JPH03249243A - 織布の検反装置 - Google Patents

織布の検反装置

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JPH03249243A
JPH03249243A JP4668490A JP4668490A JPH03249243A JP H03249243 A JPH03249243 A JP H03249243A JP 4668490 A JP4668490 A JP 4668490A JP 4668490 A JP4668490 A JP 4668490A JP H03249243 A JPH03249243 A JP H03249243A
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JP
Japan
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light
woven fabric
element group
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light receiving
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Pending
Application number
JP4668490A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Toda
戸田 昌司
Atsuhisa Andou
敦久 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Industries Corp
Original Assignee
Toyoda Automatic Loom Works Ltd
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Publication date
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Publication of JPH03249243A publication Critical patent/JPH03249243A/ja
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    • DTEXTILES; PAPER
    • D03WEAVING
    • D03JAUXILIARY WEAVING APPARATUS; WEAVERS' TOOLS; SHUTTLES
    • D03J1/00Auxiliary apparatus combined with or associated with looms
    • D03J1/007Fabric inspection on the loom and associated loom control

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)
  • Auxiliary Weaving Apparatuses, Weavers' Tools, And Shuttles (AREA)
  • Looms (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は製織中の織布又は織り上がった織布の良否を
検査するための検反装置に関するものである。
[従来の技術] 従来、製織工程から切り離して織り上がった織布の良否
を検査するための検反装置においては、第4図に示すよ
うに織布31の下側に反射鏡32を配置するとともに、
織布31の上側に織幅方向に延びるガイドレール33を
配置する。そして、ガイドレール33に沿って半導体レ
ーザ34及び受光素子35を装着したセンサ36を走査
させ、レーザ34から照射された光が反射鏡32にて反
射し、同反射光を受光素子35にて受光して、この受光
量の変化に基づいて織布31の良否を検査している。
しかしながら、この検反装置においては反射光の変化を
利用するため、織布31の振動や外乱光の変化が誤差と
なるため、精度の高い検反は難しかった。従って、織機
上の製織中の織布31の良否を検査する場合には製織中
であることから織布の振動は非常に大きくなり、上記装
置を織機に付けても正確な検査はできない。その結果、
織機に検反装置を取りつける場合には織布3Iの振動及
び外乱光に対する対策が特に要求される。
[発明が解決しようとする課題] そこで、本願出願人は織布31の振動及び外乱光に対し
て対策を施した織機上の製織中の織布31の良否を検査
するための検反装置を種々提案している。
例えば、特願昭63−316669号にて提案した検反
装置においては、受光部の背面側を被覆するカバーを設
け、そのカバーの包囲端縁が織機上の織布面に近接また
は接触させ、投光部からの光量外の光を遮断するととも
に、カバーの包囲端縁にて織布の振動を吸収し受光強度
の変化を解消させるようにしている。
本発明の目的は先に提案した織機における検反装置とは
全く異なるセンサを利用して、織布の振動及び外乱光に
影響されず、正確に織布の良否を検反することができる
織布における検反装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] この発明は上記した目的を達成するために、織布の織幅
方向に移動して、織布に投射された光を受光する受光手
