JPH0978445A - 織布検反装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】信号線の配線構成が容易かつ光ゲインの高い織
布検反装置を提供する。 【解決手段】織布Ｗの上方のレール１１にはセンサヘッ
ド１２がガイド体１３を介して吊下支持されている。ガ
イド体１３はレール１１に沿って移動できる。センサヘ
ッド１２は往復周回する無端状ベルト１４に結合されて
おり、センサヘッド１２がレール１１に沿って往復動す
る。センサヘッド１２上の反射鏡１７は投光器２０から
投射された光を織布Ｗに向けて反射し、凸レンズ１９は
織布Ｗからの反射光を平行化する。平行化された光は反
射鏡１８によって受光器２５に向けて反射される。投光
器２０及び受光器２５はセンサヘッド１２の走行領域外
に配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、織布に投射した光
の反射光を受光して受光量に応じた電気信号を出力する
光電センサを用いて織布の欠点を検出する織布検反装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の織布検反装置が特開昭６０−２
３１８５０号公報に開示されている。光源から織布上に
投射された光の反射光は感光セルによって受光される。
光の経路上には光学レンズ系が設置されており、投射光
あるいは反射光の集光、平行化等の必要な光学的処理が
光学レンズ系によって行われる。感光セルは受光量に応
じた電気信号を出力し、この電気信号が評価ユニットで
評価される。

【０００３】受光量に応じて変換された電気信号の評価
は一般的に電気信号の大きさと予め設定された基準値と
の比較によって行われる。電気信号の値が基準値以内で
あれば正常の評価が行われ、電気信号の値が基準値を越
えれば異常の評価が行われる。

【０００４】特開昭６０−２３１８５０号公報の装置で
は、光源及び感光セルが織布の幅方向へ走行するセンサ
ヘッド上に搭載されている。そのため、光源と電源とを
繋ぐ信号線、感光セルと前記評価ユニットとを繋ぐ信号
線の経路がセンサヘッドの移動に伴って変わる。このよ
うな経路変化を起こす信号線が製織、保守点検作業等の
妨げとならないように、あるいは信号線が断線しないよ
うに考慮した配線構成が必要となるが、このような配線
構成は難しい。

【０００５】特開平６−９３５３９号公報では、センサ
ヘッド上にハーフミラーのみを設置し、発光手段及び受
光部をセンサヘッド外に設置した織布検反装置が開示さ
れている。ハーフミラーは発光手段から投射された光を
織布上に向けて反射すると共に、織布からの反射光を受
光部に向けて反射する。受光部には空間フィルタが配置
されており、空間フィルタの手前に配置された結像用レ
ンズが空間フィルタ上に前記反射光による像を結ぶ。こ
の従来装置によれば、発光部と電源とを繋ぐ信号線、受
光部と受光判定手段とを繋ぐ信号線の経路変化がなく、
これら信号線の配線構成が容易である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】空間フィルタ上に像を
結ぶ場合には、織布に対して投射光を垂直に当てると共
に、この投射光に関する平行な正規反射成分（即ち、織
布から垂直に反射してくる光）のみを抽出する必要があ
る。そのため、反射鏡で織布上に垂直に投射した光の反
射光を同じ反射鏡で受光部に向けて反射せざるを得ず、
従ってこの反射鏡としてハーフミラーを用いざるを得な
い。しかし、ハーフミラーにおける１回の反射では１／
２の光が透過してしまい、ハーフミラー採用の場合には
受光部における光ゲインが完全反射鏡の採用の場合に比
して１／４になってしまう。特開平６−９３５３９号公
報の結像方式による検反装置では光ゲインの低下を補う
ために織布の裏側にミラーを配置しているが、これは厚
手の織布ではあまり役に立たない。

