JPH08261952A

JPH08261952A - 織布検反方法及び装置

Info

Publication number: JPH08261952A
Application number: JP7282208A
Authority: JP
Inventors: Masashi Toda; 昌司戸田
Original assignee: Toyoda Automatic Loom Works Ltd
Current assignee: Toyota Industries Corp
Priority date: 1995-01-26
Filing date: 1995-10-30
Publication date: 1996-10-11

Abstract

(57)【要約】【課題】照明光、風綿等の外乱の影響を排除し得る織布
検反装置を提供する。【解決手段】受光素子２１，２２は織布Ｗの緯糸Ｙの方
向に並んで配設されている。２１１は受光素子２１によ
る織布Ｗ上の検知範囲を表し、２２１は受光素子２２に
よる織布Ｗ上の検知範囲を表す。受光素子２１，２２は
変換電流信号を電流−電圧変換回路２３，２４に出力す
る。電流−電圧変換回路２３，２４は変換電流信号を電
圧信号に変換して差演算回路２５に出力する。差演算回
路２５は両電流−電圧変換回路２３，２４から入力する
電圧信号の値の差を演算し、この差信号を比較回路２６
に出力する。比較回路２６は入力した差信号と予め基準
値設定回路２７，２８によって設定された基準値とを比
較する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、受光量に応じた電
気信号を出力する光電センサを用いて経糸と緯糸とによ
って製織された織布の欠点を検出する織布検反方法及び
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の織布検反装置が特開昭６０−２
３１８５０号公報に開示されている。光源から織布上に
投射された光の反射光は感光セルによって受光される。
感光セルは受光量に応じた電気信号を出力し、この電気
信号が評価ユニットで評価される。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】受光量に応じて変換さ
れた電気信号の評価は一般的に電気信号の大きさと予め
設定された基準値との比較によって行われる。電気信号
の値が基準値以内であれば正常の評価が行われ、電気信
号の値が基準値を越えれば異常の評価が行われる。しか
しながら、検反装置以外の照明光の存在、あるいは風綿
の存在が前記電気信号を変化させる。このような電気信
号の変化は織布の織り状態を正しく反映せず、誤検反が
起きる。

【０００４】本発明は、照明光、風綿といった外乱の影
響を排除し得る織布検反方法及び装置を提供することを
目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そのために請求項１乃至
請求項３の発明では、経糸と緯糸とのうちの一方の糸の
方向に複数の光電センサの検知範囲を配列設定してお
き、前記複数の光電センサのうちの少なくとも１つの電
気信号と他の光電センサの電気信号との差を演算し、こ
の演算結果に基づいて前記一方の糸とは別の糸に対する
欠点検出信号を出力するか否かを判定手段で判定するよ
うにした。

【０００６】請求項４の発明では、経糸と緯糸とのうち
の一方の糸の方向に配列設定された検知範囲を有する複
数の光電センサと、前記複数の光電センサのうちの少な
くとも１つの電気信号と他の光電センサの電気信号との
差を演算する差演算手段と、差演算手段の演算結果に基
づいて前記一方の糸とは別の糸に対する欠点検出信号を
出力するか否かを判定する判定手段とを備えた織布検反
装置を構成した。

【０００７】請求項５の発明では、経糸の糸方向に配列
設定された検知範囲を有する複数の光電センサと、前記
複数の光電センサのうちの少なくとも１つの電気信号と
他の光電センサの電気信号との差を演算する差演算手段
と、前記複数の光電センサの電気信号の和を演算する和
演算手段と、差演算手段の演算結果に基づいて緯糸に対
する欠点検出信号を出力するか否かを判定する緯糸欠点
判定手段と、和演算手段の演算結果に基づいて経糸に対
する欠点検出信号を出力するか否かを判定する経糸欠点
判定手段とを備えた織布検反装置を構成した。

【０００８】請求項６の発明では、経糸の糸方向に配列
設定されて織布の幅方向へ移動される検知範囲を有する
複数の光電センサと、前記複数の光電センサのうちの少
なくとも１つの電気信号と他の光電センサの電気信号と
の差を演算する差演算手段と、前記複数の光電センサの
電気信号の和を演算する和演算手段と、和演算手段の演
算結果に基づいて経糸に対する欠点検出信号を出力する
か否かを判定する経糸欠点判定手段と、差演算手段の演
算によって得られる差信号の値と基準値とを比較すると
共に、基準値を越える差信号に対応した時間幅確定信号
を出力する比較手段と、前記時間幅確定信号の時間幅に
基づいて緯糸に対する欠点検出信号を出力するか否かを
判定する偽欠点判定手段とを備えた織布検反装置を構成
した。

【０００９】請求項７の発明では、織布上の経糸の糸方
向及び緯糸の糸方向へそれぞれ配列設定されて織布の幅
方向へ移動される検知範囲を有する複数の光電センサ
と、前記複数の光電センサのうち緯糸方向へ配設された
複数の光電センサのうちの少なくとも１つの電気信号と
緯糸方向へ配設された他の光電センサの電気信号との差
を演算する第１の差演算手段と、前記複数の光電センサ
のうち経糸方向へ配設された複数の光電センサのうちの
少なくとも１つの電気信号と経糸方向へ配設された他の
光電センサの電気信号との差を演算する第２の差演算手
段と、第１の差演算手段の演算結果に基づいて経糸に対
する欠点検出信号を出力するか否かを判定する経糸欠点
判定手段と、第２の差演算手段の演算によって得られる
差信号の値と基準値とを比較すると共に、基準値を越え
る差信号に対応した時間幅確定信号を出力する比較手段
と、前記時間幅確定信号の時間幅に基づいて緯糸に対す
る欠点検出信号を出力するか否かを判定する偽欠点判定
手段とを備えた織布検反装置を構成した。

【００１０】請求項８の発明では、請求項３における隣
合う２か所の検知範囲を離し、隣合う２か所の検知範囲
からの反射散乱光を別々に集めて別々の光電センサへ送
るようにした。

【００１１】請求項９の発明では、請求項４における一
方の糸を緯糸とし、隣合う２か所の検知範囲の一方から
の反射散乱光を集めて光電センサへ送る第１の集光手段
と、隣合う２か所の検知範囲の他方からの反射散乱光を
集めて光電センサへ送る第２の集光手段とを備えた織布
検反装置を構成し、隣合う２か所の検知範囲を離した。

【００１２】請求項１０の発明では、請求項１における
複数の光電センサを緯糸又は経糸の糸方向に配設し、請
求項１１の発明では、請求項４における複数の光電セン
サを緯糸又は経糸の糸方向に配設した。

【００１３】請求項１乃至請求項４の発明では、経糸と
緯糸とのうちの一方の糸の方向に複数の光電センサの検
知範囲が配設される。これらの光電センサのうちの少な
くとも１つの電気信号と他の光電センサの電気信号との
差が演算され、この演算された差が例えば予め設定され
た基準値と比較される。前記差の演算は照明光、風綿と
いった外乱の影響による電気信号の変化を排除する。演
算された差が基準値を越える場合には判定手段が欠点検
出信号を出力する。複数の光電センサを緯糸方向に配設
した場合には前記欠点検出信号の出力は経糸の欠点を検
出したことによるものとなる。複数の光電センサを経糸
方向に配設した場合には前記欠点検出信号の出力は緯糸
の欠点を検出したことによるものとなる。

【００１４】請求項５の発明では、経糸の糸方向に配列
設定された検知範囲を有する複数の光電センサのうちの
少なくとも１つの電気信号と他の光電センサの電気信号
との差が差演算手段によって演算される。又、各光電セ
ンサの電気信号の和が和演算手段によって演算される。
前記差の演算は照明光、風綿といった外乱の影響による
電気信号の変化を排除する。経糸欠点判定手段は、和演
算手段の演算結果に基づいて経糸に対する欠点検出信号
を出力するか否かを判定する。緯糸欠点判定手段は、差
演算手段の演算結果に基づいて緯糸に対する欠点検出信
号を出力するか否かを判定する。

