判定を無効化する無効化信号を
布端検出判定手段から出力するようにした。このような
無効化の対処によって誤検反を回避することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、織機上の織布検反装置に本
発明を具体化した第１の実施の形態を図１〜図７に基づ
いて説明する。

【００１８】図１に示すように織布Ｗの上方には無端状
ベルト１２が織布Ｗの織り幅方向、即ち緯糸Ｙの糸方向
に配設されている。無端状ベルト１２は図３に示すモー
タ１３の駆動プーリ１５と図２に示すガイドプーリ１６
とに掛け渡されている。無端状ベルト１２はモータ１３
の往復駆動によって往復周回する。モータ１３は速度制
御回路Ｃの速度制御を受け、速度制御回路Ｃはモータ１
３の正逆回転方向及び回転速度を制御する。無端状ベル
ト１２にはセンサヘッド１４が止着されており、センサ
ヘッド１４は無端状ベルト１２の往復周回によって織布
Ｗの織幅方向に往復動する。

【００１９】センサヘッド１４は、反射鏡１７、棒状の
結像レンズ１８、検反用光電センサとなる受光素子１
９、検反用光電センサとなる受光素子２０及び信号処理
回路基板１１を備えている。

【００２０】図２に示すように、ガイドプーリ１６の近
傍には投光器２３が設置されている。投光器２３は、容
器２４と、容器２４の底部に取り付けられた投光素子２
５と、容器２３の開口側に取り付けられたスリット板２
６と、投光素子２５とスリット板２６との間に介在され
た棒状の凸レンズ２７とからなる。スリット板２６には
スリット２６１が形成されている。投光素子２５は凸レ
ンズ２７の焦点上に位置しており、投光素子２５から凸
レンズ２７に投射された光は凸レンズ２７を通って平行
光となる。図１の鎖線矢印は光の行路を表す。凸レンズ
２７の光軸はスリット２６１の中央を通っている。凸レ
ンズ２７を通って平行になった光の一部はスリット２６
１を通過する。スリット板２６は光の平行度を高めるた
めに凸レンズ２７の周縁部を通過した光の通過を阻止す
る。

【００２１】スリット２６１を通過した平行光の行路は
反射鏡１７と交差する。反射鏡１７に当たった平行光は
織布Ｗ上に向けて反射される。結像レンズ１８は織布Ｗ
の上面の像を一対の受光素子１９，２０の受光面に一致
する平面上に結像する。受光素子１９，２０は、経糸Ｔ
の糸配列方向の幅が狭く、かつ経糸Ｔの糸方向へ長い形
状である。

【００２２】図４の検知範囲１９１は結像レンズ１８に
よって受光素子１９上に結像される織布Ｗ上の範囲を表
し、検知範囲２０１は結像レンズ１８によって受光素子
２０上に結像される織布Ｗ上の範囲を表す。経糸Ｔの糸
配列方向の検知範囲１９１，２０１の幅は同じｈであ
り、幅ｈは経糸Ｔの糸配列ピッチＰの半分Ｐ／２よりも
小さくしてある。又、検知範囲１９１，２０１の経糸Ｔ
の糸方向の長さは同じであり、この長さは緯糸Ｙを例え
ば１０本程度含むぐらいの長さにしてある。そして、両
検知範囲１９１，２０１は経糸Ｔの糸配列方向に糸配列
ピッチＰの半分だけずらしてある。

【００２３】図５の右向きの矢印Ｑ１で囲まれた領域は
センサヘッド１４の右方向への移動による織布Ｗ上にお
ける検知範囲１９１，２０１の走査範囲を表す。左向き
の矢印Ｑ２で囲まれた領域はセンサヘッド１４の左方向
への移動による織布Ｗ上における検知範囲１９１，２０
１の走査範囲を表す。織布Ｗは矢印Ｒの方向に移動す
る。

