JPH09107008A - 半導体素子の実装方法及びその装置 - Google Patents

半導体素子の実装方法及びその装置

Info

Publication number
JPH09107008A
JPH09107008A JP26375295A JP26375295A JPH09107008A JP H09107008 A JPH09107008 A JP H09107008A JP 26375295 A JP26375295 A JP 26375295A JP 26375295 A JP26375295 A JP 26375295A JP H09107008 A JPH09107008 A JP H09107008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parallelism
semiconductor element
tool
stage
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP26375295A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshimitsu Yamashita
俊光 山下
Susumu Ozawa
進 小澤
Akira Fujiwara
亮 藤原
Yoshiyo Hamano
佳代 浜野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP26375295A priority Critical patent/JPH09107008A/ja
Publication of JPH09107008A publication Critical patent/JPH09107008A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/758Means for moving parts
    • H01L2224/75821Upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head
    • H01L2224/75822Rotational mechanism
    • H01L2224/75823Pivoting mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/0781Adhesive characteristics other than chemical being an ohmic electrical conductor
    • H01L2924/07811Extrinsic, i.e. with electrical conductive fillers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/321Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体素子と回路基板との平行度の判定を、
迅速に、しかも確実になし得るようにする。 【解決手段】 ツール400により保持される半導体素
子100の周辺部に平行度検出用突起電極102R,1
03R,102L,103Lを設け、前記半導体素子1
00とステージ600上に配置される回路基板200と
を対向させ、この回路基板200には前記平行度検出用
突起電極と対応する検出用電極202R,203R,2
02L,203Lを設け、前記半導体素子100と回路
基板200間に異方性導電接着剤300を設け、前記半
導体素子100の前記ツール400による加圧時に前記
平行度検出用突起電極の接続抵抗を検出し、この検出結
果に基づいて、前記ツール400の平行度を検出し、こ
の検出結果に基づいて前記ツール400にフィードバッ
クし、前記ツール400の平行度を調節しながら加圧・
加熱する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、異方性導電接着剤
を用いて半導体素子を回路基板に実装する方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体素子等の実装方法として
は、MES’93 第5回マイクロエレクトロニクスシ
ンポジウム論文集p79−82に開示されるものがあ
り、この方式では、接着剤内に、例えばプラスチック粒
子に金等の金属めっきを施した導電性粒子なるものを分
散混入し、接着剤としては加熱することで硬化する熱硬
化系や紫外線の照射によって硬化する紫外線硬化系等が
用いられている。
【0003】図4は従来の異方性導電接着剤を用いた半
導体素子の回路基板への実装工程断面図である。まず、
図4(a)に示すように、例えば金からなる突起電極
(バンプ)11を有する半導体素子10を、ステージ4
0上の基板電極21が形成された回路基板20に実装す
るに当り、半導体素子10と回路基板20の間に、導電
粒子31を分散してなるフィルム状に形成された異方性
導電接着剤30を配置する。
【0004】次に、図4(b)に示すように、ステージ
40上に設置された回路基板20と、この回路基板20
に対向して設置される半導体素子10との間に、異方性
導電接着剤30を介在させ、半導体素子10の突起電極
11と回路基板20の電極21とを位置合わせする。位
置合わせ完了後、異方性導電接着剤30を挟んだ形で回
