JPH09148336A - シリコン半導体基板及びその製造方法 - Google Patents
シリコン半導体基板及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH09148336A JPH09148336A JP30479095A JP30479095A JPH09148336A JP H09148336 A JPH09148336 A JP H09148336A JP 30479095 A JP30479095 A JP 30479095A JP 30479095 A JP30479095 A JP 30479095A JP H09148336 A JPH09148336 A JP H09148336A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon semiconductor
- semiconductor layer
- semiconductor substrate
- polycrystalline silicon
- oxygen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/322—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/322—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections
- H01L21/3221—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections of silicon bodies, e.g. for gettering
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/06—Gettering
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/147—Silicides
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31652—Of asbestos
- Y10T428/31663—As siloxane, silicone or silane
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
- Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 シリコン半導体基板のエクトリシンシック・
ゲッタリングを行う場合、シリコン半導体基板のプロセ
スでの熱処理によってゲッタリング能力が低下されてし
まう。 【解決手段】 シリコン半導体基板1の一方の表面に2
atomic%以上20atomic%以下の酸素を含
んだ多結晶または非結晶のシリコン半導体層2が形成さ
れる。この多結晶または非結晶のシリコン半導体層2が
エクトリンシック・ゲッタリングの捕獲源とする。熱処
理工程を経てもゲッタリング能力が低下されることがな
く、シリコン半導体基板1での重金属汚染を好適に取り
除くことが可能となる。
ゲッタリングを行う場合、シリコン半導体基板のプロセ
スでの熱処理によってゲッタリング能力が低下されてし
まう。 【解決手段】 シリコン半導体基板1の一方の表面に2
atomic%以上20atomic%以下の酸素を含
んだ多結晶または非結晶のシリコン半導体層2が形成さ
れる。この多結晶または非結晶のシリコン半導体層2が
エクトリンシック・ゲッタリングの捕獲源とする。熱処
理工程を経てもゲッタリング能力が低下されることがな
く、シリコン半導体基板1での重金属汚染を好適に取り
除くことが可能となる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体基板に関し、
特にゲッタリング源となる欠陥層が形成されたシリコン
基板に関する。
特にゲッタリング源となる欠陥層が形成されたシリコン
基板に関する。
【0002】
【従来の技術】シリコン基板に形成されるデバイスの微
細化と高集積化が進むに従って、デバイス製造プロセス
中に混入する重金属の影響によるデバイス特性劣化や歩
留まり低下などの問題が益々大きくなっている。そのた
め、この重金属汚染をデバイス形成領域から取り除く技
術(ゲッタリング技術)の重要性が高められている。通
常、このゲッタリング技術としてシリコン中に含まれる
酸素の析出および析出により発生した結晶欠陥を重金属
の捕獲源とするイントリンシック・ゲッタリング法(I
G法)や、人工的に与えた機械的損傷から発生した結晶
欠陥を捕獲源とする方法(BD法)、高濃度のリン拡散
層を重金属の捕獲源とするリンゲッター法(PDG
法)、裏面に形成した多結晶シリコン層を捕獲源とする
方法(PG法)などのエクトリンシック・ゲッタリング
法とがある。
細化と高集積化が進むに従って、デバイス製造プロセス
中に混入する重金属の影響によるデバイス特性劣化や歩
留まり低下などの問題が益々大きくなっている。そのた
め、この重金属汚染をデバイス形成領域から取り除く技
術(ゲッタリング技術)の重要性が高められている。通
常、このゲッタリング技術としてシリコン中に含まれる
酸素の析出および析出により発生した結晶欠陥を重金属
の捕獲源とするイントリンシック・ゲッタリング法(I
G法)や、人工的に与えた機械的損傷から発生した結晶
欠陥を捕獲源とする方法(BD法)、高濃度のリン拡散