段によって検反情報を取り出す織布の検反装置において
、前記受光手段を、受光素子を複数個互いに平行となる
ように同一平面内に一定間隔をおいて配列し、その複数
個の受光素子のうち適数個おきに設けられた受光素子を
第1の受光素子群とし、その第1の受光素子群の受光素
子間に設けられる受光素子を第2の受光素子としてなる
空間フィルタと、前記空間フィルタと織布との間に設け
た光学レンズと、前記空間フィルタの第1の受光素子群
からの出力信号と第2の受光素子群からの出力信号との
差信号を求める差動演算回路と、その差動演算回路の出
力波形の振幅値に基づいて織布の良否を判定する判定回
路とから構成したことをその要旨とする。
[作用] 織布の織幅方向に移動しながら空間フィルタの第1及び
第2の受光素子群は織布に投射された光を光学的レンズ
を介して受光する。その時々の第1及び第2の受光素子
群の各出力信号は差動演算回路に出力される。この差動
演算回路から出力される出力信号(差信号)の出力周波
数fは、第1の受光素子群(第2の受光素子群)のそれ
ぞれの受光素子間隔をP、空間フィルタの織幅方向の移
動速度をVとすると、 f = (m/P) V mは光学的レンズの結像倍率であって、空間フィルタと
レンズ間の距離をD、レンズと織布間の距離をHとする
と、m = D / Hとなる。
一方、差動演算回路の出力信号のゲイン(振幅値)は織
布の経糸が正常に並んでいる場合にはその正常部分の投
射光に基づいて一定の小さなゲインが得られ、逆に織布
の経糸が断線等している場合にはその断線部分の投射光
に基づいて大きなゲインが得られる。
従って、織布が何らかの原因で振動している場合、即ち
レンズと織布間の距離Hが変化する場合には出力信号の
出力周波数fが変化するのみで出力信号のゲインは影響
を受けない。そして、判定回路は出力信号のゲイン(振
幅値)に注目して織布の良否を判定する。
又、差動演算回路の出力信号は第1の受光素子群からの
出力信号と第2の受光素子群からの出力信号との差信号
であるので、たとえ外乱光か入ったとしても同回路内で
その外乱光に基づくノイズ信号レベルは相殺されてしま
って誤差として出力されない。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を第1〜3図に従って詳述す
る。
第2図において、綜絖枠lの開口運動により形成される
経糸Tの開口に緯入れされた緯糸が筬2によって織布W
の織前W1に打ち付けられ、織布Wが形成される。織布
Wはエキスパンションバー3を経由してプレスローラ4
及びサーフェスローラ5の協働による引き取り作用によ
って所定速度で引き取られ、巻取りローラ6に巻取られ
る。
織前WIとエキスパンションバー3との開の織布Wの傍
らにはモータ7が配置され、同モータ7の出力軸は織布
Wと直交してこれの織幅以上に延びる駆動ネジ8となっ
ている。前記駆動ネジ8には底部が開放されたセンサボ
ックス9が螺嵌され、同ボックス9には駆動ネジ8の両
側にこれと平行に延びる一対のガイドレール10が貫通
されている。そして、モータ7の正逆回転に伴いセンサ
ボックス9が駆動ネジ8上をガイドレール10に案内さ
れて、織布Wの織幅方向に所定速度Vで往復走査する。
また、織布Wの直下にはこれに密着した状態で、駆動ネ
ジ8と対応して延びる長尺板状の反射鏡11が配置され
ている。
次に、第1図に従いセンサボックス9内の構成について
述べる。
ボックス9の内側面には投光器12を取付け、その投光
器12の対向する位置には45度傾斜したハーフミラ−
13を配設している。ハーフミラ−13の上方には凸レ
ンズI5が配設され、その凸レンズ15の上方位置には
公知の空間フィルタ16が配設されている。そして、投
光器12が照射する光はハーフミラ−13にて反射され
、ボックス9の開放された底部から織布Wに対して垂直
に入射される。この入射された光は織布Wの各経糸Tの
間から同経糸Tにより光量が減衰されて反射鏡11に達
して反射し、この反射光かハーフミラ−13を透過し、
凸レンズ15を介して空間フィルタ16上に明るさとし
て結像される。なお、空間フィルタ16から凸レンズI
5までの間隔り及び凸レンズ15から織布Wまでの距離
Hは予め設定されている。
前記空間フィルタ16は多数の受光素子17aを同一平
面内に一定の間隔(ピッチ)Pで配置してなる第1の櫛
型フィルタ18aと、同じく多数の受光素子17bを同
一平面内に一定の間隔(ピッチ)Pで前記第1の櫛型フ
ィルタ部18aの受光素子17a間に対向配置してなる
第2の櫛型フィルタ部18bとから構成されている。な
お、本実施例では空間フィルタ16は各素子17a、 
17bの向きと織布Wの経糸Tの向きとが一致するよう
に位置調整されている。そして、多数の受光素子17a
よりなる第1の櫛型フィルタ部18aの出力φ1及び多
数の受光素子17bよりなる第2の櫛型フィルタ部18
bの出力φ2は差動演算回路19に出力される。
差動演算回路19は第1及び第2の櫛型フィルタ部18
a、18bの出力φl、出力φ2の差分(=φl−φ2
)を求め、第3図に示すようにその差信号を出力信号S
GIとして出力する。
出力信号SGIの出力周波数fは、 f=(m/P)V mは凸レンズ15の結像倍率(m=D/H)、Pは第1
の受光素子群(第2の受光素子群)のそれぞれの受光素
子間隔(ピッチ)、■は空間フィルタの織幅方向の移動
速度。
一方、出力信号SGIの振幅値は織布Wの経糸Tが正常
に並んでいる場合には、その正常部分の反射光に基づい
て一定の小さな変動レベルENとなる。逆に、織布Wの