路基板20上にて半導体素子10を加圧、加熱し、異方
性導電接着剤30を硬化させる。
【0005】硬化が完了すると、半導体素子10の突起
電極11と回路基板20の電極21とが異方性導電接着
剤30中の導電粒子31を介して導通し、それ以外は半
導体素子10と回路基板20とを固定接着する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
の異方性導電接着剤を用いた半導体素子と、これが実装
される回路基板の実装方法では、位置合わせ後、加熱、
加圧し、異方性導電接着剤を硬化させるようにしてい
た。しかしながら、この従来の方式では、半導体素子と
回路基板との平行度が接続の良否に影響を及ぼし、接続
の信頼性の有無を決定する。そのため半導体素子を保持
するツールの平行度は重要な要因となる。
【0007】よって、作製する機種の変更に際して、毎
回平行度調整を必要とし、日常工程においても平行度管
理には慎重を期し、この工程は時間的にも長時間を要す
るとともに、また、判定者の平行度に関する感度の差異
が、製品のばらつきや、信頼性に影響を及ぼすといった
問題があった。本発明は、上記問題点を除去し、半導体
素子と回路基板との平行度の判定を迅速に、しかも確実
になし得る半導体素子の実装方法及びその装置を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 (1)半導体素子の実装方法において、ツールにより保
持される半導体素子の周辺部に平行度検出用電極を設
け、前記半導体素子とステージ上に配置される回路基板
とを対向させ、この回路基板には前記平行度検出用電極
と対応する検出用電極を設け、前記半導体素子と回路基
板間に異方性導電接着剤を設け、前記半導体素子の前記
ツールによる加圧時に、前記平行度検出用電極の接続抵
抗を検出し、この検出結果に基づいて前記ツールの平行
度を検出し、この検出結果に基づいて前記ツールにフィ
ードバックし、前記ツールの平行度を調節しながら加圧
・加熱するようにしたものである。
【0009】(2)半導体素子の実装装置において、ツ
ールにより保持されるとともに、周辺部に平行度検出用
電極を有する半導体素子と、ステージ上に配置され、前
記半導体素子と対向し、前記平行度検出用電極と対応す
る検出用電極を有する回路基板と、前記半導体素子と回
路基板間に設けられる異方性導電接着剤と、前記半導体
素子を加圧するツールと、このツールによる加圧時に前
記平行度検出用電極の接続抵抗を検出する手段と、この
手段からの結果に基づいて前記ツールの平行度を検出す
る手段と、この手段からの結果に基づいて前記ツールに
フィードバックし、前記ツールの平行度を調節しながら
加圧・加熱する手段とを設けるようにしたものである。
【0010】(3)異方性導電接着剤を用いた半導体素
子の実装方法において、ツールにより保持される半導体
素子とステージに配置される回路基板とを対向させ、前
記半導体素子と回路基板間に異方性導電接着剤を設け、
前記ステージ下に圧力センサを設け、前記ツールにより
前記半導体素子を加圧するときに、前記圧力センサから
の結果に基づいて前記ツールの平行度を検出し、この検
出結果に基づいて、前記ツールにフィードバックし、前
記ツールの平行度を調整しながら加圧・加熱するように
したものである。
【0011】(4)異方性導電接着剤を用いた半導体素
子の実装装置において、ツールにより保持される半導体
素子と、この半導体素子に対向し、ステージ上に配置さ
れる回路基板と、前記半導体素子と回路基板間に設けら
れる異方性導電接着剤と、前記ステージ下に設けられる
圧力センサと、前記ツールにより前記半導体素子を加圧
するときに、前記圧力センサからの結果に基づいて、前
記ツールの平行度を検出する平行度検出手段と、この平
行度検出手段からの検出結果に基づいて、前記ツールに
フィードバックし、前記ツールの平行度を調整しながら
加圧・加熱する手段とを設けるようにしたものである。
【0012】(5)異方性導電接着剤を用いた半導体素
子の実装方法において、ツールにより保持される半導体
素子とステージに配置される回路基板とを対向させ、前
記半導体素子と回路基板間に異方性導電接着剤を設け、
前記ステージ下に圧力感知レバーを設け、この圧力感知
レバーの端部に圧力センサを設け、前記圧力感知レバー
の端部に前記ステージの平行度調整用モータを有し、前
記ステージを用いて、半導体素子を加圧するときに、前
記圧力センサからの結果に基づいて前記ステージの平行
度を検出し、この検出結果を前記平行度調整用モータに
フィードバックし、前記ステージの平行度を調整しなが
ら加圧・加熱するようにしたものである。
【0013】(6)異方性導電接着剤を用いた半導体素
子の実装装置において、ツールにより保持される半導体
素子と、この半導体素子に対向し、ステージ上に配置さ
れる回路基板と、前記半導体素子と回路基板間に設けら
れる異方性導電接着剤と、前記ステージ下に設けられる
圧力感知レバーと、この圧力感知レバーの端部に設けら
れる圧力センサと、前記圧力感知レバーの端部に設けら
れる前記ステージの平行度調整用モータと、前記ステー
ジを用いて前記半導体素子を加圧するときに、前記圧力
センサからの結果に基づいて前記ステージの平行度を検
出する平行度検出手段と、この平行度検出手段からの検
出結果を前記平行度調整用モータにフィードバックし、
前記ステージの平行度を調整しながら加圧・加熱する手