【００１５】請求項６の発明では、複数の光電センサに
よる検出及び各電気信号に基づく差の演算は請求項５の
発明の場合と同様に行われる。差演算手段によって演算
された差信号の値は比較手段において基準値と比較され
る。比較手段は基準値を越える差信号に対応した時間幅
確定信号を出力する。この時間幅確定信号の時間幅が所
定以上であれば偽欠点判定手段が緯糸に対する欠点検出
信号を出力する。時間幅確定信号の時間幅の検出は光電
センサによる欠点とはならない経糸の検出の影響を排除
するためである。

【００１６】請求項７の発明では、経糸の糸方向に配列
設定された検知範囲を有する複数の光電センサによる検
出、各電気信号に基づく差の演算、この演算結果に基づ
く比較手段による比較、及びこの比較結果に基づく偽欠
点判定手段の判定は請求項６の発明の場合と同様に行わ
れる。緯糸の糸方向に配列設定された検知範囲を有する
複数の光電センサによる検出、各電気信号に基づく差の
演算、及びこの演算結果に基づく経糸欠点判定手段の判
定は経糸の欠点の有無の検出のためのものである。

【００１７】請求項８及び請求項９の発明では、検知範
囲が経糸欠点を検出するために緯糸の糸方向に配列され
ており、隣合う２か所の検知範囲からの反射散乱光が別
々の光電センサへ送られる。隣合う検知範囲を重合しな
い構成は隣の検知範囲からの反射散乱光の影響を回避す
る上で有効である。

【００１８】経糸と緯糸との一方の糸方向への検知範囲
の配列設定は光電センサを直接前記糸方向へ配列するこ
とによっても行える。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、織機上の織布検反装置に本
発明を具体化した第１の実施の形態を図１〜図４に基づ
いて説明する。

【００２０】図１に示すように織布Ｗの上方にはレール
１１が織布Ｗの織幅方向に配設されている。レール１１
にはセンサヘッド１２がガイド体１３を介して吊下支持
されている。ガイド体１３はレール１１に沿って移動で
きる。センサヘッド１２には無端状ベルト１４が結合さ
れており、無端状ベルト１４はモータ１５の駆動プーリ
１５１とガイドプーリ１６とに架けわたされている。無
端状ベルト１４はモータ１５の往復駆動によって往復周
回し、センサヘッド１２がレール１１に沿って往復動す
る。

【００２１】センサヘッド１２内には投光器１７、受光
器１８、光学システム１９，２０が収容されている。投
光器１７から投射された光は光学システム１９を介して
織布Ｗ上を照らし、織布Ｗから反射した光は光学システ
ム２０を介して受光器１８で受光される。センサヘッド
１２の往復動範囲は投光器１７の投射光が織布Ｗの織幅
全域を走査する範囲である。

【００２２】図１に示すように受光器１８は一対の受光
素子２１，２２を備えており、受光素子２１，２２は織
布Ｗの緯糸Ｙの方向に並んで配設されている。図２及び
図３に示す２１１は受光素子２１による織布Ｗ上の検知
範囲を表し、２２１は受光素子２２による織布Ｗ上の検
知範囲を表す。織布Ｗの経糸Ｔは筬（図示略）の筬羽間
に数本単位で通されており、検知範囲２１１，２２１の
緯糸Ｙの方向の幅は筬羽のピッチ程度に設定されてい
る。検知範囲２１１，２２１の経糸Ｔの方向の幅は緯糸
Ｙの方向の幅よりも数倍の大きさにしてある。図３の右
向きの矢印Ｑ_Rで囲まれた領域はセンサヘッド１２の右
方向への移動による織布Ｗ上における検知範囲２１１，
２２１の掃過範囲を表す。左向きの矢印Ｑ_Lで囲まれた
領域はセンサヘッド１２の左方向への移動による織布Ｗ
上における検知範囲２１１，２２１の掃過範囲を表す。
織布Ｗは矢印Ｒの方向に移動する。

【００２３】受光素子２１，２２は受け取った光を電流
に変換する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信
号となる。受光素子２１は変換電流信号を電流−電圧変
換回路２３に出力し、受光素子２２は変換電流信号を電
流−電圧変換回路２４に出力する。電流−電圧変換回路
２３，２４は変換電流信号を電圧信号Ｓ₁，Ｓ₂に変換
して差演算回路２５に出力する。差演算回路２５は両電
流−電圧変換回路２３，２４から入力する電圧信号
Ｓ₁，Ｓ₂の値の差を演算する。この演算では電圧信号
Ｓ₁の値から電圧信号Ｓ₂の値が減算される。差演算回
路２５は演算して得られた差信号ΔＳ₁₂を比較回路２６
に出力する。比較回路２６は入力した差信号ΔＳ₁₂と予
め基準値設定回路２７，２８によって設定された基準値
Ｖ₁，Ｖ₂とを比較する。基準値Ｖ₁は正、基準値Ｖ₂
は負である。差信号ΔＳ₁₂の値が範囲〔Ｖ₁，Ｖ₂〕か
ら外れた場合には比較回路２６は出力回路２９に欠点検
出信号Ｓ_Tを出力する。差信号ΔＳ₁₂の値が範囲
〔Ｖ₁，Ｖ₂〕内にある場合には比較回路２６は出力回
路２９に欠点検出信号Ｓ_Tを出力しない。比較回路２６
は基準値設定回路２７，２８と共に経糸欠点判定手段を
構成する。出力回路２９は欠点検出信号Ｓ_Tの入力に基
づいて製織停止信号、異常表示信号等の出力を行なう。

【００２４】図４（ａ）の曲線Ｅは電流−電圧変換回路
２３から出力される電圧信号Ｓ₁を表し、図４（ｂ）の
曲線Ｆは電流−電圧変換回路２４から出力される電圧信
号Ｓ ₂を表す。図４（ｃ）の曲線Ｇは曲線Ｅの値から曲
線Ｆの値を引いて得られた差信号ΔＳ₁₂を表す。図４
（ｄ）の方形波Ｈ１，Ｈ２は比較回路２６から出力され
た欠点検出信号Ｓ_Tを表す。図４（ａ）〜図４（ｄ）の
横軸はいずれも時間を表す。図４（ａ）〜図４（ｃ）の
縦軸はいずれも電圧を表す。

【００２５】曲線Ｅの突出部Ｅ１は受光素子２１によっ
て検出された経糸に関する異常を表す。曲線Ｆの突出部
Ｅ１は受光素子２２によって検出された経糸に関する異
常を表す。突出部Ｅ１，Ｆ１の時間差は緯糸Ｙの方向に
移動する受光素子２１，２２を緯糸Ｙの方向に並べたこ
とによって生じる。曲線Ｇの突出部Ｇ１は、突出部Ｅ１
とこの突出部Ｅ１の時間領域に対応する曲線Ｆの略平坦
な部分との差である。曲線Ｇの突出部Ｅ２は、突出部Ｆ
１とこの突出部Ｆ１の時間領域に対応する曲線Ｅの略平
坦な部分との差である。方形波Ｈ１の時間幅ｔ１は基準
値Ｖ１を正の側へ越える突出部Ｇ１の時間幅に対応し、
方形波Ｈ２の時間幅ｔ２は基準値Ｖ２を負の側へ越える
突出部Ｇ２の時間幅に対応する。

