JPH10212659A - 織布検反方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】緯糸欠点の検出精度を高める。 【解決手段】センサヘッド１４上の投光器２０から投射
される光の投射方向は、検知範囲１９１を指向して織布
Ｗ上の緯糸Ｙの糸方向を向くように織布Ｗに対して傾け
られた方向である。投光器２１から投射される光の投射
方向は、検知範囲１９１を指向して織布Ｗ上の経糸Ｔの
長手方向を向くように織布面Ｗに対して傾けられた方向
である。信号処理−判別回路基板２２は、投光器２０，
２１の光投射を交互に切り換えると共に、投光器２０か
らの投光に基づいて経糸欠点有無の判別及び投光器２１
からの投光に基づいて緯糸欠点有無の判別を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、織布の織り状態を
反映する光を光電センサを用いて計測し、前記光電セン
サの出力を用いて織布の欠点を検出する織布検反方法及
び装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の織布検反装置が特開昭６０−２
３１８５０号公報に開示されている。走査ヘッド（本願
でいうセンサヘッド）に組み込まれた光源から織布上に
投射された光の反射光は感光セルによって受光される。
光の経路上には光学レンズ系が設置されており、投射光
あるいは反射光の集光、平行化等の必要な光学的処理が
光学レンズ系によって行われる。感光セルは受光量に応
じた電気信号を出力し、この電気信号が評価ユニットで
評価される。織布の欠点の検出は、経糸関係の欠点及び
緯糸関係の欠点の両方について行われる。このうち、緯
糸関係の欠点の検出は、走査ヘッドによる織布の織幅分
の走査毎の全受光量をメモリに記憶し、この全受光量か
ら欠点の有無の判別が行われる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】経糸の欠点は発生した
ときの影響が大きいことから経糸の欠点の検出感度を高
めるため、受光量を平均化して経糸の欠点検出に対する
緯糸の影響を軽減することが望ましい。そのため、走査
ヘッドの走査領域が経糸の長手方向に長くしてあり、光
は前記走査領域を指向して織布上の緯糸の長手方向を向
くように織布面に対して傾けられた方向から投射され
る。このような走査領域の設定によって緯糸からの受光
量の平均化が行われる。

【０００４】しかし、このような緯糸からの受光量の平
均化は、前記全受光量に混入される外乱あるいは偽欠点
と本来の緯糸欠点との区別を難しくし、誤検出が生じ易
い。本発明は、緯糸欠点の検出精度を高めることを目的
とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そのために請求項１乃至
請求項３の発明では、織布の織り状態を反映する光を光
電センサを用いて計測し、前記光電センサの出力を用い
て織布の欠点を検出する織布検反方法を対象とし、請求
項１の発明では、前記光電センサの織布上の検知範囲に
対して織布上の経糸の長手方向を向くように織布面に対
して傾けられた方向から緯糸欠点検出用の光を投射して
緯糸欠点の有無の判別を行なうようにした。

【０００６】緯糸欠点検出用の光の前記投射方向は、緯
糸の長手方向への光投射に比して織布上に投影される緯
糸の陰影の面積を増大させ、緯糸欠点が前記陰影の面積
の増大によって強調される。

【０００７】請求項２の発明では、前記光電センサの織
布上の検知範囲に経糸欠点検出用の光と緯糸欠点検出用
の光とを別々の方向から投射し、経糸欠点検出用の投射
光に基づいて経糸欠点の有無の判別を行ない、緯糸欠点
検出用の投射光に基づいて緯糸欠点の有無の判別を行な
うようにした。

【０００８】経糸及び緯糸の各欠点の判別がそれぞれに
適した光の投射に対応して行われる。請求項３の発明で
は、前記経糸欠点検出用の光の投射方向は、前記検知範
囲を指向して織布上の緯糸の長手方向を向くように織布
面に対して傾けられた方向とした。

【０００９】経糸欠点検出用の光の前記投射方向は、経
糸欠点検出の有無の判別に最適である。請求項４乃至請
求項６の発明では、織布の織り状態を反映する光を光電
センサを用いて計測し、前記光電センサの出力を用いて
織布の欠点を検出する織布検反装置を対象とし、請求項
４の発明では、織布上に検知範囲を持つ光電センサと、
織布上の緯糸の欠点を検出するために織布に光を投射す
る緯糸欠点検出用の投光手段と、織布上の緯糸の欠点の
有無を判別するための緯糸欠点判別手段とを備えた織布
検反装置を構成し、前記緯糸欠点検出用の投光手段の光
投射方向は、前記検知範囲を指向して織布上の経糸の長
手方向を向くように織布面に対して傾けられた方向とし
た。