層を重金属の捕獲源とするリンゲッター法(PDG
法)、裏面に形成した多結晶シリコン層を捕獲源とする
方法(PG法)などのエクトリンシック・ゲッタリング
法とがある。
【0003】このエクトリンシック・ゲッタリング法と
しては、例えば、特開平3−238825号公報には炭
素ドープ多結晶シリコン層を半導体基板の裏面に形成し
たものが、また、特開平2−47836号公報には過飽
和の酸素をドープした多結晶シリコン層を半導体基板の
裏面に形成したものがそれぞれ記載されており、この多
結晶シリコンシリコン層の炭素や酸素をシリコン半導体
基板内部に拡散させ、この酸素や炭素により基板内部で
の酸素析出を促進し、重金属ゲッタリングさせる方法が
とられている。
しては、例えば、特開平3−238825号公報には炭
素ドープ多結晶シリコン層を半導体基板の裏面に形成し
たものが、また、特開平2−47836号公報には過飽
和の酸素をドープした多結晶シリコン層を半導体基板の
裏面に形成したものがそれぞれ記載されており、この多
結晶シリコンシリコン層の炭素や酸素をシリコン半導体
基板内部に拡散させ、この酸素や炭素により基板内部で
の酸素析出を促進し、重金属ゲッタリングさせる方法が
とられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のイントリンシッ
ク・ゲッタリング法の問題点は、酸素析出の機構が極め
て多様かつ複雑な要因を含んでいるため、酸素析出の完
全な制御は非常に困難で、欠陥層の形成が十分でなかっ
たり、逆に無欠陥であるべきデバイス活性領域に欠陥が
発生したりして、半導体装置の製造歩留まりを低下させ
るという問題点があった。さらに、酸素析出が多い場
合、格子間酸素濃度が低下することと、酸素析出物の形
成に伴い転位が発生することによって、シリコン半導体
基板の機械的強度が著しく低下し、半導体装置製造工程
中にシリコン半導体基板にスリップが生じ、半導体装置
の製造歩留まりを低下させるという問題点があった。
ク・ゲッタリング法の問題点は、酸素析出の機構が極め
て多様かつ複雑な要因を含んでいるため、酸素析出の完
全な制御は非常に困難で、欠陥層の形成が十分でなかっ
たり、逆に無欠陥であるべきデバイス活性領域に欠陥が
発生したりして、半導体装置の製造歩留まりを低下させ
るという問題点があった。さらに、酸素析出が多い場
合、格子間酸素濃度が低下することと、酸素析出物の形
成に伴い転位が発生することによって、シリコン半導体
基板の機械的強度が著しく低下し、半導体装置製造工程
中にシリコン半導体基板にスリップが生じ、半導体装置
の製造歩留まりを低下させるという問題点があった。
【0005】一方、エクトリンシック・ゲッタリング法
においては、ゲッタリングの核となる結晶欠陥や多結晶
シリコンの結晶粒は、半導体装置製造工程中の熱処理で
消滅したり、多結晶シリコンの結晶粒が成長してしまう
ため、半導体装置製造工程中でゲッタリング効果が長続
きしないという問題点がある。また、前記した特開平2
−47836号公報に記載された過飽和の酸素をドープ
した多結晶シリコン膜による基板内部の酸素析出を促進
させる方法では、酸素濃度が低い場合、重金属のゲッタ
リング効果が小さく、また、高濃度の酸素や、特開平3
−238825号公報に記載されているような高濃度の
炭素をドープした多結晶シリコン膜による基板内部の酸
素析出を促進させる方法では、イントリンシック・ゲッ
タリング法と同様に、シリコン半導体基板内の酸素析出
物の形成に伴い転位が発生することによって、シリコン
半導体基板の機械的強度が著しく低下し、半導体装置製
造工程中にシリコン半導体基板にスリップが生じ、半導
体装置の製造歩留まりを低下させるという問題点があっ
た。
においては、ゲッタリングの核となる結晶欠陥や多結晶
シリコンの結晶粒は、半導体装置製造工程中の熱処理で
消滅したり、多結晶シリコンの結晶粒が成長してしまう
ため、半導体装置製造工程中でゲッタリング効果が長続
きしないという問題点がある。また、前記した特開平2
−47836号公報に記載された過飽和の酸素をドープ
した多結晶シリコン膜による基板内部の酸素析出を促進
させる方法では、酸素濃度が低い場合、重金属のゲッタ
リング効果が小さく、また、高濃度の酸素や、特開平3
−238825号公報に記載されているような高濃度の
炭素をドープした多結晶シリコン膜による基板内部の酸
素析出を促進させる方法では、イントリンシック・ゲッ
タリング法と同様に、シリコン半導体基板内の酸素析出
物の形成に伴い転位が発生することによって、シリコン
半導体基板の機械的強度が著しく低下し、半導体装置製
造工程中にシリコン半導体基板にスリップが生じ、半導
体装置の製造歩留まりを低下させるという問題点があっ
た。
【0006】本発明の目的は、ゲッタリング能力が高
く、かつ熱処理を経てもこのゲッタリング能力が低下さ
れることがないシリコン半導体基板とその製造方法を提
供することにある。
く、かつ熱処理を経てもこのゲッタリング能力が低下さ
れることがないシリコン半導体基板とその製造方法を提
供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のシリコン半導体
基板は、その一方の表面に2atomic%以上20a
tomic%以下の酸素を含んだ多結晶または非結晶の
シリコン半導体層が形成されていることを特徴とする。
また、4atomic%以上20atomic%以下の
窒素を含んだ多結晶または非結晶のシリコン半導体層が