【００２６】経糸Ｔは隣合う筬羽間に一定本数単位で通
されているが、例えばある筬羽間では経糸の通し本数が
規定に足りず、隣の筬羽間で経糸の通し本数が規定より
も多いといった状況が生じることがある。このような状
況が続くと所謂経筋が織布上に生じ、不良織布ができて
しまう。受光素子２１，２２の検知範囲２１１，２２１
の緯糸Ｙの方向の範囲は筬羽のピッチ程度に設定してあ
る。従って、受光素子２１，２２における受光量は織布
Ｗ上の経筋部分と正常部分とでは異なり、曲線Ｅ，Ｆの
突出部Ｅ１，Ｆ１で示すような電圧信号Ｓ₁，Ｓ₂の変
動が得られる。

【００２７】方形波Ｈ１，Ｈ２によって表される欠点検
出信号Ｓ_Tの出力は、受光素子２１，２２から得られる
電圧信号Ｓ₁，Ｓ₂の差信号ΔＳ₁₂と基準値Ｖ１，Ｖ２
との比較結果に基づいて判定される。検反装置以外の照
明光の存在、あるいは風綿の存在といった外乱が電圧信
号Ｓ₁，Ｓ₂を変化させる。即ち、電圧信号Ｓ₁，Ｓ ₂
には外乱による変化分が入り込んでいる。このような電
圧信号Ｓ₁，Ｓ₂の変化は織布の織り状態を正しく反映
せず、これら電圧信号Ｓ₁，Ｓ₂と基準値との比較結果
に基づいて織布上の欠点有無を判定した場合には誤検反
が起きる。しかし、電圧信号Ｓ₁，Ｓ₂の差をとった差
信号ΔＳ₁₂では各電圧信号に入り込んでいた前記外乱に
よる変化分がほぼ相殺される。従って、差信号ΔＳ₁₂は
経糸Ｔに関する異常の有無を高精度で反映しており、差
信号ΔＳ₁₂と基準値Ｖ１，Ｖ２との比較は経糸に関する
異常の有無の検出という検反の精度を高める。

【００２８】次に、図５〜図８の第２の実施の形態を説
明する。第１の実施の形態と同じ構成部材には同一符号
を付し、その詳細説明は省略する。この実施の形態では
図５に示すように受光器３０は一対の受光素子３１，３
２を備えており、受光素子３１，３２は織布Ｗの経糸Ｔ
の方向に直列に配設されている。図６及び図７に示す３
１１は受光素子３１による織布Ｗ上の検知範囲を表し、
３２１は受光素子３２による織布Ｗ上の検知範囲を表
す。検知範囲３１１，３２１の緯糸Ｙの方向の幅は筬羽
のピッチ程度に設定されている。検知範囲３１１，３２
１の経糸Ｔの方向の幅は緯糸Ｙの方向の幅の数倍の大き
さにしてある。図８の右向きの矢印Ｑ_Rで囲まれた領域
はセンサヘッド１２の右方向への移動による織布Ｗ上に
おける検知範囲３１１，３２１の掃過範囲を表す。左向
きの矢印Ｑ_Lで囲まれた領域はセンサヘッド１２の左方
向への移動による織布Ｗ上における検知範囲３１１，３
２１の掃過範囲を表す。

【００２９】受光素子３１，３２は受け取った光を電流
に変換する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信
号となる。受光素子３１は変換電流信号を電流−電圧変
換回路３３に出力し、受光素子３２は変換電流信号を電
流−電圧変換回路３４に出力する。電流−電圧変換回路
３３，３４は変換電流信号を電圧信号Ｓ₃，Ｓ₄に変換
して差演算回路３５に出力する。差演算回路３５は電圧
信号Ｓ₃の値から電圧信号Ｓ₄の値を減算する。差演算
回路３５は演算して得られた差信号ΔＳ₃₄を比較回路３
６に出力する。比較回路３６は入力した差信号ΔＳ₃₄と
予め基準値設定回路３７，３８によって設定された基準
値Ｖ３，Ｖ４とを比較する。基準値Ｖ３は正、基準値Ｖ
４は負である。差信号ΔＳ₃₄の値が範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕
から外れた場合には比較回路３６は出力回路２９に欠点
検出信号Ｓ_Yを出力する。差信号ΔＳ₃₄の値が範囲〔Ｖ
３，Ｖ４〕内にある場合には比較回路３６は出力回路２
９に欠点検出信号Ｓ_Yを出力しない。比較回路３６は基
準値設定回路３７，３８と共に緯糸欠点判定手段を構成
する。

【００３０】図８（ａ）の曲線Ｉは電流−電圧変換回路
３３から出力される電圧信号Ｓ₃を表し、図８（ｂ）の
曲線Ｊは電流−電圧変換回路３４から出力される電圧信
号Ｓ ₄を表す。図８（ｃ）の曲線Ｋは曲線Ｉの値から曲
線Ｊの値を引いて得られた差信号ΔＳ₃₄を表す。図８
（ｄ）の方形波Ｌ１，Ｌ２は比較回路３６から出力され
た欠点検出信号Ｓ_Yを表す。図８（ａ）〜図８（ｄ）の
横軸はいずれも時間を表す。図８（ａ）〜図８（ｃ）の
縦軸はいずれも電圧を表す。

【００３１】曲線Ｉの突出部Ｉ１は受光素子３１によっ
て検出された緯糸に関する異常を表す。曲線Ｊの突出部
Ｊ１は受光素子３２によって検出された緯糸に関する異
常を表す。突出部Ｉ１，Ｊ１の時間差は緯糸Ｙの方向に
移動する受光素子３１，３２を経糸Ｔの方向に並べたこ
とによって生じる。曲線Ｋの突出部Ｋ１は、突出部Ｉ１
とこの突出部Ｉ１の時間領域に対応する曲線Ｊの略平坦
な部分との差である。曲線Ｋの突出部Ｋ２は、突出部Ｊ
１とこの突出部Ｊ１の時間領域に対応する曲線Ｉの略平
坦な部分との差である。方形波Ｌ１の時間幅ｔ３は基準
値Ｖ３を越える突出部Ｋ１の時間幅に対応し、方形波Ｌ
２の時間幅ｔ４は基準値Ｖ４を下回る突出部Ｋ２の時間
幅に対応する。

【００３２】緯糸Ｙがループ状態、途中切れ等の異常を
起こしている場合、受光素子３１，３２における受光量
は織布Ｗ上の緯糸による異常部分と正常部分とでは異な
り、曲線Ｉ，Ｊの突出部Ｉ１，Ｊ１で示すような電圧信
号Ｓ₃，Ｓ₄の変動が得られる。方形波Ｌ１，Ｌ２によ
って表される欠点検出信号Ｓ_Yの出力は、受光素子３
１，３２から得られる電圧信号Ｓ₃，Ｓ₄の差信号ΔＳ
₃₄と基準値Ｖ３，Ｖ４との比較結果に基づいて判定され
る。電圧信号Ｓ₃，Ｓ₄には外乱による変化分が入り込
んでいる。しかし、電圧信号Ｓ₃，Ｓ₄の差をとった差
信号ΔＳ₃₄では各電圧信号に入り込んでいた外乱による
変化分がほぼ相殺される。又、受光素子３１，３２が経
糸方向に直列に配設されているため、経糸からの反射光
による電気信号の変化分も相殺される。従って、差信号
ΔＳ₃₄は緯糸Ｙに関する異常の有無を高精度で反映して
おり、差信号ΔＳ₃₄と基準値Ｖ３，Ｖ４との比較は緯糸
に関する異常の有無という検反の精度を高める。

