JPS5950344A - 硝子ビンのきず検出装置 - Google Patents
硝子ビンのきず検出装置Info
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- JPS5950344A JPS5950344A JP16066882A JP16066882A JPS5950344A JP S5950344 A JPS5950344 A JP S5950344A JP 16066882 A JP16066882 A JP 16066882A JP 16066882 A JP16066882 A JP 16066882A JP S5950344 A JPS5950344 A JP S5950344A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、散乱光の強度変化を利用した硝子ビンのきず
検出装置ばに関する。
検出装置ばに関する。
ビール、清涼飲料水などの容器にされる硝子ビンは、一
般に回収されて何回も使用されるが、その使用回数が増
加するに従いビンの円筒部上部および下端部にはちまき
状のすシきずが生じ、同時にきず強１燵（きずの深さ）
お工びきずの幅が大きくなる。さらに便用回数が増大す
ると、円筒部会Ｉｆ］１に規犀月生のないきすもｊ曽加
する。このような硝子ビンは商品価１１ｉｊが低下する
と共に強度的にも劣化し、破損の１色険がある。特に炭
酸飲料水の容器として便用する場合は、内部が加圧状態
になっているため破損し易くなる。
般に回収されて何回も使用されるが、その使用回数が増
加するに従いビンの円筒部上部および下端部にはちまき
状のすシきずが生じ、同時にきず強１燵（きずの深さ）
お工びきずの幅が大きくなる。さらに便用回数が増大す
ると、円筒部会Ｉｆ］１に規犀月生のないきすもｊ曽加
する。このような硝子ビンは商品価１１ｉｊが低下する
と共に強度的にも劣化し、破損の１色険がある。特に炭
酸飲料水の容器として便用する場合は、内部が加圧状態
になっているため破損し易くなる。
そこで、ビン詰め工場では、その工程の自動化。
省力化のため硝子ビンのきすを検出する装置が必要とな
る。
る。
＠１肉及び第２図は散乱光式のきず検出装置を示し、第
、１図は投光器と受光器の配置構成図、第２図は投光器
と受光器及び信号処理回路構成図であるＯ 第１図において、移送装置／によって図中矢印方向に移
送されるビン２に対して、１つ以上の光源を持ってビン
コのきす部位を光照射する投光器Ｊ及びビンコのきず部
位からの散乱元金光検出する受光器≠は夫々の光軸とほ
ぼ同一平面内でしかもビン移送方向とほぼ垂＠になる配
置にしている。
、１図は投光器と受光器の配置構成図、第２図は投光器
と受光器及び信号処理回路構成図であるＯ 第１図において、移送装置／によって図中矢印方向に移
送されるビン２に対して、１つ以上の光源を持ってビン
コのきす部位を光照射する投光器Ｊ及びビンコのきず部
位からの散乱元金光検出する受光器≠は夫々の光軸とほ
ぼ同一平面内でしかもビン移送方向とほぼ垂＠になる配
置にしている。
この構成において、ビンコは移送装［／で矢印方向に移
送され、投光器Ｊと受光器≠の光軸の交点を通過する過
程でその周面の約半周分が光走査され、該交点を下端部
等のきす部位にしておくことで受光器ダにはきず強要に
応じた散乱光を捕える。
送され、投光器Ｊと受光器≠の光軸の交点を通過する過
程でその周面の約半周分が光走査され、該交点を下端部
等のきす部位にしておくことで受光器ダにはきず強要に
応じた散乱光を捕える。
第２図において、投光器Ｊは電源ｊによって通電点灯さ
れるランプ乙の背面に反射鏡７葡有してビン２のきず検
出部位側への平行光束を借、この平行光は集光レンズｇ
、９によってきす部位の幅寸法程度までスポット状に集
束させる。受光器ゲはビンコのきず部位からの散乱光を
レンズ１０４． ／／によって捕集し、スリン）／コに
よってきす部位の検出エリア金第３図に示すように幅ａ
で高さｂになるよう縦長枠に、設定し、スリット／コを
経た受光束を受光素子／３で光強度に対応する電圧（又
は電流）１８号として検出する。受光ふ子１３の検出ｍ
号は増幅回路／弘で適当なレベルまで増幅し、この増幅
信号は比較判定回路／３によって比較基準値との比較判
定をする。この比較判定にはビン位置信号と比較基準値
か与えられる。さらに、投光器３からビンコまでの光路
上及びビンコから受光ｉｇまでの光路上＆ｒ夫々偏光器
／ｌ、／７が設けられ、両側光器による直線偏光が互い
ＶＣ直交するよう配置されることで、ピン周面の不規則
な凹凸部からの反射光を除去してきすによる散乱光のみ
を受光器に４人するようにしている。
れるランプ乙の背面に反射鏡７葡有してビン２のきず検
出部位側への平行光束を借、この平行光は集光レンズｇ
、９によってきす部位の幅寸法程度までスポット状に集