形成されていてもよい。
基板は、その一方の表面に2atomic%以上20a
tomic%以下の酸素を含んだ多結晶または非結晶の
シリコン半導体層が形成されていることを特徴とする。
また、4atomic%以上20atomic%以下の
窒素を含んだ多結晶または非結晶のシリコン半導体層が
形成されていてもよい。
【0008】また、本発明のシリコン半導体基板は、そ
の一方の表面に2atomic%以上の窒素と1ato
mic%以上の酸素を含んだ多結晶または非結晶のシリ
コン半導体層が形成されていることを特徴とする。
の一方の表面に2atomic%以上の窒素と1ato
mic%以上の酸素を含んだ多結晶または非結晶のシリ
コン半導体層が形成されていることを特徴とする。
【0009】さらに、本発明の製造方法は、シリコン半
導体基板の一方の表面に、2atomic%以上20a
tomic%以下の酸素を含んだ多結晶のシリコン半導
体層、または4atomic%以上20atomic%
以下の窒素を含んだ多結晶のシリコン半導体層、或いは
2aotmic%以上の窒素と1atomic%以上の
酸素を含んだ多結晶シリコンの半導体層を形成すること
は勿論であるが、シリコン半導体基板に先ず前記した酸
素、窒素、酸素と窒素を含む非結晶のシリコン半導体層
を形成した後に、シリコン半導体基板を800℃から1
100℃の間の温度で1時間以上熱処理してその非結晶
シリコン半導体層を多結晶シリコン半導体層に変質する
ことが可能である。
導体基板の一方の表面に、2atomic%以上20a
tomic%以下の酸素を含んだ多結晶のシリコン半導
体層、または4atomic%以上20atomic%
以下の窒素を含んだ多結晶のシリコン半導体層、或いは
2aotmic%以上の窒素と1atomic%以上の
酸素を含んだ多結晶シリコンの半導体層を形成すること
は勿論であるが、シリコン半導体基板に先ず前記した酸
素、窒素、酸素と窒素を含む非結晶のシリコン半導体層
を形成した後に、シリコン半導体基板を800℃から1
100℃の間の温度で1時間以上熱処理してその非結晶
シリコン半導体層を多結晶シリコン半導体層に変質する
ことが可能である。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の第1の実施形態を説
明するための基板断面図である。150mm径、厚さ約
675μm、格子間酸素濃度1.4×1018cm-3、抵
抗率約10Ωcmのシリコン半導体基板1に対し、その
一方の主表面、ここでは素子を形成しない側の主面であ
る裏面に、1000sccmのシラン(SiH4 ),0
〜50sccmの亜酸化窒素(N2 O)を用い650℃
で通常の減圧化学気相成長法(LPCVD法)によって
厚さ1μmの多結晶シリコン半導体層2を形成し、これ
を本発明にかかるシリコン半導体基板の試料とする。
参照して説明する。図1は本発明の第1の実施形態を説
明するための基板断面図である。150mm径、厚さ約
675μm、格子間酸素濃度1.4×1018cm-3、抵
抗率約10Ωcmのシリコン半導体基板1に対し、その
一方の主表面、ここでは素子を形成しない側の主面であ
る裏面に、1000sccmのシラン(SiH4 ),0
〜50sccmの亜酸化窒素(N2 O)を用い650℃
で通常の減圧化学気相成長法(LPCVD法)によって
厚さ1μmの多結晶シリコン半導体層2を形成し、これ
を本発明にかかるシリコン半導体基板の試料とする。
【0011】このシリコン半導体基板を、亜酸化窒素の
流量を相違させたものを複数個形成し、しかる上で、多
結晶シリコン半導体層2中の酸素濃度の亜酸化窒素流量
依存性を測定した。図2はその依存性を示したもので、
亜酸化窒素流量が増大するに従って多結晶シリコン半導
体層2中の酸素濃度は増加している。さらに、多結晶シ
リコン半導体層2の平均結晶粒径の多結晶シリコン半導
体層2中の酸素濃度依存性は図3に示すように亜酸化窒
素流量が増加するに従って粒径は小さくなっている。
流量を相違させたものを複数個形成し、しかる上で、多
結晶シリコン半導体層2中の酸素濃度の亜酸化窒素流量
依存性を測定した。図2はその依存性を示したもので、
亜酸化窒素流量が増大するに従って多結晶シリコン半導
体層2中の酸素濃度は増加している。さらに、多結晶シ
リコン半導体層2の平均結晶粒径の多結晶シリコン半導
体層2中の酸素濃度依存性は図3に示すように亜酸化窒
素流量が増加するに従って粒径は小さくなっている。
【0012】また、これら多結晶シリコン半導体層2を
形成したシリコン半導体基板1を1100℃で窒素雰囲
気中で熱処理し、多結晶シリコン半導体層2の平均結晶
粒径の熱処理時間依存性を評価した。図4はその依存性
を示したもので、多結晶シリコン半導体層2の酸素濃度
が増加するに従って熱処理経過後の粒径が小さいサイズ
で飽和している。このように酸素を添加した多結晶シリ
コン半導体層2は熱処理を経てもその粒径があまり大き
くならず、このことは重金属のゲッタリング能力が落ち
ないことを意味している。
形成したシリコン半導体基板1を1100℃で窒素雰囲
気中で熱処理し、多結晶シリコン半導体層2の平均結晶
粒径の熱処理時間依存性を評価した。図4はその依存性
を示したもので、多結晶シリコン半導体層2の酸素濃度
が増加するに従って熱処理経過後の粒径が小さいサイズ
で飽和している。このように酸素を添加した多結晶シリ
コン半導体層2は熱処理を経てもその粒径があまり大き
くならず、このことは重金属のゲッタリング能力が落ち