段とを設けるようにしたものである。
【0014】したがって、上記(1)又は(2)の場合
は、異方性導電接着剤を用いた素子実装工程での平行度
調整が自動的に行え、作製する機種の変更に際して毎回
平行度調整を必要とせず、日常工程においても平行度管
理の必要もないので、煩繁なメンテナンスによる時間の
ロスはない。また、判定者の感覚の差異による製品のば
らつきや、信頼性に影響を及ぼすこともない。
【0015】上記(3)又は(4)の場合は、異方性導
電接着剤を用いた素子実装工程での平行度調整が自動的
に行え、作製する機種の変更に際して毎回平行度調整を
必要とせず、日常工程においても平行度管理の必要もな
いので、煩繁なメンテナンスによる時間のロスはない。
また、判定者の感覚の差異による製品のばらつきや、信
頼性に影響を及ぼすこともない。特に、半導体素子、回
路基板への平行度検出用電極の設置が困難な場合は有効
である。
【0016】上記(5)又は(6)の場合は、異方性導
電接着剤を用いた素子実装工程での平行度調整が自動的
に行え、作製する機種の変更に際して毎回平行度調整を
必要とせず、日常工程においても平行度管理の必要もな
いので、煩繁なメンテナンスによる時間のロスはない。
また、判定者の感覚の差異による製品のばらつきや、信
頼性に影響を及ぼすこともない。特に、半導体素子、回
路基板への平行度検出用電極の設置が困難な場合や、装
置の設計上ツールの平行度調整機構の設置が困難な場合
に有効である。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を用いて説明する。図1は本発明の第1実施例で
ある半導体素子実装装置の概略構成図である。この図に
示すように、100は半導体素子であり、この半導体素
子100は加圧・加熱可能なツール400に保持されて
いる。この半導体素子100には電気的接続を達成する
ための突起電極101が形成されている。さらに、この
半導体素子100の周辺部には平行度検出用突起電極1
02R,103R,102L,103Lが形成されてお
り、この平行度検出用突起電極102Rと103R,1
02Lと103Lは半導体素子100表面で接続されて
いる。
【0018】一方、この半導体素子100に対応する回
路基板200はステージ600上に配置される。この回
路基板200には半導体素子100の突起電極101に
対応する電極201が形成され、同様に平行度検出用電
極202R,203R,202L,203Lが形成され
ている。この平行度検出用電極202R、203R,2
02L,203Lからは導通検出用の測定針151〜1
54が設置され、ここからの配線は平行度検出装置50
0に接続されている。
【0019】また、半導体素子100と回路基板200
の間には、導電粒子を分散してなるフィルム状に形成さ
れた異方性導電接着剤300が配置されている。本発明
の実施例の工程を順を追って説明する。 (1)まず、回路基板200をステージ600上に固定
する。 (2)次に、半導体素子100をツール400にて吸着
保持する。
【0020】(3)次に、異方性導電接着剤300を回
路基板200上に配置する。なお、異方性導電接着剤3
00は半導体素子100上に設けておいてもよい。 (4)次に、半導体素子100の突起電極101〜10
3(R,L)と、回路基板200の電極201〜203
(R,L)とが合致するように位置合わせをする。
【0021】(5)次に、ツール400が半導体素子1
00を保持したまま、半導体素子100を回路基板20
0へと下降を開始する。 (6)次に、半導体素子100の突起電極101〜10
3(R,L)と、回路基板200の電極201〜203
(R,L)とが異方性導電接着剤300を介して電気的
接続を開始する。
【0022】(7)電気的接続の開始とともに、回路基
板200に形成された平行度検出用電極202R,20
3Rにて202R−102R−103R−203R間の
抵抗を、同様に平行度検出用電極202L,203Lに
て202L−102L−103L−203L間の抵抗を
検出する。 (8)次に、回路基板200と半導体素子100との平
行度を平行度検出装置500を用いて検出する。すなわ
ち、検出結果は平行度検出装置500内の演算部501
にて左右の抵抗差を演算し、平行度を検出する。ここ
で、抵抗値が低いほうが圧力がかかっていることにな
る。たとえば、202L−102L−103L−203
L間の抵抗が、202R−102R−103R−203
R間の抵抗より低い場合には、左側に傾いており、その
分、平行でないことを検出することができる。
【0023】(9)次に、圧力の低い荷重が加わるよう
に、ツール400を軸401を中心にモータ402を用
いて変化させるように、平行度検出装置500からモー
タ402に対して出力信号を送り、モータ402を駆動
させる。たとえば、上記(8)に示したように左側に傾
いている場合には、右側に傾くように、ツール400を
右側に傾ける。つまり、軸401を中心として、時計回
りに回転させる。
【0024】(10)平行度検出用電極202R,20
3R,202L,203Lの差が検出されなくなり次
第、ツール400の加熱を開始し、異方性導電接着剤3
00を硬化させ半導体素子100の実装が完了する。以
上、平行度の補正は、左右方向について述べたが、同様
なことを前後方法にも実装することで、半導体素子全面
を均一に加圧することが可能である。
【0025】図2は本発明の第2実施例である半導体素
