JPH09210611A - 誘導性変位センサ - Google Patents

誘導性変位センサ

Info

Publication number
JPH09210611A
JPH09210611A JP9002151A JP215197A JPH09210611A JP H09210611 A JPH09210611 A JP H09210611A JP 9002151 A JP9002151 A JP 9002151A JP 215197 A JP215197 A JP 215197A JP H09210611 A JPH09210611 A JP H09210611A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
winding
windings
displacement sensor
inductive displacement
electronic means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9002151A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3828972B2 (ja
Inventor
Hans Ulrich Meyer
ハンス・ウルリヒ・メイヤー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=4181073&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH09210611(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of JPH09210611A publication Critical patent/JPH09210611A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3828972B2 publication Critical patent/JP3828972B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/20Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature
    • G01D5/2006Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the self-induction of one or more coils
    • G01D5/202Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the self-induction of one or more coils by movable a non-ferromagnetic conductive element

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単、頑強かつ小型であり、小電流を博し、
しかも水に無感応な誘導性変位センサを提供する。 【解決手段】 この誘導性変位センサは、第1の素子す
なわちカーソル(31)と、窓部(321)及び仕切部
(322)のような空間的周期性の電磁気特性を示す第
2の素子すなわちスケール(32)とを有する。第1の
素子(31)は、一連の巻線、例えば3つの織り込まれ
たくねり路巻線(31Aないし31C)と、前記巻線
(31A)の少なくとも1つにおいて電流を生じさせか
つ前記第1の素子(31)の巻線(31B,31C)の
少なくとも一部のインダクタンスに対する第2の素子の
空間的周期性の電磁特性の位置による作用力を計測する
ように第1の素子上の前記巻線に接続された電子的回路
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明の対象は、経路に沿っ
て互いに相対的に移動自在であり前記経路に沿って構成
された巻線が設けられかつそれらのインダクタンスが両
者の相対的変位の周期性関数にて変化する2つの素子
と、前記巻線のインダクタンスの量から前記変位の値を
測定する電子的手段とを有する誘導性変位センサであ
る。
【0002】
【従来の技術】その解決手段及びシンクロは、このよう
なセンサに係る2つの公知な回転機械の実施形態であ
る。これらは、主たる巻線及び固定された素子またはス
テータを伴う回転素子またはロータを、当該ロータの巻
線との結合部がロータ角変位に伴って正弦曲線にて変化
する2つまたは3つの副次的巻線と共に具備するもので
ある。例えばシンクロ−ディジタル変換器の如き電子的
手段は、かかる主巻線における周期性の参照信号により
ステータの巻線に結合された信号の振幅及び位相から当
該ロータの角変位を測定する。このようなセンサの精度
は、数分の角度を満たすことが可能である。
【0003】同じ原理で作用するロータリまたはリニア
センサの他の公知な実施の形態は、インダクトシン・オ
ブ・ファーランド・コントロールズ社,バルハラ,N.
Y.(the Inductosyn of Farrand Controls Inc., Val
halla, N.Y.)による。これによると、0.25mmの
平均ギャップをもって対向し合う両素子の表面が、平坦
なヘアピンカーブすなわちくねり路状の巻線を2mmの
平均くねり周期をもって担持するものである。リニア型
の場合、精度は1マイクロメートルが可能であり、ロー
タリ型の場合は1秒の角度が可能である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】これらのセンサは、そ
の頑強さ及び水や油(−)のような汚れに対する無感応
さのために、主に航空電子光学や工作機械において用い
られる。しかしながら、損失や歪みを制限するために、
その測定周波数の範囲は400Hzから10kHzまで
と低い。この低周波数による低い能率と、インダクトシ
ンの場合における小なる巻線インダクタンスとは、高い
電流消費を意味し、さらに相対的移動自在な素子の双方
間において可撓性を有する接続部または滑走する接触部
の必要性は、規模及び価格全体を増大させる。これらの
短所は、その応用を制限する。これらは、例えば、水に
感応させないようにするために、カリパスやバッテリに
て動作するその他の小なる測定器具において、容量性セ
ンサを代わりにすることができない。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、こうし
た短所を補償することであり、このために、巻線が前記
2つの素子のうちの第1の素子上に配設される点と、第
2の素子が、前記巻線のインダクタンスを変化させるこ
とのできる前記経路に沿う空間周期Tに関する空間的周
期性の電磁特性を示し、前記電子的手段が、前記巻線の
少なくとも一部において電流を生ずるようにかつ前記第
1の素子の巻線の少なくとも一部のインダクタンスに対
する第2の素子の空間的周期性の電磁特性の状態による
作用を計測するように第1の素子上の前記巻線と接続さ
れている点とに特徴づけられている。
