JPH0331220B2 - - Google Patents
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- JPH0331220B2 JPH0331220B2 JP57160668A JP16066882A JPH0331220B2 JP H0331220 B2 JPH0331220 B2 JP H0331220B2 JP 57160668 A JP57160668 A JP 57160668A JP 16066882 A JP16066882 A JP 16066882A JP H0331220 B2 JPH0331220 B2 JP H0331220B2
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- Japan
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- detection signal
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 12
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 9
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 235000014171 carbonated beverage Nutrition 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 235000014214 soft drink Nutrition 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、散乱光の強度変化を利用した硝子ビ
ンのきず検出装置に関する。
ンのきず検出装置に関する。
ビール、清涼飲料水などの容器にされる硝子ビ
ンは、一般に回収されて何回も使用されるが、そ
の使用回数が増加するに従いビンの円筒部上部お
よび下端部にはちまき状のすりきずが生じ、同時
にきず強度（きずの深さ）およびきずの幅が大き
くなる。さらに使用回数が増大すると、円筒部全
面に規則性のないきずも増加する。このような硝
子ビンは商品価値が低下すると共に強度的にも劣
化し、破損の危険がある。特に炭酸飲料水の容器
として使用する場合は、内部が加圧状態になつて
いるため破損し易くなる。
ンは、一般に回収されて何回も使用されるが、そ
の使用回数が増加するに従いビンの円筒部上部お
よび下端部にはちまき状のすりきずが生じ、同時
にきず強度（きずの深さ）およびきずの幅が大き
くなる。さらに使用回数が増大すると、円筒部全
面に規則性のないきずも増加する。このような硝
子ビンは商品価値が低下すると共に強度的にも劣
化し、破損の危険がある。特に炭酸飲料水の容器
として使用する場合は、内部が加圧状態になつて
いるため破損し易くなる。
そこで、ビン詰め工場では、その工程の自動
化、省力化のため硝子ビンのきずを検出する装置
が必要となる。
化、省力化のため硝子ビンのきずを検出する装置
が必要となる。
第１図及び第２図は散乱光式のきず検出装置を
示し、第１図は投光器と受光器の配置構成図、第
２図は投光器と受光器及び信号処理回路構成図で
ある。
示し、第１図は投光器と受光器の配置構成図、第
２図は投光器と受光器及び信号処理回路構成図で
ある。
第１図において、移送装置１によつて図中矢印
方向に移送されるビン２に対して、１つ以上の光
源を持つてビン２のきず部位を光照射する投光器
３及びビン２のきず部位からの散乱光を光検出す
る受光器４は夫々の光軸とほぼ同一平面内でしか
もビン移送方向とほぼ垂直になる配置にしてい
る。
方向に移送されるビン２に対して、１つ以上の光
源を持つてビン２のきず部位を光照射する投光器
３及びビン２のきず部位からの散乱光を光検出す
る受光器４は夫々の光軸とほぼ同一平面内でしか
もビン移送方向とほぼ垂直になる配置にしてい
る。
この構成において、ビン２は移送装置１で矢印
方向に移送され、投光器３と受光器４の光軸の交
点を通過する過程でその周面の約半周分が光走査
され、該交点を下端部等のきず部位にしておくこ
とで受光器４にはきず強度に応じた散乱光を捕え
る。
方向に移送され、投光器３と受光器４の光軸の交
点を通過する過程でその周面の約半周分が光走査
され、該交点を下端部等のきず部位にしておくこ
とで受光器４にはきず強度に応じた散乱光を捕え
る。
第２図において、投光器３は電源５によつて通
電点灯されるランプ６の背面に反射鏡７を有して
ビン２のきず検出部位側への平行光束を得、この
平行光は集光レンズ８，９によつてきず部位の幅
寸法程度までスポツト状に集束させる。受光器４
はビン２のきず部位からの散乱光をレンズ１０，
１１によつて捕集し、スリツト１２によつてきず
部位の検出エリアを第３図に示すように幅ａで高
さｂになるように縦長枠に設定し、スリツト１２
を経た受光束を受光素子１３で光強度に対応する
電圧（又は電流）信号として検出する。受光素子
１３の検出信号は増幅回路１４で適当なレベルま
で増幅し、この増幅信号は比較判定回路１５によ
つて比較基準値との比較判定をする。この比較判
定にはビン位置信号と比較基準値が与えられる。