子実装装置の概略構成図である。この図において、10
0は半導体素子であり、この半導体素子100は加圧・
加熱可能なツール400に保持されている。この半導体
素子100には電気的接続を達成するための突起電極1
01が形成されている。一方、この半導体素子100に
対応する回路基板200はステージ600上に配置され
る。この回路基板200には半導体素子100の突起電
極101に対応する電極201が形成されている。ま
た、回路基板200を配置したステージ600の半導体
素子100の実装部下には圧力センサ610R,610
Lが本体650上に設置され、圧力センサ610R,6
10Lからの出力は、演算部501を内蔵する平行度検
出装置500に接続されている。
【0026】本発明での実施例の工程を順を追って説明
する。 (1)まず、回路基板200をステージ600上に固定
する。 (2)次に、半導体素子100をツール400にて吸着
保持する。 (3)次に、異方性導電接着剤300を回路基板200
上に配置する。なお、異方性導電接着剤300は半導体
素子100上に設けておいてもよい。
【0027】(4)次に、半導体素子100の突起電極
101と、回路基板200の電極201とが合致するよ
うに位置合わせをする。 (5)次に、ツール400が半導体素子100を保持し
たまま、半導体素子100を回路基板200へと下降を
開始する。 (6)次に、半導体素子100の突起電極101と、回
路基板200の電極201とが異方性導電接着剤300
を介して電気的接続を開始する。
【0028】(7)次に、電気的接続の開始とともに、
回路基板200下に形成された圧力センサ610R,6
10Lによって、ツール400の加圧によるステージ6
00の変位を検出する。 (8)検出結果は平行度検出装置500内の演算部50
1にて、圧力センサ610R,610Lの圧力差を演算
し、平行度を検出する。
【0029】(9)演算結果により、圧力の低い方に荷
重が加わるように、ツール400を軸401を中心にモ
ータ402を用いて変化させるように、平行度検出装置
500よりモータ402に対して出力信号を送り、モー
タ402を駆動させる。 (10)次に、圧力センサ610R,610Lの差が検
出されなくなり次第、ツール400の加熱を開始し、異
方性導電接着剤300を硬化させ、半導体素子100の
実装が完了する。
【0030】以上、平行度の補正では左右方向について
説明したが、同様なことを前後方法に実装することで半
導体素子全面を均一に加圧することが可能である。図3
は本発明の第3実施例である半導体素子実装装置の概略
構成図である。この図において、100は半導体素子で
あり、この半導体素子100は加圧・加熱可能なツール
400に保持されている。この半導体素子100には電
気的接続を達成するための突起電極101が形成されて
いる。
【0031】一方、この半導体素子100に対応する回
路基板200はステージ600上に配置される。この回
路基板200には半導体素子100の突起電極101に
対応する電極201が形成されている。また、回路基板
200を配置したステージ600の半導体素子100の
実装部下には、圧力感知レバー620R,620Lが配
置され、この感知レバー620R,620Lの先端には
ローラー630が設置され、この上をステージ600が
移動することが可能となっている。圧力感知レバー62
0R,620Lの他方の端は圧力センサ610R,61
0Lと、これと対でモータ640R,640Lが設置さ
れ、これらからの圧力センサ610R,610Lと、モ
ータ640R,640Lの出力は、演算部501を内蔵
する平行度検出装置500に接続されている。
【0032】本発明の実施例の工程を順を追って説明す
る。 (1)まず、回路基板200をステージ600上に固定
する。 (2)次に、半導体素子100をツール400にて吸着
保持する。 (3)次に、異方性導電接着剤300を回路基板200
上に配置する。なお、異方性導電接着剤300は半導体
素子100上に設けておいてもよい。
【0033】(4)次に、半導体素子100の突起電極
101と、回路基板200の電極201とが合致するよ
うに位置合わせをする。 (5)次に、ツール400が半導体素子100を保持し
たまま、半導体素子100を回路基板200へと下降を
開始する。 (6)次に、半導体素子100の突起電極101と、回
路基板200の電極201とが異方性導電接着剤300
を介して電気的接続を開始する。
【0034】(7)次に、電気的接続の開始とともに回
路基板200下に設置された圧力感知レバー620R,
620Lが変位し、この変位を圧力センサ610R,6
10Lが検出する。 (8)検出結果は演算部501を内蔵する平行度検出装
置500にて、左右の圧力差を演算し、平行度を検出す
る。
【0035】(9)検出結果により、圧力の低い方に荷
重が加わるよう圧力感知レバー620R,620L端に
設置されたモータ640R,640Lを駆動させる。 (10)次に、圧力センサ610R,610Lの差が検
出されなくなり次第、ツール400の加熱を開始し、異
方性導電接着剤300を硬化させ、半導体素子100の
実装が完了する。
【0036】(11)次に、硬化完了後ツール400を
上昇させ、新たな半導体素子を供給し、ステージ600
を移動させ、最初の状態に戻る。以上、上記では平行度
の補正は左右方向について説明したが、同様なことを前
後方法に実装することで、半導体素子全面を均一に加圧