【００１０】緯糸欠点検出用の投光手段によって投射さ
れた光の前記投射方向は、緯糸の長手方向への光投射に
比して織布上に投影される緯糸の陰影の面積を増大さ
せ、緯糸欠点が前記陰影の面積の増大によって強調され
る。緯糸欠点判別手段は、緯糸欠点検出用の投光手段に
よって投射された光の織布からの反射光の受光量に基づ
いて緯糸の欠点の有無を判別する。

【００１１】請求項５の発明では、請求項４において、
織布上の経糸の欠点を検出するために織布に光を投射す
る経糸欠点検出用の投光手段と、織布上の経糸の欠点の
有無を判別するための経糸欠点判別手段と、前記経糸欠
点検出用の投光手段と緯糸欠点検出用の投光手段とのど
ちらか一方の光を投射させ、前記経糸欠点検出用の投光
手段から光を投射したときに前記経糸欠点判別手段の判
別機能を働かせ、前記緯糸欠点検出用の投光手段から光
を投射したときに前記緯糸欠点判別手段の判別機能を働
かせる判別機能選択手段とを備えた織布検反装置を構成
した。

【００１２】判別機能選択手段は経糸欠点検出用の投光
手段から光を投射したときに前記経糸欠点判別手段の判
別機能を働かせ、経糸欠点判別手段は経糸欠点検出用の
投光手段によって投射された光の織布からの反射光の受
光量に基づいて経糸の欠点の有無を判別する。判別機能
選択手段は緯糸欠点検出用の投光手段から光を投射した
ときに前記緯糸欠点判別手段の判別機能を働かせ、緯糸
欠点判別手段は緯糸欠点検出用の投光手段によって投射
された光の織布からの反射光の受光量に基づいて緯糸の
欠点の有無を判別する。

【００１３】請求項６の発明では、前記経糸欠点検出用
の投光手段の光投射方向は、前記検知範囲を指向して織
布上の緯糸の長手方向を向くように織布面に対して傾け
られた方向とした。

【００１４】経糸欠点検出用の投光手段から投射される
光の前記投射方向は、経糸欠点検出の有無の判別に最適
である。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、織機上の織布検反装置に本
発明を具体化した第１の実施の形態を図１〜図５に基づ
いて説明する。

【００１６】図１に示すように織布Ｗの上方にはレール
１１及び無端状ベルト１２が織布Ｗの織り幅方向、即ち
緯糸Ｙ（図４に図示）の長手方向に配設されている。無
端状ベルト１２は図３に示すステッピングモータ１３の
駆動プーリ１５と図２に示すガイドプーリ１６とに掛け
渡されている。無端状ベルト１２はステッピングモータ
１３の往復駆動によって往復周回する。無端状ベルト１
２にはセンサヘッド１４が止着されている。センサヘッ
ド１４はスライダ１４１を介してレール１１に装着され
ている。センサヘッド１４は無端状ベルト１２の往復周
回によってレール１１に沿って往復動する。

【００１７】センサヘッド１４は、支持筒１７、支持筒
１７内に収容された結像レンズ１８、光電センサとなる
受光素子１９、支持筒１７の周面に取り付けられた一対
の投光器２０，２１、信号処理−判別回路基板２２及び
光送信器３５を備えている。

【００１８】図５の検知範囲１９１は結像レンズ１８に
よって受光素子１９上に結像される織布Ｗ上の範囲を表
す。緯糸Ｙの長手方向の検知範囲１９１の幅Ｈは経糸Ｔ
の糸配列ピッチＰよりも小さくしてある。又、検知範囲
１９１の経糸Ｔの長手方向の長さＬは緯糸Ｙを例えば１
０本程度含むぐらいの長さにしてある。投光器２０から
投射される光の投射方向は、検知範囲１９１を指向して
織布Ｗ上の緯糸Ｙの長手方向を向くように織布Ｗに対し
て傾けられた方向である。投光器２１から投射される光
の投射方向は、検知範囲１９１を指向して織布Ｗ上の経
糸Ｔの長手方向を向くように織布Ｗに対して傾けられた
方向である。