さらに、投光器３からビン２までの光路上及びビ
ン２から受光器４までの光路上に夫々偏光器１
６，１７が設けられ、両偏光器による直線偏光が
互いに直交するよう配置されることで、ビン周面
の不規則な凹凸部からの反射光を除去してきずに
よる散乱光のみを受光器に導入するようにしてい
る。
電点灯されるランプ６の背面に反射鏡７を有して
ビン２のきず検出部位側への平行光束を得、この
平行光は集光レンズ８，９によつてきず部位の幅
寸法程度までスポツト状に集束させる。受光器４
はビン２のきず部位からの散乱光をレンズ１０，
１１によつて捕集し、スリツト１２によつてきず
部位の検出エリアを第３図に示すように幅ａで高
さｂになるように縦長枠に設定し、スリツト１２
を経た受光束を受光素子１３で光強度に対応する
電圧（又は電流）信号として検出する。受光素子
１３の検出信号は増幅回路１４で適当なレベルま
で増幅し、この増幅信号は比較判定回路１５によ
つて比較基準値との比較判定をする。この比較判
定にはビン位置信号と比較基準値が与えられる。
さらに、投光器３からビン２までの光路上及びビ
ン２から受光器４までの光路上に夫々偏光器１
６，１７が設けられ、両偏光器による直線偏光が
互いに直交するよう配置されることで、ビン周面
の不規則な凹凸部からの反射光を除去してきずに
よる散乱光のみを受光器に導入するようにしてい
る。
このように、投光器の受光器の光軸をほぼ同一
平面内に配置し、ビンの移送方向とほぼ垂直に配
置し、さらにビンの直径に比してビンと受光器の
距離を十分大きく取ることにより、ビンが移送方
向のどの位置にあつても検出エリアのきず強度を
精度良く測定されるし、ビンの約半周分のきず強
度分布も測定できる。そして、ビンの不規則な凹
凸部からの反射光を偏光器で除去してビンの形状
による測定誤差が少なくなる。
平面内に配置し、ビンの移送方向とほぼ垂直に配
置し、さらにビンの直径に比してビンと受光器の
距離を十分大きく取ることにより、ビンが移送方
向のどの位置にあつても検出エリアのきず強度を
精度良く測定されるし、ビンの約半周分のきず強
度分布も測定できる。そして、ビンの不規則な凹
凸部からの反射光を偏光器で除去してビンの形状
による測定誤差が少なくなる。
しかし、投光器の光源ランプの劣化等に因つて
照射光量や受光量の変動がきず検出精度に影響す
る。また、ビンの良否を判定するために、例えば
きず強度分布の最大値がある設定値より大きいか
否かで判定する場合などその設定値を選定するた
めの基準値によつて判別結果が大きく変る。
照射光量や受光量の変動がきず検出精度に影響す
る。また、ビンの良否を判定するために、例えば
きず強度分布の最大値がある設定値より大きいか
否かで判定する場合などその設定値を選定するた
めの基準値によつて判別結果が大きく変る。
本発明は、上述までの事情に鑑みてなされたも
ので、投光器で光照射される標準散乱板を設け、
受光器側に補正用受光器を設けて標準散乱板から
の散乱光を導入し、補正用受光器出力できず検出
信号又は比較基準値を補正することにより、光源
ランプの劣化等による外乱を除去して信号処理を
確実容易にしたきず検出装置を提供することを目
的とする。
ので、投光器で光照射される標準散乱板を設け、
受光器側に補正用受光器を設けて標準散乱板から
の散乱光を導入し、補正用受光器出力できず検出
信号又は比較基準値を補正することにより、光源
ランプの劣化等による外乱を除去して信号処理を
確実容易にしたきず検出装置を提供することを目
的とする。
第４図は本発明の一実施例を示し、第２図と同
じものあるいは同じ機能を有するものは同じ符号
で示す。ビン２のきず部位近傍には標準散乱板１
８が設けられる。標準散乱板１８は入射光量に対
する散乱光量率が予め測定され、投光器３からの
平行光束の一部で光照射されてその散乱光が受光
器４に導入されるよう配置される。受光器４は偏
光器１７、レンズ１０，１１を共通にして、きず
測定用スリツト１２と受光素子１３とは別に標準
散乱板１８からの散乱光を導入する補正用受光器
としてのスリツト１９と受光素子２０が設けられ
る。受光素子２０の電気信号出力は増幅回路２１
を経て散乱光量率設定回路２２の入力Vcとされ
る。設定回路２２は標準散乱板１８における散乱
光量率βの測定値が設定値として与えられ、この
設定値βを増幅回路２１からの入力Vcで乗算し
た出力Vp（＝Vc×β）の演算をする。この出力Vp
は比較基準補正回路２３において比較基準値ｘに
乗算した補正値Vs（Vp×ｘ）として比較判定回路
１５の比較基準値にされ、測定用受光素子１３側
からの検出出力になるVnと比較される。
じものあるいは同じ機能を有するものは同じ符号
で示す。ビン２のきず部位近傍には標準散乱板１
８が設けられる。標準散乱板１８は入射光量に対
する散乱光量率が予め測定され、投光器３からの
平行光束の一部で光照射されてその散乱光が受光
器４に導入されるよう配置される。受光器４は偏
光器１７、レンズ１０，１１を共通にして、きず
測定用スリツト１２と受光素子１３とは別に標準
散乱板１８からの散乱光を導入する補正用受光器
としてのスリツト１９と受光素子２０が設けられ
る。受光素子２０の電気信号出力は増幅回路２１
を経て散乱光量率設定回路２２の入力Vcとされ
る。設定回路２２は標準散乱板１８における散乱