【０００７】本発明は信号線の配線構成が容易かつ光ゲ
インを高め得る織布検反装置を提供することを目的とす
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】そのために請求項１の発
明では、センサヘッドの走行領域外に設置した投光手段
と、前記センサヘッドの走行領域外に設置された前記光
電センサを含む受光手段と、前記投光手段から照射され
た光を織布上に投射する第１の案内手段と、織布からの
反射散乱光を集める集光手段と、前記集光手段によって
集められた光を前記光電センサへ案内する第２の案内手
段とを備えた織布検反装置を構成し、前記第１の案内手
段、第２の案内手段及び集光手段を前記センサヘッド上
に設置した。

【０００９】請求項２の発明では、前記集光手段として
織布からの反射光を平行化する光学レンズ系を用いた。
請求項３の発明では、請求項２における前記第１の案内
手段及び第２の案内手段として光を反射する反射鏡を採
用した。

【００１０】請求項４の発明では、前記投光手段と光電
センサとをセンサヘッドの走行方向に対向させ、前記反
射鏡をこの対向線上に配置した。請求項５の発明では、
一対の光電センサと、前記両光電センサから得られる電
気信号の差を演算する差演算手段と、前記差演算手段の
演算結果に基づいて欠点検出信号を出力するか否かを判
定する欠点判定手段とを備えた織布検反装置を構成し
た。

【００１１】請求項１の発明によれば、センサヘッド上
の第１の案内手段がセンサヘッド外の投光手段から投射
された光を織布上に案内する。織布から反射する光は散
乱するが、集光手段はこの散乱光を集める。集光手段に
よって集められた光はセンサヘッド上の第２の案内手段
によってセンサヘッド外の光電センサ上へ案内される。
投光手段、光電センサはセンサヘッドの走行領域外にあ
るため、投光手段、光電センサに繋がる信号線の配線構
成は容易である。又、反射散乱光を集める場合の光ゲイ
ンは結像方式の場合に比して格段に高くなる。

【００１２】請求項２の発明によれば、光学レンズ系が
織布からの散乱光を平行化する。平行化された光はセン
サヘッド上の第２の案内手段によってセンサヘッド外の
光電センサ上へ平行状態のまま案内される。

【００１３】請求項３の発明によれば、投光手段からセ
ンサヘッドに向けて投射された光が反射鏡によって織布
に向けて反射される。光学レンズ系によって平行化され
た光はセンサヘッド上の別の反射鏡によって光電センサ
に向けて反射される。光の行路設定に反射鏡を用いる構
成はセンサヘッドの機構の簡素化に寄与する。

【００１４】センサヘッドの走行方向に投光手段と光電
センサとを対向させると共に、この対向線上に前記反射
鏡を配置した請求項４の発明によれば、反射鏡の個数が
２つという最少数で済む。

【００１５】請求項５の発明によれば、経糸と緯糸との
うちの一方の糸の方向に複数の光電センサが配設され
る。これらの光電センサのうちの少なくとも１つの電気
信号と他の光電センサの電気信号との差が演算され、こ
の演算された差が例えば予め設定された基準値と比較さ
れる。前記差の演算は照明光、風綿といった外乱の影響
による電気信号の変化を排除する。演算された差が基準
値を越える場合には欠点判定手段が欠点検出信号を出力
する。前記複数地点を緯糸の糸方向に配設した場合には
前記欠点検出信号の出力は経糸の欠点を検出したことに
よるものとなる。複数地点を経糸の糸方向に配設した場
合には前記欠点検出信号の出力は緯糸の欠点を検出した
ことによるものとなる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、織機上の織布検反装置に本
発明を具体化した第１の実施の形態を図１〜図６に基づ
いて説明する。

【００１７】図１に示すように織布Ｗの上方にはレール
１１が織布Ｗの織幅方向に配設されている。レール１１
にはセンサヘッド１２がガイド体１３を介して吊下支持
されている。ガイド体１３はレール１１に沿って移動で
きる。図２及び図３に示すようにセンサヘッド１２には
無端状ベルト１４が結合されており、無端状ベルト１４
はモータ１５の駆動プーリ１５１とガイドプーリ１６と
に架けわたされている。無端状ベルト１４はモータ１５
の往復駆動によって往復周回し、センサヘッド１２がレ
ール１１に沿って往復動する。センサヘッド１２は２つ
の反射鏡１７，１８及び１つの棒状の凸レンズ１９を備
えている。