【００１９】図４（ａ），（ｂ）の右向きの矢印Ｑ１で
囲まれた領域はセンサヘッド１４の右方向への移動によ
る織布Ｗ上における検知範囲１９１の走査範囲を表す。
左向きの矢印Ｑ２で囲まれた領域はセンサヘッド１４の
左方向への移動による織布Ｗ上における検知範囲１９１
の走査範囲を表す。織布Ｗは矢印Ｒの方向に移動する。

【００２０】受光素子１９は受け取った光を電流に変換
する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信号にな
る。図５は信号処理−判別回路基板２２上の回路構成を
表す。受光素子１９は変換電流信号を電流−電圧変換回
路２３，２４に出力し、電流−電圧変換回路２３，２４
は変換電流信号を電圧信号に変換すると共に、アナログ
−デジタル変換回路２５，２６（以下、Ａ／Ｄ変換回路
２５，２６と表す）に変換電圧信号を出力する。Ａ／Ｄ
変換回路２５，２６は変換電圧信号をデジタル信号に変
換する。Ａ／Ｄ変換回路２５，２６にはタイミング制御
回路２７が信号接続されている。タイミング制御回路２
７は、Ａ／Ｄ変換回路２５，２６の機能を有効化する状
態と機能を無効化する状態とにＡ／Ｄ変換回路２５，２
６を交互に切り換える。Ａ／Ｄ変換回路２５が機能有効
化状態にあるときには、Ａ／Ｄ変換回路２５は変換電圧
信号をデジタル信号に変換すると共に、記憶回路２８に
デジタル信号を出力する。Ａ／Ｄ変換回路２６が機能有
効化状態にあるときには、Ａ／Ｄ変換回路２６は変換電
圧信号をデジタル信号に変換すると共に、記憶回路２９
にデジタル信号を出力する。記憶回路２８，２９は入力
するデジタル信号情報を記憶する。

【００２１】図５に示すように、投光器２０，２１の駆
動回路２０１，２１１にはタイミング制御回路２７が信
号接続されている。タイミング制御回路２７は、Ａ／Ｄ
変換回路２５，２６の機能の有効化と無効化との２状態
を切り換えるタイミングで駆動回路２０１，２１１の作
動を切り換える。Ａ／Ｄ変換回路２５が機能有効化状態
に切り換えられたときには駆動回路２０１が作動され、
投光器２０が光を投射する。図４（ａ）の白抜き矢印は
投光器２０からの光投射を表す。Ａ／Ｄ変換回路２６が
機能有効化状態に切り換えられたときには駆動回路２１
１が作動され、投光器２１が光を投射する。図４（ｂ）
の白抜き矢印は投光器２１からの光投射を表す。投光器
２０，２１からの光投射の切り換えは経糸の配列状態を
十分に計測する程度に短時間で行ない、例えばセンサヘ
ッド１４が経糸Ｔの配列ピッチＰの１／１０程度を移動
する毎に行なう。

【００２２】記憶回路２８，２９には信号処理回路３
０，３１が信号接続されている。信号処理回路３０，３
１は記憶回路２８，２９に記憶されたデジタル信号情報
を欠点有無の判別に適するように信号処理する。信号処
理回路３０，３１には判別回路３２，３３が信号接続さ
れている。判別回路３２は信号処理回路３０によって処
理された信号情報に基づいて経糸Ｔの欠点の有無を判別
する。判別回路３３は信号処理回路３１によって処理さ
れた信号情報に基づいて緯糸Ｙの欠点の有無を判別す
る。

【００２３】判別回路３２は、電流−電圧変換回路２
３、Ａ／Ｄ変換回路２５、記憶回路２８、信号処理回路
３０と共に経糸欠点判別手段を構成する。判別回路３３
は、電流−電圧変換回路２４、Ａ／Ｄ変換回路２６、記
憶回路２９、信号処理回路３１と共に緯糸欠点判別手段
を構成する。