光量率βの測定値が設定値として与えられ、この
設定値βを増幅回路２１からの入力Vcで乗算し
た出力Vp（＝Vc×β）の演算をする。この出力Vp
は比較基準補正回路２３において比較基準値ｘに
乗算した補正値Vs（Vp×ｘ）として比較判定回路
１５の比較基準値にされ、測定用受光素子１３側
からの検出出力になるVnと比較される。
このように、標準散乱板１８を設けて同じ光源
６からの光を散乱した散乱光を検出し、比較基準
値を補正することにより、光源６の光量変化等に
よる測定値の変化を比較基準側で自動補正して精
度の高い測定、判定を可能にする。また、比較基
準値の単位は散乱光量率設定回路で基準化され、
設定値選定が容易になるし、同機種においては設
定値が共通化される。
６からの光を散乱した散乱光を検出し、比較基準
値を補正することにより、光源６の光量変化等に
よる測定値の変化を比較基準側で自動補正して精
度の高い測定、判定を可能にする。また、比較基
準値の単位は散乱光量率設定回路で基準化され、
設定値選定が容易になるし、同機種においては設
定値が共通化される。
第５図は本発明の他の実施例を示す要部回路図
であり、散乱光量率設定回路２２の出力Vpで測
定系の信号Vnを補正する測定値補正回路２４を
設け、比較基準値ｘは調整しない場合である。こ
の場合、補正されたきず強度検出信号は測定値補
正回路２４から補正された信号として外部に取出
すことができ、きず強度分布曲線の測定等に補正
された精度良い出力を得ることができる。
であり、散乱光量率設定回路２２の出力Vpで測
定系の信号Vnを補正する測定値補正回路２４を
設け、比較基準値ｘは調整しない場合である。こ
の場合、補正されたきず強度検出信号は測定値補
正回路２４から補正された信号として外部に取出
すことができ、きず強度分布曲線の測定等に補正
された精度良い出力を得ることができる。
第６図は標準散乱板１８の一実施例を示し、標
準散乱板本体２５は基板２６に貼着され、基板２
６は散乱板本体２５の上部にエア吹出口２６Ａを
有してエア接続口２６Ｂから導入される圧縮清浄
空気を吹出口２６Ａから散乱板本体２５に向けて
吹出す構造にされる。この構造により、標準散乱
板本体２５の表面にほこり等の付着、湿度による
曇りを避けて常時清浄状態にして一層精度の良い
測定、補正を可能にする。
準散乱板本体２５は基板２６に貼着され、基板２
６は散乱板本体２５の上部にエア吹出口２６Ａを
有してエア接続口２６Ｂから導入される圧縮清浄
空気を吹出口２６Ａから散乱板本体２５に向けて
吹出す構造にされる。この構造により、標準散乱
板本体２５の表面にほこり等の付着、湿度による
曇りを避けて常時清浄状態にして一層精度の良い
測定、補正を可能にする。
以上のとおり、本発明によれば、標準散乱板を
設けて光源ランプの劣化等による外乱を除去する
と共にきず強度の比較基準値単位を基準化して基
準値の設定を容易にしかも共通化しうる効果があ
る。即ち、標準散乱板と被検体となる硝子ビンと
が異なる散乱率、反射率になる場合にも散乱光量
率βによる標準散乱板からの検出信号を補正する
ことできず部位からの検出信号と絶対値を合わせ
るという基準化ができ、同機種であれば個々の装
置間でのきず強度測定値に統一性を持たせること
ができると共にきず強度の良否判定及びきず強度
そのものの度合も正確にかつ柔軟性を持たせて測
定できる。
設けて光源ランプの劣化等による外乱を除去する
と共にきず強度の比較基準値単位を基準化して基
準値の設定を容易にしかも共通化しうる効果があ
る。即ち、標準散乱板と被検体となる硝子ビンと
が異なる散乱率、反射率になる場合にも散乱光量
率βによる標準散乱板からの検出信号を補正する
ことできず部位からの検出信号と絶対値を合わせ
るという基準化ができ、同機種であれば個々の装
置間でのきず強度測定値に統一性を持たせること
ができると共にきず強度の良否判定及びきず強度
そのものの度合も正確にかつ柔軟性を持たせて測
定できる。
なお、本発明は測定対象がビンに限られるもの
でなく、種々材質の容器、部品等の散乱光式検査
あるいは測定に応用できるのは勿論である。
でなく、種々材質の容器、部品等の散乱光式検査
あるいは測定に応用できるのは勿論である。
第１図は散乱光式きず検出装置構成図、第２図
は第１図における各部構成図、第３図は第２図に
おける検出エリアの説明図、第４図は本発明の一
実施例を示す構成図、第５図は本発明の他の実施
例を示す要部構成図、第６図は本発明における標
準散乱板の一実施例を示す正面図Ａと側断面図Ｂ
である。 １……移送装置、２……ビン、３……投光器、
４……受光器、５……電源、１２，１９……スリ
ツト、１３，２０……受光素子、１４，２１……
増幅回路、１５……比較判定回路、１６，１７…
…偏光器、１８……標準散乱板、２２……散乱光
量率設定回路、２３……比較基準値補正回路、２
４……測定値補正回路、２５……標準散乱板本
体、２６Ａ……エア吹出口、２６Ｂ……エア接続
口。
は第１図における各部構成図、第３図は第２図に
おける検出エリアの説明図、第４図は本発明の一
実施例を示す構成図、第５図は本発明の他の実施
例を示す要部構成図、第６図は本発明における標
準散乱板の一実施例を示す正面図Ａと側断面図Ｂ
である。 １……移送装置、２……ビン、３……投光器、
４……受光器、５……電源、１２，１９……スリ
