JPH09158006A - 織布検反装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】織布の品質を低下させることなく精度の高い検
反を行なう。 【解決手段】投光器２３から投射された光は反射鏡１７
によって織布Ｗ上に向けて反射される。凸レンズ２０，
２１は織布Ｗ上の位置Ｐからの反射散乱光を平行光にす
る。反射鏡１８から反射された平行光は集光レンズ３２
に向かい、反射鏡１９から反射された平行光は集光レン
ズ３３に向かう。集光レンズ３２は反射鏡１８からの反
射光を受光素子３０上に集光し、集光レンズ３３は反射
鏡１９からの反射光を受光素子３１上に集光する。受光
素子３０，３１は変換電流信号を電流−電圧変換回路３
５，３６に出力し、電流−電圧変換回路３５，３６は変
換電流信号を電圧信号に変換して和演算回路３７に出力
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、織布の織り状態を
反映する光の受光量に応じた電気信号を出力する光電セ
ンサを用いて織布の欠点を検出する織布検反装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の織布検反装置が特開昭６０−２
３１８５０号公報に開示されている。光源から織布上に
投射された光の反射光は感光セルによって受光される。
光の経路上には光学レンズ系が設置されており、投射光
あるいは反射光の集光、平行化等の必要な光学的処理が
光学レンズ系によって行われる。感光セルは受光量に応
じた電気信号を出力し、この電気信号が評価ユニットで
評価される。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】受光量に応じて変換さ
れた電気信号の評価は一般的に電気信号の大きさを予め
設定された基準値との比較によって行われる。電気信号
の値が基準値以内であれば正常の評価が行われ、電気信
号の値が基準値を越えれば異常の評価が行われる。この
ような電気信号の評価を精度よく行うには織布から反射
する光をできるだけ多く光電センサへ集光する必要があ
る。すなわち、光電センサにおける光ゲインを高める必
要がある。しかし、織布からの反射光は散乱するため、
受光側の光学レンズ系の単一の集光レンズによって集め
得る反射散乱光は限られる。そのため、投射光の強度を
高めなければならないが、投射光の強度増加は織布を加
熱して織布の変質をもたらす。これは織布の品質の低下
をもたらす。

【０００４】本発明は、織布の品質を低下させることな
く精度の高い検反を行え得る織布検反装置を提供するこ
とを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そのために請求項１の発
明では、織布上の検知範囲から反射散乱する光を光電セ
ンサへ送る複数の光学系を備えた織布検反装置を構成し
た。

【０００６】請求項２の発明では、請求項１における１
つの光学系が１つの光電センサへ光を送るようにした。
請求項３の発明では、複数の光電センサの電気信号の和
を演算する和演算手段を備えた織布検反装置を構成し
た。

【０００７】請求項４の発明では、複数の光学系が単一
の光電センサへ光を送るようにした。請求項５の発明で
は、複数の光電センサの電気信号の差を演算する差演算
手段を備えた織布検反装置を構成した。

【０００８】請求項１の発明によれば、織布から反射散
乱する光が複数の光学系によって集光されて光電センサ
へ送られる。複数の光学系によって反射散乱光を拾う構
成は単一の光学系によって反射散乱光を拾う場合に比べ
て光電センサにおける光ゲインの増加をもたらす。

【０００９】請求項２の発明によれば、１つの光学系に
よって拾われた反射散乱光が１つの光電センサへ送ら
れ、各光電センサにおける電気信号が織布上の欠点を検
出するための演算処理に供される。

【００１０】請求項３の発明によれば、請求項２におけ
る光電センサの電気信号の和は和演算手段によって加算
処理される。このような和演算手段による加算処理は光
ゲインを高めたことを意味する。

【００１１】請求項４の発明によれば、単一の光電セン
サが複数の光学系によって得られた反射散乱光を受光す
る。これは単一の光電センサにおける光ゲインを高めた
ことを意味する。