【００２４】経糸欠点がある場合には判別回路３２は出
力回路３４に対して欠点検出信号を出力し、緯糸欠点が
ある場合には判別回路３３は出力回路３４に対して欠点
検出信号を出力する。出力回路３４は、判別回路３２あ
るいは判別回路３３から出力される欠点検出信号の入力
に応じて製織停止信号を光送信器３５に出力する。光送
信器３５はこの製織停止信号を通信光に変換して発信す
る。

【００２５】織布Ｗの織幅外には光受信器３６が設置さ
れている。光受信器３６は光送信器３５から発信された
通信光を受信する。光受信器３６は受信した通信光を電
気的製織停止信号に変換して出力する。この出力により
製織が停止する。

【００２６】第１の実施の形態では以下の効果が得られ
る。 （１-1）投光器２１から投射される光は、緯糸Ｙの長手
方向への光投射に比して織布Ｗ上に投影される緯糸Ｙの
陰影の面積を増大させ、緯糸欠点が陰影Ｋの面積の増大
によって強調される。投光器２１から投射される光は緯
糸欠点検出用の光であり、緯糸欠点の有無の判別は、検
知範囲１９１に対して織布Ｗ上の経糸Ｔの長手方向を向
くように織布Ｗに対して傾けられた方向から緯糸欠点検
出用の光を投射して行われる。このような投射光に基づ
く緯糸欠点の有無の判別は、緯糸欠点検出の精度を高め
る。 （１-2）通常、緯糸欠点検出は経糸欠点検出に比して難
しいが、本実施の形態では緯糸欠点検出のための信号処
理は経糸欠点検出のための信号処理の場合と同じに行わ
れる。これは、検知範囲１９１に対して織布Ｗ上の経糸
Ｔの長手方向を向くように織布Ｗに対して傾けられた方
向から緯糸欠点検出用の光を投射して緯糸欠点を強調す
ることによって可能となる。経糸欠点検出のための信号
処理の場合と同じように緯糸欠点検出のための信号処理
を行なう構成は、欠点有無の判別のための回路構成の簡
素化をもたらす。

【００２７】無論、経糸欠点と緯糸欠点との信号処理回
路を個別に設け、欠点の検出感度を変更するなど、処理
方法を変更することもできる。 （１-3）経糸欠点の有無の判別は、検知範囲１９１に対
して織布Ｗ上の緯糸Ｙの長手方向を向くように織布Ｗに
対して傾けられた方向から経糸欠点検出用の光を投射し
て行われる。投光器２０から投射される経糸欠点検出用
の光の前記投射方向は、経糸欠点検出の有無の判別に最
適である。 （１-4）判別機能選択手段となるタイミング制御回路２
７は、経糸欠点検出用の投光手段となる投光器２０から
光を投射したときにＡ／Ｄ変換回路２５の機能を有効に
する。又、タイミング制御回路２７は、緯糸欠点検出用
の投光手段となる投光器２１から光を投射したときにＡ
／Ｄ変換回路２６の機能を有効にする。従って、タイミ
ング制御回路２７は、投光器２０から光を投射したとき
にＡ／Ｄ変換回路２５を含む経糸欠点判別手段の判別機
能を働かせ、投光器２１から光を投射したときにＡ／Ｄ
変換回路２６を含む緯糸欠点判別手段の判別機能を働か
せる。このような判別機能の切り換え構成では光電セン
サは受光素子１９の１つで済み、装置構成が簡素にな
る。 （１-5）センサヘッド１４はステッピングモータ１３の
作動によってレール１１上を往復走行する。ステッピン
グモータ１３の採用は、センサヘッド１４の走行位置の
情報の確保、速度の安定化等の観点から好適である。ス
テッピングモータ１３は入力パルスに応じて移動する。
レール１１とスライダ１４１との間にガタがある場合に
はステッピングモータ１３の移動によりセンサヘッド１
４が振動する。この振動によって投光器２０からの投射
光の織布Ｗに対する投射角度（図１にαで示す）が変化
するが、投光器２１からの投射光の織布Ｗに対する投射
角度（図２にβで示す）は変化しない。経糸欠点の検出
に比して難しい緯糸欠点の検出では、緯糸欠点検出用の
投射光の投射角度の変動も緯糸欠点検出精度を低下させ
る。しかし、検知範囲１９１に対して織布Ｗ上の経糸Ｔ
の長手方向を向くように織布Ｗに対して傾けられた方向
から緯糸欠点検出用の光を投射する構成では、緯糸欠点
検出用の投射光の投射角度が変動することはない。従っ
て、緯糸欠点の有無の判別のために検知範囲１９１に対
して織布Ｗ上の経糸Ｔの長手方向を向くように織布Ｗに
対して傾けられた方向から緯糸欠点検出用の光を投射す
る構成は、センサヘッド１４の組み付け構成における高
い組み付け精度の要求を回避するうえで好ましい。