【００２４】受光素子１９，２０は受け取った光を電流
に変換する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信
号になる。図４の回路は信号処理回路基板１１上の検反
用信号処理回路２１及び布端検出用信号処理回路２２の
回路構成を表す。受光素子１９は変換電流信号を電流−
電圧変換回路２８に出力し、受光素子２０は変換電流信
号を電流−電圧変換回路２９に出力する。電流−電圧変
換回路２８，２９は変換電流信号を電圧信号Ｓ１，Ｓ２
に変換して差演算回路３０に出力する。図６の波形Ｓ１
は電流−電圧変換回路２８から出力される電圧信号を表
し、波形Ｓ２は電流−電圧変換回路２９から出力される
電圧信号を表す。なお、外乱光、電気ノイズの影響を除
いた電圧信号Ｓ１，Ｓ２の値の変動は、例えば出力電圧
１ボルトに対して５ミリボルト程度という僅かなもので
ある。

【００２５】差演算回路３０は両電流−電圧変換回路２
８，２９から入力する電圧信号Ｓ１，Ｓ２の値の差を演
算する。図６の波形ΔＳは差演算回路３０から出力され
る差信号を表す。差演算回路３０は演算して得られた差
信号ΔＳをバンドパスフィルタ３１を経由して比較回路
３２に出力する。バンドパスフィルタ３１は差信号ΔＳ
の周波数近辺の周波数の信号以外の波形信号をカットす
る。

【００２６】比較回路３２は入力した差信号ΔＳと基準
値設定回路３３によって予め設定された基準値Ｖ（＞
０）とを比較する。差信号ΔＳの値が基準値Ｖを越える
と、比較回路３２は図６に波形Ｈで示す信号を制御信号
発生回路３４に出力する。制御信号発生回路３４は波形
Ｈの立ち上がり部に対応して図６にパルス状波形で示す
制御信号Ｋをカウンタ３５に出力する。カウンタ３５は
基準クロック３６から出力されるパルス信号の数に基づ
いて各制御信号Ｋ間の時間間隔ｔｘの計測を行なう。こ
の計測情報は比較回路３７に送られる。

【００２７】比較回路３７は、基準値設定回路３８によ
って予め設定された基準間隔〔ｔｏ−Δｔ，ｔｏ＋Δ
ｔ〕と計測された時間間隔ｔｘとの比較を行なう。ｔｘ
が〔ｔｏ−Δｔ，ｔｏ＋Δｔ〕の範囲外にあれば、比較
回路３７は出力回路３９に対して欠点検出信号を出力す
る。ｔｘが〔ｔｏ−Δｔ，ｔｏ＋Δｔ〕の範囲内にあれ
ば、比較回路３７は出力回路３９に対して欠点検出信号
を出力しない。出力回路３９は、比較回路３７から出力
される欠点検出信号の入力に応じて製織停止信号を出力
する。

【００２８】センサヘッド１４の移動速度をｖ、結像レ
ンズ１８の倍率をｍとすると、結像レンズ１８によって
受光素子１９，２０の受光平面上に結合される像は速度
ｍｖで移動する。経糸Ｔの糸配列ピッチＰよりも小さい
幅ｈの検知範囲１９１，２０１は糸配列ピッチＰの半分
Ｐ／２だけ経糸Ｔの配列方向にずらしてある。従って、
経糸Ｔの糸配列ピッチが常に所定の糸配列ピッチＰに等
しいならば、制御信号Ｋの時間間隔ｔｘはＰ／ｍｖにほ
ぼ等しい。Ｐ／ｍｖは基準値ｔｏとして採用されてお
り、Δｔは許容公差である。

【００２９】比較回路３２、基準値設定回路３３、制御
信号発生回路３４、カウンタ３５、基準クロック３６、
基準値設定回路３８及び比較回路３７から構成される欠
点有無判定手段は、差演算回路３０によって演算された
差ΔＳに基づいて欠点有無の判定を行なう。この差ΔＳ
の演算は照明光、風綿といった外乱の影響による電気信
号の変化を排除する。