【００１２】請求項５の発明によれば、請求項２におけ
る光電センサの電気信号の差が差演算手段によって減算
処理される。このような差演算手段による減算処理は、
検反装置と織布との平行度の確認、あるいは布面状態、
特に極端な凹凸についての検知を可能にする。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、織機上の織布検反装置に本
発明を具体化した第１の実施の形態を図１〜図６に基づ
いて説明する。

【００１４】図１に示すように織布Ｗの上方にはレール
１１が織布Ｗの織り幅方向に配設されている。レール１
１にはセンサヘッド１２がガイド体１３を介して吊下支
持されている。ガイド体１３はレール１１に沿って移動
できる。図２及び図３に示すようにセンサヘッド１２に
は無端状ベルト１４が結合されており、無端状ベルト１
４はモータ１５の駆動プーリ１５１とガイドプーリ１６
とに掛け渡されている。無端状ベルト１４はモータ１５
の往復駆動によって往復周回し、センサヘッド１２がレ
ール１１に沿って往復動する。センサヘッド１２は３つ
の反射鏡１７，１８，１９、一対の棒状の凸レンズ２
０，２１及びスリット板２２を備えている。

【００１５】図２に示すように、ガイドプーリ１６の近
傍には投光器２３が設置されている。投光器２３は、容
器２４と、容器２４の底部に取り付けられた投光素子２
５と、容器２３の開口側に取り付けられたスリット板２
６と、投光素子２５とスリット板２６との間に介在され
た棒状の凸レンズ２７とからなる。スリット板２６には
スリット２６１が形成されている。投光素子２５は凸レ
ンズ２７の焦点上に位置しており、投光素子２５から凸
レンズ２７に投射された光は凸レンズ２７を通って平行
光となる。図１の鎖線矢印は光の行路を表す。凸レンズ
２７の光軸はスリット２６１の中央を通っている。凸レ
ンズ２７を通って平行になった光の一部はスリット２６
１を通過する。スリット板２６は光の平行度を高めるた
めに凸レンズ２７の周縁部を通過した光の通過を阻止す
る。

【００１６】スリット２６１を通過した平行光の行路は
反射鏡１７と交差する。反射鏡１７は織布Ｗの面に対し
て４５°に傾いており、反射鏡１７に当たった平行光は
織布Ｗ上に向けて反射される。凸レンズ２０，２１間に
配置されたスリット板２２にはスリット２２１が形成さ
れている。反射鏡１７によって織布Ｗ側へ反射された平
行光はスリット２２１によって織布Ｗの織り幅方向の幅
をさらに絞られる。スリット２２１を通過した平行光は
織布Ｗ上で反射して散乱する。凸レンズ２０，２１はス
リット板２２の左右両側に対称に配置されている。凸レ
ンズ２０，２１の焦点は織布Ｗ上の同一位置Ｐ上に設定
されており、凸レンズ２０，２１は織布Ｗからの反射散
乱光を平行光にする。反射鏡１８は凸レンズ２０を出た
平行光の行路上に配置されており、反射鏡１９は凸レン
ズ２１を出た平行光の行路上に配置されている。

【００１７】図３に示すようにモータ１５の近傍には受
光器２８が設置されている。受光器２８は、容器２９
と、容器２９の底部に取り付けられた一対の受光素子３
０，３１と、容器２９の開口側に取り付けられた一対の
棒状の集光レンズ３２，３３と、受光素子３０，３１と
集光レンズ３２，３３との間に介在された抽出スリット
板３４とからなる。抽出スリット板３４には一対のスリ
ット３４１，３４２が形成されている。スリット３４１
は受光素子３０に対置しており、スリット３４２は受光
素子３１に対置している。集光レンズ３２の焦点はスリ
ット３４１の中央にあり、集光レンズ３３の焦点はスリ
ット３４２の中央にある。凸レンズの２０の光軸と集光
レンズ３２の光軸は反射鏡１８の反射面上で交差し、凸
レンズ２１の光軸と集光レンズ３３の光軸とは反射鏡１
９の反射面上で交差する。