束させる。受光器ゲはビンコのきず部位からの散乱光を
レンズ１０４． ／／によって捕集し、スリン）／コに
よってきす部位の検出エリア金第３図に示すように幅ａ
で高さｂになるよう縦長枠に、設定し、スリット／コを
経た受光束を受光素子／３で光強度に対応する電圧（又
は電流）１８号として検出する。受光ふ子１３の検出ｍ
号は増幅回路／弘で適当なレベルまで増幅し、この増幅
信号は比較判定回路／３によって比較基準値との比較判
定をする。この比較判定にはビン位置信号と比較基準値
か与えられる。さらに、投光器３からビンコまでの光路
上及びビンコから受光ｉｇまでの光路上＆ｒ夫々偏光器
／ｌ、／７が設けられ、両側光器による直線偏光が互い
ＶＣ直交するよう配置されることで、ピン周面の不規則
な凹凸部からの反射光を除去してきすによる散乱光のみ
を受光器に４人するようにしている。
このように、投光器と受光器の）いｔｉｌｌ ｆｊｉ：
はぼ同一平面内に配置し、ビンの移送方向とほぼ垂直に
配置し、さらにビンの直径に比してビンと受光器の距離
を十分大きく取ることＫより、ビンが移送方向のどの位
置にあっても検出エリアのきず強度を精度良く測定され
るし、ビンの約半周分のきず強度分布も測定できる。そ
して、ビンの不規則な凹凸部からの反射光全偏光器で除
去してビンの形状による測定誤差か少なくなる。
はぼ同一平面内に配置し、ビンの移送方向とほぼ垂直に
配置し、さらにビンの直径に比してビンと受光器の距離
を十分大きく取ることＫより、ビンが移送方向のどの位
置にあっても検出エリアのきず強度を精度良く測定され
るし、ビンの約半周分のきず強度分布も測定できる。そ
して、ビンの不規則な凹凸部からの反射光全偏光器で除
去してビンの形状による測定誤差か少なくなる。
しかし、投光器の光源ランプの劣化等に因って照射光鼠
や受光量の変動がきず検出精度に影響する。また、ビン
の良否を判定するために、例えばぎず強度分布の最大値
がある設定値より大きいか否かで判定する場合などその
設定値を選定するだめの基準値によって判別結果が大き
く変る。
や受光量の変動がきず検出精度に影響する。また、ビン
の良否を判定するために、例えばぎず強度分布の最大値
がある設定値より大きいか否かで判定する場合などその
設定値を選定するだめの基準値によって判別結果が大き
く変る。
本発明は、上述までの事情に鑑みてなされたもので、投
光器で光照射される標準散乱板を設け、受光器側に補正
用受光３鞍 設けて標準散乱板からの散乱光を導入し、
補正用受光器出力できず検出信号又は比較基準値を補正
することにより、光源ランプ６の劣化等に る外乱を除
去して信号処理を確実容易にしたきず検出装置を提供す
ることを目的とする。
光器で光照射される標準散乱板を設け、受光器側に補正
用受光３鞍 設けて標準散乱板からの散乱光を導入し、
補正用受光器出力できず検出信号又は比較基準値を補正
することにより、光源ランプ６の劣化等に る外乱を除
去して信号処理を確実容易にしたきず検出装置を提供す
ることを目的とする。
第４図は本発明の一実施例を示し、第２図と同じものあ
るいは同じ機能を有するものは同じ符号で示す。ビンコ
のきす部位近傍には標準散乱板／ｇが設けられる。標準
散乱板／８は入射光量に対する散乱光量率が予め測定さ
れ、投光器Ｊからの平行光束の一部で光照射されてその
散乱光が受光器４に導入されるよう配置される。受光器
−１，は偏光器／７．レンズ１０．／／ｆ共通にして、
きずｄ（１１定用スリツト／）と受光素子／３とは別に
標準散乱板／８からの散乱光を導入する補正用受光器と
してのスリット／９と受光素子２０が設けられる。受光
素子、１０の眠気信号出力は増幅回路２／を経て散乱光
量率設定回路ｎの入力■。とされる。設定回路ｎは標準
散乱板１５における散乱光ｍ率βの測定値が設定値とし
て与えられ、この設定値βを増幅回路２／からの入力Ｖ
Ｃで乗算した出力ｖ０（＝ｖｃ×βンの演＃をする。こ
の出力Ｖ。は比較基準補正回路−２，３ＶＣおいて比較
基準値ｘＶｃ乗算した補正値ｖｓ （Ｖｏ’ Ｘ）ｃ
）として比較判定回路１５の比較基準値にされ、測定用
受光素子／３１則からの検出出力になるＶ□と比較され
る。
るいは同じ機能を有するものは同じ符号で示す。ビンコ
のきす部位近傍には標準散乱板／ｇが設けられる。標準
散乱板／８は入射光量に対する散乱光量率が予め測定さ
れ、投光器Ｊからの平行光束の一部で光照射されてその
散乱光が受光器４に導入されるよう配置される。受光器
−１，は偏光器／７．レンズ１０．／／ｆ共通にして、
きずｄ（１１定用スリツト／）と受光素子／３とは別に
標準散乱板／８からの散乱光を導入する補正用受光器と
してのスリット／９と受光素子２０が設けられる。受光
素子、１０の眠気信号出力は増幅回路２／を経て散乱光
量率設定回路ｎの入力■。とされる。設定回路ｎは標準