【００１８】図２に示すようにガイドプーリ１６の近傍
には投光器２０が設置されている。投光器２０は、容器
２１と、容器２１の底部に取り付けられた投光素子２２
と、容器２１の開口側に取り付けられたスリット板２３
と、投光素子２２とスリット板２３との間に介在された
棒状の凸レンズ２４とからなる。スリット板２３にはス
リット２３１が形成されている。投光素子２２は凸レン
ズ２４の焦点上に位置しており、投光素子２２から凸レ
ンズ２４に投射された光は凸レンズ２４を通って平行光
となる。図１の鎖線矢印は光の行路を表す。凸レンズ２
４の光軸はスリット２３１の中央を通っている。凸レン
ズ２４を通って平行になった光の一部はスリット２３１
を通過する。スリット板２３は光の平行度を高めるため
に凸レンズ２４の周縁部を通過した光の通過を阻止す
る。

【００１９】スリット２３１を通過した平行光の行路は
反射鏡１７と交差する。第１の案内手段となる反射鏡１
７に当たった平行光は織布Ｗ上に向けて反射される。凸
レンズ１９の焦点は織布Ｗ上に設定されており、凸レン
ズ１９は織布Ｗからの反射光を平行光にする。又、凸レ
ンズ１９の光軸は、反射鏡１７から反射された平行光の
織布Ｗに対する入射角度θに等しい角度θで織布Ｗに対
して傾いている。即ち、凸レンズ１９の光軸は、織布Ｗ
上に入射する平行光に対する織布Ｗ上の正規反射角度θ
上に設定されている。反射鏡１８は凸レンズ１９を出た
平行光の行路上に配置されており、凸レンズ１９を出た
平行光は反射鏡１８に向かう。

【００２０】図３に示すようにモータ１５の近傍には受
光手段となる受光器２５が設置されている。受光器２５
は、容器２６と、容器２６の底部に取り付けられた受光
素子２７と、容器２６の開口側に取り付けられた棒状の
集光レンズ２８と、受光素子２７と集光レンズ２８との
間に介在された抽出スリット板２９とからなる。抽出ス
リット板２９にはスリット２９１が形成されている。ス
リット２９１は受光素子２７に対置している。集光レン
ズ２８の焦点はスリット２９１の中央にある。凸レンズ
１９の光軸と集光レンズ２８の光軸とは反射鏡１８の反
射面上で交差する。

【００２１】反射鏡１８から反射された平行光は集光レ
ンズ２８に向かう。集光レンズ２８は反射鏡１８からの
反射光をスリット２９１上に集光する。スリット２９１
を通過した光は受光素子２７によって受光される。スリ
ット２９１は外乱光を排除する機能を持つ。光電センサ
となる受光素子２７は受け取った光を電流に変換する。
この変換電流信号は受光量に応じた電気信号となる。受
光素子２７は変換電流信号を検反制御回路を構成する電
流−電圧変換回路３０に出力する。電流−電圧変換回路
３０は変換電流信号を電圧信号Ｓに変換して比較回路３
１に出力する。

【００２２】比較回路３１は入力した電圧信号Ｓと基準
値設定回路３２によって予め設定された基準値Ｖとを比
較する。電圧信号Ｓの値が基準値Ｖに達しない場合には
比較回路３１は出力回路３３に欠点検出信号Ｓ_T を出力
する。電圧信号Ｓの値が基準値Ｖに達した場合には比較
回路３１は出力回路３３に欠点検出信号Ｓ_T を出力しな
い。出力回路３３は欠点検出信号Ｓ_T の入力に応答して
警報、製織停止の指令を出力する。