経糸Tが断線等しているときにはその断線部分の反射光
に基づいて前記レベルENより大きい変動レベルになる
。そして、この変動レベルENO値は本実施例では予め
試験によって求めている。
差動演算回路19の出力信号SGIは全波整流回路20
に入力されて整流される。第3図に示すようにその整流
された出力信号SG2は尖頭値検波回路21に入力され
、出力信号SG2のピーク値をホールドして形成した出
力信号SG3を次段のローパスフィルタ22に出力する
。ローパスフィルタ22はその出力信号SG3を平滑化
し、その平滑化した信号SG4を比較回路23に出力す
る。
比較回路23は前記平滑化された信号SG4を入力し、
その値が予め設定した基準値Et(=EN/2)より大
きいか否かを判断し、大きい場合にはその大きい状態の
継続した時間をクロックパルスCLKで計数し、その計
数値yを継続時間Bとして判定回路24に出力する。判
定回路24は継続時間Bが予め設定した基準時間tsと
を比較し、継続時間Bが基準時間tsを超えた時、経糸
Tが断線していると判断する。なお、本実施例の基準時
間tsは予め試験で求めた値であって、断線した経糸T
が1本で隣接する全ての経糸Tが断線していない条件を
求めた値である。又、この判定回路24の判定信号は本
実施例では図示しない織機を停止させるための制御装置
や作業者にランプ、ブザーで知らせるための報知装置に
出力され、経糸Tの断線が。
検出されたときには、織機の運転を停止させたり、ラン
プ等で作業者に知らせるようになっている。
さて、上記のように構成した検反装置の作用について説
明する。
今、経糸Tが断線していない織布Wを検反する場合には
、空間フィルタ16が織布Wの一端から他端に向かって
速度Vで移動すると、空間フィルタ16からの出力φl
、φ2に基づいて差動演算回路19から出力される出力
信号SGIのその時々の振幅値は経糸Wが断線していな
いことから変動レベルENを超える振幅値になることは
ない。従って、余波整流回路20、尖頭値検波回路21
及びローパスフィルタ22を介して比較回路23に入力
される信号SG4はEN/2、即ち基準値Et以下の値
となる。その結果、継続時間Bは計数されず、判定回路
24は断線はなく正常な織布Wと判定する。
次に、経糸Tが断線している織布Wを検反する場合につ
いて説明する。出力φ1.φ2に基づく差動演算回路1
9から出力される出力信号SGIは空間フィルタ16が
その断線部分を通過すると、その時の振幅値は変動レベ
ルENを超える振幅値となる。そして、その変動レベル
ENを超える振幅変動は断線している経糸Tの本数に比
例して長くなる。従って、全波整流回路20、尖頭値検
波回路21及びローパスフィルタ22を介して比較回路
23に入力される信号SG4は基準値Et以上の値とな
り、その状態が基準時間ts以上(断線した経糸Tの本
数に比例)継続することになる。その結果、比較回路2
3で基準時間ts以上の継続時間Bが計数され、判定回
路24にて織布Wに経糸Tの断線が発生していると判定
する。
このように、本実施例では差動型空間フィルタの出力、
即ち空間フィルタからの2つの出力φ1゜φ2を差動演
算回路19で差をとった出力信号SGIの振幅値が基準
値Etを超えた状態を基準時間ts以上継続下か否かを
判断する簡単な方法で織布Wの経糸断線の有無を容易に
判断することができる。
しかも、検反する織布Wが振動していても、その変化は
レンズ15と織布Wの距離Hの変化として現れ、それが
出力信号SGIの出力周波数fにのみ変化するだけで、
出力信号SGIの振幅レベルに影響することはないので
、従来のように織布Wの振動に基づく検出誤差はなく、
精度の高い検反を行うことができる。
さらに、本実施例では検反中において外乱光の影響を受
け、フィルタ16からの出力φl、φ2がφl+Δφ、
φ2+Δφとなっても、差動演算回路の出力信号SGl
は差信号であるので、そのノイズ分のΔφは相殺されて
しまい、誤差として出力されない。従って、本実施例の
検反装置においては外乱光に対しても影響を受けること
なく、正確に織布Wを検反することができる。
なお、この実施例では差動演算回路の出力信号SGIを
全波整流回路、尖頭値検波回路、ローパスフィルタ及び
比較回路等によって波形整形して判定回路に出力したが
、この発明はこれに限定されるものではなく、出力信号
SGIの振幅値が計測することができる波形整形方法で
あればどのような方法でもよい。
また、前記実施例では本検反装置を織機に設けたが、織
製後の織布の良否を検査するたの検反装置に具体化して
もよい。
さらに、前記実施例では織布Wに上方から投光したが、
織布Wの下方(裏面側)から投光してもよい。この場合
には反射鏡が不要となり、部品点数の減少を図ることが
可能になる。
[発明の効果] 以上、詳述したようにこの発明によれば、織布の振動及
び外乱光に影響されることなく、正確に織布の良否を検
査することができるという優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
第1図は空間フィルタを使用した検反装置を織布ととも
に示す説明図、第2図はこの検反装置を織機により織製
される織布の検反に使用している状態を示す斜視図、第
3図この発明における空間フィルタの信号に基づき演算
された周波数の信号が各電気回路により整形される順序
を示す波形図、第4図は従来例を示す略体側面図である
。 光学レンズ15、空間フィルタ16、受光素子17a、
17b、、第1の受光素子群及び第2の受光素子群とし
ての櫛形フィルタ18a、18b。 差動演算回路19、織布W0

