JPH09113916A - 架橋微粒子の製造方法、液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置 - Google Patents
架橋微粒子の製造方法、液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置Info
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- JPH09113916A JPH09113916A JP27270795A JP27270795A JPH09113916A JP H09113916 A JPH09113916 A JP H09113916A JP 27270795 A JP27270795 A JP 27270795A JP 27270795 A JP27270795 A JP 27270795A JP H09113916 A JPH09113916 A JP H09113916A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】高強度を有するため、圧力によって破壊もしく
は変形し難く、かつ粒径の揃った均一な架橋微粒子の製
造法、その架橋微粒子を使用した液晶表示用スペーサー
及び液晶表示装置を提供する。 【解決手段】重合性単量体をアゾ系ラジカル重合開始剤
の存在下、水系媒体中で重合することにより製造する際
に、架橋性単量体を５０重量％以上含有する重合性単量
体１００重量部に対して２〜３０重量部のアゾ系ラジカ
ル重合開始剤を使用することを特徴とするものである。
は変形し難く、かつ粒径の揃った均一な架橋微粒子の製
造法、その架橋微粒子を使用した液晶表示用スペーサー
及び液晶表示装置を提供する。 【解決手段】重合性単量体をアゾ系ラジカル重合開始剤
の存在下、水系媒体中で重合することにより製造する際
に、架橋性単量体を５０重量％以上含有する重合性単量
体１００重量部に対して２〜３０重量部のアゾ系ラジカ
ル重合開始剤を使用することを特徴とするものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、高弾性を有する架
橋微粒子の製造方法、その架橋微粒子からなる液晶表示
用スペーサー及びその液晶用スペーサーを使用した液晶
表示装置に関するものである。
橋微粒子の製造方法、その架橋微粒子からなる液晶表示
用スペーサー及びその液晶用スペーサーを使用した液晶
表示装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶セルのスペーサーとして用いられる
微粒子としては、粒子径１〜１０μｍ程度で粒径分布が
均一な単分散微粒子が要求されている。このような微粒
子を得る方法としては、懸濁重合で得られる微粒子を分
級によって均一な分布とする方法が古くから知られてお
り、現在でも多くのところで利用されている。
微粒子としては、粒子径１〜１０μｍ程度で粒径分布が
均一な単分散微粒子が要求されている。このような微粒
子を得る方法としては、懸濁重合で得られる微粒子を分
級によって均一な分布とする方法が古くから知られてお
り、現在でも多くのところで利用されている。
【０００３】また、分級を行わない方法として、例え
ば、特公平５−６４９６４号公報には、シード重合法が
開示されている。しかしながら、シード重合によって合
成される微粒子は一般に機械的強度が低く、スペーサー
として用いると押圧時の圧力によって破壊もしくは変形
し、適正なセルギャップが得られ難いという問題点があ
った。
ば、特公平５−６４９６４号公報には、シード重合法が
開示されている。しかしながら、シード重合によって合
成される微粒子は一般に機械的強度が低く、スペーサー
として用いると押圧時の圧力によって破壊もしくは変形
し、適正なセルギャップが得られ難いという問題点があ
った。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の欠点
に鑑みてなされ、その目的は、高強度を有するため、圧