散乱板１５における散乱光ｍ率βの測定値が設定値とし
て与えられ、この設定値βを増幅回路２／からの入力Ｖ
Ｃで乗算した出力ｖ０（＝ｖｃ×βンの演＃をする。こ
の出力Ｖ。は比較基準補正回路−２，３ＶＣおいて比較
基準値ｘＶｃ乗算した補正値ｖｓ （Ｖｏ’ Ｘ）ｃ
）として比較判定回路１５の比較基準値にされ、測定用
受光素子／３１則からの検出出力になるＶ□と比較され
る。
このよう、に、標準散乱板／ざを設に−ｆて同じ光源２
からの光音散乱した散乱光を検出し、比較基準値を補正
することによシ、光源ｔの光鼠変化寺による測定値の変
化を比較基準＄１１１で自動補正して精度の商い測定１
判定を可能にする。また、比較基準値の単位は散乱光量
率設定回路で基準化され、設定値選定が容易になるし、
同ａ種においては設定値が共通化される。
からの光音散乱した散乱光を検出し、比較基準値を補正
することによシ、光源ｔの光鼠変化寺による測定値の変
化を比較基準＄１１１で自動補正して精度の商い測定１
判定を可能にする。また、比較基準値の単位は散乱光量
率設定回路で基準化され、設定値選定が容易になるし、
同ａ種においては設定値が共通化される。
第５図は本発明の他の実施例を示す要部回路図であり、
散乱光量率設定回路ｎの出力ｖ０で測定系の信号■、を
補正するＪｉｌｌ定値補正回路、２４ｃを設け、比較基
準値Ｘは調整しない場合である。この場合、補正された
きず強度検出信号は測定値補正回路２ｔから補正された
信号としそ外部に増出すことができ、きず強度分布曲線
の測定等に補正されたＡ’ｌｔ Ｋ良い出力を得ること
ができる。
散乱光量率設定回路ｎの出力ｖ０で測定系の信号■、を
補正するＪｉｌｌ定値補正回路、２４ｃを設け、比較基
準値Ｘは調整しない場合である。この場合、補正された
きず強度検出信号は測定値補正回路２ｔから補正された
信号としそ外部に増出すことができ、きず強度分布曲線
の測定等に補正されたＡ’ｌｔ Ｋ良い出力を得ること
ができる。
第６図は標準散乱板／ｇの一実施例を示し、標準散乱板
本体−ｊは基＆易に貼着され、基板易は散乱板本体Ｊ５
の上部にエア吹出口ＪＡ 人を有してエア接続口１６Ｂ
から尋人される圧縮清沖空気を吹出口ｇＡから散乱板本
体、／、Ｓに向けて吹出す４１１ｔ造にされる。
本体−ｊは基＆易に貼着され、基板易は散乱板本体Ｊ５
の上部にエア吹出口ＪＡ 人を有してエア接続口１６Ｂ
から尋人される圧縮清沖空気を吹出口ｇＡから散乱板本
体、／、Ｓに向けて吹出す４１１ｔ造にされる。
この構造ＶＣより、標準散乱板本体コ５の表面′にほこ
シ等の付着、湿度による曇シを避けて幇助清び）状態に
して一層精度の良い測定、補正を可能にする。
シ等の付着、湿度による曇シを避けて幇助清び）状態に
して一層精度の良い測定、補正を可能にする。
以上のとおり、本発明に、Ｊ：れば、４；Ｉ（準散乱板
を設けて光源ランプの劣化等による外乱全除去すると共
にきず強度の比較基準値単位を基県化して基準値の設定
を容易にしかも共通化しうる効果がある０ なお、本発明は測定対象がビンに限られるものでなく、
種々拐質の容器９部品等の散乱光式検査あるいは測定に
応用できるのは勿論である。
を設けて光源ランプの劣化等による外乱全除去すると共
にきず強度の比較基準値単位を基県化して基準値の設定
を容易にしかも共通化しうる効果がある０ なお、本発明は測定対象がビンに限られるものでなく、
種々拐質の容器９部品等の散乱光式検査あるいは測定に
応用できるのは勿論である。
第１図は散乱光式きず検出装ｆ５： イ再成図、第２図
は第１図における谷部構成図、第３図は第２図における
検出エリアの説明囚、第４図は本発明の−実施例を示す
構成図、第６図は本発明の他の実施例を示す要部構成図
、第６図は本発明における標準散乱板の一実施例を示す
正面図（蜀と１１１ｉ１ ｒＪｆｆ面図（Ｂ）である。 ／・・・移送装置、Ｊ・・・ビン、３・・・投光器、ｌ
・゛°受光器、よ・・・電源、／コ、／ｑ・・・スリン
）、／Ｊ、、２に）・・・受光素子、滓、２／・・・増
幅口ｈ！ｇ、Ｂ・・・比較判定回路、／６．／７・・・
偏光器、／８・・・標準散乱板、ｎ・・・散乱光敞率設
定回路、Ｊ・・・比較基準値補正回路、λｑ・・・測定
値補正回路、コＳ・・・標準散乱板本体、ムＡ・・・エ
ア吹出口１．２ＡＢ・・・エア接続口。 會 判路信号 第３１￥１
は第１図における谷部構成図、第３図は第２図における
検出エリアの説明囚、第４図は本発明の−実施例を示す
構成図、第６図は本発明の他の実施例を示す要部構成図
、第６図は本発明における標準散乱板の一実施例を示す
正面図（蜀と１１１ｉ１ ｒＪｆｆ面図（Ｂ）である。 ／・・・移送装置、Ｊ・・・ビン、３・・・投光器、ｌ
・゛°受光器、よ・・・電源、／コ、／ｑ・・・スリン
）、／Ｊ、、２に）・・・受光素子、滓、２／・・・増
幅口ｈ！ｇ、Ｂ・・・比較判定回路、／６．／７・・・