【００２８】次に、図６〜図９の第２の実施の形態を説
明する。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が
付してある。図６に示すように受光素子３７，３８は織
布Ｗの経糸Ｔの長手方向に対して直列に配設されてい
る。図７において領域３７１は受光素子３７の検知範囲
を表し、同様に領域３８１は受光素子３８の検知範囲を
表す。図８に示すように受光素子３７は変換電流信号を
電流−電圧変換回路３９に出力し、受光素子３８は変換
電流信号を電流−電圧変換回路４０に出力する。電流−
電圧変換回路３９は変換電流信号を電圧信号に変換して
和演算回路４１及び差演算回路４２に出力する。電流−
電圧変換回路４０は変換電流信号を電圧信号に変換して
和演算回路４１及び差演算回路４２に出力する。和演算
回路４１は電圧信号を加算し、差演算回路４２は電流−
電圧変換回路３９から出力された電圧信号の値から電流
−電圧変換回路４０から出力された電圧信号の値を減算
する。

【００２９】和演算回路４１及び差演算回路４２にはタ
イミング制御回路２７が信号接続されている。タイミン
グ制御回路２７は、和演算回路４１及び差演算回路４２
の機能を有効化する状態と機能を無効化する状態とに和
演算回路４１及び差演算回路４２を交互に切り換える。
タイミング制御回路２７は、和演算回路４１及び差演算
回路４２の機能の有効化と無効化との２状態を切り換え
るタイミングで駆動回路２０１，２１１の作動を切り換
える。和演算回路４１が機能有効化状態に切り換えられ
たときには駆動回路２０１が作動され、投光器２０が光
を投射する。図７（ａ）の白抜き矢印は投光器２０から
の光投射を表す。差演算回路４２が機能有効化状態に切
り換えられたときには駆動回路２１１が作動され、投光
器２１が光を投射する。図７（ｂ）の白抜き矢印は投光
器２１からの光投射を表す。

【００３０】和演算回路４１は演算して得られた和信号
Ｓ34を比較回路４３に出力する。比較回路４３は入力し
た和信号Ｓ34と予め基準値設定回路４４によって設定さ
れた基準値Ｖ３と比較する。和信号Ｓ34の値が基準値Ｖ
３を越えた場合には比較回路４３は出力回路３４に欠点
検出信号Ｓ_T を出力する。和信号Ｓ34の値が基準値Ｖ３
以下の場合には比較回路４３は出力回路３４に欠点検出
信号Ｓ_T を出力しない。差演算回路４２は演算して得ら
れた差信号ΔＳ12を比較回路４５に出力する。

【００３１】図９（ｅ）の曲線Ｍは、投光器２０からの
光投射によって電流−電圧変換回路３９から出力される
電圧信号Ｓ３の一例を表す。図９（ｆ）の曲線Ｎは、投
光器２０からの光投射によって電流−電圧変換回路４０
から出力される電圧信号Ｓ４の一例を表す。図９（ｇ）
の曲線Ｏは曲線Ｍと曲線Ｎとを加算して得られた和信号
Ｓ34を表す。図９（ｅ）〜図９（ｇ）の横軸はいずれも
時間を表し、図９（ｅ）〜図９（ｇ）の縦軸はいずれも
電圧を表す。

【００３２】図９（ａ）の曲線Ｉは、投光器２１からの
光投射によって電流−電圧変換回路３９から出力される
電圧信号Ｓ１を表し、図９（ｂ）の曲線Ｊは、投光器２
１からの光投射によって電流−電圧変換回路４０から出
力される電圧信号Ｓ２を表す。図９（ｃ）の曲線Ｋは曲
線Ｉの値から曲線Ｊの値を引いて得られた差信号ΔＳ12
を表す。図９（ｄ）の方形波Ｌ１，Ｌ２は比較回路４５
から出力された欠点検出信号Ｓ_Y を表す。図９（ａ）〜
図９（ｄ）の横軸はいずれも時間を表し、図９（ａ）〜
図９（ｃ）の縦軸はいずれも電圧を表す。