【００３０】経糸Ｔは隣合う筬羽間に一定本数単位で通
されているが、例えばある筬羽間では経糸の通し本数が
規定に足りず、隣の筬羽間で経糸の通し本数が規定より
も多いといった状況が生じることもある。このような状
況が続くと、いわゆる経筋が織布上に生じ、不良織布が
できてしまう。図６では織布Ｗの織幅方向の領域Ｗ１が
経筋発生による粗な部分を表し、領域Ｗ２が経筋発生に
よる密な部分を表す。受光素子１９，２０の検知範囲１
９１，２０１の経糸Ｔの糸配列方向の幅ｈは経糸Ｔの糸
配列ピッチＰ以下に設定してあり、両検知範囲１９１，
２０１は糸配列方向に糸配列ピッチＰの半分Ｐ／２だけ
ずらしてある。各受光素子１９，２０の検知範囲１９
１，２０１の幅が糸配列ピッチＰ以下であるため、検知
範囲１９１，２０１の一方が経糸Ｔの配列位置上にある
場合に得られる電気信号の値と、他方が隣合う経糸Ｔの
配列位置の間にある場合に得られる電気信号の値との差
が最も大きくなる。従って、糸配列ピッチＰの半分Ｐ／
２だけ検知範囲１９１，２０１の移動方向へ両検知範囲
１９１，２０１をずらすことによって電気信号Ｓ１，Ｓ
２の値の差ΔＳが最も大きくなる。この差ΔＳが大きい
ほど欠点有無の判定が正確になる。

【００３１】電流−電圧変換回路２８は電圧信号Ｓ１を
ローパスフィルタ４０にも出力し、電流−電圧変換回路
２９は電圧信号Ｓ２をローパスフィルタ４１にも出力す
る。図７の曲線Ｓ１は電流−電圧変換回路２８から出力
される電圧信号を表し、曲線Ｓ２は電流−電圧変換回路
２９から出力される電圧信号を表す。ローパスフィルタ
４０，４１は通過帯域を商用周波数以下に規制する。図
７の曲線Ｄ１はローパスフィルタ４０から出力される電
圧信号を表し、曲線Ｄ２はローパスフィルタ４１から出
力される電圧信号を表す。

【００３２】ローパスフィルタ４０から出力される電圧
信号Ｄ１は比較回路４２へ送られ、ローパスフィルタ４
１から出力される電圧信号Ｄ１は比較回路４３へ送られ
る。比較回路４２は入力した電圧信号Ｄ１と基準値設定
回路４４によって予め設定された基準値Ｖ１とを比較す
る。比較回路４３は入力した電圧信号Ｄ２と基準値設定
回路４４によって予め設定された基準値Ｖ１とを比較す
る。電圧信号Ｄ１の値が基準値Ｖ１を越えると、比較回
路４２は図７に波形Ｅ１で示す信号をＡＮＤ回路４５に
出力する。電圧信号Ｄ２の値が基準値Ｖ１を越えると、
比較回路４３は図７に波形Ｅ２で示す信号をＡＮＤ回路
４５に出力する。ＡＮＤ回路４５は信号Ｅ１，Ｅ２が同
時に入力したときに図７に波形Ｆで示す布端検出信号を
出力回路４６に出力する。

【００３３】出力回路４６は、ＡＮＤ回路４５から出力
される布端検出信号Ｆの入力に応じて検反無効化信号を
出力回路３９に出力すると共に、反転信号を速度制御回
路Ｃに出力する。出力回路３９は検反無効化信号の入力
に基づいて検反有無の判定を停止する。速度制御回路Ｃ
は反転信号の入力に応答してモータ１３の回転方向を反
転し、センサヘッド１４の走行方向が反転する。