【００２３】反射鏡１７から織布Ｗに向けて反射される
光は平行であるが、織布Ｗからの反射光は散乱する。凸
レンズ１９はこの反射散乱光を集めて平行にし、平行化
された光は第２の案内手段を構成する反射鏡１８によっ
て受光素子２７上に送られる。散乱光の集光は信号／ノ
イズの割合（Ｓ／Ｎ比）を高める上で重要である。反射
鏡１７から反射された平行光の織布Ｗからの正規反射角
度θ上の反射光のみを受光素子２７に送る構成では、受
光素子２７における光ゲインが少なく、Ｓ／Ｎ比が小さ
くなってしまう。正規反射角度θ以外の散乱光を凸レン
ズ１９で集めることによって前記光ゲインを増大でき、
織布上の欠点有無の精度の高い検出の上で必要なＳ／Ｎ
比の増大が達成される。

【００２４】センサヘッド１２上には一対の反射鏡１
７，１８及びＳ／Ｎ比を高めるための凸レンズ１９のみ
が取り付けられており、投光手段である投光器２０及び
光電センサとなる受光器２５はセンサヘッド１２の走行
領域外に設置されている。従って、投光手段と光源とを
繋ぐ信号線、及び受光センサと検反制御回路とを繋ぐ信
号線はセンサヘッド１２の走行領域外にあり、これら信
号線の経路変化は生じない。信号線の経路変化は製織、
保守点検作業等の妨げの回避、断線の回避を考慮した面
倒な配線構成を必要とするが、信号線の経路変化の生じ
ない本発明では、信号線の配線構成は容易である。

【００２５】又、光の行路設定に反射鏡１７，１８を用
いる構成はセンサヘッド１２の機構の簡素化に寄与す
る。さらに、センサヘッド１２の走行方向に投光器２０
と受光器２５とを対向させると共に、前記した入射角度
及び正規反射角度を同一にするように前記対向線上に反
射鏡１７，１８を配置した構成は、反射鏡の個数を最少
数にする。しかも、入射角度及び正規反射角度を同一に
した構成は受光素子２７における光ゲインを最も高め
る。

【００２６】なお、特開平６−９３５３９号公報の空間
フィルタを用いた検反装置では、センサヘッドを高精度
で等速走行させる必要があるが、センサヘッドの高精度
の等速走行は難しい。反射散乱光を集光する本発明では
センサヘッド１２の等速走行は不要である。

【００２７】次に、図４の第２の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では織布Ｗ上に焦点を持つ凸レ
ンズ１９の光軸が織布Ｗに対して直交しており、この光
軸上の反射鏡１８が織布Ｗに対して４５°に傾けてあ
る。反射鏡１７，１８は投光器（図示略）と受光器（図
示略）との対向線上に配置されている。この実施の形態
では、光ゲインが第１の実施の形態よりも幾分少なくな
るが、その他は第１の実施の形態と同じ効果を奏する。

【００２８】次に、図５の第３の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では反射鏡１７が織布Ｗに対し
て４５°に傾いており、反射鏡１７によって反射された
平行光が織布Ｗ上に垂直に入射する。反射鏡１７，１８
は投光器（図示略）と受光器（図示略）との対向線上に
配置されている。この実施の形態では第２の実施の形態
と同じ効果が得られる。

【００２９】次に、図６の第４の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では反射鏡１８及び凸レンズ１
９が反射鏡１７からの反射光の行路よりも投光器２０側
に配置されており、投光器２０と受光器２５とは上下に
ずらしてある。この実施の形態では、第２の実施の形態
と同じ効果が得られ、さらに反射鏡１８の幅が第３の実
施の形態における反射鏡１８に比して小さくできる。こ
れは反射鏡１８の小型化をもたらす。

【００３０】次に、図７〜図１０の第５の実施の形態を
説明する。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号
が付してある。この実施の形態では、図７に示すように
センサヘッド１２は３つの反射鏡３４，３５，３６及び
一対の棒状の凸レンズ３７，３８を備えている。投光器
２０のスリット２３１を通過した平行光の行路は反射鏡
３４と交差する。反射鏡３４は織布Ｗの面に対して４５
°に傾いており、反射鏡３４に当たった平行光は織布Ｗ
上に向けて反射される。凸レンズ３７，３８は反射鏡３
４からの反射光の行路の左右両側に対称に配置されてい
る。凸レンズ３７，３８の焦点は織布Ｗ上に設定されて
おり、凸レンズ３７，３８は織布Ｗからの反射光を平行
光にする。反射鏡３５は凸レンズ３７を出た平行光の行
路上に配置されており、反射鏡３６は凸レンズ３８を出
た平行光の行路上に配置されている。