【００３３】次に、図９及び図１０の第３の実施の形態
を説明する。第２の実施の形態と同じ構成部材には同一
符号を付し、その詳細説明は省略する。図９に示すよう
に受光素子３１，３２は第２の実施の形態と同様に織布
Ｗの経糸Ｔの方向に直列に配設されている。受光素子３
１は変換電流信号を電流−電圧変換回路３３に出力し、
受光素子３２は変換電流信号を電流−電圧変換回路３４
に出力する。電流−電圧変換回路３３は変換電流信号を
電圧信号Ｓ₅に変換して和演算回路３９及び差演算回路
３５に出力する。電流−電圧変換回路３４は変換電流信
号を電圧信号Ｓ ₆に変換して和演算回路３９及び差演算
回路３５に出力する。和演算回路３９は電圧信号Ｓ₅，
Ｓ₆を加算し、差演算回路３５は電圧信号Ｓ₅の値から
電圧信号Ｓ₆の値を減算する。

【００３４】和演算回路３９は演算して得られた和信号
Ｓ₅₆を比較回路４０に出力する。比較回路４０は入力し
た和信号Ｓ₅₆と予め基準値設定回路４１によって設定さ
れた基準値Ｖ５と比較する。和信号Ｓ₅₆の値が基準値Ｖ
５を越えた場合には比較回路４０は出力回路２９に欠点
検出信号Ｓ_Tを出力する。和信号Ｓ₅₆の値が基準値Ｖ５
以下の場合には比較回路４０は出力回路２９に欠点検出
信号Ｓ_Tを出力しない。差演算回路３５は演算して得ら
れた差信号ΔＳ₅₆を比較回路３６に出力する。

【００３５】和演算回路３９は受光素子３１，３２を一
体化して経糸Ｔの糸方向の検知範囲を拡げる。このよう
な検知範囲の拡張により経糸に関する欠点の検出力が向
上する。

【００３６】図１０（ａ）〜図１０（ｄ）のグラフは図
８（ａ）〜図８（ｄ）のグラフと同じである。図１０
（ｅ）の曲線Ｍは電流−電圧変換回路３３から出力され
る電圧信号Ｓ₅の一例を表す。図１０（ｆ）の曲線Ｎは
電流−電圧変換回路３４から出力される電圧信号Ｓ₆の
一例を表す。図１０（ｇ）の曲線Ｏは曲線Ｍと曲線Ｎと
を加算して得られた和信号Ｓ₅₆を表す。

【００３７】比較回路３６は入力した差信号ΔＳ₅₆と基
準値Ｖ３，Ｖ４とを比較する。差信号ΔＳ₃₄の値が範囲
〔Ｖ３，Ｖ４〕から外れた場合には比較回路３６はカウ
ンタ４２に確認要求信号Ｃ_Yを出力する。差信号ΔＳ₅₆
の値が範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕内にある場合には比較回路３
６はカウンタ４２に確認要求信号Ｃ_Yを出力しない。カ
ウンタ４２にはラッチ回路４３及びクロック４４が信号
接続されている。ラッチ回路４３には時間ｔ₀が格納さ
れている。カウンタ４２はクロック４４の計測時間と設
定時間ｔ₀との比較に基づいて欠点検出信号Ｓ_Yを出力
するか否かを判定する。

【００３８】設定時間ｔ₀は以下のようにして決められ
る。緯糸に関する欠点の検出の時間幅ｔ_Y及び経糸に関
する欠点の検出幅ｔ_Tは次式（１），（２）で表され
る。ｔ_Y＝（Ｌ_T＋Ｄ_Y）／Ｖ_T・・・（１）ｔ_T＝（Ｌ_Y＋Ｄ_T）／Ｖ_Y・・・（２）但し、Ｌ_Tは検知範囲３１１，３２１の経糸Ｔの糸方向
の幅を表し、Ｌ_Yは検知範囲３１１，３２２の緯糸Ｙの
糸方向の幅を表す。Ｄ_Yは緯糸に関する欠点の幅を表
し、Ｄ_Tは経糸に関する欠点の幅を表す。Ｖ_Tは織布Ｗ
に対する検知範囲３１１，３２１の経糸Ｔの糸方向の相
対移動速度を表し、Ｖ_Yは織布Ｗに対する検知範囲３１
１，３２１の緯糸Ｙの糸方向の相対移動速度を表す。相
対移動速度Ｖ_Tは織布Ｗの移動速度である。

【００３９】経糸に関する欠点としては所謂経筋がある
が、欠点とは言えない微小な隙間が織布上に断続的に生
じることがある。このような隙間（以下、偽欠点とい
う）は経糸密度が高い場合に生じ易い。偽欠点に関する
緯糸Ｙの糸方向の幅は大きくても経糸Ｔの１ピッチ程度
であり、筬羽の間隔程度に設定された幅Ｌ_Yよりも小さ
い。従って、式（２）における幅Ｄ_Tが偽欠点のもので
あるならば、式（２）における幅Ｄ_TをＬ_Yに置き換え
ることによって次式（３）が得られる。ｔ_T＜２Ｌ_Y／Ｖ_Y・・・（３）又、式（１）における幅Ｄ_Yを零とすることによって次
式（４）が得られる。

【００４０】ｔ_Y＞Ｌ_T／Ｖ_T ・・・（４）式（３），（４）から次式（５）が得られる。２Ｌ_Y／Ｖ_X≦Ｌ_T／Ｖ_T・・・（５）式（５）を変形して次式（６）が得られる。Ｖ_Y≧（２Ｌ_Y／Ｌ_T）・Ｖ_T・・・（６）従って、式（６）の条件を満足する移動速度Ｖ_Yでセン
サヘッド１２を移動すれば次式（７）が成立する。ｔ_Y＜ｔ_T ・・・（７）式（７）における時間幅ｔ_Tは偽欠点に関するものであ
り、時間幅ｔ_Yは緯糸に関する欠点のものである。従っ
て、式（６）の条件を満足する移動速度Ｖ_Yでセンサヘ
ッド１２を移動すれば、緯糸欠点と偽欠点とを識別する
ことができる。このような識別のために式（４），
（５）におけるＬ_T／Ｖ_Tを設定時間ｔ₀として決定
し、時間幅ｔ_Yが設定時間ｔ₀以上であれば時間幅ｔ_Y
をもたらす方形波Ｌ１又はＬ２が実際の緯糸欠点を表
す。時間幅ｔ３，ｔ４を表す方形波Ｌ１，Ｌ２は時間幅
確定信号となる。ラッチ回路４３及びクロック４４と共
に偽欠点判定手段を構成するカウンタ４２は、方形波Ｌ
１の時間幅ｔ３又は方形波Ｌ２の時間幅ｔ４が設定時間
ｔ₀以上の場合に欠点検出信号Ｓ_Yを出力する。このよ
うな識別判定により偽欠点と緯糸欠点とを識別して緯糸
に関する異常の有無という検反の精度を高めることがで
きる。

【００４１】次に図１１及び図１２の第４の実施の形態
を説明する。第３の実施の形態と同じ構成部材には同一
符号を付し、その詳細説明は省略する。図１１に示すよ
うに受光素子４５，４６は第２の実施の形態と同様に織
布Ｗの緯糸Ｙの方向に直列に配設されている。受光素子
４６，４７は第１の実施の形態と同様に織布Ｗの経糸Ｔ
の方向に直列に配設されている。４５１，４６１，４７
１は各受光素子４５，４６，４７の検知範囲を表す。受
光素子４５は変換電流信号を電流−電圧変換回路２３に
出力する。電流−電圧変換回路２３は変換電流信号を電
圧信号Ｓ₇に変換して差演算回路２５に出力する。電流
−電圧変換回路２４は受光素子４６からの変換電流信号
を電圧信号Ｓ₈に変換して差演算回路２５，２５に出力
する。差演算回路２５は電圧信号Ｓ₇の値から電圧信号
Ｓ₈の値を減算する。差演算回路２５は演算して得られ
た差信号ΔＳ₇₈を比較回路２６に出力する。電流−電圧
変換回路３４は受光素子４７からの変換電流信号を電圧
信号Ｓ₉に変換して差演算回路３５に出力する。差演算
回路３５は電圧信号Ｓ₈の値から電圧信号Ｓ₉の値を減
算する。差演算回路３５は演算して得られた差信号ΔＳ
₈₉を比較回路３６に出力する。