【００３４】第１の実施の形態では以下の効果が得られ
る。 （１-1）センサヘッド１４上の受光素子１９，２０が織
布Ｗ上を走査しているときには、受光素子１９，２０か
ら得られる電気信号値が予め設定された基準値Ｖ１より
も大きい信号レベルにある。受光素子１９，２０が織布
Ｗの布端Ｗｅから外方へ外れた所を走査したときには、
受光素子１９，２０の検知範囲１９１，２０１が織布Ｗ
のない所にあり、投光器２３から織布Ｗに向けて投射さ
れた光が受光素子１９，２０によって捉えられない。従
って、受光素子１９，２０から得られる電気信号値が予
め設定された基準値Ｖ１以下となり、電気信号値が基準
値Ｖ１よりも大きい信号レベルから外れる。ローパスフ
ィルタ４０，４１、比較回路４２，４３、基準値設定回
路４４、ＡＮＤ回路４５及び出力回路４６からなる布端
検出判定手段は、受光素子１９，２０によって得られる
電気信号の値が基準値Ｖ１によって規定される布端検出
用信号レベルから外れたときには布端を検出したと判定
する。

【００３５】センサヘッド１４上の受光素子１９，２０
から得られる電気信号を用いて布端検出を行なう構成
は、布端Ｗｅがどこにあるのか関係なく常に自動的に布
端Ｗｅを検出できる。従って、布端検出のための人手に
よる事前の準備を行なうことなく布端検出を遂行するこ
とができる。 （１-2）検反用光電センサである受光素子１９，２０を
布端検出用光電センサとして用いたが、このような兼用
構成は装置構成の簡素化及びコスト低減の上で有利であ
る。 （１-3）投光器２３から投射される検反用投光が織布Ｗ
上に当たっている場合に受光素子１９，２０から得られ
る電気信号値の変動は前述したように僅かである。しか
し、織布Ｗに当たった場合に受光素子１９，２０から得
られる電気信号値と、投光器２３から投射される検反用
投光が織布Ｗに当たらない場合に受光素子１９，２０か
ら得られる電気信号値とは大きく異なる。従って、織布
Ｗの織り状態を反映する光を得るために織布Ｗに向けて
投光器２３から投射される検反用投光を布端検出に利用
することは精度の高い布端検出の行なう上で有利であ
る。 （１-4）布端を検出したときには、布端検出判定手段と
なる布端検出用信号処理回路２２を構成する出力回路４
６が欠点有無判定手段を構成する出力回路３９に無効化
信号を出力する。欠点有無判定手段の判定を無効化する
無効化信号を布端検出判定手段から出力するようにした
対処は、誤検反の防止に寄与する。 （１-5）受光素子１９，２０によって得られる変換電流
信号値は、外乱光、電気ノイズにより大きく変動するた
め、電流−電圧変換回路２８，２９から出力される電圧
信号Ｓ１，Ｓ２をそのまま布端検出に用いるのは誤検出
の原因になる。ローパスフィルタ４０，４１は、電流−
電圧変換回路２８，２９から出力される電圧信号Ｓ１，
Ｓ２の通過帯域を商用周波数以下に規制する。従って、
外乱光、電気ノイズによる変動分が電圧信号Ｓ１，Ｓ２
から除去され、誤検出が防止される。

【００３６】次に、図８の第２の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では、布端検出判定手段となる
布端検出用信号処理回路４７が２つのローパスフィルタ
４０，４１と、１つの比較回路４２と、基準値設定回路
４４と、出力回路４８とから構成されている。ローパス
フィルタ４０，４１は図７の信号Ｄ１，Ｄ２を出力し、
比較回路４２は図７の信号Ｅ１，Ｅ２に相当する布端検
出信号を出力回路４８に出力する。出力回路４８は比較
回路４２から入力する布端検出信号に応答して検反無効
化信号を出力回路３９に出力すると共に、反転信号を速
度制御回路Ｃに出力する。

【００３７】この実施の形態においても第１の実施の形
態と同様の効果が得られる。次に、図９〜図１１の第２
の実施の形態を説明する。第１の実施の形態と同じ構成
部には同じ符号が付してある。

【００３８】この実施の形態では、図９に示すように幅
の異なる一対の受光素子４９，５０が検反用光電センサ
及び布端検出用光電センサとして用いられる。図１０の
検知範囲４９１は結像レンズ１８によって受光素子４９
上に結像される織布Ｗ上の範囲を表し、検知範囲５０１
は結像レンズ１８によって受光素子５０上に結像される
織布Ｗ上の範囲を表す。経糸Ｔの糸配列方向の検知範囲
４９１の幅ｈ１は経糸Ｔの糸配列ピッチＰ以下にしてあ
り、経糸Ｔの糸配列方向の検知範囲５０１の幅ｈ２は糸
配列ピッチＰの複数倍程度にしてある。