ないことを意味している。
【0013】実際にこれら酸素含有量を変化させた多結
晶シリコン半導体層2を形成したシリコン半導体基板1
に重金属(Cu)を拡散し、多結晶シリコン半導体膜2
が形成されていない方の基板表面の重金属析出物密度か
ら重金属のゲッタリング能力を評価した。図5はその結
果を示したもので、多結晶シリコン半導体層2の酸素濃
度が増加するに従って表面の重金属析出物密度が減少し
ている。特に多結晶シリコン半導体層2の酸素濃度がそ
れぞれ2atomic%以上の場合、ゲッタリング能力
が高く効果的であった。
晶シリコン半導体層2を形成したシリコン半導体基板1
に重金属(Cu)を拡散し、多結晶シリコン半導体膜2
が形成されていない方の基板表面の重金属析出物密度か
ら重金属のゲッタリング能力を評価した。図5はその結
果を示したもので、多結晶シリコン半導体層2の酸素濃
度が増加するに従って表面の重金属析出物密度が減少し
ている。特に多結晶シリコン半導体層2の酸素濃度がそ
れぞれ2atomic%以上の場合、ゲッタリング能力
が高く効果的であった。
【0014】また、この酸素添加の多結晶シリコン半導
体膜は非結晶シリコン半導体膜を熱処理により多結晶化
しても形成できる。図6は非結晶シリコン半導体膜を熱
処理により多結晶化する方法を説明するための工程順の
基板断面図である。先ず、図6(a)のように、シリコ
ン半導体基板11の一方の主表面に1000sccmの
シラン(SiH4 ),1sccm以上の亜酸化窒素(N
2 O)を用い580℃で通常の減圧化学気相成長法(L
PCVD法)によって厚さ1μmの非結晶シリコン半導
体層12を形成する。その後、図6(b)のように、シ
リコン半導体基板1を800から1100℃の間の温度
で1時間以上熱処理し、非結晶シリコン半導体層12を
多結晶シリコン半導体膜13に形成する。
体膜は非結晶シリコン半導体膜を熱処理により多結晶化
しても形成できる。図6は非結晶シリコン半導体膜を熱
処理により多結晶化する方法を説明するための工程順の
基板断面図である。先ず、図6(a)のように、シリコ
ン半導体基板11の一方の主表面に1000sccmの
シラン(SiH4 ),1sccm以上の亜酸化窒素(N
2 O)を用い580℃で通常の減圧化学気相成長法(L
PCVD法)によって厚さ1μmの非結晶シリコン半導
体層12を形成する。その後、図6(b)のように、シ
リコン半導体基板1を800から1100℃の間の温度
で1時間以上熱処理し、非結晶シリコン半導体層12を
多結晶シリコン半導体膜13に形成する。
【0015】なお、この非結晶シリコン半導体層12を
多結晶シリコン半導体層13に多結晶化するための熱処
理は同様の温度、時間のデバイス形成プロセスの初期熱
処理でも代用できる。したがって、本発明においてはプ
ロセス前の半導体基板としては、前記した多結晶シリコ
ン半導体層13の代わりに非結晶シリコン半導体層12
を有するシリコン半導体基板として構成しておけば、プ
ロセスの途中で自然に多結晶シリコン半導体層13が形
成されることになり、本発明がそのまま適用されること
になる。
多結晶シリコン半導体層13に多結晶化するための熱処
理は同様の温度、時間のデバイス形成プロセスの初期熱
処理でも代用できる。したがって、本発明においてはプ
ロセス前の半導体基板としては、前記した多結晶シリコ
ン半導体層13の代わりに非結晶シリコン半導体層12
を有するシリコン半導体基板として構成しておけば、プ
ロセスの途中で自然に多結晶シリコン半導体層13が形
成されることになり、本発明がそのまま適用されること
になる。
【0016】本発明の第2の実施形態について図面を参
照して説明する。図7は本発明の第2の実施形態を説明
するための基板の縦断面図である。150mm径、厚さ
約675μm、格子間酸素濃度1.4×1018cm-3、
抵抗率約10Ωcmのシリコン半導体基板21に対し、
その裏面となる一方の主表面に1000sccmのシラ
ン(SiH4 )および0〜5sccmのアンモニア(N
H3 )を用い650℃で通常の減圧化学気相成長法(L
PCVD法)によって厚さ1μmの多結晶シリコン半導
体層22を形成し、これを試料とする。
照して説明する。図7は本発明の第2の実施形態を説明
するための基板の縦断面図である。150mm径、厚さ
約675μm、格子間酸素濃度1.4×1018cm-3、
抵抗率約10Ωcmのシリコン半導体基板21に対し、
その裏面となる一方の主表面に1000sccmのシラ
ン(SiH4 )および0〜5sccmのアンモニア(N
H3 )を用い650℃で通常の減圧化学気相成長法(L
PCVD法)によって厚さ1μmの多結晶シリコン半導
体層22を形成し、これを試料とする。
【0017】このシリコン半導体基板を、アンモニア流
量が相違する複数個の半導体基板として形成し、その多
結晶シリコン半導体層22の窒素濃度のアンモニア流量
依存性を測定した。図8はその依存性を示したもので、
アンモニア流量が増加するに従って多結晶シリコン半導
体層22中の窒素濃度は増加している。さらに、多結晶
シリコン半導体層22の平均結晶粒径の多結晶シリコン
半導体層22中の窒素濃度依存性は図9に示すようにア
ンモニア流量が増加するに従って粒径は小さくなってい
る。
量が相違する複数個の半導体基板として形成し、その多
結晶シリコン半導体層22の窒素濃度のアンモニア流量
依存性を測定した。図8はその依存性を示したもので、
アンモニア流量が増加するに従って多結晶シリコン半導
体層22中の窒素濃度は増加している。さらに、多結晶
