JPH0734365Y2 - 異物検出除去装置 - Google Patents
異物検出除去装置Info
- Publication number
- JPH0734365Y2 JPH0734365Y2 JP1989059470U JP5947089U JPH0734365Y2 JP H0734365 Y2 JPH0734365 Y2 JP H0734365Y2 JP 1989059470 U JP1989059470 U JP 1989059470U JP 5947089 U JP5947089 U JP 5947089U JP H0734365 Y2 JPH0734365 Y2 JP H0734365Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- inspected
- foreign matter
- detection
- unit
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔考案の目的〕 （産業上の利用分野） 本考案は透明棒管類、たとえばガラス管等の異物を検出
し、異物を含んだ被検査体部分を自動的に除去する異物
検出除去装置に関する。
し、異物を含んだ被検査体部分を自動的に除去する異物
検出除去装置に関する。
（従来の技術） 従来、ガラス管の管引成形工程において、異物などの欠
点のあるガラス管は作業者が目視により検査し、これを
除去していた。しかし、ガラス管のようなと透明体の欠
点を見つける作業は難しく、能率が悪いばかりでなく不
良品を見落として良品に混入するという欠点があった。
このため作業者の視感に依存することなくガラス管の欠
点を検出して不良品を自動的に除去する装置の開発の望
まれてきた。
点のあるガラス管は作業者が目視により検査し、これを
除去していた。しかし、ガラス管のようなと透明体の欠
点を見つける作業は難しく、能率が悪いばかりでなく不
良品を見落として良品に混入するという欠点があった。
このため作業者の視感に依存することなくガラス管の欠
点を検出して不良品を自動的に除去する装置の開発の望
まれてきた。
近年、びんガラス等の欠点を検出して除去する装置が種
々開発された。例えば、特開昭47−4748号公報には、ガ
ラス容器にレーザビームを当て容器を通過するビーム光
の強さを感知し、この強さが設定値より減少した時、信
号を発生する装置が開示されている。他のレーザビーム
を利用したものに、特開昭51−65987号公報に記載され
た装置がある。特開昭50−17282号公報には光をびんガ
ラスに照射して反射光を受光、欠陥を検出するため光電
変換素子と増幅回路とを集積受光器とした装置が開示さ
れている。特開昭50−22687号公報には、光をガラスび
んに投射して反射光と透過光による光学像を撮像管の光
電面に結び電気信号に変換、異物の影響による特異な電
気信号を検知するガラスびんの連続的検出方法が開示さ
れている。
々開発された。例えば、特開昭47−4748号公報には、ガ
ラス容器にレーザビームを当て容器を通過するビーム光
の強さを感知し、この強さが設定値より減少した時、信
号を発生する装置が開示されている。他のレーザビーム
を利用したものに、特開昭51−65987号公報に記載され
た装置がある。特開昭50−17282号公報には光をびんガ
ラスに照射して反射光を受光、欠陥を検出するため光電
変換素子と増幅回路とを集積受光器とした装置が開示さ
れている。特開昭50−22687号公報には、光をガラスび
んに投射して反射光と透過光による光学像を撮像管の光
電面に結び電気信号に変換、異物の影響による特異な電
気信号を検知するガラスびんの連続的検出方法が開示さ
れている。
（考案が解決しようとする問題点） 上記のように従来異物などの欠点のあるガラス製品の選
別は作業者が目視により行なうか、または光やレーザビ
ームを利用して自動的に行なってきた。前者の目視によ
る方法では、能率が悪く、かつ不良品を見落して良品に
混入するという問題がある。後者の光やレーザビームを
利用する方法の従来の欠点検出機では、同一形状の透明
ガラス製品を連続して検査することは可能であったが、
形状の異なったガラス製品については対応が難しい。ま
た、従来法はびんガラス等の自転しているガラス製品に
ついての検出方法であって製品を回転させないと製品の
全周について検査できない。さらに従来法の被検査物は
びんガラス等の中型のものであり、びんガラス用の検査
機を直径が5mm程度のガラス細管に適用すると、検出精
度が悪く異物を含むガラス製品を完全に除去することが
できない恐れがある。
別は作業者が目視により行なうか、または光やレーザビ
ームを利用して自動的に行なってきた。前者の目視によ
る方法では、能率が悪く、かつ不良品を見落して良品に
混入するという問題がある。後者の光やレーザビームを
利用する方法の従来の欠点検出機では、同一形状の透明
ガラス製品を連続して検査することは可能であったが、
形状の異なったガラス製品については対応が難しい。ま
た、従来法はびんガラス等の自転しているガラス製品に
ついての検出方法であって製品を回転させないと製品の
全周について検査できない。さらに従来法の被検査物は
びんガラス等の中型のものであり、びんガラス用の検査
機を直径が5mm程度のガラス細管に適用すると、検出精
度が悪く異物を含むガラス製品を完全に除去することが
できない恐れがある。
本考案は上記の問題を解決するためなされたもので複数
個所の投光部と受光部とからなる光学的な検出手段と光
量の強弱により被検査体の異物を検出し、異物を含む被
検査体を自動的に除去することができる異物検出除去装
置を提供することを目的とする。
個所の投光部と受光部とからなる光学的な検出手段と光
量の強弱により被検査体の異物を検出し、異物を含む被
検査体を自動的に除去することができる異物検出除去装
置を提供することを目的とする。
（問題点を解決するための手段） 上記目的を達成するために、本考案は透明管棒類の被検
査体を搬送する中間工程で、前記被検査体中の異物を検