【００３９】図１０の回路は信号処理回路基板５１上の
検反用信号処理回路６９及び布端検出用信号処理回路２
２の回路構成を表す。受光素子４９は変換電流信号を電
流−電圧変換回路２８に出力し、受光素子５０は変換電
流信号を電流−電圧変換回路２９に出力する。電流−電
圧変換回路２８は変換電流信号を電圧信号Ｓ１に変換し
て差演算回路３０に出力する。電流−電圧変換回路２９
は変換電流信号を電圧信号Ｓ２に変換してゲイン調整回
路５２に出力する。ゲイン調整回路５２は電圧信号Ｓ２
を比較対象信号Ｓｏに変換して差演算回路３０に出力す
る。ゲイン調整回路５２は織布Ｗに欠点がない場合に受
光素子４９から得られる電気信号Ｓ１の平均値と同一レ
ベルに電圧信号Ｓ２を変換する。図１１の波形Ｓ１は電
流−電圧変換回路２８から出力される電圧信号を表し、
直線Ｓｏはゲイン調整回路５２から出力される電圧信号
を表す。

【００４０】差演算回路３０は電流−電圧変換回路２８
及びゲイン調整回路５２から入力する電圧信号Ｓ１，Ｓ
ｏの値の差を演算する。図１１の波形ΔＳは差演算回路
３０から出力される差信号を表す。差演算回路３０は演
算して得られた差信号ΔＳをバンドパスフィルタ３１を
経由して比較回路３２に出力する。検反用信号処理回路
６９における以後の信号処理は第１の実施の形態の場合
と同じである。

【００４１】欠点有無判定手段となる検反用信号処理回
路６９は差演算回路３０によって演算された差ΔＳに基
づいて欠点有無の判定を行なう。この差ΔＳの演算は照
明光、風綿といった外乱の影響による電気信号の変化を
排除する。

【００４２】電流−電圧変換回路２８は電圧信号Ｓ１を
ローパスフィルタ４０にも出力し、ゲイン調整回路５２
は比較対象信号Ｓｏをローパスフィルタ４１にも出力す
る。布端検出用信号処理回路２２における以後の信号処
理は第１の実施の形態の場合と同じである。

【００４３】この実施の形態においても第１の実施の形
態と同じ効果が得られる。次に、図１２の第４の実施の
形態を説明する。第２及び第３の実施の形態と同じ構成
部には同じ符号が付してある。

【００４４】この実施の形態では、電流−電圧変換回路
２８から出力される電圧信号Ｓ１がローパスフィルタ４
０にも送られ、ゲイン調整回路５２から出力される比較
対象信号Ｓｏがローパスフィルタ４１にも送られる。布
端検出用信号処理回路４７における以後の信号処理は第
２の実施の形態の場合と同じである。

【００４５】この実施の形態においても第１の実施の形
態と同様の効果が得られる。次に、図１３の第５の実施
の形態を説明する。第１の実施の形態と同じ構成部には
同じ符号が付してある。

【００４６】この実施の形態では、織布Ｗの布端Ｗｅの
直下に光反射体５３，５４が配設されている。光反射体
５３は緯入れ始端側の布端Ｗｅに対応しており、光反射
体５４は緯入れ末端側の布端Ｗｅに対応している。光反
射体５３の織幅方向の長さは短いが、光反射体５４の織
幅方向の長さは織幅変更による緯入れ末端側の布端Ｗｅ
の位置変化に対応した長さにしてある。