することが可能である。なお、本発明は上記実施例に限
定されるものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の
変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除する
ものではない。
【0037】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、次のような効果を奏することができる。 (1)異方性導電接着剤を用いた素子実装工程での平行
度調整が自動的に行え、作製する機種の変更に際して毎
回平行度調整を必要とせず、日常工程においても平行度
管理の必要もないので煩繁なメンテナンスによる時間の
ロスはない。また、判定者の感覚の差異による製品のば
らつきや、信頼性に影響を及ぼすこともない。
【0038】(2)異方性導電接着剤を用いた素子実装
工程での平行度調整が自動的に行え、作製する機種の変
更に際して毎回平行度調整を必要とせず、日常工程にお
いても平行度管理の必要もないので煩繁なメンテナンス
による時間のロスはない。また、判定者の感覚の差異に
よる製品のばらつきや、信頼性に影響を及ぼすこともな
い。特に、半導体素子、回路基板への平行度検出用電極
の設置が困難な場合は有効である。
【0039】(3)異方性導電接着剤を用いた素子実装
工程での平行度調整が自動的に行え、作製する機種の変
更に際して毎回平行度調整を必要とせず、日常工程にお
いても平行度管理の必要もないので煩繁なメンテナンス
による時間のロスはない。また、判定者の感覚の差異に
よる製品のばらつきや、信頼性に影響を及ぼすこともな
い。特に、半導体素子、回路基板への平行度検出用電極
の設置が困難な場合や、装置の設計上ツールの平行度調
整機構の設置が困難な場合に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例である半導体素子実装装置
の概略構成図である。
【図2】本発明の第2実施例である半導体素子実装装置
の概略構成図である。
【図3】本発明の第3実施例である半導体素子実装装置
の概略構成図である。
【図4】従来の異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
回路基板への実装工程断面図である。
【符号の説明】
100 半導体素子 101〜103(R,L) 突起電極 102R,103R,102L,103L,202R,
203R,202L,203L 平行度検出用突起電
極 151〜154 測定針 200 回路基板 201〜203(R,L) 電極 300 異方性導電接着剤 400 ツール 401 軸 402,640R,640L モータ 500 平行度検出装置 501 演算部 600 ステージ 610R,610L 圧力センサ 620R,620L 圧力感知レバー 630 ローラー 650 本体
フロントページの続き (72)発明者 浜野 佳代 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
    実装方法において、(a)ツールにより保持される半導
    体素子の周辺部に平行度検出用電極を設け、(b)前記
    半導体素子とステージ上に配置される回路基板とを対向
    させ、該回路基板には前記平行度検出用電極と対応する
    検出用電極を設け、(c)前記半導体素子と前記回路基
    板間に異方性導電接着剤を設け、(d)前記半導体素子
    の前記ツールによる加圧時に前記平行度検出用電極の接
    続抵抗を検出し、該検出結果に基づいて前記ツールの平
    行度を検出し、(e)該検出結果に基づいて前記ツール
    にフィードバックし、前記ツールの平行度を調節しなが
    ら加圧・加熱することを特徴とする半導体素子の実装方
    法。
  2. 【請求項2】 異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
    実装装置において、(a)ツールにより保持されるとと
    もに、周辺部に平行度検出用電極を有する半導体素子
    と、(b)ステージ上に配置され、前記半導体素子と対
    向し、前記平行度検出用電極と対応する検出用電極を有
    する回路基板と、(c)前記半導体素子と前記回路基板
    間に設けられる異方性導電接着剤と、(d)前記半導体
    素子を加圧するツールと、(e)該ツールによる加圧時
    に前記平行度検出用電極の接続抵抗を検出する手段と、
    (f)該手段からの結果に基づいて前記ツールの平行度
    を検出する手段と、(g)該手段からの結果に基づいて
    前記ツールにフィードバックし、前記ツールの平行度を
    調節しながら加圧・加熱する手段とを具備することを特
    徴とする半導体素子の実装装置。
  3. 【請求項3】 異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
    実装方法において、(a)ツールにより保持される半導
    体素子とステージに配置される回路基板とを対向させ、
    前記半導体素子と前記回路基板間に異方性導電接着剤を
    設け、(b)前記ステージ下に圧力センサを設け、
    (c)前記ツールにより前記半導体素子を加圧するとき
    に、前記圧力センサからの結果に基づいて前記ツールの