出し、異物を含んだ被検査体部分を除去する装置におい
て、前記被検査体に光を投射する投光部と、前記投光部
から投射される光量を調節するボリュームと、前記被検
査体からの透過光を受けるレンズと検出素子として間隔
を開けて２枚並列に配置された太陽電池とを備えた受光
部と、前記投光部と受光部とからなる光学系を被検査体
の外周にそれぞれ被検査体に対する投光方向を異ならせ
て複数配し、前記検出素子で異物による光量の変化を前
記２枚の太陽電池間の電位差として検知し、この検知信
号により異物の有無を判定する演算部と、前記演算部か
らの出力信号を受け異物を含む被検査体部分を除去する
除去機構とからなる異物検出除去装置を提供するもので
ある。
査体を搬送する中間工程で、前記被検査体中の異物を検
出し、異物を含んだ被検査体部分を除去する装置におい
て、前記被検査体に光を投射する投光部と、前記投光部
から投射される光量を調節するボリュームと、前記被検
査体からの透過光を受けるレンズと検出素子として間隔
を開けて２枚並列に配置された太陽電池とを備えた受光
部と、前記投光部と受光部とからなる光学系を被検査体
の外周にそれぞれ被検査体に対する投光方向を異ならせ
て複数配し、前記検出素子で異物による光量の変化を前
記２枚の太陽電池間の電位差として検知し、この検知信
号により異物の有無を判定する演算部と、前記演算部か
らの出力信号を受け異物を含む被検査体部分を除去する
除去機構とからなる異物検出除去装置を提供するもので
ある。
（作用） 本考案の異物検出除去装置は、被検査体の外周上に複数
の投光部と受光部とを設けたことにより搬送状態のまま
被検査体の異物検出ができる。また受光部を構成する演
出素子近傍にレンズを設けたことと、被検査体に投射す
る光量をボリュームにより調節したことにより、検出精
度を向上させることができ、さらに多様な形状の被検査
体の検査に容易に対応できる。
の投光部と受光部とを設けたことにより搬送状態のまま
被検査体の異物検出ができる。また受光部を構成する演
出素子近傍にレンズを設けたことと、被検査体に投射す
る光量をボリュームにより調節したことにより、検出精
度を向上させることができ、さらに多様な形状の被検査
体の検査に容易に対応できる。
（実施例） 本考案の詳細を図示の実施例により説明する。
ガラス管引工程において、第１図のごとく、ガラス管
（１）がドローイングマシン（２）により搬送されカッ
ター（３）で所定の長さにカットされる。異物検査除去
装置は、異物検査部（４）で異物を検出し検出信号を演
算部（５）をへて除去部（６）に送り、異物を含んだガ
ラス管（１）を除去する機構となっている。
（１）がドローイングマシン（２）により搬送されカッ
ター（３）で所定の長さにカットされる。異物検査除去
装置は、異物検査部（４）で異物を検出し検出信号を演
算部（５）をへて除去部（６）に送り、異物を含んだガ
ラス管（１）を除去する機構となっている。
第２図のごとく、異物検査部（４）は投光部（７）と受
光部（８）とからなる光学系をガラス管（１）の外周上
に４組配し、ガラス管（１）の全周に投光部（７）から
の光が照射され、ガラス管（１）を透過した透過光が受
光部（８）で受けられるようになっている。
光部（８）とからなる光学系をガラス管（１）の外周上
に４組配し、ガラス管（１）の全周に投光部（７）から
の光が照射され、ガラス管（１）を透過した透過光が受
光部（８）で受けられるようになっている。
第３図のごとく、投光部（７）には光源（９）と光源
（９）の光量を調節するボリューム（10）が設けられて
いる。また、ガラス管（１）の径に合わせて光の強さを
調節するためレンズ（11）が配置されている。投光部
（７）から照射された光はガラス管（１）を透過した
後、受光部（８）のレンズ（12）で集束され太陽電池
（13）面に照射される。太陽電池（13）は間隔をあけて
２枚並列に配置されており、２つの電位差を出力信号と
して演算部（５）へ送信する。異物が一方の太陽電池の
前を横切ったときに２つの太陽電池間に電位差つまり出
力信号を生じるが、２枚の太陽電池に跨がる連続的な変
化に対しては２つの太陽電池間に電位差は生じないの
で、異物のみを検出することができる。演算部（５）で
は異物のない時の出力信号を設定値とし、これよりも一
定の割合だけ変化した時に除去命令用の出力信号を除去
部（６）に送る。除去部（６）ではカッターで切断され
たガラス管（１）を除去する。第４図は以上説明した本
考案のシステムブロック図である。
（９）の光量を調節するボリューム（10）が設けられて
いる。また、ガラス管（１）の径に合わせて光の強さを
調節するためレンズ（11）が配置されている。投光部
（７）から照射された光はガラス管（１）を透過した
後、受光部（８）のレンズ（12）で集束され太陽電池
（13）面に照射される。太陽電池（13）は間隔をあけて
２枚並列に配置されており、２つの電位差を出力信号と
して演算部（５）へ送信する。異物が一方の太陽電池の
前を横切ったときに２つの太陽電池間に電位差つまり出
力信号を生じるが、２枚の太陽電池に跨がる連続的な変
化に対しては２つの太陽電池間に電位差は生じないの
で、異物のみを検出することができる。演算部（５）で
は異物のない時の出力信号を設定値とし、これよりも一
定の割合だけ変化した時に除去命令用の出力信号を除去
部（６）に送る。除去部（６）ではカッターで切断され
たガラス管（１）を除去する。第４図は以上説明した本
考案のシステムブロック図である。
なお、本考案は主にガラス細管用の利用されるものであ
るが、ガラス管外径が大きいものについても利用できる
ことは勿論である。
るが、ガラス管外径が大きいものについても利用できる
ことは勿論である。
（考案の効果） 以上のように、本考案は複数の投光部と受光部とを備え
た透明管棒類の異物検出除去装置であり、従来の検出装
置では検出不可能であった小型のガラス製品の異物を検
出し、自動的に除去することができ、製品品質を向上さ
せる優れた利点を有している。また、検出素子として２
枚並列に配置された太陽電池を用い、異物による光量変