【００４２】図１２（ａ）〜図１２（ｄ）のグラフは図
４（ａ）〜図４（ｄ）のグラフと同じである。図１２
（ｅ）〜図１２（ｈ）のグラフは図８（ａ）〜図８
（ｄ）のグラフと同じである。図１２（ａ）の曲線Ｅは
電流−電圧変換回路２３から出力された信号を表し、図
１２（ｂ）の曲線Ｆは電流−電圧変換回路２４から出力
された信号を表す。図１２（ｅ）の曲線Ｉは電流−電圧
変換回路２４から出力された信号を表し、図１２（ｆ）
の曲線Ｊは電流−電圧変換回路３４から出力された信号
を表す。

【００４３】比較回路２６は入力した差信号ΔＳ₇₈と基
準値Ｖ１，Ｖ２とを比較する。差信号ΔＳ₇₈の値が範囲
〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れた場合には比較回路２６は出力
回路２９に欠点検出信号Ｓ_Tを出力する。差信号ΔＳ₇₈
の値が範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内にある場合には比較回路２
６は出力回路２９に欠点検出信号Ｓ_Tを出力しない。

【００４４】比較回路３６は入力した差信号ΔＳ₈₉と基
準値Ｖ３，Ｖ４とを比較する。差信号ΔＳ₈₉の値が範囲
〔Ｖ３，Ｖ４〕から外れた場合には比較回路３６はカウ
ンタ４２に確認要求信号Ｃ_Yを出力する。カウンタ４２
は第３の実施の形態と同様にクロック４４の計測時間と
設定時間ｔ₀との比較に基づいて欠点検出信号Ｓ_Yを出
力するか否かを判定する。

【００４５】第４の実施の形態では、電圧信号Ｓ₇，Ｓ
₈の差をとった差信号ΔＳ₇₈及び電圧信号Ｓ₈，Ｓ₉の
差をとった差信号ΔＳ₈₉では各電圧信号に入り込んでい
た前記外乱による変化分がほぼ相殺される。従って、差
信号ΔＳ₇₈は経糸Ｔに関する異常の有無を高精度で反映
しており、差信号ΔＳ₇₈と基準値Ｖ１，Ｖ２との比較は
経糸に関する異常の有無の検出という検反の精度を高め
る。

【００４６】又、電圧信号Ｓ₈，Ｓ₉の差をとった差信
号ΔＳ₈₉では各電圧信号に入り込んでいた外乱による変
化分がほぼ相殺される。又、受光素子４６，４７が経糸
方向に直列に配設されているため、経糸からの反射光に
よる電気信号の変化分も相殺される。従って、差信号Δ
Ｓ₈₉は緯糸Ｙに関する異常の有無を高精度で反映してお
り、差信号ΔＳ₈₉と基準値Ｖ３，Ｖ４との比較は緯糸に
関する異常の有無という検反の精度を高める。

【００４７】しかも、偽欠点と緯糸欠点とを識別して緯
糸に関する異常の有無という検反の精度を高めることが
できる。次に、図１３の第５の実施の形態を説明する。
第４の実施の形態と同じ構成部材には同一符号を付し、
その詳細説明は省略する。この実施の形態では４つの受
光素子４８，４９，５０，５１のうちの２つずつが織布
Ｗの経糸Ｔの方向及び緯糸Ｙの方向に直列に配設されて
いる。４８１，４９１，５０１，５１１は各受光素子４
８〜５１の検知範囲を表す。受光素子４８は変換電流信
号を電流−電圧変換回路２３に出力し、受光素子４９は
変換電流信号を電流−電圧変換回路２４に出力する。受
光素子５０は変換電流信号を電流−電圧変換回路３３に
出力し、受光素子５１は変換電流信号を電流−電圧変換
回路３４に出力する。電流−電圧変換回路２３は変換電
流信号を電圧信号に変換して和演算回路５２，５５に出
力し、電流−電圧変換回路２４は変換電流信号を電圧信
号に変換して和演算回路５４，５５に出力する。電流−
電圧変換回路３３は変換電流信号を電圧信号に変換して
和演算回路５２，５３に出力し、電流−電圧変換回路３
４は変換電流信号を電圧信号に変換して和演算回路５
３，５４に出力する。

【００４８】各和演算回路５２〜５５は入力する電圧信
号を加算した和信号を出力する。和演算回路５２，５４
は和信号を差演算回路２５に出力し、和演算回路５３，
５５は和信号を差演算回路３５に出力する。各電流−電
圧変換回路２３，２４，３３，３４の電圧信号値を
Ｖ₃₈，Ｖ₃₉，Ｖ₄₀，Ｖ₄₁とすると、各和演算回路５２〜
５５の和信号値は（Ｖ₃₈＋Ｖ₄₀），（Ｖ₄₀＋Ｖ₄₁），
（Ｖ₃₉＋Ｖ₄₁），（Ｖ₃₈＋Ｖ ₃₉）となる。Ｖ₃₈，Ｖ₃₉，
Ｖ₄₀，Ｖ₄₁は各受光素子４８〜５１の変換電流信号に対
応する。差演算回路２５は和信号値（Ｖ₃₈＋Ｖ₄₀）から
和信号値（Ｖ₃₉＋Ｖ₄₁）を減算し、差演算回路３５は和
信号値（Ｖ₃₈＋Ｖ₃₉）から和信号値（Ｖ₄₀＋Ｖ ₄₁）を減
算する。

【００４９】差演算回路２５は演算して得られた差信号
を比較回路２６に出力し、差演算回路３５は演算して得
られた差信号を比較回路３６に出力する。比較回路２６
は基準値Ｖ１，Ｖ２と差信号値〔（Ｖ₃₈＋Ｖ₄₀）−（Ｖ
₃₉＋Ｖ₄₁）〕との比較に基づいて欠点検出信号Ｓ_Tを出
力回路２９に出力するか否かを判定する。比較回路３６
は基準値Ｖ３，Ｖ４と差信号値〔（Ｖ₃₈＋Ｖ₃₉）−（Ｖ
₄₀＋Ｖ₄₁）〕との比較に基づいて確認要求信号Ｃ_Yをカ
ウンタ４２に出力するか否かを判定する。

【００５０】和演算回路５２は受光素子４８，５０を一
体化し、和演算回路５３は受光素子５０，５１を一体化
する。又、和演算回路５４は受光素子４９，５１を一体
化し、和演算回路５５は受光素子４８，４９を一体化す
る。この実施の形態では一体化された受光素子対から得
られる電圧信号と受光素子対から得られる電圧信号との
間で差がとられる。従って、この実施の形態では第４の
実施の形態と同様に高精度の検反を行なうことができ
る。しかも経糸方向に並んだ一対の受光素子の一体化及
び緯糸方向に並んだ一対の受光素子の一体化によって経
糸方向及び緯糸方向の検知範囲が拡がり、このような検
知範囲の拡張により経糸及び緯糸に関する欠点の検出力
が向上する。

【００５１】第４の実施の形態及び第５の実施の形態で
はカウンタ４２、ラッチ回路４３及びクロック４４を用
いた偽欠点判定手段を採用したが、図１４に示す第６の
実施の形態及び図１５に示す第７の実施の形態のように
偽欠点判定手段を省略した実施の形態も可能である。図
１４の実施の形態及び図１５の実施の形態でも外乱の影
響が排除され、高精度の検反が行える。