【００３３】曲線Ｉの突出部Ｉ１は受光素子３７によっ
て検出された緯糸Ｙに関する欠点を表す。曲線Ｊの突出
部Ｊ１は受光素子３８によって検出された緯糸Ｙに関す
る欠点を表す。突出部Ｉ１，Ｊ１の時間差は緯糸Ｙの長
手方向に移動する受光素子３７，３８を経糸Ｔの長手方
向に並べたことによって生じる。曲線Ｋの突出部Ｋ１
は、突出部Ｉ１とこの突出部Ｉ１の時間領域に対応する
曲線Ｊの略平坦な部分との差である。曲線Ｋの突出部Ｋ
２は、突出部Ｊ１とこの突出部Ｊ１の時間領域に対応す
る曲線Ｉの略平坦な部分との差である。方形波Ｌ１の時
間幅ｔ１は基準値Ｖ１を越える突出部Ｋ１の時間幅に対
応し、方形波Ｌ２の時間幅ｔ２は基準値Ｖ２を下回る突
出部Ｋ２の時間幅に対応する。

【００３４】緯糸Ｙがループ状態、途中切れ等の欠点を
起こしている場合、受光素子３７，３８における受光量
は織布Ｗ上の緯糸による欠点部分と正常部分とでは異な
り、曲線Ｉ，Ｊの突出部Ｉ１，Ｊ１で示すような電圧信
号Ｓ１，Ｓ２の変動が得られる。方形波Ｌ１，Ｌ２によ
って表される欠点検出信号Ｓ_Y の出力は、受光素子３
７，３８から得られる電圧信号Ｓ１，Ｓ２の差信号ΔＳ
12と、基準値設定回路４９によって設定された基準値Ｖ
１，Ｖ２との比較結果に基づいて判定される。

【００３５】比較回路４５は入力した差信号ΔＳ12と基
準値Ｖ１，Ｖ２とを比較する。差信号ΔＳ12の値が範囲
〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れた場合には比較回路４５はカウ
ンタ４６に確認要求信号Ｃ_Y を出力する。差信号ΔＳ12
の値が範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内にある場合には比較回路４
５はカウンタ４６に確認要求信号Ｃ_Y を出力しない。カ
ウンタ４６にはラッチ回路４７及びクロック４８が信号
接続されている。ラッチ回路４７には時間ｔｏが格納さ
れている。カウンタ４６はクロック４８の計測時間と設
定時間ｔｏとの比較に基づいて欠点検出信号Ｓ_Y を出力
するか否かを判定する。

【００３６】設定時間ｔｏは以下のようにして決められ
る。緯糸に関する欠点の検出の時間幅ｔ_Y 及び経糸に関
する欠点の検出の時間幅ｔ_T は次式（１），（２）で表
される。

【００３７】ｔ_Y ＝（Ｌ_T ＋Ｄ_Y ）／Ｖ_T ・・・（１） ｔ_T ＝（Ｌ_Y ＋Ｄ_T ）／Ｖ_Y ・・・（２） 但し、Ｌ_T は検知範囲３７１，３８１の経糸Ｔの長手方
向の幅を表し、Ｌ_Y は検知範囲３７１，３８１の緯糸Ｙ
の長手方向の幅を表す。Ｄ_Y は緯糸に関する欠点の幅を
表し、Ｄ_T は経糸に関する欠点の幅を表す。Ｖ_T は織布
Ｗに対する検知範囲３７１，３８１の経糸Ｔの長手方向
の相対移動速度を表し、Ｖ_Y は織布Ｗに対する検知範囲
３７１，３８１の緯糸Ｙの長手方向の相対移動速度を表
す。相対移動速度Ｖ_T は織布Ｗの移動速度である。

【００３８】経糸に関する欠点としては所謂経筋がある
が、欠点とは言えない微小な隙間が織布上に断続的に生
じることがある。このような隙間（以下、偽欠点とい
う）は経糸密度が高い場合に生じ易い。偽欠点に関する
緯糸Ｙの長手方向の幅は大きくても経糸Ｔの配列の１ピ
ッチ程度であり、筬羽の間隔程度に設定された幅Ｌ_Y よ
りも小さい。従って、式（２）における幅Ｄ_T が偽欠点
のものであるならば、式（２）における幅Ｄ_T をＬ_Y に
置き換えることによって次式（３）が得られる。