【0006】これによって両素子間の可撓性を有する相
互接続または滑走する接触部は排除されるので、本セン
サは、簡単、安価かつ小型となる。多くの場合とても長
い第2の素子またはスケール上の巻線及び接続部が無い
ことにより、高い周波数の測定信号を実現できる。ここ
で巻線のインピーダンスは、該巻線のオーム抵抗よりも
高く、これによりセンサの効率を改善する。
【0007】第1の素子は、前記経路に沿う空間周期2
Tについての空間的周期性の形態をもって巻線または巻
線のグループが設けられると都合が良い。多くの空間周
期Tの長さに亘り延在するこれらの巻線に対する第2の
素子の作用は増強され、前記作用の局部的変動による誤
差は低減される。前記電子的手段は、少なくとも一時的
にはインダクタとなる巻線の第1の部分に電流を生じさ
せ、巻線の第2の部分に少なくとも一時的に誘導された
信号を計測すると有利である。これにより相互インダク
タンスが計測されるので、自己インダクタンスにおける
変動による誤差は、それが排除されていないとしても低
減されることとなる。
【0008】巻線の前記第2の部分は、巻線の前記第1
の部分と直交するように、すなわち空間的な巻線の周期
が2TのときにT/2だけ空間的にシフトされて構成さ
れるのが好ましく、これにより第2の素子を介した相互
結合のための直接的相互結合を除去する。極めて有利な
構成は、第1の素子が、同一表面上に織り込まれかつ前
記経路に沿った距離T/Nの所定整数倍だけ相互にシフ
トされたN個の巻線を有することを特徴としている。こ
れにより、極めて小型の第1の素子及び最適な結合状態
が得られ、そして何よりも幾何学的な欠陥に対しての感
応性の低下をもたらすこととなる。形状や案内の誤調整
による両素子間のギャップの変動は、きわめて小なる距
離を越える程度での弱いままであり、ほんの少しだけ1
組の織り込み巻線に影響を及ぼし、局部的誤差ほどのも
のは全て巻線の領域に亘って平均化される。
【0009】好ましい設計においては、巻線の各々は、
一端が共に接続され他端において電子的手段と接続され
かつ往復して空間的重畳をなす2つのくねり線路からな
る。この設計は、相互接続長だけでなく、寄生インダク
タンスや電磁気的放射を最小化し、与えられた領域につ
きインダクタンスを4倍にする。巻線は、直線移動型の
実施例の相互インダクタンスを等化し有限の長さでセン
サのミスアライメント(心合わせ誤り)の削減をするた
めに、第1の素子の双方の端部へ向かって先細となる形
とすると有利である。
【0010】第1の素子の巻線間の誘導的な相互結合
は、前記軌道に沿った空間周期Tに関しての、空間的周
期性の電導構造が適宜形成される第2の素子における誘
導電流または渦電流を介して実現することができる。多
くの実施形態が実現可能であり、例を挙げると、絶縁基
板上の電導環部または領域の列、梯子若しくは打ち抜き
テープのような形状または周期的浮き彫り模様を有する
電導体である。このようなスケールは、広い適用範囲の
材料において製造するのには簡単である。
【0011】好ましくは、前記電子的手段は、自己イン
ダクタンスL及び抵抗Rの少なくとも2の巻線または巻
線のグループの間における相互インダクタンスを計測す
るように設計され、かかる計測は、少なくとも一方の巻
線または巻線のグループの端子に時定数L/Rよりも短
い電圧パルスを供給し、少なくとも1つの他方の巻線ま
たは巻線のグループの端子において誘導されたパルスを
計測することによって行われる。これにより非常に短い
測定信号が得られ、その反復レートは、極めて低い平均
電流消費をもたらすのに十分なほど遅いものとされ得
る。このような短いパルスはまた、抵抗の損失が低いま
まなので良好なセンサ効率を果たすこととなる。
【0012】好適な実施例は、前記経路に沿って距離T
/3の整数倍だけ相互にシフトされた3つのY接続くね
り路巻線と、誘導巻線から距離T/2だけシフトされて
いる、すなわち該巻線と直交する状態にある架空の中間
巻線からの信号と等価な標本化信号を得るべく一方の巻
線の端子に電圧パルスを印加し他方の2つの巻線に誘導
されたパルスを混合するように構成された電子的手段と
を有している。
【0013】電子的手段は、フィルタリングによって得
られる基本成分が空間周期Tにつき1回の完全な折り返
しのレートで当該変位に比例した位相シフトを示す周期
性信号を生じる空間周期Tに亘る6つのサンプルを得る
べく、周期性の順に誘導及び被誘導の巻線をシフトする
よう適宜構成される。したがって、くねり路巻線と電子
的計測手段との間には、接続部が4つだけ必要としてい
る。これら3つのくねり線路は、印刷回路に形成された
場合でも1ミリメートル未満で空間周期Tを持つことが
でき、簡単な電子的手段で高精度を実現できる。このよ
うなセンサは、簡素な構成を持ち、頑強でかつ精度が良
好であり、しかも小型化するのが容易である。その低電
流消費は、カリパスのような水及びその他の汚れに影響
を受けないことを必要とする小型バッテリ動作器具にお
いてその使用を許容するものである。
【0014】その他の利点は、以下、本発明の実施例及
び幾つかの変形例を一例として模式的に表示する図面の
助けを借りて、本発明を詳細に説明するので、請求の範
囲で表現された特徴からも、以降の詳細な説明からも明
瞭である。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明によるセンサの素子の双方
は、経路すなわち軸xに沿って互いに相対的に移動自在
であり、図1に示される。第1の素子1は、例えば滑子
(カーソル)であり、第1の素子を隠すことのないよう
右手部分だけを見せている第2の素子と対向する表面上
に、くねり路の或いは交互に鋭角U字形曲折路の形状を
呈する4つの電導性巻線1Aないし1Dを有する。第2
の素子2、例えば定規または物差し(スケール)は、x
軸に沿う窓部21の並びを特徴とする電導性の帯体(テ
ープ)であり、計測スケールを構成する。前記窓部の空
間的周期すなわちピッチは、Tとして定義される。第1
の素子1上のくねり線路1Aないし1Dは、x軸に沿っ
て2Tのピッチを有し、同じ空間周期2Tを有する電磁
界を誘導または検出することが可能となっている。誘導
するうねり路巻線から誘導されるうねり路巻線までの結
合は、窓部21の周りの電導領域が当該結合部を中継す
る多数の電流ループを形成するので、計測スケール2に
より空間的周期性の形態において誘導される。これら電
流の循環方向は、1つの窓部から隣の窓部へと互い違い
になっており、電導部分すなわち窓部21の間の仕切部
22において互いに増強し合うようになる。この電磁界
は、くねり路巻線近傍に閉じこめられた状態を留めてお
り、当該センサがバッテリ動作器具の一部である場合、
短い測定量獲得時間での、例えば高速制御ループのセン
サでの、高い測定周波数の使用を許容したり、或いは低
い平均電流消費をなすに十分低い繰り返しレートのきわ
めて短いパルスの使用を許容する。
【0016】結合は、直交状態の、つまり当該ピッチの
4分の1すなわちT/2だけxに沿って互いにシフトさ
れているくねり路巻線間において測定されるのが好まし