【００５２】本発明では、経糸の欠点に関する検反を行
なう場合には図１６に示す第８の実施の形態のように受
光素子２１，２２を緯糸Ｙの糸方向に離してもよい。
又、緯糸の欠点に関する検反を行なう場合には図１７に
示す第９の実施の形態のように受光素子３１，３２を経
糸Ｔの糸方向に離してもよい。光電センサとしては図１
８に示す第１０の実施の形態のようにイメージセンサ５
６を用いることもできる。イメージセンサ５６の全画素
のうちの適当な個数の画素を用いて検知範囲の大きさを
選択できるため、偽欠点と緯糸欠点との識別を考慮した
検反の場合にもイメージセンサの相対移動速度Ｖ_Yの単
一設定が可能である。即ち、相対移動速度Ｖ_Yを先に設
定しておき、前記した式（１）〜（６）に基づいて検知
範囲の緯糸方向の幅Ｌ_Y及び経糸方向の幅Ｌ_Tを設定す
ればよい。このような相対移動速度Ｖ_Yの設定は検反準
備の作業性を向上する。

【００５３】図示の場合には（ｎ，ｍ１）で表す検知範
囲が第３の実施の形態の検知範囲３１１に対応し、
（ｎ，ｍ２）で表す検知範囲が第３の実施の形態の検知
範囲３２１に対応する。検知範囲（ｎ，ｍ１）の変換電
流は検知範囲制御回路５７によって電流−電圧変換回路
３３へ送られ、検知範囲（ｎ，ｍ２）の変換電流は検知
範囲制御回路５７によって電流−電圧変換回路３４へ送
られる。以後の信号処理は第３の実施の形態と同じであ
る。

【００５４】なお、イメージセンサの画素の代わりに小
型のフォトダイオードあるいはフォトトランジスタを用
いることもできる。又、受光素子を経糸方向あるいは緯
糸方向へ３つ以上並べ、糸方向へ並べた受光素子から得
られる電気信号を加算して糸方向へ並べた受光素子を一
体化した構成も可能である。

【００５５】次に、図１９〜図２２の第１１の実施の形
態を説明する。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ
符号が付してある。この実施の形態におけるセンサヘッ
ド５８は３つの反射鏡５９，６０，６１、一対の棒状の
凸レンズ６９，７０及びスリット板７８を備えている。
スリット板７８は織布Ｗに対して平行に配置されてお
り、スリット板７８には一対のスリット７８１，７８２
が形成されている。スリット７８１，７８２は緯糸Ｙの
糸方向に延びている。

【００５６】図２０に示すようにガイドプーリ１６の近
傍には投光器６４が設置されている。投光器６４は、容
器６５と、容器６５の底部に取り付けられた投光素子６
６と、容器６５の開口側に取り付けられたスリット板６
７と、投光素子６６とスリット板６７との間に介在され
た棒状の凸レンズ６８とからなる。スリット板６７には
スリット６７１が形成されている。投光素子６６は凸レ
ンズ６８の焦点上に位置しており、投光素子６６から凸
レンズ６８に投射された光は凸レンズ６８を通って平行
光となる。図１９の鎖線矢印は光の行路を表す。凸レン
ズ６８の光軸はスリット６７１の中央を通っている。凸
レンズ６８を通って平行になった光の一部はスリット６
７１を通過する。スリット板６７は光の平行度を高める
ために凸レンズ６８の周縁部を通過した光の通過を阻止
する。

【００５７】スリット６７１を通過した平行光の行路は
反射鏡５９と交差する。反射鏡５９は織布Ｗの面に対し
て４５°に傾いており、反射鏡５９に当たった平行光は
スリット板７８に向けて反射される。スリット板７８に
向かった平行光は一対のスリット７８１，７８２を通過
する。スリット７８１，７８２を通過した２本の光は織
布Ｗに垂直に当たって反射散乱する。

【００５８】凸レンズ６９，６０は反射鏡５９からの反
射光の行路の左右両側に対称に配置されている。凸レン
ズ６９，６０の焦点は織布Ｗ上に設定されており、凸レ
ンズ６９，６０は織布Ｗからの反射光を平行光にする。
反射鏡６０は凸レンズ６９を出た平行光の行路上に配置
されており、反射鏡６１は凸レンズ７０を出た平行光の
行路上に配置されている。

【００５９】図２１に示すようにモータ１５の近傍には
受光器７１が設置されている。受光器７１は、容器７２
と、容器７２の底部に取り付けられた一対の受光素子７
３，７４と、容器７２の開口側に取り付けられた一対の
棒状の集光レンズ７５，７６と、受光素子７３，７４と
集光レンズ７５，７６との間に介在された抽出スリット
板７７とからなる。抽出スリット板７７には一対のスリ
ット７７１，７７２が形成されている。スリット７７１
は受光素子７３に対置しており、スリット７７２は受光
素子７４に対置している。集光レンズ７５の焦点はスリ
ット７７１の中央にあり、集光レンズ７６の焦点はスリ
ット７７２の中央にある。凸レンズ６９の光軸と集光レ
ンズ７５の光軸とは反射鏡６０の反射面上で交差し、凸
レンズ７０の光軸と集光レンズ７６の光軸とは反射鏡６
１の反射面上で交差する。

【００６０】反射鏡６０から反射された平行光は集光レ
ンズ７５に向かい、反射鏡６１から反射された平行光は
集光レンズ７６に向かう。集光レンズ７５は反射鏡６０
からの反射光をスリット７７１上に集光し、集光レンズ
７６は反射鏡６１からの反射光をスリット７７２上に集
光する。スリット７７１，７７２を通過した光は受光素
子７３，７４によって受光される。スリット７７１，７
７２は外乱光を排除する機能を持つ。

【００６１】図２２に示す６９１は凸レンズ２０による
織布Ｗ上の検知範囲を表し、７０１は凸レンズ２１１に
よる織布Ｗ上の検知範囲を表す。凸レンズ６９は検知範
囲６９１から反射した散乱光の一部を平行光に集束し、
凸レンズ７０は検知範囲７０１から反射した散乱光の一
部を平行光に集束する。検知範囲６９１，７０１の緯糸
Ｙの糸方向の幅は経糸Ｔのピッチの２倍程度に設定され
ており、各検知範囲６９１，７０１内には常には２本の
経糸Ｔが入り込む。鎖線で示す位置Ｐ１，Ｐ２は、スリ
ット７８１，７８２を通過した光の経路と織布Ｗとの交
差中心、かつ凸レンズ６９，６０の焦点中心である。検
知範囲６９１からの反射散乱光は、凸レンズ６９、反射
鏡６０及び集光レンズ７５からなる第１の集光手段によ
って受光素子７３へ送られる。検知範囲７０１からの反
射散乱光は、凸レンズ７０、反射鏡６１及び集光レンズ
７６からなる第１の集光手段によって受光素子７４へ送
られる。受光素子７３，７４は受光量に応じた電気信号
を電流−電圧変換回路２３，２４へ送る。

【００６２】この実施の形態では、センサヘッド５８が
正常な織布Ｗ上のどの位置にある場合にも、各検知範囲
６９１，７０１内には２本の経糸Ｔが入り込むようにな
っている。従って、図２２に示すように経筋Ｔ１が発生
している場合には検知範囲６９１内又は検知範囲７０１
内には３本の経糸が入り込むことになり、第１の実施の
形態の場合と同様の経糸欠点の把握が精度良く行われ
る。