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、織布の織幅方向に移動して、織布に投射された光を
    受光する受光手段によって検反情報を取り出す織布の検
    反装置において、 前記受光手段を、 受光素子を複数個互いに平行となるように同一平面内に
    一定間隔をおいて配列し、その複数個の受光素子のうち
    適数個おきに設けられた受光素子を第1の受光素子群と
    し、その第1の受光素子群の受光素子間に設けられる受
    光素子を第2の受光素子群としてなる空間フィルタと、 前記空間フィルタと織布との間に設けた光学レンズと、 前記空間フィルタの第1の受光素子群からの出力信号と
    第2の受光素子群からの出力信号との差信号を求める差
    動演算回路と、 その差動演算回路の出力波形の振幅値に基づいて織布の
    良否を判定する判定回路と から構成した織布の検反装置。
JP4668490A 1990-02-26 1990-02-26 織布の検反装置 Pending JPH03249243A (ja)

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JP (1) JPH03249243A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992022694A1 (en) * 1991-06-11 1992-12-23 Kabushiki Kaisha Toyoda Jidoshokki Seisakusho Cloth inspecting device on loom

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992022694A1 (en) * 1991-06-11 1992-12-23 Kabushiki Kaisha Toyoda Jidoshokki Seisakusho Cloth inspecting device on loom

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