力によって破壊もしくは変形し難く、かつ粒径の揃った
均一な架橋微粒子の製造法、その架橋微粒子を使用した
液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置を提供すること
にある。
に鑑みてなされ、その目的は、高強度を有するため、圧
力によって破壊もしくは変形し難く、かつ粒径の揃った
均一な架橋微粒子の製造法、その架橋微粒子を使用した
液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置を提供すること
にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の架橋微粒子の製
造方法は、重合性単量体をアゾ系ラジカル重合開始剤の
存在下、水系媒体中で重合することにより製造する際
に、架橋性単量体を５０重量％以上含有する重合性単量
体１００重量部に対して２〜３０重量部のアゾ系ラジカ
ル重合開始剤を使用することを特徴とするものである。
造方法は、重合性単量体をアゾ系ラジカル重合開始剤の
存在下、水系媒体中で重合することにより製造する際
に、架橋性単量体を５０重量％以上含有する重合性単量
体１００重量部に対して２〜３０重量部のアゾ系ラジカ
ル重合開始剤を使用することを特徴とするものである。
【０００６】本発明の製造方法で用いられる重合性単量
体としては、ラジカル重合可能な不飽和二重結合をもつ
ものであれば、特に制限はなく、例えば、スチレン、α
ーメチルスチレン、ｐ−メチルスチレン、ｍ−メチルス
チレン、ｐ−エチルスチレン、ｍ−エチルスチレン、ｐ
−クロロスチレン、ｍ−クロロスチレン、ｐ−クロロメ
チルスチレン、ｍ−クロロメチルスチレン、スチレンス
ルホン酸等のスチレン系単量体；（メタ）アクリル酸メ
チル、（メタ）アクリル酸エチル、（メタ）アクリル酸
ブチル、（メタ）アクリル酸２ーエチルヘキシル、（メ
タ）アクリル酸ステアリル、（メタ）アクリル酸トリフ
ルオロエチル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシエチル、
（メタ）アクリル酸グリシジル、ポリエチレングリコー
ルモノ（メタ）アクリレート等の（メタ）アクリル酸エ
ステル類；（メタ）アクリル酸、マレイン酸等の不飽和
カルボン酸類；メチルビニルエーテル、エチルビニルエ
ーテル等のビニルエーテル類；酢酸ビニル、プロピオン
酸ビニル等のビニルエステル類；Ｎ−メチル（メタ）ア
クリルアミド等のＮ−アルキル置換（メタ）アクリルア
ミド類；アクリロニトリル等の不飽和ニトリル類などが
挙げられ、これらは単独で用いられても２種以上が併用
されてもよい。
体としては、ラジカル重合可能な不飽和二重結合をもつ
ものであれば、特に制限はなく、例えば、スチレン、α
ーメチルスチレン、ｐ−メチルスチレン、ｍ−メチルス
チレン、ｐ−エチルスチレン、ｍ−エチルスチレン、ｐ
−クロロスチレン、ｍ−クロロスチレン、ｐ−クロロメ
チルスチレン、ｍ−クロロメチルスチレン、スチレンス
ルホン酸等のスチレン系単量体；（メタ）アクリル酸メ
チル、（メタ）アクリル酸エチル、（メタ）アクリル酸
ブチル、（メタ）アクリル酸２ーエチルヘキシル、（メ
タ）アクリル酸ステアリル、（メタ）アクリル酸トリフ
ルオロエチル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシエチル、
（メタ）アクリル酸グリシジル、ポリエチレングリコー
ルモノ（メタ）アクリレート等の（メタ）アクリル酸エ
ステル類；（メタ）アクリル酸、マレイン酸等の不飽和
カルボン酸類；メチルビニルエーテル、エチルビニルエ
ーテル等のビニルエーテル類；酢酸ビニル、プロピオン
酸ビニル等のビニルエステル類；Ｎ−メチル（メタ）ア
クリルアミド等のＮ−アルキル置換（メタ）アクリルア
ミド類；アクリロニトリル等の不飽和ニトリル類などが
挙げられ、これらは単独で用いられても２種以上が併用
されてもよい。
【０００７】本発明の製造方法で使用される架橋性単量
体としては、ラジカル重合可能な不飽和二重結合を二つ