化を２つの太陽電池の電位差として検知しているので、
装置構成がシンプルかつ安価であり、異物部分を確実に
検出できる。
た透明管棒類の異物検出除去装置であり、従来の検出装
置では検出不可能であった小型のガラス製品の異物を検
出し、自動的に除去することができ、製品品質を向上さ
せる優れた利点を有している。また、検出素子として２
枚並列に配置された太陽電池を用い、異物による光量変
化を２つの太陽電池の電位差として検知しているので、
装置構成がシンプルかつ安価であり、異物部分を確実に
検出できる。
第１図は本考案の実施例を示す全体図、第２図は異物検
出部の正面図、第３図は異物検出部の投光部と受光部と
の詳細図、第４図は異物検査除去装置のシステムブロッ
ク図である。 １……ガラス管、２……ドローイングマシン ３……カッター、４……異物検査部 ５……演算部、６……除去部 ７……投光部、８……受光部 ９……光源、10……ボリューム 11,12……レンズ、13……太陽電池
出部の正面図、第３図は異物検出部の投光部と受光部と
の詳細図、第４図は異物検査除去装置のシステムブロッ
ク図である。 １……ガラス管、２……ドローイングマシン ３……カッター、４……異物検査部 ５……演算部、６……除去部 ７……投光部、８……受光部 ９……光源、10……ボリューム 11,12……レンズ、13……太陽電池
Claims (1)
- 【請求項１】透明管棒類の被検査体を搬送する中間工程
で、前記被検査体中の異物を検出し、異物を含んだ被検
査体部分を除去する装置において、前記被検査体に光を
投射する投光部と、前記投光部から投射される光量を調
節するボリュームと、前記被検査体からの透過光を受け
るレンズと検出素子として間隔を開けて２枚並列に配置
された太陽電池とを備えた受光部と、前記投光部と受光
部とからなる光学系を被検査体の外周にそれぞれ被検査
体に対する投光方向を異ならせて複数配し、前記検出素
子で異物による光量の変化を前記２枚の太陽電池間の電
位差として検知し、この検知信号により異物の有無を判
定する演算部と、前記演算部からの出力信号を受け異物
を含む被検査体部分を除去する除去機構とからなる異物
検出除去装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989059470U JPH0734365Y2 (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 異物検出除去装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989059470U JPH0734365Y2 (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 異物検出除去装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02150554U JPH02150554U (ja) | 1990-12-26 |
| JPH0734365Y2 true JPH0734365Y2 (ja) | 1995-08-02 |
Family
ID=31585990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989059470U Expired - Lifetime JPH0734365Y2 (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 異物検出除去装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0734365Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005114645A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Asahi Techno Glass Corp | ガラス管の検査装置及び検査システム |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2088081A1 (en) * | 1992-02-13 | 1993-08-14 | Ralph Edward Frazee Jr. | Out-of-pattern coating defect detection system |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5022678A (ja) * | 1973-06-26 | 1975-03-11 | ||
| JPS556214A (en) * | 1978-06-28 | 1980-01-17 | Toshiba Corp | Rod selection |
| JPS564004A (en) * | 1979-06-25 | 1981-01-16 | Toshiba Corp | System for detecting minute defects of body |
| JPS6466550A (en) * | 1987-09-07 | 1989-03-13 | Toshiba Corp | Foreign matter selector |
-
1989
- 1989-05-23 JP JP1989059470U patent/JPH0734365Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005114645A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Asahi Techno Glass Corp | ガラス管の検査装置及び検査システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02150554U (ja) | 1990-12-26 |
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