【００３１】受光器３９は、容器４０と、容器４０の底
部に取り付けられた一対の受光素子４１，４２と、容器
４０の開口側に取り付けられた一対の棒状の集光レンズ
４３，４４と、受光素子４１，４２と集光レンズ４３，
４４との間に介在された抽出スリット板４５とからな
る。抽出スリット板４５には一対のスリット４５１，４
５２が形成されている。スリット４５１は受光素子４１
に対置しており、スリット４５２は受光素子４２に対置
している。集光レンズ４３の焦点はスリット４５１の中
央にあり、集光レンズ４４の焦点はスリット４５２の中
央にある。凸レンズ３７の光軸と集光レンズ４３の光軸
とは反射鏡３５の反射面上で交差し、凸レンズ３８の光
軸と集光レンズ４４の光軸とは反射鏡３６の反射面上で
交差する。

【００３２】反射鏡３５から反射された平行光は集光レ
ンズ４３に向かい、反射鏡３６から反射された平行光は
集光レンズ４４に向かう。集光レンズ４３は反射鏡３５
からの反射光をスリット４５１上に集光し、集光レンズ
４４は反射鏡３６からの反射光をスリット４５２上に集
光する。スリット４５１，４５２を通過した光は受光素
子４１，４２によって受光される。スリット４５１，４
５２は外乱光を排除する機能を持つ。

【００３３】図８に示す３７１は凸レンズ３７による織
布Ｗ上の検知範囲を表し、３８１は凸レンズ３８による
織布Ｗ上の検知範囲を表す。凸レンズ３７は検知範囲３
７１から反射した散乱光の一部を平行光に集束し、凸レ
ンズ３８は検知範囲３８１から反射した散乱光の一部を
平行光に集束する。織布Ｗの経糸Ｔは筬（図示略）の筬
羽間に数本単位で通されており、検知範囲３７１，３８
１の緯糸Ｙの糸方向の幅は筬羽のピッチ程度に設定され
ている。検知範囲３７１，３８１の経糸Ｔの糸方向の幅
は緯糸Ｙの糸方向の幅よりも数倍の大きさにしてある。
図９の右向きの矢印Ｑ_R で囲まれた領域はセンサヘッド
１２の右方向への移動による織布Ｗ上における検知範囲
３７１，３８１の掃過範囲を表す。左向きの矢印Ｑ_L で
囲まれた領域はセンサヘッド１２の左方向への移動によ
る織布Ｗ上における検知範囲３７１，３８１の掃過範囲
を表す。織布Ｗは矢印Ｒの方向に移動する。

【００３４】受光素子４１，４２は受け取った光を電流
に変換する。この変換電流信号は受光量に応じた電気信
号となる。受光素子４１は変換電流信号を電流−電圧変
換回路４６（以下、Ｉ／Ｖ変換回路４６と表す）に出力
し、受光素子４２は変換電流信号を電流−電圧変換回路
４７（以下、Ｉ／Ｖ変換回路４７と表す）に出力する。
Ｉ／Ｖ変換回路４６，４７は変換電流信号を電圧信号Ｓ
１，Ｓ２に変換して差演算回路４８に出力する。差演算
回路４８は両Ｉ／Ｖ変換回路４６，４７から入力する電
圧信号Ｓ１，Ｓ２の値の差を演算する。この演算では電
圧信号Ｓ１の値から電圧信号Ｓ２の値が減算される。差
演算回路４８は演算して得られた差信号ΔＳを比較回路
４９に出力する。

【００３５】比較回路４９は入力した差信号ΔＳと基準
値設定回路５０，５１によって予め設定された基準値Ｖ
１，Ｖ２とを比較する。基準値設定回路５０によって設
定された基準値Ｖ１は正、基準値設定回路５１によって
設定された基準値Ｖ２は負である。差信号ΔＳの値が基
準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕から外れた場合には比較回路４９
は出力回路３３に欠点検出信号Ｓ_T を出力する。差信号
ΔＳの値が基準範囲〔Ｖ１，Ｖ２〕内にある場合には比
較回路４９は出力回路３３に欠点検出信号Ｓ_Tを出力し
ない。

【００３６】図１０（ａ）の曲線ＥはＩ／Ｖ変換回路４
６から出力される電圧信号Ｓ１を表し、図１０（ｂ）の
曲線ＦはＩ／Ｖ変換回路４７から出力される電圧信号Ｓ
２を表す。図１０（ｃ）の曲線Ｇは曲線Ｅの値から曲線
Ｆの値を引いて得られた差信号ΔＳを表す。図１０
（ｄ）の方形波Ｈ１，Ｈ２は比較回路４９から出力され
た欠点検出信号Ｓ_T を表す。図１０（ａ）〜図１０
（ｄ）の横軸はいずれも時間を表す。図１０（ａ）〜図
１０（ｃ）の縦軸はいずれも電圧を表す。

【００３７】曲線Ｅの突出部Ｅ１は受光素子４１によっ
て検出された経糸に関する異常を表す。曲線Ｆの突出部
Ｆ１は受光素子４２によって検出された経糸に関する異
常を表す。突出部Ｅ１，Ｆ１の時間差は緯糸Ｙの方向に
移動する凸レンズ３７，３８の検知範囲３７１，３８１
を緯糸Ｙの方向に並べたことによって生じる。曲線Ｇの
突出部Ｇ１は、突出部Ｅ１とこの突出部Ｅ１の時間領域
に対応する曲線Ｆの略平坦な部分との差である。曲線Ｇ
の突出部Ｇ２は、突出部Ｆ１とこの突出部Ｆ１の時間領
域に対応する曲線Ｅの略平坦な部分との差である。方形
波Ｈ１の時間幅ｔ１は基準値Ｖ１を正の側へ越える突出
部Ｇ１の時間幅に対応し、方形波Ｈ２の時間幅ｔ２は基
準値Ｖ２を負の側へ越える突出部Ｇ２の時間幅に対応す
る。

【００３８】経糸Ｔは隣合う筬羽間に一定本数単位で通
されているが、例えばある筬羽間では経糸の通し本数が
規定に足りず、隣の筬羽間で経糸の通し本数が規定より
も多いといった状況が生じることがある。このような状
況が続くと所謂経筋が織布上に生じ、不良織布ができて
しまう。凸レンズ３７，３８の検知範囲３７１，３８１
の緯糸Ｙの糸方向の範囲は筬羽のピッチ程度に設定して
ある。従って、受光素子４１，４２における受光量は織
布Ｗ上の経筋部分と正常部分とでは異なり、曲線Ｅ，Ｆ
の突出部Ｅ１，Ｆ１で示すような電圧信号Ｓ１，Ｓ２の
変動が得られる。

【００３９】方形波Ｈ１，Ｈ２によって表される欠点検
出信号Ｓ_T の出力は、受光素子４１，４２から得られる
電圧信号Ｓ１，Ｓ２の差信号ΔＳと基準値Ｖ１，Ｖ２と
の比較結果に基づいて判定される。検反装置以外の照明
光の存在、あるいは風綿の存在といった外乱が電圧信号
Ｓ１，Ｓ２を変化させる。即ち、電圧信号Ｓ１，Ｓ２に
は外乱による変化分が入り込んでいる。特に、センサヘ
ッド１２の走行領域外にある投光器２０と受光器３９と
の間における光の行路上の浮遊風綿が大きな外乱の要因
となる。

【００４０】前記した電圧信号Ｓ１，Ｓ２の変化は織布
の織り状態を正しく反映せず、これら電圧信号Ｓ１，Ｓ
２と基準値との比較結果に基づいて織布上の欠点有無を
判定した場合には誤検反が起きる。しかし、電圧信号Ｓ
１，Ｓ２の差をとった差信号ΔＳでは各電圧信号に入り
込んでいた前記外乱による変化分がほぼ相殺される。従
って、差信号ΔＳは経糸Ｔに関する異常の有無を高精度
で反映しており、差信号ΔＳと基準値Ｖ１，Ｖ２との比
較は経糸に関する異常の有無の検出という検反の精度を
高める。

【００４１】次に、図１１の第６の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では第１の実施の形態の反射鏡
１７の代わりに光ファイバー５２が用いられる。光ファ
イバー５２は投光器（図示略）からの平行光を織布Ｗ上
に案内する第１の案内手段となる。光ファイバー５２の
採用は光の行路設定を容易にする。

【００４２】次に、図１２の第７の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態では第１の実施の形態の反射鏡
１８及び凸レンズ１９の代わりに光ファイバー５３が用
いられる。光ファイバー５３は織布Ｗからの反射光を集
める集光手段及びこの集められた光を受光器（図示略）
側に案内する第２の案内手段となる。光ファイバー５３
を通過した光はほぼ平行になる。光ファイバー５３の採
用は光の行路設定を容易にする。

【００４３】次に、図１３の第８の実施の形態を説明す
る。第１の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態ではモータ１５及びガイドプー
リ１６が横置き配置されており、センサヘッド５４は無
端状ベルト１４の上下の走行経路の間に配置される。セ
ンサヘッド５４は無端状ベルト１４における上側の走行
経路の部位に止着されている。センサヘッド５４には反
射鏡１７，１８が取り付けブラケット５５，５６を介し
て取り付けられており、センサヘッド５４には凸レンズ
１９が取り付けブラケット５７を介して取り付けられて
いる。

【００４４】投光手段、光電センサをセンサヘッドから
除外し、かつ取り付けブラケット５５〜５７の採用によ
ってセンサヘッド５４が小型かつ軽量になる。そのた
め、センサヘッド５４を無端状ベルト１４によって直接
支持することができる。このような構成は第１の実施の
形態におけるレール１１を不要とし、織布検反装置の構
成が簡素になる。

【００４５】次に、図１４の第９の実施の形態を説明す
る。第８の実施の形態と同じ構成部には同じ符号が付し
てある。この実施の形態ではセンサヘッド５４に一対の
車輪５４１が取り付けられている。車輪５４１は無端状
ベルト１４における下側の走行経路の部位を転動する。
センサヘッド５４の上下変位は織布Ｗ上に設定された凸
レンズ１９の焦点位置の上下変位をもたらす。このよう
な焦点の上下変位は織布Ｗからの反射光の平行化の精度
にばらつきを生じさせ、受光素子２７における受光レベ
ルがばらつく。このようなばらつきは誤検反の原因とな
る。

【００４６】車輪５４１の存在は無端状ベルト１４にお
ける下側の走行経路の部位によるセンサヘッド５４の支
持を可能とし、上下の走行経路の部位を介した無端状ベ
ルト１４によるセンサヘッド５４の支持が安定する。こ
のような安定性はセンサヘッド５４の上下変位を抑制す
る。

【００４７】前記した実施の形態から把握できる請求項
記載以外の発明について以下にその効果と共に記載す
る。 （１）請求項１乃至請求項５において、センサヘッドを
走行ベルト（実施の形態においては無端状ベルト）によ
って支持した織布検反装置。

【００４８】センサヘッドが軽量になるため、走行する
センサヘッドを支持するための別の機構が不要となる。
以下に、実施の形態の効果を記載する。 （１）複数の地点の織り状態を反映する光を変換した電
気信号の２つの差を演算し、この演算によって得られた
差と検反基準値とを比較する実施の形態では、風綿、検
反装置以外の照明光等の外乱の影響を排除でき、誤検反
の回避に寄与する。 （２）光の行路設定に反射鏡を用いる実施の形態では、
センサヘッドの機構の簡素化がもたらされる。 （３）センサヘッドの走行方向に投光器と受光器とを対
向させると共に、この対向線上に反射鏡を配置した実施
の形態では、反射鏡の個数が最少数になる。 （４）織布上に投射される光の入射角度及び正規反射角
度を同一にするように前記対向線上に反射鏡を配置した
実施の形態では、受光素子における光ゲインが最も高ま
る。 （５）織布からの反射光を集めて平行化する凸レンズ及
び平行化された光を反射する反射鏡を織布上に投射され
る光の行路よりも投光器側に配置した実施の形態では、
平行化された光を反射する反射鏡の小型化がもたらされ
る。 （６）無端状ベルトにセンサヘッドを取り付けると共
に、センサヘッドに取り付けられた車輪を介して無端状
ベルトによってセンサヘッドを支持する実施の形態で
は、センサヘッドの上下変位が抑制され、受光レベルの
変動が抑制される。

【００４９】

【発明の効果】以上詳述したように本発明では、前記第
１の案内手段、第２の案内手段及び織布からの反射散乱
光を集める集光手段を前記センサヘッド上に設置し、投
光手段及び受光手段をセンサヘッドの走行領域外に配置
したので、信号線の配線構成が容易かつ光ゲインの高い
織布検反装置を構成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示す一部省略正面
図。

【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。

【図３】図１のＢ−Ｂ線断面図。

【図４】第２の実施の形態を示す要部正面図。

【図５】第３の実施の形態を示す要部正面図。

【図６】第４の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図７】第５の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図８】織布上の検知範囲と制御回路との組合わせ図。

【図９】検知範囲の走査領域を示す平面図。

【図１０】（ａ）〜（ｄ）は制御回路における信号処理
を説明するグラフ。

【図１１】第６の実施の形態を示す要部正面図。

【図１２】第７の実施の形態を示す要部正面図。

【図１３】第８の実施の形態を示す一部省略正面図。

【図１４】第９の実施の形態を示す一部省略正面図。

【符号の説明】

１２…センサヘッド、１７，３４…第１の案内手段とな
る反射鏡、１８，３５，３６…第２の案内手段となる反
射鏡、１９，３７，３８…集光手段となる凸レンズ、２
０…投光手段となる投光器、２５…受光手段となる受光
器、２７，４１，４２…光電センサとなる受光素子、４
８…差演算手段となる差演算回路、４９…欠点判定手段
となる比較回路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｎ 21/89 Ｇ０１Ｎ 21/89 Ｃ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】織布からの反射光を拾いながら織布の幅方
   向へ走行するセンサヘッドを備え、受光量に応じた電気
   信号を出力する光電センサを用いて織布の欠点を検出す
   る織布検反装置において、 前記センサヘッドの走行領域外に設置した投光手段と、 前記センサヘッドの走行領域外に設置された前記光電セ
   ンサを含む受光手段と、 前記投光手段から照射された光を織布上に投射する第１
   の案内手段と、 織布からの反射散乱光を集める集光手段と、 前記集光手段によって集められた光を前記光電センサへ
   案内する第２の案内手段とを備え、 前記第１の案内手段、第２の案内手段及び集光手段を前
   記センサヘッド上に設置した織布検反装置。
2. 【請求項２】前記集光手段は織布からの反射光を平行化
   する光学レンズ系である請求項１に記載の織布検反装
   置。
3. 【請求項３】前記第１の案内手段及び第２の案内手段は
   光を反射する反射鏡である請求項２に記載の織布検反装
   置。
4. 【請求項４】前記投光手段と受光手段とはセンサヘッド
   の走行方向に対向しており、前記反射鏡はこの対向線上
   に配置されている請求項３に記載の織布検反装置。
5. 【請求項５】一対の光電センサと、 前記両光電センサから得られる電気信号の差を演算する
   差演算手段と、 前記差演算手段の演算結果に基づいて欠点検出信号を出
   力するか否かを判定する欠点判定手段とを備えた請求項
   １乃至請求項４のいずれか１項に記載の織布検反装置。