【００４７】図１４の曲線Ｓ１は電流−電圧変換回路２
８から出力される電圧信号を表し、曲線Ｓ２は電流−電
圧変換回路２９から出力される電圧信号を表す。図１４
の曲線Ｄ３はローパスフィルタ４０から出力される電圧
信号を表し、曲線Ｄ４はローパスフィルタ４１から出力
される電圧信号を表す。比較回路４２は入力した電圧信
号Ｄ３と基準値設定回路４４によって予め設定された基
準値Ｖ２とを比較する。比較回路４３は入力した電圧信
号Ｄ４と基準値設定回路４４によって予め設定された基
準値Ｖ２とを比較する。電圧信号Ｄ３の値が基準値Ｖ２
を越えると、比較回路４２は図１４に波形Ｅ３で示す信
号をＡＮＤ回路４５に出力する。電圧信号Ｄ４の値が基
準値Ｖ２を越えると、比較回路４３は図１４に波形Ｅ４
で示す信号をＡＮＤ回路４５に出力する。ＡＮＤ回路４
５は信号Ｅ３，Ｅ４が同時に入力したときに図１４に波
形Ｆで示す布端検出信号を出力回路４６に出力する。

【００４８】第５の実施の形態では以下の効果が得られ
る。 （５-1）織布Ｗの布端Ｗｅに対応して光ゲイン差増大手
段となる光反射体５３，５４を配置したため、受光素子
１９，２０の検知範囲１９１，２０１が布端Ｗｅから外
方へ外れると、投光器２３から投射された光が光反射体
５３，５４から受光素子１９，２０へ反射する。従っ
て、受光素子１９，２０が織布Ｗから得る光ゲインと、
受光素子１９，２０が布端Ｗｅの外方で光反射体５３，
５４から得る光ゲインとの差が第１の実施の形態の場合
に比して増大する。この実施の形態では基準値Ｖ２以下
のレベルが織布の布端を検出するための信号レベルを規
定する。織布Ｗから得られる光ゲインと布端Ｗｅの外方
から得られる光ゲインとの差が大きいほど基準値Ｖ２の
設定が容易となり、布端検出の精度が高くなる。 （５-2）織布Ｗの織幅を変える場合には、緯入れ始端側
の布端Ｗｅの位置を変えることなく緯入れ末端側の布端
Ｗｅの位置を変える。光反射体５４の織幅方向の長さは
織幅変更による緯入れ末端側の布端Ｗｅの位置変化に対
応した長さにしてあるため、織幅変更がある場合にも光
反射体５４の配置位置を変更する必要がない。

【００４９】次に、図１５及び図１６の第６の実施の形
態を説明する。第１及び第２の実施の形態と同じ構成部
には同じ符号が付してある。この実施の形態におけるセ
ンサヘッド５５は３つの反射鏡５６，５７，５８、一対
の棒状の凸レンズ５９，６０及びスリット板６１を備え
ている。スリット板６１は織布Ｗに対して平行に配置さ
れており、スリット板６１には一対のスリット６１１，
６１２が形成されている。スリット６１１，６１２は経
糸Ｙの糸方向に延びている。スリット６１１，６１２の
経糸Ｔの糸配列方向の幅は同じである。

【００５０】投光器２３から投射された平行光の行路は
反射鏡５６と交差する。反射鏡５６は織布Ｗの面に対し
て４５°に傾いており、反射鏡５６に当たった平行光は
スリット板６１に向けて反射される。スリット板６１に
向かった平行光は一対のスリット６１１，６１２を通過
する。スリット６１１，６１２を通過した２本の光は織
布Ｗに垂直に当たって反射散乱する。

【００５１】凸レンズ５９，６０は反射鏡５６からの反
射光の行路の左右両側に対称に配置されている。凸レン
ズ５９，６０の焦点は織布Ｗ上に設定されており、凸レ
ンズ５９，６０は織布Ｗからの反射光を平行光にする。
反射鏡５７は凸レンズ５９を出た平行光の行路上に配置
されており、反射鏡５８は凸レンズ６０を出た平行光の
行路上に配置されている。