    平行度を検出し、(d)該検出結果に基づいて、前記ツ
    ールにフィードバックし、前記ツールの平行度を調整し
    ながら加圧・加熱することを特徴とする半導体素子の実
    装方法。
  4. 【請求項4】 異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
    実装装置において、(a)ツールにより保持される半導
    体素子と、(b)該半導体素子に対向し、ステージ上に
    配置される回路基板と、(c)前記半導体素子と前記回
    路基板間に設けられる異方性導電接着剤と、(d)前記
    ステージ下に設けられる圧力センサと、(e)前記ツー
    ルにより前記半導体素子を加圧するときに、前記圧力セ
    ンサからの結果に基づいて、前記ツールの平行度を検出
    する平行度検出手段と、(d)該平行度検出手段からの
    検出結果に基づいて、前記ツールにフィードバックし、
    前記ツールの平行度を調整しながら加圧・加熱する手段
    とを具備することを特徴とする半導体素子の実装装置。
  5. 【請求項5】 異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
    実装方法において、(a)ツールにより保持される半導
    体素子とステージに配置される回路基板とを対向させ、
    前記半導体素子と回路基板間に異方性導電接着剤を設
    け、(b)前記ステージ下に圧力感知レバーを設け、
    (c)該圧力感知レバーの端部に圧力センサを設け、
    (d)前記圧力感知レバーの端部に前記ステージの平行
    度調整用モータを有し、(e)前記ステージを用いて、
    前記半導体素子を加圧するときに、前記圧力センサから
    の結果に基づいて前記ステージの平行度を検出し、
    (f)該検出結果を前記平行度調整用モータにフィード
    バックし、前記ステージの平行度を調整しながら加圧・
    加熱することを特徴とする半導体素子の実装方法。
  6. 【請求項6】 異方性導電接着剤を用いた半導体素子の
    実装装置において、(a)ツールにより保持される半導
    体素子と、(b)該半導体素子に対向し、ステージ上に
    配置される回路基板と、(c)前記半導体素子と前記回
    路基板間に設けられる異方性導電接着剤と、(d)前記
    ステージ下に設けられる圧力感知レバーと、(e)該圧
    力感知レバーの端部に設けられる圧力センサと、(f)
    前記圧力感知レバーの端部に設けられる前記ステージの
    平行度調整用モータと、(g)前記ステージを用いて前
    記半導体素子を加圧するときに、前記圧力センサからの
    結果に基づいて前記ステージの平行度を検出する平行度
    検出手段と、(h)該平行度検出手段からの検出結果を
    前記平行度調整用モータにフィードバックし、前記ステ
    ージの平行度を調整しながら加圧・加熱する手段とを具
    備することを特徴とする半導体素子の実装装置。
JP26375295A 1995-10-12 1995-10-12 半導体素子の実装方法及びその装置 Withdrawn JPH09107008A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26375295A JPH09107008A (ja) 1995-10-12 1995-10-12 半導体素子の実装方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26375295A JPH09107008A (ja) 1995-10-12 1995-10-12 半導体素子の実装方法及びその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09107008A true JPH09107008A (ja) 1997-04-22

Family

ID=17393805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26375295A Withdrawn JPH09107008A (ja) 1995-10-12 1995-10-12 半導体素子の実装方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09107008A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007012641A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体素子実装方法および半導体素子実装装置
JP2007157970A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Sony Corp ボンディング方法及びボンディング装置
JP2008251828A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Optrex Corp 基板への集積回路の接続方法
JP2010103156A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Toshiba Corp 熱圧着装置および電子部品の製造方法
US20140252072A1 (en) * 2013-03-08 2014-09-11 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Device for assembling photoelectric element on substrate
CN104049316A (zh) * 2013-03-11 2014-09-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 光通讯模组组装装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007012641A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体素子実装方法および半導体素子実装装置
JP4619209B2 (ja) * 2005-06-28 2011-01-26 パナソニック株式会社 半導体素子実装方法および半導体素子実装装置
JP2007157970A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Sony Corp ボンディング方法及びボンディング装置
JP2008251828A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Optrex Corp 基板への集積回路の接続方法
JP2010103156A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Toshiba Corp 熱圧着装置および電子部品の製造方法
US20140252072A1 (en) * 2013-03-08 2014-09-11 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Device for assembling photoelectric element on substrate
US9132513B2 (en) * 2013-03-08 2015-09-15 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Device for assembling photoelectric element on substrate
TWI564606B (zh) * 2013-03-08 2017-01-01 鴻海精密工業股份有限公司 光通訊模組組裝裝置
CN104049316A (zh) * 2013-03-11 2014-09-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 光通讯模组组装装置
CN104049316B (zh) * 2013-03-11 2017-06-16 赛恩倍吉科技顾问(深圳)有限公司 光通讯模组组装装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW448331B (en) Thermo-compressing bonding method and thermo-compressing bonding apparatus
KR100371506B1 (ko) 액정패널을 외부구동회로에 연결시키는 열압착장치
JPH09107008A (ja) 半導体素子の実装方法及びその装置
JP2013232667A (ja) 実装装置および実装方法
JP2004090398A (ja) 積層板用プレス機
JP2000277893A (ja) 熱圧着用ヘッド及びこれを備えた熱圧着装置
JPH1174319A (ja) 熱圧着装置及びその制御方法
KR100448425B1 (ko) 디스플레이 기판과 가요성 인쇄 회로 기판을 접착하는 장착 장치 및 장착 방법
JPH06315850A (ja) 研磨終点検出装置
JP2007115893A (ja) 熱圧着方法および熱圧着装置
JP2877055B2 (ja) 熱圧着装置
CN107860499A (zh) 显示面板测试装置及显示面板测试方法
JPH05228755A (ja) 液晶パネルの部品実装装置
JP4292760B2 (ja) 表示パネルの加工方法およびその加工装置
JP3483219B2 (ja) アウターリードボンディング装置
JP4991249B2 (ja) 電子部品圧着装置および電子部品圧着方法
US20080203137A1 (en) Substrate bonding methods and system including monitoring
JP3949462B2 (ja) 電子部品圧着装置及び方法
JPH0949702A (ja) 加圧装置における平行度管理装置
JP2953508B2 (ja) 部品搭載機構および方法
EP0501414A1 (en) A method for connecting electrodes of a display apparatus
JP4974154B2 (ja) 基板への集積回路の接続方法
JP2821423B2 (ja) ヒートシールコネクタの製造方法
JPH07171818A (ja) セラミックグリーンシートの積層方法
JPH08303462A (ja) 割り出し制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030107