く、これはその相互インダクタンスを最小化することと
なる。図1において、直交のくねり路巻線対は、1A,
1Cと1B,1Dであり、各対は、同じスケール2の窓
部21に対向し当該窓部を介して結合できるよう明確に
広げられる。
【0017】一定速度での仮想的なスケール変位につい
ての一方のくねり路巻線から他方のくねり路巻線への結
合は、T/4だけ連続的にシフトされた4つの瞬間的位
置について、この変位の際に誘導する信号及び誘導され
る信号の波形とともに、図2において極端に模式化され
て示されている。駆動電圧V1は、矩形波パルス列にて
形成され、巻線1Aの端子へ供給され、巻線1Aを通じ
て勾配形状の電流パルスI1にその自己インダクタンス
による上昇を与える。これらパルスI1は、巻線1A,
1Bに対向するスケール2の窓部21の周りに電流I2
を誘導し、これに応答して電流I2は、巻線1C,1D
の端子に電圧パルスVmを誘導する。図2の左にある初
期形態0(ゼロ)では、巻線1Aとスケールとの間の結
合すなわち相互誘導が最も大きくなるので、スケール2
における電流I2は最大振幅を呈することとなる。一
方、巻線1Cの端子間電圧Vmは、当該巻線がスケール
と直交しているのでゼロである。スケールのT/4シフ
トは、巻線1Aとスケールとの間の結合性を低減する
が、スケールと巻線1Cとの間の結合性を増大させ、両
結合性の積は、巻線1Cの端子間電圧Vmとともに最大
となる。T/2のシフトでは、巻線1A及びスケールは
直交し、電圧Vmをゼロとする。最後の3T/4シフト
では、電圧Vmが再び最大値となるが、相対的な結合巻
線の極性は変わっており、電圧V1とは逆の極性を持
つ。中間のパルスも図2に示され、空間周期Tの、変位
に伴う電圧Vmの周期的な変化が明解である。
【0018】したがって、図1の1.25Tだけ相互に
シフトされた直交巻線対1A,1Cと1B,1Dとの双
方から得られる電圧Vmは、x軸に沿う当該変位に関
し、空間周期Tに関しかつT/4だけ相互シフトされた
周期性関数であり、これによりx軸に沿った変位の量及
び方向の明確な測定を可能としている。なお、誘導巻線
の自己インダクタクタンスも第2の素子の接近によって
影響を受けるので、誘導巻線そのものにおいてスケール
の結合効果を測定することもできるが、このようなセン
サの平均的結合度のためにスケールによる自己インダク
タンス変動は、約10%と少ない。これは、他の原因、
例えば幾何学的な欠陥または接続線を発端にしたかかる
インダクタンスの小変動が、この場合区別することので
きないほど大なる誤差を導く可能性があることを意味し
ている。
【0019】図1における巻線パターン1Aないし1D
は、1つの金属層を必要とするだけである。一方、少な
くとも2つの分割した巻線間の結合を用意する必要があ
る点で、コンパクトではなく、第2の素子すなわちスケ
ール2の実施形態は、制約を受ける。これに加えて、各
巻線が窓部の周囲の半分だけしか及ばないので結合度が
減る。その上、xに沿って分配された巻線例えば図1に
おける1A及び1Bの間で結合することは不可能であ
る。
【0020】この点、本発明によるセンサにおいて、図
3において例示される織り込まれたくねり路巻線を採用
することは、非常に有利である。上述した全ての欠点
は、1つの追加される電導層の負担で排除される。かか
る層のコストは、削減されるサブストレート領域により
いずれにしても相殺されるのである。任意の数Nの織り
込み巻線を伴う数個の形態は、この趣旨で実施される。
【0021】図3において、第1の素子すなわちカーソ
ル31は、ピッチ2Tで2T/3だけ連続してシフトさ
れたN=3のくねり路巻線31A,31B,31Cを備
えており、第2の素子すなわちスケール32と対向す
る。ここでは電導性テープが窓部321の並びとピッチ
Tの仕切部322とを特徴としている。これによれば、
第1の素子31の巻線31A,31B,31Cが互いに
交差するように2つの金属層上に形成される。一方のく
ねり線路層から他方のくねり線路層への通路または抵抗
の接触は、接触点(コンタクト)310を介してなされ
る。その他の箇所では、電導体は、図3では分からない
が薄い層によって絶縁されている。この層は、薄膜の被
いまたは集積回路基板のようなものであるが、基板の同
一側にこれらの層がある図3とは異なり、例えば多層印
刷回路基板の絶縁層またはその回路基板自体のように十
分に厚いものとすることができる。
【0022】これらコンタクトバイアスまたはスルーホ
ール310は2T/3のピッチを有するので、図3のく
ねり巻線31A,31B,31Cは、1ミリメートル程
のピッチTで印刷回路上に簡単に実現される。但し、図
4におけるが如くこれらコンタクト間のピッチをT/3
に縮めることができるならば、もっと小型の巻線を構成
することができる。図4において、巻線41A,41
B,41Cの各々は、xと交差して延びるその直線状部
分が重なる2つのくねり線路にて形成され、同じ領域で
4倍のインダクタンスを生ずる。これは、誘導する電流
或いは誘導される電流が、図4において強調された巻線
41Bの矢印によって示されるように、前記重なる直線
状部分において同じ方向を有する場合である。各巻線の
くねり路は、行きつ戻りつ走り、つまり同じ端部で始ま
りかつ終わるので、全ての接続は1つの端部でなされ、
浮遊のインダクタンス及び放射を最小化する。図4にお
ける巻線は、その相互インダクタンスを等化し、リニア
センサにおける有限長構成の誤った位置合わせに対して
の感応性を低減するために、端部に向かって先細となる
形とされる。ロータリ型では、全周囲に亘って巻線を分
配することにより、同様に達成することができる。
【0023】この出願によれば、これら解決方法または
他の幾つかの形態のうちの1つが採用され得る。これら
織り込み巻線は、大なる空間を要せず、幾何学的欠陥に
対して感応が鈍く、しかも色々なスケールで作用するも
のであり、上記の例におけるが如く電導し或いは磁気的
に浸透することが可能であるので、その結合部の磁界が
スケール32の仕切部322の接近によって変調され
る。
【0024】スケールは、図1の場合と同種のものが採
用可能であり、或いは基板上に設置されうる。図1の窓
部21のような幾何学的なものの代わりとして、電導性
における局部的な変更例えば半導体のドーピングによ
り、若しくは浸透性における局部的な変更例えば磁気テ
ープによって、電磁界に対して誘導作用を生じさせるこ
とができる。さらに電導性の金属スケールは、摩滅や汚
れ及び高温への耐性,低温度係数,安定性,並びに堅さ
ついて特に有利である。絶縁基板上の電導体を有するス
ケールは、安価な印刷回路基板により、或いは低い膨張
係数を有する軽量かつ高安定なセラミックキャリア上の
電導フィルムにより構成することができるので、これも
また注目するところである。
【0025】本発明による第2の素子たるスケールの例
の幾つかは、図5(A)ないし(E)に示されている。
スケール5Aは、ロータリエンコーダ用に、放射状窓部
を特徴とする電導ディスクに整形される。スケール5B
は、絶縁基板上の電導ループにより構成される。両スケ
ールは、織り込みまたは非織り込み巻線により読み取る
ことができる。スケール5Cは、渦電流が誘導される電
導性の島部を有する。電導スケール5Dは、第1の素子
に最も近接する表面下における渦電流により作用する浮
き彫りパターンを有する。高能率とするのには浮き彫り
の高さを0.2Tとすることで足りる。電導の、若しく
は磁気的な浸透性のスケール5Eは、2つの直交配列さ
れた第1の素子による両座標軸に沿った計測を可能とす
る2次元浮き彫りパターンを有する。これらスケール5
Cないし5Eは、織り込み巻線により読まれる必要があ
る。本発明によってはこれとは別のスケールも実現可能
であり、最適なスケールの選択は、その応用分野により
なされることとなる。
【0026】以下、図3及び図4に示されたような、第
1の素子上に3つの巻線を有するセンサを例にとり、本
発明による電子的手段を説明する。図6は、3つの織り
込み巻線A,B,Cを伴うこれら電子的手段または回路
を、明瞭とするために分けて概略的に示している。ここ
ではY接続、すなわち共通のコンタクトに各々1つの端
子があり、当該回路の電源電圧にすることのできる正電
圧V+への接続が採られている。残る端子LA,LB,
LCは、駆動トランジスタTA,TB,TC、サージ吸
収ダイオードDA,DB,DC及び同様に名付けられた
トランスミッションゲートまたはスイッチングゲートT
Gの端子LA,LB,LCにそれぞれ接続される。駆動
トランジスタは、NチャンネルのMOS増強タイプであ
る。
【0027】計測原理は、次の如くである。スケールを
介する結合は、巻線Aに電圧パルスを発生し、同時に他
の巻線B及びCに誘導された電圧間の差をサンプリング
することにより計測され、後述によりさらに明らかとな
るように、誘導及び被誘導の巻線が直交状態となる。こ
の結合は、図2を参照して説明されるような空間周期T
に伴い、空間的周期性の態様で変化するものであり、周
期性の標本化(サンプル)電圧シーケンスは、その後の
パルスを後続する巻線Bに発生しその次の巻線C,A,
等々の間の電圧差をサンプリングすることにより簡単に
得られる。このシーケンスは、周期当たり3つのサンプ
ルをもたらし、サンプル信号の位相を検出するのには十
分である。
【0028】この位相は、結合特性の空間的高周波が無
視できる限りは当該変位に対して直線的に変化する。こ
れは大抵、偶数次高調波が弱いものと仮定すると、3次
高調波はサンプルされず、5次以上の高調波は、巻線と
スケールとの表面間における0.2Tという十分なギャ
ップのために大幅に減衰される場合である。実際は、く
ねり路巻線の電磁界の空間高調波がギャップに対して指
数関数的に減ぜられ、m次の高調波であれば0.22T
/mのギャップに対して半分だけ減ずることとなる。そ
してその信号の位相は、前記3つのサンプル電圧の数値
的な振幅及び極性の値の関数として計算される。
【0029】例を挙げて説明されかつ図6に示された電
子的手段は、周期当たり6回サンプルされた信号をフィ
ルタリングすることにより直接的に当該位相を測定する
ものであり、低域通過のフィルタリングは、周期当たり
それより多くのサンプルについて比較的簡単である。こ
こで空間的3次高調波は、サンプルされるが、フィルタ
処理を施すことができない。これに対して5次高調波
は、サンプリングにより基本波に基づき拒絶されるの
で、それ以前に例えば上述で指摘したように、当該くね
り線路及びスケールの形状によって或いは簡単には十分
なギャップによって減衰されなければならない。
【0030】図7(a)ないし(f)は、図3に示され
たような3つのY接続された巻線で、誘導及び被誘導巻
線間の直交に関する、周期Tにつき一連の6つの結合形
態の発生態様の一例を示している。Y接続された織り込
みくねり路巻線A,B,Cは、右手にその共通端子が表
されている。図4に示されているような巻線では、各々
が2つの往復する重複くねり路からなり、全ての端子
は、はっきりと同じ側に置かれる。黒い矢印は誘導する
巻線と誘導する電流の方向を示し、白い矢印は誘導され
る巻線と測定極性とを示している。図7(a)において
は、巻線Aが誘導する一方で巻線B,Cが誘導される。
かかる後者の隣合う線部分は同じ測定極性を持つので、
これらはかかる誘導巻線と直交する架空の中間巻線と等
価であり、スケールの無い場合における実質の相互結合
はゼロとなる。示された巻線の形態は、端子において常
に逆の測定極性を示すものである。すなわち図7(a)
においては、巻線Bの極性を示す白い矢印は端子LBか
ら離れる方向に向くが、巻線Cの矢印は端子LCに向か
い、これにより電圧差が計測されるのである。図7
(a)の形勢をT/6だけシフトすると、誘導巻線が2
つの巻線間に存することとなり、従って双方が誘導し、
電流及び回路の複雑さが増す。他方、架空の被誘導巻線
は、実在の巻線と一致する。しかしながら、結合が計測
されるので、誘導及び被誘導巻線が交換されるか否かは
問題にはならず、巻線A,Bが誘導され、Cが誘導する
図7(b)の形態となる。同様に、他の形態も、どれも
1つの巻線が誘導し2つの巻線が誘導されるものであ
り、それぞれT/6シフト後に誘導及び被誘導巻線を変
えることによって得られる。最後に、かかる矢印は、図
7(c),(d)において反転されており、駆動回路を
簡単化するために常に巻線への同じ電流方向を達成し、
さらに測定極性を反転することによって、結合された信
号の極性は正確性が保たれる。
【0031】これら6つの形態は、図6における回路1
0によりつくられる。このために、発生器50は、その
出力CPでパルス列を発生し、3段シフトレジスタ51
及び制御ロジック「アンド」ゲート6Aないし6C並び
に7aないし7fにクロックとして供給する。シフトレ
ジスタ51のデータ入力は、該レジスタの2つの第1出
力Q1,Q2の送出がなされるロジック「ノア」ゲート
52により制御され、かかる構成により各出力Q1,Q
2,Q3のうち2つが論理値0でありつつも順次論理値
1に切り替わるモジュロ3カウンタが形成される。ある
論理値から次の論理値への変更は、CPの信号の立ち下
がりエッジで行われる。出力Q3の立ち下がりエッジ
は、出力RPが論理値0と1とで交互に変わるフリップ
フロップ53を切り換える。図8は、CP,Q1,Q
2,Q3,RPにおける信号のロジック波形を示してい
る。初期時においては、出力Q1は論理値1であり、出
力RP及びCPは論理値0である。
【0032】CPの立ち上がりまたはリーディングエッ
ジでは、図6のゲート6AがトランジスタTAに対して
動作の許容をなしてかつオン駆動させ、かかるトランジ
スタは、巻線Aの端子LAを接地(ゼロボルト)させ
る。これにより巻線Aは、誘導することになる。同時
に、ゲート7aは、インバータ54を介して反転信号R
Pを一入力端に受け、その3つの入力が論理値1となっ
て2つのトランスミッションゲートまたはスイッチング
トランジスタTGをオンとする。かかるトランジスタT
Gの一方は、巻線Cの端子LCを容量C1及び差動増幅
器80の「+」入力に切り換え、その他方は、巻線Bの
端子LBを容量C2及び差動増幅器80の「−」入力に
切り換える。これによって一方は、図7(a)の形態を
つくり、図7(b)ないし(f)の形態も図6における
回路によりつくられることを容易に確認することができ
る。
【0033】出力CPのパルスの端部では、トランスミ
ッションゲートTGがオフとされ、キャパシタC1及び
C2は巻線C及びBに誘導された電圧が蓄積され、駆動
トランジスタTAはオフに切り換えられる。図8はま
た、端子LA,LB,LCの波形の他にも、増幅器80
の出力のサンプルされかつ増幅された差信号AS、及び
フィルタ90の出力のフィルタ処理された信号AFを表
している。信号AFと参照信号RPとの位相シフトを計
測することによって、スケールの空間周期T当たり36
0度の割合で当該変位に比例した位相シフトが得られ
る。所定数周期に亘る位相シフトの計測は、公知であ
る。例を挙げれば、信号AFと基準位相RPの同じ極性
の遷移間の時間差が縮められうる。但し、整数個のピッ
チTに対応する位相シフトは、前記遷移間において時間
差ゼロを導くので、変位の周期の数を考慮に入れること
によって初めて除去することのできる計測の不明確さが
ある。すなわち数ピッチに亘る変位は、同じ数の変わり
目若しくは周期に亘る位相シフトと対応することとなる
のである。このため、サンプリングレートは、確実に、
1以上のピッチTを誤ることなく最大速度での変位を追
従するのに十分に高いものにすべきである。
【0034】このようなセンサの実現においては、同じ
自己インダクタンスの巻線を採用するよう、そしてその
直結の相互インダクタンスを最小化及び/または等化す
るよう配慮する必要がある。また、巻線端子を接続する
線は、これらインダクタンスが可及的に小さくするのに
寄与するよう短縮しまたは広げて形成されるべきであ
る。良好な解決方法は、巻線の隣の半導体のダイ(IC
チップ)に当該回路を一体化すること、若しくは当該ダ
イ上に巻線を含ませることである。残存する非線形性
は、必要であれば電子的手段により若しくは相互及び自
己インダクタンスを調整することによって、或いは、例
えば図4のような巻線の形状によるか若しくは巻線に隣
接する透磁性または導電性スクリーンの作用によるかど
ちらかによって、補正される。
【0035】このようなくねり路巻線の小なる自己イン
ダクタンスは、平均値が1マイクロヘンリ以下であり、
毎マイクロ秒につき数アンペアの極めて急峻な電流上昇
を伴い、電流消費の制限のためには、パルスの持続期間
を100ns未満とするべきである。上限はまた、時定
数L/Rによって与えられる。ここでLは巻線の自己イ
ンダクタンスであり、Rは、駆動トランジスタの出力抵
抗を加えた該巻線の抵抗である。それは数ナノ秒(集積
回路巻線)から約100ns(印刷回路巻線)まで変化
する。現代のCMOSトランジスタのスイッチングパラ
メータは、このようなパルス持続期間に適している。さ
らに、これらパラメータは、良好な測定精度のため、短
い時間に亘るパルスの均一性を守るのに十分な程度に緩
やかにドリフトする。電流上昇はこれらパルスの間急峻
となるので、信号対雑音比は高く、誘導電圧が電源電圧
3Vにつき大略0.1Vであるためなおさら、その計測
は電磁気の放射に対して感応しない。低電流消費を維持
するためには、パルス間に十分な時間をとるべきであ
る。スケールピッチTが0.75mmで0.125mm
(T/6)の変位に対応する50マイクロ秒の時間は、
2.5m/s以下の速度で変位に追従することを可能と
する。パルス持続期間が50nsであり、3Vの電源電
圧及び1マイクロヘンリの自己インダクタンスの場合、
平均電流消費は、約75マイクロアンペアであり、カリ
パスのような計測機器に適している。この小さなスケー
ルピッチと簡単な補間は、概ね1マイクロメートルの測
定精度を実現する。
【0036】本発明の実施例は、上述の例に限定されな
いことは勿論であり、請求項の範囲内で適宜改変するこ
とは可能である。特に、前記電子的手段10は、第1の
素子の巻線の少なくとも1つにおいて電流を生ぜしめ、
同一の巻線の自己インダクタンスに対する第2の素子の
空間的周期性の電磁特性の位置による作用を測ることが
できる。
【0037】織り込み形成されるかまたはされない巻線
の数は、任意である。巻線の形状も全く違うものでも良
く、例えば、1つ、2つ若しくはそれ以上の層において
1以上のスパイラル線により構成されても良い。透磁性
の素子は、これら巻線の性能を向上させるのに用いるこ
とができる。第2の素子またはスケールは、これまでと
は違った態様に実現することができる。例えば短いスケ
ールでは、閉じられたくねり路巻線すなわちその端子が
短絡しているものは、空間的に区別された(すなわち織
り込まれていない)巻線として有用であり、それらは前
記同一のスケールの巻線に全てが結合されるので、第1
の素子またはカーソルにおいて用いることができる。こ
のような構成は、全周囲のまわりに閉成されたスケール
くねり路巻線を有する小型のロータリエンコーダにおい
て特に有用である。
【0038】センサの2つの素子は、直線状、曲線状、
螺旋状またはその他形状の経路xに沿って相対的に移動
自在にしても良い。電子的手段10は、誘導及び被誘導
巻線の選択だけでなく、他の部品によって行われる変位
の関数として誘導される信号の評価など、全く異なる手
法によって構成することもできる。
【0039】最後に、異なるスケールピッチをもって同
一の軌道に沿って位置を合わて本発明による2つ以上の
センサを組み合わせれば、単一スケールのピッチよりも
遥かに大なる範囲に亘る明確な位置の読取、すなわち前
記範囲内の絶対的な位置の読取が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】その第1の素子が4つの平坦なうねり路の巻線
を有し第2の素子が窓部を持つ電導テープからなる、本
発明によるセンサの相対的移動自在な素子の双方を例示
する図である。
【図2】第2の素子またはスケールの変位の関数として
2つのうねり路巻線における信号を示す図である。
【図3】第1の素子が3つの織り込み巻線を有する、本
発明によるセンサの素子の双方を部分的に示す図であ
る。
【図4】変形例として、他の実施可能な3つの織り込み
巻線の形態を示す図である。
【図5】本発明による第2の素子の幾つかの例及び変形
例を示す図である。
【図6】3つのY接続巻線を有する本発明によるセンサ
の電子的手段を模式的に示す図である。
【図7】これら3つのうねり路巻線における一連の6つ
の結合信号の形態を示す図だある。
【図8】図6に示された電子的手段からのロジック及び
アナログ信号の波形を表す図である。
【符号の説明】
1,41 カーソル 1A,1B,1C,1D,31A,31B,31C,3
1D,41A,41B,41C,41D くねり路巻線 2,32,5A,5B,5C,5D,5E スケール 21,321 窓部 22,322 仕切部 31 カーソル 310 コンタクト 50 パルス発生器 51 3段レジスタ 52 NORゲート 53 フリップフロップ 54 インバータ 10 電子回路 7a〜7f,6A〜6C ANDゲート TA,TB,TC 駆動トランジスタ DA,DB,DC ダイオード TG トランスミッションゲート C1,C2 コンデンサ 80 差動増幅器 90 フィルタ

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 経路(x)に沿って互いに相対的に移動
    自在であり前記経路に沿って構成された巻線(1A乃至
    1D;31A乃至31C)が設けられかつそれらインダ
    クタンスが両者の相対変位の周期性関数として変化する
    2つの素子(1,2,31,32)と、前記巻線のイン
    ダクタンスの量から前記変位の値を測定する電子的手段
    (10)とを有する誘導性変位センサであって、 前記巻線(1A乃至1D;31A乃至31C)は、前記
    2つの素子のうちの第1の素子(1,31)上に構成さ
    れ、第2の素子(2,32)は、前記巻線のインダクタ
    ンスを変更することの可能な前記経路に沿った空間周期
    Tに関する空間的周期性の電磁気特性(21,22,3
    21,322)を示し、前記電子的手段(10)は、前
    記巻線の少なくとも一部に電流を生ずるようにかつ前記
    第1の素子の巻線の少なくとも一部のインダクタンスに
    対する前記第2の素子の空間的周期性の電磁気特性の位
    置による作用力を測定するように前記第1の素子上の前
    記巻線と接続されていることを特徴とする誘導性変位セ
    ンサ。
  2. 【請求項2】 前記第1の素子(1,31)は、前記経
    路(x)に沿う空間周期2Tの空間的周期性の形態をも
    って巻線または巻線のグループを具備することを特徴と
    する請求項1記載の誘導性変位センサ。
  3. 【請求項3】 前記電子的手段(10)は、少なくとも
    一時的にインダクタとなる巻線の第1の部分に電流を生
    ぜしめ、巻線の第2の部分に少なくとも一時的に誘導さ
    れた信号を測定することを特徴とする請求項1又は2記
    載の誘導性変位センサ。
  4. 【請求項4】 前記巻線の前記第2の部分は、前記巻線
    の前記第1の部分と直交して構成されていることを特徴
    とする請求項3記載の誘導性変位センサ。
  5. 【請求項5】 前記第1の素子(31;41)は、同一
    表面上に織り込まれかつ前記通路(x)に沿って距離T
    /Nの所定の整数倍だけ相互にシフトされたN個の巻線
    (31Aないし31C;41Aないし41E)を有する
    ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の
    誘導性変位センサ。
  6. 【請求項6】 前記巻線(41A,41B,41C)
    は、一端部において共に結合され他端部において前記電
    子的手段と接続された2つの往復する部分的重複くねり
    路によりそれぞれ作られていることを特徴とする請求項
    1乃至5の何れか1項に記載の誘導性変位センサ。
  7. 【請求項7】 前記巻線(41A,41B,41C)
    は、前記第1の素子の両端に向かって延在形状が先細に
    されていることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一
    項に記載の誘導性変位センサ。
  8. 【請求項8】 前記第2の素子(3,32)は、前記経
    路(x)に沿う空間周期Tに関する少なくとも空間的に
    電導する空間的周期性の形態を有することを特徴とする
    請求項1乃至7の何れか一項に記載の誘導性変位セン
    サ。
  9. 【請求項9】 前記第1の素子の巻線間の誘導的な相互
    結合は、前記第2の素子における誘導された電流または
    渦電流を介して実現されることを特徴とする請求項8記
    載の誘導性変位センサ。
  10. 【請求項10】 前記第2の素子は、絶縁基板上の一連
    の電導環部(5B)若しくは領域(5C)、または梯子
    (2,32)若しくは打ち抜きテープとしての形状また
    は周期性の浮き彫り模様(5D,5E)を持つ形状を呈
    する電導体を有することを特徴とする請求項8記載の誘
    導性変位センサ。
  11. 【請求項11】 前記電子的手段(10)は、自己イン
    ダクタンスL及び抵抗Rの少なくとも2つ巻線(A,
    B,C)または巻線のグループの間の相互インダクタン
    スの測定を、時定数L/Rよりも短い電圧パルスを少な
    くとも一方の巻線または巻線のグループの端子に供給し
    少なくとも1つの他方の巻線または巻線のグループの端
    子に誘導されたパルスを測定することによって行うよう
    設計されていることを特徴とする請求項1乃至10の何
    れか一項に記載の誘導性変位センサ。
  12. 【請求項12】 前記第1の素子(31)は、前記経路
    (x)に沿って距離T/3の整数倍だけ互いにシフトさ
    れた3つのY接続型くねり路巻線(31A乃至31C)
    を有し、前記電子的手段(10)は、一方の巻線の端子
    に電圧パルスを供給し、2つの他方の巻線に誘導された
    パルスを混合して、誘導巻線から距離T/2だけシフト
    された、或いは当該巻線に直交した架空の中間巻線から
    の信号に等価な標本化信号を得るよう構成されているこ
    とを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の
    誘導性変位センサ。
  13. 【請求項13】 前記電子的手段(10)は、フィルタ
    リングにより得られる基本成分が空間周期Tにつき1回
    の反転変化の割合で当該変位に比例した位相シフトを呈
    するところの周期性信号を導く空間周期Tに亘って6つ
    のサンプルを得るように周期的な順で誘導及び被誘導の
    巻線をシフトするのに適した構成を有することを特徴と
    する請求項12に記載の誘導性変位センサ。
  14. 【請求項14】 前記電子的手段(10)は、シフトレ
    ジスタ(51)に接続されるパルス発生器(50)を有
    し、前記シフトレジスタの出力は、一方においては各巻
    線を順次誘導性にせしめるよう駆動デバイス(TA,T
    B,TC)を制御し、かつ他方においては他方の巻線の
    双方において誘導された電圧信号を計測デバイス(C
    1,C2,80,90)へ伝送するよう伝送ゲート(T
    G)を制御することを特徴とする請求項13記載の誘導
    性変位センサ。
  15. 【請求項15】 前記電子的手段(10)は、前記第1
    の素子の巻線の少なくとも1つにおいて電流を生ぜし
    め、巻線の同一自己インダクタンスに対する前記第2の
    素子の空間的周期性の電磁気特性の位置による作用を測
    ることが可能であることを特徴とする請求項1又は2記
    載の誘導性変位センサ。
JP00215197A 1996-01-24 1997-01-09 誘導性変位センサ Expired - Fee Related JP3828972B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH179-96 1996-01-24
CH00179/96A CH690933A5 (fr) 1996-01-24 1996-01-24 Capteur inductif de déplacement.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09210611A true JPH09210611A (ja) 1997-08-12
JP3828972B2 JP3828972B2 (ja) 2006-10-04

Family

ID=4181073

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP00215197A Expired - Fee Related JP3828972B2 (ja) 1996-01-24 1997-01-09 誘導性変位センサ

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5804963A (ja)
EP (1) EP0785415B1 (ja)
JP (1) JP3828972B2 (ja)
CN (1) CN1091873C (ja)
CH (1) CH690933A5 (ja)
DE (1) DE69702077T2 (ja)
HK (1) HK1000838A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7049924B2 (en) 2004-06-30 2006-05-23 Okuma Corporation Electromagnetic induction type position sensor
CN104819682A (zh) * 2014-02-04 2015-08-05 株式会社三丰 感应型位置测量设备
KR20170118725A (ko) * 2015-01-13 2017-10-25 허친슨 각이동센서를 포함한 베어링
JP2019100840A (ja) * 2017-12-01 2019-06-24 株式会社ミツトヨ 電磁誘導式位置検出装置
CN110114636A (zh) * 2016-12-29 2019-08-09 罗伯特·博世有限公司 位移传感器
JP2020169851A (ja) * 2019-04-02 2020-10-15 村田機械株式会社 磁気式リニアセンサ

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5998990A (en) * 1997-08-25 1999-12-07 Mitutoyo Corporation Pitch-compensated induced current position transducer
US5901458A (en) 1997-11-21 1999-05-11 Mitutoyo Corporation Electronic caliper using a reduced offset induced current position transducer
JPH11223505A (ja) * 1997-12-03 1999-08-17 Mitsutoyo Corp 誘導型位置測定装置
US6344739B1 (en) * 1999-02-12 2002-02-05 R/D Tech Inc. Eddy current probe with multi-use coils and compact configuration
CA2385868A1 (en) * 1999-09-20 2001-03-29 Jentek Sensors, Inc. Eddy-current sensor arrays
US6501264B2 (en) 2000-03-13 2002-12-31 Mitutoyo Corporation Induction type transducer and electronic caliper
US6636035B2 (en) * 2000-03-13 2003-10-21 Mitutoyo Corporation Position measuring device and error detecting method for the same, and electromagnetic induction position detecting device
US6720760B2 (en) 2001-11-14 2004-04-13 Mitutoyo Corporation Induced current position transducers having improved scale loop structures
US6646433B2 (en) * 2002-02-26 2003-11-11 Mitutoyo Corporation Induced current position transducers using tape scales with apertures
DE60332581D1 (de) * 2002-07-03 2010-07-01 Hans Ulrich Meyer Induktiver Stellungsgeber
JP2005134247A (ja) * 2003-10-30 2005-05-26 Mitsutoyo Corp 誘導型変位検出装置及びマイクロメータ
DE10354694C5 (de) * 2003-11-22 2008-10-09 Sick Ag Induktiver Sensor
DE102004006672B3 (de) 2004-02-11 2005-08-18 Carl Mahr Holding Gmbh Feinmessgerät zur Abstandsvermessung
JP2006145220A (ja) * 2004-11-16 2006-06-08 Shicoh Eng Co Ltd 磁気式位置検出装置
CN100420914C (zh) * 2005-04-19 2008-09-24 三丰株式会社 绝对式旋转编码器和千分尺
US7323863B2 (en) * 2005-10-14 2008-01-29 Mitutoyo Corporation Inductive transducer measurement system
US7652469B2 (en) * 2006-07-19 2010-01-26 Advanced Sensor Technology Limited Inductive position sensor
JP2008029125A (ja) * 2006-07-21 2008-02-07 Sony Corp 電磁誘導型処理装置
US7239130B1 (en) 2006-07-24 2007-07-03 Mitutoyo Corporation Compact pitch-compensated inductive displacement transducer
EP2065064A1 (fr) 2007-11-29 2009-06-03 Valtronic Technologies (Suisse) SA Stylo injecteur de medicament
US8222891B2 (en) * 2009-05-01 2012-07-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Compensating for position errors in displacement transducers
DE102009042940A1 (de) 2009-09-24 2011-05-19 Robert Bosch Gmbh Positionsmesseinrichtung mit sich mehrfach kreuzender Senderwindungsanordnung
CH703582B1 (de) * 2010-08-04 2016-03-15 Bosch Gmbh Robert Induktive Positionsmesseinrichtung mit Randkompensation.
CH703583B1 (de) * 2010-08-04 2015-12-31 Bosch Gmbh Robert Induktive Positionsmesseinrichtung mit mehr als zwei Empfängerspulengruppen.
US8827930B2 (en) 2011-01-10 2014-09-09 Bioguidance Llc System and method for patient monitoring
US8915869B2 (en) 2011-01-10 2014-12-23 Bioguidance Llc Patient monitoring device
RU2454625C1 (ru) * 2011-02-11 2012-06-27 Открытое акционерное общество "Авангард" Индукционный датчик положения
DE102012001202A1 (de) 2011-08-10 2013-02-14 Gerd Reime Sensor zur Ortung metallischer Objekte sowie zugehörige Spule
JP2014002120A (ja) * 2012-06-20 2014-01-09 Tokai Rika Co Ltd 無接点センサ及びシフトレバー装置
FR3002034B1 (fr) 2013-02-12 2015-03-20 Continental Automotive France Capteur de position inductif
CN103994712B (zh) * 2014-04-28 2016-09-14 安徽华盛科技控股股份有限公司 无源直线位移传感器
US9267819B2 (en) 2014-06-12 2016-02-23 Mitutoyo Corporation Absolute position encoder scale having plates alternating with varying recesses
US9435663B2 (en) 2014-08-22 2016-09-06 Mitutoyo Corporation Absolute position encoder scale having layers in a stacked configuration
US9618366B2 (en) * 2014-11-25 2017-04-11 Mitutoyo Corporation Absolute encoder scale configuration with unique coded impedance modulations
FR3031588B1 (fr) 2015-01-13 2018-11-16 Hutchinson Capteurs inductifs de deplacement
FR3031587B1 (fr) 2015-01-13 2018-11-16 Hutchinson Capteurs inductifs de deplacement
FR3031586B1 (fr) 2015-01-13 2017-02-10 Dymeo Capteurs inductifs de deplacement
JP6021136B1 (ja) * 2016-02-03 2016-11-09 三菱重工工作機械株式会社 電磁誘導式位置検出器
EP3299771B1 (en) * 2016-09-22 2020-04-29 Sagentia Limited Inductive sensor arrangement
JP6877829B2 (ja) * 2017-03-23 2021-05-26 株式会社ミツトヨ 電磁誘導型変位検出装置およびこれを用いた測定器
DE102017123772B4 (de) * 2017-10-12 2019-06-19 Paul Tutzu Elektromagnetisches Messsystem für die Erfassung von Länge und Winkel basierend auf dem Magnetoimpedanzeffekt
US11525701B2 (en) 2018-01-22 2022-12-13 Melexis Technologies Sa Inductive position sensor
EP3514481B1 (en) 2018-01-22 2021-12-22 Melexis Technologies SA Arrangement with a flux coupling target
EP3514502B1 (en) * 2018-01-22 2021-07-14 Melexis Technologies SA Inductive position sensor
CN109931859B (zh) * 2019-04-10 2021-05-14 重庆理工大学 具有互补耦合结构的直线位移传感器
CN110470323A (zh) * 2019-08-06 2019-11-19 上海交通大学 一种涡流式增量编码器及其工作方法
CN110487162B (zh) 2019-09-29 2020-09-08 桂林广陆数字测控有限公司 混合定位电磁感应式位移传感器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB847158A (ja) *
US4100485A (en) * 1976-02-17 1978-07-11 The Newall Engineering Company Ltd. Phase displaced measurement of contiguous spherical balls
DE2951148C2 (de) * 1979-12-19 1984-04-19 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Meßeinrichtung für einen Drehwinkel und/oder ein Drehoment
DE3014137A1 (de) * 1980-04-12 1981-10-22 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Vorrichtung zur beruehrungslosen weg- und/oder geschwindigkeitsmessung
US4717874A (en) * 1984-02-10 1988-01-05 Kabushiki Kaisha Sg Reluctance type linear position detection device
US4697144A (en) * 1984-04-19 1987-09-29 Verify Electronics Limited Position sensing apparatus
US5109193A (en) * 1990-06-07 1992-04-28 F.M.E. Corporation Inductive digital encoder array
DE4205957A1 (de) * 1992-02-27 1993-09-02 Vogt Electronic Ag Spulenaufbau

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7049924B2 (en) 2004-06-30 2006-05-23 Okuma Corporation Electromagnetic induction type position sensor
DE102005030358B4 (de) * 2004-06-30 2015-05-28 Okuma Corporation Mit elektromagnetischer Induktion arbeitender Positionssensor
DE102005030358B8 (de) * 2004-06-30 2015-08-13 Okuma Corporation Mit elektromagnetischer Induktion arbeitender Positionssensor
CN104819682A (zh) * 2014-02-04 2015-08-05 株式会社三丰 感应型位置测量设备
KR20170118725A (ko) * 2015-01-13 2017-10-25 허친슨 각이동센서를 포함한 베어링
JP2018508759A (ja) * 2015-01-13 2018-03-29 ユチンソンHutchinson 角変位センサを備える軸受
CN110114636A (zh) * 2016-12-29 2019-08-09 罗伯特·博世有限公司 位移传感器
JP2020503524A (ja) * 2016-12-29 2020-01-30 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングRobert Bosch Gmbh 距離センサ
US11002565B2 (en) 2016-12-29 2021-05-11 Robert Bosch Gmbh Path sensor
JP2019100840A (ja) * 2017-12-01 2019-06-24 株式会社ミツトヨ 電磁誘導式位置検出装置
JP2020169851A (ja) * 2019-04-02 2020-10-15 村田機械株式会社 磁気式リニアセンサ
TWI825300B (zh) * 2019-04-02 2023-12-11 日商村田機械股份有限公司 磁氣式線性感測器

Also Published As

Publication number Publication date
US5804963A (en) 1998-09-08
JP3828972B2 (ja) 2006-10-04
DE69702077T2 (de) 2001-02-01
EP0785415A1 (fr) 1997-07-23
HK1000838A1 (en) 2000-09-08
CN1164639A (zh) 1997-11-12
DE69702077D1 (de) 2000-06-29
CN1091873C (zh) 2002-10-02
CH690933A5 (fr) 2001-02-28
EP0785415B1 (fr) 2000-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09210611A (ja) 誘導性変位センサ
US6259249B1 (en) Induction-type position measuring apparatus
JP3366855B2 (ja) 誘導型位置検出装置
JP3596850B2 (ja) マルチタップ受信器捲線を有する誘導性位置トランスデューサ及び相対位置を判別するための方法
JP4291424B2 (ja) 誘導型絶対位置測定装置
JP3246727B2 (ja) 誘導型電子ノギス
EP1881299B1 (en) Inductive position sensor
KR102650230B1 (ko) 하이브리드 위치결정 전자기 유도식 변위 센서
US7015687B2 (en) Inductive position sensor with a cursor and a coupling scale
EP0248165A2 (en) Capacitance-type transducer for measuring positions
US4403187A (en) Magnetic head for sensing the position of a moving member
CN107407577B (zh) 感应式移动传感器
JPH0374767B2 (ja)
JPH08313295A (ja) 誘導電流を用いた位置検出トランスデューサ
JP2003149002A (ja) トランスデューサ用スケール・ループ
JP4041635B2 (ja) 対称サンプリング方法を用いた信号測定方法及び位置決定方法
CN111397498B (zh) 一种绝对式时栅直线位移传感器
US7323863B2 (en) Inductive transducer measurement system
JP3978268B2 (ja) 誘導型位置検出装置
JPH116708A (ja) 誘導型位置測定器
JP4503806B2 (ja) 位置検出装置
JPS63311117A (ja) 位置検出用磁気センサ
JPH11173872A (ja) リニアレゾルバ信号発生方法及びリニアレゾルバ
CN113091778B (zh) 电磁感应型编码器及其使用方法
JP2002031546A (ja) 磁気式エンコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 19970110

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20031106

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040823

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040922

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20041214

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20041227

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050318

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050318

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050803

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20051102

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20051114

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060127

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060127

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060425

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060621

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060710

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100714

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100714

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110714

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120714

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130714

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees