JP2837079B2 - ネジ、釘、ビス又はリベットの先端形状検査装置 - Google Patents
ネジ、釘、ビス又はリベットの先端形状検査装置Info
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Description
状を検査する先端形状検査装置に関する。
702号公報に記載の「ねじ山の検出装置」と称するも
のがある。この装置では、光源からネジのネジ山に光ビ
ームを照射し、ネジ山からの反射光を受光体で受光し
て、ネジ山の有無を検出している。また、2組の光源と
受光体を上下にずらして配置しておき、各光源と各受光
体の間にネジを通して、上の受光体によって光ビームが
受光されず、かつ下の受光体によって光ビームが受光さ
れたときにのみ、ネジの長さが正常であると判定してい
る。
来の装置では、ネジ山の有無や、ネジの長さを判定する
ものの、ネジの先端形状を検査しておらず、この点が不
十分であった。
合は、先端形状を一方向からだけ見ていたのでは、充分
な検査ができない。例えば、先端形状を一方向から見て
良品であっても、この方向と直交する方向から見ると不
良の場合がある。
先端形状を正確に検査することが可能な先端形状検査装
置を提供することにある。
に、この発明に係わる先端形状検査装置は、頭部を支え
た検査対象物の先端に対して側方から投光する形状検査
用投光手段及び長短検査用の投光手段と、 これらの投光
手段に対向配置され、これらの投光手段から投光され
て、検査対象物の先端を介したそれぞれの光を受光する
形状検査用受光手段及び長短検査用受光手段と、 各受光
手段の出力に基づいて、検査対象物の先端形状を検査す
る検査手段とから成り、 前記形状検査用の投光手段と受
光手段は検査対象物の先端を異方向から投影するものを
複数組み設け、前記長短検査用の受光手段は、検査対象
物の先端の中央部のみの影像を受けるように構成してい
る。
光手段を複数組設けて、検査対象物の先端形状を複数方
向から検査するので、先端形状の正確な検査が行われ
る。また、検査対象物の先端の中央部のみを投影する投
光手段と受光手段を用いて長短検査を行うので、長さの
良、不良の正確な検査も行われる。
て説明する。
置の一実施例を適用したネジ及び釘の選別装置を概略的
に示している。また、図2は、この選別装置を側方から
見て示している。
は、多数の凹部2が形成されており、この円盤1の回転
に伴い、ガイド部3から円盤1の周縁へと複数の釘4が
順次送り込まれ、これらの釘4が各凹部2に逐一嵌まり
込む。
ール5,6を持っており、これらのレール5,6の隙間
が各釘4の胴の直径よりもやや広く、かつ各釘4の頭の
直径よりも狭くされている。このため、各レール5,6
には、各釘4の頭が引っ掛かり、各レール5,6間に各
釘4が垂れ下がる。この状態で、各釘4がガイド部3か
ら円盤1の周縁へと送り込まれる。
と保持板7間に挟み込まれ、落下することなく、円盤1
によって搬送される。この搬送経路の両側には、各形状
検査用投光器8,9と各形状検査用受光器11,12、
および長短検査用投光器13と長短検査用受光器14が
配設されている。
検査用投光器8,9から投光されたそれぞれの光を受光
して、受光量に応じたそれぞれの信号を出力する。形状
検査用投光器8から投光される光の光路Aと、形状検査
用投光器9から投光される光の光路Bは、一箇所で交差
し、直交する。この交差点は、釘4の先端によって描か
れる軌跡上に位置する。したがって、釘4の搬送途中
で、釘4の先端は、各光路AとBの交差点を通過する。
用投光器13から投光された光を受光して、受光量に応
じた信号を出力する。長短検査用投光器13から投光さ
れる光の光路Cは、釘4の先端の軌跡を横切り、長短検
査用受光器14に達する。
の構成が示されている。この図3から明らかなように、
釘4の先端が各光路AとBの交差点を通過するに際し、
各形状検査用受光器11,12には、釘4の先端が投影
される。
(a)に示すような円形の受光面11a,12aを持っ
ており、これらの受光面11a,12aに釘4の先端が
投影される。
には、各形状検査用受光器11,12の受光面11a,
12aの投影が図4(a)に示すようなものとなる。こ
の釘4の先端が異常に細くなると、各受光面11a,1
2aの投影が図4(b)に示すようなものとなって、受
光面積が増加する。また、この釘4の先端が異常に太く
なると、各受光面11a,12aの投影が図4(c)に
示すようなものとなって、受光面積が減少する。したが