【００１８】反射鏡１８から反射された平行光は集光レ
ンズ３２に向かい、反射鏡１９から反射された平行光は
集光レンズ３３に向かう。集光レンズ３２は反射鏡１８
からの反射光をスリット３４１上に集光し、集光レンズ
３３は反射鏡１９からの反射光をスリット３４２上に集
光する。スリット３４１，３４２を通過した光は受光素
子３０，３１によって受光される。スリット３４１，３
４２は外乱光を排除する機能をもつ。

【００１９】図４に示すＳは凸レンズ２０，２１による
織布Ｗ上の検知範囲を表す。凸レンズ２０，２１は検知
範囲Ｓから反射した散乱光の一部を平行光に収束する。
織布Ｗの経糸Ｔは筬（図示略）の筬羽間に数本単位で通
されており、検知範囲Ｓの緯糸Ｙの糸方向の幅は筬羽の
ピッチ程度に設定されている。検知範囲Ｓの経糸Ｔの糸
方向の幅は緯糸Ｙの糸方向の幅よりも数倍の大きさにし
てある。図５の右向きの矢印Ｑ１で囲まれた領域はセン
サヘッド１２の右方向への移動による織布Ｗ上における
検知範囲Ｓの走査範囲を表す。左向きの矢印Ｑ２で囲ま
れた領域はセンサヘッド１２の左方向への移動による織
布Ｗ上における検知範囲Ｓの走査範囲を表す。織布Ｗは
矢印Ｒの方向に移動する。

【００２０】受光素子３０，３１は受け取った光を電流
に変換する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信
号になる。光電センサである受光素子３０は変換電流信
号を電流−電圧変換回路３５に出力し、光電センサであ
る受光素子３１は変換電流信号を電流−電圧変換回路３
６に出力する。電流−電圧変換回路３５，３６は変換電
流信号を電圧信号Ｓ１，Ｓ２に変換して和演算回路３７
に出力する。和演算回路３７は両電流−電圧変換回路３
５，３６から入力する電圧信号Ｓ１，Ｓ２の値の和を演
算する。和演算回路３７は演算して得られた和信号ΣＳ
を比較回路３８に出力する。

【００２１】比較回路３８は入力した和信号ΣＳと基準
値設定回路３９によってあらかじめ設定された基準値Ｖ
とを比較する。和信号ΣＳの値が基準値Ｖを越えた場合
には比較回路３８は出力回路４０に欠点検出信号を出力
する。和信号ΣＳの値が基準値Ｖを越えない場合には比
較回路３８は出力回路４０に欠点検出信号を出力しな
い。

【００２２】図６（ａ）の曲線Ｅは電流−電圧変換回路
３５から出力される電圧信号Ｓ１を表し、図６（ｂ）の
曲線Ｆは電流−電圧変換回路３６から出力される電圧信
号Ｓ２を表す。図６（ｃ）の曲線Ｇは曲線Ｅと曲線Ｆと
を加算して得られた和信号ΣＳを表す。グラフの横軸は
いずれも時間を表し、縦軸はいずれも電圧を表す。

【００２３】曲線Ｅの突出部Ｅ１は受光素子３０によっ
て検出された経糸に関する異常を表す。曲線Ｆの突出部
Ｆ１は受光素子３１によって検出された経糸に関する異
常を表す。曲線Ｇの突出部Ｇ１は突出部Ｅ１と突出部Ｆ
１との和である。

【００２４】経糸Ｔはとなり合う筬羽間に一定本数単位
で通されているが、例えばある筬羽間では経糸の通し本
数が規定に足りず、となりの筬羽間で経糸の通し本数が
規定よりも多いといった状況が生じることもある。この
ような状況が続くと、いわゆる経筋が織布上に生じ、不
良織布ができてしまう。凸レンズ２０，２１の検知範囲
Ｓの緯糸Ｙの糸方向の範囲は筬羽のピッチ程度に設定し
てある。従って、受光素子３０，３１における受光量は
織布Ｗ上の経筋部分と正常部分とでは異なり、曲線Ｅ，
Ｆの突出部Ｅ１，Ｆ１で示すような電圧信号Ｓ１，Ｓ２
の変動が得られる。

【００２５】反射鏡１８及び集光レンズ３２とともに第
１の光学系を構成する凸レンズ２０の焦点は、反射鏡１
９及び集光レンズ３３とともに第２の光学系を構成する
凸レンズ２１の焦点と同じ位置Ｐにある。織布Ｗ上の一
点上に投射された光の反射光はあらゆる方向に散乱す
る。従って、凸レンズ２０，２１はほぼ同量の反射散乱
光を受光素子３０，３１へ送る。織布Ｗ上の位置Ｐ上に
焦点を持つ複数の凸レンズ２０，２１を配置した構成は
凸レンズの単一配置の構成に比べて光ゲインを増大す
る。光ゲインが低い場合には織布上の経糸欠点部分と経
糸正常部分との電気信号値の差が明確とならず、前記基
準値の設定が困難となる。本実施の形態における光ゲイ
ンの増大は前記基準値Ｖの設定を容易にし、精度の高い
検反が保障される。又、投光素子２５からの投射光の強
度を特別に増大する必要がないため、織布Ｗ上に投射さ
れる光によって織布Ｗが加熱して変質することもない。

【００２６】次に図７の第２の実施の形態を説明する。
第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付してあ
る。この実施の形態におけるセンサヘッド４１には一対
の受光器４２，４３及び制御回路４４が取り付けられて
いる。

【００２７】制御回路４４は第１の実施の形態における
電流−電圧変換回路３５，３６、和演算回路３７、比較
回路３８、基準値設定回路３９及び出力回路４０からな
る。受光器４２の棒状の凸レンズ４５の焦点は織布上の
位置Ｐ上にあり、凸レンズ４５は位置Ｐからの反射散乱
光を平行化して集光レンズ４６へ送る。集光レンズ４６
の焦点は抽出スリット４７のスリット４７１上にあり、
受光素子４８はスリット４７１を通過した光の受光量に
応じた電気信号を制御回路４４に出力する。

【００２８】受光器４３の棒状の凸レンズ４９の焦点は
位置Ｐ上にあり、凸レンズ４９は位置Ｐからの反射散乱
光を平行化して集光レンズ５０へ送る。集光レンズ５０
の焦点は抽出スリット板５１のスリット５１１上にあ
り、受光素子５２はスリット５１１を通過した光の受光
量に応じた電気信号を制御回路４４に出力する。

【００２９】この実施の形態においては、第１の実施の
形態と同じ効果が得られると共に、集光経路における風
綿等の悪影響を受けることが防止される。次に、図８の
第３の実施の形態を説明する。第１の実施の形態と同じ
構成部には同じ符号が付してある。

【００３０】この実施の形態におけるセンサヘッド５３
には一対の反射鏡５４，５５及び一対の集光レンズ５
６，５７が左右対称に取り付けられている。反射鏡５４
は凸レンズ２０からの平行光を集光レンズ５６に向けて
反射する。反射鏡５５は凸レンズ２１からの平行光を集
光レンズ５７に向けて反射する。集光レンズ５６，５７
の焦点は受光素子５８上にあり、集光レンズ５６，５７
は反射鏡５４，５５から反射した平行光を受光素子５８
上に集光する。受光素子５８で変換された電気信号は制
御回路５９ヘ送られる。制御回路５９は第１の実施の形
態における電流−電圧変換回路３５、比較回路３８、基
準値設定回路３９及び出力回路４０からなる。

【００３１】この実施の形態においては一対の凸レンズ
２０，２１によって拾われる反射散乱光が全て単一の受
光素子５８上へ送られる。この実施の形態においても光
ゲインが従来装置の場合よりも増大し、第１の実施の形
態と同じ効果が得られる。

【００３２】次に図９の第４の実施の形態を説明する。
第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付してあ
る。この実施の形態では第１の実施の形態におけるスリ
ット板２６を取り除いた投光器２３から投射された光が
反射鏡１７によって織布Ｗ側へ反射される。反射鏡１７
から反射された平行光は棒状の集光レンズ６０によって
織布Ｗ上に集光される。図９の位置Ｐは集光レンズ６０
の焦点位置であり、一対の凸レンズ２０，２１が位置Ｐ
からの反射散乱光を平行化する。

【００３３】この実施の形態においても第１の実施の形
態と同じ効果が得られる。次に図１０〜図１２の第５の
実施の形態を説明する。第１の実施の形態と同じ構成部
には同じ符号が付してある。

【００３４】この実施の形態におけるセンサヘッド６１
には４つの凸レンズ２０，２１，６２，６３及び４つの
反射鏡１８，１９，６４，６５が取り付けられている。
図１１に示すＳは凸レンズ２０，２１による織布Ｗ上の
検知範囲を表し、Ｕは凸レンズ６２，６３による織布Ｗ
上の検知範囲を表す。凸レンズ２０，２１は検知範囲Ｓ
から反射した散乱光の一部を平行光に収束し、凸レンズ
６２，６３は検知範囲Ｕから反射した散乱光の一部を平
行光に収束する。織布Ｗの経糸Ｔは筬（図示略）の筬羽
間に数本単位で通されており、検知範囲Ｓ，Ｕの緯糸Ｙ
の糸方向の幅は筬羽のピッチ精度に設定されている。検
知範囲Ｓ，Ｕの経糸Ｔの糸方向の幅は緯糸Ｙの糸方向の
幅よりも数倍の大きさにしてある。

【００３５】反射鏡６４は凸レンズ６２によって平行化
された光を集光レンズ３２を経由して受光器２８内の受
光素子６６へ送る。反射鏡６５は凸レンズ６３によって
平行化された光を集光レンズ３３を経由して受光器２８
内の受光素子６７へ送る。受光素子６６はスリット３４
１の長手方向において受光素子３０の隣にあり、受光素
子６７はスリット３４２の長手方向において受光素子３
１の隣にある。

【００３６】受光素子６６は変換電流信号を電流−電圧
変換回路６８に出力し、受光素子６７は変換電流信号を
電流−電圧変換回路６９へ出力する。電流−電圧変換回
路６８，６９は変換電流信号を電圧信号Ｓ３，Ｓ４に変
換して和演算回路７０に出力する。和演算回路は両電流
−電圧変換回路６８，６９から入力する電圧信号Ｓ３，
Ｓ４の値の和ΣＳ３４を演算する。和演算回路３７，７
０は演算して得られた和信号ΣＳ１２，ΣＳ３４を差演
算回路７１に出力する。差演算回路７１は両和演算回路
３７，７０から入力する和信号ΣＳ１２，ΣＳ３４の値
の差を演算する。この演算では和信号ΣＳ１２の値から
和信号ΣＳ３４の値が減算される。差演算回路７１は演
算して得られた差信号ΔＳを比較回路７２に出力する。

【００３７】比較回路７２は入力した差信号ΔＳと基準
値設定回路７３，７４によってあらかじめ設定された基
準値Ｖ１，Ｖ２とを比較する。基準値設定回路７３によ
って設定された基準値Ｖ１は正、基準値設定回路７４に
よって設定された基準値２は負である。差信号ΔＳの値
が基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れた場合には比較回路
７２は出力回路４０に欠点検出信号を出力する。差信号
ΔＳの値が基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内にある場合には比
較回路７２は出力回路４０に欠点検出信号を出力しな
い。

【００３８】図１２（ａ）の曲線Ｅは電流−電圧変換回
路３５から出力される電圧信号Ｓ１を表し、図１２
（ｂ）の曲線Ｆは電流−電圧変換回路３６から出力され
る電圧信号Ｓ２を表す。図１２（ｃ）の曲線Ｈは電流−
電圧変換回路６８から出力される電圧信号Ｓ３を表し、
図１２（ｄ）の曲線Ｊは電流−電圧変換回路６９から出
力される電圧信号Ｓ４を表す。曲線Ｅの突出部Ｅ１は受
光素子３０によって検出された経糸に関する異常を表
し、曲線Ｆの突出部Ｆ１は受光素子３１によって検出さ
れた経糸に関する異常を表す。曲線Ｈの突出部Ｈ１は受
光素子６６によって検出された経糸に関する異常を表
し、曲線Ｊの突出部Ｊ１は受光素子６７によって検出さ
れた経糸に関する異常を表す。突出部Ｅ１，Ｆ１と突出
部Ｈ１，Ｊ１との時間差は緯糸Ｙの糸方向に移動する検
視範囲Ｓと検知範囲Ｕとを緯糸Ｙの糸方向に並べたこと
によって生じる。