ツト、１３，２０……受光素子、１４，２１……
増幅回路、１５……比較判定回路、１６，１７…
…偏光器、１８……標準散乱板、２２……散乱光
量率設定回路、２３……比較基準値補正回路、２
４……測定値補正回路、２５……標準散乱板本
体、２６Ａ……エア吹出口、２６Ｂ……エア接続
口。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 硝子ビンのきず部位に向つて光照射する投光
器と、上記きず部位の近傍に設けられ上記投光器
からきず部位への平行光束の一部で光照射される
標準散乱板と、上記硝子ビンのきず部位からの散
乱光を導入してきず強度に応じた検出信号を得る
第１の受光素子及び上記標準散乱板からの散乱光
を導入して該散乱光の強さに応じた検出信号を得
る第２の受光素子を有する受光器と、上記第２の
受光素子からの検出信号（Vc）に上記標準散乱
板の散乱光量率（β）を乗算した値（Vp）を得
る散乱光量率設定回路と、この設定回路の出力
（Vp）で上記第１の受光素子からの検出信号
（Vn）に体する比較基準値（ｘ）の補正又は該検
出信号（Vn）の補正をする補正回路とを備えた
ことを特徴とする硝子ビンのきず検出装置。 ２ 特許請求の範囲第１項において、上記標準散
乱板はその表面を清浄空気で清浄する手段を含む
ことを特徴とする硝子ビンのきず検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16066882A JPS5950344A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16066882A JPS5950344A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5950344A JPS5950344A (ja) | 1984-03-23 |
| JPH0331220B2 true JPH0331220B2 (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=15719899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16066882A Granted JPS5950344A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 硝子ビンのきず検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5950344A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1950756A1 (en) | 2007-01-26 | 2008-07-30 | Funai Electric Co., Ltd. | Optical pickup |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202267A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Kirin Brewery Co Ltd | 検査用基準サンプル壜、壜検査システム、及び壜検査システムの校正方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4960587A (ja) * | 1972-10-11 | 1974-06-12 | ||
| JPS5139574B2 (ja) * | 1973-02-24 | 1976-10-28 | ||
| JPS5276985A (en) * | 1975-12-23 | 1977-06-28 | Canon Inc | Flaw detector |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5722101Y2 (ja) * | 1974-09-19 | 1982-05-13 |
-
1982
- 1982-09-14 JP JP16066882A patent/JPS5950344A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4960587A (ja) * | 1972-10-11 | 1974-06-12 | ||
| JPS5139574B2 (ja) * | 1973-02-24 | 1976-10-28 | ||
| JPS5276985A (en) * | 1975-12-23 | 1977-06-28 | Canon Inc | Flaw detector |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1950756A1 (en) | 2007-01-26 | 2008-07-30 | Funai Electric Co., Ltd. | Optical pickup |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5950344A (ja) | 1984-03-23 |
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