シリコン半導体層22の平均結晶粒径の多結晶シリコン
半導体層22中の窒素濃度依存性は図9に示すようにア
ンモニア流量が増加するに従って粒径は小さくなってい
る。
【0018】また、これら多結晶シリコン半導体層22
を形成したシリコン半導体基板21を1100℃で窒素
雰囲気中で熱処理し、多結晶シリコン半導体層22の平
均結晶粒径の熱処理時間依存性を評価した。図10はそ
の依存性を示したもので、多結晶シリコン半導体層22
の窒素濃度が増加するに従って熱処理経過後の粒径が小
さいサイズで飽和している。このように窒素を添加した
多結晶シリコン半導体膜22は熱処理を経てもその粒径
があまり大きくならず、このことは第1の実施形態の場
合と同様に、重金属のゲッタリング能力が落ちないこと
を意味している。
を形成したシリコン半導体基板21を1100℃で窒素
雰囲気中で熱処理し、多結晶シリコン半導体層22の平
均結晶粒径の熱処理時間依存性を評価した。図10はそ
の依存性を示したもので、多結晶シリコン半導体層22
の窒素濃度が増加するに従って熱処理経過後の粒径が小
さいサイズで飽和している。このように窒素を添加した
多結晶シリコン半導体膜22は熱処理を経てもその粒径
があまり大きくならず、このことは第1の実施形態の場
合と同様に、重金属のゲッタリング能力が落ちないこと
を意味している。
【0019】実際にこれら窒素含有量を変化させた多結
晶シリコン半導体層22を形成したシリコン半導体基板
21に重金属(Cu)を拡散し、多結晶シリコン半導体
層22が形成されていない方の基板表面の重金属析出物
量から重金属のゲッタリング能力を評価した。図11は
その結果を示したもので、多結晶シリコン半導体層22
の窒素濃度が増加するに従って表面の重金属析出物量が
減少している。特に多結晶シリコン半導体層22の窒素
濃度が4atomic%以上の場合、ゲッタリング能力
が高く効果的であった。さらに、この第2の実施形態の
シリコン半導体基板では、第1の実施形態のシリコン半
導体基板に比べて酸耐性、高温熱処理耐性が高いという
利点も得られる。
晶シリコン半導体層22を形成したシリコン半導体基板
21に重金属(Cu)を拡散し、多結晶シリコン半導体
層22が形成されていない方の基板表面の重金属析出物
量から重金属のゲッタリング能力を評価した。図11は
その結果を示したもので、多結晶シリコン半導体層22
の窒素濃度が増加するに従って表面の重金属析出物量が
減少している。特に多結晶シリコン半導体層22の窒素
濃度が4atomic%以上の場合、ゲッタリング能力
が高く効果的であった。さらに、この第2の実施形態の
シリコン半導体基板では、第1の実施形態のシリコン半
導体基板に比べて酸耐性、高温熱処理耐性が高いという
利点も得られる。
【0020】また、第1の実施形態と同様に、窒素添加
の多結晶シリコン半導体層は非結晶シリコン半導体層を
熱処理により多結晶化しても形成できる。この場合、ま
ず1000sccmのシラン(SiH4 )および10s
ccm以上のアンニア(NH3 )を用い580℃で通常
の減圧化学気相成長法(LPCVD法)によって厚さ1
μmの非結晶シリコン半導体層を形成する。その後、シ
リコン半導体基板を800から1100℃の間の温度で
1時間以上熱処理し、非結晶シリコン半導体層を多結晶
シリコン半導体層として形成する。
の多結晶シリコン半導体層は非結晶シリコン半導体層を
熱処理により多結晶化しても形成できる。この場合、ま
ず1000sccmのシラン(SiH4 )および10s
ccm以上のアンニア(NH3 )を用い580℃で通常
の減圧化学気相成長法(LPCVD法)によって厚さ1
μmの非結晶シリコン半導体層を形成する。その後、シ
リコン半導体基板を800から1100℃の間の温度で
1時間以上熱処理し、非結晶シリコン半導体層を多結晶
シリコン半導体層として形成する。
【0021】この多結晶化の熱処理は同様の温度,時間
のデバイス形成プロセスの初期熱処理でも代用できる。
したがって、シリコン半導体基板の裏面に非結晶シリコ
ン半導体層を形成しておけば、プロセスによって多結晶
化されることで、本発明が適用されることになる。
のデバイス形成プロセスの初期熱処理でも代用できる。
したがって、シリコン半導体基板の裏面に非結晶シリコ
ン半導体層を形成しておけば、プロセスによって多結晶
化されることで、本発明が適用されることになる。
【0022】さらに、詳細な説明は省略するが、本発明
者の実験によれば、多結晶シリコン半導体層に2ato
mic%以上の窒素および1atomic%以上の酸素
の両方が添加されていても、第1および第2の実施形態
と同様の効果が得られることが確認された。この場合で
も、プロセス前のシリコン半導体基板としては、その裏
面の半導体層として、多結晶シリコン半導体層の代わり
に非結晶シリコン半導体層が形成されていてもよい。
者の実験によれば、多結晶シリコン半導体層に2ato
mic%以上の窒素および1atomic%以上の酸素
の両方が添加されていても、第1および第2の実施形態
と同様の効果が得られることが確認された。この場合で
も、プロセス前のシリコン半導体基板としては、その裏
面の半導体層として、多結晶シリコン半導体層の代わり
に非結晶シリコン半導体層が形成されていてもよい。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、シリコ
ン半導体基板の裏面に酸素または窒素あるいは酸素と窒
素が含まれている多結晶シリコン半導体層を形成するこ