って、各形状検査用受光器11,12の受光量に対する
許容範囲を予め定めておき、各形状検査用受光器11,
12の受光量と許容範囲を比較して、それぞれの受光量
が許容範囲に入ったときには、釘4の先端形状が正常で
あると判定し、いずれかの受光量が許容範囲から外れた
ときには、釘4の先端形状が異常であると判定できる。
算制御部15は、各形状検査用受光器11,12からの
それぞれの信号を入力すると、これらの信号によって示
される各受光量と許容範囲を比較する。そして、演算制
御部15は、各受光量が共に許容範囲に入ると、釘4の
先端形状が正常であると判定し、各受光量のうちのいず
れかが許容範囲から外れると、釘4の先端形状が異常で
あると判定する。
によっても、釘4の先端形状が正常か否かを判定する。
端をいずれの方向から見ても、同一の形状を見ることが
できる。この場合は、各形状検査用受光器11,12の
受光量がほぼ同一なので、各形状検査用受光器11,1
2の受光量の差が小さい。
ると、釘4の先端を一方向で見たときと、他の方向から
見たときでは、形状が異なることが多い。例えば、釘4
の先端が偏平であれば、形状検査用受光器11から見る
と、図4(b)に示すように釘4の先端形状が細く、も
う一つの形状検査用受光器12から見ると、図4(c)
に示すように釘4の先端形状が太くなることがある。こ
の場合は、形状検査用受光器11の受光量が多く、形状
検査用受光器12の受光量が少なくなるので、各形状検
査用受光器11,12の受光量の差が大きくなる。
受光器11,12の受光量の差を求め、この差が予め定
められたしきい値を越えると、釘4の先端形状が異常で
あると判定する。
送されて、釘4の先端が長短検査用投光器13から投光
される光の光路Cを通過する。この際、長短検査用受光
器14には、釘4の先端が投影される。
すように細長い受光面14aを持っており、この受光面
14aに釘4の先端の中央部のみが投影される。
場合には、長短検査用受光器14の受光面14aの投影
が図5(a)に示すようなものとなる。この釘4が長過
ぎると、受光面14aの投影が図5(b)に示すように
なって、受光面積が減少し、この釘4が短過ぎると、受
光面14aの投影が図5(c)に示すようになって、受
光面積が増加する。したがって、長短検査用受光器14
の受光量は、釘4の長さに反比例し、釘4が長くなる
程、受光量が減少する。
受光器14からの信号を入力すると、この信号によって
示される受光量に反比例する釘4の長さを求め、この長
さと、予め定められた上限値および下限値を比較する。
そして、演算制御部15は、釘4の長さが上限値および
下限値の間にあれば、この釘4の長さが正常であると判
定し、釘4の長さが上限値および下限値の間から外れて
いれば、この釘4の長さが異常であると判定する。
短過ぎる釘が識別されるが、これだけでなく、先に行わ
れた形状の判定の誤りも訂正される。
(b)に示すように釘4の先端が異常に細くなっていて
も、この釘4が異常に長ければ、各形状検査用受光器1
1,12の受光面積が増加しないので、釘4の先端形状
が正常であると判定されることがある。逆に、図4
(c)に示すように釘4の先端が異常に太くても、この
釘4が異常に短ければ、各形状検査用受光器11,12
の受光面積が減少しないので、釘4の先端形状が正常で
あると判定されることがある。
誤って正常と判定された釘は、長過ぎるか、短過ぎるの
で、長さの判定のときに、異常なものと判定される。
各釘4の長さの判定が逐次行われ、先端形状の異常、ま
たは長さの異常が検出されると、演算制御部15は、異
常と判定された釘4が図1に示す位置Pに達した時点
で、この旨を図3に示す排除装置16に通知する。これ
に応答して排除装置16は、この位置Pに達した釘4を
円盤1の縁から落とす。これにより、各釘4のうちから
先端形状の異常、または長さの異常を持つ不良品が取り
除かれる。引き続き、良品の各釘4は、図1に示す位置
Qに達すると、円盤1の縁から落とされて、収拾され
る。
レーザを、各受光器11,12,14として半導体光電
変換素子を、演算制御部15としてプログラマブルコン
トローラをそれぞれ適用して、この先端形状検査装置を
製作したが、この実際の装置は、毎分2200本の検査
能力を発揮した。
投光器と形状検査用受光器によって釘の先端形状を検査
しているが、3組以上の形状検査用投光器と形状検査用
受光器を配置して、釘の先端形状を多様な方向から検査
しても構わない。
ネジ、リベット、ビス等の先端形状の検査にも、この発
明を適用できる。
対象物の先端を異方向から見ている各形状検査用受光手
段の出力に基づいて、検査対象物の先端形状を検査し、
さらに、検査対象物の先端の中央部のみを投影する投、
受光器を用いて形状検査用受光手段の出力からは判らな
い長短を検査するので、長さも含めて先端形状を正確に
検査することができる。
を適用したネジ及び釘の選別装置を上から見て示す平面
図
れた釘の先端を例示する図
れた釘の先端を例示する図
Claims (1)
- 【請求項1】 頭部を支えた検査対象物の先端に対して
側方から投光する形状検査用投光手段及び長短検査用の
投光手段と、 これらの投光手段に対向配置され、これらの投光手段か
ら投光されて、検査対象物の先端を介したそれぞれの光
を受光する形状検査用受光手段及び長短検査用受光手段
と、 各受光手段の出力に基づいて、検査対象物の先端形状を
検査する検査手段とから成り、 前記形状検査用の投光手段と受光手段は検査対象物の先
端を異方向から投影するものを複数組み設け、前記長短
検査用の受光手段は、検査対象物の先端の中央部のみの
影像を受けるように構成したことを特徴とするネジ、
釘、ビス又はリベットの先端形状検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5266285A JP2837079B2 (ja) | 1993-10-25 | 1993-10-25 | ネジ、釘、ビス又はリベットの先端形状検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5266285A JP2837079B2 (ja) | 1993-10-25 | 1993-10-25 | ネジ、釘、ビス又はリベットの先端形状検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07116608A JPH07116608A (ja) | 1995-05-09 |
JP2837079B2 true JP2837079B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=17428833
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5266285A Expired - Fee Related JP2837079B2 (ja) | 1993-10-25 | 1993-10-25 | ネジ、釘、ビス又はリベットの先端形状検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2837079B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
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JP5357566B2 (ja) * | 2009-02-19 | 2013-12-04 | 日東精工株式会社 | 部品検査装置 |
CN103406284B (zh) * | 2013-05-06 | 2015-06-03 | 吴守祥 | 自动紧固件分选机对紧固件图像进行检测的方法 |
Family Cites Families (4)
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JPH0612251B2 (ja) * | 1985-08-06 | 1994-02-16 | 日本発条株式会社 | ねじの検査装置及びその装置を用いた検査方法 |
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JPH03238308A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-24 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 外形測定装置 |
-
1993
- 1993-10-25 JP JP5266285A patent/JP2837079B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH07116608A (ja) | 1995-05-09 |
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