【００３９】図１２（ｅ）の曲線Ｇは和演算回路３７か
ら出力される和信号ΣＳ１２を表し、図１２（ｆ）の曲
線Ｋは和演算回路７０から出力される和信号ΣＳ３４を
表す。曲線Ｇの突出部Ｇ１は突出部Ｅ１，Ｆ１の和であ
り、曲線Ｋの突出部Ｋ１は突出部Ｈ１，Ｊ１の和を表
す。

【００４０】図１２の（ｇ）の曲線Ｌは曲線Ｇの値から
曲線Ｋの値を引いて得られた差信号ΔＳを表す。図１２
（ｈ）の方形波Ｍ１，Ｍ２は比較回路７２から出力され
た欠点検出信号を表す。曲線Ｌの突出部Ｌ１は、突出部
Ｇ１とこの突出部Ｇ１の時間領域に対応する曲線Ｋの略
平坦な部分との差である。曲線Ｌの突出部Ｌ２は、突出
部Ｋ１とこの突出部Ｋ１の時間領域に対応する曲線Ｇの
略平坦な部分の差である。方形波Ｍ１の時間幅ｔ１は基
準値Ｖ１を正の側へ越える突出部Ｋ１の時間幅に対応
し、方形波Ｍ２の時間幅ｔ２は基準値Ｖ２の負の側へ越
える突出部Ｌ２の時間幅に対応する。

【００４１】方形波Ｍ１，Ｍ２によって表される欠点検
出信号の出力は、差信号ΔＳと基準値Ｖ１，Ｖ２との比
較結果に基づいて判定される。検反装置以外の照明光の
存在、あるいは風綿の存在といった外乱が電圧信号Ｓ１
〜Ｓ４を変化させる。すなわち、電圧信号Ｓ１〜Ｓ４に
は外乱による変化分が入り込んでいる。このような電圧
信号Ｓ１〜Ｓ４の変化は織布の織り状態を正しく反映せ
ず、これら電圧信号Ｓ１〜Ｓ４と基準値との比較結果に
もとづいて織布上の欠点有無を判定した場合においては
誤検反が起こる。しかし、差信号ΔＳでは各電圧信号Ｓ
１〜Ｓ４に入りこんでいた前記外乱による変化分がほぼ
相殺される。従って、差信号ΔＳは経糸Ｔに対応する異
常の有無を高精度で反映しており、差信号ΔＳと基準値
Ｖ１，Ｖ２との比較は経糸に関する異常の有無の検出と
いう検反の精度を高める。

【００４２】又、差信号ΔＳを得るための和信号ΣＳ１
２，ΣＳ３４は高い光ゲインを反映しており、第１の実
施の形態と同じ効果が得られる。尚、第５の実施の形態
では受光素子３０，３１から出力される電気信号を和演
算回路３７に入力するとともに、受光素子６６，６７か
ら出力される電気信号を和演算回路７２に出力したが、
前記両電気信号を差演算回路に直接入力するようにした
実施の形態も可能である。

【００４３】次に、図１３の第６の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では、電流−電圧変換回路３
５，３６から出力された電圧信号が差演算回路７５が入
力し、差演算回路７５は入力した電圧信号の差を演算す
る。この場合、差演算回路７５は電流−電圧変換回路３
５が出力した電圧信号から電流−電圧変換回路３６が出
力した電圧信号を減算する。差演算回路７５は算出した
差信号を比較回路３８に出力し、比較回路３８は基準値
設定回路７６，７７によって設定された電圧値Ｖ３，Ｖ
４と前記差信号とを比較する。電圧値Ｖ３は正、電圧値
Ｖ４は負である。差信号の値が範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕から
外れる場合には比較回路３８は出力回路４０に異常検出
信号を出力し、出力回路４０は異常検出信号の入力に基
づいて警報を行なう。

【００４４】反射鏡１７から織布Ｗに向かう平行光が織
布Ｗに対して垂直である場合には、位置Ｐから反射散乱
する凸レンズ２０側の反射光の分布及び凸レンズ２１側
の反射光の分布は織布上に極端な凹凸がない限り殆ど同
じである。センサヘッド１２の走行経路と織布Ｗとが平
行であれば、前記差信号はほぼ零となり、差信号の値は
範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕内に収まる。しかし、センサヘッド
１２の走行経路と織布Ｗとが平行でない場合、あるいは
センサヘッド１２の走行経路に対しる反射鏡１７の傾き
が４５°になっていない場合には、凸レンズ２０側の反
射光の分布及び凸レンズ２１側の反射光の分布が異な
り、前記差信号の値が範囲〔Ｖ３，Ｖ４〕から外れる。
従って、この実施の形態では、検反装置と織布Ｗとの平
行度の確認、あるいは布面状態、特に極端な凹凸につい
ての検知が可能である。

【００４５】前記した実施の形態から把握できる請求項
記載以外の発明について以下に効果とともに記載する。 （１）第１の光電センサ（実施の形態では受光素子３
０，３１）及び第２の光電センサ（実施の形態では受光
素子６６，６７）から得られる電気信号の差を演算する
差演算手段と、前記差演算手段の演算結果に基づいて欠
点検出信号を出力するか否かを判定する欠点判定手段
（実施の形態では比較回路７２）とを備えた請求項２又
は請求項３に記載の織布検反装置。

【００４６】外乱の影響を排除した高い精度の検反が保
障される。

【００４７】

【発明の効果】以上詳述したように本発明では、織布上
の検知範囲から反射散乱する光を集めて光電センサへ送
る複数の光学系を備えた織布検反装置を構成したので、
織布の変質をもたらすことなく高精度の検反を行うこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示す一部省略正面
図。

【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。

【図３】図１のＢ−Ｂ線断面図。

【図４】織布上の検知範囲と制御回路との組み合わせ
図。

【図５】検知範囲の走査領域を示す平面図。

【図６】（ａ）〜（ｃ）は制御回路における信号処理を
説明するグラフ。

【図７】第２の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図８】第３の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図９】第４の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図１０】第５の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図１１】織布上の検知範囲と制御回路との組み合わせ
図。

【図１２】（ａ）〜（ｈ）は制御回路における信号処理
を説明するグラフ。

【図１３】第６の実施の形態を示す一部省略正面図。

【符号の説明】

１８…光学系を構成する反射鏡、１９…光学系を構成す
る反射鏡、２０…光学系を構成する凸レンズ、２１…光
学系を構成する凸レンズ、３０，３１…光電センサであ
る受光素子、３２…光学系を構成する集光レンズ、３３
…光学系を構成する集光レンズ、３７…和演算回路、７
５…差演算回路、Ｓ…検知範囲。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】織布の織り状態を反映する光の受光量に応
   じた電気信号を出力する光電センサを用いて織布の欠点
   を検出する織布検反装置において、 織布上の検知範囲から反射散乱する光を前記光電センサ
   へ送る複数の光学系を備えた織布検反装置。
2. 【請求項２】前記複数の光学系はそれぞれ別々の光電セ
   ンサへ光を送る請求項１に記載の織布検反装置。
3. 【請求項３】前記複数の光電センサの電気信号の和を演
   算する和演算手段を備えた請求項２に記載の織布検反装
   置。
4. 【請求項４】前記複数の光学系は単一の光電センサへ光
   を送る請求項１に記載の織布検反装置。
5. 【請求項５】前記複数の光電センサの電気信号の差を演
   算する差演算手段を備えた請求項２に記載の織布検反装
   置。