とにより、ゲッタリング能力が高く、かつ熱処理を経て
もこのゲッタリング能力が弱くなりにくいシリコン半導
体基板を得ることができる。
ン半導体基板の裏面に酸素または窒素あるいは酸素と窒
素が含まれている多結晶シリコン半導体層を形成するこ
とにより、ゲッタリング能力が高く、かつ熱処理を経て
もこのゲッタリング能力が弱くなりにくいシリコン半導
体基板を得ることができる。
【図1】本発明の第1の実施形態のシリコン半導体基板
の断面図である。
の断面図である。
【図2】図1のシリコン半導体基板の多結晶シリコン半
導体層中の酸素濃度の亜酸化窒素流量依存性を示す図で
ある。
導体層中の酸素濃度の亜酸化窒素流量依存性を示す図で
ある。
【図3】図1のシリコン半導体基板の多結晶シリコン半
導体層中の平均結晶粒径の亜酸化窒素流量依存性を示す
図である。
導体層中の平均結晶粒径の亜酸化窒素流量依存性を示す
図である。
【図4】図1のシリコン半導体基板の多結晶シリコン半
導体層中の平均結晶粒径の熱処理時間依存性を示す図で
ある。
導体層中の平均結晶粒径の熱処理時間依存性を示す図で
ある。
【図5】図1のシリコン半導体基板の重金属析出物密度
の多結晶シリコン半導体層中の酸素濃度依存性を示す図
である。
の多結晶シリコン半導体層中の酸素濃度依存性を示す図
である。
【図6】多結晶シリコン半導体層を非結晶シリコン半導
体層を利用して製造する方法を断面図である。
体層を利用して製造する方法を断面図である。
【図7】本発明の第2の実施形態のシリコン半導体基板
の断面図である。
の断面図である。
【図8】図7のシリコン半導体基板の多結晶シリコン半
導体層中の酸素濃度のアンモニア流量依存性を示す図で
ある。
導体層中の酸素濃度のアンモニア流量依存性を示す図で
ある。
【図9】図7のシリコン半導体基板の多結晶シリコン半
導体層中の平均結晶粒径のアンモニア流量依存性を示す
図である。
導体層中の平均結晶粒径のアンモニア流量依存性を示す
図である。
【図10】図7のシリコン半導体基板の多結晶シリコン
半導体層中の平均結晶粒径の熱処理時間依存性を示す図
である。
半導体層中の平均結晶粒径の熱処理時間依存性を示す図
である。
【図11】図7のシリコン半導体基板の多結晶シリコン
半導体層中の窒素濃度依存性を示す図である。
半導体層中の窒素濃度依存性を示す図である。
1 シリコン半導体基板 2 酸素添加多結晶シリコン半導体層 11 シリコン半導体基板 12 酸素添加非結晶シリコン半導体層 13 酸素添加多結晶シリコン半導体層 21 シリコン半導体基板 22 窒素添加多結晶シリコン半導体層
Claims (5)
- 【請求項1】 シリコン半導体基板の一方の表面に2a
tomic%以上20atomic%以下の酸素を含ん
だ多結晶または非結晶のシリコン半導体層が形成されて
いることを特徴とするシリコン半導体基板。 - 【請求項2】 シリコン半導体基板の一方の表面に4a
tomic%以上20atomic%以下の窒素を含ん
だ多結晶または非結晶のシリコン半導体層が形成されて
いることを特徴とするシリコン半導体基板。 - 【請求項3】 シリコン半導体基板の一方の表面に2a
tomic%以上の窒素と1atomic%以上の酸素
を含んだ多結晶または非結晶のシリコン半導体層が形成
されていることを特徴とするシリコン半導体基板。 - 【請求項4】 シリコン半導体基板の一方の表面に、2
atomic%以上20atomic%以下の酸素を含
んだ多結晶のシリコン半導体層、または4atomic
%以上20atomic%以下の窒素を含んだ多結晶の
シリコン半導体層、或いは2aotmic%以上の窒素
と1atomic%以上の酸素を含んだ多結晶のシリコ
ン半導体層を形成する工程を含むことを特徴とするシリ
コン半導体基板の製造方法。 - 【請求項5】 シリコン半導体基板の一方の表面に、2
atomic%以上20atomic%以下の酸素を含
んだ非結晶のシリコン半導体層、または4atomic
%以上20atomic%以下の窒素を含んだ非結晶の
シリコン半導体層、或いは2aotmic%以上の窒素
と1atomic%以上の酸素を含んだ非結晶のシリコ
ン半導体層を形成する工程と、前記シリコン半導体基板
を800℃から1100℃の間の温度で1時間以上熱処
理して前記非結晶シリコン半導体層を多結晶シリコン半
導体層に変質する工程とを含むことを特徴とするシリコ
ン半導体基板の製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30479095A JP2874618B2 (ja) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | シリコン半導体基板及びその製造方法 |
KR1019960054005A KR100217163B1 (ko) | 1995-11-22 | 1996-11-14 | 실리콘 반도체 기판과 그의 제조 방법 |
US08/749,649 US5894037A (en) | 1995-11-22 | 1996-11-15 | Silicon semiconductor substrate and method of fabricating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30479095A JP2874618B2 (ja) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | シリコン半導体基板及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09148336A true JPH09148336A (ja) | 1997-06-06 |