【００３９】ｔ_T ＜２Ｌ_Y ／Ｖ_Y ・・・（３） 又、式（１）における幅Ｄ_Y を零とすることによって次
式（４）が得られる。 ｔ_Y ＞Ｌ_T ／Ｖ_T ・・・（４） 式（３），（４）から次式（５）が得られる。

【００４０】２Ｌ_Y ／Ｖ_X ≦Ｌ_T ／Ｖ_T ・・・（５） 式（５）を変形して次式（６）が得られる。 Ｖ_Y ≧（２Ｌ_Y ／Ｌ_T ）・Ｖ_T ・・・（６） 従って、式（６）の条件を満足する移動速度Ｖ_Y でセン
サヘッド１４を移動すれば次式（７）が成立する。

【００４１】ｔ_Y ＜ｔ_T ・・・（７） 式（７）における時間幅ｔ_T は偽欠点に関するものであ
り、時間幅ｔ_Y は緯糸に関する欠点のものである。従っ
て、式（６）の条件を満足する移動速度Ｖ_Y でセンサヘ
ッド１４を移動すれば、緯糸欠点と偽欠点とを識別する
ことができる。

【００４２】第２の実施の形態では以下の効果が得られ
る。 （２-1）緯糸欠点と偽欠点との識別のために式（４），
（５）におけるＬ_T ／Ｖ _T を設定時間ｔｏとして決定
し、時間幅ｔ_Y が設定時間ｔｏ以上であれば時間幅ｔ_Y
をもたらす方形波Ｌ１又はＬ２が実際の緯糸欠点を表
す。ラッチ回路４７及びクロック４８と共に偽欠点判定
手段を構成するカウンタ４６は、方形波Ｌ１の時間幅ｔ
１又は方形波Ｌ２の時間幅ｔ２が設定時間ｔｏ以上の場
合に欠点検出信号Ｓ_Y を出力する。このような識別判定
により偽欠点と緯糸欠点とを識別して緯糸に関する欠点
の有無という検反の精度を高めることができる。 （２-2）投光器２１から投射される光は、緯糸Ｙの長手
方向への光投射に比して織布Ｗ上に投影される緯糸Ｙの
陰影の面積を増大させ、緯糸欠点が陰影の面積の増大に
よって強調される。このような緯糸欠点の強調は、緯糸
欠点と偽欠点との識別の精度を高める。 （２-3）和演算回路４１は受光素子３７，３８を一体化
して経糸Ｔの長手方向の検知範囲を拡げる。このような
検知範囲の拡張により経糸に関する欠点の検出力が向上
する。 （２-4）電圧信号Ｓ１，Ｓ２には外乱による変化分が入
り込んでいる。しかし、電圧信号Ｓ１，Ｓ２の差をとっ
た差信号ΔＳ12では各電圧信号Ｓ１，Ｓ２に入り込んで
いた外乱による変化分がほぼ相殺される。又、受光素子
３７，３８が経糸Ｔの長手方向に直列に配設されている
ため、経糸Ｔからの反射光による電気信号の変化分も相
殺される。従って、差信号ΔＳ12は緯糸Ｙに関する欠点
の有無を高精度で反映しており、差信号ΔＳ12と基準値
Ｖ１，Ｖ２との比較は緯糸Ｙに関する欠点の有無という
検反の精度を高める。

【００４３】

【発明の効果】以上詳述したように本発明では、光電セ
ンサの織布上の検知範囲に対して織布上の経糸の長手方
向を向くように織布面に対して傾けられた方向から緯糸
欠点検出用の光を投射して緯糸欠点の有無の判別を行な
うようにしたので、緯糸欠点の検出精度を高め得るとい
う優れた効果を奏する。

【００４４】単一の光電センサの織布上の検知範囲に経
糸欠点検出用の光と緯糸欠点検出用の光とを別々の方向
から投射し、経糸欠点検出用の投射光に基づいて経糸欠
点の有無の判別を行ない、緯糸欠点検出用の投射光に基
づいて緯糸欠点の有無の判別を行なうようにした発明で
は、装置構成が簡素になるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。

【図３】図１のＢ−Ｂ線断面図。

【図４】検知範囲の走査領域を示し、（ａ）は経糸欠点
検出用の光の投射を示す平面図。（ｂ）は緯糸欠点検出
用の光の投射を示す平面図。

【図５】織布上の検知範囲と信号処理−判別回路との組
み合わせ図。

【図６】第２の実施の形態を示す断面図。

【図７】検知範囲の走査領域を示し、（ａ）は経糸欠点
検出用の光の投射を示す平面図。（ｂ）は緯糸欠点検出
用の光の投射を示す平面図。

【図８】織布上の検知範囲と信号処理−判別回路との組
み合わせ図。

【図９】信号処理を示すグラフ。

【符号の説明】 １４…センサヘッド、１９…光電センサとなる受光素
子、２０…経糸欠点検出用の投光手段となる投光器、２
１…緯糸欠点検出用の投光手段となる投光器、２３…経
糸欠点判別手段を構成する電流−電圧変換回路、２５…
経糸欠点判別手段を構成するＡ／Ｄ変換回路、２８…経
糸欠点判別手段を構成する記憶回路、３０…経糸欠点判
別手段を構成する信号処理回路、３２…経糸欠点判別手
段を構成する判別回路、２４…緯糸欠点判別手段を構成
する電流−電圧変換回路、２６…緯糸欠点判別手段を構
成するＡ／Ｄ変換回路、２９…緯糸欠点判別手段を構成
する記憶回路、３１…緯糸欠点判別手段を構成する信号
処理回路、３３…緯糸欠点判別手段を構成する判別回
路、２７…判別機能選択手段となるタイミング制御回
路。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】織布の織り状態を反映する光を光電センサ
   を用いて計測し、前記光電センサの出力を用いて織布の
   欠点を検出する織布検反方法において、 前記光電センサの織布上の検知範囲に対して織布上の経
   糸の長手方向を向くように織布面に対して傾けられた方
   向から緯糸欠点検出用の光を投射して緯糸欠点の有無の
   判別を行なう織布検反方法。
2. 【請求項２】前記光電センサの織布上の検知範囲に経糸
   欠点検出用の光と緯糸欠点検出用の光とを別々の方向か
   ら投射し、経糸欠点検出用の投射光に基づいて経糸欠点
   の有無の判別を行ない、緯糸欠点検出用の投射光に基づ
   いて緯糸欠点の有無の判別を行なう請求項１に記載の織
   布検反方法。
3. 【請求項３】前記経糸欠点検出用の光の投射方向は、前
   記検知範囲を指向して織布上の緯糸の長手方向を向くよ
   うに織布面に対して傾けられた方向である請求項２に記
   載の織布検反方法。
4. 【請求項４】織布の織り状態を反映する光を光電センサ
   を用いて計測し、前記光電センサの出力を用いて織布の
   欠点を検出する織布検反装置において、 織布上に検知範囲を持つ光電センサと、 織布上の緯糸の欠点を検出するために織布に光を投射す
   る緯糸欠点検出用の投光手段と、 織布上の緯糸の欠点の有無を判別するための緯糸欠点判
   別手段とを備え、 前記緯糸欠点検出用の投光手段の光投射方向は、前記検
   知範囲を指向して織布上の経糸の長手方向を向くように
   織布面に対して傾けられた方向とした織布検反装置。
5. 【請求項５】請求項４において、 織布上の経糸の欠点を検出するために織布に光を投射す
   る経糸欠点検出用の投光手段と、 織布上の経糸の欠点の有無を判別するための経糸欠点判
   別手段と、 前記経糸欠点検出用の投光手段と緯糸欠点検出用の投光
   手段とのどちらか一方の光を投射させ、前記経糸欠点検
   出用の投光手段から光を投射したときに前記経糸欠点判
   別手段の判別機能を働かせ、前記緯糸欠点検出用の投光
   手段から光を投射したときに前記緯糸欠点判別手段の判
   別機能を働かせる判別機能選択手段とを備えた織布検反
   装置。
6. 【請求項６】前記経糸欠点検出用の投光手段の光投射方
   向は、前記検知範囲を指向して織布上の緯糸の長手方向
   を向くように織布面に対して傾けられた方向である請求
   項５に記載の織布検反装置。