【００６３】織布Ｗの表面は細かい凹凸になっており、
織布Ｗからの反射光は散乱する。検知範囲６９１からの
反射散乱光が第２の集光手段を構成する凸レンズ７０側
へ入り込めば、受光素子７４から出力される信号レベル
が本来の信号レベルからずれる。同様に、検知範囲７０
１からの反射散乱光が第１の集光手段を構成する凸レン
ズ６９側へ入り込めば、受光素子７３から出力される信
号レベルが本来の信号レベルからずれる。この実施の形
態では、スリット７８１，７８２を通過した光の経路の
中心軸線と織布Ｗとの交差位置、かつ凸レンズ６９，６
０の焦点位置である位置Ｐ１，Ｐ２は、経糸ピッチの４
倍にしてある。このような位置設定は、隣の検知範囲７
０１から凸レンズ６９への反射散乱光の入光及び隣の検
知範囲６９１から凸レンズ７０への反射散乱光の入光を
抑制し、受光素子７３，７４から出力される信号レベル
の乱れが回避される。従って、経糸欠点の把握の精度が
さらに向上する。位置Ｐ１，Ｐ２をさらに離せば、隣の
検知範囲７０１から凸レンズ６９への反射散乱光の入光
阻止及び隣の検知範囲６９１から凸レンズ７０への反射
散乱光の入光阻止がさらに確実となる。

【００６４】次に、図２３の第１２の実施の形態を説明
する。第１１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が
付してある。この実施の形態におけるセンサヘッド７９
には反射鏡５９、スリット板７８、一対の受光器８０，
８１及び制御回路８６が取り付けられている。制御回路
８６は第１１の実施の形態における電流−電圧変換回路
２３，２４、差演算回路２５、比較回路２６、基準値設
定回路２７，２８及び出力回路２９からなる。

【００６５】受光器８０の棒状の凸レンズ８２の焦点は
織布Ｗ上にあり、凸レンズ８２はスリット７８１を通過
した光の織布Ｗからの反射光を平行化して集光レンズ８
３へ送る。集光レンズ８３の焦点は抽出スリット板８４
のスリット８４１上にあり、受光素子８５はスリット８
４１を通過した光の受光量に応じた電気信号を制御回路
８６に出力する。受光器８１の棒状の凸レンズ８７の焦
点は織布Ｗ上にあり、凸レンズ８７はスリット７８２を
通過した光の織布Ｗからの反射光を平行化して集光レン
ズ８８へ送る。集光レンズ８８の焦点は抽出スリット板
８９のスリット８９１上にあり、受光素子９０はスリッ
ト８９１を通過した光の受光量に応じた電気信号を制御
回路８６に出力する。

【００６６】この実施の形態においても、スリット７８
１，７８２を通過した光の経路の中心軸線と織布Ｗとの
交差位置、かつ凸レンズ８２，７７の焦点位置である位
置Ｐ１，Ｐ２は、経糸ピッチの４倍にしてある。従っ
て、この実施の形態においても第１１の実施の形態と同
じ効果が得られる。

【００６７】次に、図２４の第１３の実施の形態を説明
する。第１１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が
付してある。この実施の形態におけるスリット板７８に
は遮蔽板７８３が一体形成されており、遮蔽板７８３の
下端は織布Ｗの間近まで延びている。遮蔽板７８３の存
在は、隣の位置Ｐ２側の検知範囲から凸レンズ６９への
反射散乱光の入光阻止及び隣の位置Ｐ２側の検知範囲か
ら凸レンズ７０への反射散乱光の入光阻止をさらに確実
に阻止する。従って、この実施の形態では第１１の実施
の形態よりも良い効果が得られる。

【００６８】前記各実施の形態ではセンサヘッドが織布
の幅方向に移動する方式であるが、緯糸欠点に関する検
反の場合には織布の幅方向に複数の受光センサを適当間
隔をおいて不動配列した検反装置の構成が可能である。
経糸欠点に関する検反の場合にも例えばイメージンセン
サを織幅全域に連続的に不動配設する検反装置の構成が
可能である。

【００６９】前記各実施の形態では織布検反装置は織機
上に装着したが、織機から切り卸した織布の検反を行な
う場合にも本発明の織布検反方法及び装置を適用するこ
とができる。

【００７０】さらに本発明では、欠点検出信号Ｓ_T，Ｓ
_Yの出力の有無、あるいは確認要求信号Ｃ_Yの有無を記
憶装置に記憶し、この記憶データに基づいて織布の品質
評価を行なったり、織機の管理データとして利用するこ
ともできる。

【００７１】前記した実施の形態から把握できる請求項
記載以外の発明について以下にその効果と共に記載す
る。（１）請求項６又は請求項７の光電センサはイメージセ
ンサである織布検反装置。

【００７２】偽欠点と緯糸欠点との識別を考慮した検反
の場合にもイメージセンサの織幅方向の移動速度の単一
設定が可能である。（２）第１の集光手段を構成する凸レンズ８２の焦点位
置である位置Ｐ１と、第２の集光手段を構成する凸レン
ズ８７の焦点位置である位置Ｐ２との間隔を経糸ピッチ
の少なくとも４倍にした織布検反装置。

【００７３】経糸欠点の把握の精度が向上する。以下
に、実施の形態の効果を記載する。（１）経糸の糸方向及び緯糸の糸方向にそれぞれ２つの
検知範囲を配列設定した実施の形態では、経糸に関する
異常の有無及び緯糸に関する異常の有無のいずれについ
ても高い精度で検出することができる。（２）経糸の糸方向に２つの検知範囲を配列設定すると
共に、これら２つの検知範囲を１群として緯糸の糸方向
に前記１群を２つ配列した実施の形態では、経糸の糸方
向に複数の検知範囲を配列設定した実施の形態では、経
糸の糸方向及び緯糸の糸方向の検知範囲が拡がり、経糸
及び緯糸に関するけ欠点の検出力が向上する。（３）光電センサとしてイメージセンサを用いた実施の
形態では、検知範囲の設定が容易である。（４）隣合う検知範囲の間に遮蔽板を介在した実施の形
態では、隣の検知範囲から集光手段への反射散乱光の入
光が確実に阻止される。

【００７４】

【発明の効果】以上詳述したように、請求項１乃至請求
項４の発明では、経糸と緯糸とのうちの一方の糸の方向
に複数の光電センサの検知範囲を配設し、これらの光電
センサのうちの少なくとも１つの電気信号と他の光電セ
ンサの電気信号との差をとって外乱の影響による電気信
号の変化を排除するようにしたので、精度の高い検反を
行ない得る。

【００７５】請求項５の発明では、経糸の方向に配列設
定された検知範囲を有する複数の光電センサのうちの少
なくとも１つの電気信号と他の光電センサの電気信号と
の差をとると共に、各光電センサの電気信号の和をとる
ようにしたので、外乱の影響による緯糸関係の電気信号
の変化を排除し得ると共に、検知範囲の拡張により経糸
に関する欠点の検出力を向上し得る。

【００７６】請求項６及び請求項７の発明では、偽欠点
判定手段によって緯糸欠点と偽欠点とを識別するように
したので、偽欠点による誤検反を回避し得る。請求項８
及び請求項９の発明では、隣合う２か所の検知範囲を重
合しないように配列し、隣合う２か所の検知範囲からの
反射散乱光を別々に集めて別々の光電センサへ送るよう
にしたので、経糸欠点の把握の精度が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示す一部破断要部
正面図と制御回路との組み合わせ図。

【図２】織布上の検知範囲と制御回路との組合わせ図。

【図３】検知範囲の走査領域を示す平面図。

【図４】（ａ）〜（ｄ）は制御回路における信号処理を
説明するグラフ。

【図５】第２の実施の形態を示す要部と制御回路との組
み合わせ図。

【図６】織布上の検知範囲と制御回路との組合わせ図。

【図７】検知範囲の走査領域を示す平面図。

【図８】（ａ）〜（ｄ）は制御回路における信号処理を
説明するグラフ。

【図９】第３の実施の形態を示す織布上の検知範囲と制
御回路との組合わせ図。

【図１０】（ａ）〜（ｇ）は制御回路における信号処理
を説明するグラフ。

【図１１】第４の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
制御回路との組合わせ図。

【図１２】（ａ）〜（ｈ）は制御回路における信号処理
を説明するグラフ。

【図１３】第５の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
制御回路との組合わせ図。

【図１４】第６の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
制御回路との組合わせ図。

【図１５】第７の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
制御回路との組合わせ図。

【図１６】第８の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
制御回路との組合わせ図。

【図１７】第９の実施の形態を示す織布上の検知範囲と
制御回路との組合わせ図。

【図１８】第１０の実施の形態を示す織布上の検知範囲
と制御回路との組合わせ図。

【図１９】第１１の実施の形態を示す一部破断要部正面
図と制御回路との組み合わせ図。

【図２０】図１９のＡ−Ａ線断面図。

【図２１】図１９のＢ−Ｂ線断面図。

【図２２】織布上の検知範囲と制御回路との組合わせ
図。

【図２３】第１２の実施の形態を示す一部破断要部正面
図と制御回路との組み合わせ図。

【図２４】第１３の実施の形態を示す一部破断要部正面
図。

【符号の説明】

２１１，２２１，３１１，３２１，４５１，４６１，４
７１，４８１，４９１，５０１，５１１，６９１，７０
１…検知範囲、２１，２２，３１，３２，４５〜５１，
７３，７４，８５，９０…光電センサとなる受光素子、
２５，３５…差演算回路、２６…経糸欠点判定手段を構
成する比較回路、２７，２８…経糸欠点判定手段を構成
する基準値設定回路、３６…緯糸欠点判定手段を構成す
る比較回路、３７，３８…緯糸欠点判定手段を構成する
基準値設定回路、３９…和演算回路、４０…経糸欠点判
定手段を構成する比較回路、４１…経糸欠点判定手段を
構成する基準値設定回路、４２…偽欠点判定手段を構成
するカウンタ、４３…偽欠点判定手段を構成するラッチ
回路、４４…偽欠点判定手段を構成するクロック、６０
…第１の集光手段を構成する反射鏡、６９…第１の集光
手段を構成する凸レンズ、７５…第１の集光手段を構成
する集光レンズ、６１…第２の集光手段を構成する反射
鏡、７０…第２の集光手段を構成する凸レンズ、７６…
第２の集光手段を構成する集光レンズ、Ｔ…経糸、Ｙ…
緯糸、Ｗ…織布。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ０１Ｎ 21/88 Ｇ０１Ｎ 21/88 Ｊ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】受光量に応じた電気信号を出力する光電セ
ンサを用いて経糸と緯糸とによって製織された織布の欠
点を検出する織布検反方法において、織布上の経糸と緯糸とのうちの一方の糸の方向に複数の
前記光電センサの検知範囲を配列設定しておき、前記複
数の光電センサのうちの少なくとも１つの電気信号と他
の光電センサの電気信号との差を演算し、この演算結果
に基づいて前記一方の糸とは別の糸に対する欠点検出信
号を出力するか否かを判定手段で判定する織布検反方
法。
【請求項２】請求項１において、一方の糸は経糸であ
り、別の糸は緯糸である織布検反方法。
【請求項３】請求項１において、一方の糸は緯糸であ
り、別の糸は経糸である織布検反方法。
【請求項４】受光量に応じた電気信号を出力する光電セ
ンサを用いて経糸と緯糸とによって製織された織布の欠
点を検出する織布検反装置において、織布上の経糸と緯糸とのうちの一方の糸の方向に配列設
定された検知範囲を有する複数の光電センサと、前記複数の光電センサのうちの少なくとも１つの電気信
号と他の光電センサの電気信号との差を演算する差演算
手段と、差演算手段の演算結果に基づいて前記一方の糸とは別の
糸に対する欠点検出信号を出力するか否かを判定する判
定手段とを備えた織布検反装置。
【請求項５】受光量に応じた電気信号を出力する光電セ
ンサを用いて経糸と緯糸とによって製織された織布の欠
点を検出する織布検反装置において、経糸の糸方向に配列設定された検知範囲を有する複数の
光電センサと、前記複数の光電センサのうちの少なくとも１つの電気信
号と他の光電センサの電気信号との差を演算する差演算
手段と、前記複数の光電センサの電気信号の和を演算する和演算
手段と、和演算手段の演算結果に基づいて経糸に対する欠点検出
信号を出力するか否かを判定する経糸欠点判定手段と、差演算手段の演算結果に基づいて緯糸に対する欠点検出
信号を出力するか否かを判定する緯糸欠点判定手段とを
備えた織布検反装置。
【請求項６】受光量に応じた電気信号を出力する光電セ
ンサを用いて経糸と緯糸とによって製織された織布の欠
点を検出する織布検反装置において、経糸の糸方向に配列設定され、織布の幅方向へ移動され
る検知範囲を有する複数の光電センサと、前記複数の光電センサのうちの少なくとも１つの電気信
号と他の光電センサの電気信号との差を演算する差演算
手段と、前記複数の光電センサの電気信号の和を演算する和演算
手段と、和演算手段の演算結果に基づいて経糸に対する欠点検出
信号を出力するか否かを判定する経糸欠点判定手段と、差演算手段の演算によって得られる差信号の値と基準値
とを比較すると共に、基準値を越える差信号に対応した
時間幅確定信号を出力する比較手段と、前記時間幅確定信号の時間幅に基づいて緯糸に対する欠
点検出信号を出力するか否かを判定する偽欠点判定手段
とを備えた織布検反装置。
【請求項７】受光量に応じた電気信号を出力する光電セ
ンサを用いて経糸と緯糸とによって製織された織布の欠
点を検出する織布検反装置において、織布上の経糸の方向及び緯糸の方向へそれぞれ少なくと
も２つ配列設定されて織布の幅方向へ移動される検知範
囲を有する複数の光電センサと、前記複数の光電センサのうち緯糸の糸方向へ配列設定さ
れた検知範囲を有する複数の光電センサのうちの少なく
とも１つの光電センサの電気信号と他の光電センサの電
気信号との差を演算する第１の差演算手段と、前記複数の光電センサのうち経糸の糸方向へ配列設定さ
れた検知範囲を有する複数の光電センサのうちの少なく
とも１つの光電センサの電気信号と他の光電センサの電
気信号との差を演算する第２の差演算手段と、第１の差演算手段の演算結果に基づいて経糸に対する欠
点検出信号を出力するか否かを判定する経糸欠点判定手
段と、第２の差演算手段の演算によって得られる差信号の値と
基準値とを比較すると共に、基準値を越える差信号に対
応した時間幅確定信号を出力する比較手段と、前記時間幅確定信号の時間幅に基づいて緯糸に対する欠
点検出信号を出力するか否かを判定する偽欠点判定手段
とを備えた織布検反装置。
【請求項８】請求項３において、隣合う２か所の検知範
囲を重合しないように配列し、隣合う２か所の検知範囲
からの反射散乱光を別々に集めて別々の光電センサへ送
る織布検反方法。
【請求項９】請求項４において、一方の糸は緯糸であ
り、隣合う２か所の検知範囲の一方からの反射散乱光を
集めて光電センサへ送る第１の集光手段と、隣合う２か
所の検知範囲の他方からの反射散乱光を集めて光電セン
サへ送る第２の集光手段とを備え、隣合う２か所の検知
範囲を重合しないように配列した織布検反装置。
【請求項１０】請求項１における複数の光電センサは緯
糸又は経糸の糸方向に配設されている織布検反方法。
【請求項１１】請求項４における複数の光電センサは緯
糸又は経糸の糸方向に配設されている織布検反装置。