以上もつものであれば、特に制限はなく、例えば、ジビ
ニルベンゼン、１，４−ジビニロキシブタン、ジビニル
スルホン等のビニル化合物；ブタジエン、イソプレン等
の共役ジエン類；ジアリルフタレート、ジアリルアクリ
ルアミド、トリアリル（イソ）シアヌレート、トリアリ
ルトリメリテート等のアリル化合物；（ポリ）エチレン
グリコールジ（メタ）アクリレート、（ポリ）プロピレ
ングリコールジ（メタ）アクリレート、トリメチロール
プロパンジアクリレート、トリメチロールプロパントリ
メタクリレート、テトラメチロールプロパンテトラ（メ
タ）アクリレート等が挙げられる。
体としては、ラジカル重合可能な不飽和二重結合を二つ
以上もつものであれば、特に制限はなく、例えば、ジビ
ニルベンゼン、１，４−ジビニロキシブタン、ジビニル
スルホン等のビニル化合物；ブタジエン、イソプレン等
の共役ジエン類；ジアリルフタレート、ジアリルアクリ
ルアミド、トリアリル（イソ）シアヌレート、トリアリ
ルトリメリテート等のアリル化合物；（ポリ）エチレン
グリコールジ（メタ）アクリレート、（ポリ）プロピレ
ングリコールジ（メタ）アクリレート、トリメチロール
プロパンジアクリレート、トリメチロールプロパントリ
メタクリレート、テトラメチロールプロパンテトラ（メ
タ）アクリレート等が挙げられる。
【０００８】上記架橋性単量体の使用量は、少なくなる
とスペーサーとしての十分な圧縮強度が得られなくなる
ので、単量体総量（重合性単量体＋架橋性単量体）中の
５０重量％以上である。
とスペーサーとしての十分な圧縮強度が得られなくなる
ので、単量体総量（重合性単量体＋架橋性単量体）中の
５０重量％以上である。
【０００９】本発明の製造方法で用いられる重合開始剤
としては、例えば、アゾビスイソブチロニトリル、アゾ
ビスシクロヘキサカルボニトリル、２，２'-アゾビス
（２，４ージメチルバレロニトリル）、２，２'-アゾビ
ス（２−シクロプロピルプロピオニトリル）、２，２'-
アゾビス（２−メチルブチロニトリル）等のアゾ系化合
物が挙げられ、これらは単独で用いられてもよく、２種
以上が併用されてもよい。
としては、例えば、アゾビスイソブチロニトリル、アゾ
ビスシクロヘキサカルボニトリル、２，２'-アゾビス
（２，４ージメチルバレロニトリル）、２，２'-アゾビ
ス（２−シクロプロピルプロピオニトリル）、２，２'-
アゾビス（２−メチルブチロニトリル）等のアゾ系化合
物が挙げられ、これらは単独で用いられてもよく、２種
以上が併用されてもよい。
【００１０】上記重合開始剤の添加量は、少なくなると
機械的強度が向上せず、余り多くなっても機械的強度の
向上が頭打ちとなるので、上記単量体総量１００重量部
に対して２〜３０重量部に制限され、好ましくは５〜２
０重量部である。
機械的強度が向上せず、余り多くなっても機械的強度の
向上が頭打ちとなるので、上記単量体総量１００重量部
に対して２〜３０重量部に制限され、好ましくは５〜２
０重量部である。
【００１１】上記重合開始剤としては、有機過酸化物で
も同様な効果が期待できるが、一般に有機過酸化物は安
定性が悪く、重合系に多量に添加する場合は危険を伴
う。また、重合時に発生する安息香酸等の化合物が、液
晶に悪影響を及ぼすことも考えられる。
も同様な効果が期待できるが、一般に有機過酸化物は安
定性が悪く、重合系に多量に添加する場合は危険を伴
う。また、重合時に発生する安息香酸等の化合物が、液
晶に悪影響を及ぼすことも考えられる。
【００１２】上記架橋微粒子は、懸濁重合やシード重合
によって重合することができる。重合温度は、重合性単
量体、架橋性単量体、重合開始剤の種類に応じて適宜決
定されるが、通常、２５〜１００℃が好ましく、より好
ましくは５０〜９０℃である。
によって重合することができる。重合温度は、重合性単
量体、架橋性単量体、重合開始剤の種類に応じて適宜決
定されるが、通常、２５〜１００℃が好ましく、より好
ましくは５０〜９０℃である。
【００１３】重合後の架橋微粒子は、遠心分離して水分
を除き、水及び有機溶剤で洗浄した後乾燥して単離する