【００５２】センサヘッド５５の走行方向の延長線上に
は受光器６２が設置されている。受光器６２は、容器６
３と、容器５３の底部に取り付けられた第１の光電セン
サとなる受光素子６４と、第２の光電センサとなる受光
素子６５と、容器６３の開口側に取り付けられた一対の
棒状の集光レンズ６６，６７と、受光素子６４，６５と
集光レンズ６６，６７との間に介在された抽出スリット
板６８とからなる。抽出スリット板６８には一対のスリ
ット６８１，６８２が形成されている。スリット６８１
は受光素子６４に対置しており、スリット６８２は受光
素子６５に対置している。集光レンズ６６の焦点はスリ
ット６８１の中央にあり、集光レンズ６７の焦点はスリ
ット６８２の中央にある。凸レンズ５９の光軸と集光レ
ンズ６６の光軸とは反射鏡５７の反射面上で交差し、凸
レンズ６０の光軸と集光レンズ６７の光軸とは反射鏡５
８の反射面上で交差する。

【００５３】反射鏡５７から反射された平行光は集光レ
ンズ６６に向かい、反射鏡５８から反射された平行光は
集光レンズ６７に向かう。集光レンズ６６は反射鏡５７
からの反射光をスリット６８１上に集光し、集光レンズ
６７は反射鏡５８からの反射光をスリット６８２上に集
光する。スリット６８１，６８２を通過した光は受光素
子６４，６５によって受光される。スリット６８１，６
８２は外乱光を排除する機能を持つ。

【００５４】図１６に示す５９１は凸レンズ５９による
織布Ｗ上の検知範囲を表し、６０１は凸レンズ６０によ
る織布Ｗ上の検知範囲を表す。凸レンズ５９は検知範囲
５９１から反射した散乱光の一部を平行光に集束し、凸
レンズ６０は検知範囲６０１から反射した散乱光の一部
を平行光に集束する。経糸Ｔの糸配列方向の検知範囲５
９１，６０１の幅ｈは経糸Ｔの糸配列ピッチＰ以下に設
定されている。両検知範囲５９１，６０１は、糸配列ピ
ッチＰの半分Ｐ／２と糸配列ピッチＰの整数倍との和だ
け経糸Ｔの糸配列方向へずらしてある。鎖線で示す位置
Ｐ１，Ｐ２は、スリット６１１，６１２を通過した光の
経路と織布Ｗとの交差中心、かつ凸レンズ５９，６０の
焦点中心である。検知範囲５９１からの反射散乱光は、
凸レンズ５９、反射鏡５７及び集光レンズ６６を経由し
て受光素子６４へ送られる。検知範囲６０１からの反射
散乱光は、凸レンズ６０、反射鏡５８及び集光レンズ６
７を経由して受光素子６５へ送られる。受光素子６４，
６５は受光量に応じた電気信号を電流−電圧変換回路２
８，２９へ送る。

【００５５】織布Ｗの表面は細かい凹凸になっており、
織布Ｗからの反射光は散乱する。各検知範囲５９１，６
０１から反射散乱する光を凸レンズ５９，６０によって
集めることによって得られる光ゲインは、第１の実施の
形態の場合に比して高くなる。しかも、経糸Ｔの糸配列
方向の検知範囲５９１，６０１の幅が糸配列ピッチＰ以
下にしてあるため、隣合う経糸配列位置の間の位置にお
ける反射光から得られる信号値と経糸配列位置における
反射光から得られる信号値との差が第１の実施の形態の
場合よりも大きくなる。このような差の大きさは図６の
差信号ΔＳの振幅を大きくし、第１の実施の形態におけ
る基準値Ｖの設定が容易となる。即ち、検反有無の判定
の精度が一層高くなる。

【００５６】電流−電圧変換回路２８，２９から出力さ
れる電圧信号Ｓ１，Ｓ２は布端検出用信号処理回路４７
を構成するローパスフィルタ４０，４１にも送られる。
以後の信号処理は第２の実施の形態と同じである。従っ
て、この実施の形態においても第２の実施の形態と同じ
効果が得られる。

【００５７】本発明では、布端検出専用の光電センサを
センサヘッドに搭載したり、布端検出専用の投光器をセ
ンサヘッドに搭載してもよい。又、光ゲイン差増大手段
として光反射体の代わりに投光器を設置してもよい。