偏光器、／８・・・標準散乱板、ｎ・・・散乱光敞率設
定回路、Ｊ・・・比較基準値補正回路、λｑ・・・測定
値補正回路、コＳ・・・標準散乱板本体、ムＡ・・・エ
ア吹出口１．２ＡＢ・・・エア接続口。 會 判路信号 第３１￥１
Claims (1)
- （１） 硝子ビンのきす部位に向って晃照射する投光
器と、硝子ビンのきす部位からの散乱光を導入してきず
強度に応じた検出信号を得る受光器と、上記検出信号を
比較基準値と比較して硝子ビンの良否判定をするイざ号
処理回路とを備えた故古ｕｂ式きず検出装置において、
上記投光器からの光で１創射されて所定の散乱光は率を
持って散乱光を発する標ｉ’Ａ散乱板と、この標準散乱
板の散乱光を検出して上記比）１喫基阜値又は受光器の
検出信号を油止する補正手段とを備えたことを特徴とす
る硝子ビンのきず検出装置。 （２１％許請求の範囲第１項において、上記標準散乱板
はその表面を清浄望気で清浄する手段を含むことを特徴
とする硝子ビンのきず検出装置ｉ！（。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16066882A JPS5950344A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16066882A JPS5950344A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5950344A true JPS5950344A (ja) | 1984-03-23 |
| JPH0331220B2 JPH0331220B2 (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=15719899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16066882A Granted JPS5950344A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5950344A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202267A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Kirin Brewery Co Ltd | 検査用基準サンプル壜、壜検査システム、及び壜検査システムの校正方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008181626A (ja) | 2007-01-26 | 2008-08-07 | Funai Electric Co Ltd | 光ピックアップ |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4960587A (ja) * | 1972-10-11 | 1974-06-12 | ||
| JPS5139574U (ja) * | 1974-09-19 | 1976-03-24 | ||
| JPS5276985A (en) * | 1975-12-23 | 1977-06-28 | Canon Inc | Flaw detector |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5139574B2 (ja) * | 1973-02-24 | 1976-10-28 |
-
1982
- 1982-09-14 JP JP16066882A patent/JPS5950344A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4960587A (ja) * | 1972-10-11 | 1974-06-12 | ||
| JPS5139574U (ja) * | 1974-09-19 | 1976-03-24 | ||
| JPS5276985A (en) * | 1975-12-23 | 1977-06-28 | Canon Inc | Flaw detector |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202267A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Kirin Brewery Co Ltd | 検査用基準サンプル壜、壜検査システム、及び壜検査システムの校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0331220B2 (ja) | 1991-05-02 |
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