ことができる。また、この洗浄工程によって重合時に使
われた界面保護剤を除去することができる。
を除き、水及び有機溶剤で洗浄した後乾燥して単離する
ことができる。また、この洗浄工程によって重合時に使
われた界面保護剤を除去することができる。
【００１４】上記重合によって得られた架橋微粒子の粒
径分布が広い場合には、分級によって粒径分布の狭いも
のを選定することができる。架橋微粒子は、重合条件に
より種々の設計が可能であるが、粒径としては特に１〜
３０μｍ、Ｃｖ値〔（標準偏差／平均粒径）×１００〕
が５以下のものが液晶表示用スペーサーとして好適であ
る。
径分布が広い場合には、分級によって粒径分布の狭いも
のを選定することができる。架橋微粒子は、重合条件に
より種々の設計が可能であるが、粒径としては特に１〜
３０μｍ、Ｃｖ値〔（標準偏差／平均粒径）×１００〕
が５以下のものが液晶表示用スペーサーとして好適であ
る。
【００１５】上記架橋微粒子としては、１０％Ｋ値とし
ては、２０℃で３５０〜６００ｋｇ／ｍｍ2の範囲が好
ましく、圧縮変形後の回復率としては、２０℃で４０〜
８０％が好ましい。１０％Ｋ値及び圧縮変形後の回復率
が、上記範囲より小さくなると、液晶表示用セルのギャ
ップの再現性や信頼性の低下を招き、さらに押圧により
スペーサーが破壊することがある。また、１０％Ｋ値
が、上記範囲より大きくなると、変形性に乏しくなり粒
径分布がセルギャップむらに反映されるので好ましくな
い。
ては、２０℃で３５０〜６００ｋｇ／ｍｍ2の範囲が好
ましく、圧縮変形後の回復率としては、２０℃で４０〜
８０％が好ましい。１０％Ｋ値及び圧縮変形後の回復率
が、上記範囲より小さくなると、液晶表示用セルのギャ
ップの再現性や信頼性の低下を招き、さらに押圧により
スペーサーが破壊することがある。また、１０％Ｋ値
が、上記範囲より大きくなると、変形性に乏しくなり粒
径分布がセルギャップむらに反映されるので好ましくな
い。
【００１６】重合した架橋微粒子の力学特性を評価する
Ｋ値及び圧縮後の回復率は、以下の方法で測定される。 （１）Ｋ値 測定方法：特表平６ー５０３１８０公報記載の方法に準
拠して測定される。 微小圧縮試験機（ＰＣＴー２００型 島津製作所）を用
いて、ダイヤモンド製の直径５０μの円柱の平滑な端面
で微粒子を圧縮（圧縮速度０．２７ｇ／秒、試験荷重
最大１０ｇ）し、下記の式よりＫ値を求めた。 Ｋ＝（３／２）・Ｆ・Ｓ-3/2・Ｒ-1/2 〔Ｆ、Ｓ、Ｒは、微粒子の１０％圧縮変形における荷重
値（ｋｇ）、圧縮変位（ｍｍ）、微粒子の半径を、それ
ぞれ示す〕
Ｋ値及び圧縮後の回復率は、以下の方法で測定される。 （１）Ｋ値 測定方法：特表平６ー５０３１８０公報記載の方法に準
拠して測定される。 微小圧縮試験機（ＰＣＴー２００型 島津製作所）を用
いて、ダイヤモンド製の直径５０μの円柱の平滑な端面
で微粒子を圧縮（圧縮速度０．２７ｇ／秒、試験荷重
最大１０ｇ）し、下記の式よりＫ値を求めた。 Ｋ＝（３／２）・Ｆ・Ｓ-3/2・Ｒ-1/2 〔Ｆ、Ｓ、Ｒは、微粒子の１０％圧縮変形における荷重
値（ｋｇ）、圧縮変位（ｍｍ）、微粒子の半径を、それ
ぞれ示す〕
【００１７】（２）圧縮変形後の回復率 測定方法：特表平６ー５０３１８０公報記載の方法に準
拠して測定される。 （１）と同様な微小圧縮試験機を用いて０．２７ｇｆ／
秒の速度で１ｇまで圧縮し、逆に荷重を０．１ｇまで荷
重を減らして行く。回復率は反転の点までの変位Ｌ1 と
反転の点から原点荷重値を取る点までの変位Ｌ2 の比
（Ｌ2 ／Ｌ1 ）を％で表した値で定義する。
拠して測定される。 （１）と同様な微小圧縮試験機を用いて０．２７ｇｆ／
秒の速度で１ｇまで圧縮し、逆に荷重を０．１ｇまで荷
重を減らして行く。回復率は反転の点までの変位Ｌ1 と
反転の点から原点荷重値を取る点までの変位Ｌ2 の比
（Ｌ2 ／Ｌ1 ）を％で表した値で定義する。
【００１８】本発明の液晶表示装置は、配向膜及び透明
電極が配置された２枚のガラス基板が、上記架橋微粒子
を液晶表示用スペーサーを介して対向させ、該ガラス基
板間に液晶を封入することにより得られる。
電極が配置された２枚のガラス基板が、上記架橋微粒子
を液晶表示用スペーサーを介して対向させ、該ガラス基
板間に液晶を封入することにより得られる。
【００１９】上記液晶表示装置としては、例えば、図１
に示したものが挙げられる。
に示したものが挙げられる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について詳
細に説明する。 （実施例１）ポリビニルアルコール（以下ＰＶＡとい
う）の３重量％水溶液８００重量部に、ジビニルベンセ
ン１００重量部及び重合開始剤２，２'-アゾビス（２，
４ージメチルバレロニトリル）〔和光純薬社製「Ｖ−６
５」〕５重量部の混合液を加えて微分散させ、攪拌しな
がら窒素気流下８０℃で１５時間反応を行った。得られ
た微粒子を、イオン交換水及びメタノールにて洗浄後、
分級操作を行い架橋微粒子を得た。架橋微粒子は、の平
均粒径６．０μｍ、Ｃｖ値５、１０％Ｋ値４３０、回復
率６２％であった。
細に説明する。 （実施例１）ポリビニルアルコール（以下ＰＶＡとい
う）の３重量％水溶液８００重量部に、ジビニルベンセ
ン１００重量部及び重合開始剤２，２'-アゾビス（２，
４ージメチルバレロニトリル）〔和光純薬社製「Ｖ−６
５」〕５重量部の混合液を加えて微分散させ、攪拌しな
がら窒素気流下８０℃で１５時間反応を行った。得られ
た微粒子を、イオン交換水及びメタノールにて洗浄後、
分級操作を行い架橋微粒子を得た。架橋微粒子は、の平
均粒径６．０μｍ、Ｃｖ値５、１０％Ｋ値４３０、回復
率６２％であった。
【００２１】〔液晶表示装置の評価〕上記架橋微粒子を
スペーサーとして用いて基板サイズ５０（ｍｍ）×５０
（ｍｍ）、セルギャップ６．０μｍのＳＴＮ型液晶表示
装置を作製した後、液晶表示装置にＡＣ３Ｖの電圧を印
加し初期状態のセル表示特性を評価したところ、セルギ
ャップの再現性のよい良好なものであった。
スペーサーとして用いて基板サイズ５０（ｍｍ）×５０
（ｍｍ）、セルギャップ６．０μｍのＳＴＮ型液晶表示
装置を作製した後、液晶表示装置にＡＣ３Ｖの電圧を印
加し初期状態のセル表示特性を評価したところ、セルギ
ャップの再現性のよい良好なものであった。
【００２２】（実施例２） 〔シード粒子（Ａ）の製造〕ポリビニルピロリドン（重
量平均分子量３万）１．２重量部、エアゾールＯＴ（和
光純薬社製アニオン界面活性剤）０．５７重量部及びア
ゾビスイソブチロニトリル１．４３重量部をエタノール
８３．８重量部に溶解させ溶液を撹拌しながら窒素気流
下でスチレン１０重量部を投入し、７０℃に昇温させ２
４時間重合反応を行い、シード粒子を得た。このシード
粒子は、平均粒径２．１μｍ、Ｃｖ値３．０であった。
量平均分子量３万）１．２重量部、エアゾールＯＴ（和
光純薬社製アニオン界面活性剤）０．５７重量部及びア
ゾビスイソブチロニトリル１．４３重量部をエタノール
８３．８重量部に溶解させ溶液を撹拌しながら窒素気流
下でスチレン１０重量部を投入し、７０℃に昇温させ２
４時間重合反応を行い、シード粒子を得た。このシード
粒子は、平均粒径２．１μｍ、Ｃｖ値３．０であった。
【００２３】〔架橋微粒子の重合〕上記シード粒子１重
量部にイオン交換水１００重量部とラウリル硫酸ナトリ
ウム０．１重量部を加え均一に分散させた。ジビニルベ
ンセン２０重量部及び重合開始剤２，２'-アゾビス
（２，４ージメチルバレロニトリル）〔和光純薬社製
「Ｖ−６５」〕１重量部を混合して、ホモジナイザーで
微分散乳化した。得られた乳化液をシード粒子分散液に
加え、２５℃、２００ｒｐｍの回転数で３時間攪拌し
て、シード粒子に吸収させた。この分散液に、ＰＶＡの
５重量％水溶液１００重量部を加えた後、２００ｒｐｍ
の回転数で攪拌しながら窒素気流下７０℃で１２時間重
合を行った。得られた分散液から遠心分離によりポリマ
ー粒子を取り出し、８０℃以上に加熱したイオン交換水
及びメタノールで分散剤を完全に洗浄した後、乾燥して
架橋微粒子を得た。この架橋微粒子は、平均粒径５．７
μｍ、Ｃｖ値３．０、１０％Ｋ値４２０、回復率５５％
であった。
量部にイオン交換水１００重量部とラウリル硫酸ナトリ
ウム０．１重量部を加え均一に分散させた。ジビニルベ
ンセン２０重量部及び重合開始剤２，２'-アゾビス
（２，４ージメチルバレロニトリル）〔和光純薬社製
「Ｖ−６５」〕１重量部を混合して、ホモジナイザーで
微分散乳化した。得られた乳化液をシード粒子分散液に
加え、２５℃、２００ｒｐｍの回転数で３時間攪拌し
て、シード粒子に吸収させた。この分散液に、ＰＶＡの
５重量％水溶液１００重量部を加えた後、２００ｒｐｍ
の回転数で攪拌しながら窒素気流下７０℃で１２時間重
合を行った。得られた分散液から遠心分離によりポリマ
ー粒子を取り出し、８０℃以上に加熱したイオン交換水
及びメタノールで分散剤を完全に洗浄した後、乾燥して
架橋微粒子を得た。この架橋微粒子は、平均粒径５．７
μｍ、Ｃｖ値３．０、１０％Ｋ値４２０、回復率５５％
であった。
【００２４】上記架橋微粒子をスペーサーとして用い
て、実施例１と同様な評価を行ったところ、セルギャッ
プの再現性のよい良好なものであった。
て、実施例１と同様な評価を行ったところ、セルギャッ
プの再現性のよい良好なものであった。
【００２５】（実施例３）重合開始剤として、和光純薬
社製「Ｖ−６５」に代えて、２，２'-アゾビス（２−メ
チルプロピオニトリル）〔和光純薬社製「Ｖ−６０」〕
３重量部使用したこと以外は、実施例２と同様にして、
架橋微粒子を得た。この架橋微粒子は、平均粒径５．７
μｍ、Ｃｖ値３．０、１０％Ｋ値４３０、回復率５８％
であった。上記架橋微粒子をスペーサーとして用いて、
実施例１と同様な評価を行ったところ、セルギャップの
再現性のよい良好なものであった。
社製「Ｖ−６５」に代えて、２，２'-アゾビス（２−メ
チルプロピオニトリル）〔和光純薬社製「Ｖ−６０」〕
３重量部使用したこと以外は、実施例２と同様にして、
架橋微粒子を得た。この架橋微粒子は、平均粒径５．７
μｍ、Ｃｖ値３．０、１０％Ｋ値４３０、回復率５８％
であった。上記架橋微粒子をスペーサーとして用いて、
実施例１と同様な評価を行ったところ、セルギャップの
再現性のよい良好なものであった。
【００２６】（比較例１）重合開始剤２，２'-アゾビス
（２，４ージメチルバレロニトリル）〔和光純薬社製
「Ｖ−６５」〕の添加量を０．２重量部に変えたこと以
外は、実施例２と同様にして、架橋微粒子を得た。この
架橋微粒子は、平均粒径５．７μｍ、Ｃｖ値３．０、１
０％Ｋ値３２０、回復率３６％であった。上記架橋微粒
子をスペーサーとして用いて、実施例１と同様な評価を
行ったところ、セルギャップの再現性が悪く、セル組立
て後の観察で破壊されたスペーサーが認められた。
（２，４ージメチルバレロニトリル）〔和光純薬社製
「Ｖ−６５」〕の添加量を０．２重量部に変えたこと以
外は、実施例２と同様にして、架橋微粒子を得た。この
架橋微粒子は、平均粒径５．７μｍ、Ｃｖ値３．０、１
０％Ｋ値３２０、回復率３６％であった。上記架橋微粒
子をスペーサーとして用いて、実施例１と同様な評価を
行ったところ、セルギャップの再現性が悪く、セル組立
て後の観察で破壊されたスペーサーが認められた。
【００２７】（比較例２）ジビニルベンゼン１００重量
部に代えて、スチレン８０重量部及びジビニルベンゼン
２０重量部使用したこと以外は、実施例１と同様にし
て、架橋微粒子を得た。この架橋微粒子は、平均粒径
６．０μｍ、Ｃｖ値３．０、１０％Ｋ値２００、回復率
１０％であった。上記架橋微粒子をスペーサーとして用
いて、実施例１と同様な評価を行ったところ、セルギャ
ップの再現性が悪く、セル組立て後の観察で破壊された
スペーサーが認められた。
部に代えて、スチレン８０重量部及びジビニルベンゼン
２０重量部使用したこと以外は、実施例１と同様にし
て、架橋微粒子を得た。この架橋微粒子は、平均粒径
６．０μｍ、Ｃｖ値３．０、１０％Ｋ値２００、回復率
１０％であった。上記架橋微粒子をスペーサーとして用
いて、実施例１と同様な評価を行ったところ、セルギャ
ップの再現性が悪く、セル組立て後の観察で破壊された
スペーサーが認められた。
【００２８】
【発明の効果】本発明の架橋微粒子製造方法は、上述の
構成であり、高強度を有し圧力によって破壊もしくは変
形し難く、かつ粒径の揃った均一な架橋微粒子を提供す
るので、この架橋微粒子を液晶表示用スペーサーとして
使用した液晶表示装置は、優れた性能を有する。
構成であり、高強度を有し圧力によって破壊もしくは変
形し難く、かつ粒径の揃った均一な架橋微粒子を提供す
るので、この架橋微粒子を液晶表示用スペーサーとして
使用した液晶表示装置は、優れた性能を有する。
【図１】従来の液晶表示装置を示す模式断面図である。
１ シール部材 ２ 透明基板 ３ 透明電極 ４ 配向制御膜 ５ 透明基板 ６ 透明電極 ７ 配向制御膜 ８ 基板 ９ スペーサー １０ 基板 １１ ネマティック液晶
Claims (3)
- 【請求項１】重合性単量体をアゾ系ラジカル重合開始剤
の存在下、水系媒体中で重合することにより製造する際
に、架橋性単量体を５０重量％以上含有する重合性単量
体１００重量部に対して２〜３０重量部のアゾ系ラジカ
ル重合開始剤を使用することを特徴とする架橋微粒子の
製造方法。 - 【請求項２】請求項１記載の架橋微粒子の製造方法で得
られる架橋微粒子からなる液晶表示用スペーサー。 - 【請求項３】配向膜及び透明電極が配置された２枚のガ
ラス基板が、請求項２記載の液晶表示用スペーサーを介
して対向され、該ガラス基板間に液晶が封入されている
ことを特徴とする液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27270795A JPH09113916A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 架橋微粒子の製造方法、液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27270795A JPH09113916A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 架橋微粒子の製造方法、液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09113916A true JPH09113916A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17517672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27270795A Withdrawn JPH09113916A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 架橋微粒子の製造方法、液晶表示用スペーサー及び液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09113916A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013047643A1 (ja) | 2011-09-27 | 2013-04-04 | 積水化成品工業株式会社 | 樹脂組成物層用スペーサー粒子およびその用途 |
-
1995
- 1995-10-20 JP JP27270795A patent/JPH09113916A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013047643A1 (ja) | 2011-09-27 | 2013-04-04 | 積水化成品工業株式会社 | 樹脂組成物層用スペーサー粒子およびその用途 |
| US9975970B2 (en) | 2011-09-27 | 2018-05-22 | Sekisui Plastics Co., Ltd. | Spacer particle for resin composition layer and use thereof |
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