【００５８】

【発明の効果】以上詳述したように本発明では、布端を
検出する光電センサから得られる電気信号の値と予め設
定された信号レベルとの比較に基づいて布端検出の判定
を行なうようにしたので、布端検出のための人手による
事前の準備を行なうことなく布端検出を遂行できるとい
う優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示す一部省略正面
図。

【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。

【図３】図１のＢ−Ｂ線断面図。

【図４】織布上の検知範囲と信号処理回路との組み合わ
せ図。

【図５】検知範囲の走査領域を示す平面図。

【図６】信号処理回路における信号処理を説明するグラ
フ。

【図７】布端用信号処理回路における信号処理を説明す
るグラフ。

【図８】第２の実施の形態を示す織布上の検知範囲と信
号処理回路との組み合わせ図。

【図９】第３の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図１０】織布上の検知範囲と信号処理回路との組み合
わせ図。

【図１１】信号処理回路における信号処理を説明するグ
ラフ。

【図１２】第４の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
信号処理回路との組み合わせ図。

【図１３】第５の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図１４】布端用信号処理回路における信号処理を説明
するグラフ。

【図１５】第６の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図１６】織布上の検知範囲と信号処理回路との組み合
わせ図。

【符号の説明】 １４…センサヘッド、１９，２０…検反用光電センサ及
び布端検出用光電センサとなる受光素子、２１…欠点有
無判定手段となる検反用信号処理回路、２２…布端検出
判定手段となる布端検出用信号処理回路、２３…布端検
出に用いる投光器、４７…布端検出判定手段となる布端
検出用信号処理回路、４９，５０…検反用光電センサ及
び布端検出用光電センサとなる受光素子、５３，５４…
光ゲイン差増大手段となる光反射体、６４，６５…検反
用光電センサ及び布端検出用光電センサとなる受光素
子。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｄ０６Ｈ 3/12 Ｄ０６Ｈ 3/12 Ｇ０１Ｎ 21/89 Ｇ０１Ｎ 21/89 Ｃ

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】織布の織り状態を反映する光を拾いながら
   移動するセンサヘッドを備え、前記光の受光量に応じた
   電気信号を出力して織布の欠点を検出する織布検反方法
   において、 織布の布端を検出できる信号レベルを予め設定してお
   き、センサヘッド上に搭載された光電センサによって得
   られる電気信号の値が前記信号レベルから外れたときに
   は布端を検出したときとする織布検反方法。
2. 【請求項２】検反用光電センサを布端検出用光電センサ
   として用いる請求項１に記載の織布検反方法。
3. 【請求項３】織布の織り状態を反映する光を得るために
   織布に向けて投射される検反用投光を布端検出に用いる
   請求項１及び請求項２のいずれか１項に記載の織布検反
   方法。
4. 【請求項４】織布の織り状態を反映する光を拾いながら
   移動するセンサヘッドを備え、前記光の受光量に応じた
   電気信号を出力して織布の欠点を検出する織布検反装置
   において、 織布の布端を検出できるセンサヘッド上に搭載された光
   電センサと、 前記光電センサから得られる電気信号の値と予め設定さ
   れた信号レベルとの比較に基づいて布端検出の判定を行
   なう布端検出判定手段とを備えた織布検反装置。
5. 【請求項５】布端検出用光電センサは検反用光電センサ
   である請求項４に記載の織布検反装置。
6. 【請求項６】織布の布端に対応して光ゲイン差増大手段
   を配置し、織布から得られる光ゲインと、布端の外方か
   ら得られる光ゲインとの差を増大するようにした請求項
   ４及び請求項５のいずれか１項に記載の織布検反装置。
7. 【請求項７】光ゲイン差増大手段は光反射体である請求
   項６に記載の織布検反装置。
8. 【請求項８】欠点有無の判定を行なう欠点有無判定手段
   を備え、布端検出判定手段は、布端の検出をしたときに
   は欠点有無判定手段の判定を無効化する無効化信号を出
   力する請求項４乃至請求項７のいずれか１項に記載の織
   布検反装置。