JP2874618B2 JP2874618B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=17937274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30479095A Expired - Fee Related JP2874618B2 (ja) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | シリコン半導体基板及びその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5894037A (ja) |
JP (1) | JP2874618B2 (ja) |
KR (1) | KR100217163B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005311126A (ja) * | 2004-04-22 | 2005-11-04 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | p型シリコン単結晶ウェーハ及びその製造方法 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU5474299A (en) * | 1998-08-10 | 2000-03-06 | Memc Electronic Materials, Inc. | Process for preparation of silicon on insulator substrates with improved resistance to formation of metal precipitates |
US6100150A (en) * | 1998-09-04 | 2000-08-08 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Process to improve temperature uniformity during RTA by deposition of in situ poly on the wafer backside |
KR100580776B1 (ko) * | 1999-11-04 | 2006-05-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 게터링 방법 |
JP4885426B2 (ja) * | 2004-03-12 | 2012-02-29 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置、半導体装置及びその製造方法 |
JP2006073580A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Sumco Corp | シリコンエピタキシャルウェーハ及びその製造方法 |
JP5311791B2 (ja) * | 2007-10-12 | 2013-10-09 | 東京エレクトロン株式会社 | ポリシリコン膜の形成方法 |
KR101012102B1 (ko) * | 2008-05-02 | 2011-02-07 | 주식회사 유진테크 | 극미세 결정립 폴리 실리콘 박막 증착 방법 |
KR101094554B1 (ko) * | 2009-06-08 | 2011-12-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 메모리 소자의 제조방법 |
US20120074485A1 (en) * | 2009-12-30 | 2012-03-29 | Hynix Semiconductor Inc. | Nonvolatile Memory Device and Manufacturing Method Thereof |
US8541305B2 (en) * | 2010-05-24 | 2013-09-24 | Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences | 3D integrated circuit and method of manufacturing the same |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59186331A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-23 | モンサント・コンパニ− | 半導体基質及び製法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4666532A (en) * | 1984-05-04 | 1987-05-19 | Monsanto Company | Denuding silicon substrates with oxygen and halogen |
JPS6124240A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-01 | Toshiba Corp | 半導体基板 |
US4859552A (en) * | 1987-02-18 | 1989-08-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrophotographic photoreceptor with superlattice structure |
JPH0247836A (ja) * | 1988-08-10 | 1990-02-16 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH03238825A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体基板 |
KR0176155B1 (ko) * | 1995-06-22 | 1999-04-15 | 김광호 | 반도체 장치의 소자분리 방법 |
-
1995
- 1995-11-22 JP JP30479095A patent/JP2874618B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-11-14 KR KR1019960054005A patent/KR100217163B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-11-15 US US08/749,649 patent/US5894037A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59186331A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-23 | モンサント・コンパニ− | 半導体基質及び製法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005311126A (ja) * | 2004-04-22 | 2005-11-04 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | p型シリコン単結晶ウェーハ及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970030490A (ko) | 1997-06-26 |
US5894037A (en) | 1999-04-13 |
KR100217163B1 (ko) | 1999-09-01 |
JP2874618B2 (ja) | 1999-03-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7528424B2 (en) | Integrated circuitry | |
JPS63133650A (ja) | 多結晶シリコン層上にシリサイドの接着層を形成する方法 | |
JPH09148336A (ja) | シリコン半導体基板及びその製造方法 | |
JPH09232264A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3874815B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JPS639745B2 (ja) | ||
JP2001044206A (ja) | シリコンウェーハの熱処理方法 | |
JPH09199379A (ja) | 高品位エピタキシャルウエハ及びその製造方法 | |
JP3243915B2 (ja) | Cvd酸化膜の界面酸化方法 | |
JP3261444B2 (ja) | 半導体薄膜の製造方法 | |
KR100343452B1 (ko) | 반도체 장치의 유전막 제조방법 | |
JP2776109B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS5994809A (ja) | 半導体素子の製造方法 | |
JPH0653209A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3236861B2 (ja) | 半導体薄膜の製造方法 | |
JPH10178020A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH07263342A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2830720B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3234054B2 (ja) | 半導体デバイス用シリコンウェーハおよびその製造方法 | |
JP2000306915A (ja) | シリコンウエハの製造方法 | |
JPH07221112A (ja) | 半導体ウエーハの製造方法 | |
JPH0590193A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH08264791A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH0766191A (ja) | 酸化シリコン薄膜の形成方法 | |
JPS62128531A (ja) | シリコン基板およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |